JPH0868822A - 多面取り基板の配線試験装置及び方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、多面取り基板の配線試験を行うた
めの技術に関し、多面取り基板上の各配線板毎に試験可
能とし、製品の歩留り向上に寄与すると共に、試験を効
率的に行い試験時間の短縮にも寄与することを目的とす
る。 【構成】 多面取り基板１上の複数の配線板にそれぞれ
関係する試験データに基づいて各配線板の試験を実行す
る試験実行手段５〜８と、前記各配線板に関係する試験
データを含む包括的な試験データを読み込み、読み込ん
だデータに所定の加工処理を施すことで当該試験データ
の前記試験実行手段への供給又はその中断を制御する制
御手段２とを具備し、該制御手段により制御されて前記
試験実行手段に供給された試験データに基づいて各配線
板毎に１枚ずつ試験を実行するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板等の製
造においてその配線板が設計通りに製造されているかど
うかの試験を行うための技術に係り、特に、１枚の基板
の中に複数の配線板が作製された形態を持ついわゆる
「多面取り基板」の配線試験を行うのに好適な試験装置
及び方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、製品の小型化に伴い、プリント配
線板等の回路基板の小型化傾向も高まってきている。こ
れら小型の配線板を製造する際には、基板の板取り効率
や取扱い、製造設備の関係等から、複数の配線板を１枚
の基板で製造する「多面取り」という手法が採用されて
いる。図９にその一例が示される。図示の例では、基板
（多面取り基板）Ｐ上に３枚の配線板ｐ１〜ｐ３が作製
されている場合が例示されている。

【０００３】図１０（ａ）には従来形の一例としての配
線試験装置の構成が示される。図中、５１は複数の配線
板が作製された多面取り基板、５２は試験データＡを読
み込むための試験データ読み込み部、５３は読み込んだ
試験データＡに基づいて基板５１の試験を行うのに必要
な処理を制御する試験制御部、５４は試験制御部５３か
らの制御に基づいて基板５１に対する接続端子の切り換
えを制御する接続端子切り換え部、５５は接続端子切り
換え部５４の制御の下に基板５１上の測定ポイント（つ
まり配線部分）に対し接続端子を接触させるプローブ等
の基板接続部、５６は基板接続部５５の接続端子に接触
された配線部分の抵抗を測定する抵抗測定部、５７は抵
抗測定部５６及び試験制御部５３を介して送られてくる
各配線板の試験結果を指示する試験結果出力部を示す。

【０００４】従来の試験方法では、図１０（ｂ）に示す
ように、１枚の基板上に作製された複数の配線板（ｐ１
〜ｐ３とする）の各々の試験データを一括した形の包括
的な試験データ、すなわち１枚の基板の試験データＡに
基づいて試験を行っていた。そして、試験結果が不良で
あった場合には、１枚の基板上の各配線板に対して全て
の配線試験終了後、出力された試験結果に基づいて、複
数の配線板ｐ１〜ｐ３のうちいずれの配線板で不良が発
生したかの解析を行っていた。

【０００５】つまり従来技術においては、多面取り基板
の配線試験を行う場合、基板１枚単位、すなわち複数の
配線板を一括した形で試験を行っていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
多面取り基板の試験技術では、多面取り基板１枚単位で
の良否判定を行っているために、その基板に含まれる複
数の配線板のうち僅か１枚のみが不良で他の配線板は良
品であったとしても、基板全体としては不良であるもの
と判定されてしまう（つまりリジェクトされてしまう）
といった問題点があった。

【０００７】言い換えると、多面取り基板上の複数の配
線板のち、いずれか１枚の配線板に大量に不良が発生し
た場合でも、その不良配線板の試験だけを中断して残り
の配線板の試験を行うということができなかった。この
ために、製品の歩留りが低下し、極めて不都合であっ
た。そこで、このような不都合を解消するための手段と
して、従来、多面取り基板上の複数の配線板を各配線板
毎に分割して試験を行う方法が提案されている。この方
法は、先ず、試験対象となる基板上の１つの配線板に対
して試験装置のプローブ部分を位置決めし、当該配線板
の試験が終わると、次の試験対象の配線板に対して試験
装置のプローブ部分を位置決めし直し、その配線板の試
験が終わると以降同様にして、試験装置のプローブ部分
の位置決めと当該配線板の試験を繰り返すものである。

