JPH0820493B2 - プリント基板の検査治具における精密位置決め機構 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は各種電気機器及び電子機
器等に用いられるプリント基板の検査治具における精密
位置決め機構に関する。

【０００２】

【従来の技術】周知の通りプリント基板の検査治具にお
ける位置決め機構は、図４に示す固定された一対の位置
決めピン２２、２３をピンベース１上に設け、この一対
の位置決めピン２２、２３をプリント基板５に設けた一
対の案内孔７、７にそれぞれ嵌入して位置決めし、プリ
ント基板５の検査を行なっていた。

【０００３】前記従来のピンベース１に設けられた一対
の位置決めピン２２、２３は、単なるストレートな棒状
の形状であり、この一対の位置決めピン２２、２３は対
角線上に設けられて、プリント基板５を２点で嵌着し、
位置決めをする構成であった。すなわち、矩形のプリン
ト基板５の一方の隅部とその対角線上の他方の隅部の２
点でプリント基板５の位置決めをしている。

【０００４】プリント基板の検査治具は、図５に示す治
具本体２１の両側部にスライドカムからなるリンク機構
を設け、このリンク機構にピンベース保持体を上下動自
在に設け、この保持体を取り付けてなるピンベース１に
所望数のテストピンを設け、治具本体２１の上方に上押
え体９を起伏自在に設けてなるものである。プリント基
板５の検査に際しては、先ず、上押え体９を上方に揚起
して、前記ピンベース１の上方に被検査基板であるプリ
ント基板５を位置させた後、上押え体９を伏して該上押
え体９に設けたストッパー２４でプリント基板５を押
え、次いで治具本体２１の側部に設けたレバーを回動す
ることにより、リンク機構が作動してピンベース１を上
昇させ、プリント基板５の検査を行なうものである。検
査終了後は、レバーを回動してピンベース１を下降させ
ると同時に上押え体９を上方に揚起してプリント基板５
を取り出し、次の被検査基板であるプリント基板５をピ
ンベース１の上方に前記と同様の手順で位置させ、上記
動作を繰り返して検査作業が順次行なわれる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】各種電気機器及び電子
機器等に用いられるプリント基板の検査において、テス
トピンを立てる複数箇所は、直径約１ｍｍ程度の狭小な
ポイントであり、プリント基板の位置決めの精度が低い
と、このテストランドにテストピンを接触させることが
できず、検査不良となってしまう問題点が存した。また
プリント基板の検査時に基板のテストランドにテストピ
ンを立てる場合、このテストピンに対する荷重はピン１
本当り、１２５ｇ〜２５０ｇ程度かかり、仮にテストピ
ンが１０本設けられている場合には、最大２．５Ｋｇ加
重されることになり、プリント基板が反り返ることが多
く、正確にテストランドにテストピンを接触させること
ができず、検査不良となってしまう問題点が存した。

【０００６】ところでプリント基板等の平面体を固定的
に位置決めする場合、前後方向（Ｘ軸方向）、左右方向
（Ｙ軸方向）及び回転方向の３自由方向を規制しなけれ
ばならず、この規制点を２点に求めた場合、２点間の距
離が長いほど、回転方向を効果的に規制することができ
る。

【０００７】ところが、従来のプリント基板の位置決め
機構は、矩形のプリント基板の一方の隅部とその対角線
上の他方の隅部の２点で位置決めをし、前後方向、左右
方向及び回転方向の自由を規制しようとしているが、位
置決めピンは、単なるストレートな棒状の形状からな
り、しかもプリント基板の案内孔に嵌入し易くするため
に、該案内孔よりも径が細く形成されているため、いわ
ゆる遊嵌された状態であり、プリント基板と位置決めピ
ンとは固定されていない。このため、２点でプリント基
板の位置決めをする場合、どうしてもピンと案内孔とが
ガタついてしまい、前後方向、左右方向及び回転方向に
ずれやすく、位置決め誤差が大きくなってしまい、正確
に位置決めすることができない問題点が存した。この結
果、従来技術では３自由方向の正確な規制が不可能とな
って、テストピンを所望のテストランドに接触させるこ
とができず、検査不能となることが多かった。

