JPH08255369A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
- Publication number
- JPH08255369A JPH08255369A JP8024157A JP2415796A JPH08255369A JP H08255369 A JPH08255369 A JP H08255369A JP 8024157 A JP8024157 A JP 8024157A JP 2415796 A JP2415796 A JP 2415796A JP H08255369 A JPH08255369 A JP H08255369A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- light
- pickup device
- optical pickup
- condensing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1359—Single prisms
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/123—Integrated head arrangements, e.g. with source and detectors mounted on the same substrate
Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は光ピックアップ装置に関し、全反射
割れ現象を利用して光ディスクに記録された信号を読み
入れて高密度信号の読取りを可能とし、回折の限界を克
服する記録密度を実現して、読取りの信頼性を高め、光
学素子の集積化を図り軽薄短小化を実現することを目的
とする。 【解決手段】 発光源と、発光源から出力される光のフ
ォーカシングのための第１集光手段を有する光入射部
と、光記録媒体の記録面に平行に位置した全反射面を有
する直角プリズムと、直角プリズムの全反射面から反射
された光を第２集光手段及び光検出手段によって検出す
る光検出部と、光入射部、直角プリズム及び光検出部を
支持する第１支持体と、直角プリズムと光記録媒体との
水平、垂直間隔を一定に維持するように第１支持体の水
平及び垂直位置を制御する第２支持体とで構成される。
割れ現象を利用して光ディスクに記録された信号を読み
入れて高密度信号の読取りを可能とし、回折の限界を克
服する記録密度を実現して、読取りの信頼性を高め、光
学素子の集積化を図り軽薄短小化を実現することを目的
とする。 【解決手段】 発光源と、発光源から出力される光のフ
ォーカシングのための第１集光手段を有する光入射部
と、光記録媒体の記録面に平行に位置した全反射面を有
する直角プリズムと、直角プリズムの全反射面から反射
された光を第２集光手段及び光検出手段によって検出す
る光検出部と、光入射部、直角プリズム及び光検出部を
支持する第１支持体と、直角プリズムと光記録媒体との
水平、垂直間隔を一定に維持するように第１支持体の水
平及び垂直位置を制御する第２支持体とで構成される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ピックアップ装置
に関するものであり、特に内部の全反射割れ現象を利用
し光ディスクに記録された信号の読取り及び記録ができ
るようにした光ピックアップ装置に関する。
に関するものであり、特に内部の全反射割れ現象を利用
し光ディスクに記録された信号の読取り及び記録ができ
るようにした光ピックアップ装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光ピックアップ装置は図１の図示
のように大きく光源部のレーザーダイオード１と、上記
レーザーダイオードの上側に配設されている光検出部の
分波器２と、左／右側に位置移動装置６が付着されてい
るフォーカシング部の対物レンズ３と、上記対物レンズ
の上側に配設された光ディスク４及び、上記分波部の一
方側に配設された光検出器５を有している。
のように大きく光源部のレーザーダイオード１と、上記
レーザーダイオードの上側に配設されている光検出部の
分波器２と、左／右側に位置移動装置６が付着されてい
るフォーカシング部の対物レンズ３と、上記対物レンズ
の上側に配設された光ディスク４及び、上記分波部の一
方側に配設された光検出器５を有している。
【０００３】上記のような構成要素を有する光ピックア
ップ装置の動作を以下に説明する。光源に用いられるレ
ーザーダイオード１から発信されたレーザービームは分
波器２を通過して位置移動装置６に付着された対物レン
ズ３によって光ディスク４の凹凸面にフォーカスされ
る。さらにフォーカスされた上記レーザービームは、光
ディスク４の凹凸面によって回折及び反射されて対物レ
ンズ３に再入射され、再入射された上記ビームは対物レ
ンズ３を通過した後、分波器２によって反射され、分波
器２から反射されたビームはさらに光検出器５に集めら
れて光量測定装置２１を通じて光量が測定される。
ップ装置の動作を以下に説明する。光源に用いられるレ
ーザーダイオード１から発信されたレーザービームは分
波器２を通過して位置移動装置６に付着された対物レン
ズ３によって光ディスク４の凹凸面にフォーカスされ
る。さらにフォーカスされた上記レーザービームは、光
ディスク４の凹凸面によって回折及び反射されて対物レ
