JPH08236674A - リ−ドフレ−ムの製造方法 - Google Patents

リ−ドフレ−ムの製造方法

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JPH08236674A
JPH08236674A JP7062007A JP6200795A JPH08236674A JP H08236674 A JPH08236674 A JP H08236674A JP 7062007 A JP7062007 A JP 7062007A JP 6200795 A JP6200795 A JP 6200795A JP H08236674 A JPH08236674 A JP H08236674A
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JP
Japan
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die pad
lead frame
dimples
metal material
forming
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JP7062007A
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English (en)
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Kazuhiko Umeda
和彦 梅田
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Mitsui High Tec Inc
Original Assignee
Mitsui High Tec Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 ディンプル2a加工をスタンピング法で行う
方法において、ダイパッド3の裏面側中央部分が膨出す
るような反りを防止することにより、その上面に搭載さ
れる半導体チップ10との接触面積を確保して充分な密
着強度を得ること、また半導体装置組立工程における熱
履歴や、半導体装置動作時の発熱等によって発生するチ
ップクラックやボンディングワイヤ9の切断を防止す
る。 【構成】 所定の形状加工を行うべき順送り金型装置1
4と、ダイパッドの裏面に複数のディンプルを形成する
レーザー加工機15を配置し、順送り金型装置およびレ
ーザー加工機を同期して運転し、金属材料13を連続加
工する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本願発明は、半導体装置の組立に
用いられるリードフレームの製造方法に関し、さらに詳
しくは、半導体チップを搭載するためのダイパッドの裏
面側に複数のディンプルを付与したリードフレームの製
造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】IC、LSI等の半導体装置の実装に際
して用いられるリードフレーム1は、鉄系あるいは銅系
等の金属材料13をスタンピング法またはエッチング法
により所望のパターンに成形することによって形成され
る。
【0003】通常、リードフレーム1は、図1に示す如
く、半導体集積回路チップ(以下、半導体チップ10)
を搭載するダイパッド3と、ダイパッド3を取り囲むよ
うに配設せしめられた複数のインナーリード4とインナ
ーリード4を一体的に連結するタイバー7と、各インナ
ーリード4に連結せしめられタイバー7の外側に伸張す
るアウターリード5と、アウターリード5が連結される
サイドレール8と、ダイパッド3を支持するサポートバ
ー6とから構成されている。
【0004】このようなリードフレーム1を用いて実装
せしめられる半導体装置は図4に示す如くであり、リー
ドフレーム1のダイパッド3上に、半導体チップ10を
搭載し、この半導体チップ10のボンディングパッド1
1とリードフレーム1のインナーリード4とを金線ある
いはアルミ線のボンディングワイヤ9によって結線し、
更にこれらを樹脂やセラミック等の封止材料で封止した
後、タイバー7やサイドレール8を切断し、アウターリ
ード5を所望の形状に折り曲げて完成せしめられる。
【0005】近年では、半導体チップ10の大型化によ
ってこれを支持するリードフレーム1のダイパッド3も
大型化し、またパッケージ12の外観サイズの小型化に
よって、パッケージ12に対するダイパッド3の専有面
積比が大きくなり、ダイパッド3と封止樹脂との密着性
が悪いことから、熱履歴によるパッケージ12にクラッ
クが発生し、ここから水分が侵入することによって信頼
性の低下を生じている。
【0006】そこで、ダイパッド3の裏面に微少な複数
の凹部(以下、ディンプル2aと指称する)を設け、こ
のディンプル2aの内部にも封止用の樹脂が入り込むこ
とによって密着性を向上させる方法が提案されている。
【0007】
【発明が解決すべき課題】形状加工をスタンピング法に
よって行うリードフレーム1の製造方法においては、形
状加工を行うべき順送り金型装置14の1ステーション
に、図5に示す複数の角錐状突起17を有するディンプ
ル加工用パンチ16が配設されており、順送り金型装置
14の上下動によって、このディンプル加工用パンチ1
6がリードフレーム1のダイパッド3の裏面に付勢され
ることでディンプル2aが成形される。
【0008】しかしながら、このようにディンプル2a
加工をスタンピング法で行うと、ダイパッド3の裏面側
中央部分が膨出するような反りを生じ、ダイパッド3に
異常な反りや変形があると、その上面に搭載される半導
体チップ10との接触面積が減少して、充分な密着強度
が得られず、半導体装置組立工程における熱履歴や、半
導体装置動作時の発熱等によってチップクラックやボン
