JPH0855574A - 電界放出表示装置及びその製造方法 - Google Patents

電界放出表示装置及びその製造方法

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JPH0855574A
JPH0855574A JP32900894A JP32900894A JPH0855574A JP H0855574 A JPH0855574 A JP H0855574A JP 32900894 A JP32900894 A JP 32900894A JP 32900894 A JP32900894 A JP 32900894A JP H0855574 A JPH0855574 A JP H0855574A
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cathode
field emission
diamond
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layer
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Nam-Sin Park
男 信 朴
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Samsung SDI Co Ltd
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SANSEI DENKAN KK
Samsung Display Devices Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 製作工程が単純化でき、製作単価が節減で
き、カソードの寿命が延長できる電界放出表示装置及び
その製造方法をを提供することである。 【構成】 この方法は、基板(1)上にカソード電極
(2)を形成し、その上に絶縁体層(3)を形成する工
程と、フォトレジスト(11)を使用して前記絶縁体層
(3)を食刻させる工程と、フォトレジスト(11)を
除去し、絶縁体層(3)上に分離層(12)を形成する
工程と、ダイヤモンドを使用してダイヤモンドカソード
(10)とダイヤモンド層(13)を形成する工程と、
リフトオフ工程により分離層(12)を除去する工程を
経る。又、この装置は、カソード電極(2)上に円形パ
ターンのアパーチュアを有する絶縁体層(3)を形成
し、その絶縁体層(3)のアパーチュア内にダイヤモン
ドカソード(10)を形成したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電界放出装置(Field E
mission Display Device) 及びその製造方法に関するも
ので、詳しくは平板表示素子(Flat Panel Display)に適
用できる電界放出画像表示装置の製造時、特に大型化に
必要な電界放出カソードを微細構造のゲートアパーチュ
ア(gate aperture) 製作工程を使用しなくてもカソード
の寿命を大きく延長させ得る構造に製作することによ
り、製作工程が単純化でき、製作単価が節減できる電界
放出表示装置及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】現在の画像表示装置としては、大きく
は、陰極線管であるCRT(Cathode RayTube)、最近急
激に脚光を浴びている平板表示素子である液晶表示素子
(LCD)、プラズマ表示素子(PDP)、蛍光表示素
子(VFD)等に区分できる。
【0003】一方、CRTの場合、画質及び明るさの側
面ではかなり良好な性能を有するが、大きさが増加する
につれて容積及び重量の側面では大変不利な欠点を有し
ている。反面、平板表示素子の場合は、容積及び重量の
側面でCRTより大変有利な点を有するが、画質の劣勢
の欠点と明るさの側面でCRTの画質よりまだ不足な欠
点を有している。
【0004】しかし、最近には半導体製作技術の急激な
発展により電子放出カソードを微細加工して電界放出カ
ソードを製作し、画像表示素子に適用できるようになる
につれてCRTの画質性能を有するとともに平板表示素
子の形態を維持し得る電界放出表示装置が活発に研究開
発されている。
【0005】従来の場合、電界放出表示装置は代表的な
製造方法であるスピント(Spindt)方式により製作され
た。ここで、最も核心となる技術としてはサブミクロン