ンズ３に再入射され、再入射された上記ビームは対物レ
ンズ３を通過した後、分波器２によって反射され、分波
器２から反射されたビームはさらに光検出器５に集めら
れて光量測定装置２１を通じて光量が測定される。
【０００４】測定された光量によって、光ディスク４に
おけるフォーカシングのため、位置制御装置２４を利用
して対物レンズ３の位置が調節され、回転する光ディス
ク４から得られた光量は電気信号に変換された後、信号
処理装置２２を経て信号出力装置２３を通じて音声また
は画像に出力される。光検出器５に入射される光量は光
ディスク４の凹凸（ピット）による回折と凹凸の深さｄ
の差による位相差から生じる。
おけるフォーカシングのため、位置制御装置２４を利用
して対物レンズ３の位置が調節され、回転する光ディス
ク４から得られた光量は電気信号に変換された後、信号
処理装置２２を経て信号出力装置２３を通じて音声また
は画像に出力される。光検出器５に入射される光量は光
ディスク４の凹凸（ピット）による回折と凹凸の深さｄ
の差による位相差から生じる。
【０００５】光ディスク４の凹凸周期８がｐの場合、入
射された光は回折されなかった０次光と±λ＝Ｐ（ｓｉ
ｎθｉ＋ｓｉｎθｄ）に回転された±１次光として出
る。ここで、λは光の波長を、θｉは入射角を、そして
θｄは回折角を示す。０次ビームと±１次ビームは位相
差が存在するので０次ビームに±１次ビームが部分的に
重なる場合、この領域は干渉が起こって光量が変化す
る。
射された光は回折されなかった０次光と±λ＝Ｐ（ｓｉ
ｎθｉ＋ｓｉｎθｄ）に回転された±１次光として出
る。ここで、λは光の波長を、θｉは入射角を、そして
θｄは回折角を示す。０次ビームと±１次ビームは位相
差が存在するので０次ビームに±１次ビームが部分的に
重なる場合、この領域は干渉が起こって光量が変化す
る。
【０００６】しかし、このように光ディスクの凹凸によ
る回折現象を利用して光ディスクに記録された信号を読
み取るように構成された従来の光ピックアップ装置は、
光ディスクに記録された高密度信号の読取りが難しくて
信頼性が低下される問題点があった。
る回折現象を利用して光ディスクに記録された信号を読
み取るように構成された従来の光ピックアップ装置は、
光ディスクに記録された高密度信号の読取りが難しくて
信頼性が低下される問題点があった。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は回折現
象の代わりに全反射割れ現象（ｆｒｕｓｔｒａｔｅｄｔ
ｏｔａｌ ｉｎｔｅｒｎａｌ ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ：
以下、ＦＴＩＲという）を利用して光ディスクに記録さ
れた信号を読み入れることによって記録密度が高い光デ
ィスクの読取りが易しくなるばかりでなく、同時に光デ
ィスクと光ピックアップ間の距離維持が容易になるよう
に構成し、読取りの信頼性を高めることができる光ピッ
クアップ装置を提供することにある。
象の代わりに全反射割れ現象（ｆｒｕｓｔｒａｔｅｄｔ
ｏｔａｌ ｉｎｔｅｒｎａｌ ｒｅｆｌｅｃｔｉｏｎ：
以下、ＦＴＩＲという）を利用して光ディスクに記録さ
れた信号を読み入れることによって記録密度が高い光デ
ィスクの読取りが易しくなるばかりでなく、同時に光デ
ィスクと光ピックアップ間の距離維持が容易になるよう
に構成し、読取りの信頼性を高めることができる光ピッ
クアップ装置を提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明は発光源と、前記
発光源から出力される光のフォーカシングのための第１
集光手段を有する光入射部と、光記録媒体の記録面に平
行に位置する全反射面を有する直角プリズムと、上記直
角プリズムの全反射面から反射された光を第２集光手段
及び光検出手段によって検出する光検出部と、上記光入
射部、直角プリズム及び光検出部を支持する第１支持体
と、上記直角プリズムと光記録媒体との水平、垂直間隔
を一定に維持するよう第１支持体の水平及び垂直位置を
制御する第２支持体を具備する光ピックアップ装置が提
供される。
発光源から出力される光のフォーカシングのための第１
集光手段を有する光入射部と、光記録媒体の記録面に平
行に位置する全反射面を有する直角プリズムと、上記直
角プリズムの全反射面から反射された光を第２集光手段
及び光検出手段によって検出する光検出部と、上記光入
射部、直角プリズム及び光検出部を支持する第１支持体
と、上記直角プリズムと光記録媒体との水平、垂直間隔
を一定に維持するよう第１支持体の水平及び垂直位置を
制御する第２支持体を具備する光ピックアップ装置が提
供される。
【０００９】
【実施例】次に、本発明について以下に説明する。図２
は本発明の第１実施例に基づいた光ピックアップ装置の
光ピックアップ構造及びそれによる信号の流れを図示し
た断面図を示したものである。上記の図面から明らかな
ように、本発明による光ピックアップ装置は第１支持体
１１の中心部に垂直方向に位置移動装置１２が付着され
ており、上記位置移動装置１２の上部には、三角形の形
状を有するが上面が平らな第２支持体１３が付着されて
いる。
は本発明の第１実施例に基づいた光ピックアップ装置の
光ピックアップ構造及びそれによる信号の流れを図示し
た断面図を示したものである。上記の図面から明らかな
ように、本発明による光ピックアップ装置は第１支持体
１１の中心部に垂直方向に位置移動装置１２が付着され