【０００８】しかしこの方法では、基板上の各配線板を
試験する際に、各々の試験に先行してその都度、試験対
象となる当該配線板と試験装置のプローブ部分との相対
位置関係を調整する必要があるため、試験時間が相対的
に長くなってしまうといった課題があった。本発明は、
かかる従来技術における課題に鑑み創作されたもので、
多面取り基板上の各配線板毎に試験可能とし、製品の歩
留り向上に寄与すると共に、試験を効率的に行い試験時
間の短縮にも寄与することができる多面取り基板の配線
試験装置を提供することを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の基本的な形態によれば、１枚の基板の中に
複数の配線板が作製された形態をもつ多面取り基板の配
線試験を行う装置であって、前記複数の配線板にそれぞ
れ関係する試験データに基づいて各配線板の試験を実行
する試験実行手段と、前記各配線板に関係する試験デー
タを含む包括的な試験データを読み込み、読み込んだデ
ータに所定の加工処理を施すことで当該試験データの前
記試験実行手段への供給又はその中断を制御する制御手
段とを具備し、該制御手段により制御されて前記試験実
行手段に供給された試験データに基づいて各配線板毎に
１枚ずつ試験を実行することを特徴とする多面取り基板
の配線試験装置が提供される。

【００１０】また、本発明の他の形態によれば、１枚の
基板の中に複数の配線板が作製された形態をもつ多面取
り基板の配線試験を行う方法であって、前記複数の配線
板にそれぞれ関係する試験データに基づいて各配線板の
試験を実行する際に、前記各配線板に関係する試験デー
タを含む包括的な試験データを順次読み込み、読み込ん
だデータに所定の加工処理を施して当該試験データの読
み込み若しくは出力又はその中断を制御し、このように
制御された試験データに基づいて各配線板毎に１枚ずつ
試験を実行することを特徴とする多面取り基板の配線試
験方法が提供される。

【００１１】

【作用】上述した本発明の構成によれば、制御手段によ
り、読み込んだ試験データに対して所定の加工処理（例
えば試験データの分類、作成等）を施し、それに基づい
て当該試験データを試験実行手段に供給するか又は供給
を中断するかを制御するようにしている。

【００１２】従って、多面取り基板上の各配線板に対し
て１枚ずつ試験することが可能になると共に、いずれか
の配線板に不良が多発した場合にはその不良配線板に関
係する試験データの供給が中断されるので、効率的な試
験が可能となり、また試験時間の短縮を図ることができ
る。これは、製品の歩留りの向上に大いに寄与するもの
である。

【００１３】なお、本発明の他の構成上の特徴及び作用
の詳細については、添付図面を参照しつつ以下に記述さ
れる実施例を用いて説明する。

【００１４】

【実施例】図１には本発明の各実施例に係る多面取り基
板の配線試験装置のハードウエア構成が示される。図
中、１は複数の配線板が１枚の基板の中に作製された形
態をもつ多面取り基板（例えば図９参照）、２は本発明
に係る多面取り基板の配線試験を行うのに必要な試験デ
ータの分類及び作成や試験結果の判定処理等を制御する
ための中央処理装置（ＣＰＵ）、３は多面取り基板１上
に作製された各配線板に固有の基板情報が予め格納され
ているメモリ、４は配線試験を行うのに必要な各配線板
にそれぞれ関係する試験データが格納されているファイ
ル装置、５はＣＰＵ２からの制御の下に機能する試験制
御部、６は試験制御部５からの制御に基づいて基板１に
対する接続端子の切り換えを制御する接続端子切り換え
部、７は接続端子切り換え部６の制御の下に基板１上の
測定ポイント（つまり配線部分）に対し接続端子を接触
させるプローブ等の基板接続部、８は基板接続部７の接
続端子に接触された配線部分の抵抗を測定する抵抗測定
部、９は本試験装置と外部ネットワークとの間で例えば
試験データ、試験結果のデータ等の授受を行うインタフ
ェース、１０は上述した２〜４及び９の各要素間を互い
に接続するバスを示す。なお、メモリ３に格納されてい
る各配線板に固有の基板情報は、ファイル装置４の記憶
容量に余裕がある場合には、その中の一部のメモリ領域
に記憶させることも可能である。この場合、記憶手段と
してのメモリ３は設ける必要はない。