大きさの先端(submicron apex)を有するカソードチップ
形成技術とゲート電極に形成されるゲートアパーチュア
形成技術が大変大きい比重を占めている。
【0006】図3は従来の方法による電界放出カソード
を有する電界放出表示装置の断面図を示すもので、この
ような電界放出表示装置は、基板21上のカソード電極
22上に円形パターンのアパーチュアを有するように絶
縁体層23及びゲート電極24を形成し、その絶縁体層
23及びゲート電極24のアパーチュア内に円錐形カソ
ード30を形成することによりなった構造に特徴があ
る。なお、図3において、25は真空領域、26は蛍光
体層、27はアノード電極、28はフェースプレートガ
ラス、29は隔壁である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな電界放出表示装置の製造時、ゲート電極24に形成
されるゲートアパーチュアはフォトリソグラフィー(pho
tolithography)工程により形成されるが、フォトリソグ
ラフィー工程に使用されるパターン蛍光装置の紫外線は
波長0.4μm程度のH線が使用されるため、パターン
が形成できる最小パターン大きさの限界が1.5μm程
度に制限されるので、スピント方式によりゲートアパー
チュアを形成するのに多くの問題点がある。
【0008】また、大型化開発時は、新しいリソグラフ
ィー(lithography) 装置の開発が要求されるので、大型
電界放出表示装置の開発に大きい問題点をを有し、マイ
クロチップカソードの場合は、チップ先端が約50nm
程度の半径を有するので、真空領域内の残留気体による
イオン衝突現象(ion bombardment) の発生時、チップの
先端が破壊されるのでカソードの寿命が非常に短縮され
る問題点を有している
【0009】。
【発明の目的】従って、本発明の目的は、前記問題点を
解決するだけでなく製作工程が単純化でき、製作単価が
節減できる電界放出表示装置の製造方法を提供すること
にある。
【0010】本発明の他の目的は、前記方法により製造
された電界放出表示装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
の本発明の電界放出表示装置の製造方法は、電界放出表
示装置の製造方法において、a)基板上にカソード電極
を形成し、その上に絶縁体層を形成する工程と、b)フ
ォトレジストを使用して前記絶縁体層を食刻させる工程
と、c)フォトレジストを除去し、絶縁体層上に分離層
を形成する工程と、d)ダイヤモンドを使用して薄膜型
ダイヤモンドカソードとダイヤモンド層を形成する工程
と、e)リフトオフ工程により分離層及びダイヤモンド
層を除去する工程を経ることからなる。
【0012】一方、本発明の電界放出表示装置は、電界
放出表示素子において、カソード電極上に円形パターン
のアパーチュアを有する絶縁体層を形成し、その絶縁体
層のアパーチュア内にダイヤモンドカソードを形成する
ことによりなるものである。以下、本発明の構成を添付
図面に基づいてより詳細に説明する。
【0013】現在、半導体製作技術の急激な発展により
電子放出カソードを微細加工して電界放出カソードを製
作し画像表示素子に適用できるようになるにつれて、C
RTの画像性能を有するとともに平板表示素子の形態を
維持し得る電界放出表示装置が活発に研究開発されてい
る。
【0014】電界放出表示装置は、前述したように、代
表的な製造方法であるスピント方式により製作されてお
り、そのうちでもカソードチップ形成技術とゲートアパ
ーチュア形成技術が大変大きい比重を占めているが、既
存の方法により製作された電界放出表示装置は多くの問
題点を内在していた。
【0015】本発明者は前述した問題点を改善するため
に研究を反復した結果、微細構造のゲートアパーチュア
製作工程を使用しなくてもカソードの寿命を大きく延長
させ得る本発明の電界放出表示装置の製造方法を開発し
た。
【0016】図1は本発明による電界放出カソードを有
する電界放出表示装置の断面図、図2(a)〜図2
(e)は本発明による電界放出カソードの製造工程図
で、図面のうち、符号1は基板、2はカソード電極、3
は絶縁体層、5は真空領域、6は蛍光体層、7はアノー
ド電極、8はフェースプレートガラス、9は隔壁、10
はダイヤモンドカソード、11はフォトレジスト、12
は分離層、13はダイヤモンド層である。
【0017】図1に示すように、本発明の電界放出表示
