JPH08330172A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
- Publication number
- JPH08330172A JPH08330172A JP15268995A JP15268995A JPH08330172A JP H08330172 A JPH08330172 A JP H08330172A JP 15268995 A JP15268995 A JP 15268995A JP 15268995 A JP15268995 A JP 15268995A JP H08330172 A JPH08330172 A JP H08330172A
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- Japan
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- ceramic capacitor
- electrode
- electrodes
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 耐熱性や耐湿性を向上し、ショート不良を防
止して寿命を改善する。 【構成】 少なくとも最外層の内部電極４−１及び４−
２を両端の外部電極６−１及び６−２側に分離して設け
た積層セラミックコンデンサ１において、表面７から、
分離した内部電極４−１及び４−２よりも内側の内部電
極３までの誘電体層１１の厚さが５００μｍ以上である
ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
止して寿命を改善する。 【構成】 少なくとも最外層の内部電極４−１及び４−
２を両端の外部電極６−１及び６−２側に分離して設け
た積層セラミックコンデンサ１において、表面７から、
分離した内部電極４−１及び４−２よりも内側の内部電
極３までの誘電体層１１の厚さが５００μｍ以上である
ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は積層セラミックコンデン
サに関し、特に、耐湿性等を改良した積層セラミックコ
ンデンサに関するものである。
サに関し、特に、耐湿性等を改良した積層セラミックコ
ンデンサに関するものである。
【０００２】
【従来の技術】積層セラミックコンデンサは、例えば、
特開平４−３０２１１８号に記載された構造になってい
る。すなわち、この構造の積層セラミックコンデンサ
は、図３に示す通り、内部電極２０及び２１−１、２１
−２を設けた厚さ５０μｍ程度のセラミックの誘電体シ
ートを複数枚積層し、角形に成形し、両端に外部電極２
２−１及び２２−２を設けている。そして、特に、同一
の誘電体シート表面において、最外層の内部電極２１−
１及び２１−２を、２つに分離し、両端に設けた外部電
極２２−１及び２２−２に接続し、中央部に向って互い
に近づく方向に延長し先端を対向して設けている。ま
た、その他の内側の内部電極２０は、どちらか一方の外
部電極２２−１及び２２−２に接続し、誘電体シートの
表面ごとに交互に反対方向に、対向する外部電極２２−
１及び２２−２の近傍まで延長して設けている。そし
て、表面から内側の内部電極２０までの誘電体層の厚さ
Ｔが１５０〜３００μｍ程度になっている。
特開平４−３０２１１８号に記載された構造になってい
る。すなわち、この構造の積層セラミックコンデンサ
は、図３に示す通り、内部電極２０及び２１−１、２１
−２を設けた厚さ５０μｍ程度のセラミックの誘電体シ
ートを複数枚積層し、角形に成形し、両端に外部電極２
２−１及び２２−２を設けている。そして、特に、同一
の誘電体シート表面において、最外層の内部電極２１−
１及び２１−２を、２つに分離し、両端に設けた外部電
極２２−１及び２２−２に接続し、中央部に向って互い
に近づく方向に延長し先端を対向して設けている。ま
た、その他の内側の内部電極２０は、どちらか一方の外
部電極２２−１及び２２−２に接続し、誘電体シートの
表面ごとに交互に反対方向に、対向する外部電極２２−
１及び２２−２の近傍まで延長して設けている。そし
て、表面から内側の内部電極２０までの誘電体層の厚さ
Ｔが１５０〜３００μｍ程度になっている。
【０００３】この構造の積層セラミックコンデンサ２３
は、通常、室温以上で高温の雰囲気中において電圧を印
加した場合に、湿気と電圧との相互作用により誘電体の
電気化学的劣化が進行しても、最外層の内部電極２１−
１及び２１−２があるため、劣化がこの内部電極２１−
１及び２１−２よりも内側に進行するのを防止できショ
ート不良を防止できる。例えば、定格電圧５０ＶＤＣ以
下の上記構造の低圧品は、温度４０℃、湿度９０％ＲＨ
の雰囲気中において定格電圧を印加しても、ショート不
良を生じることなく十分な寿命が得られる。
は、通常、室温以上で高温の雰囲気中において電圧を印
加した場合に、湿気と電圧との相互作用により誘電体の
電気化学的劣化が進行しても、最外層の内部電極２１−
１及び２１−２があるため、劣化がこの内部電極２１−