ており、上記位置移動装置１２の上部には、三角形の形
状を有するが上面が平らな第２支持体１３が付着されて
いる。
【００１０】上記の第２支持体１３上には、上記第２支
持体の平らな面を共通接触面にして逆三角形の形状から
なる４５°−９０°−４５°の直角プリズム１４が付着
されており、上記第２支持体１３の傾斜面の一方側には
発光源のレーザーダイオード１５が付着されている。上
記のレーザーダイオード１５と直角プリスム１４間の傾
斜面にはフォーカシングのための第１集光手段の対物レ
ンズ１６が付着されており、上記第２支持体１３の他の
傾斜面の一方側には第２集光手段の集光レンズ１８が付
着されている。
持体の平らな面を共通接触面にして逆三角形の形状から
なる４５°−９０°−４５°の直角プリズム１４が付着
されており、上記第２支持体１３の傾斜面の一方側には
発光源のレーザーダイオード１５が付着されている。上
記のレーザーダイオード１５と直角プリスム１４間の傾
斜面にはフォーカシングのための第１集光手段の対物レ
ンズ１６が付着されており、上記第２支持体１３の他の
傾斜面の一方側には第２集光手段の集光レンズ１８が付
着されている。
【００１１】次いで、上記第２集光レンズ１８と所定間
隔にて離隔されるように第２支持体の傾斜面に光検出器
１９が付着されており、上記の直角プリズム１４の上側
には凹凸面を有する光ディスク１７が配置されている。
上記の構造を簡略に大別してみると、レーザーダイオー
ド１５と対物レンズ１６及び直角プリズム１４から構成
された光入射部と、集光レンズ１８と光検出器１９から
構成された光検出部と、上記光入射部と光検出部の支持
及び位置調整のための第１、第２支持体１１，１３及び
位置移動装置１２に区分されることがわかる。
隔にて離隔されるように第２支持体の傾斜面に光検出器
１９が付着されており、上記の直角プリズム１４の上側
には凹凸面を有する光ディスク１７が配置されている。
上記の構造を簡略に大別してみると、レーザーダイオー
ド１５と対物レンズ１６及び直角プリズム１４から構成
された光入射部と、集光レンズ１８と光検出器１９から
構成された光検出部と、上記光入射部と光検出部の支持
及び位置調整のための第１、第２支持体１１，１３及び
位置移動装置１２に区分されることがわかる。
【００１２】この際、上記の光ディスク７ａは図６に図
示された本発明の第２実施例に基づく光ピックアップ装
置の断面図からわかるように、ティルト（ｔｉｌｔ）面
を有する歯車形状の光ディスク７ｂに取替えができ、上
記の光ディスク７ｂのティルト面１７ｂ−１はアルミニ
ウムコーティング面からなる。本発明の主眼点は、ＦＴ
ＩＲを利用するものであるので、まず内部全反射割れに
よって生じる浸透波（ｅｖａｎｅｓｃｅｎｔ ｗａｖ
ｅ）について説明する。
示された本発明の第２実施例に基づく光ピックアップ装
置の断面図からわかるように、ティルト（ｔｉｌｔ）面
を有する歯車形状の光ディスク７ｂに取替えができ、上
記の光ディスク７ｂのティルト面１７ｂ−１はアルミニ
ウムコーティング面からなる。本発明の主眼点は、ＦＴ
ＩＲを利用するものであるので、まず内部全反射割れに
よって生じる浸透波（ｅｖａｎｅｓｃｅｎｔ ｗａｖ
ｅ）について説明する。
【００１３】入射角が臨界角より大きいとき、入射波は
完全反射を起こすが、境界面を過ぎた領域に電磁気波が
存在することになる。この電磁気波を浸透波といい、上
記浸透波の存在は透過された電気場Ｅt によって理解さ
れる。 Ｅt ＝Ｅot ｅｘｐｉ（Ｋi ＊ｒ−ｗｔ）………（１） ここにおいて、Ｋi ＊ｒは図３に図示された内部反射に
対する電波ベクトルを示した図面から明らかなように、
Ｋi ＊ｒ＝ＫtxＸ＋ＫtyＹに表現することができこのと
き、上記のＫtx＝Ｋtｓｉｎθt であり、上記のＫty＝
Ｋt ｃｏｓθt である。
完全反射を起こすが、境界面を過ぎた領域に電磁気波が
存在することになる。この電磁気波を浸透波といい、上
記浸透波の存在は透過された電気場Ｅt によって理解さ
れる。 Ｅt ＝Ｅot ｅｘｐｉ（Ｋi ＊ｒ−ｗｔ）………（１） ここにおいて、Ｋi ＊ｒは図３に図示された内部反射に
対する電波ベクトルを示した図面から明らかなように、
Ｋi ＊ｒ＝ＫtxＸ＋ＫtyＹに表現することができこのと
き、上記のＫtx＝Ｋtｓｉｎθt であり、上記のＫty＝
Ｋt ｃｏｓθt である。
【００１４】スネルの法則を適用すると、 Ｋty＝±Ｋt （１−ｓｉｎ2 θi ／ｎti 2 ）1/2 ＝±ｉＫt （ｓｉｎ2 θi ／ｎti 2 −１）1/2 ＝±ｉβ 従って、（１）式はＫi ＝Ｋt ｓｉｎθi ／ｎtiとする
とき、Ｅt ＝Ｅot ｅｘｐ±βｅｘｐi(K1X-wt) にな
る。
とき、Ｅt ＝Ｅot ｅｘｐ±βｅｘｐi(K1X-wt) にな
る。
【００１５】この際、物理的に不可能なポジティブ・エ
キスポネンシャル（ｐｏｓｉｔｉｖｅ ｅｘｐｏｎｅｎ
ｔｉａｌ）を無視すれば、屈折率が低い媒質に進行する
に従って浸透波の振幅は大変急激に小さくなることがわ
かる。すなわち、特殊因子ｅｘｐi(K1X-wt) から浸透波
は速度ｗ／ｋｌで境界面に平行に動き、位相が一定した
面等に記述することができることがわかる。また、上記
浸透波の位相速度はこれより屈折率が大きい媒質におけ
る位相速度より１／ｓｉｎθi 程大きい値打ちを有す
る。
キスポネンシャル（ｐｏｓｉｔｉｖｅ ｅｘｐｏｎｅｎ
ｔｉａｌ）を無視すれば、屈折率が低い媒質に進行する
