JPH0815315A - Ｃｔ試験用プラグの回路確認装置 - Google Patents
Ｃｔ試験用プラグの回路確認装置Info
- Publication number
- JPH0815315A JPH0815315A JP6177412A JP17741294A JPH0815315A JP H0815315 A JPH0815315 A JP H0815315A JP 6177412 A JP6177412 A JP 6177412A JP 17741294 A JP17741294 A JP 17741294A JP H0815315 A JPH0815315 A JP H0815315A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- test plug
- confirmation device
- current
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 この発明は、配電盤等のＣＴ回路の試験や
測定に使用されているＣＴ試験用プラグの回路確認を確
実・容易にするため、ＣＴ試験用プラグを本装置に挿入
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる装置に関するものである。 【構成】 本体（１）にＣＴ試験用プラグ（２）の受
口（３）と表示器（４）を設け、受口（３）にはＣＴ試
験用プラグ（２）に対応した電極が取り付けてある。受
口（３）にＣＴ試験用プラグ（２）を挿入すると、ＣＴ
試験用プラグ（２）の回路構成の良否を判定し表示す
る。
測定に使用されているＣＴ試験用プラグの回路確認を確
実・容易にするため、ＣＴ試験用プラグを本装置に挿入
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる装置に関するものである。 【構成】 本体（１）にＣＴ試験用プラグ（２）の受
口（３）と表示器（４）を設け、受口（３）にはＣＴ試
験用プラグ（２）に対応した電極が取り付けてある。受
口（３）にＣＴ試験用プラグ（２）を挿入すると、ＣＴ
試験用プラグ（２）の回路構成の良否を判定し表示す
る。
Description
【００１】
【産業上の利用分野】この発明は、配電盤等のＣＴ回路
の試験や測定に使用されているＣＴ試験用プラグの回路
確認を確実・容易にする装置に関するものである。
の試験や測定に使用されているＣＴ試験用プラグの回路
確認を確実・容易にする装置に関するものである。
【００２】
【従来の技術】これまで、ＣＴ試験用プラグの回路確認
は、テスターを用いて導通の有無により確認していた。
ところが、この方法では、 試験用プラグの刃１枚１枚を測定するため、確認に時
間がかかる。 試験用プラグの回路構成を総合的に確認できない 多数の確認箇所があるため、見落とす恐れがある。 テスターは直流抵抗を指示するため、リアクタンス分
を含む交流回路の確認方法としては適当でない。 等の問題があった。
は、テスターを用いて導通の有無により確認していた。
ところが、この方法では、 試験用プラグの刃１枚１枚を測定するため、確認に時
間がかかる。 試験用プラグの回路構成を総合的に確認できない 多数の確認箇所があるため、見落とす恐れがある。 テスターは直流抵抗を指示するため、リアクタンス分
を含む交流回路の確認方法としては適当でない。 等の問題があった。
【００３】
【発明が解決しようとする課題】ＣＴ試験用プラグの回
路構成が不備な場合に発生する恐れがある事故として
は、 ＣＴ２次回路開放による高電圧により、機器が絶縁破
壊する。 ＣＴ２次回路開放により高電圧が発生し、感電する。 ＣＴ２次回路開放によるアーク放電により、火傷す
る。 等があり、作業者にとって、総合的な確認ができない現
状においては、ＣＴ試験用プラグをＣＴ回路に接続する
まで不安がつきまとう。
路構成が不備な場合に発生する恐れがある事故として
は、 ＣＴ２次回路開放による高電圧により、機器が絶縁破
壊する。 ＣＴ２次回路開放により高電圧が発生し、感電する。 ＣＴ２次回路開放によるアーク放電により、火傷す
る。 等があり、作業者にとって、総合的な確認ができない現
