JPH0855696A - Ｘ線透視装置 - Google Patents
Ｘ線透視装置Info
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- JPH0855696A JPH0855696A JP20940694A JP20940694A JPH0855696A JP H0855696 A JPH0855696 A JP H0855696A JP 20940694 A JP20940694 A JP 20940694A JP 20940694 A JP20940694 A JP 20940694A JP H0855696 A JPH0855696 A JP H0855696A
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- ray
- pulse
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- rays
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Abstract
(57)【要約】
【目的】Ｘ線被曝を低減する。
【構成】Ｘ線照射手段と、イメージインテンシファイア
及びテレビカメラと、画像処理装置と、画像表示手段を
有した医用Ｘ線透視装置において、前記Ｘ線照射手段か
らパルスＸ線を照射する手段と、該パルスＸ線のパルス
間隔もしくはパルス占有率の変更手段と、該変更手段に
与える変更信号自動発生手段もしくは変更信号人為的発
生手段により構成される。 【効果】患者，術者，術射のＸ線被曝は大幅に低減され
る。
及びテレビカメラと、画像処理装置と、画像表示手段を
有した医用Ｘ線透視装置において、前記Ｘ線照射手段か
らパルスＸ線を照射する手段と、該パルスＸ線のパルス
間隔もしくはパルス占有率の変更手段と、該変更手段に
与える変更信号自動発生手段もしくは変更信号人為的発
生手段により構成される。 【効果】患者，術者，術射のＸ線被曝は大幅に低減され
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は医用Ｘ線透視装置に係わ
り、特にＸ線被曝の低減に好適なＸ線制御方法に関す
る。
り、特にＸ線被曝の低減に好適なＸ線制御方法に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】Ｘ線透視撮影台や循環器装置に代表され
る医用Ｘ線透視装置は、診断の分野においては欠かせな
いものとなっているが、最近は診断のみならず治療にも
使われるようになっている。この治療は、Ｘ線透視下に
おいて例えば先端にさまざまな器具を取り付けたカテー
テルを被検者に挿入し行うものであり、従来の外科的な
手術による治療に対して、被検者に与える苦痛を少なく
でき、かつ安価に治療ができるという大きなメリットを
持つため、急速に普及しだしている。このような治療方
法は、ＩＶＲ（Interventional Radiology）と呼ばれて
いる。
る医用Ｘ線透視装置は、診断の分野においては欠かせな
いものとなっているが、最近は診断のみならず治療にも
使われるようになっている。この治療は、Ｘ線透視下に
おいて例えば先端にさまざまな器具を取り付けたカテー
テルを被検者に挿入し行うものであり、従来の外科的な
手術による治療に対して、被検者に与える苦痛を少なく
でき、かつ安価に治療ができるという大きなメリットを
持つため、急速に普及しだしている。このような治療方
法は、ＩＶＲ（Interventional Radiology）と呼ばれて
いる。
【０００３】ＩＶＲには、一般には従来から診断に用い
られている透視撮影装置や循環器装置が使われる。図８
に循環器装置の該略図を示す。この循環器装置は、イメ
ージインテンシファイアとテレビカメラ等から成る受像
手段（以下、ＸＴＶと称す）とＸ線管を２組備え、２方
向からの透視が同時に行えるバイプレーンタイプの装置
を示している（なお、Ｘ線管とＸＴＶが１組であるもの
をシングルプレーンタイプと称す）。Ｘ線管４ａから照
射されたＸ線は、天板１に横臥した被検者２を透過して
ＸＴＶ６ａに入射し電気信号に変換される。その後、後
述する画像処理装置を経て、被検者２の透視像がディス
プレイ２０に表示されるようになっている。これらＸ線
管４ａとＸＴＶ６ａはアーム８に支持され、このアーム
８は床１２に固定された支持器１０に取り付けられてい
る。同様にＸ線管４ｂから照射されたＸ線は、被検者２
を透過してＸＴＶ６ｂに入射し電気信号に変換される。
その後、後述する画像処理装置を経て、被検者２の透視
