JPH0822907A - バリスタの製造方法 - Google Patents

バリスタの製造方法

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Publication number
JPH0822907A
JPH0822907A JP6153502A JP15350294A JPH0822907A JP H0822907 A JPH0822907 A JP H0822907A JP 6153502 A JP6153502 A JP 6153502A JP 15350294 A JP15350294 A JP 15350294A JP H0822907 A JPH0822907 A JP H0822907A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
varistor
reaction accelerator
varistor element
heated
manufacturing
Prior art date
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Pending
Application number
JP6153502A
Other languages
English (en)
Inventor
Riho Jinno
理穂 神野
Iwao Ueno
巌 上野
Yasuo Wakahata
康男 若畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、バリスタの製造方法に関するもの
で、浸入水分によるバリスタ電圧の低下を防止すること
を目的とするものである。 【構成】 そしてこの目的を達成するために、本発明
は、焼成後のバリスタ素子1を未反応物質の反応促進剤
13と接触させて加熱するものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、バリスタの製造方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、バリスタはそのバリスタ素子
を半導体化させるために、例えば1200℃程度の高温
で焼成している。
【0003】上記焼成により、バリスタ素子を構成する
各元素は、ほとんど全てが、焼結反応し定形のバリスタ
素子が、形成されることとなる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記構成において、問
題となるのは、バリスタ素子に水分が浸入すると、バリ
スタ電圧が低下してしまうということであった。即ち、
上述したように、高温焼結によりバリスタ素子を構成す
る各元素は、ほとんど全てが焼結反応しているのではあ
るが、一部の未反応物質は、この浸入水分によりイオン
化し、その結果として上述のごとくバリスタ電圧を低下
させてしまうものであった。
【0005】そこで本発明は、浸入水分によるバリスタ
電圧の低下を防止することを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】そしてこの目的を達成す
るために、本発明は、焼成後のバリスタ素子を未反応物
質の反応促進剤と接触させて加熱するものである。
【0007】
【作用】以上の方法によれば、未反応物質は、反応促進
剤と反応することにより、例え浸入水分があったとして
も、イオン化しなくなるので、バリスタ電圧の低下はお
きなくなるのである。
【0008】
【実施例】図1において、1はバリスタ素子で、その内
部にはNi製の内部電極2が複数設けられている。これ
らの内部電極には、交互にバリスタ素子の両端に引き出
され、その両端において、外部電極3と電気的に接続さ
れている。外部電極3は、二層構造よりなり、内層3a
はNi製、外層3bはAg製となっている。
【0009】また、内部電極2間、及びその外側に積層
されたセラミックシート1aは、SrTiO3を主成分
とし、副成分として、炭酸カルシウム、酸化チタン、五
酸化ニオブ、5酸化タンタル、炭酸マンガン、シリカ、
アルミナ、ケイ酸ナトリウムを含んでいる。
【0010】図2は、製造工程を示し、セラミックシー
ト1aは図2において(4)で示すごとく原料の混合、
仮焼、粉砕、スラリー化、シート成形によりつくられ
る。次に、このセラミックシート1aと、内部電極2と
を積層(5)し、それを切断(6)、脱バイ(7)、面
とり(8)する。
【0011】次に、外部電極3の内層3aを塗布(9)
し、1200℃〜1300℃で還元焼成(10)し、そ
の後外層3bを塗布(11)し、800℃〜850℃で
再酸化のための加熱(12)をする。次に、図1に示す
バリスタ素子を、図3に示すごとく反応促進剤13中に
埋没させ、この状態で700℃〜850℃で15〜30
分間、加熱する(図2の14)。なお、図3において1
5は白色系のアルミナ板、16はアルミナ製の受皿であ
る。
【0012】さて、この加熱によりバリスタ素子1に残
っていた未反応物質は、反応促進剤13として用いたS
iO2と反応し、その結果として浸入水分があったとし
てもイオン化しにくい物質となり、これにより浸入水分
によるバリスタ電圧の低下が防止できるものである。も
ちろん、この反応により生じた物質は、バリスタの他の
特性への悪影響は生じず、バリスタとして極めて特性の
優れたものが得られる。ここで、重要なことは、図3に
示すごとく個々のバリスタ素子1を、全て反応促進剤1
3中に埋没させておくことである。そのために、まずア
ルミナ板15上に所定の厚さで反応促進剤13をしきつ
め、その上にバリスタ素子1を隣接するものと接触しな
いように並べ、その状態で反応促進剤13を充分に覆い
かぶせる。この状態で加熱を行った後に、バリスタ素子
1表面と、外部電極3表面の反応促進剤13を取り除
く。この除去は、例えば容器内にSiCの玉石と純水と
バリスタ素子1とを入れて撹拌したり、エアーガンで複
数のバリスタ素子を容器内で揺動させたりして行う。そ
の後、外部電極3表面にNiメッキ、その上に半田メッ
キ(図2の17)する。図4は他の実施例を示し、この
実施例においては加熱(12)後のバリスタ素子1に、
((C25O)4Siを含浸させ、それを700℃〜8
50℃で加熱して未反応物質の反応を行わせるものであ
る。
【0013】
【発明の効果】以上のように本発明は、焼成後のバリス
タ素子を未反応物質の反応促進剤と接触させて加熱する
ものであり、以上の方法によれば、未反応物質は、反応
促進剤と反応することにより、例え浸入水分があったと
しても、イオン化しなくなるので、バリスタ電圧の低下
はおきなくなるのである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例のバリスタ素子を示す断面図
【図2】その製造工程を示す図
【図3】その製造工程を示す断面図
【図4】本発明の他の実施例の製造工程を示す断面図
【符号の説明】
1 バリスタ素子 2 内部電極 3 外部電極

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 バリスタ素子を半導体化させるために焼
    成し、この焼成後にバリスタ素子を、未反応物質の反応
    促進剤と接触させて加熱するバリスタの製造方法。
  2. 【請求項2】 焼成後のバリスタ素子を反応促進剤中に
    埋没させて加熱する請求項1に記載のバリスタの製造方
    法。
  3. 【請求項3】 反応促進剤として、SiO2を用いた請
    求項2に記載のバリスタの製造方法。
  4. 【請求項4】 焼成後のバリスタ素子に、反応促進剤を
    含浸させて加熱する請求項1に記載のバリスタの製造方
    法。
  5. 【請求項5】 反応促進剤として、Siを含有する液体
    を用いた請求項4に記載のバリスタの製造方法。
  6. 【請求項6】 液体として、(C25O)4Siを用い
    た請求項5に記載のバリスタの製造方法。
  7. 【請求項7】 半導体化のためのバリスタ素子の焼成後
    に、酸化のための加熱を行い、この加熱後にバリスタ素
    子を未反応物質の反応促進剤と接触させて加熱する請求
    項1に記載のバリスタの製造方法。
JP6153502A 1994-07-05 1994-07-05 バリスタの製造方法 Pending JPH0822907A (ja)

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