状においては、ＣＴ試験用プラグをＣＴ回路に接続する
まで不安がつきまとう。
【００４】
【課題を解決するための手段】これらの課題を解決する
ため、ＣＴ試験用プラグを本装置に挿入するだけで回路
構成の状態を総合的に且つ確実に、しかも瞬時に確認で
きる装置を開発した。
ため、ＣＴ試験用プラグを本装置に挿入するだけで回路
構成の状態を総合的に且つ確実に、しかも瞬時に確認で
きる装置を開発した。
【００５】
【作用と実施例】本装置の構成および作用は次のとおり
である。 （イ）本体（１）にＣＴ試験用プラグ（２）の受口
（３）と表示器（４）を設ける。（図１） （ロ）受口（３）にはＣＴ試験用プラグ（２）に対応す
る電極が設けてある。 （ハ）本体（１）には次の電気回路が設けてある。（図
２） 交流電圧発生回路 ＣＴ試験用プラグ電流検出回路 電流方向判定回路 回路構成識別回路 回路負担検出・判定回路 表示回路 （ニ）受口（３）にＣＴ試験用プラグ（２）を挿入する
と、内部のマイクロスイッチが動作し自動的に電源が入
り、ＣＴ試験用プラグ（２）に交流電圧が印加される。
このとき、ＣＴ試験用プラグ（２）の回路構成に応じた
電流が流れる。ＣＴ試験用プラグ（２）に流れる電流を
電流検出回路で検出し、回路構成識別回路にて、ＣＴ試
験用プラグ（２）の回路が閉回路を構成しているかどう
かを判定し、表示器（４）に表示する。また、ＣＴ試験
用プラグ（２）のどの部分に電流が流れているかを表示
することができるため、回路構成が一目で分かる。ま
た、ＣＴ試験用プラグ（２）の用途に応じた回路構成を
識別する機能を有するため、目的の回路と一致すれば、
該当する表示器が表示する。さらに、試験用プラグ
（２）に接続されている回路の負担を検出し、一定値以
上の負担であれば表示器（４）に表示する。 （ホ）受口（３）にＣＴ試験用プラグ（２）を挿入する
だけで、内部のマイクロスイッチが動作して自動的に装
置の電源が入りＣＴ試験用プラグ（２）の回路構成の良
否を判定し表示する。（図１） これにより、電源スイッチの開閉の煩わしさが解消され
る。また、測定の迅速化が図られる。尚、マイクロスイ
ッチに代わるものとして、 リミットスイッチ 光電スイッチ 押しボタンスイッチ 近接スイッチ 等を用いても同等の効果が期待できる。 （ヘ）ＣＴ試験用プラグ（２）に６０Ｈｚの交流電流を
流して測定するため、ＣＴ試験用プラグ（２）に接続さ
れている回路のリアクタンスによる負担を測定できる。
尚、交流電流の周波数は５０Ｈｚでもよく、もしくはそ
の周辺であれば同等の効果がある。 （ト）ＣＴ試験用プラグ（２）に流れる交流電流の検出
回路にダイオードを使用している。これにより、回路構
成が変化してもダイオードの端子電圧はほぼ一定である
ため、安定した検出が可能である。また、測定用電流を
小さく設計でき、装置の消費電力を少なくできる。尚、
ダイオードに代わるものとして、 ツェナーダイオード バリスタ 等を用いても同等の効果が期待できる。図３で説明す
る。ＰＣはフォトカプラーを示す。端子から端子の
方向へ電流が流れると、ダイオードの順方向電圧特性に
より、ダイオードの両端に数（Ｖ）の電圧が発生する。
この電圧がＰＣに入力され、ＰＣはオンになる。電流が
ゼロになるとダイオードの端子電圧もゼロになるため、
ＰＣはオフになる。ＣＴ試験用プラグ（２）の回路構成
の変化により電流が変化してもダイオードの端子電圧は
ほぼ一定となるため、安定した電流検出が可能である。 （チ）交流電流の検出回路にダイオードと組み合わせ
て、光半導体素子の一つであるフォトカプラーを使用し
ている。これにより、検出回路の入力と出力を絶縁でき
るため、ＣＴ試験用プラグ（２）に接続される各種試験
装置類からのノイズによる本装置の誤動作を防止する効
果がある。尚、フォトカプラーに代わるものとして、 フォトトランジスター フォトダイオード 等を用いても同等の効果が期待できる。 （リ）配電盤に流れる電流方向を反対にする目的でＣＴ
試験用プラグ（２）の回路を構成する場合があるが、こ
の回路構成を識別するために、測定用電流の正波と負波
の位相を比較する方法を用いている。図４で説明する 端子に接続されている回路に流れる電流の方向が、
