JPH08323785A - セルロースアシレートフィルムおよびその製造法 - Google Patents

セルロースアシレートフィルムおよびその製造法

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JPH08323785A
JPH08323785A JP18152795A JP18152795A JPH08323785A JP H08323785 A JPH08323785 A JP H08323785A JP 18152795 A JP18152795 A JP 18152795A JP 18152795 A JP18152795 A JP 18152795A JP H08323785 A JPH08323785 A JP H08323785A
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JP
Japan
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film
cellulose acylate
weight
solvent
cellulose
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Application number
JP18152795A
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English (en)
Inventor
Takeshi Sasaki
毅 佐々木
Aritami Yonemura
有民 米村
Kaoru Iwata
薫 岩田
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Teijin Ltd
Original Assignee
Teijin Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】光学等方性、均一性に優れたセルロースアシレ
ートフィルムを提供すること。 【解決手段】セルロースアシレートを溶解した1,3−
ジオキソラン溶液を用いてキャスト法によりフィルムを
製膜するに際して、半乾燥状態のフィルムを基板から剥
離して加熱乾燥する工程で、残留溶媒を含むフィルムの
ガラス転移点の推移に合わせて連続的または逐次的に昇
温して乾燥する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学等方性、均一性に優
れたセルロースアシレートフィルムおよびその製造法に
関し、さらに詳しくは、光学用フィルム、偏光板用保護
フィルム、写真用ベースフィルム等に有用なセルロース
アシレートフィルムおよびその製造法に関する。
【0002】
【従来の技術】セルロースアセテートは、写真用ベース
フィルム、包装用をはじめ種々の分野で重要な役割を果
している。また、近年は液晶表示装置等における偏光板
用保護フィルムとして実用化されている。セルロースア
セテートの性質は、重合度や酢化度によりかなり異な
る。一般に、酢化度や重合度が大きいほど機械的性質、
耐熱性、吸湿・寸法安定性等の物性は優れているが、加
工性、溶解性が劣る。現在、高分子量セルローストリア
セテートは唯一塩化メチレンにしか高濃度溶解しないと
いわれ、塩化メチレン溶液からキャスト製膜されてい
る。しかしながら、近年、塩化メチレンは発ガン性を含
む環境汚染の観点から、使用禁止の動向にある。
【0003】この問題は、該溶媒が低沸点(沸点40
℃)である点にも起因し、製造過程で揮散することによ
り環境汚染を倍加している。また、このような塩化メチ
レン溶液から製膜されたセルロースアセテートフィルム
は、その面内方向の光学等方性は非常に優れているが、
膜厚方向には光学異方性を有するものであった。このよ
うな膜厚方向に光学異方性を有するフィルムを偏光板用
保護フィルムとして使用した場合、例えば、これを液晶
表示装置に使用すると、斜め方向から見た時の画像の視
認性が低下するという問題点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記従来技
