JPH08278340A - Ｐｔ試験用プラグの回路確認装置 - Google Patents
Ｐｔ試験用プラグの回路確認装置Info
- Publication number
- JPH08278340A JPH08278340A JP7118930A JP11893095A JPH08278340A JP H08278340 A JPH08278340 A JP H08278340A JP 7118930 A JP7118930 A JP 7118930A JP 11893095 A JP11893095 A JP 11893095A JP H08278340 A JPH08278340 A JP H08278340A
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- JP
- Japan
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- circuit
- plug
- test plug
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- voltage
- Prior art date
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- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、配電盤等のＰＴ回路の試験や
測定に使用されているＰＴ試験用プラグの回路確認を確
実・容易にするため、ＰＴ試験用プラグを本装置に挿入
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる装置に関するものである。 【構成】 本体（１）にＰＴ試験用プラグ（２）の受
口（３）と表示器（４）を設け、受口（３）にはＰＴ試
験用プラグ（２）に対応した電極が取り付けてある。受
口（３）にＰＴ試験用プラグ（２）を挿入すると、ＰＴ
試験用プラグ（２）の回路構成の良否を判定し表示す
る。
測定に使用されているＰＴ試験用プラグの回路確認を確
実・容易にするため、ＰＴ試験用プラグを本装置に挿入
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる装置に関するものである。 【構成】 本体（１）にＰＴ試験用プラグ（２）の受
口（３）と表示器（４）を設け、受口（３）にはＰＴ試
験用プラグ（２）に対応した電極が取り付けてある。受
口（３）にＰＴ試験用プラグ（２）を挿入すると、ＰＴ
試験用プラグ（２）の回路構成の良否を判定し表示す
る。
Description
【００１】
【産業上の利用分野】この発明は、配電盤等のＰＴ回路
の試験や測定に使用されているＰＴ試験用プラグの回路
確認を確実・容易にする装置に関するものである。
の試験や測定に使用されているＰＴ試験用プラグの回路
確認を確実・容易にする装置に関するものである。
【００２】
【従来の技術】これまで、ＰＴ試験用プラグの回路確認
は、テスターを用いて導通の有無により確認していた。
ところが、この方法では、 試験用プラグの刃１枚１枚を測定するため、確認に時
間がかかる。 試験用プラグの回路構成を総合的に確認できない。 多数の確認箇所があるため、見落とす恐れがある。 テスターは直流抵抗を指示するため、リアクタンス分
を含む交流回路の確認方法としては適当でない。 等の問題があった。
は、テスターを用いて導通の有無により確認していた。
ところが、この方法では、 試験用プラグの刃１枚１枚を測定するため、確認に時
間がかかる。 試験用プラグの回路構成を総合的に確認できない。 多数の確認箇所があるため、見落とす恐れがある。 テスターは直流抵抗を指示するため、リアクタンス分
を含む交流回路の確認方法としては適当でない。 等の問題があった。
【００３】
【発明が解決しようとする課題】ＰＴ試験用プラグの回
路構成が不備な場合に発生する恐れがある事故として
は、 ＰＴ２次回路短絡により保護装置が誤動作する。 ＰＴ２次回路短絡によりＰＴが焼損する。 ＰＴ２次回路短絡によるアークにより、火傷する。 等があり、作業者にとって、総合的な確認ができない現
状においては、ＰＴ試験用プラグをＰＴ回路に接続する
まで不安がつきまとう。
路構成が不備な場合に発生する恐れがある事故として