ディングワイヤ9の切断という事態を引き起こす原因と
なる。
【0009】さらに、近年ではパッケージ12の薄型化
に対する要求が厳しくなっているため、ダイパッド3に
生じた反りによって、パッケージ12の裏面からダイパ
ッド3の中央部分が露出するという不良が発生するなど
の問題があり、またダイパッド3が大きくなるに従っ
て、ディンプル2aをより深くすることが望まれ、反り
の問題は一層深刻なものとなっている。
【0010】これを防止するためには、順送り金型装置
14の1ステーションにダイパッド3の反りを矯正する
ステーションを設けなければならず、よって順送り金型
装置14の大型化を招来するだけではなく、矯正量の調
整が困難であるため、不良が連続して発生しやすいとい
う問題もあり、このような理由から、スタンピング法に
よるディンプルの深さには限界があり、リードフレーム
1とパッケージ12との充分な密着性は得られていなか
った。
【0011】
【課題を解決するための手段】本願発明は上記実情に鑑
みてなされたもので、ダイパッド3の裏面にレーザー加
工によって複数のディンプル2aを形成する工程を含む
ことを特徴とし、金属材料13のダイパッド3の成形予
定部位の裏面にレーザー加工によって複数のディンプル
2aを形成する工程を経た後に所望形状への加工を行う
ことにより、また所定の形状加工を行うべき順送り金型
装置14と、ダイパッド3の裏面に複数のディンプル2
aを形成するレーザー加工機15を配置し、順送り金型
装置14およびレーザー加工機15を同期して運転し
て、金属材料13を連続加工することによって従来技術
における課題の解決を実現するものである。
【0012】
【作用】本願発明によれば、ダイパッド3のディンプル
2aがレーザー加工によって行われるため、順送り金型
装置14によるディンプル2aの付与に比べ、金属内部
に発生する加工歪みが少なく、寸法精度の良好なリード
フレーム1を得ることが可能となるばかりでなく、ディ
ンプル2aの深さを充分に深くすることができる。
【0013】
【実施例】図2は本願発明の一実施例を示すもので、リ
ール状に巻かれた帯状の金属材料13を順送り金型装置
14にセットし、間欠的に移送しながらインナーリード
4やアウターリード5などの構成要素を順次成形して排
出され、次に金属材料13は順送り金型装置14と同期
して運転されるレーザー加工機15に通され、ここでダ
イパッド3の半導体チップ10を搭載しない面側に複数
のディンプル2aが成形される。
【0014】ここで、順送り金型装置14から排出され
た金属材料13を180度反転させてレーザー加工機1
5に搬入すれば、ダイパッド3の打ち抜きバリ発生面側
にディンプル2aが成形され、金属材料13を反転させ
ることなくレーザー加工機15に搬入すれば、ダイパッ
ド3のダレ面側にディンプル2aが成形されることとな
る。
【0015】形状加工とディンプル2aの成形が完了し
たリードフレーム1は、必要に応じて短冊状に切断さ
れ、さらに熱処理工程やメッキ工程、テーピング工程、
ディプレス工程を経て完成する。
【0016】図3は半導体装置の組立過程におけるダイ
パッド3付近を概念的に示すもので、ダイパッド3の上
に半導体チップ10がAgペースト等を介して接着さ
れ、半導体チップ10の表面に形成されたボンディング
パッド11とインナーリード4の先端がボンディングワ
イヤ9によって電気的に接続される。
【0017】この後のモールド工程で半導体チップ10
やボンディングワイヤ9、インナーリード4等が樹脂封
止され、タイバー7の切断を終えた後、図4に示すよう
な半導体装置となり、さらにパッケージ12から導出さ
れたアウターリード5がJ字状またはガルウィング状に
成形されて完成する。
【0018】なお、実施例として説明した金属材料13
は帯状であり、順送り金型装置14やレーザー加工機1
5を経由した後、リール状に巻き取られるものである
が、本願発明はこれに限定するものではなく、順送り金
型装置14の最終ステーションで間欠的に金属材料13
を切断した短冊状フレームとし、レーザー加工機15に
対して短冊状フレームを1枚単位で送り込む方法や、レ
ーザー加工機15の下流に間欠切断用の金型装置を配置
し、これによって短冊状フレームに切断する方法へも適
用可能である。
【0019】さらに、レーザー加工機15ではダイパッ
ド3へのディンプル2a加工だけに留まらず、例えばダ
イパッド3の周縁付近に貫通孔2bを加工することもで
きる。
【0020】また、レーザー加工機15と順送り金型装
置14の配置を逆にすれば、金属材料13のダイパッド
3の形成予定部に予めディンプル2aを付与し、その後
形状加工を行うこともできる。
【0021】
【発明による効果】本願発明によれば、ディンプル2a
がレーザー加工によって行われるため、金型装置による
ディンプル2aに比べて加工歪みが少なく、またディン
プル2aの深さも金属材料13の板厚の半分以上まで深
くすることができ、パッケージ12との密着性が格段に
向上して、パッケージ12のクラックが防止される。
【図面の簡単な説明】
【図1】リードフレームの要部概念図
【図2】本願発明にかかるリードフレーム形状加工工程
の説明図
【図3】半導体装置の組立過程におけるダイパッド付近
の概念図
【図4】アウターリード成形前の半導体装置
【図5】従来より用いられていたディンプル加工用パン
【符号の説明】
1・・・・リードフレーム 2a・・・ディンプル 2b・・・貫通孔 3・・・・ダイパッド 4・・・・インナーリード 5・・・・アウターリード 6・・・・サポートバー 7・・・・タイバー 8・・・・サイドレール 9・・・・ボンディングワイヤ 10・・・・半導体チップ 11・・・・ボンディングパッド 12・・・・パッケージ 13・・・・金属材料 14・・・・順送り金型装置 15・・・・レーザー加工機 16・・・・ディンプル加工用パンチ 17・・・・角錐状突起