術に鑑み、非ハロゲン溶液を用いたセルロースアシレー
ト溶液組成物からキャストすることにより表面性、透明
性、光学等方性、特に膜厚方向の光学等方性に優れ、か
つ残留溶媒の少ないセルロースアシレートフィルムを提
供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記課題を
解決するために鋭意検討した結果、1,3−ジオキソラ
ンがセルロースアセテートを高濃度に溶解し、この溶液
から容易に透明かつ光学等方性に優れたフィルムを製膜
できることを見い出し本発明に到達した。
【0006】すなわち本発明は、1,3−ジオキソラン
を60重量%以上含有し、実質的に水を含まない溶媒1
5〜250重量部に対して、10重量部のセルロースア
シレートを溶解したセルロースアシレート溶液組成物を
支持体に流延し、溶媒含有量が5〜30重量%になるま
で乾燥した後、フィルムを支持体から剥離し、巾方向に
収縮可能な状態で、下記式(I)を満足する温度(T
(℃))の範囲でそのTg’の推移に合せて連続的または
逐次的に昇温して乾燥することを特徴とするセルロース
アシレートフィルムの製造法である。
【0007】
【数3】 Tg’−50℃≦T≦Tg’+20℃ ・・・(I) [ここで、Tg’(℃)は溶媒を含むセルロースアシレ
ートフィルムのガラス転移点である。] また本発明は、フィルム面内の遅相軸方向の屈折率をn
x 、進相軸方向の屈折率をny 、フィルムの厚さ方向の
屈折率をnz 、フィルムの厚さをd(μm)とした場合
に、下記式(II)より求めた算出値(Q値)が50nm
以下であることを特徴とするセルロースアシレートフィ
ルムである。
【0008】
【数4】 Q=|(nx +ny )/2−nz |×d ・・・(II) 本発明において用いられるセルロースアシレートは、セ
ルロースの水酸基の一部ないしは全部がアシル化された
ものの総称である。ここで、アシル基として好適に用い
られる基は、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル基
等の脂肪族アシル基、シクロヘキサンカルボニル基等の
脂環族アシル基等が挙げられる。より好適にはアシル基
がアセチル基、プロピオニル基、ブチリル基に対応する
セルロースアセテート、セルロースプロピオネート、セ
ルロースブチレートが挙げられ、最も好適にはセルロー
スアセテートが挙げられる。また、アシル基は単独でも
二種以上でもよい。
【0009】かかるセルロースアシレートは、使用目的
により所望のアシル化率のセルロースジアシレートある
いはセルローストリアシレートを選択すればよいが、本
発明では繰り返し単位中平均2.0以上、好ましくは
2.2以上である。2.0未満では水酸基の割合が増す
に従って、溶解性が低下するために好ましくない。中で
もアシル化率2.8を越えるセルローストリアシレー
ト、特にセルローストリアセテートは、吸湿性が低く機
械的強度に優れ、写真用フィルム、液晶表示に用いる偏
光板用保護フィルム等に好適である。なお、繰り返し単
位中のアシル基により置き換えられる水酸基の数は3個
であるために、アシル化率の上限は3.0である。
【0010】本発明において用いられるセルロースアシ
レートの分子量は、0.5g/dlの1,3−ジオキソ
ラン溶液を用いて25℃で測定したηsp/cの値が0.
3〜10.0dl/g、好ましくは0.5〜8.0dl
/gの範囲のものが用いられる。これ以上では溶解性が
低下するばかりか、たとえ溶解しても低濃度で高溶液粘
度になるために製膜の目的には好ましくない。
【0011】本発明において用いられる溶媒は実質的に
水を含まず、60重量%以上、好ましくは70重量%以
上がジオキソランであり、ジオキソラン単独溶媒でもよ
い。溶媒中に水が存在すると、表面が光学的に平滑なフ
ィルムが得にくく、また、セルロースアシレートの水酸
基と水との相互作用のためにフィルムの十分な乾燥が行
われにくく好ましくない。40重量%以下で使用し得る
他の溶媒としては、効果を勘案して用いればよい。ここ
でいう効果とは、溶解性や安定性を犠牲にしない範囲で
溶媒を混合することによる。例えば表面性の改善(レベ