は、 ＰＴ２次回路短絡により保護装置が誤動作する。 ＰＴ２次回路短絡によりＰＴが焼損する。 ＰＴ２次回路短絡によるアークにより、火傷する。 等があり、作業者にとって、総合的な確認ができない現
状においては、ＰＴ試験用プラグをＰＴ回路に接続する
まで不安がつきまとう。
【００４】
【課題を解決するための手段】これらの課題を解決する
ため、ＰＴ試験用プラグを本装置に挿入するだけで回路
構成の状態を総合的に且つ確実に、しかも瞬時に確認で
きる装置を開発した。
ため、ＰＴ試験用プラグを本装置に挿入するだけで回路
構成の状態を総合的に且つ確実に、しかも瞬時に確認で
きる装置を開発した。
【００５】
【作用と実施例】本装置の構成および作用は次のとおり
である。 （イ）本体（１）にＰＴ試験用プラグ（２）の受口
（３）と表示器（４）を設ける。（図１） （ロ）受口（３）にはＰＴ試験用プラグ（２）に対応す
る電極が設けてある。 （ハ）本体（１）には次の電気回路が設けてある。（図
２） 交流電圧発生回路 回路負担検出・判定回路 表示回路 （ニ）受口（３）にＰＴ試験用プラグ（２）を挿入する
と、内部のマイクロスイッチが動作し自動的に電源が入
り、ＰＴ試験用プラグ（２）に交流電圧が印加される。
このとき、ＰＴ試験用プラグ（２）に接続されている回
路の負担を検出し、一定値以上の負担であれば表示器
（４）に表示する。 （ホ）受口（３）にＰＴ試験用プラグ（２）を挿入する
だけで、内部のマイクロスイッチが動作して自動的に装
置の電源が入りＰＴ試験用プラグ（２）の回路構成の良
否を判定し表示する。（図１） これにより、電源スイッチの開閉の煩わしさが解消され
る。また、測定の迅速化が図られる。尚、マイクロスイ
ッチに代わるものとして、 リミットスイッチ 光電スイッチ 押しボタンスイッチ 近接スイッチ 等を用いても同等の効果が期待できる。 （ヘ）ＰＴ試験用プラグ（２）に６０Ｈｚの交流電圧を
加えて測定するため、ＰＴ試験用プラグ（２）に接続さ
れている回路のリアクタンスによる負担を測定できる。
尚、交流電圧の周波数は５０Ｈｚでもよく、もしくはそ
の周辺であれば同等の効果がある。 （ト）１端子を共通端子として、他の３端子にそれぞれ
電圧値が異なる交流電圧を加えてＰＴ試験用プラグ
（２）の回路構成の良否を判定する。これにより、全て
の各端子間の負担を測定できる。図３で説明する。
（Ｎ）端子を共通に（Ｒ）、（Ｓ）、（Ｔ）各端子にそ
れぞれ大きさが異なる電圧が加えられている。これによ
り（Ｒ）と（Ｓ）間、（Ｓ）と（Ｔ）間、（Ｔ）と
（Ｒ）間にも電圧差が生じるため、全ての各端子間の負
担測定が可能である。なお、電圧の代わりに位相が異な
っているか、もしくは電圧と位相のどちらも異なってい
ても同じ効果がある。 （チ）ＰＴ試験用プラグ（２）に接続された回路の負担
がＰＴ定格負担以上になると負担オーバによりＰＴが焼
損する恐れがある。このため、回路の負担がある値以上
になると表示するようにしている。Ｒ相の１相分を例に
とり図４、５で説明する。制限抵抗ｒの両端と（Ｎ）間
に発生する電圧Ｖ１とＶ２を絶縁Ｔｒで検出し、整流器
で整流したあと、コンパレータで比較することにより、
回路の負担を測定することができる。なお、電圧Ｖ１に
代わるものとして、安定した値が得られる電圧であれば
同じ効果がある。
である。 （イ）本体（１）にＰＴ試験用プラグ（２）の受口
（３）と表示器（４）を設ける。（図１） （ロ）受口（３）にはＰＴ試験用プラグ（２）に対応す
る電極が設けてある。 （ハ）本体（１）には次の電気回路が設けてある。（図
２） 交流電圧発生回路 回路負担検出・判定回路 表示回路 （ニ）受口（３）にＰＴ試験用プラグ（２）を挿入する
と、内部のマイクロスイッチが動作し自動的に電源が入
り、ＰＴ試験用プラグ（２）に交流電圧が印加される。
このとき、ＰＴ試験用プラグ（２）に接続されている回
路の負担を検出し、一定値以上の負担であれば表示器
（４）に表示する。 （ホ）受口（３）にＰＴ試験用プラグ（２）を挿入する
だけで、内部のマイクロスイッチが動作して自動的に装
置の電源が入りＰＴ試験用プラグ（２）の回路構成の良
否を判定し表示する。（図１） これにより、電源スイッチの開閉の煩わしさが解消され
る。また、測定の迅速化が図られる。尚、マイクロスイ