【００１５】図２には本発明の第１実施例に係る配線試
験装置の構成が示される。図中、一点鎖線で囲まれたブ
ロック２０は、図１におけるＣＰＵ２が行う処理機能を
実現する要素を表している。この機能ブロック２０は、
ファイル装置４に格納されている試験データＡ（例えば
図４に示すように、各配線板の試験データを含む包括的
な試験データＡ）を読み込むための試験データ読み込み
部２１と、読み込んだ試験データを各配線板毎の試験デ
ータに分類し、メモリ３に格納されている各配線板に固
有の基板情報（本実施例では、説明の簡単化のため３枚
の配線板ｐ１〜ｐ３に対して、各配線板の形状を指示す
る情報及び基板１上における座標を指示する情報が格納
されている）に基づいて各配線板毎に試験データを試験
制御部５に出力する試験データ分類部２２と、メモリ３
からの基板情報と試験制御部５を介して送られてくる各
配線板の試験結果に基づいて試験データ分類部２２に対
し試験データ出力処理を制御する多面取り基板制御部２
３と、試験制御部５を介して送られてくる各配線板の試
験結果を指示する試験結果出力部２４とを有している。

【００１６】また、試験制御部５は、機能ブロック２０
（つまりＣＰＵ２）からの制御の下に機能する試験制御
回路５１と、試験制御回路５１からの制御に基づいて接
続端子切り換え部６を制御する接続端子制御回路５２
と、試験制御回路５１からの制御に基づいて抵抗測定部
８を制御すると共に、抵抗測定部８による測定結果を試
験制御回路５１に伝達する抵抗測定制御回路５３とを有
している。

【００１７】図２の構成において、試験データ読み込み
部２１で読み込まれた試験データＡのうち、先ず試験デ
ータ分類部２２が、メモリ３から供給される基板情報に
基づいて配線板ｐ１に関係する試験データのみを試験制
御回路５１に送り、さらに接続端子制御回路５２及び抵
抗測定制御回路５３を介してそれぞれ接続端子切り換え
部６及び抵抗測定部８の制御を行い、試験を実行する。
なお、この時点では配線板ｐ１に関係する試験データの
全ては未だ送り終えていない。

【００１８】実行された試験に基づく結果は、試験制御
部５を介して、試験結果出力部２４により指示されると
共に、多面取り基板制御部２３により監視される。多面
取り基板制御部２３は、その試験結果に不良が多く発生
した場合には、試験制御部５を介して試験結果出力部２
４に対し、現在試験中の配線板ｐ１に不良が多発してい
る旨の指示を行わせると共に、試験データ分類部２２に
対し、次の試験対象となる配線板ｐ２に関係する試験デ
ータを試験制御部５に送るように指示する。

【００１９】試験データ分類部２２では、この多面取り
基板制御部２３からの指示があった場合に、又は配線板
ｐ１に関係する試験データを全て試験制御部５に送り終
えた場合に、配線板ｐ２に関係する試験データを試験制
御部５に送る。そして、配線板ｐ２に対する試験を実行
する。この場合も同様に、この時点では配線板ｐ２に関
係する試験データの全ては未だ送り終えていない。

【００２０】上述した処理と同様にして、配線板ｐ２に
不良が多発している場合、又は配線板ｐ２に関係する試
験データを全て試験制御部５に送り終えた場合に、次の
試験対象となる配線板ｐ３に関係する試験データを試験
制御部５に送る。そして、配線板ｐ３に対する試験を実
行し、上述したような同様の処理を行う。図３には本実
施例に係る試験方法の一例を表した処理フローが示され
る。

【００２１】先ずステップ１０１では、多面取り基板上
に作製された配線板の数Ｎ（本実施例では「３」）を設
定する。次のステップ１０２では初期化処理を行う。す
なわち、試験実行の対象となる配線板番号ｎを初期化す
る（ｎ←１）と共に、各配線板に発生している不良数Ｅ
ｎ（ｎ＝１〜Ｎ）を初期化する（Ｅｎ←０）。次のステ
ップ１０３では、当該配線板ｐｎ（この場合には配線板
ｐ１）に関係する試験データを読み込む。次のステップ
１０４では、その試験データの読み込みが終了した
（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合
にはステップ１１０に進み、判定結果がＮの場合にはス
テップ１０５に進む。ステップ１０５では、読み込んだ
データが配線板ｐｎのデータである（Ｙ）か否（Ｎ）か
の判定を行い、判定結果がＹの場合にはステップ１０６
に進んで当該配線板ｐｎの試験を実行し、判定結果がＮ
の場合にはステップ１０３に戻って上記処理を繰り返
す。