【０００８】このため、プリント基板の前後方向、左右
方向及び回転方向の３自由方向を規制してプリント基板
の位置決め精度を高めると同時にプリント基板の反り返
りを防止して、プリント基板を常に安定位置で保持自在
とし、テストピンをテストランドに正確に接触させるこ
とのできるプリント基板の検査治具における精密位置決
め機構の開発が強く望まれていた。

【０００９】本発明は上記要請に応えるためになされた
ものであり、一方の位置決めピンでプリント基板の前後
方向及び左右方向の自由を規制してプリント基板を正確
に位置決めし、次いで時間差をおいて他方の位置決めピ
ンでプリント基板の回転方向の自由を規制してプリント
基板を正確に位置決めし、テストピンをテストランドに
正確に接触させることのできるプリント基板の検査治具
における精密位置決め機構を提供することを目的とす
る。

【００１０】また本発明は、ばねの作用で昇降自在とさ
れた位置決めピンを上下に設け、この上下の位置決めピ
ンでプリント基板を挟み込んで固定し、プリント基板に
設けた案内孔の求心性を高めて前後方向、左右方向及び
回転方向の３自由方向のずれを規制し、正確に位置決め
すると共にプリント基板の反り返りを防止して、プリン
ト基板を常に安定位置で保持自在とし、テストピンをテ
ストランドに正確に接触させることのできるプリント基
板の検査治具における精密位置決め機構を提供すること
を目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するためになされたものであり、以下に述べる手段を採
用する。本発明のプリント基板の検査治具における精密
位置決め機構は、プリント基板を検査するためのテスト
ピンを設けたピンベースを、上下動自在に設けてなる検
査治具において、プリント基板５に設けた、一対の案内
孔７ａ、７ｂに対応する位置に上下一対の位置決めピン
８ａ、８ｂ及び２ａ、２ｂを上押え体９又は上方のピン
ベース１０及び下方のピンベース１に昇降自在に設けて
前記一対の案内孔７ａ、７ｂを介して相互に嵌合自在と
し、この上方の一対の位置決めピン８ａ、８ｂの先端部
に設けた一対の嵌合凹部１１ａ、１１ｂ及び前記下方の
一対の位置決めピン２ａ、２ｂの先端下部に設けた一対
の位置決め部４ａ、４ｂでプリント基板５を挟み込んで
水平に固定自在とし、前記一対の嵌合凹部１１ａと１１
ｂの先端位置を水平位置ではなく互に若干上下に位置を
異ならせて設定し、前記下方の一対の位置決め部４ａと
４ｂの先端位置を水平位置ではなく互に若干上下に位置
を異ならせて設定し、相互に上下より嵌合する前記一対
の嵌合凹部１１ａ又は１１ｂと前記一対の位置決め部４
ａ又は４ｂの間隔を一方を狭くし、他方を広くして嵌合
時の時間差規制を自在とし、先の嵌合時にプリント基板
５の前後方向と左右方向の自由を規制し、後の嵌合時に
プリント基板５の回転方向の自由を規制し、プリント基
板５に設けた案内孔７の求心性を高めて、前記３自由方
向のずれを規制し、正確に位置決めすると共にプリント
基板５を常に安定位置で保持自在とし、テストピン６を
プリント基板５のテストランドに確実かつ正確に接触さ
せることを特徴とする。