像がディスプレイ２０に表示されるようになっている。
これらＸ線管４ｂとＸＴＶ６ｂはアーム１４に支持さ
れ、このアーム１４は天井２４に固定されたレール１８
上を移動できるようにされている。なお、術者が機器の
動作，Ｘ線曝射のＯＮ，ＯＦＦをさせる場合は、操作卓
２６，フットスイッチ２８により行う。
られている透視撮影装置や循環器装置が使われる。図８
に循環器装置の該略図を示す。この循環器装置は、イメ
ージインテンシファイアとテレビカメラ等から成る受像
手段（以下、ＸＴＶと称す）とＸ線管を２組備え、２方
向からの透視が同時に行えるバイプレーンタイプの装置
を示している（なお、Ｘ線管とＸＴＶが１組であるもの
をシングルプレーンタイプと称す）。Ｘ線管４ａから照
射されたＸ線は、天板１に横臥した被検者２を透過して
ＸＴＶ６ａに入射し電気信号に変換される。その後、後
述する画像処理装置を経て、被検者２の透視像がディス
プレイ２０に表示されるようになっている。これらＸ線
管４ａとＸＴＶ６ａはアーム８に支持され、このアーム
８は床１２に固定された支持器１０に取り付けられてい
る。同様にＸ線管４ｂから照射されたＸ線は、被検者２
を透過してＸＴＶ６ｂに入射し電気信号に変換される。
その後、後述する画像処理装置を経て、被検者２の透視
像がディスプレイ２０に表示されるようになっている。
これらＸ線管４ｂとＸＴＶ６ｂはアーム１４に支持さ
れ、このアーム１４は天井２４に固定されたレール１８
上を移動できるようにされている。なお、術者が機器の
動作，Ｘ線曝射のＯＮ，ＯＦＦをさせる場合は、操作卓
２６，フットスイッチ２８により行う。
【０００４】図９に循環器装置の制御装置のブロック図
を示す。なお、この図９は説明を簡略化するためシング
ルプレーンタイプのブロック図を示しているが、一般に
バイプレーンタイプにおいては図９に示すものと同等の
ものが２組となっているだけであるので、シングルプレ
ーンタイプについて制御装置の機能を説明する。制御装
置は画像処理系，機器制御系，Ｘ線制御系の３つに大別
できる。画像処理系は、Ａ／Ｄ変換器４８，画像処理部
５４，フレームメモリ５１，表示階調処理部５６，Ｄ／
Ａ変換器５８とからなる。すなわち、被検者２にＸ線管
４ａからＸ線が照射され、被検者２を透過したＸ線がＸ
ＴＶ６ａに入射すると、この透過Ｘ線情報は図示を省略
したテレビカメラでアナログ信号に変換される。このア
ナログ信号はＡ／Ｄ変換器４８でディジタル信号に変換
され、画像処理部５４に送られる。送られてきたディジ
タル画像信号は、コントラスト，ガンマ特性変換等の画
像処理が行われ、階調処理をする表示階調処理部５６に
送られる。階調処理が済むとディジタル画像信号はＤ／
Ａ変換器５８によりアナログ信号に変換され、ディスプ
レイ２０に透視画像として表示される。
を示す。なお、この図９は説明を簡略化するためシング
ルプレーンタイプのブロック図を示しているが、一般に
バイプレーンタイプにおいては図９に示すものと同等の
ものが２組となっているだけであるので、シングルプレ
ーンタイプについて制御装置の機能を説明する。制御装
置は画像処理系，機器制御系，Ｘ線制御系の３つに大別
できる。画像処理系は、Ａ／Ｄ変換器４８，画像処理部
５４，フレームメモリ５１，表示階調処理部５６，Ｄ／
Ａ変換器５８とからなる。すなわち、被検者２にＸ線管
４ａからＸ線が照射され、被検者２を透過したＸ線がＸ
ＴＶ６ａに入射すると、この透過Ｘ線情報は図示を省略
したテレビカメラでアナログ信号に変換される。このア
ナログ信号はＡ／Ｄ変換器４８でディジタル信号に変換
され、画像処理部５４に送られる。送られてきたディジ
タル画像信号は、コントラスト，ガンマ特性変換等の画
像処理が行われ、階調処理をする表示階調処理部５６に
送られる。階調処理が済むとディジタル画像信号はＤ／
Ａ変換器５８によりアナログ信号に変換され、ディスプ
レイ２０に透視画像として表示される。
【０００５】機器制御系は、アーム８を支持するローラ
６０，ベルト６２，６６，プーリ６４，６８，減速器７
０，モータ７２、及びブレーキ７４から成りＸ線管４ａ
とＸＴＶ６ａが被検者２の周りを回転できるように構成
された機構に対し、そのモータ７２等を駆動制御するも
のである。なお、実際の装置では、透視像の拡大率を変
えるためＸＴＶ６ａを被検者に近づけたり，遠ざけたり
する機構や、Ｘ線管４ａとＸＴＶ６ａを被検者２の体軸
方向に移動させる機構、及びそれらのモータ制御部等が
あるが、説明は省略する。Ｘ線制御系は、Ｘ線管４ａに
高電圧を印加する高電圧発生部７８を制御するものであ
る。以上の画像処理系，機器制御系，Ｘ線制御系は操作
卓２６に設けられたスイッチ、及びフットスイッチ２８
