JPH084665Y2 - 温度ヒュ−ズ・抵抗結合体 - Google Patents
温度ヒュ−ズ・抵抗結合体Info
- Publication number
- JPH084665Y2 JPH084665Y2 JP5533491U JP5533491U JPH084665Y2 JP H084665 Y2 JPH084665 Y2 JP H084665Y2 JP 5533491 U JP5533491 U JP 5533491U JP 5533491 U JP5533491 U JP 5533491U JP H084665 Y2 JPH084665 Y2 JP H084665Y2
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- Japan
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- case
- temperature fuse
- resistance wire
- melting point
- low melting
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本考案は温度ヒュ−ズ素子と抵抗
素子とを結合・一体化した温度ヒュ−ズ・抵抗結合体に
関するものである。
素子とを結合・一体化した温度ヒュ−ズ・抵抗結合体に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】温度ヒュ−ズ素子と抵抗素子とを一体化
した温度ヒュ−ズ・抵抗結合体においては、過電流に基
づく抵抗素子の発熱によって温度ヒュ−ズ素子が加熱さ
れ、該温度ヒュ−ズ素子の溶断によって通電が遮断さ
れ、過電流保護素子として機能する。
した温度ヒュ−ズ・抵抗結合体においては、過電流に基
づく抵抗素子の発熱によって温度ヒュ−ズ素子が加熱さ
れ、該温度ヒュ−ズ素子の溶断によって通電が遮断さ
れ、過電流保護素子として機能する。
【0003】かかる温度ヒュ−ズ・抵抗結合体として、
図4に示すものが公知である。図4において、1’は耐
熱性の絶縁筒、4’は絶縁筒1’の一端に取着した金属
製エンドキャップ、6’は絶縁筒1’内に充填したフラ
ックスである。8’は低融点可溶合金片、7’はリ−ド
導体であり、該リ−ド導体7’の先端に低融点可溶合金
片8’を溶接し、これをフラックス充填絶縁筒1’内に
挿入のうえ金属製エンドキャップ4’の加熱により低融
点可溶合金片8’と金属製エンドキャップ4’との間を
溶接してある。60’はリ−ド線7’と絶縁筒1’との
間の封止する接着剤、例えば、エポキシ樹脂である。
2’は絶縁筒1’の外面に巻付けた抵抗線、3’は金属
製リングであり、上記巻付抵抗線2’の両端を金属製エ
ンドキャップ4’並びに金属製リング3’の嵌着によっ
て留止してある。5’は巻付抵抗線2’に被覆した耐熱
性塗料、ワニス等のコ−ティング層、9’は金属リング
3’に接続したリ−ド線である。
図4に示すものが公知である。図4において、1’は耐
熱性の絶縁筒、4’は絶縁筒1’の一端に取着した金属
製エンドキャップ、6’は絶縁筒1’内に充填したフラ
ックスである。8’は低融点可溶合金片、7’はリ−ド
導体であり、該リ−ド導体7’の先端に低融点可溶合金
片8’を溶接し、これをフラックス充填絶縁筒1’内に
挿入のうえ金属製エンドキャップ4’の加熱により低融
点可溶合金片8’と金属製エンドキャップ4’との間を
溶接してある。60’はリ−ド線7’と絶縁筒1’との
間の封止する接着剤、例えば、エポキシ樹脂である。
2’は絶縁筒1’の外面に巻付けた抵抗線、3’は金属
製リングであり、上記巻付抵抗線2’の両端を金属製エ
ンドキャップ4’並びに金属製リング3’の嵌着によっ
て留止してある。5’は巻付抵抗線2’に被覆した耐熱
性塗料、ワニス等のコ−ティング層、9’は金属リング
3’に接続したリ−ド線である。
【0004】上記の温度ヒュ−ズ・抵抗結合体において
は、巻付抵抗線2’のコ−ティング層5’を保護するた
めに、図4に示すように、温度ヒュ−ズ・抵抗結合体を
一端開口の有底セラミックスケ−ス10’に収容し、該
ケ−ス10’の開口を接着剤12’例えば、エポキシ樹
脂、セメント等で封止することがある。
は、巻付抵抗線2’のコ−ティング層5’を保護するた
めに、図4に示すように、温度ヒュ−ズ・抵抗結合体を
一端開口の有底セラミックスケ−ス10’に収容し、該
ケ−ス10’の開口を接着剤12’例えば、エポキシ樹
