JPH08297815A - モジュレーション測定装置 - Google Patents
モジュレーション測定装置Info
- Publication number
- JPH08297815A JPH08297815A JP10254695A JP10254695A JPH08297815A JP H08297815 A JPH08297815 A JP H08297815A JP 10254695 A JP10254695 A JP 10254695A JP 10254695 A JP10254695 A JP 10254695A JP H08297815 A JPH08297815 A JP H08297815A
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- Japan
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- envelope waveform
- modulation
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 再生出力波形のモジュレーションを測定する
場合、測定方法を簡略にし測定時間を短縮する。 【構成】 磁気ディスク装置に搭載されたディスク媒体
からの再生出力波形を包絡線波形に変換する包絡線波形
変換回路３と、この包絡線波形変換回路３から出力する
包絡線波形の最大値および最小値を測定するディジタル
オシロスコープ４とを備え、求めた前記最大値と最小値
を基に波形のモジュレーションを計算する。また、包絡
線波形変換回路３が半波整流回路からなってもよい。
場合、測定方法を簡略にし測定時間を短縮する。 【構成】 磁気ディスク装置に搭載されたディスク媒体
からの再生出力波形を包絡線波形に変換する包絡線波形
変換回路３と、この包絡線波形変換回路３から出力する
包絡線波形の最大値および最小値を測定するディジタル
オシロスコープ４とを備え、求めた前記最大値と最小値
を基に波形のモジュレーションを計算する。また、包絡
線波形変換回路３が半波整流回路からなってもよい。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク装置に搭
載されたディスク媒体の再生出力波形のモジュレーショ
ンを測定するモジュレーション測定装置に関し、特にフ
レキシブルディスク媒体のモジュレーション測定装置に
関する。
載されたディスク媒体の再生出力波形のモジュレーショ
ンを測定するモジュレーション測定装置に関し、特にフ
レキシブルディスク媒体のモジュレーション測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】フレキシブルディスク媒体（以下、ディ
スク媒体という）のモジュレーションは、例えば、日本
工業規格（JIS X 6223）９０ｍｍフレキシブルディスク
カートリッジによれば； モジュレーション＝（（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ））×１００［％］……（１) ここで、Ａ：トラック１周のうち2000磁束反転の平均出
力電圧の最大値 Ｂ：トラック１周のうち2000磁束反転の平均出力電圧の
最小値 のように示される。
スク媒体という）のモジュレーションは、例えば、日本
工業規格（JIS X 6223）９０ｍｍフレキシブルディスク
カートリッジによれば； モジュレーション＝（（Ａ−Ｂ）／（Ａ＋Ｂ））×１００［％］……（１) ここで、Ａ：トラック１周のうち2000磁束反転の平均出
力電圧の最大値 Ｂ：トラック１周のうち2000磁束反転の平均出力電圧の
最小値 のように示される。
【０００３】この（１）式のＡ，Ｂをそれぞれ計算要素
Ａ，計算要素Ｂとすると、これらの値を測定するには、
次のように行う。
Ａ，計算要素Ｂとすると、これらの値を測定するには、
次のように行う。
【０００４】図３は、オシロスコープにより再生出力波
形を観察する場合の一例を示す図であって、まず、磁気
ディスク装置に搭載されたディスク媒体（図示せず）か
ら読み出される再生出力波形２７は、オシロスコープ
（図示せず）を用いることにより、図３に示すように、
観察することができる。
形を観察する場合の一例を示す図であって、まず、磁気
ディスク装置に搭載されたディスク媒体（図示せず）か
ら読み出される再生出力波形２７は、オシロスコープ
（図示せず）を用いることにより、図３に示すように、
観察することができる。
【０００５】ここで、トラック１周の間隔１９は、ディ
スク媒体が１回転するのに要する時間である。また、区
間ａ（２０ａ），区間ｂ（２０ｂ），……，区間ｊ（２
０ｊ），区間ｋ（２０ｋ）は、トラック１周の間隔１９
を２０００磁束反転ごとに分割したものである。
スク媒体が１回転するのに要する時間である。また、区