に従って浸透波の振幅は大変急激に小さくなることがわ
かる。すなわち、特殊因子ｅｘｐi(K1X-wt) から浸透波
は速度ｗ／ｋｌで境界面に平行に動き、位相が一定した
面等に記述することができることがわかる。また、上記
浸透波の位相速度はこれより屈折率が大きい媒質におけ
る位相速度より１／ｓｉｎθi 程大きい値打ちを有す
る。
【００１６】このような特徴を有する浸透波が屈折率が
小さい媒質（例えば、空気）に浸透する現象は図４及び
図５に図示されている。図４は上記の浸透波が屈折率が
より大きいガラスプリズムへ入射される場合屈折率が小
さい媒質から光が漏れ出す内部の全反射割れ現象を図示
したもので、上記の図面からわかるように４５°−９０
°−４５°を有する２個のプリズムが接触せず斜面が向
い合うように配置されていることがわかる。
小さい媒質（例えば、空気）に浸透する現象は図４及び
図５に図示されている。図４は上記の浸透波が屈折率が
より大きいガラスプリズムへ入射される場合屈折率が小
さい媒質から光が漏れ出す内部の全反射割れ現象を図示
したもので、上記の図面からわかるように４５°−９０
°−４５°を有する２個のプリズムが接触せず斜面が向
い合うように配置されていることがわかる。
【００１７】この際、左側から入射されたレーザービー
ムは上記の図面に図示されたように２つの斜面間の間隔
が近くなるに従って全反射されず、通過される光量が多
くなるが、本発明はこのような現象を利用したものであ
る。すなわち、光ディスクの凹凸面と全反射面の間に上
記の原理を適用することによって、光ディスクに記録さ
れた信号の読取りを可能にしたものである。
ムは上記の図面に図示されたように２つの斜面間の間隔
が近くなるに従って全反射されず、通過される光量が多
くなるが、本発明はこのような現象を利用したものであ
る。すなわち、光ディスクの凹凸面と全反射面の間に上
記の原理を適用することによって、光ディスクに記録さ
れた信号の読取りを可能にしたものである。
【００１８】一方、図５は、内部全反射が割れるラマン
（ｒａｍａｎ）実験を図示したもので、上記の実験結
果、全反射面に近く置かれた尖った金属２０先から反射
が起こって、これもまた光ディスクの読取りに適用でき
ることがわかる。このように浸透波が屈折率が小さい媒
質を通過して、屈折率が大きい媒質に進行する場合、そ
の隙間を利用してエネルギーが流れる現象を全反射割れ
現象、すなわちＦＴＩＲという。
（ｒａｍａｎ）実験を図示したもので、上記の実験結
果、全反射面に近く置かれた尖った金属２０先から反射
が起こって、これもまた光ディスクの読取りに適用でき
ることがわかる。このように浸透波が屈折率が小さい媒
質を通過して、屈折率が大きい媒質に進行する場合、そ
の隙間を利用してエネルギーが流れる現象を全反射割れ
現象、すなわちＦＴＩＲという。
【００１９】このような現象を利用した光ピックアップ
装置の光ピックアップ動作を図２に図示された第１実施
例を参照して説明すると下記のとおりである。すなわ
ち、光源のレーザーダイオード１５から発信されたレー
ザービームは対物レンズ１６によって図４に図示した形
状を有する４５°−９０°−４５°の直角プリズム１４
ａの斜面に焦点が生じ、上記の斜面により全反射が起こ
るようになる。
装置の光ピックアップ動作を図２に図示された第１実施
例を参照して説明すると下記のとおりである。すなわ
ち、光源のレーザーダイオード１５から発信されたレー
ザービームは対物レンズ１６によって図４に図示した形
状を有する４５°−９０°−４５°の直角プリズム１４
ａの斜面に焦点が生じ、上記の斜面により全反射が起こ
るようになる。
【００２０】この際、光ディスク１７ａの凹凸面が全反
射面に接近する場合ＦＴＩＲ現象が生じるようになり、
上記の凹凸面と全反射面との距離差のために全反射され
る光景が凸面と凹面によって異なるようになる。このよ
うに全反射されたビームは集光レンズ１８によって光検
出器９に集められ光量が測定される。
射面に接近する場合ＦＴＩＲ現象が生じるようになり、
上記の凹凸面と全反射面との距離差のために全反射され
る光景が凸面と凹面によって異なるようになる。このよ
うに全反射されたビームは集光レンズ１８によって光検
出器９に集められ光量が測定される。
【００２１】その後、このように測定された光量を最大
または最小値に維持させるために位置制御装置３４で位
置移動装置１２を調節して凸面と全反射面間の距離が一
定に維持されるようにする。この際、光ディスク１７ａ
が回転するによって、凹凸面も移動するので、時間によ
って変わる光量を光量測定装置３１で検出して電気信号
に変えることができ、上記の電気信号は信号処理装置３
２を経て音声や画像に変わった後、信号出力装置３３を
経て出力される。
または最小値に維持させるために位置制御装置３４で位
置移動装置１２を調節して凸面と全反射面間の距離が一
定に維持されるようにする。この際、光ディスク１７ａ
が回転するによって、凹凸面も移動するので、時間によ
って変わる光量を光量測定装置３１で検出して電気信号
に変えることができ、上記の電気信号は信号処理装置３
２を経て音声や画像に変わった後、信号出力装置３３を
経て出力される。
【００２２】このような光ピックアップ構造を利用した
光ピックアップ動作は図６に図示された第２実施例のよ
うに歯車形状の光ディスク７ｂも読取りができるばかり
でなく、記録密度が増加した光ディスクの読取りも可能
であるという利点がある。一方、図７には本発明の第３