【００２２】次のステップ１０７では、試験実行の結果
に基づいて当該配線板ｐｎに不良箇所が発生している
（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合
にはステップ１０８に進み、判定結果がＮの場合にはス
テップ１０３に戻って上記処理を繰り返す。ステップ１
０８では、当該配線板ｐｎの不良数Ｅｎの値を更新する
（Ｅｎ←Ｅｎ＋１）と共に、当該配線板ｐｎに不良が発
生している旨の出力指示を行う。次のステップ１０９で
は、不良数Ｅｎの値が所定の不良許容数より大きい
（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合
にはステップ１１０に進み、判定結果がＮの場合にはス
テップ１０３に戻って上記処理を繰り返す。

【００２３】ステップ１１０では、配線板番号ｎの値を
更新する（ｎ←ｎ＋１）。次のステップ１１１では、配
線板番号ｎの値が配線板の数Ｎより大きい（Ｙ）か否
（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合には本フロ
ーは「エンド」となり、判定結果がＮの場合にはステッ
プ１１２に進む。ステップ１１２では、現在の配線板番
号に対応する配線板の試験データの先頭へ戻る処理（つ
まり、当該試験データを読み出すための前処理）を行
う。この後、ステップ１０３に戻って上記処理を繰り返
す。

【００２４】このように、本発明の第１実施例に係る試
験装置によれば、多面取り基板１上の各配線板ｐ１〜ｐ
３に対して１枚ずつ試験することが可能となるので、基
板上の複数の配線板のちいずれか１枚の配線板に大量に
不良が発生した場合には、その不良配線板の試験だけを
中断して他の配線板の試験を実行することができる。従
って、製品の歩留りが大いに向上するという利点が得ら
れる。

【００２５】また、従来のように基板上の各配線板と試
験装置のプローブ部分との相対位置関係を調整しながら
試験（つまり多面取り基板の分割試験）を行うのではな
く、基板上に試験装置のプローブ部分を接触させた状態
で各配線板毎に選択的に試験を行うことができるので、
効率的な試験が可能となり、また試験時間の短縮にも大
いに寄与する。

【００２６】上述した実施例（図２参照）では、ファイ
ル装置４から読み込んだ試験データＡを各配線板ｐ１〜
ｐ３毎に分類し（試験データ分類部２２）、さらにメモ
リ３からの基板情報を利用して配線試験を行うように構
成したが、かかる基板情報を用いないで試験することも
可能である。以下、図４〜図６を参照しながら説明す
る。

【００２７】図４は第１実施例（図２参照）の変形例に
係る試験データ作成処理を示すもので、かかる試験デー
タ作成処理はＣＰＵ２（図１参照）によって制御され
る。先ず、ファイル装置４から試験データＡを読み込
み、試験データＡから配線板ｐ１に関係する試験データ
を取り出してデータａ１を作成する。同様に、試験デー
タＡからそれぞれ配線板ｐ２，ｐ３に関係する試験デー
タを取り出し、データａ２，ａ３を作成する。そして各
々のデータａ１〜ａ３を結合する。

【００２８】結合する際には、各データａ１，ａ２及び
ａ３の先頭部にそれぞれラベル情報＊ａ１，＊ａ２及び
＊ａ３を付加しておく。また、結合したデータ（つまり
最終的な試験データＡ’）の先頭から各ラベル情報まで
のデータ長を計算して、結合データの先頭に管理情報
（図示の例では、ａ１＝４，ａ２＝８，ａ３＝１２）と
して付加しておく。

【００２９】図５には第１実施例の一変形例に係る試験
装置の構成が示される。図示の装置構成は、第１実施例
の装置構成（図２参照）と比較して、基板情報を利用
していない点、図４の処理方法により作成した試験デ
ータＡ’を用いている点、ＣＰＵ２が実行する処理機
能に対応した機能ブロック３０が試験データ分類部２２
を備えていない点、多面取り基板制御部２３が試験デ
ータ読み込み部２１に対してデータ読み込みの制御を行
う点、において異なっている。他の構成及びその作用に
ついては、第１実施例の場合と同じであるので、その説
明は省略する。