間ａ（２０ａ），区間ｂ（２０ｂ），……，区間ｊ（２
０ｊ），区間ｋ（２０ｋ）は、トラック１周の間隔１９
を２０００磁束反転ごとに分割したものである。
【０００６】次に、これらの各区間のすべてについて出
力の平均値を求める。この場合、最も出力の大きい区間
は区間ｊ（２０ｊ）の出力Ａ２１であり、また、最も出
力の小さい区間は区間ｃ（２０ｃ）の出力Ｂ２２であ
る。
力の平均値を求める。この場合、最も出力の大きい区間
は区間ｊ（２０ｊ）の出力Ａ２１であり、また、最も出
力の小さい区間は区間ｃ（２０ｃ）の出力Ｂ２２であ
る。
【０００７】従って、（１）式の計算要素Ａには図３の
出力Ａ２１の値を代入する。また、（１）式の計算要素
Ｂには図３の出力Ｂ２２の値を代入する。これによりモ
ジュレーションの計算を行なうことができる。
出力Ａ２１の値を代入する。また、（１）式の計算要素
Ｂには図３の出力Ｂ２２の値を代入する。これによりモ
ジュレーションの計算を行なうことができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述したようなモジュ
レーションの計算方法は、モジュレーションの測定に時
間がかかり過ぎることに難点がある。その理由は、測定
者がモジュレーションを測定する場合、例えば、図３に
示すカーソル位置Ａ２３およびカーソル位置Ｂ２４の位
置に、オシロスコープのカーソルを合わせて直接出力Ａ
２１の値を読み取ったり、カーソル位置Ｃ２５およびカ
ーソル位置Ｄ２６の位置に、オシロスコープのカーソル
を合わせて直接出力Ｂ２２の値を読み取ればよいが、波
形を読み取るオシロスコープが上位装置（例えば、パー
ソナルコンピュータなど）の制御によってディジタルオ
シロスコープで自動的に測定するようような場合は、最
も出力の小さい出力Ｂ２４を直接測定することができな
いため、上述したように、トラック１周を微小区間に分
割するとともに、各区間ごとの出力をすべて測定しなけ
ればならないからである。
レーションの計算方法は、モジュレーションの測定に時
間がかかり過ぎることに難点がある。その理由は、測定
者がモジュレーションを測定する場合、例えば、図３に
示すカーソル位置Ａ２３およびカーソル位置Ｂ２４の位
置に、オシロスコープのカーソルを合わせて直接出力Ａ
２１の値を読み取ったり、カーソル位置Ｃ２５およびカ
ーソル位置Ｄ２６の位置に、オシロスコープのカーソル
を合わせて直接出力Ｂ２２の値を読み取ればよいが、波
形を読み取るオシロスコープが上位装置（例えば、パー
ソナルコンピュータなど）の制御によってディジタルオ
シロスコープで自動的に測定するようような場合は、最
も出力の小さい出力Ｂ２４を直接測定することができな
いため、上述したように、トラック１周を微小区間に分
割するとともに、各区間ごとの出力をすべて測定しなけ
ればならないからである。
【０００９】また、ディスク媒体の円周方向に対する記
録密度、すなわち線記録密度が低い場合は、トラック１
周の分割個数は少なくてもよいが、近年、磁気ディスク
装置の高密度化に伴って線記録密度が高くなっているた
め、分割個数が増大し、より多くの測定時間を必要とし
ている。
録密度、すなわち線記録密度が低い場合は、トラック１
周の分割個数は少なくてもよいが、近年、磁気ディスク
装置の高密度化に伴って線記録密度が高くなっているた
め、分割個数が増大し、より多くの測定時間を必要とし
ている。
【００１０】本発明の目的は、モジュレーションの測定
精度の向上および測定の高速化をはかるとともに、モジ
ュレーションの測定時間を短縮することにある。
精度の向上および測定の高速化をはかるとともに、モジ
ュレーションの測定時間を短縮することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、磁気ディスク
装置に搭載されたディスク媒体の再生出力波形を包絡線
波形に変換する包絡線波形変換回路と、この包絡波形変
換回路から出力する包絡線波形の最大値および最小値を
測定する波形測定回路とを備え、求めた前記包絡線波形
の最大値と最小値とからモジュレーションを計算するよ
うにしたことを特徴とする。また、前記包絡線波形変換
回路が半波整流回路からなることを特徴とする。
装置に搭載されたディスク媒体の再生出力波形を包絡線
波形に変換する包絡線波形変換回路と、この包絡波形変
換回路から出力する包絡線波形の最大値および最小値を
測定する波形測定回路とを備え、求めた前記包絡線波形
の最大値と最小値とからモジュレーションを計算するよ
うにしたことを特徴とする。また、前記包絡線波形変換
回路が半波整流回路からなることを特徴とする。
【００１２】
【作用】ディスク媒体からの再生出力波形を、正出力の
みの包絡線波形に変換し、この包絡線波形の最大値と最
小値とを測定することにより、モジュレーションの値を
容易に計算することができる。