装置の製造方法は、a)基板1上にカソード電極2を形
成し、その上に絶縁体層3を形成する工程と、b)フォ
トレジスト11を使用して前記絶縁体層3を食刻させる
工程と、c)フォトレジスト11を除去し、絶縁体層3
上に分離層12を形成する工程と、d)ダイヤモンドを
使用してダイヤモンドカソード10とダイヤモンド層1
3を形成する工程と、e)リフトオフ工程により分離層
12及びダイヤモンド層13を除去する工程とからなる
ことに特徴がある。
【0018】一方、図2(a)〜図2(e)に基づいて
本発明による電界放出カソードの製造方法を説明すると
次のようである。
【0019】先ず、ガラス基板1上にカソード電極2を
形成し、その上に絶縁体層3を形成する(図2(a)参
照)。
【0020】次に、フォトレジスト11を使用して、既
に形成されている絶縁体層3を食刻する(図2(b)参
照)。この際に、絶縁体層3の食刻工程は円形アパーチ
ュアパターンとして50〜100μm程度の直径を有す
るように形成されるので大変一般的な紫外線露光装置に
よるフォトレジストパターニングによりなる。
【0021】次いで、フォトレジスト11を除去し、絶
縁体層3上だけに分離層12が形成され、傾斜角度10
〜20°を有するように電子ビーム蒸着器を使用して、
基板1を回転させながらアルミニウム等で形成させる
(図2(c)参照)。一方、この時の傾斜角度によって
絶縁体層アパーチュア内に分離層物質が入ることを防止
する条件が要求される。
【0022】その後、マイクロ波CVD(microwave CV
D) 方式によりダイヤモンドを使用して、薄膜形態のダ
イヤモンドカソード10とダイヤモンド層21を形成さ
せる(図2(d)参照)。
【0023】最終的に、リフトオフ(lift off)工程によ
り分離層12を除去することにより、図2(e)のよう
に、絶縁体層アパーチュア内のダイヤモンドカソード1
0部分のみを残し、絶縁体層3上のダイヤモンド層13
を除去して本発明による電界放出カソードの製作を完了
する。
【0024】以上の工程により製作された本発明による
電界放出ダイヤモンドカソードは400〜700℃の温
度で製作でき、このように製作されたダイヤモンドカソ
ードは仕事関数(work function) が2.1eV程度であ
るので、金属チップカソードより非常に低い仕事関数を
有する。これにより、電極による強電界の形成なしにも
真っ直ぐアノード電極で強電界を形成させ得るものであ
る。
【0025】一方、本発明の動作原理を図1に基づいて
説明すると次のようである。
【0026】前述した方法により製作された電界放出カ
ソードを使用してアノード電極7及び蛍光体層6が形成
されたフェースプレートガラス8が対向する状態で、隔
壁9を介在してX方向電極である薄膜型ダイヤモンドカ
ソード10とY方向電極であるアノード電極7がストラ
イプ(stripe)形状に対向する状態で、カソード電極2と
アノード電極7間に電位差200V程度が維持される
と、薄膜型ダイヤモンドカソード10の表面で電子が放
出されてアノード電極7上の蛍光体層6に衝突すること
により、望む画像表示を遂行することになる。この際、
アノード電極7とカソード電極2内には10−6〜10
−7Torr程度の高真空領域5が維持された状態であ
る。そして、電界放出ダイヤモンドカソードは放出され
た電子による残留気体のイオン衝突現象によるカソード
の寿命短縮の問題点を克服し得るように薄膜カソード形
状を有する。
【0027】
【実施例】以下、具体的な実施例に基づいて本発明をよ
り詳細に説明するが、これが本発明の範疇を限定するも
のではない。下記の実施例では電界放出表示装置の全体
的工程を記述せず、本発明の特徴部である電界放出カソ
ードの製造工程のみを記述する。
【0028】実施例1 先ず、ガラス基板上にクロム材質のカソード電極を電子
ビーム蒸着器を使用して製作し、その上にSiO2 絶縁
体層をPECVD装置を使用して製作した。その後、フ
ォトレジストを使用して円形アパーチュアパターンとし
て70μm程度の直径を有するようにフォトレジストを
形成し、大変一般的な紫外線露光装置であるマクスアラ
イナ(aligner) を使用してフォトレジストパターニング
工程を遂行し、前記絶縁体層をRIE装備を使用して食
刻した。
【0029】フォトレジストを除去した後、電子ビーム
蒸着器を使用して基板を回転させながら傾斜角15°に
アルミニウを傾斜蒸着して前記絶縁体層上に分離層を製
作した。
【0030】その後、ダイヤモンドを使用して500℃