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップを搭載するためのダイパッ
    ドと複数のインナーリードと当該インナーリードから延
    在するアウターリードを具備してなるリードフレームの
    製造方法において、前記ダイパッドの裏面にレーザー加
    工によって複数のディンプルを形成する工程を含むこと
    を特徴とするリードフレームの製造方法。
  2. 【請求項2】 金属材料から半導体チップを搭載するた
    めのダイパッドと複数のインナーリードと当該インナー
    リードから延在するアウターリードを具備してなるリー
    ドフレームの製造方法において、前記金属材料中の前記
    ダイパッド成形予定部位の裏面にレーザー加工によって
    複数のディンプルを形成する工程を経た後、所望形状へ
    の加工を行うことを特徴とするリードフレームの製造方
    法。
  3. 【請求項3】 半導体チップを搭載するためのダイパッ
    ドと複数のインナーリードと当該インナーリードから延
    在するアウターリードを具備してなるリードフレームの
    製造方法において、所定の形状加工を行うべき順送り金
    型装置と、前記ダイパッドの裏面に複数のディンプルを
    形成するレーザー加工機を配置し、前記順送り金型装置
    およびレーザー加工機を同期して運転し、金属材料を連
    続加工することを特徴とするリードフレームの製造方
    法。
JP7062007A 1995-02-24 1995-02-24 リ−ドフレ−ムの製造方法 Pending JPH08236674A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0987747A1 (en) * 1998-09-17 2000-03-22 STMicroelectronics S.r.l. Process for improving the adhesion between metal and plastic in containment structures for electronic semiconductor devices

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0987747A1 (en) * 1998-09-17 2000-03-22 STMicroelectronics S.r.l. Process for improving the adhesion between metal and plastic in containment structures for electronic semiconductor devices
US6221696B1 (en) 1998-09-17 2001-04-24 Stmicroelectronics S.R.L. Process for improving the adhesion between metal and plastic in containment structures for electronic semiconductor devices

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