【００１２】また、本発明のプリント基板の検査治具に
おける精密位置決め機構は、前記一対の位置決めピン２
ａ、２ｂの先端に挿入部３ａ、３ｂを設け、この挿入部
３ａ、３ｂをプリント基板５の対角線上の両隅部に設け
た案内孔７ａ、７ｂに嵌入自在とし、前記挿入部３ａ、
３ｂの下方に設けた位置決め部４ａ、４ｂをテーパー状
に形成し、この位置決め部４ａ、４ｂで前記案内孔７を
保持自在としたことを特徴とする。また、本発明のプリ
ント基板の検査治具における精密位置決め機構は、前記
嵌合凹部１１ａ、１１ｂと前記位置決め部４ａ、４ｂで
前記案内孔７ａ、７ｂを上下に挟み込み、位置決め自在
としたことを特徴とする。また、本発明のプリント基板
の検査治具における精密位置決め機構は、一対の下方の
位置決めピン２ａ、２ｂと一対の上方の位置決めピン８
ａ、８ｂに同じばね定数のスプリング１２又は同じばね
定数に近いスプリング１２を設け、嵌合された一対の上
下の位置決めピン８ａと２ａ及び８ｂと２ｂが、均等の
ばね圧力でプリント基板５を挟み込み、安定位置で保持
自在としたことを特徴とする。また、本発明のプリント
基板の検査治具における精密位置決め機構は、一対の下
方の位置決めピン２ａ、２ｂと一対の上方の位置決めピ
ン８ａ、８ｂに基板安定位置での上下のスプリングのば
ね圧力が等しいスプリング１２を設け、嵌合された一対
の上下の位置決めピン８ａと２ａ及び８ｂと２ｂが、均
等のばね圧力でプリント基板５を挟み込み、安定位置で
保持自在としたことを特徴とする。また、本発明のプリ
ント基板の検査治具における精密位置決め機構は、前記
位置決めピン２ａ、２ｂ及び８ａ、８ｂを案内体１４内
を昇降自在とし、前記位置決めピン２ａ、２ｂ及び８
ａ、８ｂの端部に係止用のスペーサ１５を着脱自在に設
けて、前記位置決めピン２ａ、２ｂ及び８ａ、８ｂの高
さ位置を調節自在としたことを特徴とする。また、本発
明のプリント基板の検査治具における精密位置決め機構
は、ピンベース１及び上押え体９又は上押え体９に設け
た上方のピンベース１０に複数の補助ピン１３を設け、
この補助ピン１３をスプリング１６で昇降自在とし、プ
リント基板５の位置決めに際し及び位置決め完了後にお
いて、プリント基板５を水平 状態に保持し、前記位置決
めピン２ａ、２ｂ及び８ａ、８ｂと共にプリント基板５
を安定位置で支持し、テストピン６の反力によく追従し
て、プリント基板５の反り返りを防止自在としたことを
特徴とする。

【００１３】

【作用】本発明は、上記構成を有することにより、プリ
ント基板５の精密位置決めを行なう場合、一対の下方の
位置決めピン２、すなわちピン２ａ、２ｂは、図３の２
点鎖線で示すように、前後方向、左右方向及び回転方向
の３自由方向の時間差規制をするために、それぞれ若干
高さを異ならせて設けられている。すなわち、ピン２ａ
は、基板５の前後方向と左右方向の自由を、先ず第１段
階で規制する役割を有しているため、その位置決め部４
ａの位置は、ピン２ｂの位置決め部４ｂの位置よりも若
干高い位置に設定されている。同様にピン２ｂは基板５
の回転方向の自由を、時間差をおいて第２段階で規制す
る役割を有しているため、その位置決め部４ｂの位置
は、ピン２ａの位置決め部４ａよりも若干低い位置に設
定されている。

【００１４】一方、一対の上方の位置決めピン８におい
ても、前記下方の位置決めピン２と嵌着して、基板５の
３自由方向を規制する役割を有しているため、図３の１
点鎖線に示すようにピン８ａ、８ｂは、それぞれ若干高
さを異ならせて設けられている。すなわち、ピン８ａ
は、基板５の前後方向と左右方向の自由を、先ず第１段
階で規制する役割を有しているため、その嵌合凹部１１
ａの位置は、ピン８ｂの嵌合凹部８ｂの位置よりも若干
低い位置に設定されている。同様にピン８ｂは基板５の
回転方向の自由を時間差をおいて第２段階で規制する役
割を有しているため、その嵌合凹部８ｂの位置は、ピン
８ａの嵌合凹部８ａよりも若干高い位置に設定されてい
る。

【００１５】上記上下の位置決めピン２、８の状態にお
いて、一対の位置決めピン２ａ、２ｂに一対の案内孔７
ａ、７ｂを嵌入すると、プリント基板５は図３のように
複数の補助ピン１３に支持されて、水平状態を保持して
いると同時にピン２ａ、２ｂの挿入部３ａ、３ｂに遊嵌
された状態となっている。