【００３０】第１実施例（図２参照）の一変形例におい
ては、試験データＡを適宜加工して各配線板ｐ１〜ｐ３
毎にそれぞれ固有の試験データａ１〜ａ３に分類した形
で新たな試験データＡ’を作成し（図４参照）、この試
験データＡ’に基づいて、第１実施例の場合と同様に処
理を行うことで、第１実施例と同様の作用効果を奏する
ことができる。

【００３１】図６には第１実施例の他の変形例に係る試
験装置の構成が示される。図示の装置構成は、上述した
変形例の装置構成（図５参照）と比較して、多面取り基
板制御部２３の作用形態において異なっている。すなわ
ち、多面取り基板制御部２３は、試験制御部５を介して
送られてくる各配線板の試験結果と共に、外部ネットワ
ークからインタフェース９（図１参照）を介して送られ
てくる基板に関する製造管理情報及び基板製造ロット番
号の情報（これらの情報は、製造過程で不良になった配
線板に関する情報を含む）を参照して、試験データ読み
込み部２１に対しデータ読み込みの制御を行う。他の構
成及びその作用については、上述した変形例の場合と同
じであるので、その説明は省略する。

【００３２】この変形例によれば、上述した変形例（図
５参照）と同様の作用効果を奏することができると共
に、製造管理情報と基板製造ロット番号の情報に基づい
て、製造過程で既に不良と判定された配線板への試験を
行わずに、同一基板上のそれ以外の配線板の試験を行う
ことが可能となる。なお、製造過程で不良になった基板
への試験を行わない方法としては、図示はしないが、例
えば不良基板へ何らかのマークを付け、画像読み取り手
段等を用いてそのマークを読み取ることでも、図６に示
す試験装置と同様の作用効果を得ることができる。

【００３３】図７には本発明の第２実施例に係る配線試
験装置の構成が示される。図示の装置構成は、第１実施
例の装置構成（図２参照）と比較して、試験制御回路
５１と試験結果出力部２４の間に試験結果分類部２５を
設けた点、多面取り基板制御部２３が、試験制御回路
５１との間ではなく、試験結果分類部２５との間でデー
タの授受を行う点、において異なっている。他の構成及
びその作用については、第１実施例の場合と同じである
ので、その説明は省略する。

【００３４】図７の構成において、試験データ読み込み
部２１で読み込まれた試験データＡは、試験データ分類
部２２で各配線板毎に分類された後、試験制御部５に供
給される。そして、接続端子切り換え部６及び抵抗測定
部８の制御を行い、試験を実行する。実行された試験に
基づく結果は、試験制御部５を介して試験結果分類部２
５に供給され、ここで各配線板ｐ１〜ｐ３毎にそれぞれ
不良結果が集計される。集計された不良結果は、多面取
り基板制御部２３により監視される。多面取り基板制御
部２３は、その不良結果に基づいて特定の配線板に不良
が多く発生している場合には、試験結果分類部２５を介
して試験結果出力部２４に対し、その特定の配線板に不
良が多発している旨の指示を行わせると共に、試験デー
タ分類部２２に対し、不良となった配線板に関係する試
験データを試験制御部５に送らないように指示する。

【００３５】試験データ分類部２２では、この多面取り
基板制御部２３からの指示に基づいて、不良となった配
線板を除く他の配線板に関係する試験データを試験制御
部５に送る。そして、当該配線板に対する試験を実行す
る。図８には本実施例に係る試験方法の一例を表した処
理フローが示される。先ずステップ２０１では、多面取
り基板上に作製された配線板の数Ｎ（本実施例では
「３」）を設定する。次のステップ２０２では、各配線
板に発生している不良数Ｅｎ（ｎ＝１〜Ｎ）を初期化す
る（Ｅｎ←０）。

【００３６】次のステップ２０３では試験データを読み
込み、さらに次のステップ２０４では、データの読み込
みが終了した（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結
果がＹの場合には本フローは「エンド」となり、判定結
果がＮの場合にはステップ２０５に進む。ステップ２０
５では、所定の不良許容数オーバーの不良数をもつ配線
板が有る（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果が
Ｙの場合にはステップ２０６に進み、判定結果がＮの場
合にはステップ２０７に進んで当該配線板の試験を実行
する。ステップ２０６では、読み込んだデータが不良許
容数オーバーの不良数をもつ配線板の試験データである
（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合
にはステップ２０３に戻って上記処理を繰り返し、判定
結果がＮの場合にはステップ２０７に進み、試験を実行
する。