脂、セメント等で封止することがある。
【0005】
【考案が解決しようとする課題】上記した温度ヒュ−ズ
・抵抗結合体において、過電流に基づく抵抗線2’の発
熱により低融点可溶合金片8’が溶断すると、両リ−ド
線7’,9’間に回路電圧が作用する。而るに、図4に
示すように、これらのリ−ド線7’,9’間をエポキシ
樹脂、セメント等12’で充填すると、エポキシ樹脂、
セメント等12’の沿面絶縁強度がそれほど高くなく、
これらの充填物表面に沿ってのリ−ド線7’,9’間の
距離も温度ヒュ−ズ・抵抗結合体の構造上長くできない
ので、それらリ−ド線7’,9’間の沿面閃絡による再
導通が問題となる。
・抵抗結合体において、過電流に基づく抵抗線2’の発
熱により低融点可溶合金片8’が溶断すると、両リ−ド
線7’,9’間に回路電圧が作用する。而るに、図4に
示すように、これらのリ−ド線7’,9’間をエポキシ
樹脂、セメント等12’で充填すると、エポキシ樹脂、
セメント等12’の沿面絶縁強度がそれほど高くなく、
これらの充填物表面に沿ってのリ−ド線7’,9’間の
距離も温度ヒュ−ズ・抵抗結合体の構造上長くできない
ので、それらリ−ド線7’,9’間の沿面閃絡による再
導通が問題となる。
【0006】本考案の目的は、セラミックスケ−スのよ
うな沿面絶縁強度に優れた絶縁ケ−スで包囲する温度ヒ
ュ−ズ・抵抗結合体において、温度ヒュ−ズ・抵抗結合
素子の両リ−ド線間に、そのケ−スの優れた沿面絶縁強
度を利用して優れた沿面絶縁強度を容易に付与できる温
度ヒュ−ズ・抵抗結合体を提供することにある。
うな沿面絶縁強度に優れた絶縁ケ−スで包囲する温度ヒ
ュ−ズ・抵抗結合体において、温度ヒュ−ズ・抵抗結合
素子の両リ−ド線間に、そのケ−スの優れた沿面絶縁強
度を利用して優れた沿面絶縁強度を容易に付与できる温
度ヒュ−ズ・抵抗結合体を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本考案の温度ヒュ−ズ・
抵抗結合体は耐熱性絶縁筒上に抵抗線片が巻き付けら
れ、該絶縁筒内に低融点可溶合金片が収容され、該低融
点可溶合金片の一端にリ−ド線が接続され、同低融点可
溶合金片の他端と上記巻付抵抗線の他端とが電気的に導
通され、リ−ド導体部を有する金属リングが上記巻付抵
抗線の一端に取着され、上記の抵抗線巻付絶縁筒が上下
に2つ割れの耐熱性ケ−スで包囲され、上記リ−ド線が
該ケ−スの他端から引き出され、上記リ−ド導体部がケ
−ス側面のスリットから引き出されていることを特徴と
する構成である。
抵抗結合体は耐熱性絶縁筒上に抵抗線片が巻き付けら
れ、該絶縁筒内に低融点可溶合金片が収容され、該低融
点可溶合金片の一端にリ−ド線が接続され、同低融点可
溶合金片の他端と上記巻付抵抗線の他端とが電気的に導
通され、リ−ド導体部を有する金属リングが上記巻付抵
抗線の一端に取着され、上記の抵抗線巻付絶縁筒が上下
に2つ割れの耐熱性ケ−スで包囲され、上記リ−ド線が
該ケ−スの他端から引き出され、上記リ−ド導体部がケ
−ス側面のスリットから引き出されていることを特徴と
する構成である。
【0008】
【作用】巻付抵抗線に取着された金属リングのリ−ド導
体部が上下二っ割れケ−スのスリットから引き出され、
他方、低融点可溶合金片のリ−ド線が同上ケ−スの一端
から引き出されて両リ−ド線間の沿面が同上ケ−スの材
質で構成されているから、上記ケ−スにセラミックス等
の沿面絶縁強度に優れた材質を使用することによって両
リ−ド線間に高い沿面絶縁強度を付与できる。
体部が上下二っ割れケ−スのスリットから引き出され、
他方、低融点可溶合金片のリ−ド線が同上ケ−スの一端
から引き出されて両リ−ド線間の沿面が同上ケ−スの材
質で構成されているから、上記ケ−スにセラミックス等
の沿面絶縁強度に優れた材質を使用することによって両
リ−ド線間に高い沿面絶縁強度を付与できる。
【0009】
【実施例】以下、図面により本考案の実施例を説明す
る。図1の(イ)並びに(ロ)は本考案の実施例を示す
説明図であり、図1の(イ)はケ−ス包囲前の状態を、
図1の(ロ)はケ−ス包囲後の状態をそれぞれ示してい
る。
る。図1の(イ)並びに(ロ)は本考案の実施例を示す
説明図であり、図1の(イ)はケ−ス包囲前の状態を、
図1の(ロ)はケ−ス包囲後の状態をそれぞれ示してい
る。
【0010】図1の(イ)において、Aは温度ヒュ−ズ
・抵抗素子であり、図2の(イ)に示すように、耐熱性
絶縁筒1例えば、セラミックス絶縁筒上に抵抗線2を巻
き付け、該絶縁筒1の一端には金属リング3を、同絶縁