電源電圧の位相と同方向または逆方向かを判定する。ま
ず、端子とおよびとを接続して正方向に流した
場合は、ＰＣ１とＰＣ２が同時にオンとなるため、アン
ド条件が成立し「正方向」と判定する。次に、端子と
およびとを接続して逆方向に流した場合は、ＰＣ
１とＰＣ３が同時にオンとなるため、「逆方向」と判定
する。 （ヌ）ＣＴ試験用プラグ（２）は使用目的に応じて数通
りの回路構成方法がある。本装置は用途に応じた回路構
成を識別するためにロジックＩＣによる回路構成識別回
路を有するため、目的の回路と一致すれば、該当する表
示器が表示する。これにより、構成された回路が目的の
回路であるかどうかを瞬時に判断することができる。
尚、ロジックＩＣに代わるものとして、 シーケンサ マイクロコンピュータ 等を用いても同等の効果が期待できる。図５、６で説明
する。Ａ１〜Ｎ３は電流検出回路を示す。各電流検出回
路で検出した信号をロジックシーケンスにより組み合わ
せることで、各種の回路を識別することが可能である。
例えば、正常接続の場合だとＡ１・Ｂ１・Ｃ１．Ｎ１、
Ａ２１・Ｂ２１・Ｃ２１・Ｎ２１、Ａ３・Ｂ３・Ｃ３・
Ｎ３のＰＣがオンで、Ａ２２・Ｂ２２・Ｃ２２・Ｎ２２
のＰＣがオフであることを条件に「平常接続」と判定す
る。 （ル）ＣＴ試験用プラグ（２）に接続された回路の負担
がＣＴ定格負担以上なると負担オーバにより高電圧が発
生する恐れがある。そのため、回路の負担がある値以上
になると表示するようにしている。Ａ相の１相分を例に
とり図７、８で説明する。基準抵抗の両端に発生する電
圧（ア）・（イ）とＣＴ試験用プラグ（２）に接続され
た回路の端子間（ウ）・（エ）および（オ）・（カ）の
電圧を絶縁Ｔｒで検出し、整流器で整流したあと、コン
パレータで比較することにより、回路の負担が基準抵抗
に比べ大であるか小であるかを判定することができる。
である。 （イ）本体（１）にＣＴ試験用プラグ（２）の受口
（３）と表示器（４）を設ける。（図１） （ロ）受口（３）にはＣＴ試験用プラグ（２）に対応す
る電極が設けてある。 （ハ）本体（１）には次の電気回路が設けてある。（図
２） 交流電圧発生回路 ＣＴ試験用プラグ電流検出回路 電流方向判定回路 回路構成識別回路 回路負担検出・判定回路 表示回路 （ニ）受口（３）にＣＴ試験用プラグ（２）を挿入する
と、内部のマイクロスイッチが動作し自動的に電源が入
り、ＣＴ試験用プラグ（２）に交流電圧が印加される。
このとき、ＣＴ試験用プラグ（２）の回路構成に応じた
電流が流れる。ＣＴ試験用プラグ（２）に流れる電流を
電流検出回路で検出し、回路構成識別回路にて、ＣＴ試
験用プラグ（２）の回路が閉回路を構成しているかどう
かを判定し、表示器（４）に表示する。また、ＣＴ試験
用プラグ（２）のどの部分に電流が流れているかを表示
することができるため、回路構成が一目で分かる。ま
た、ＣＴ試験用プラグ（２）の用途に応じた回路構成を
識別する機能を有するため、目的の回路と一致すれば、
該当する表示器が表示する。さらに、試験用プラグ
（２）に接続されている回路の負担を検出し、一定値以
上の負担であれば表示器（４）に表示する。 （ホ）受口（３）にＣＴ試験用プラグ（２）を挿入する
だけで、内部のマイクロスイッチが動作して自動的に装
置の電源が入りＣＴ試験用プラグ（２）の回路構成の良
否を判定し表示する。（図１） これにより、電源スイッチの開閉の煩わしさが解消され
る。また、測定の迅速化が図られる。尚、マイクロスイ
ッチに代わるものとして、 リミットスイッチ 光電スイッチ 押しボタンスイッチ 近接スイッチ 等を用いても同等の効果が期待できる。 （ヘ）ＣＴ試験用プラグ（２）に６０Ｈｚの交流電流を
流して測定するため、ＣＴ試験用プラグ（２）に接続さ
れている回路のリアクタンスによる負担を測定できる。
尚、交流電流の周波数は５０Ｈｚでもよく、もしくはそ
の周辺であれば同等の効果がある。 （ト）ＣＴ試験用プラグ（２）に流れる交流電流の検出
回路にダイオードを使用している。これにより、回路構
成が変化してもダイオードの端子電圧はほぼ一定である
ため、安定した検出が可能である。また、測定用電流を
小さく設計でき、装置の消費電力を少なくできる。尚、