【００１６】次いで、上押え体９を下降させて閉じる
と、上下の位置決めピン８ａ、８ｂ及び２ａ、２ｂは、
３自由方向の時間差規制をするために、それぞれ高さを
異ならせてあるため、図３のように一方のピン２ａと８
ａは、他方のピン２ｂと８ｂの間隔よりも短い間隔とさ
れ、上下のピンは、それぞれ間隔を異ならせて浮いた状
態、すなわち非接触状態となっている。

【００１７】この状態で下方のピンベース１を上昇させ
ると、基板５及び下方のピン２ａ、２ｂが同時に上昇
し、下方のピン２ａの挿入部３が、上方のピン８ａの嵌
合凹部１１ａと嵌合すると同時に、案内孔７ａは下方の
ピン２ａの位置決め部４ａのテーパー状の肩部全体に当
接して、ピン２ａとピン８ａとで挟み込まれた状態で固
定され、プリント基板５の前後方向と左右方向の自由が
規制され、正確な位置決めが行なわれる。このように、
ピン２ａとピン８ａに設けたスプリング１２のばね圧力
で基板５を挟み込んで固定することにより、ピン２ａの
テーパー状の位置決め部４ａのクサビ効果が働いて、よ
り強い求心性を案内孔７ａに発生させ、精密位置決めを
行なうことができる。この状態において、他方のピン２
ｂと８ｂとは、依然として浮いた状態、すなわち非接触
状態を保持している。

【００１８】更にピンベース１を上昇させると、下方の
ピン２ｂの挿入部３ｂが、上方のピン８ｂの嵌合凹部１
１ｂと嵌合すると同時に、案内孔７ｂは下方のピン２ｂ
の位置決め部４ｂのテーパー状の肩部に当接して、ピン
２ｂとピン８ｂとで挟み込まれた状態で固定され、プリ
ント基板５の回転方向の自由が規制され、正確な位置決
めが完了する。このように、ピン２ｂとピン８ｂに設け
たスプリング１２のばね圧力で基板５を挟み込んで固定
することにより、ピン２ｂのテーパー状の位置決め部４
ｂのクサビ効果が働いて、より強い求心性を案内孔７ｂ
に発生させ、精密位置決めを行なうことができる。

【００１９】この場合プリント基板５の一対の案内孔７
ａ、７ｂには、常に加工誤差があるため、前記他方の案
内孔７ｂは、位置決め部４ｂのテーパー状の肩部全体に
当接しないことがあるが、一方の位置決め部４ａにおい
て、最初に前後方向と左右方向の自由を規制して、正確
な位置決めが行なわれているため、ここでは回転方向だ
けの自由を規制すればよく、肩部全体に当接しない場合
においても精密位置決め上の支障はない。

【００２０】前記の状態において、一方の上下のピン８
ａと２ａとは、既に嵌合して基板５を相互に挟み込んで
固定しているが、該ピン８ａと２ａとはスプリング１２
の作用で昇降自在とされているため、更なるピンベース
１の上昇に伴う圧縮作用を支障なく受け入れることがで
き、その後の一連の動作の妨げとなることはない。基板
５の精密位置決めが完了した後、更にピンベース１を上
昇させると、図２に示すように上下のテストピン６、６
を、基板５のテストランドに正確に接触させることがで
きる。

【００２１】前記図２のテストピンによる検査時の状態
において、プリント基板５は常に安定位置で保持自在と
されている。すなわち、一対の嵌合された上下の位置決
めピン８ａと２ａ及び８ｂと２ｂには、同じばね定数の
スプリング１２又は同じばね定数に近いスプリング１２
が設けられているため、一対の嵌合された上下の位置決
めピン８ａと２ａ及び８ｂと２ｂは、常時均等のばね圧
力でプリント基板５を上下から挟み込んでおり、基板５
は上下何れの方向においても自由に昇降自在とされてい
る。このため、プリント基板５は、上下のテストピン６
の接触時の反力によく追従し、基板５の反りが防止され
ると同時に常に安定位置を保持することができ、テスト
ピン６を基板５のテストランドに安定的かつ正確に接触
させることができるものである。

【００２２】なお、スプリング１２のばね定数におい
て、両面を検査する基板の場合には、上下のテストピン
の検査時の圧縮比が異なるものに対応する必要があり、
また上下のテストピンの接触時の反力によく追従して基
板の反りを防止し、基板を安定位置で保持する必要があ
るため、同じばね定数のスプリング又は同じばね定数に
近いスプリングを用いることが望ましく、一方、片面を
検査する基板においては、テストピンが片面だけである
ため、基板安定位置での上下のスプリングのばね圧力が
等しいものであればよい。