実施例において４５°−９０°−４５°の直角プリズム
のもう１つの全反射配位を適用して光ピックアップ装置
を構成した例が図示されている。
光ピックアップ動作は図６に図示された第２実施例のよ
うに歯車形状の光ディスク７ｂも読取りができるばかり
でなく、記録密度が増加した光ディスクの読取りも可能
であるという利点がある。一方、図７には本発明の第３
実施例において４５°−９０°−４５°の直角プリズム
のもう１つの全反射配位を適用して光ピックアップ装置
を構成した例が図示されている。
【００２３】上記の図面からわかるように第３実施例に
よる光ピックアップ装置は第１支持体１１の中心部に所
定の長さを持って、垂直方向に位置移動装置１２が付着
されており、上記の位置移動装置１２の上部には四角形
状を有するが、その対角線の上部に不規則的な凹凸が形
成されている第２支持体１３が付着されている。上記の
第２支持体１３の対角線上部の下側エッジにはレーザー
ダイオード１５が装着されており、上記の第２支持体１
３の対角線上部の上側エッジにはその斜面が上記レーザ
ーダイオードと向い合うように４５°−９０°−４５°
の三角形形状の直角プリズム４ｂが装着されており、上
記のレーザーダイオード１５と直角プリズム４ｂ間の同
一面上には所定間隔でもって離隔されるよう第１集光手
段の対物レンズ１６及び第２集光手段の集光レンズ１８
が形成されている。
よる光ピックアップ装置は第１支持体１１の中心部に所
定の長さを持って、垂直方向に位置移動装置１２が付着
されており、上記の位置移動装置１２の上部には四角形
状を有するが、その対角線の上部に不規則的な凹凸が形
成されている第２支持体１３が付着されている。上記の
第２支持体１３の対角線上部の下側エッジにはレーザー
ダイオード１５が装着されており、上記の第２支持体１
３の対角線上部の上側エッジにはその斜面が上記レーザ
ーダイオードと向い合うように４５°−９０°−４５°
の三角形形状の直角プリズム４ｂが装着されており、上
記のレーザーダイオード１５と直角プリズム４ｂ間の同
一面上には所定間隔でもって離隔されるよう第１集光手
段の対物レンズ１６及び第２集光手段の集光レンズ１８
が形成されている。
【００２４】上記集光レンズ１８とレーザーダイオード
１５間には光検出器１９が配置されており、上記の直角
プリズム４ｂの上側には上記プリズムの一面と平行にな
るように凹凸面を有する光ディスク７ａが形成されてい
る。上記のような構造を有する場合もまた、前述した光
ピックアップ動作ができ、この場合はより小さい大きさ
で光素子の製作ができるので、光学素子の集積化に有利
であるという利点がある。
１５間には光検出器１９が配置されており、上記の直角
プリズム４ｂの上側には上記プリズムの一面と平行にな
るように凹凸面を有する光ディスク７ａが形成されてい
る。上記のような構造を有する場合もまた、前述した光
ピックアップ動作ができ、この場合はより小さい大きさ
で光素子の製作ができるので、光学素子の集積化に有利
であるという利点がある。
【００２５】この他の方法で図８及び図９には本発明の
第４及び第５実施例による光ピックアップ装置が図示さ
れている。上記第４及び第５実施例による光ピックアッ
プ装置の光ピックアップの構造は、上述の第１乃至第３
実施例の対物レンズ１６と集光レンズ１８をホログラム
に取り替えたことに主眼点を置いたものであって、その
基本構造を説明すると下記の通りである。
第４及び第５実施例による光ピックアップ装置が図示さ
れている。上記第４及び第５実施例による光ピックアッ
プ装置の光ピックアップの構造は、上述の第１乃至第３
実施例の対物レンズ１６と集光レンズ１８をホログラム
に取り替えたことに主眼点を置いたものであって、その
基本構造を説明すると下記の通りである。
【００２６】まず、図８に図示した第４実施例の場合、
上記第１支持体１１の中心部に所定の長さをもって垂直
方向に位置移動装置１２が付着されており、上記の位置
移動装置１２の上には４５°−９０°−４５°の逆三角
形形状の直角プリズム１４ａが付着されている。上記の
直角プリズム１４ａの一方側の傾斜面の所定部位には対
物ホログラム１４ａ−ｈ１が付着されており、上記の直
角プリズム１４ａのもう１つの傾斜面の所定部位には集
光ホログラム１４ａ−ｈ２が付着されている。
上記第１支持体１１の中心部に所定の長さをもって垂直
方向に位置移動装置１２が付着されており、上記の位置
移動装置１２の上には４５°−９０°−４５°の逆三角
形形状の直角プリズム１４ａが付着されている。上記の
直角プリズム１４ａの一方側の傾斜面の所定部位には対
物ホログラム１４ａ−ｈ１が付着されており、上記の直
角プリズム１４ａのもう１つの傾斜面の所定部位には集
光ホログラム１４ａ−ｈ２が付着されている。
【００２７】上記の対物ホログラム１４ａ−ｈ１へレー
ザービームを進行させるために、上記第１支持体１１と
対物ホログラム１４ａ−ｈ１間の位置移動装置１２の所
定部分にはレーザーダイオード１５が付着されており、
上記の集光ホログラム１４ａ−ｈ２から反射された浸透
波を検出するために第１支持体１１と上記の集光ホログ
ラム１４ａ−ｈ２間の位置移動装置の所定部分には光検
出器１９が付着されている。
ザービームを進行させるために、上記第１支持体１１と
対物ホログラム１４ａ−ｈ１間の位置移動装置１２の所
定部分にはレーザーダイオード１５が付着されており、
上記の集光ホログラム１４ａ−ｈ２から反射された浸透
波を検出するために第１支持体１１と上記の集光ホログ