ダイオードに代わるものとして、 ツェナーダイオード バリスタ 等を用いても同等の効果が期待できる。図３で説明す
る。ＰＣはフォトカプラーを示す。端子から端子の
方向へ電流が流れると、ダイオードの順方向電圧特性に
より、ダイオードの両端に数（Ｖ）の電圧が発生する。
この電圧がＰＣに入力され、ＰＣはオンになる。電流が
ゼロになるとダイオードの端子電圧もゼロになるため、
ＰＣはオフになる。ＣＴ試験用プラグ（２）の回路構成
の変化により電流が変化してもダイオードの端子電圧は
ほぼ一定となるため、安定した電流検出が可能である。 （チ）交流電流の検出回路にダイオードと組み合わせ
て、光半導体素子の一つであるフォトカプラーを使用し
ている。これにより、検出回路の入力と出力を絶縁でき
るため、ＣＴ試験用プラグ（２）に接続される各種試験
装置類からのノイズによる本装置の誤動作を防止する効
果がある。尚、フォトカプラーに代わるものとして、 フォトトランジスター フォトダイオード 等を用いても同等の効果が期待できる。 （リ）配電盤に流れる電流方向を反対にする目的でＣＴ
試験用プラグ（２）の回路を構成する場合があるが、こ
の回路構成を識別するために、測定用電流の正波と負波
の位相を比較する方法を用いている。図４で説明する 端子に接続されている回路に流れる電流の方向が、
電源電圧の位相と同方向または逆方向かを判定する。ま
ず、端子とおよびとを接続して正方向に流した
場合は、ＰＣ１とＰＣ２が同時にオンとなるため、アン
ド条件が成立し「正方向」と判定する。次に、端子と
およびとを接続して逆方向に流した場合は、ＰＣ
１とＰＣ３が同時にオンとなるため、「逆方向」と判定
する。 （ヌ）ＣＴ試験用プラグ（２）は使用目的に応じて数通
りの回路構成方法がある。本装置は用途に応じた回路構
成を識別するためにロジックＩＣによる回路構成識別回
路を有するため、目的の回路と一致すれば、該当する表
示器が表示する。これにより、構成された回路が目的の
回路であるかどうかを瞬時に判断することができる。
尚、ロジックＩＣに代わるものとして、 シーケンサ マイクロコンピュータ 等を用いても同等の効果が期待できる。図５、６で説明
する。Ａ１〜Ｎ３は電流検出回路を示す。各電流検出回
路で検出した信号をロジックシーケンスにより組み合わ
せることで、各種の回路を識別することが可能である。
例えば、正常接続の場合だとＡ１・Ｂ１・Ｃ１．Ｎ１、
Ａ２１・Ｂ２１・Ｃ２１・Ｎ２１、Ａ３・Ｂ３・Ｃ３・
Ｎ３のＰＣがオンで、Ａ２２・Ｂ２２・Ｃ２２・Ｎ２２
のＰＣがオフであることを条件に「平常接続」と判定す
る。 （ル）ＣＴ試験用プラグ（２）に接続された回路の負担
がＣＴ定格負担以上なると負担オーバにより高電圧が発
生する恐れがある。そのため、回路の負担がある値以上
になると表示するようにしている。Ａ相の１相分を例に
とり図７、８で説明する。基準抵抗の両端に発生する電
圧（ア）・（イ）とＣＴ試験用プラグ（２）に接続され
た回路の端子間（ウ）・（エ）および（オ）・（カ）の
電圧を絶縁Ｔｒで検出し、整流器で整流したあと、コン
パレータで比較することにより、回路の負担が基準抵抗
に比べ大であるか小であるかを判定することができる。
【００６】
【発明の効果】ＣＴ試験用プラグ（２）を本装置に挿入
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる。
するだけで回路構成の状態を総合的に且つ確実に、しか
も瞬時に確認できる。
【図１】本装置とＣＴ試験用プラグの斜視図
【図２】本装置の電気回路ブロック図
【図３】電流検出回路
【図４】電流方向判定回路
【図５】装置の回路構成図
【図６】回路構成の識別方法説明図
【図７】負担測定用電圧検出箇所説明図
【図８】負担測定用電圧比較回路
【図９】本体表示部
【図１０】ＣＴ試験用プラグ外観図
【図１１】配電盤ＣＴ回路図（平常運用時）
【図１２】ＣＴ試験用プラグによる電流測定回路図
Claims (7)
- 【請求項１】 ＣＴ試験用プラグ（２）を受口（３）に
挿入するだけで、自動的に装置の電源が入り、回路構成
の良否を判定し表示することができるＣＴ試験用プラグ
の回路確認装置。（図１） - 【請求項２】 ＣＴ試験用プラグに交流電流を流して回