が接続されたシステムコントローラ８０により総括的に
制御される。
６０，ベルト６２，６６，プーリ６４，６８，減速器７
０，モータ７２、及びブレーキ７４から成りＸ線管４ａ
とＸＴＶ６ａが被検者２の周りを回転できるように構成
された機構に対し、そのモータ７２等を駆動制御するも
のである。なお、実際の装置では、透視像の拡大率を変
えるためＸＴＶ６ａを被検者に近づけたり，遠ざけたり
する機構や、Ｘ線管４ａとＸＴＶ６ａを被検者２の体軸
方向に移動させる機構、及びそれらのモータ制御部等が
あるが、説明は省略する。Ｘ線制御系は、Ｘ線管４ａに
高電圧を印加する高電圧発生部７８を制御するものであ
る。以上の画像処理系，機器制御系，Ｘ線制御系は操作
卓２６に設けられたスイッチ、及びフットスイッチ２８
が接続されたシステムコントローラ８０により総括的に
制御される。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ＩＶＲは長
い場合で２〜３時間もの間、被検者にＸ線を照射し、Ｘ
線透視像を観察しながら治療を進めていくため、被検者
のＸ線被曝量は一般のＸ線診断の場合より格段に多い。
また、術者及び介添え者も散乱Ｘ線により被曝するた
め、鉛入りのＸ線防護服を着用している。しかし、１日
に何人もの患者を治療し、それが長期間にわたるので防
護服で覆われない頭部や四肢の積算被曝線量は非常に多
い。以上述べたように、ＩＶＲには患者，術者、及び介
添え者のＸ線被曝は、IVRにとって大きな問題となって
いる。
い場合で２〜３時間もの間、被検者にＸ線を照射し、Ｘ
線透視像を観察しながら治療を進めていくため、被検者
のＸ線被曝量は一般のＸ線診断の場合より格段に多い。
また、術者及び介添え者も散乱Ｘ線により被曝するた
め、鉛入りのＸ線防護服を着用している。しかし、１日
に何人もの患者を治療し、それが長期間にわたるので防
護服で覆われない頭部や四肢の積算被曝線量は非常に多
い。以上述べたように、ＩＶＲには患者，術者、及び介
添え者のＸ線被曝は、IVRにとって大きな問題となって
いる。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は被検者にＸ線を照射するＸ線照射手段と、
該被検者の透過Ｘ線を電気信号に変換する受像手段と、
前記電気信号に対して演算処理をする画像処理装置と、
演算された信号を画像化し表示する表示手段を有した医
用Ｘ線透視装置において、前記Ｘ線照射手段からパルス
状にＸ線を照射する手段と、前記パルスＸ線のパルス間
隔もしくはパルス占有率の変更手段と、前記医用Ｘ線装
置もしくは該医用Ｘ線透視装置に付随する全ての装置の
内少なくとも１つの装置から前記パルスＸ線のパルス間
隔もしくはパルス占有率の変更信号を発生する手段と、
前記変更信号により、前記パルスＸ線のパルス間隔もし
くはパルス占有率を変更制御するＸ線制御手段を設ける
ことにより達成される。
に、本発明は被検者にＸ線を照射するＸ線照射手段と、
該被検者の透過Ｘ線を電気信号に変換する受像手段と、
前記電気信号に対して演算処理をする画像処理装置と、
演算された信号を画像化し表示する表示手段を有した医
用Ｘ線透視装置において、前記Ｘ線照射手段からパルス
状にＸ線を照射する手段と、前記パルスＸ線のパルス間
隔もしくはパルス占有率の変更手段と、前記医用Ｘ線装
置もしくは該医用Ｘ線透視装置に付随する全ての装置の
内少なくとも１つの装置から前記パルスＸ線のパルス間
隔もしくはパルス占有率の変更信号を発生する手段と、
前記変更信号により、前記パルスＸ線のパルス間隔もし
くはパルス占有率を変更制御するＸ線制御手段を設ける
ことにより達成される。
【０００８】該パルスＸ線のパルス間隔，パルス占有率
の変更は、次の４点のいずれかにより達成される。 (1）Ｘ線照射手段もしくは受像手段を移動させる手段も
しくは被検者を横臥させたテーブルを移動させる手段の
動作信号もしくは動作準備信号の内少なくとも１つの信
号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有率
の変更信号とする。 (2）前記医用Ｘ線装置において人為的な操作を検出する
検出手段を設け、該検出信号を前記パルスＸ線のパルス
間隔もしくはパルス占有率の変更信号とする。 (3）Ｘ線透視装置に付随する全ての装置の内少なくとも
１つの動作信号もしくは動作準備信号を検出し、該検出
信号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有
率の変更信号とする。 (4）前記画像処理装置が画像フレーム毎に特定濃度デー
