JPS60170924A - 積層セラミツクコンデンサ - Google Patents

積層セラミツクコンデンサ

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Publication number
JPS60170924A
JPS60170924A JP2754584A JP2754584A JPS60170924A JP S60170924 A JPS60170924 A JP S60170924A JP 2754584 A JP2754584 A JP 2754584A JP 2754584 A JP2754584 A JP 2754584A JP S60170924 A JPS60170924 A JP S60170924A
Authority
JP
Japan
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capacitor
multilayer ceramic
electrode layer
internal
laminated ceramic
Prior art date
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Pending
Application number
JP2754584A
Other languages
English (en)
Inventor
海辺 進
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は積層セラミックコンデンサに関するものである
従来例の構成とその問題点 一般に、積層セラミノクコンテンサは、第1図に示すよ
うにB a T iOs 、 T No 2などの高誘
電率系セラミクスの微粉末とバインダーとを混合したも
のを薄くシート状にしたセラミック7−トにPt。
Pdなとの高温安定性の良い貴金属ペーストを印刷し、
この薄いセラミック7−トを数層から数十層つみ重ねて
焼結し、さらにコンデンサ素体の内部d極2を並列に接
続するように外部電極3を設けだものである。尚、第1
図中、1はセラミック誘電体である。
このコンデンサを使用したとき、市場で起こる不良の半
数以上は回路基板4への取り付は時の熱ショックによる
絶縁抵抗の劣化に起因するといわれている。すなわち、
積層セラミックコンデンサは多くの場合、セラミックが
露出しているので、はんだ付けの際に高温のはんだが直
接コンデンサ素体の表面に触れることにより、コンデン
サ表面から内部へマイクロクラックなどの欠陥が発生し
て絶縁不良に至る場合がある。
したかって、積層セラミックコンデンサの半田付は時の
信頼性向上のためには、セラミック素体の1熱衝撃性の
改善および半田イ」け時にコンデンサを予熱して熱衝撃
をやわらげるなどの半田付けの温度コントロールに努力
をはらう必要があった。
市場不良品の故障モードを調査してみると、その大半が
第2図に示すようにクラック5が外部電極3の付近から
発生し、表面から内部電極2に達している。この場合で
はほとんど内部電極2の第1層にとどまっているが、第
2層あるいは第3層1で達し、内部対向電極間にクラッ
クが発生し、絶縁不良の原因となっている。
発明の目的 本発明は、従来のかかる問題に鑑みなされたものであり
、半dj付は時において熱衝撃に強い積層セラミックコ
ンデンサを提供することを目的とする。
発明の構成 −1−記の目的を達成するため、本発明の積層セラミ、
クコンデノザは、内部電極の外部1]に内部電極として
は無効な遊離電極層を形成することにより、熱衝撃時の
クラックが内部電極に達することを防止するように構成
したことを特長とするものである。
実施例の説明 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第3
図および第4図は本発明の一実施例を示している。積層
セラミックコンデンサは通常行なわれている製造工程に
よって製造されるが、セラミックノート上に内部電極と
ほぼ同じd]と厚みをもつ無効な遊離電極層6全印刷し
、ノート積重ね時に有効な内部電極の前後に所定の枚数
を積重ね、圧着、カット、焼成、外部電極塗布、焼付け
、検査の各製造工程を通って得られる。
なお、無効な遊離電極層は第5図に示すように両方の外
部電極3,3にまたかるような電極層7゜部分的に有効
電極となりうるような電極層8として構成しても良い。
このように構成すると、遊離電極層6,7.8は内部電
極2を熱衝撃から保護する働きを有する1゜発明の効果 以上のように本発明の積層セラミックコンデ/ザによれ
ば、内部電極の外側に内部電極として無効な遊離電極層
を形成しているので、半田利は時に熱衝撃が仮りに加わ
ったとしても外側の遊離電極層でクラックが止1ってし
まい、内部電極層にはクラックの発生がなく、基板実装
上きわめて信頼性の高いコンデンサを得ることができる
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の積層セラミックコンデンサの構造を示す
一部切欠斜視図、第2図aは同コンデンサの回路基板へ
の取付状態を示す平面図、第2図bu、その断面図、第
3図は本発明の積層セラミックコンデンサの一実施例を
示す平面図、第4−1は同コンデンサの断面図、第5図
は本発明に係る積層セラミックコンデンサの他の実施例
を示す断面図である。 1・・・・セラミック誘電体、2・・・・内部電極、3
・・・外部電極、6,7.8・・・・・遊離電極層。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第4
図 第5図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. コンデンサ形成部を外部応力、環境から保護する/こめ
    に内部電極の外側に遊離電極層を設けたことを特徴上す
    る積層セラミックコンデンサ。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04302118A (ja) * 1991-03-28 1992-10-26 Mitsubishi Materials Corp チップ型積層セラミックコンデンサ
JP2000353636A (ja) * 1999-04-06 2000-12-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 積層セラミック部品
JP2002015941A (ja) * 2000-06-28 2002-01-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd チップ型電子部品
JP2020031161A (ja) * 2018-08-23 2020-02-27 太陽誘電株式会社 積層セラミックコンデンサおよびその製造方法

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