１及び２１−２よりも内側に進行するのを防止できショ
ート不良を防止できる。例えば、定格電圧５０ＶＤＣ以
下の上記構造の低圧品は、温度４０℃、湿度９０％ＲＨ
の雰囲気中において定格電圧を印加しても、ショート不
良を生じることなく十分な寿命が得られる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、最近は、電子
部品に対して温度８５℃、湿度８５％ＲＨというより高
温の雰囲気中において試験を行うようになってきた。そ
して、この雰囲気中において、従来の積層セラミックコ
ンデンサ２３に電圧を印加すると、誘電体の電気化学的
劣化が最外層の内部電極２１−１及び２１−２を通りぬ
け、その内側にまで進行し易くなる。そのため、例え
ば、定格電圧５００ＶＤＣ以上という高圧品にこの雰囲
気中で１００ＶＡＣ以上の交流電圧を印加すると、最外
層の内部電極２１−１及び２１−２とこれに対向するす
ぐ内側の内部電極２０との間でショート不良を生じ易
く、十分な寿命が得られない欠点がある。
部品に対して温度８５℃、湿度８５％ＲＨというより高
温の雰囲気中において試験を行うようになってきた。そ
して、この雰囲気中において、従来の積層セラミックコ
ンデンサ２３に電圧を印加すると、誘電体の電気化学的
劣化が最外層の内部電極２１−１及び２１−２を通りぬ
け、その内側にまで進行し易くなる。そのため、例え
ば、定格電圧５００ＶＤＣ以上という高圧品にこの雰囲
気中で１００ＶＡＣ以上の交流電圧を印加すると、最外
層の内部電極２１−１及び２１−２とこれに対向するす
ぐ内側の内部電極２０との間でショート不良を生じ易
く、十分な寿命が得られない欠点がある。
【０００５】本発明の目的は、以上の欠点を改良し、耐
熱性及び耐湿性を向上し、ショート不良を防止して寿命
を改善できる積層セラミックコンデンサを提供するもの
である。
熱性及び耐湿性を向上し、ショート不良を防止して寿命
を改善できる積層セラミックコンデンサを提供するもの
である。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するために、少なくとも最外層の内部電極を両端の
外部電極側に分離して設けた積層セラミックコンデンサ
において、表面から、分離した内部電極よりも内側の内
部電極までの誘電体層の厚さが５００μｍ以上であるこ
とを特徴とする積層セラミックコンデンサを提供するも
のである。
達成するために、少なくとも最外層の内部電極を両端の
外部電極側に分離して設けた積層セラミックコンデンサ
において、表面から、分離した内部電極よりも内側の内
部電極までの誘電体層の厚さが５００μｍ以上であるこ
とを特徴とする積層セラミックコンデンサを提供するも
のである。
【０００７】
【作用】本発明は、表面から、分離して先端を対向させ
た内部電極よりも内側の内部電極までの誘電体層の厚さ
を従来の約１．６７倍以上の５００μｍ以上にしてい
る。そのため、高温高湿中において電圧を印加すること
によって誘電体に電気化学的劣化が生じても、誘電体層
の厚さが厚く、分離した内部電極を通ってその内側まで
進行し難くなる。従って、分離した内部電極とその内側
の内部電極との間にショート不良を生じ難くなる。
た内部電極よりも内側の内部電極までの誘電体層の厚さ
を従来の約１．６７倍以上の５００μｍ以上にしてい
る。そのため、高温高湿中において電圧を印加すること
によって誘電体に電気化学的劣化が生じても、誘電体層
の厚さが厚く、分離した内部電極を通ってその内側まで
進行し難くなる。従って、分離した内部電極とその内側
の内部電極との間にショート不良を生じ難くなる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
図１は本発明の実施例の積層セラミックコンデンサ１の
断面図を示す。この図１においては、２はチタン酸バリ
ウム系の強誘電体セラミック粉と有機バインダとからな
る誘電体層である。３及び４−１、４−２は銀パラジウ
ムに有機バインダを添加した材質からなる厚さ３μｍの
薄膜状の内部電極であり、誘電体層中にほぼ等間隔に設
けてある。特に、内部電極４−１及び４−２は、最外層
に設けてあり、誘電体層１の両端から中央部に向って延
長し先端５−１及び５−２を対向し、先端５−１及び５
−２間を絶縁して分離して設けている。６−１及び６−
２は、誘電体層１の両端に設けた外部電極であり、内部
電極３及び４−１、４−２に電気的に接続している。そ
して誘電体層１の表面７から、最外層の内部電極４−１
及び４−２のすぐ内側の内部電極３までの誘電体層１の
厚さＴは５００μｍ以上となっている。
図１は本発明の実施例の積層セラミックコンデンサ１の
断面図を示す。この図１においては、２はチタン酸バリ
ウム系の強誘電体セラミック粉と有機バインダとからな
る誘電体層である。３及び４−１、４−２は銀パラジウ
ムに有機バインダを添加した材質からなる厚さ３μｍの
薄膜状の内部電極であり、誘電体層中にほぼ等間隔に設
けてある。特に、内部電極４−１及び４−２は、最外層
に設けてあり、誘電体層１の両端から中央部に向って延