タの位置もしくは速度もしくは加速度の位置情報を認識
し、該特定濃度データの位置情報が所定値から逸脱した
ことを認識する認識手段を設け、前記逸脱時の信号を前
記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有率の変更
信号とする。
の変更は、次の４点のいずれかにより達成される。 (1）Ｘ線照射手段もしくは受像手段を移動させる手段も
しくは被検者を横臥させたテーブルを移動させる手段の
動作信号もしくは動作準備信号の内少なくとも１つの信
号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有率
の変更信号とする。 (2）前記医用Ｘ線装置において人為的な操作を検出する
検出手段を設け、該検出信号を前記パルスＸ線のパルス
間隔もしくはパルス占有率の変更信号とする。 (3）Ｘ線透視装置に付随する全ての装置の内少なくとも
１つの動作信号もしくは動作準備信号を検出し、該検出
信号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有
率の変更信号とする。 (4）前記画像処理装置が画像フレーム毎に特定濃度デー
タの位置もしくは速度もしくは加速度の位置情報を認識
し、該特定濃度データの位置情報が所定値から逸脱した
ことを認識する認識手段を設け、前記逸脱時の信号を前
記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有率の変更
信号とする。
【０００９】
【作用】被検者を透過し、パルス間隔もしくはパルス占
有率が変更可能なＸ線照射手段からのパルスＸ線は、Ｘ
ＴＶに入射し、画像電気信号に変換される。この画像電
気信号は画像処理装置に送られ、演算処理を行い、表示
手段に表示される。前記パルス間隔もしくはパルス占有
率は、ＩＶＲに支障の無い最低限のＸ線量でなされるよ
う変更することが可能となり、患者，術者，介添え者の
Ｘ線被曝は大幅に低減される。なお、該パルスＸ線のパ
ルス間隔もしくはパルス占有率の変更は、上記(1）から
(4）の４点のいずれかにより容易に達成される。
有率が変更可能なＸ線照射手段からのパルスＸ線は、Ｘ
ＴＶに入射し、画像電気信号に変換される。この画像電
気信号は画像処理装置に送られ、演算処理を行い、表示
手段に表示される。前記パルス間隔もしくはパルス占有
率は、ＩＶＲに支障の無い最低限のＸ線量でなされるよ
う変更することが可能となり、患者，術者，介添え者の
Ｘ線被曝は大幅に低減される。なお、該パルスＸ線のパ
ルス間隔もしくはパルス占有率の変更は、上記(1）から
(4）の４点のいずれかにより容易に達成される。
【００１０】
【実施例】本発明の実施例を図１乃至図７により説明す
る。
る。
【００１１】図１は本発明の実施例におけるＸ線透視装
置の制御装置のブロック図である。天板１に横臥した被
検者２にＸ線管４ａからＸ線が照射され、被検者２を透
過したＸ線がＸＴＶ６ａに入射すると、透過Ｘ線はイメ
ージ，インテンシファイアで光学像に変換され、テレビ
カメラでその光学像はアナログ信号に変換される。この
アナログ信号はＡ／Ｄ変換器４８でディジタル信号に変
換され、画像処理部５４に送られる。送られてきたディ
ジタル画像信号は、コントラスト，ガンマ特性変換等の
画像処理が行われ、フレームメモリ５１に格納された
後、階調処理をする表示階調処理部５６に送られる。階
調処理が済むとＤ／Ａ変換器５８によりアナログ信号に
変換されディスプレイ２０に被検者２の透視像として表
示される。これらの処理は、操作卓２６のスイッチやフ
ットスイッチ２８が接続されたシステムコントローラ８
０により制御される。
置の制御装置のブロック図である。天板１に横臥した被
検者２にＸ線管４ａからＸ線が照射され、被検者２を透
過したＸ線がＸＴＶ６ａに入射すると、透過Ｘ線はイメ
ージ，インテンシファイアで光学像に変換され、テレビ
カメラでその光学像はアナログ信号に変換される。この
アナログ信号はＡ／Ｄ変換器４８でディジタル信号に変
換され、画像処理部５４に送られる。送られてきたディ
ジタル画像信号は、コントラスト，ガンマ特性変換等の
画像処理が行われ、フレームメモリ５１に格納された
後、階調処理をする表示階調処理部５６に送られる。階
調処理が済むとＤ／Ａ変換器５８によりアナログ信号に
変換されディスプレイ２０に被検者２の透視像として表
示される。これらの処理は、操作卓２６のスイッチやフ
ットスイッチ２８が接続されたシステムコントローラ８
０により制御される。
【００１２】Ｘ線は、Ｘ線管４ａに高電圧を印加する高
電圧発生部７８，高電圧をパルス状とするため高電圧を