【００２３】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図１はプリント基板の位置決め前の状態を示す正面
図、図２はプリント基板を位置決めした状態を示す正面
図、図３は上下の位置決めピンの関係を示す正面図、図
４は従来の位置決め機構を示す正面図、図５はプリント
基板の検査治具を示す側面図である。

【００２４】図１において、プリント基板５を検査する
ためのテストピン６を、複数本植設してなる上下動自在
の下方のピンベース１には、一対の位置決めピン２ａ、
２ｂが対角線上の両隅部に設けられている。この一対の
位置決めピン２ａ、２ｂは、プリント基板５の対角線上
の両隅部に設けた一対の案内孔７ａ、７ｂに対応する位
置に設けられており、該一対の案内孔７ａ、７ｂに嵌入
されてプリント基板５の検査時の位置決めを行なう。前
記ピン２ａ、２ｂには、スプリング１２が設けられてお
り、ピンベース１に設けた案内体１４内を昇降自在とさ
れており、このピン２ａ、２ｂの端部には、係止用のス
ペーサ１５が設けられている。このピン２ａ、２ｂの高
さ位置を調節する場合、このスペーサ１５を適宜交換す
ることにより、容易に行なうことができる。

【００２５】前記一対の位置決めピン２ａ、２ｂの上端
の挿入部３ａ、３ｂは、ストレートな棒状で、案内孔７
ａ、７ｂよりも径を小さく形成されていると共にその先
端部には、テーパー部が設けられて、プリント基板５の
一対の案内孔７ａ、７ｂに容易に嵌入自在とされてい
る。前記挿入部３ａ、３ｂの下方に設けた位置決め部４
ａ、４ｂは、テーパー状に形成されて、前記案内孔７
ａ、７ｂを挟み込んで、位置決めを行なう。この位置決
め部４ａ、４ｂが、テーパー状に形成されていることに
より、上方のピン８ａ、８ｂの嵌合凹部１１ａ、１１ｂ
との嵌合時に、案内孔７ａ、７ｂをこのテーパー状の肩
部に当接して、ピン２ａと８ａ及びピン２ｂと８ｂとで
挟み込まれた状態で固定され、プリント基板５の前後方
向と左右方向及び回転方向の自由を規制し、正確な位置
決めが行なわれる。

【００２６】前記一対の下方の位置決めピン２ａ、２ｂ
は、図３の２点鎖線で示すように３自由方向の時間差規
制をするために、スペーサ１５を用いてそれぞれ高さを
異ならせて設けられている。すなわち、ピン２ａは、先
ず第１段階で基板５の前後方向と左右方向の自由を規制
する役割を有しているため、その位置決め部４ａの位置
は、ピン２ｂの位置決め部４ｂの位置よりも若干高い位
置に設定されている。同様にピン２ｂは基板５の回転方
向の自由を時間差をおいて第２段階で規制する役割を有
しているため、その位置決め部４ｂの位置は、ピン２ａ
の位置決め部４ａよりも若干低い位置に設定されてい
る。この高さ位置の設定については、スペーサ１５を適
宜交換することにより行なわれる。なお、前記ピン２
ａ、２ｂの高さ位置を相互に交換することにより、前記
とは逆に、ピン２ｂに第１段階の前後方向と左右方向の
自由を規制する役割を課することができ、一方、ピン２
ａに第２段階の回転方向の自由を規制する役割を課する
ことができる。

【００２７】前記一対の下方の位置決めピン２ａ、２ｂ
の設置位置に対応して、一対の上方の位置決めピン８
ａ、８ｂが上押え体９又は上押え体９に設けた上方のピ
ンベース１０に昇降自在に設けられており、この一対の
上方の位置決めピン８ａ、８ｂの先端部には、嵌合凹部
１１ａ、１１ｂを設けて下方の位置決めピン２ａ、２ｂ
の先端部３ａ、３ｂを嵌合自在としている。