ッチに代わるものとして、 リミットスイッチ 光電スイッチ 押しボタンスイッチ 近接スイッチ 等を用いても同等の効果が期待できる。 （ヘ）ＰＴ試験用プラグ（２）に６０Ｈｚの交流電圧を
加えて測定するため、ＰＴ試験用プラグ（２）に接続さ
れている回路のリアクタンスによる負担を測定できる。
尚、交流電圧の周波数は５０Ｈｚでもよく、もしくはそ
の周辺であれば同等の効果がある。 （ト）１端子を共通端子として、他の３端子にそれぞれ
電圧値が異なる交流電圧を加えてＰＴ試験用プラグ
（２）の回路構成の良否を判定する。これにより、全て
の各端子間の負担を測定できる。図３で説明する。
（Ｎ）端子を共通に（Ｒ）、（Ｓ）、（Ｔ）各端子にそ
れぞれ大きさが異なる電圧が加えられている。これによ
り（Ｒ）と（Ｓ）間、（Ｓ）と（Ｔ）間、（Ｔ）と
（Ｒ）間にも電圧差が生じるため、全ての各端子間の負
担測定が可能である。なお、電圧の代わりに位相が異な
っているか、もしくは電圧と位相のどちらも異なってい
ても同じ効果がある。 （チ）ＰＴ試験用プラグ（２）に接続された回路の負担
がＰＴ定格負担以上になると負担オーバによりＰＴが焼
損する恐れがある。このため、回路の負担がある値以上
になると表示するようにしている。Ｒ相の１相分を例に
とり図４、５で説明する。制限抵抗ｒの両端と（Ｎ）間
に発生する電圧Ｖ１とＶ２を絶縁Ｔｒで検出し、整流器
で整流したあと、コンパレータで比較することにより、
回路の負担を測定することができる。なお、電圧Ｖ１に
代わるものとして、安定した値が得られる電圧であれば
同じ効果がある。
【００６】
【発明の効果】ＰＴ試験用プラグ（２）を本装置に挿入
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる。
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる。
【図１】本装置とＰＴ試験用プラグの斜視図
【図２】本装置の電気回路ブロック図
【図３】装置の回路構成図
【図４】負担測定用電圧検出箇所説明図
【図５】負担測定用電圧比較回路
【図６】本体表示部
【図７】ＰＴ試験用プラグ外観図
【図８】ＰＴ試験用プラグによる電圧測定回路図
Claims (4)
- 【請求項１】 ＰＴ試験用プラグ（２）を受口（３）に
挿入するだけで、自動的に装置の電源が入り、回路構成
の良否を判定し表示することができるＰＴ試験用プラグ
の回路確認装置。（図１） - 【請求項２】 ＰＴ試験用プラグに交流電圧を加えて回
路構成を測定する請求項１の回路確認装置。 - 【請求項３】 １端子を共通に、他の３つの端子にそれ
ぞれ異なった交流電圧を加えて回路構成を測定する請求
項１の回路確認装置。 - 【請求項４】 試験用プラグの各端子間に発生する電圧
の大きさにより、試験用プラグに接続されている回路の
負担を測定することができる請求項１の回路確認装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7118930A JPH08278340A (ja) | 1995-04-08 | 1995-04-08 | Ｐｔ試験用プラグの回路確認装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7118930A JPH08278340A (ja) | 1995-04-08 | 1995-04-08 | Ｐｔ試験用プラグの回路確認装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08278340A true JPH08278340A (ja) | 1996-10-22 |
Family
ID=14748736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7118930A Pending JPH08278340A (ja) | 1995-04-08 | 1995-04-08 | Ｐｔ試験用プラグの回路確認装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08278340A (ja) |
-
1995
- 1995-04-08 JP JP7118930A patent/JPH08278340A/ja active Pending
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