遮断する高電圧遮断器８２により制御される。これら高
電圧発生部７８と高電圧遮断部８２は、システムコント
ローラ８０により制御されるが、詳細は後述する。
電圧発生部７８，高電圧をパルス状とするため高電圧を
遮断する高電圧遮断器８２により制御される。これら高
電圧発生部７８と高電圧遮断部８２は、システムコント
ローラ８０により制御されるが、詳細は後述する。
【００１３】さらに、Ｘ線管４ａとＸＴＶ６ａは、ロー
ラ６０によって支持されたアーム８に支持され、アーム
８はベルト６２，６６，プーリ６４，６８，減速器７０
を介してモータ７２と繋がれ回転可能となっている。こ
のモータ７２はモータ制御部７４により駆動され、モー
タ７２の同軸上に設けられたブレーキ７４と共に前記し
たシステムコントローラ８０により総括的に制御され
る。
ラ６０によって支持されたアーム８に支持され、アーム
８はベルト６２，６６，プーリ６４，６８，減速器７０
を介してモータ７２と繋がれ回転可能となっている。こ
のモータ７２はモータ制御部７４により駆動され、モー
タ７２の同軸上に設けられたブレーキ７４と共に前記し
たシステムコントローラ８０により総括的に制御され
る。
【００１４】ここで、高電圧発生部７８と高電圧遮断部
８２について図２を用いて説明を加える。高電圧発生部
７８は、電源電圧を整流する整流器８４，整流器８４の
出力電圧を高周波電圧に変換するインバータ８６，イン
バータ８６の出力電圧をＸ線管４ａからのＸ線放射に必
要な電圧に昇圧するためのトランス８８、及び整流器９
０により構成され、インバータ８６はシステムコントロ
ーラ８０に接続され動作するようになっているが、シス
テムコントローラ８０により制御される高電圧遮断部８
２を介して駆動され、インバータ８６に印加する電圧は
遮断できるようにされている。すなわち、システムコン
トローラ８０から高電圧遮断部８２へパルス電圧が与え
られると、Ｘ線管４ａに印加される電圧もそのパルス電
圧に従った期間、高電圧が印加されるようになってい
る。なお、この高電圧遮断部８２は特に独立した要素と
して設ける必要は無く、システムコントローラ８０が直
接インバータ８６を制御するような構成としても良い。
８２について図２を用いて説明を加える。高電圧発生部
７８は、電源電圧を整流する整流器８４，整流器８４の
出力電圧を高周波電圧に変換するインバータ８６，イン
バータ８６の出力電圧をＸ線管４ａからのＸ線放射に必
要な電圧に昇圧するためのトランス８８、及び整流器９
０により構成され、インバータ８６はシステムコントロ
ーラ８０に接続され動作するようになっているが、シス
テムコントローラ８０により制御される高電圧遮断部８
２を介して駆動され、インバータ８６に印加する電圧は
遮断できるようにされている。すなわち、システムコン
トローラ８０から高電圧遮断部８２へパルス電圧が与え
られると、Ｘ線管４ａに印加される電圧もそのパルス電
圧に従った期間、高電圧が印加されるようになってい
る。なお、この高電圧遮断部８２は特に独立した要素と
して設ける必要は無く、システムコントローラ８０が直
接インバータ８６を制御するような構成としても良い。
【００１５】なお、図２に示すＸ線高電圧装置は高電圧
遮断部８２を除いたものは公知であるので、詳細な説明
は省略した。
遮断部８２を除いたものは公知であるので、詳細な説明
は省略した。
【００１６】また、上記システムコントローラ８０は、
詳細には説明しないが、本実施例においてはＣＰＵ，Ｒ
ＯＭ等を有し、画像処理部５４，モータ制御部７６，高
電圧発生部７８，高電圧遮断部８２とはＩ／Ｏを介して
接続するようになっており、基本的な動作、例えば上記
したものの中ではインバータの駆動，Ｘ線と画像処理の
同期等を制御する動作プログラムはＲＯＭに記憶し、操
作卓２６のスイッチやフットスイッチ２８により動作す
るようになっている。
詳細には説明しないが、本実施例においてはＣＰＵ，Ｒ
ＯＭ等を有し、画像処理部５４，モータ制御部７６，高
電圧発生部７８，高電圧遮断部８２とはＩ／Ｏを介して
接続するようになっており、基本的な動作、例えば上記
したものの中ではインバータの駆動，Ｘ線と画像処理の
同期等を制御する動作プログラムはＲＯＭに記憶し、操
作卓２６のスイッチやフットスイッチ２８により動作す
るようになっている。
【００１７】以上説明したように、本実施例はＸ線のパ
ルス間隔、もしくはパルス占有率をシステムコントロー
ラ８０により自在に変化させることができるようにな
る。すなわち、ＩＶＲの術中、粗いフレームレートで支
障の無い時は、システムコントローラ８０が高電圧遮断
部８２に対して広いパルス間隔もしくと低いパルス占有