【００２８】前記ピン８ａ、８ｂには、スプリング１２
が設けられており、上押え体９又は上押え体９に設けた
上方のピンベース１０に設けた案内体１４内を昇降自在
とされており、このピン８ａ、８ｂの端部には、係止用
のスペーサ１５が設けられている。このピン８ａ、８ｂ
の高さ位置を調節する場合、このスペーサ１５を適宜交
換することにより、容易に行なうことができる。

【００２９】前記位置決めピン８ａ、８ｂは、前記下方
の位置決めピン２ａ、２ｂと嵌着して、基板５の前後方
向、左右方向及び回転方向の３自由方向の時間差規制を
する役割を有しているため、スペーサ１５を用いてそれ
ぞれ高さを異ならせて設けられている。すなわち、図３
の１点鎖線に示すようにピン８ａは、基板５の前後方向
と左右方向の自由を先ず第１段階で規制する役割を有し
ているため、その嵌合凹部１１ａの位置は、ピン８ｂの
嵌合凹部１１ｂの位置よりも若干低い位置に設定されて
いる。同様にピン８ｂは基板５の回転方向の自由を時間
差をおいて第２段階で規制する役割を有しているため、
その嵌合凹部１１ｂの位置は、ピン８ａの嵌合凹部１１
ａよりも若干高い位置に設定されている。この高さ位置
の設定については、スペーサ１５を適宜交換することに
より行なわれる。なお、前記ピン８ａ、８ｂの高さ位置
を相互に交換することにより、前記とは逆に、ピン８ｂ
に第１段階の前後方向と左右方向の自由を規制する役割
を課することができ、一方、ピン８ａに第２段階の回転
方向の自由を規制する役割を課することができる。

【００３０】前記一対の下方の位置決めピン２ａ、２ｂ
は、スプリング１２の作用で下方のピンベース１に昇降
自在に設けられており、一対の上方の位置決めピン８
ａ、８ｂは、スプリング１２の作用で上押え体９又は上
押え体９に設けた上方のピンベース１０に昇降自在に設
けられており、この一対の上下の位置決めピン２ａ、２
ｂ及び８ａ、８ｂを相互に嵌合することにより、プリン
ト基板５は均等のばね圧力で挟み込まれる。

【００３１】一対の上方の位置決めピン８ａ、８ｂを上
押え体９に設けるのは、テストピン６が片面しか設けら
れていない検査治具の場合であり、一方、上方のピンベ
ース１０に設けるのは、テストピン６が両面に設けられ
ている検査治具の場合である。一対の上下の位置決めピ
ン２ａ、２ｂと８ａ、８ｂには、同じばね定数のスプリ
ング１２が設けられているため、一対の下方の位置決め
ピン２ａ、２ｂと一対の上方の位置決めピン８ａ、８ｂ
は、均等のばね圧力でプリント基板５を上下から挟み込
み自在としている。このため、テストピン６による検査
時において、複数のテストピン６の圧縮に伴う上下方向
又は下方向からの強い反力が、基板５に伝達されても、
その反力によく追従して自由に上下に動くことができ、
従来のように基板５が反り返るおそれは全くなく、プリ
ント基板５は、所定の位置で安定的かつ正確に保持さ
れ、テストピン６を所定のテストランドに確実かつ正確
に接触させることができる。

【００３２】なお、スプリング１２のばね定数におい
て、両面を検査する基板の場合には、上下のテストピン
６の検査時の圧縮比が異なるものに対応する必要があ
り、また上下のテストピンの接触時の反力によく追従
し、基板の反り返りを防止して基板を安定位置で保持す
る必要があるため、同じばね定数のスプリング又は同じ
ばね定数に近いスプリングを用いることが望ましく、一
方、片面を検査する基板においては、テストピンが片面
だけであるため、基板安定位置での上下のスプリングの
ばね圧力が等しいものであればよい。

【００３３】図中１３はピンベース１に設けた補助ピン
であり、この補助ピン１３は、スプリング１６の作用で
昇降自在とされている。基板５の位置決めに際して、ピ
ン２ａ、２ｂを基板５の案内孔７ａ、７ｂに嵌入した場
合、基板５を図３のように複数の補助ピン１３で支持し
て、水平状態を保持している。この補助ピン１３は、基
板５の位置決め完了後においても位置決めピン２、８と
共に基板５を安定位置で支持し、テストピン６の反力に
よく追従して、基板５の反り返りを防止している。この
補助ピン１３は上押え体９又は上押え体９に設けた上方
のピンベース１０にも昇降自在に設けられており、基板
５を安定位置で支持している。