でマイクロ波CVD方式により薄膜形態のダイヤモンド
カソードとダイヤモンド層を製作した。
【0031】最終的に、リフトオフ工程により分離層を
除去して絶縁体層アパーチュア内のダイヤモンドカソー
ド部分のみを残し、絶縁体層上のダイヤモンド層を除去
して本発明による電界放出カソードの製作を完了した。
【0032】前記実施例により製作した電界放出カソー
ドを電界放出表示装置に構成して使用した結果、従来の
画像表示パネル内で発生するイオン衝突の問題点を克服
でき、カソードの寿命を従来のものより10,000〜
20,000時間まで大幅に改善できることを発見し
た。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の方法によ
り製作された電界放出カソードは、製作工程の側面でパ
ターン形成の最小大きさを50μm程度に維持できるの
で大型化に必要なパターン露光装置への適用に大きい問
題点がなく、かつゲート電極を使用しないので製作工程
が従来より1/3程度単純化でき、画像表示装置に適用
するのに必要な低温工程のダイヤモンドカソード製作工
程を使用して一般的なガラス基板を使用することにより
製作単価が従来より30%以上減少できる。そして、構
造的側面で従来の画像表示パネルで発生されるイオン衝
突の問題点が克服できるので、カソードの寿命が従来の
10,000時間程度から20,000時間程度まで大
幅に改善できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法による電界放出カソードを有する
電界放出表示装置の断面図である。
【図2】本発明による電界放出カソードの製造工程を
(a)〜(e)に分けて順次示す説明図である。
【図3】従来の方法による電界放出カソードを有する電
界放出表示装置の断面図である。
【符号の説明】
1 基板 2 カソード電極 3 絶縁体層 5 真空領域 6 蛍光体層 7 アノード電極 8 フェースプレートガラス 9 隔壁 10 ダイヤモンドカソード 11 フォトレジスト 12 分離層 13 ダイヤモンド層

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電界放出表示装置の製造方法において、 a)基板(1)上にカソード電極(2)を形成し、その
    上に絶縁体層(3)を形成する工程と、 b)フォトレジスト(11)を使用して前記絶縁体層
    (3)を食刻させる工程と、 c)フォトレジスト(11)を除去し、絶縁体層(3)
    上に分離層(12)を形成する工程と、 d)ダイヤモンドを使用してダイヤモンドカソード(1
    0)とダイヤモンド層(13)を形成する工程と、 e)リフトオフ工程により分離層(12)を除去する工
    程を経ることを特徴とする電界放出表示装置の製造方
    法。
  2. 【請求項2】 前記d)工程のダイヤモンドカソード
    (10)の形成工程はマイクロ波CVD工程により40
    0〜700℃の温度で遂行されることを特徴とする請求
    項1記載の電界放出表示装置の製造方法。
  3. 【請求項3】 前記c)工程の分離層(12)の形成工
    程は基板を回転させながら電子ビーム蒸着器を使用し
    て、10〜20°の傾斜角を有するように蒸着させるこ
    とを特徴とする請求項1または2記載の電界放出表示装
    置の製造方法。
  4. 【請求項4】 電界放出表示装置において、カソード電
    極(2)上に円形パタ−ンのアパーチュアを有する絶縁
    体層(3)を形成し、その絶縁体層(3)のアパーチュ
    ア内にダイヤモンドカソード(10)を形成することに
    よりなることを特徴とする電界放出表示装置。
  5. 【請求項5】 前記のダイヤモンドカソード(10)は
    薄膜形態であることを特徴とする請求項4記載の電界放
    出表示装置。
JP32900894A 1994-07-27 1994-12-28 電界放出表示装置及びその製造方法 Pending JPH0855574A (ja)

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KR1019940018358A KR100314830B1 (ko) 1994-07-27 1994-07-27 전계방출표시장치의제조방법
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