率のパルス電圧を与え、このパルス電圧に従ったＸ線が
被検者２に照射される。また一方で、システムコントロ
ーラ８０はそのパルスＸ線に同期するように画像処理を
制御できるので、被検者，術者，介添え者のＸ線被曝を
低減することが可能となる。
ルス間隔、もしくはパルス占有率をシステムコントロー
ラ８０により自在に変化させることができるようにな
る。すなわち、ＩＶＲの術中、粗いフレームレートで支
障の無い時は、システムコントローラ８０が高電圧遮断
部８２に対して広いパルス間隔もしくと低いパルス占有
率のパルス電圧を与え、このパルス電圧に従ったＸ線が
被検者２に照射される。また一方で、システムコントロ
ーラ８０はそのパルスＸ線に同期するように画像処理を
制御できるので、被検者，術者，介添え者のＸ線被曝を
低減することが可能となる。
【００１８】なお、粗いフレームレートで良い場合の判
断材料としては、Ｘ線管４ａやＸＴＶ６ａもしくは被検
者２の位置決め時があり、操作卓２６，フットスイッチ
２８におけるモータ制御部７６のモータ動作信号、もし
くは動作準備信号となるブレーキ７４の動作信号等をそ
の粗いフレームレートの設定信号とすることができる。
逆に、前記モータ制御部７６のモータ停止信号もしくは
ブレーキ７４の制動オン信号により高いフレームレート
の設定信号とすることができる。
断材料としては、Ｘ線管４ａやＸＴＶ６ａもしくは被検
者２の位置決め時があり、操作卓２６，フットスイッチ
２８におけるモータ制御部７６のモータ動作信号、もし
くは動作準備信号となるブレーキ７４の動作信号等をそ
の粗いフレームレートの設定信号とすることができる。
逆に、前記モータ制御部７６のモータ停止信号もしくは
ブレーキ７４の制動オン信号により高いフレームレート
の設定信号とすることができる。
【００１９】図３はＸ線のパルス間隔、もしくはパルス
占有率の変更を上記図１，図２の説明における動作信
号，動作準備信号とはせず、システムコントローラ８０
に人為的な操作によって指令するスイッチ９４を設けた
場合を示している。Ｘ線のパルス間隔、もしくはパルス
占有率の制御には、このように人為的な操作によるスイ
ッチによってなさせてもよく、操作者が任意の時にＸ線
のパルス間隔，パルス占有率を変更することが可能とな
る。なお、このスイッチ９４は可変抵抗器や非接触のセ
ンサ、例えば光，超音波，磁気等を利用したものでも良
く、特に限定はしない。可変抵抗器の場合においては、
システムコントローラ内にＡ／Ｄ変換器を設け、これを
介して可変抵抗器を設けることになり、連続的にパルス
間隔，パルス占有率を変更できる。
占有率の変更を上記図１，図２の説明における動作信
号，動作準備信号とはせず、システムコントローラ８０
に人為的な操作によって指令するスイッチ９４を設けた
場合を示している。Ｘ線のパルス間隔、もしくはパルス
占有率の制御には、このように人為的な操作によるスイ
ッチによってなさせてもよく、操作者が任意の時にＸ線
のパルス間隔，パルス占有率を変更することが可能とな
る。なお、このスイッチ９４は可変抵抗器や非接触のセ
ンサ、例えば光，超音波，磁気等を利用したものでも良
く、特に限定はしない。可変抵抗器の場合においては、
システムコントローラ内にＡ／Ｄ変換器を設け、これを
介して可変抵抗器を設けることになり、連続的にパルス
間隔，パルス占有率を変更できる。
【００２０】また、図４に示すようにＩＶＲでは被検者
に造影剤を注入するインジェクタ，レーザメス，フィル
ムに撮影するフィルムチェンジャ等、Ｘ線透視装置以外
にも多くの装置を併用する。高電圧制御部８２はこれら
の装置の動作（もしくは停止）信号，動作（もしくは停
止）準備信号により制御しても良い。
に造影剤を注入するインジェクタ，レーザメス，フィル
ムに撮影するフィルムチェンジャ等、Ｘ線透視装置以外
にも多くの装置を併用する。高電圧制御部８２はこれら
の装置の動作（もしくは停止）信号，動作（もしくは停
止）準備信号により制御しても良い。
【００２１】また、画像データからＸ線パルス間隔，パ
ルス占有率を制御することも可能となる。すなわち、図
５に示すように、画像処理部５４にフレームメモリＡ５
０とフレームメモリＢ５２の２つのフレームメモリを設
ける。この２つのフレームメモリには図６に示すような
画像データが書き込まれる。まず図６（ａ）に示すよう
な画像のデータがフレームメモリＡ５０に格納され、Ｘ
軸方向の例えばｌ，ｍ，ｎ軸上の濃度を計算する。ここ
で、ある一定値以上の濃度値を超えたデータをカテーテ
ルの位置情報Ｄ１とする。次に図６（ｂ）に示す次回の
画像データを格納したフレームメモリＢ５２の濃度を図
６（ａ）と同様に計算し、カテーテルの位置情報Ｄ２を