リング効果)、蒸発速度や系の粘度調節、結晶化抑制効
果などである。これらの効果の度合いにより混合溶媒の
種類や添加量を決定すればよく、また混合する溶媒とし
て1種または2種以上用いてもよい。好適に用いられる
他の溶媒としては、トルエン、キシレン等の炭化水素系
溶媒、アセトン、メチルエチルケトン、シクロヘキサノ
ン等のケトン系溶媒、酢酸エチル、酢酸ブチル等のエス
テル系溶媒、エチレングリコールジメチルエーテル、
1,4−ジオキサン、テトラヒドロフラン、1,2−ジ
オキソラン等のエーテル系溶媒、メタノール、エタノー
ル、イソプロパノール等の脂肪族アルコール系溶媒、塩
化メチレン、1,2−ジクロロエタン等のハロゲン化炭
化水素系溶媒が挙げられる。
【0012】本発明における溶液組成物は、溶媒15〜
250重量部に対して、セルロースアシレート10重量
部を含有する。溶媒量が250重量部を越える、すなわ
ち溶液濃度が3.8重量%未満になると、溶液の安定性
は問題ないが、セルロースアシレートの実効濃度が低い
ために乾燥工程で除去する溶媒の量が多くなり経済的に
も好ましくない。さらに、この溶液組成物を用いて溶液
流延法あるいは押出法で製膜した場合、その分子量にも
よるが、溶液粘度が低いために外部擾乱が起きやすく表
面平滑性が得にくく好ましくない。逆に溶媒量が15重
量部未満では安定な流動性溶液が得にくく好ましくな
い。これらの濃度は主として溶液の安定性、溶液粘度を
勘案して決定される。溶液組成物はかかる溶媒量がより
好ましくは15〜120重量部、さらに好ましくは35
〜110重量部、特に好ましくは45〜105重量部に
対して、セルロースアシレート10重量部を含有するこ
とが望ましい。
【0013】また、上記溶液組成物は必要により可塑剤
等の添加剤を含んでいてもよい。可塑剤の具体例として
は、燐酸エステル系では、トリフェニルホスフェート、
トリクレジルホスフェート、トリエチルホスフェート、
ビフェニルジフェニルホスフェート等、フタル酸エステ
ル系では、ジメトキシエチルフタレート、ジメチルフタ
レート、ジエチルフタレート等、グリコール酸エステル
系では、メチルフタリルエチルグリコレート、エチルフ
タリルエチルグリコレート、その他トリメリット酸エス
テル系、トルエンスルホンアミド系、トリアセチン等が
挙げられる。この中で、燐酸エステル系の可塑剤が相溶
性の点で特に好ましい。
【0014】本発明においては1,3−ジオキソランを
主体とする溶媒にセルロースアシレートを溶解して得た
溶液組成物(ドープ)を支持基板上に流延した後、加熱
して溶媒を蒸発させることによりフィルムを得る。工業
的連続製膜工程は一般にキャスト工程および乾燥工程か
らなる。キャスト工程はドープを平滑に流延する工程で
あり、乾燥工程は流延したドープから溶媒を蒸発除去す
る工程である。
【0015】キャスト工程では、ダイから押し出す方
法、ドクターブレードによる方法、リバースロールコー
ターによる方法等が用いられる。工業的にはダイからド
ープをベルト状もしくはドラム状の支持基板に連続的に
押し出す方法が最も一般的である。用いられる支持基板
としては特に限定はないが、ガラス基板、ステンレスや
フェロタイプ等の金属基板、ポリエチレンテレフタレー
ト等のプラスチック基板等が用いられる。しかし、本発
明の主眼となる高度に表面性の優れた均質膜を工業的に
得るには鏡面仕上げした金属基板が最も一般的に用いら
れる。
【0016】一般にドープから透明かつ平滑なフィルム
を製膜するにあたり溶液粘度は極めて重要な因子であ
る。溶液粘度は樹脂濃度、分子量および溶媒の種類に依
存するが、本発明に用いる溶液組成物の粘度は、500
〜200,000cps、好ましくは1000〜10
0,000cpsである。200,000cpsを越え
ると溶液の流動性が下がるために平滑なフィルムが得ら
れないことがある。また、500cps未満では流動性
が高過ぎ、外部擾乱のため表面の乱れが生じ、均質・平
滑なフィルムが得られないことがある。
【0017】本発明においてキャスト温度は、好ましく
は10〜70℃、より好ましくは15〜50℃の範囲で
行われる。70℃を越えるとキャストと同時に溶媒の蒸
発に基づく発泡が起こるので好ましくない。また、10
℃未満では流延ドープが冷却されて粘度が上昇し、平滑
性が得にくいばかりか結露が生じるために好ましくな
い。
【0018】乾燥工程は、出来るだけ短時間に支持基板
上に流延されたドープから溶媒を蒸発除去して乾燥する
ことが望ましい。しかしながら、急激な蒸発が起こると
発泡による変形を受けるために、乾燥条件は慎重に選択
すべきである。
【0019】本発明における上記流延されたドープは、
好ましくは30〜200℃、より好ましくは40〜18
0℃の温度範囲で、好ましくは逐次的または連続的に加
熱乾燥を行うと、高度な平滑性を失うことなくフィルム
を得ることができる。
【0020】本発明によれば、上記乾燥工程は流延した
ドープから大部分の溶媒を、逐次的に、または連続的に
加熱し1回もしくは2回以上に分けて蒸発除去する初期
乾燥工程と、残りの溶媒を除去する後乾燥工程(熱処理
工程)に分けて実施することができる。
【0021】初期乾燥工程においては、30〜130
℃、好ましくは40〜120℃の範囲で乾燥される。こ
の際、この温度の範囲で逐次的または連続的乾燥を行う
ことにより、高度な平滑性を失わずに乾燥ができる。ま
た、乾燥を効率的に行うために、風を送ってもよい。一
般に風速は、1〜20m/秒、好ましくは2〜15m/
秒の範囲が用いられる。それ未満では効果が十分でな
く、逆にそれを越えると風の擾乱のために平滑面が得ら
れないために好ましくない。この際、乾燥工程の初期段
階では風速を抑え、逐次的ないしは連続的に風速を増す
方法が好ましく用いられる。
【0022】一方、この段階ではフィルムは基板上にあ
り、この工程の最後に基板から剥離される。その際に残
留溶媒量が高いとフィルムが柔らかいためにフィルム内
でポリマーの流動変形が起き、また残留溶媒量が低いと
基板との密着性が高いため応力歪みが生じることがあ
る。その残留溶媒量は好適には5〜30重量%、より好
適には10〜20重量%の範囲が選択される。乾燥時間
は乾燥条件に依存するが、一般には5分〜1時間、好ま
しくは10分〜40分の範囲で行われる。
【0023】後乾燥工程(熱処理工程)においては、基
板から剥離したフィルムを巾方向に収縮可能な状態、す
なわち無緊張状態でさらに乾燥し、残留溶媒量を下げ
る。残留溶媒量は3重量%以下、好ましくは1重量%以
下、さらに好ましくは0.5重量%以下である。残留溶
媒が多いと、経時的に変形が起きたり、後加工工程で熱
がかかると寸法変化が起きる。この工程では、一般にピ
ンテンター方式やロール懸垂方式でフィルムを搬送しな
がら乾燥する方式が採られる。
【0024】またフィルム搬送速度は、特には限定はな
いが一般には、0.5〜25m/分、好ましくは1〜1
5m/分の範囲で行われる。
【0025】この後乾燥工程の際、基板から剥離したフ
ィルムは、搬送方向と直交する巾方向に収縮可能な状
態、言い換えると巾方向に緊張を与えない状態で乾燥さ
れる。例えば、巾を一定に保ったままで乾燥を行うと、
溶媒の蒸発に伴う収縮が起こり巾方向に好ましくない張
力がかかる。その結果、分子鎖がいわゆる面配向を起こ
す。そして、フィルム面に対して垂直方向の屈折率(n
z )が低下して、光学等方性が悪くなる。この面配向
は、Tg’より著しく高いと起こりやすい。なぜなら
ば、Tg’より著しく高いと分子鎖が動きやすくなるた
めである。したがって、かかる後乾燥工程では、できる
だけ巾方向に力を加えないで、しかも乾燥温度を厳密に
制御して行う必要がある。
【0026】乾燥温度T(℃)は下記式(I)を満足す
る範囲で行う。参考例1(図1)で立証するようにセル
ロースアシレートフィルムのガラス転移点は残留溶媒量
に大きく依存し、残留溶媒量の増加と共に顕著に低下す
る。それに伴って、該フィルムは著しく変形しやすくな
る。このような観点から、この工程での乾燥温度は特に
厳密に制御する必要があるからである。
【0027】本発明においては、乾燥温度Tを、
【0028】
【数5】 (Tg’−50℃)≦T≦Tg’+20℃ ・・・(I) [ここで、Tg’(℃)は溶媒を含むセルロースアシレ
ートフィルムのガラス転移点である。]の温度(T)範
囲でそのTg’の推移に合わせて連続的または逐次的に
昇温して乾燥することによりこの目的が達成される。こ