路構成を測定する請求項１の回路確認装置。 - 【請求項３】 測定用電流の検出回路に定電圧素子を用
いることにより、安定した検出ができるようにした請求
項１の回路確認装置。 - 【請求項４】 測定用電流の検出回路に光半導体素子を
用いることにより、検出回路の入力と出力を絶縁した請
求項１の回路確認装置。 - 【請求項５】 ＣＴ試験用プラグに流れる測定用電流の
位相比較により、電流の方向を判定することができる請
求項１の回路確認装置。 - 【請求項６】 試験用プラグの定形の回路構成を識別す
ることができる請求項１の回路確認装置。 - 【請求項７】 試験用プラグに接続されている回路の端
子電圧と、各相に直列に接続されている抵抗の端子電圧
とを比較して、試験用プラグに接続されている回路の負
担を判定することができる請求項１の回路確認装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6177412A JPH0815315A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Ｃｔ試験用プラグの回路確認装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6177412A JPH0815315A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Ｃｔ試験用プラグの回路確認装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0815315A true JPH0815315A (ja) | 1996-01-19 |
Family
ID=16030479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6177412A Pending JPH0815315A (ja) | 1994-06-24 | 1994-06-24 | Ｃｔ試験用プラグの回路確認装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0815315A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007166744A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 接続用治具 |
| JP2008216056A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | テストプラグ試験装置 |
| JP2009038902A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | テストプラグの試験装置 |
-
1994
- 1994-06-24 JP JP6177412A patent/JPH0815315A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007166744A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 接続用治具 |
| JP4688663B2 (ja) * | 2005-12-12 | 2011-05-25 | 中国電力株式会社 | 接続用治具 |
| JP2008216056A (ja) * | 2007-03-05 | 2008-09-18 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | テストプラグ試験装置 |
| JP2009038902A (ja) * | 2007-08-01 | 2009-02-19 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | テストプラグの試験装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040421 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050315 |