筒1の他端には金属製エンドキャツプ4をそれぞれ嵌着
して巻付抵抗線2の両端を留止し、同巻付抵抗線2に耐
熱性塗料、ワニス等5をコ−ティングし、前記絶縁筒1
内にフラックス6を充填し、リ−ド線7の先端に溶接し
た低融点可溶合金片8を絶縁筒1内に挿入し、金属製エ
ンドキャップ4を加熱してその低融点可溶合金片8を金
属製エンドキャップ4に溶接により電気的に導通してあ
る。
・抵抗素子であり、図2の(イ)に示すように、耐熱性
絶縁筒1例えば、セラミックス絶縁筒上に抵抗線2を巻
き付け、該絶縁筒1の一端には金属リング3を、同絶縁
筒1の他端には金属製エンドキャツプ4をそれぞれ嵌着
して巻付抵抗線2の両端を留止し、同巻付抵抗線2に耐
熱性塗料、ワニス等5をコ−ティングし、前記絶縁筒1
内にフラックス6を充填し、リ−ド線7の先端に溶接し
た低融点可溶合金片8を絶縁筒1内に挿入し、金属製エ
ンドキャップ4を加熱してその低融点可溶合金片8を金
属製エンドキャップ4に溶接により電気的に導通してあ
る。
【0011】上記の金属製リング3には、図2の(ロ)
にも示されているように、リ−ド導体部9を一体に形成
してある。
にも示されているように、リ−ド導体部9を一体に形成
してある。
【0012】図1の(イ)並びに(ロ)において、10
は上下に2っ割れの耐熱性絶縁ケ−ス、例えば、セラミ
ックスケ−スであり、両ケ−ス片101,101の一端
にはリ−ド線引出溝102,102を、上下の各ケ−ス
片101,101の上面、下面にはリ−ド導体部引出用
スリット103,103をそれぞれ設けてある。
は上下に2っ割れの耐熱性絶縁ケ−ス、例えば、セラミ
ックスケ−スであり、両ケ−ス片101,101の一端
にはリ−ド線引出溝102,102を、上下の各ケ−ス
片101,101の上面、下面にはリ−ド導体部引出用
スリット103,103をそれぞれ設けてある。
【0013】この2っ割れの耐熱性絶縁ケ−ス10によ
り温度ヒュ−ズ・抵抗結合素子Aを上下から包囲し、リ
−ド線7をケ−ス一端のリ−ド線引出溝102から引出
し、金属製リング3の各リ−ド導体部9,9を各ケ−ス
片101,101の各スリット103,103から引出
し、これらのリ−ド導体部9,9を折り曲げてケ−ス1
0と温度ヒュ−ズ・抵抗素子Aとを結合してある。
り温度ヒュ−ズ・抵抗結合素子Aを上下から包囲し、リ
−ド線7をケ−ス一端のリ−ド線引出溝102から引出
し、金属製リング3の各リ−ド導体部9,9を各ケ−ス
片101,101の各スリット103,103から引出
し、これらのリ−ド導体部9,9を折り曲げてケ−ス1
0と温度ヒュ−ズ・抵抗素子Aとを結合してある。
【0014】図1の(イ)並びに(ロ)において、12
は締結用金属板であり、ケ−ス10の他端部側に設けた
補助スリット104,104に挿通し、折り曲げてケ−
ス10の上下片101,101の締結を補強してある。
は締結用金属板であり、ケ−ス10の他端部側に設けた
補助スリット104,104に挿通し、折り曲げてケ−
ス10の上下片101,101の締結を補強してある。
【0015】図3は本考案の別実施例を示し、金属製リ
ング(図には現れていない)の両リ−ド導体部9,9を
ケ−ス10の両側面から引出し、ケ−ス一端部側の補助
両サイドスリット105,105並びにケ−ス他端側の
補助スリット104において、ケ−ス10の上下片10
1,101を金属板13,13並びに12によって締結
してある。
ング(図には現れていない)の両リ−ド導体部9,9を
ケ−ス10の両側面から引出し、ケ−ス一端部側の補助
両サイドスリット105,105並びにケ−ス他端側の
補助スリット104において、ケ−ス10の上下片10
1,101を金属板13,13並びに12によって締結
してある。
【0016】上記の実施例におけるケ−スのスリット並
びに金属板によるケ−ス上下片間の締結手段に代え、ケ
−スを胴巻きする金属バンドを使用することもできる。
びに金属板によるケ−ス上下片間の締結手段に代え、ケ
−スを胴巻きする金属バンドを使用することもできる。
【0017】
【考案の効果】本考案の温度ヒュ−ズ・抵抗結合体は上
述した通りであり、温度ヒュ−ズ・抵抗素子の低融点可
溶合金片のリ−ド線を上下二っ割れ絶縁ケ−スの一端側
から引出し、巻付抵抗線の一端側に取着したリ−ド導体
部付き金属製リングのリ−ド導体部を同絶縁ケ−スのス
リットから引き出してあるから、リ−ド線とリ−ド導体
部との間の沿面を上記絶縁ケ−スの表面で構成でき、同