【００３４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明ではプリン
ト基板の前後方向、左右方向及び回転方向の３自由方向
を確実かつ正確に規制して、プリント基板の位置決め精
度を高めると同時にプリント基板の反り返りを防止し
て、プリント基板を常に安定位置で保持することがで
き、テストピンをテストランドに正確に接触させること
のできるプリント基板の検査治具における精密位置決め
機構である。

【００３５】また本発明は一方の位置決めピンでプリン
ト基板の前後方向及び左右方向の自由を先ず規制し、次
いで時間差をおいて他方の位置決めピンでプリント基板
の回転方向の自由を規制してプリント基板を正確に位置
決めし、テストピンをテストランドに正確に接触させる
ことができるものである。

【００３６】更に本発明は、ばねの作用で昇降自在とさ
れた位置決めピンを上下に設け、この上下の位置決めピ
ンでプリント基板を挟み込んで固定し、プリント基板に
設けた案内孔の求心性を高めて前後方向、左右方向及び
回転方向の３自由方向のずれを規制し、正確に位置決め
すると共にプリント基板の反り返りを防止して、プリン
ト基板を常に安定位置で保持自在とし、テストピンをテ
ストランドに正確に接触させることができるものであ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の精密位置決め機構を示す正面図であ
る。

【図２】本発明の精密位置決め機構を示す正面図であ
る。

【図３】本発明の精密位置決め機構を示す正面図であ
る。

【図４】従来の位置決め機構を示す正面図である。

【図５】プリント基板の検査治具を示す側面図である。

【符号の説明】

１、１０ ピンベース ２、８ 位置決めピン ３ 挿入部 ４ 位置決め部 ５ プリント基板 ６ テストピン ７ 案内孔 ９ 上押え体 １１ 嵌合凹部 １２ スプリング