求める。そして、これらＤ１，Ｄ２の差を計算し、差が
所定値から逸脱した場合Ｘ線フレームメモリＡ５０のパ
ルス間隔，パルス占有率を変更させる信号をシステムコ
ントローラ８０に出力する。これら画像処理部５４が行
う処理の一連の流れを図７に整理して示す。なお、前記
所定値は、術者の手技や好みに応じて任意に変更できる
ようにしても良い。また、カテーテルの位置情報は、画
像フレーム毎に位置情報を例えば差分により微分して速
度としても良く、さらに微分して加速度としても良い。
ルス占有率を制御することも可能となる。すなわち、図
５に示すように、画像処理部５４にフレームメモリＡ５
０とフレームメモリＢ５２の２つのフレームメモリを設
ける。この２つのフレームメモリには図６に示すような
画像データが書き込まれる。まず図６（ａ）に示すよう
な画像のデータがフレームメモリＡ５０に格納され、Ｘ
軸方向の例えばｌ，ｍ，ｎ軸上の濃度を計算する。ここ
で、ある一定値以上の濃度値を超えたデータをカテーテ
ルの位置情報Ｄ１とする。次に図６（ｂ）に示す次回の
画像データを格納したフレームメモリＢ５２の濃度を図
６（ａ）と同様に計算し、カテーテルの位置情報Ｄ２を
求める。そして、これらＤ１，Ｄ２の差を計算し、差が
所定値から逸脱した場合Ｘ線フレームメモリＡ５０のパ
ルス間隔，パルス占有率を変更させる信号をシステムコ
ントローラ８０に出力する。これら画像処理部５４が行
う処理の一連の流れを図７に整理して示す。なお、前記
所定値は、術者の手技や好みに応じて任意に変更できる
ようにしても良い。また、カテーテルの位置情報は、画
像フレーム毎に位置情報を例えば差分により微分して速
度としても良く、さらに微分して加速度としても良い。
【００２２】以上説明したように、本発明によれば、医
用Ｘ線透視装置のＸ線制御手段は、Ｘ線のパルス間隔，
パルス占有率を診断や治療に支障のないような最小量の
Ｘ線透視下で診断や治療を遂行できるよう制御するた
め、患者，術者，介添え者のＸ線からの被曝を低減で
き、安全に治療が行える。
用Ｘ線透視装置のＸ線制御手段は、Ｘ線のパルス間隔，
パルス占有率を診断や治療に支障のないような最小量の
Ｘ線透視下で診断や治療を遂行できるよう制御するた
め、患者，術者，介添え者のＸ線からの被曝を低減で
き、安全に治療が行える。
【００２３】なお、前記高電圧発生部７８，高電圧遮断
部８２は図２におけるような構成に限定する必要はな
く、Ｘ線がパルス状になりかつそのパルス間隔，パルス
占有率が可変できるような構成であればどのようなもの
でも良い。また、システムコントローラ８０はＣＰＵ，
ＲＯＭ等で構成したが、特にこれらを用いて構成する必
要はない。
部８２は図２におけるような構成に限定する必要はな
く、Ｘ線がパルス状になりかつそのパルス間隔，パルス
占有率が可変できるような構成であればどのようなもの
でも良い。また、システムコントローラ８０はＣＰＵ，
ＲＯＭ等で構成したが、特にこれらを用いて構成する必
要はない。
【００２４】また、連続Ｘ線はパルス占有率の非常に高
いパルスＸ線と考えると、本発明が対象とするパルスＸ
線は連続Ｘ線をも含む。本発明は、ＯＮ，ＯＦＦするＸ
線は全てのパルスＸ線として捕える。本実施例において
は、これも容易に実現できる。
いパルスＸ線と考えると、本発明が対象とするパルスＸ
線は連続Ｘ線をも含む。本発明は、ＯＮ，ＯＦＦするＸ
線は全てのパルスＸ線として捕える。本実施例において
は、これも容易に実現できる。
【００２５】
【発明の効果】本発明によれば、患者，術者，介添え者
のＸ線被曝を大幅に低減することが可能となり、安全
に、正確な治療を行えるようになる。
のＸ線被曝を大幅に低減することが可能となり、安全
に、正確な治療を行えるようになる。
【図１】本発明の実施例におけるＸ線透視装置の制御装
置のブロック図。
置のブロック図。
【図２】本発明の実施例における高電圧発生装置と高電
圧制御装置のブロック図。
圧制御装置のブロック図。
【図３】本発明の実施例におけるＸ線透視装置の制御装
置のブロック図。
置のブロック図。
【図４】本発明の実施例におけるＸ線透視装置の制御装
置のブロック図。
置のブロック図。
【図５】本発明の実施例におけるＸ線透視装置の制御装
置のブロック図。
置のブロック図。
【図６】本発明の実施例におけるフレームメモリの状態
を示す説明図。
を示す説明図。
【図７】本発明の実施例における画像処理部の処理過程
を示すフローチャート。
を示すフローチャート。
【図８】従来のＸ線透視装置、特にバイプレーンタイプ
の循環器装置の該略図。
の循環器装置の該略図。
【図９】従来のＸ線透視装置の制御装置のブロック図。