絶縁ケ−スにセラミックスを使用することによって、リ
−ド線とリ−ド導体部との間の沿面絶縁強度を充分に高
くできる。
述した通りであり、温度ヒュ−ズ・抵抗素子の低融点可
溶合金片のリ−ド線を上下二っ割れ絶縁ケ−スの一端側
から引出し、巻付抵抗線の一端側に取着したリ−ド導体
部付き金属製リングのリ−ド導体部を同絶縁ケ−スのス
リットから引き出してあるから、リ−ド線とリ−ド導体
部との間の沿面を上記絶縁ケ−スの表面で構成でき、同
絶縁ケ−スにセラミックスを使用することによって、リ
−ド線とリ−ド導体部との間の沿面絶縁強度を充分に高
くできる。
【図1】図1の(イ)は本考案の実施例の組立て直前の
状態を示す説明図、図1の(ロ)は本考案の実施例を示
す説明図である。
状態を示す説明図、図1の(ロ)は本考案の実施例を示
す説明図である。
【図2】図2の(イ)は本考案において使用する温度ヒ
ュ−ズ・抵抗結合素子を示す説明図、図2の(ロ)は本
考案において使用する金属製リングを示す説明図であ
る。
ュ−ズ・抵抗結合素子を示す説明図、図2の(ロ)は本
考案において使用する金属製リングを示す説明図であ
る。
【図3】本考案の別実施例を示す説明図である。
【図4】従来例を示す説明図である。
1 耐熱性絶縁筒 2 抵抗線 7 リ−ド線 8 低融点可溶合金片 9 リ−ド導体部 A 温度ヒュ−ズ・抵抗結合素子 1 ケ−ス 101 ケ−ス片 103 スリット
Claims (2)
- 【請求項1】耐熱性絶縁筒上に抵抗線片が巻き付けら
れ、該絶縁筒内に低融点可溶合金片が収容され、該低融
点可溶合金片の一端にリ−ド線が接続され、同低融点可
溶合金片の他端と上記巻付抵抗線の他端とが電気的に導
通され、リ−ド導体部を有する金属リングが上記巻付抵
抗線の一端に取着され、上記の抵抗線巻付絶縁筒が上下
に2つ割れの耐熱性ケ−スで包囲され、上記リ−ド線が
該ケ−スの一端から引き出され、上記リ−ド導体部がケ
−ス側面のスリットから引き出されていることを特徴と
する温度ヒュ−ズ・抵抗結合体。 - 【請求項2】2つ割れの耐熱性ケ−スの各ケ−ス片に補
助スリットが設けられ、これら補助スリットに締結用金
属板が挿通されて両ケ−ス片間が締結されている請求項
1記載の温度ヒュ−ズ・抵抗結合体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5533491U JPH084665Y2 (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 温度ヒュ−ズ・抵抗結合体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5533491U JPH084665Y2 (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 温度ヒュ−ズ・抵抗結合体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH051148U JPH051148U (ja) | 1993-01-08 |
JPH084665Y2 true JPH084665Y2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=12995640
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5533491U Expired - Lifetime JPH084665Y2 (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | 温度ヒュ−ズ・抵抗結合体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH084665Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107367225B (zh) * | 2017-07-17 | 2024-07-02 | 深圳市昌龙盛机电技术有限公司 | 一种位移传感器及其制作工艺 |
-
1991
- 1991-06-19 JP JP5533491U patent/JPH084665Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH051148U (ja) | 1993-01-08 |
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