【００３７】次のステップ２０８では、試験実行の結果
に基づいて各配線板に不良箇所が発生している（Ｙ）か
否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合にはステ
ップ２０９に進み、判定結果がＮの場合にはステップ２
０３に戻って上記処理を繰り返す。ステップ２０９で
は、各配線板の不良数Ｅｎ（ｎ＝１〜Ｎ）の値を更新す
る（Ｅｎ←Ｅｎ＋１）と共に、当該配線板に不良が発生
している旨の出力指示を行う。次のステップ２１０で
は、不良数Ｅｎの値が所定の不良許容数より大きい
（Ｙ）か否（Ｎ）かの判定を行い、判定結果がＹの場合
にはステップ２１１に進み、判定結果がＮの場合にはス
テップ２０３に戻って上記処理を繰り返す。ステップ２
１１では、不良許容数をオーバーした不良数をもつ配線
板を特定する。この後、ステップ２０３に戻って上記処
理を繰り返す。

【００３８】このように、本発明の第２実施例に係る試
験装置によれば、多面取り基板１上の各配線板に対する
試験結果に基づき集計された不良結果に基づいて、不良
配線板を除く他の配線板に関係する試験データを試験制
御部へ送出するようにしているので、多面取り基板の試
験を効率的に行うことが可能となる。これは、製品の歩
留り向上に大いに寄与するものである。

【００３９】また、前述した第１実施例と同様、従来の
ような分割試験を行うのではなく、基板上に試験装置の
プローブ部分を接触させた状態で各配線板毎に選択的に
試験を行うことができるので、効率的な試験が可能とな
り、試験時間の短縮にも大いに寄与する。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、読
み込んだ試験データに対して例えば試験データの分類、
作成等を行うことで、当該試験データを試験実行手段に
供給するか又は供給を中断するかを制御するようにして
いるので、各配線板毎に１枚ずつ試験を行うことが可能
となる。

【００４１】また、いずれかの配線板に不良が多発した
場合にはその不良配線板に関係する試験データの供給が
中断されるので、試験を効率的に行うことができる。こ
れは試験時間の短縮化に寄与し、ひいては製品の歩留り
向上に大いに寄与する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る多面取り基板の配線試験装置のハ
ードウエア構成を示すブロック図である。

【図２】本発明の第１実施例に係る配線試験装置の構成
を示すブロック図である。

【図３】第１実施例に係る試験方法の一例を示すフロー
チャートである。

【図４】第１実施例の変形例に係る試験データ作成の説
明図である。

【図５】第１実施例の一変形例に係る試験装置の構成を
示すブロック図である。

【図６】第１実施例の他の変形例に係る試験装置の構成
を示すブロック図である。

【図７】本発明の第２実施例に係る配線試験装置の構成
を示すブロック図である。

【図８】第２実施例に係る試験方法の一例を示すフロー
チャートである。

【図９】多面取り基板の説明図である。

【図１０】従来形における多面取り基板の配線試験を説
明するための図で、（ａ）は試験装置のブロック構成
図、（ｂ）は試験方法の説明図である。

【符号の説明】

１…基板（多面取り基板） ２…中央処理装置（ＣＰＵ） ３…メモリ ４…ファイル装置 ５…試験制御部 ６…接続端子切り換え部 ７…基板接続部（プローブ等） ８…抵抗測定部 ２０，３０，４０…機能ブロック（ＣＰＵ２が行う処理
機能を実現する要素） ２１…試験データ読み込み部 ２２…試験データ分類部 ２３…多面取り基板制御部 ２４…試験結果出力部 ２５…試験結果分類部 Ａ，Ａ’…基板に関係する包括的な試験データ ａ１〜ａ３…基板上の各配線板に関係する試験データ ｐ１〜ｐ３…基板上の配線板