長し先端５−１及び５−２を対向し、先端５−１及び５
−２間を絶縁して分離して設けている。６−１及び６−
２は、誘電体層１の両端に設けた外部電極であり、内部
電極３及び４−１、４−２に電気的に接続している。そ
して誘電体層１の表面７から、最外層の内部電極４−１
及び４−２のすぐ内側の内部電極３までの誘電体層１の
厚さＴは５００μｍ以上となっている。
【０００９】この積層セラミックコンデンサ１は次の通
りに製造する。すなわち、先ず、チタン酸バリウム系の
強誘電体セラミック粉と有機バインダとを材質として厚
さ５０μｍのシートを形成する。次に、このシートの表
面に銀パラジウムに有機バインダを添加したペースト状
インクを１〜３μｍ厚に塗布して内部電極３及び４−
１、４−２を形成する。そしてこの内部電極３及び４−
１、４−２を設けた誘電体シートを積層し、所定の大き
さの角状に切断し、さらに焼成して有機バインダーを除
去する。焼成後、両端に外部電極６−１及び６−２を形
成する。
りに製造する。すなわち、先ず、チタン酸バリウム系の
強誘電体セラミック粉と有機バインダとを材質として厚
さ５０μｍのシートを形成する。次に、このシートの表
面に銀パラジウムに有機バインダを添加したペースト状
インクを１〜３μｍ厚に塗布して内部電極３及び４−
１、４−２を形成する。そしてこの内部電極３及び４−
１、４−２を設けた誘電体シートを積層し、所定の大き
さの角状に切断し、さらに焼成して有機バインダーを除
去する。焼成後、両端に外部電極６−１及び６−２を形
成する。
【００１０】また、図２は本発明の他の実施例の積層セ
ラミックコンデンサ８を示す。この実施例では、特に、
最外層の内部電極９−１及び９−２とそのすぐ内側の内
部電極１０−１及び１０−２とを、両端の外部電極１１
−１及び１１−２に接続し、誘電体層１２の中央部に向
って延長し、先端１３−１及び１３−２、１４−１、１
４−２を対向し、分離して設けている。そして誘電体層
１２の表面１５から内部電極１０−１及び１０−２に対
向するより内側の内部電極１６までの誘電体層１２の厚
さＴを５００μｍ以上にしている。
ラミックコンデンサ８を示す。この実施例では、特に、
最外層の内部電極９−１及び９−２とそのすぐ内側の内
部電極１０−１及び１０−２とを、両端の外部電極１１
−１及び１１−２に接続し、誘電体層１２の中央部に向
って延長し、先端１３−１及び１３−２、１４−１、１
４−２を対向し、分離して設けている。そして誘電体層
１２の表面１５から内部電極１０−１及び１０−２に対
向するより内側の内部電極１６までの誘電体層１２の厚
さＴを５００μｍ以上にしている。
【００１１】なお、図１及び図２に示す実施例におい
て、内部電極はほぼ等間隔に設けているが、部分的に間
隔を広げたり狭めたりして設けてもよい。
て、内部電極はほぼ等間隔に設けているが、部分的に間
隔を広げたり狭めたりして設けてもよい。
【００１２】さらに、これらの実施例において、分離し
た内部電極は両方とも同一の誘電体シート表面上に設け
ているが、誘電体の電気化学的劣化がより内側に進行す
るのを遮断する効果に大きな差を生じない程度に、片一
方の内部電極を、上下に積層した別の誘電体シートの表
面に設けてもよい。
た内部電極は両方とも同一の誘電体シート表面上に設け
ているが、誘電体の電気化学的劣化がより内側に進行す
るのを遮断する効果に大きな差を生じない程度に、片一
方の内部電極を、上下に積層した別の誘電体シートの表
面に設けてもよい。
【００１３】次に、本発明の実施例と従来例とについて
寿命試験を行った。実施例は図１の構造の積層セラミッ
クコンデンサを用い、誘電体層１の厚さＴを変えて、実
施例１及び実施例２とする。従来例は、図３に示すもの
を従来例１とし、図４に示すものを従来例２とする。こ
の図４に示す積層セラミックコンデンサ２４は、最外層
の内部電極２５がその内側の内部電極２６と同様に一方
の外部電極２７−１から他方の外部電極２７−２の近傍
まで延長して設けた構造になっていて、誘電体層２８の
厚さＴを表面２９から最外層の内部電極２５までとして
いる。試料は定格６３０Ｖ、０．０１μＦとする。ま
た、試料数は各々１００個とする。そして寿命試験は、
温度８５℃、湿度８５％ＲＨの雰囲気中において交流電
圧２４０Ｖを印加しながら放置して行なう。
寿命試験を行った。実施例は図１の構造の積層セラミッ
クコンデンサを用い、誘電体層１の厚さＴを変えて、実
施例１及び実施例２とする。従来例は、図３に示すもの
を従来例１とし、図４に示すものを従来例２とする。こ
の図４に示す積層セラミックコンデンサ２４は、最外層
の内部電極２５がその内側の内部電極２６と同様に一方
の外部電極２７−１から他方の外部電極２７−２の近傍
まで延長して設けた構造になっていて、誘電体層２８の
厚さＴを表面２９から最外層の内部電極２５までとして
いる。試料は定格６３０Ｖ、０．０１μＦとする。ま
た、試料数は各々１００個とする。そして寿命試験は、
温度８５℃、湿度８５％ＲＨの雰囲気中において交流電
圧２４０Ｖを印加しながら放置して行なう。
【００１４】この寿命試験の結果、各試料のうち１％が