ラム１４ａ−ｈ２間の位置移動装置の所定部分には光検
出器１９が付着されている。
【００２８】一方、図９に図示された第５実施例の場合
は第１支持体１１と位置移動装置１２および第２支持体
１３は第３実施例と同一に付着され、第４実施例とは直
角プリズム１４ｂとレーザーダイオード１５及び光検出
器１９の配置上に多少差がある。すなわち、図示されて
いない上記の第２支持体１３対角線の上部の下側エッジ
にはレーザーダイオード１５が装着されており、上記の
第２支持体１３の対角線の上部の上側エッジにはその斜
面が上記のレーザーダイオード１５と向い合うように４
５°−９０°−４５°の三角形形状の直角プリズム１４
ｂが付着されている。
は第１支持体１１と位置移動装置１２および第２支持体
１３は第３実施例と同一に付着され、第４実施例とは直
角プリズム１４ｂとレーザーダイオード１５及び光検出
器１９の配置上に多少差がある。すなわち、図示されて
いない上記の第２支持体１３対角線の上部の下側エッジ
にはレーザーダイオード１５が装着されており、上記の
第２支持体１３の対角線の上部の上側エッジにはその斜
面が上記のレーザーダイオード１５と向い合うように４
５°−９０°−４５°の三角形形状の直角プリズム１４
ｂが付着されている。
【００２９】上記のレーザーダイオード１５から出たレ
ーザービームの干渉模様パターンを記録するために、レ
ーザーダイオード１５と平行な位置の直角プリズム１４
ｂの斜面の所定部位に対物ホログラム１４ｂ−ｈ１が付
着されており、上記の光検出器１９と平行な位置の直角
プリズム１４ｂ斜面の所定部位には集光ホログラム１４
ｂ−ｈ２が付着されている。
ーザービームの干渉模様パターンを記録するために、レ
ーザーダイオード１５と平行な位置の直角プリズム１４
ｂの斜面の所定部位に対物ホログラム１４ｂ−ｈ１が付
着されており、上記の光検出器１９と平行な位置の直角
プリズム１４ｂ斜面の所定部位には集光ホログラム１４
ｂ−ｈ２が付着されている。
【００３０】上記の図面からわかるように、図４及び図
５の実施例を適用する場合は、高密度の光ディスクを読
み取ることができるばかりでなく、光学素子の集積化を
図ることができて上記光ピックアップ装置の軽薄短小化
を実現することができるという利点がある。
５の実施例を適用する場合は、高密度の光ディスクを読
み取ることができるばかりでなく、光学素子の集積化を
図ることができて上記光ピックアップ装置の軽薄短小化
を実現することができるという利点がある。
【００３１】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
全反射割れ現象を利用して光ディスクに記録された信号
を読み入れることによって、１）光ディスクに記録され
た高密度信号の読取りができ、２）光ディスクと光ピッ
クアップ間の間隔を使用波長よりずっと狭く維持するこ
とができるので、回折限界を克服する記録密度の実現が
可能になり読取りの信頼性を高めることができるばかり
でなく、３）光学素子の集積化を図ることができて軽薄
短小化を実現することが可能になるという利点がある。
全反射割れ現象を利用して光ディスクに記録された信号
を読み入れることによって、１）光ディスクに記録され
た高密度信号の読取りができ、２）光ディスクと光ピッ
クアップ間の間隔を使用波長よりずっと狭く維持するこ
とができるので、回折限界を克服する記録密度の実現が
可能になり読取りの信頼性を高めることができるばかり
でなく、３）光学素子の集積化を図ることができて軽薄
短小化を実現することが可能になるという利点がある。
【図１】従来の技術による光ピックアップ装置の構造及
びそれによる信号の流れを示した断面図である。
びそれによる信号の流れを示した断面図である。
【図２】本発明の第１実施例による光ピックアップ装置
の光ピックアップ構造及びそれによる信号の流れを示し
た断面図である。
の光ピックアップ構造及びそれによる信号の流れを示し
た断面図である。
【図３】内部反射時の電波ベクトルを示した座標の説明
図である。
図である。
【図４】浸透波が空気から屈折率がもっと大きいガラス
プリズムへ入射された場合、屈折率が小さい媒質から光
が漏れ出す内部全反射の割れ現象を示した説明図であ
る。
プリズムへ入射された場合、屈折率が小さい媒質から光
が漏れ出す内部全反射の割れ現象を示した説明図であ
る。
【図５】内部全反射が割れるラマン実験を示した説明図
である。
である。
【図６】本発明の第２実施例による光ピックアップ装置
の構造及びそれによる信号の流れを示した断面図であ
る。
の構造及びそれによる信号の流れを示した断面図であ
る。
【図７】本発明の第３実施例による光ピックアップ装置
の構造を図示した断面図である。
の構造を図示した断面図である。
【図８】本発明の第４実施例による光ピックアップ装置
の構造を示した断面図である。
の構造を示した断面図である。
【図９】本発明の第５実施例による光ピックアップ装置
の構造を示した断面図である。
の構造を示した断面図である。
１１…第１支持体 １２…位置移動装置 １３…第２支持体 １４（１４ａ，１４ｂ）…直角プリズム １４ａ−ｈ１，１４ｂ−ｈ１…対物ホログラム １４ａ−ｈ２，１４ｂ−ｈ２…集光ホログラム １５…レーザーダイオード １６…対物レンズ １７（１７ａ，１７ｂ）…光ディスク １８…集光レンズ １９…光検出器
Claims (7)
- 【請求項１】 発光源と、前記発光源から出力される光