みの包絡線波形に変換し、この包絡線波形の最大値と最
小値とを測定することにより、モジュレーションの値を
容易に計算することができる。
【００１３】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１４】図１は、本発明のモジュレーション測定装
置の一実施例の構成を示す図であって、図１（ａ）は、
モジュレーション測定装置のブロック図ある。本発明の
モジュレーション測定装置は、図１（ａ）に示すよう
に、ディスク媒体（図示せず）を搭載した磁気ディスク
装置１と、ディスク媒体の再生出力を取り出す差動プロ
ーブ２と、再生出力を包絡線波形に変換する包絡線波形
変換回路３と、包絡線波形を読み取るディジタルオシロ
スコープ４と、磁気ディスク装置１およびディジタルオ
シロスコープ４の動作を制御する制御装置５とを含んで
構成される。
置の一実施例の構成を示す図であって、図１（ａ）は、
モジュレーション測定装置のブロック図ある。本発明の
モジュレーション測定装置は、図１（ａ）に示すよう
に、ディスク媒体（図示せず）を搭載した磁気ディスク
装置１と、ディスク媒体の再生出力を取り出す差動プロ
ーブ２と、再生出力を包絡線波形に変換する包絡線波形
変換回路３と、包絡線波形を読み取るディジタルオシロ
スコープ４と、磁気ディスク装置１およびディジタルオ
シロスコープ４の動作を制御する制御装置５とを含んで
構成される。
【００１５】次に、このように構成された本実施例の動
作について説明する。
作について説明する。
【００１６】まず、磁気ディスク装置１に搭載されたデ
ィスク媒体から読み出した差動出力波形は差動プローブ
２へ入力され、この差動プローブ２の出力は包絡線波形
変換回路３に入力される。包絡線波形変換回路３では、
入力された波形を包絡線波形に変換し、その出力波形が
ディジタルオシロスコープ４へ入力される。制御装置５
は、磁気ディスク装置１やディジタルオシロスコープ４
の動作を制御する装置であって、例えばパーソナルコン
ピュータなどである。
ィスク媒体から読み出した差動出力波形は差動プローブ
２へ入力され、この差動プローブ２の出力は包絡線波形
変換回路３に入力される。包絡線波形変換回路３では、
入力された波形を包絡線波形に変換し、その出力波形が
ディジタルオシロスコープ４へ入力される。制御装置５
は、磁気ディスク装置１やディジタルオシロスコープ４
の動作を制御する装置であって、例えばパーソナルコン
ピュータなどである。
【００１７】図１（ｂ）は、同図（ａ）の包絡線波形変
換回路３の詳細を説明する図である。包絡線波形変換回
路３は、図１（ｂ）に示すように、ダイオード９，コン
デンサ１０および抵抗器１１からなる半波整流回路を構
成している。また、差動プローブ出力１２は包絡線波形
変換回路３の入力であり、ディジタルオシロスコープ入
力１３は包絡線波形変換回路３の出力である。
換回路３の詳細を説明する図である。包絡線波形変換回
路３は、図１（ｂ）に示すように、ダイオード９，コン
デンサ１０および抵抗器１１からなる半波整流回路を構
成している。また、差動プローブ出力１２は包絡線波形
変換回路３の入力であり、ディジタルオシロスコープ入
力１３は包絡線波形変換回路３の出力である。
【００１８】図２は、図１の包絡線波形変換回路３内の
出力波形の変化の様子を示す図であって、図２（ａ）〜
同図（ｃ）に示され、差動プローブ出力１２では差動プ
ローブ出力波形１４が観察される。
出力波形の変化の様子を示す図であって、図２（ａ）〜
同図（ｃ）に示され、差動プローブ出力１２では差動プ
ローブ出力波形１４が観察される。
【００１９】ここで、モジュレーションの計算に必要な
要素は、図２（ａ）に示すように、出力最大値１５およ
び出力最小値１６であるが、前述の課題の項で説明した
ように、出力最小値１６の測定は困難である。このた
め、包絡線波形変換回路３では、この差動プローブ出力
波形１４が、図２（ｂ）に示すように、ダイオード９で
整流され半波波形１７となり、さらに、コンデンサ１０
と抵抗器１１とで平滑化され包絡線波形１８となる。
要素は、図２（ａ）に示すように、出力最大値１５およ
び出力最小値１６であるが、前述の課題の項で説明した
ように、出力最小値１６の測定は困難である。このた
め、包絡線波形変換回路３では、この差動プローブ出力
波形１４が、図２（ｂ）に示すように、ダイオード９で
整流され半波波形１７となり、さらに、コンデンサ１０
と抵抗器１１とで平滑化され包絡線波形１８となる。
【００２０】次に、この包絡線波形１８において、図２
（ｃ）に示す最大値７を２倍した値と最小値８を２倍し
た値とが、それぞれ（１）式の計算要素Ａと計算要素Ｂ
とに相当する。このようにして、包絡線波形変換回路３
により計算要素Ａと計算要素Ｂとが容易に得られる。そ
して、図１の制御装置５は、磁気ディスク装置１および