ショート不良となるまでの時間を表１に示した。また、
全試料についてショート不良を生じる時間をWeibull 確
率紙にプロットし、図５に示した。
ショート不良となるまでの時間を表１に示した。また、
全試料についてショート不良を生じる時間をWeibull 確
率紙にプロットし、図５に示した。
【００１５】
【表１】
【００１６】表１から明らかな通り、実施例１及び実施
例２によれば、従来例１及び従来例２に比較して、試料
の１％がショート不良を生じる時間は、前者の方が後者
の２．２倍〜約７．３倍となる。
例２によれば、従来例１及び従来例２に比較して、試料
の１％がショート不良を生じる時間は、前者の方が後者
の２．２倍〜約７．３倍となる。
【００１７】また、図５から明らかな通り、１０００時
間放置後において、ショート不良による累積故障率は、
実施例１が約４％、実施例２が１％未満、従来例１が８
９％、従来例２が７２％となった。すなわち、実施例１
及び実施例２は従来例１及び従来例２の約１／１８以下
になっている。
間放置後において、ショート不良による累積故障率は、
実施例１が約４％、実施例２が１％未満、従来例１が８
９％、従来例２が７２％となった。すなわち、実施例１
及び実施例２は従来例１及び従来例２の約１／１８以下
になっている。
【００１８】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、少なくと
も最外層の内部電極を両外部電極側に分離し、誘電体層
の表面から、分離した内部電極よりも内側の内部電極ま
での誘電体層の厚さを５００μｍ以上としているため、
耐熱性及び耐湿性を向上でき、寿命を長くできる積層セ
ラミックコンデンサが得られる。
も最外層の内部電極を両外部電極側に分離し、誘電体層
の表面から、分離した内部電極よりも内側の内部電極ま
での誘電体層の厚さを５００μｍ以上としているため、
耐熱性及び耐湿性を向上でき、寿命を長くできる積層セ
ラミックコンデンサが得られる。
【図１】本発明の実施例の断面図を示す。
【図２】本発明の他の実施例の断面図を示す。
【図３】従来例の断面図を示す。
【図４】従来例の断面図を示す。
１，８…積層セラミックコンデンサ、 ２，１２…誘電
体層、３，４−１，４−２，９−１，９−２，１０−
１，１０−２，１６…内部電極、 ６−１，６−２，１
１−１，１１−２…外部電極、 ７，１５…表面。
体層、３，４−１，４−２，９−１，９−２，１０−
１，１０−２，１６…内部電極、 ６−１，６−２，１
１−１，１１−２…外部電極、 ７，１５…表面。
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成７年１１月２日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】図５
【補正方法】追加
【補正内容】
【図５】積層セラミックコンデンサを負荷放置試験した
場合の累積故障率のグラフを示す。
場合の累積故障率のグラフを示す。
Claims (1)
- 【請求項１】 少なくとも最外層の内部電極を両端の外
部電極側に分離して設けた積層セラミックコンデンサに
おいて、表面から、分離した内部電極よりも内側の内部
電極までの誘電体層の厚さが５００μｍ以上であること
を特徴とする積層セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15268995A JPH08330172A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15268995A JPH08330172A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08330172A true JPH08330172A (ja) | 1996-12-13 |
Family
ID=15545988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15268995A Pending JPH08330172A (ja) | 1995-05-26 | 1995-05-26 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08330172A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017085044A (ja) * | 2015-10-30 | 2017-05-18 | 株式会社村田製作所 | 積層型電子部品およびその製造方法 |
-
1995
- 1995-05-26 JP JP15268995A patent/JPH08330172A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017085044A (ja) * | 2015-10-30 | 2017-05-18 | 株式会社村田製作所 | 積層型電子部品およびその製造方法 |
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