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント基板を検査するためのテストピ
   ンを設けたピンベースを、上下動自在に設けてなる検査
   治具において、ブリント基板（５）に設けた、一対の案
   内孔（７ａ）、（７ｂ）に対応する位置に上下一対の位
   置決めピン（８ａ）、（８ｂ）及び（２ａ）、（２ｂ）
   を上押え体（９）又は上方のピンベース（１０）及び下
   方のピンベース（１）に昇降自在に設けて前記一対の案
   内孔（７ａ）、（７ｂ）を介して相互に嵌合自在とし、
   この上方の一対の位置決めピン（８ａ）、（８ｂ）の先
   端部に設けた一対の嵌合凹部（１１ａ）、（１１ｂ）及
   び前記下方の一対の位置決めピン（２ａ）、（２ｂ）の
   先端下部に設けた一対の位置決め部（４ａ）、（４ｂ）
   でプリント基板（５）を挟み込んで水平に固定自在と
   し、前記一対の嵌合凹部（１１ａ）と（１１ｂ）の先端
   位置を水平位置ではなく互に若干上下に位置を異ならせ
   て設定し、前記下方の一対の位置決め部（４ａ）と（４
   ｂ）の先端位置を水平位置ではなく互に若干上下に位置
   を異ならせて設定し、相互に上下より嵌合する前記一対
   の嵌合凹部（１１ａ）又は（１１ｂ）と前記一対の位置
   決め部（４ａ）又は（４ｂ）の間隔を一方を狭くし、他
   方を広くして嵌合時の時間差規制を自在とし、先の嵌合
   時にプリント基板（５）の前後方向と左右方向の自由を
   規制し、後の嵌合時にプリント基板（５）の回転方向の
   自由を規制し、プリント基板（５）に設けた案内孔
   （７）の求心性を高めて、前記３自由方向のずれを規制
   し、正確に位置決めすると共にプリント基板（５）を常
   に安定位置で保持自在とし、テストピン（６）をプリン
   ト基板（５）のテストランドに確実かつ正確に接触させ
   ることを特徴とするプリント基板の検査治具における精
   密位置決め機構。
2. 【請求項２】 前記一対の位置決めピン（２ａ）、（２
   ｂ）の先端に挿入部（３ａ）、（３ｂ）を設け、この挿
   入部（３ａ）、（３ｂ）をプリント基板（５）の対角線
   上の両隅部に設けた案内孔（７ａ）、（７ｂ）に嵌入自
   在とし、前記挿入部（３ａ）、（３ｂ）の下方に設けた
   位置決め部（４ａ）、（４ｂ）をテーパー状に形成し、
   この位置決め部（４ａ）、（４ｂ）で前記案内孔（７）
   を保持自在としたことを特徴とする請求項１記載のプリ
   ント基板の検査治具における精密位置決め機構。
3. 【請求項３】 前記嵌合凹部（１１ａ）、（１１ｂ）と
   前記位置決め部（４ａ）、（４ｂ）で前記案内孔（７
   ａ）、（７ｂ）を上下に挟み込み、位置決め自在とした
   ことを特徴とする請求項１又は２記載のプリント基板の
   検査治具における精密位置決め機構。
4. 【請求項４】 一対の下方の位置決めピン（２ａ）、
   （２ｂ）と一対の上方の位置決めピン（８ａ）、（８
   ｂ）に同じばね定数のスプリング（１２）又は同じばね
   定数に近いスプリング（１２）を設け、嵌合された一対
   の上下の位置決めピン（８ａ）と（２ａ）及び（８ｂ）
   と（２ｂ）が、均等のばね圧力でプリント基板（５）を
   挟み込み、安定位置で保持自在としたことを特徴とする
   請求項１、２又は３記載のプリント基板の検査治具にお
   ける精密位置決め機構。
5. 【請求項５】 一対の下方の位置決めピン（２ａ）、
   （２ｂ）と一対の上方の位置決めピン（８ａ）、（８
   ｂ）に基板安定位置での上下のスプリングのばね圧力が
   等しいスプリング（１２）を設け、嵌合された一対の上
   下の位置決めピン（８ａ）と（２ａ）及び（８ｂ）と
   （２ｂ）が、均等のばね圧力でプリント基板（５）を挟
   み込み、安定位置で保持自在としたことを特徴とする請
   求項１、２又は３記載のプリント基板の検査治具におけ
   る精密位置決め機構。
6. 【請求項６】 前記位置決めピン（２ａ）、（２ｂ）及
   び（８ａ）、（８ｂ）を案内体（１４）内を昇降自在と
   し、前記位置決めピン（２ａ）、（２ｂ）及び（８
   ａ）、（８ｂ）の端部に係止用のスペーサ（１５）を着
   脱自在に設けて、前記位置決めピン（２ａ）、（２ｂ）
   及び（８ａ）、（８ｂ）の高さ位置を調節自在としたこ
   とを特徴とする請求項１記載のプリント基板の検査治具
   における精密位置決め機構。
7. 【請求項７】 ピンベース（１）及び上押え体（９）又
   は上押え体（９）に設けた上方のピンベース（１０）に
   複数の補助ピン（１３）を設け、この補助ピン（１３）
   をスプリング（１６）で昇降自在とし、プリント基板
   （５）の位置決めに際し及び位置決め完了後において、
   プリント基板（５）を水平状態に保持し、前記位置決め
   ピン（２ａ）、（２ｂ）及び（８ａ）、（８ｂ）と共に
   プリント基板（５）を安定位置で支持し、テストピン
   （６）の反力によく追従して、プリント基板（５）の反
   り返りを防止自在としたことを特徴とする請求項１記載
   のプリント基板の検査治具における精密位置決め機構。
8. 【請求項８】 一対の下方の位置決めピン（２ａ）、
   （２ｂ）と一対の上方の位置決めピン（８ａ）、（８
   ｂ）に基板安定位置での上下のスプリングのばね圧力が
   等しいスプリング（１２）を設け、嵌合された一対の上
   下の位置決めピン（８ａ）と（２ａ）及び（８ｂ）と
   （２ｂ）が、均等のばね圧力でプリント基板（５）を挟
   み込み、安定位置で保持自在としたことを特徴とする請
   求項３記載のプリント基板の検査治具における精密位置
   決め機構。