のフォーカシングのための第１集光手段を有する光入射
部と、光記録媒体の記録面に平行に位置する全反射面を
有する直角プリズムと、前記直角プリズムの全反射面か
ら反射された光を第２集光手段及び光検出手段によって
検出する光検出部と、前記光入射部、直角プリズム及び
光検出部を支持する第１支持体と、前記直角プリズムと
光記録媒体との水平及び垂直間隔を一定に維持するよう
に第１支持体の水平及び垂直位置を制御する第２支持体
とを具備することを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項２】 請求項第１項において、前記光入射部の
第１集光手段は対物レンズからなることを特徴とする光
ピックアップ装置。 - 【請求項３】 請求項第１項において、前記光検出部の
第２集光手段は集光レンズからなることを特徴とする光
ピックアップ装置。 - 【請求項４】 請求項第１項において、前記第１及び第
２集光手段は対物ホログラム及び集光ホログラムに取り
替えられることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項５】 第１支持体と、前記第１支持体の中心部
に所定の長さをもって垂直方向に付着された位置移動装
置と、前記位置移動装置の上部に付着され、四角形状を
有するが、その対角線の上部に不規則的な凹凸が形成さ
れている第２支持体と、前記第２支持体の対角線上部の
下側エッジに付着されたレーザーダイオードと、前記第
２支持体の対角線上部の上側エッジに付着するが、その
斜面が前記レーザーダイオードと向い合うように付着さ
れた４５°−９０°−４５°の三角形形状の直角プリズ
ムと、前記レーザーダイオードと直角プリズム間の同一
面上において所定間隔でもって隔離されるように形成さ
れた第１集光手段及び第２集光手段と、前記第２集光手
段とレーザーダイオード間に形成された光検出器と、前
記直角プリズムの一面と平行になるよう前記直角プリズ
ムの上側に形成された凹凸面を有する光ディスクとを具
備することを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項６】 請求項第５項において、前記第１集光手
段及び第２集光手段は対物レンズ及び集光レンズからな
ることを特徴とする光ピックアップ装置。 - 【請求項７】 前記第５項において、前記第１及び第２
集光手段は対物ホログラム及び集光ホログラムに取り替
えられることを特徴とする光ピックアップ装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2377/1995 | 1995-02-09 | ||
| KR1019950002377A KR0162331B1 (ko) | 1995-02-09 | 1995-02-09 | 광 픽업장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08255369A true JPH08255369A (ja) | 1996-10-01 |
| JP2672805B2 JP2672805B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=19407894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8024157A Expired - Fee Related JP2672805B2 (ja) | 1995-02-09 | 1996-02-09 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5757757A (ja) |
| EP (1) | EP0726565A1 (ja) |
| JP (1) | JP2672805B2 (ja) |
| KR (1) | KR0162331B1 (ja) |
| CN (1) | CN1136694A (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5804814A (en) * | 1994-05-20 | 1998-09-08 | Musha; Toru | Optical pick-up head and integrated type optical unit for use in optical pick-up head |
| DE69722008T2 (de) * | 1996-08-21 | 2004-04-01 | Polaroid Corp., Waltham | Auf der phasensteuerung abklingender felder basierende systeme und verfahren |
| JPH11110812A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-04-23 | Fujitsu Ltd | 光磁気記録媒体及び光学的情報記憶装置 |
| IL175455A0 (en) * | 2006-05-07 | 2007-08-19 | Penta I Ltd | A system and a method for imaging, automatic and at once, objects' six-faces |