ディジタルオシロスコープ４に最大値７と最小値８とを
測定するように制御し、（１）式に従ってモジュレーシ
ョンの値を求める。
（ｃ）に示す最大値７を２倍した値と最小値８を２倍し
た値とが、それぞれ（１）式の計算要素Ａと計算要素Ｂ
とに相当する。このようにして、包絡線波形変換回路３
により計算要素Ａと計算要素Ｂとが容易に得られる。そ
して、図１の制御装置５は、磁気ディスク装置１および
ディジタルオシロスコープ４に最大値７と最小値８とを
測定するように制御し、（１）式に従ってモジュレーシ
ョンの値を求める。
【００２１】
【発明の効果】本発明のモジュレーション測定装置は、
磁気ディスク装置に搭載されたディスク媒体の再生出力
を半波整流し、それを包絡線波形に変換することによ
り、モジュレーションの計算に必要な要素が容易に得ら
れるため、測定時間の短縮がはかれるという効果があ
る。
磁気ディスク装置に搭載されたディスク媒体の再生出力
を半波整流し、それを包絡線波形に変換することによ
り、モジュレーションの計算に必要な要素が容易に得ら
れるため、測定時間の短縮がはかれるという効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例の構成を示す図である。
【図２】図１の包絡線波形変換回路３内の出力波形の変
化の様子を示す図である。
化の様子を示す図である。
【図３】従来のモジュレーションの測定方法を説明する
図である。
図である。
１ 磁気ディスク装置 ２ 差動プローブ ３ 包絡線波形変換回路 ４ ディジタルオシロスコープ ５ 制御装置 ６，１８ 包絡線波形 ７ 最大値 ８ 最小値 ９ ダイオード １０ コンデンサ １１ 抵抗 １２ 差動プローブ出力 １３ ディジタルオシロスコープ入力 １４ 差動プローブ出力波形 １５ 出力最大値 １６ 出力最小値 １７ 半波波形 １９ トラック１周の間隔 ２０ａ〜２０ｋ 区間ａ〜区間ｋ ２１ 出力Ａ ２２ 出力Ｂ ２３ カーソル位置Ａ ２４ カーソル位置Ｂ ２５ カーソル位置Ｃ ２６ カーソル位置Ｄ ２７ 再生出力波形
Claims (2)
- 【請求項１】 磁気ディスク装置に搭載されたディスク
媒体の再生出力波形を包絡線波形に変換する包絡線波形
変換回路と、この包絡波形変換回路から出力する包絡線
波形の最大値および最小値を測定する波形測定回路とを
備え、求めた前記包絡線波形の最大値と最小値とからモ
ジュレーションを計算するようにしたことを特徴とする
モジュレーション測定装置。 - 【請求項２】 前記包絡線波形変換回路が半波整流回路
からなることを特徴とする請求項１記載のモジュレーシ
ョン測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10254695A JPH08297815A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | モジュレーション測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10254695A JPH08297815A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | モジュレーション測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08297815A true JPH08297815A (ja) | 1996-11-12 |
Family
ID=14330254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10254695A Pending JPH08297815A (ja) | 1995-04-26 | 1995-04-26 | モジュレーション測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08297815A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58112993A (ja) * | 1981-12-16 | 1983-07-05 | ドイツチエ・テクサコ・アクチエンゲゼルシヤフト | タンクの充填レベルを測定する装置 |
-
1995
- 1995-04-26 JP JP10254695A patent/JPH08297815A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58112993A (ja) * | 1981-12-16 | 1983-07-05 | ドイツチエ・テクサコ・アクチエンゲゼルシヤフト | タンクの充填レベルを測定する装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19970722 |