２ 被検者 ４ａ Ｘ線管 ４ｂ Ｘ線管 ６ａ ＸＴＶ ６ｂ ＸＴＶ ８０ システムコントローラ ７８ 高電圧発生部 ８２ 高電圧制御部
Claims (5)
- 【請求項１】被検者にＸ線を照射するＸ線照射手段と、
該被検者の透過Ｘ線を電気信号に変換する受像手段と、
前記電気信号に対して演算処理をする画像処理装置と、
演算された信号を画像化し表示する表示手段を有した医
用Ｘ線透視装置において、前記Ｘ線照射手段からパルス
状にＸ線を照射する手段と、前記パルス状に照射される
Ｘ線のパルス間隔もしくはパルス占有率の変更手段と、
前記医用Ｘ線装置もしくは該医用Ｘ線透視装置に付随す
る全ての装置の内少なくとも１つの装置から前記パルス
Ｘ線のパルス間隔もしくはパルス占有率の変更信号とす
る信号を発生する手段と前記変更信号により前記パルス
Ｘ線のパルス間隔もしくはパルス占有率を変更制御する
Ｘ線制御手段を有したことを特徴とする医用Ｘ線透視装
置。 - 【請求項２】Ｘ線照射手段もしくは受像手段を移動させ
る信号もしくは被検者を横臥させたテーブルを移動させ
る手段の動作信号もしくは動作準備信号の内少なくとも
１つの信号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパル
ス占有率の変更信号としたことを特徴とする請求項１に
記載の医用Ｘ線透視装置。 - 【請求項３】前記医用Ｘ線装置において人為的な操作を
検出する検出手段を設け、該検出信号を前記パルスＸ線
のパルス間隔もしくはパルス占有率の変更信号としたこ
とを特徴とする請求項１に記載の医用Ｘ線透視装置。 - 【請求項４】Ｘ線透視装置に付随する全ての装置の内少
なくとも１つの動作信号もしくは動作準備信号を検出
し、該検出信号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくは
パルス占有率の変更信号としたことを特徴とする請求項
１に記載の医用Ｘ線透視装置。 - 【請求項５】前記画像処理装置が画像フレーム毎に特定
濃度データの位置もしくは速度もしくは加速度の位置情
報を認識し、該特定濃度データの位置情報が所定値から
逸脱したことを認識する認識手段を設け、前記逸脱時の
信号を前記パルスＸ線のパルス間隔もしくはパルス占有
率の変更信号としたことを特徴とする請求項１に記載の
医用Ｘ線透視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20940694A JPH0855696A (ja) | 1994-08-11 | 1994-08-11 | Ｘ線透視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20940694A JPH0855696A (ja) | 1994-08-11 | 1994-08-11 | Ｘ線透視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0855696A true JPH0855696A (ja) | 1996-02-27 |
Family
ID=16572362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20940694A Pending JPH0855696A (ja) | 1994-08-11 | 1994-08-11 | Ｘ線透視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0855696A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10736591B2 (en) | 2013-11-08 | 2020-08-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Control device, control method, and program |
-
1994
- 1994-08-11 JP JP20940694A patent/JPH0855696A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10736591B2 (en) | 2013-11-08 | 2020-08-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Control device, control method, and program |
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