Claims (9)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 １枚の基板の中に複数の配線板（ｐ１〜
   ｐ３）が作製された形態をもつ多面取り基板（１）の配
   線試験を行う装置であって、 前記複数の配線板にそれぞれ関係する試験データに基づ
   いて各配線板の試験を実行する試験実行手段（５〜８）
   と、 前記各配線板に関係する試験データを含む包括的な試験
   データ（Ａ，Ａ’）を読み込み、読み込んだデータに所
   定の加工処理を施すことで当該試験データの前記試験実
   行手段への供給又はその中断を制御する制御手段（２）
   とを具備し、 該制御手段により制御されて前記試験実行手段に供給さ
   れた試験データに基づいて各配線板毎に１枚ずつ試験を
   実行することを特徴とする多面取り基板の配線試験装
   置。
2. 【請求項２】 前記複数の配線板にそれぞれ固有の基板
   情報が予め格納されているメモリ手段（３）をさらに具
   備し、前記制御手段（２；２０，４０）は、該基板情報
   と前記包括的な試験データに基づいて前記試験実行手段
   への試験データの供給又はその中断を制御することを特
   徴とする請求項１に記載の配線試験装置。
3. 【請求項３】 前記基板情報は、各配線板（ｐ１〜ｐ
   ３）の形状を指示する情報及び各配線板の基板上におけ
   る座標を指示する情報を含むことを特徴とする請求項２
   に記載の配線試験装置。
4. 【請求項４】 前記制御手段（２０）は、読み込んだデ
   ータが各配線板のうちいずれの配線板に関係する試験デ
   ータであるかを分類し、該分類された試験データを前記
   試験実行手段に出力する試験データ分類手段（２２）
   と、前記基板情報及び前記試験実行手段により試験され
   た配線板の試験結果に基づいて前記試験データ分類手段
   に対し試験データ出力処理を制御する手段（２３）とを
   具備することを特徴とする請求項３に記載の配線試験装
   置。
5. 【請求項５】 前記制御手段（４０）は、読み込んだデ
   ータが各配線板のうちいずれの配線板に関係する試験デ
   ータであるかを分類し、該分類された試験データを前記
   試験実行手段に出力する試験データ分類手段（２２）
   と、前記試験実行手段により試験された配線板の試験結
   果に基づいて各配線板毎にそれぞれ不良結果を集計する
   試験結果分類部（２５）と、前記集計された不良結果に
   基づいて特定の配線板に不良が多発している場合には前
   記試験データ分類手段に対し当該不良配線板に関係する
   試験データを前記試験実行手段に供給しないよう制御す
   る手段（２３）とを具備することを特徴とする請求項３
   に記載の配線試験装置。
6. 【請求項６】 前記制御手段（２；３０）は、前記各配
   線板に関係する試験データを含む包括的な試験データ
   （Ａ）を加工して各配線板毎にそれぞれ固有の試験デー
   タ（ａ１〜ａ３）に分類した形で第２の包括的な試験デ
   ータ（Ａ’）を作成する手段と、該第２の包括的な試験
   データを読み込んで前記試験実行手段に供給する試験デ
   ータ読み込み手段（２１）と、前記試験実行手段により
   試験された配線板の試験結果に基づいて前記試験データ
   読み込み手段に対し試験データの読み込み処理を制御す
   る手段（２３）とを具備することを特徴とする請求項１
   に記載の配線試験装置。
7. 【請求項７】 前記第２の包括的な試験データは、各配
   線板毎に分類された各試験データの先頭部に付加された
   ラベル情報（＊ａ１〜＊ａ３）と、前記第２の包括的な
   試験データの先頭から前記各ラベル情報までのデータ長
   を規定した管理情報とを含むことを特徴とする請求項６
   に記載の配線試験装置。
8. 【請求項８】 前記試験データ読み込み手段に対し試験
   データの読み込み処理を制御する手段（２３）は、前記
   試験実行手段により試験された配線板の試験結果と共
   に、製造過程で不良になった配線板に関する情報を含ん
   だ状態で外部から供給される特定の情報を参照して、前
   記試験データ読み込み手段に対し試験データの読み込み
   処理を制御することを特徴とする請求項６又は７に記載
   の配線試験装置。
9. 【請求項９】 １枚の基板の中に複数の配線板が作製さ
   れた形態をもつ多面取り基板の配線試験を行う方法であ
   って、 前記複数の配線板にそれぞれ関係する試験データに基づ
   いて各配線板の試験を実行する際に、前記各配線板に関
   係する試験データを含む包括的な試験データを順次読み
   込み、読み込んだデータに所定の加工処理を施して当該
   試験データの読み込み若しくは出力又はその中断を制御
   し、このように制御された試験データに基づいて各配線
   板毎に１枚ずつ試験を実行することを特徴とする多面取
   り基板の配線試験方法。