こで、Tは乾燥雰囲気温度である。この後乾燥工程で
は、フィルムが搬送されていく過程で残留溶媒が減少し
て行き、それに伴ってTg’は上昇して行く。従って、
この工程でフィルムの歪を生じさせずに効率的に乾燥す
るためには、Tg’に併せて昇温させることが好まし
い。温度がTg’−50℃未満では効率的に乾燥をする
ことが出来なくなり好ましくない。逆にTg’+20℃
を越えると熱変形による歪、すなわち膜厚斑、光学斑が
生じ、製品としての価値が下がるため好ましくない。T
は、好ましくは、
【0029】
【数6】(Tg’−20℃)≦T≦Tg’ の範囲である。
【0030】また、かかる乾燥温度Tは連続的に昇温さ
せてもよいが、設備的には3〜10段階、好ましくは4
〜7段階に分けてそのTg’に応じて逐次的に昇温する
方法が好ましく採用される。この際、前乾燥工程同様に
風を送ることにより有利に乾燥することが好ましい。
【0031】このようにフィルムが溶媒を含んだ状態で
はそのガラス転移点(Tg’)が低下する。一方、溶媒
を含んだ状態のフィルムに熱変形による収縮等の応力が
かかると、溶媒を含まない場合と同様に配向が生じる
が、その配向量は溶媒の種類、含有量により変化する。
本発明のジオキソランまたはジオキソランを主成分とす
る溶媒を含むセルロースアシレートフィルムの場合、同
じ量の塩化メチレンを含むフィルムに比べて熱変形等に
よる配向度が極めて低く、光学等方性フィルムの製造に
は明らかに有利であることを見い出した。
【0032】よって、本発明によれば、上記した如く、
フィルム面内の遅相軸方向の屈折率をnx 、進相軸方向
の屈折率をny 、フィルムの厚さ方向の屈折率をnz
厚さをd(μm)とした場合に、下記式(II)より求め
た算出値(Q値)が50nm以下である極めて光学等方
性の高いセルロースアシレートフィルムが提供される。
【0033】
【数7】 Q=|(nx +ny )/2−nz |×d ・・・(II) Q(|(nx +ny )/2−nz |×d)が50nmよ
り大きいフィルムは、用途により光学的な等方性が不十
分なことがあり、例えばそれを液晶表示装置用偏向板用
保護フィルムとして用いた場合、斜め方向から見た画像
の視認性が低下するため好ましくない。
【0034】ここでフィルム面内の遅相軸方向の屈折率
(nx )とは、フィルム面内での最大屈折率のことであ
り、進相軸方向の屈折率(ny )とはフィルム面内での
最小屈折率のことである。
【0035】本発明により得られるセルロースアシレー
トフィルムの厚みは、特には限定はないが一般には5〜
500μm、好ましくは10〜300μmの範囲であ
る。
【0036】また、本発明においては、上記フィルム製
造工程は空気中で行われてもよいし、窒素ガスあるいは
炭酸ガス等の不活性ガス雰囲気中で行われてもよい。特
に前乾燥工程は、支持体上に流延された溶液から大部分
の溶媒を蒸発を除去する必要があるため、安全性の面等
から該不活性ガス雰囲気中で実施するのが好ましい。
【0037】
【発明の効果】本発明によれば、1,3−ジオキソラン
を主溶媒として用いる高濃度溶液により、表面性、透明
性、光学等方性、特に膜厚方向の光学等方性に優れ、か
つ残留溶媒量の少ないセルロースアシレートフィルムを
得ることができる。かかるフィルムは包装用フィルム、
光学用フィルム、偏光板用保護フィルム、写真用ベース
フィルム等の各種フィルムに有用である。特にこれを液
晶表示装置用偏光板用保護フィルムとして用いた場合、
斜め方向から見た場合にも着色がなく、視野角が広くな
り視認性が改善されるという利点もある。
【0038】
【実施例】以下に、実施例により本発明を詳述する。但
し、本発明はこれに限定されるものではない。
【0039】実施例中の物性は以下の方法で測定した。
【0040】透過率およびヘーズ値:島津製作所(株)
製紫外可視分光器(UV−240)を使用し測定した。
【0041】リターデーションおよび屈折率:日本分光
(株)製自動複屈折計(M−150)を使用し590n
mの可視光におけるリターデーション(Re値)および
屈折率を測定した。本発明においてRe値(nm)は、
フィルムの厚さd(μm)と、該フィルムの面内の遅相
軸方向と進相軸方向の屈折率の差の絶対値|nx −n y
|との積で表される。
【0042】
【数8】Re=|nx −ny |×d また、サンプルはMD方向、TD方向にそれぞれ任意に
10点づつ計20点の測定を行い、平均値と偏差を求め
た。
【0043】残存溶媒量:フィルム試料を150℃で1
6時間乾燥し前後の重量測定から求めた。
【0044】ガラス転移点:TAインスツルメント
(株)製DSC(2920型)を使用し昇温速度20℃
/分で測定を行った時の立ち下がり温度である。
【0045】[参考例1]セルローストリアセテート
(平均アセチル基導入率2.85個/繰り返し単位、η
sp/c=3.7dl/g)を1,3−ジオキソラン、塩
化メチレン、1,3−ジオキソラン/アセトン混合溶媒
(80/20重量比)に、セルロースジアセテート(平
均アセチル基導入率2.40個/繰り返し単位、ηsp
c=3.8dl/g)を1,3−ジオキソランにそれぞ
れ溶解して、15重量%の各溶液を調製した。これらの
溶液から乾燥条件を変化させることにより残留溶媒量の
異なる膜厚100μmのフィルムを作成した。これらの
フィルムのガラス転移点(Tg’)を図1に示す。図か
ら明らかなごとくTg’は検討したすべてのフィルムに
ついて残留溶媒量が増すに従って著しく低下した。
【0046】[実施例1]参考例1で用いたセルロース
トリアセテートの15重量%1,3−ジオキソラン溶液
を用いて連続製膜を行った。キャステイング装置は、ダ
イからベルトへ押出し、ベルトが4段階に区分された初
期乾燥炉に接続されている方式を採用した。また、後乾
燥炉はベルトから剥離したフィルムが6段階に区分され
たピンテンター方式の炉を採用した。この装置を用い
て、キャストした後、初期乾燥炉の温度を逐次、70、
80、90℃に昇温し、最後に70℃にして冷却した。
そして、残留溶媒量が14.5重量%のフィルムを得
た。この段階でベルトからフィルムを剥離して後乾燥炉
に送った。後乾燥炉の温度を残留溶媒量、従ってTg’
に応じて100℃(残留溶媒量14.3重量%、Tg’
=100℃)、120℃(9.5%、118℃)、14
0℃(4.5%、145℃)、150℃(2.0%、1
65℃)、160℃(1.0%、175℃)に昇温して
乾燥し、最後に40℃に冷却してフィルムを得た。かく
して得られたフィルムの残留溶媒量は0.1重量%であ
った。膜厚は75.0±0.6μmであり極めて均質で
あった。また透過率は91%であった。そのRe値は
7.0±0.5nmであり極めて異方性およびその斑の
小さいフィルムであった。また、前記式(II):Q=|
(nx +n y )/2−nz |×dより求めたQ値は3
5.0±1.2nmであった。
【0047】[比較例1]参考例1で用いたセルロース
トリアセテートの15重量%塩化メチレン溶液を用いて
実施例1と同様の連続製膜を行った。初期乾燥炉の温度
は逐次、40、60、80℃に昇温し、最後に40℃に
して冷却した。そして、残留溶媒量が12.5重量%の
フィルムを得た。後乾燥炉の温度は100℃(残留溶媒
量12.2重量%、Tg’=107℃)、115℃
(9.5%、118℃)、125℃(6.0%、135
℃)、140℃(3.0%、155℃)、155℃
(1.0%、175℃)に昇温して乾燥し、最後に40
℃に冷却してフィルムを得た。かくして得られたフィル
ムの残留溶媒量は0.1重量%であった。膜厚は75.
0±0.5μmであり極めて均質であった。Re値は
7.3±0.5nmであり面内方向の異方性およびその
斑は小さいフィルムであった。しかし、Q値は68.7
±3.2nmであり膜厚方向の異方性は極めて大きいフ
ィルムであった。
【0048】[比較例2]フィルム剥離段階までは実施
例1と同条件で行い、剥離後の後乾燥炉での乾燥条件を
135℃(残留溶媒量14.3重量%、Tg’=100
℃)、150℃(9.0%、123℃)、170℃
(4.0%、148℃)、170℃(1.5%、170
℃)、150℃(0.5%、178℃)として製膜し
た。かくして得られたフィルムの残留溶媒量は0.1重
量%であった。厚みは74.0±2.5μmであった。
Re値は12.0±3.8nm、Q値は31.0±6.
2nmと、Q値は本発明で満足する値であったが、光学
的な斑の大きいフィルムであった。このような光学斑の
大きいフィルムは、例えば液晶表示装置に使用した場
合、画像斑となるため好ましくない。
【0049】[実施例2]参考例1で用いたセルロース
ジアセテートの15重量%1,3−ジオキソラン溶液を
用いて連続製膜を行った。キャストした後、初期乾燥炉
の温度は逐次、70、80、90℃に昇温し、最後に7
0℃にして冷却した。そして、残留溶媒量が14.5重
量%のフィルムにした。この段階でベルトからフィルム
を剥離して後乾燥炉に送った。後乾燥炉の温度は120
℃(残留溶媒量14.3重量%、Tg’=120℃)、
135℃(10.0%、135℃)、155℃(6.0
%、155℃)、160℃(3.0%、170℃)、1
65℃(1.0%、187℃)に昇温して乾燥し、最後
に50℃に冷却してフィルムを得た。かくして得られた
フィルムの残留溶媒量は0.2重量%であった。膜厚は
75.2±0.8μmであり極めて均質であった。また
透過率は91%であった。そのRe値は7.0±0.6
nmであり極めて異方性およびその斑の小さいフィルム
であった。また、Q値は32.0±1.3nmであっ
た。
【0050】[実施例3]実施例1の1,3−ジオキソ
ランに代えて、1,3−ジオキソラン/アセトン混合溶
媒(80/20重量比)を使用した以外は実施例1と同
条件でフィルムの連続製膜を行った。得られたフィルム
の残留溶媒量は0.1重量%であった。膜厚は75.0
±0.5μmであり極めて均質であった。また透過率は
91%であった。そのRe値は7.0±0.4nmであ
り極めて異方性およびその斑の小さいフィルムであっ
た。また、Q値は33.0±1.0nmであった。
【0051】[参考例2]セルローストリアセテート
(平均アセチル基導入率2.85個/繰り返し単位、η
SP/c=3.7dl/g)15重量部、トリクレジルホ
スフェート1.5重量部を1,3−ジオキソラン85重
量部に撹袢しながら溶解して溶液を調製した。この溶液
から乾燥条件を変化させることにより残留溶媒量の異な
る膜厚100μmのフィルムを作成した。このフィルム
のガラス転移点(Tg’)を図2(曲線E)に示す。図
から明らかなごとくTg’は残留溶媒量が増すに従って
著しく低下した。
【0052】[実施例4]参考例2で用いた可塑剤を含
むセルローストリアセテートのジオキソラン溶液を用い
て連続製膜を行った。キャステイング装置は、実施例1
で用いたものを使用した。この装置を用いて、キャスト
した後、初期乾燥炉(前乾燥炉)の温度を逐次、70、
80、90℃に昇温し、最後に70℃にして冷却した。
そして、残留溶媒量が14.5重量%のフィルムを得
た。この段階でベルトからフィルムを剥離して後乾燥炉
に送った。後乾燥炉では幅方向に収縮可能な状態で、後
乾燥炉の温度を残留溶媒量、従ってTg’に応じて90
℃(残留溶媒量14.3重量%、Tg’=84℃)、1
05℃(残留溶媒量10.0%、Tg’=98℃)、1
20℃(残留溶媒量4.9%、Tg’=120℃)、1
35℃(残留溶媒量2.5%、Tg’=131℃)、1
45℃(残留溶媒量1.0%、Tg’=143℃)に昇
温して乾燥し、最後に40℃に冷却した。得られたフィ
ルムの残留溶媒量は0.2重量%であった。膜厚は7
6.0±0.5μmであり極めて均質であった。そのR
e値は6.5±0.5nmであり極めて異方性およびそ
の斑の小さいフィルムであった。また、前記式(II):Q
=|(nx +ny )/2−nz |×dより求めたQ値は
32.0±1.0nmであった。
【0053】[実施例5]実施例1で用いたセルロース
トリアセテートの15重量%1,3−ジオキソラン溶液
を用いて連続製膜を行った。キャステイング装置は、コ
ンマコータ型装置を用い、ポリエステルフィルム基板上
にキャストした。キャスト溶液を載せた基板は3段階に
区分された初期乾燥炉に接続されている方式を採用し
た。また、後乾燥炉は基板から剥離したフィルムが6段
階に区分されたピンテンター方式の炉を採用した。そし
て、初期乾燥炉は窒素雰囲気にした。この装置を用い
て、キャストした後、初期乾燥炉(窒素雰囲気)の温度
を逐次、70、80、90℃に昇温した。その際、入口
から1、2および3番目の区分の窒素雰囲気中の1,3
−ジオキソランの濃度はそれぞれ10.3、10.6お
よび7.8%であった。そして、残留溶媒量が16.2
重量%のフィルムを得た。この段階で基板からフィルム
を剥離して後乾燥炉(空気雰囲気)に送った。後乾燥炉
では幅方向に収縮可能な状態で、後乾燥炉の温度を残留
溶媒量、従ってTg’に応じて100℃(残留溶媒量1
6.0重量%、Tg’=94℃)、120℃(残留溶媒
量9.8%、Tg’=117℃)、140℃(残留溶媒
量4.5%、Tg’=145℃)、150℃(残留溶媒
量2.0%、Tg’=165℃)、160℃(残留溶媒
量1.0%、Tg’=175℃)に昇温して乾燥し、最
後に40℃に冷却した。得られたフィルムの残留溶媒量
は0.2重量%であった。膜厚は70.0±0.5μm
であり極めて均質であった。そのRe値は5.5±0.
5nmであり極めて異方性およびその斑の小さいフィル
ムであった。また、前記式(II):Q=|(nx +ny
/2−nz |×dより求めたQ値は33.0±1.0n
mであった。
【図面の簡単な説明】
【図1】参考例1で製造したフィルムのガラス転移点
(Tg’)と残留溶媒濃度との関係を示す曲線。
【図2】参考例2で製造したフィルムのガラス転移点
(Tg’)と残留溶媒濃度との関係を示す曲線。
【符号の説明】
A セルローストリアセテートのジオキソラン溶液から
得られたフィルム。 B セルローストリアセテートの塩化メチレン溶液から
得られたフィルム。 C セルローストリアセテートのジオキソラン/アセト
ン混合溶液から得られたフィルム。 D セルロースジアセテートのジオキソラン溶液から得
られたフィルム。 E セルローストリアセテートおよびトリクレジルホス
フェートを含むジオキソラン溶液から得られたフィル
ム。
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 B29L 11:00

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1,3−ジオキソランを60重量%以上
    含有し、実質的に水を含まない溶媒15〜250重量部
    に対して、10重量部のセルロースアシレートを溶解し
    たセルロースアシレート溶液組成物を支持体に流延し、
    溶媒含有量が5〜30重量%になるまで乾燥した後、フ
    ィルムを支持体から剥離し、巾方向に収縮可能な状態
    で、下記式(I)を満足する温度(T(℃))の範囲でそ
    のTg’の推移に合せて連続的または逐次的に昇温して
    乾燥することを特徴とするセルロースアシレートフィル
    ムの製造法。 【数1】 Tg’−50℃≦T≦Tg’+20℃ ・・・(I) [ここで、Tg’(℃)は溶媒を含むセルロースアシレ
    ートフィルムのガラス転移点である。]
  2. 【請求項2】 セルロースアシレートがセルロースアセ
    テートである請求項1記載のセルロースアシレートフィ
    ルムの製造法。
  3. 【請求項3】 セルロースアセテートがセルローストリ
    アセテートである請求項3記載のセルロースアシレート
    フィルムの製造法。
  4. 【請求項4】 フィルム面内の遅相軸方向の屈折率をn
    x 、進相軸方向の屈折率をny 、フィルムの厚さ方向の
    屈折率をnz 、フィルムの厚さをd(μm)とした場合
    に、下記式(II)より求めた算出値(Q値)が50nm
    以下であることを特徴とするセルロースアシレートフィ
    ルム。 【数2】 Q=|(nx +ny )/2−nz |×d ・・・(II)
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