| US7812959B1 (en) * | 2007-03-22 | 2010-10-12 | University Of South Florida | Total internal reflection holographic microscope |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5327413A (en) * | 1992-10-01 | 1994-07-05 | Honeywell | Ruggedized homogeneous thin dielectric film focus sensor |
| JP3135389B2 (ja) * | 1992-10-23 | 2001-02-13 | 松下電器産業株式会社 | 情報再生方法、情報記録再生方法、情報再生装置、記録媒体及び光ヘッド |
-
1995
- 1995-02-09 KR KR1019950002377A patent/KR0162331B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1996
- 1996-02-06 EP EP96400248A patent/EP0726565A1/en not_active Withdrawn
- 1996-02-07 CN CN96102529A patent/CN1136694A/zh active Pending
- 1996-02-07 US US08/598,107 patent/US5757757A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-02-09 JP JP8024157A patent/JP2672805B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0726565A1 (en) | 1996-08-14 |
| KR0162331B1 (ko) | 1998-12-15 |
| JP2672805B2 (ja) | 1997-11-05 |
| US5757757A (en) | 1998-05-26 |
| CN1136694A (zh) | 1996-11-27 |
| KR960032358A (ko) | 1996-09-17 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA1091966A (en) | Apparatus for reading signals recorded on a record carrier | |
| US5517479A (en) | Optical head including a semiconductor laser having a non-scatter incident area | |
| US6298026B1 (en) | Magneto-optical head apparatus using evanescent light | |
| JP2672805B2 (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| US5745304A (en) | Integrated optical pickup system capable of reading optical disks of different thickness | |
| JPH0676342A (ja) | 高密度記録のための光学ヘッド | |
| JPH0478029A (ja) | 光学的情報記録再生装置 | |
| US5953304A (en) | Optical disc recording or playback device with corrected focus optical scanning | |
| KR930020374A (ko) | 광픽업 | |
| JP2656036B2 (ja) | 光ヘツド | |
| JPH0219537B2 (ja) | ||
| CN1155666A (zh) | 集成光学拾取系统 | |
| JPS6113289B2 (ja) | ||
| JPH01270382A (ja) | 半導体レーザ装置 | |
| KR0136843B1 (ko) | 광자기디스크재생시스템의 광픽업헤드 | |
| KR950007294B1 (ko) | 미니디스크플레이어의 광픽업장치 | |
| KR0129963B1 (ko) | 감쇄파 홀로그램소자를 채용한 광픽업 | |
| JPS5827890B2 (ja) | ビデオデイスク再生装置における光ビ−ム分岐装置 | |
| JPS5954044A (ja) | 光学ヘツド | |
| JPH04143935A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPS60140553A (ja) | 光ピツクアツプ | |
| JPH09120572A (ja) | 光ピックアップ装置 | |
| JPS5945638A (ja) | フオ−カス状態制御装置 | |
| JPH03254434A (ja) | 光ピックアップ | |
| JPH07262594A (ja) | 光学素子とこれを用いた光学ヘッド |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970603 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |