JPH08195037A - 光ディスク及び記録情報再生装置の評価装置 - Google Patents
光ディスク及び記録情報再生装置の評価装置Info
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- JPH08195037A JPH08195037A JP765195A JP765195A JPH08195037A JP H08195037 A JPH08195037 A JP H08195037A JP 765195 A JP765195 A JP 765195A JP 765195 A JP765195 A JP 765195A JP H08195037 A JPH08195037 A JP H08195037A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ディスクに記録情報が高密度記録されてい
る場合においても、かかる光ディスク及び記録情報再生
装置に対して、ピット形状の評価及び読取信号のＳ／Ｎ
の評価を精度良く行うことが出来る評価装置を提供する
ことを目的とする。 【構成】 光ディスクから読み取られた読取信号をＡ／
Ｄ変換して得られたサンプル値と、かかるサンプル値を
ビタビ復号して得られた復号２値信号に基づいて生成し
た理想サンプル値との誤差に基づいて光ディスク及び記
録情報再生装置の評価を行うための評価信号を得る。
る場合においても、かかる光ディスク及び記録情報再生
装置に対して、ピット形状の評価及び読取信号のＳ／Ｎ
の評価を精度良く行うことが出来る評価装置を提供する
ことを目的とする。 【構成】 光ディスクから読み取られた読取信号をＡ／
Ｄ変換して得られたサンプル値と、かかるサンプル値を
ビタビ復号して得られた復号２値信号に基づいて生成し
た理想サンプル値との誤差に基づいて光ディスク及び記
録情報再生装置の評価を行うための評価信号を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ディジタルデータが記
録されている光ディスクから記録情報の再生を行う記録
情報再生装置及びこの光ディスク各々を評価するための
評価装置に関する。
録されている光ディスクから記録情報の再生を行う記録
情報再生装置及びこの光ディスク各々を評価するための
評価装置に関する。
【０００２】
【背景技術】図１は、かかる光ディスクを含んだ記録情
報再生装置の概略構成を示す図である。かかる図１にお
いて、光ピックアップ１は、スピンドルモータ２によっ
て回転駆動される光ディスク３に光ビームを照射する。
更に、光ピックアップ１は、かかる光ディスク３からの
反射光を光電変換して読取信号ｐを得てこれを２値化回
路４に供給する。２値化回路４は、かかる読取信号ｐの
レベルを所定閾値レベルと比較することにより２値のパ
ルス信号ｓを得て、サンプリング回路５に供給する。サ
ンプリング回路５は、かかるパルス信号ｓを所定クロッ
クタイミングにてサンプリングしてサンプルデータを得
て、これをデータ処理回路６に供給する。データ処理回
路６は、かかるサンプルデータの系列に対して、伝送路
復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、これを再生
ディジタルデータとして出力する。
報再生装置の概略構成を示す図である。かかる図１にお
いて、光ピックアップ１は、スピンドルモータ２によっ
て回転駆動される光ディスク３に光ビームを照射する。
更に、光ピックアップ１は、かかる光ディスク３からの
反射光を光電変換して読取信号ｐを得てこれを２値化回
路４に供給する。２値化回路４は、かかる読取信号ｐの
レベルを所定閾値レベルと比較することにより２値のパ
ルス信号ｓを得て、サンプリング回路５に供給する。サ
ンプリング回路５は、かかるパルス信号ｓを所定クロッ
クタイミングにてサンプリングしてサンプルデータを得
て、これをデータ処理回路６に供給する。データ処理回
路６は、かかるサンプルデータの系列に対して、伝送路
復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、これを再生
ディジタルデータとして出力する。
【０００３】ここで、上記光ディスク３のピット形状の
評価、あるいは読取信号のＳ／Ｎの評価を行う手法の１
つとして、ジッタを測定することによりこれらの評価を
行う方法がある。すなわち、上記パルス信号ｓのエッジ
間隔を測定して、この測定したエッジ間隔の理想間隔に
対するバラツキをジッタとして求め、このジッタに基づ
いて上記評価を行うのである。
評価、あるいは読取信号のＳ／Ｎの評価を行う手法の１
つとして、ジッタを測定することによりこれらの評価を
行う方法がある。すなわち、上記パルス信号ｓのエッジ
間隔を測定して、この測定したエッジ間隔の理想間隔に
対するバラツキをジッタとして求め、このジッタに基づ
いて上記評価を行うのである。
【０００４】しかしながら、光ディスク３に記録情報が
高密度記録されている場合には、読取信号ｐの高周波成
分の信号レベルが小となってしまい、精度良く２値信号
化することが困難となる。従って、光ディスク３に記録
情報が高密度記録されている場合には、かかるジッタを
用いた評価方法では、ピット形状の評価、及び読取信号
のＳ／Ｎの評価を精度良く行うことが出来ないという問
題が発生した。
高密度記録されている場合には、読取信号ｐの高周波成
分の信号レベルが小となってしまい、精度良く２値信号
化することが困難となる。従って、光ディスク３に記録
情報が高密度記録されている場合には、かかるジッタを
用いた評価方法では、ピット形状の評価、及び読取信号
のＳ／Ｎの評価を精度良く行うことが出来ないという問
題が発生した。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる問題
を解決すべくなされたものであり、光ディスクに記録情
報が高密度記録されている場合においても、かかる光デ
ィスク及び記録情報再生装置に対して、ピット形状の評
価及び読取信号のＳ／Ｎの評価を精度良く行うことが出
来る評価装置を提供することを目的とする。
を解決すべくなされたものであり、光ディスクに記録情
報が高密度記録されている場合においても、かかる光デ
ィスク及び記録情報再生装置に対して、ピット形状の評
価及び読取信号のＳ／Ｎの評価を精度良く行うことが出
来る評価装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の第１の特徴によ
る光ディスク及び記録情報再生装置の評価装置は、ディ
ジタルデータが記録されている光ディスクから読み取ら
れた読取信号に基づいて記録情報の再生を行う記録情報
再生装置及び前記光ディスクの評価装置であって、前記
読取信号を順次サンプリングしてサンプル値に変換する
Ａ／Ｄ変換器と、前記サンプル値に基づいてビタビ復号
を行って復号信号を得るビタビ復号器と、前記復号信号
を前記サンプル値と同一形態に変換してこれを理想サン
プル値として得る手段と、前記サンプル値と前記理想サ
ンプル値との誤差値を求めてこれを前記光ディスク及び
前記記録情報再生装置を評価するための評価信号として
得る誤差演算手段とを有する。
る光ディスク及び記録情報再生装置の評価装置は、ディ
ジタルデータが記録されている光ディスクから読み取ら
れた読取信号に基づいて記録情報の再生を行う記録情報
再生装置及び前記光ディスクの評価装置であって、前記
読取信号を順次サンプリングしてサンプル値に変換する
Ａ／Ｄ変換器と、前記サンプル値に基づいてビタビ復号
を行って復号信号を得るビタビ復号器と、前記復号信号
を前記サンプル値と同一形態に変換してこれを理想サン
プル値として得る手段と、前記サンプル値と前記理想サ
ンプル値との誤差値を求めてこれを前記光ディスク及び
前記記録情報再生装置を評価するための評価信号として
得る誤差演算手段とを有する。
【０００７】本発明の第２の特徴による光ディスク及び
記録情報再生装置の評価装置は、ディジタルデータが記
録されている光ディスクから読み取られた読取信号に基
づいて記録情報の再生を行う記録情報再生装置及び前記
光ディスクの評価装置であって、前記読取信号を順次サ
ンプリングしてサンプル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、
前記サンプル値と複数の予測サンプル値各々との誤差値
を前記サンプリングのタイミング毎に求めてこの誤差値
各々に対応したブランチメトリックを得るブランチメト
リック演算手段と、前記サンプリングタイミング毎に前
記ブランチメトリックの累算加算値を逐次求めてこれを
パスメトリックとするパスメトリック演算手段と、前記
パスメトリックの値が所定しきい値より大となる度に前
記パスメトリックの値から前記所定しきい値を減算する
と共に正規化信号を出力する正規化手段と、単位時間あ
たりに供給される前記正規化信号の数をカウントしてこ
のカウント値を前記光ディスク及び前記記録情報再生装
置を評価するための評価信号として得る手段とを有す
る。
記録情報再生装置の評価装置は、ディジタルデータが記
録されている光ディスクから読み取られた読取信号に基
づいて記録情報の再生を行う記録情報再生装置及び前記
光ディスクの評価装置であって、前記読取信号を順次サ
ンプリングしてサンプル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、
前記サンプル値と複数の予測サンプル値各々との誤差値
を前記サンプリングのタイミング毎に求めてこの誤差値
各々に対応したブランチメトリックを得るブランチメト
リック演算手段と、前記サンプリングタイミング毎に前
記ブランチメトリックの累算加算値を逐次求めてこれを
パスメトリックとするパスメトリック演算手段と、前記
パスメトリックの値が所定しきい値より大となる度に前
記パスメトリックの値から前記所定しきい値を減算する
と共に正規化信号を出力する正規化手段と、単位時間あ
たりに供給される前記正規化信号の数をカウントしてこ
のカウント値を前記光ディスク及び前記記録情報再生装
置を評価するための評価信号として得る手段とを有す
る。
【０００８】
【作用】本発明の第１の特徴による光ディスク及び記録
情報再生装置の評価装置は、光ディスクから読み取られ
た読取信号をＡ／Ｄ変換して得られたサンプル値と、か
かるサンプル値をビタビ復号して得られた復号２値信号
に基づいて生成した理想サンプル値との誤差に基づいて
光ディスク及び記録情報再生装置の評価を行うための評
価信号を得る。
情報再生装置の評価装置は、光ディスクから読み取られ
た読取信号をＡ／Ｄ変換して得られたサンプル値と、か
かるサンプル値をビタビ復号して得られた復号２値信号
に基づいて生成した理想サンプル値との誤差に基づいて
光ディスク及び記録情報再生装置の評価を行うための評
価信号を得る。
【０００９】本発明の第２の特徴による光ディスク及び
記録情報再生装置の評価装置は、光ディスクから読み取
られた読取信号をＡ／Ｄ変換してサンプル値を得て、こ
のサンプル値とビタビ復号における予測サンプル値との
２乗誤差の累算加算値が所定しきい値を越える度に実施
される正規化動作の発生頻度に基づいて光ディスク及び
記録情報再生装置の評価を行うための評価信号を得る。
記録情報再生装置の評価装置は、光ディスクから読み取
られた読取信号をＡ／Ｄ変換してサンプル値を得て、こ
のサンプル値とビタビ復号における予測サンプル値との
２乗誤差の累算加算値が所定しきい値を越える度に実施
される正規化動作の発生頻度に基づいて光ディスク及び
記録情報再生装置の評価を行うための評価信号を得る。
【００１０】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。図
２は、本発明の第１の特徴である評価装置２０を用い
て、記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する
際の構成を示す図である。かかる図２において、記録情
報再生装置１０における光ピックアップ１は、スピンド
ルモータ２によって回転駆動される光ディスク３に光ビ
ームを照射する。更に、光ピックアップ１は、かかる光
ディスク３からの反射光を光電変換して読取信号ｐを得
てこれをＡ／Ｄ変換器１１及び２１各々に供給する。記
録情報再生装置１０におけるＡ／Ｄ変換器１１は、読取
信号ｐをサンプリングして得たサンプル値をビタビ復号
器１２に供給する。ビタビ復号器１２は、順次供給され
てくるサンプル値の系列に基づいてビタビ復号を行って
復号２値信号を得て、これをデータ処理回路６に供給す
る。データ処理回路６は、かかる復号２値信号に対し
て、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、
これを再生ディジタルデータとして出力する。
２は、本発明の第１の特徴である評価装置２０を用い
て、記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する
際の構成を示す図である。かかる図２において、記録情
報再生装置１０における光ピックアップ１は、スピンド
ルモータ２によって回転駆動される光ディスク３に光ビ
ームを照射する。更に、光ピックアップ１は、かかる光
ディスク３からの反射光を光電変換して読取信号ｐを得
てこれをＡ／Ｄ変換器１１及び２１各々に供給する。記
録情報再生装置１０におけるＡ／Ｄ変換器１１は、読取
信号ｐをサンプリングして得たサンプル値をビタビ復号
器１２に供給する。ビタビ復号器１２は、順次供給され
てくるサンプル値の系列に基づいてビタビ復号を行って
復号２値信号を得て、これをデータ処理回路６に供給す
る。データ処理回路６は、かかる復号２値信号に対し
て、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、
これを再生ディジタルデータとして出力する。
【００１１】評価装置２０におけるＡ／Ｄ変換器２１
は、上記光ピックアップ１から供給された読取信号ｐを
所定サンプルタイミングにてサンプリングし、これを所
定ビット数からなるディジタルのサンプル値に変換して
ビタビ（Viterbi）復号器２２及び遅延回路２３に供給
する。図３は、かかるビタビ復号器２２の内部構成の一
例を示す図である。
は、上記光ピックアップ１から供給された読取信号ｐを
所定サンプルタイミングにてサンプリングし、これを所
定ビット数からなるディジタルのサンプル値に変換して
ビタビ（Viterbi）復号器２２及び遅延回路２３に供給
する。図３は、かかるビタビ復号器２２の内部構成の一
例を示す図である。
【００１２】図３において、ブランチメトリック演算回
路２２１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から順次供給されて
くるサンプル値と、予め設定されている複数の予測サン
プル値各々との２乗誤差、すなわち｛［サンプル値］−
［予測サンプル値］｝2を夫々求め、これらをブランチ
メトリック信号としてパスメトリック演算回路２２２に
供給する。
路２２１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から順次供給されて
くるサンプル値と、予め設定されている複数の予測サン
プル値各々との２乗誤差、すなわち｛［サンプル値］−
［予測サンプル値］｝2を夫々求め、これらをブランチ
メトリック信号としてパスメトリック演算回路２２２に
供給する。
【００１３】ここで、かかるビタビ復号器２２に上述の
読取信号ｐが供給されるまでの伝送路系をＰＲ（１、
１）パーシャルレスポンス伝送系とすると、時点ｋにお
ける受信サンプル値Ｙ(k)は、時点ｋにおける送信サン
プル値Ｘ(k)と一時点前の送信サンプル値Ｘ(k-1)とによ
って予測出来る。すなわち、かかるＸ(k)とＸ(k-1)が
「０、０」の時にはＹ(k)は「０」となり、Ｘ(k)とＸ(k
-1)が「０、１」もしくは「１、０」の時にはＹ(k)は
「１」となり、Ｘ(k)とＸ(k-1)が「１、１」の時にはＹ
(k)は「２」となるのである。つまり、ビタビ復号器に
供給される受信サンプル値Ｙ(k)は、２つの送信サンプ
ル値Ｘ(k)とＸ(k-1)とに応じて４通りの予測が出来るの
である。よって、この際ブランチメトリック演算回路２
２１は、これら４つの予測値各々に対応した４つのブラ
ンチメトリック信号λ00〜λ11をパスメトリック演算回
路２２２に供給するのである。
読取信号ｐが供給されるまでの伝送路系をＰＲ（１、
１）パーシャルレスポンス伝送系とすると、時点ｋにお
ける受信サンプル値Ｙ(k)は、時点ｋにおける送信サン
プル値Ｘ(k)と一時点前の送信サンプル値Ｘ(k-1)とによ
って予測出来る。すなわち、かかるＸ(k)とＸ(k-1)が
「０、０」の時にはＹ(k)は「０」となり、Ｘ(k)とＸ(k
-1)が「０、１」もしくは「１、０」の時にはＹ(k)は
「１」となり、Ｘ(k)とＸ(k-1)が「１、１」の時にはＹ
(k)は「２」となるのである。つまり、ビタビ復号器に
供給される受信サンプル値Ｙ(k)は、２つの送信サンプ
ル値Ｘ(k)とＸ(k-1)とに応じて４通りの予測が出来るの
である。よって、この際ブランチメトリック演算回路２
２１は、これら４つの予測値各々に対応した４つのブラ
ンチメトリック信号λ00〜λ11をパスメトリック演算回
路２２２に供給するのである。
【００１４】図４は、かかるパスメトリック演算回路２
２２の内部構成の一例を示す図である。図４において、
上記ブランチメトリック演算回路２２１から供給された
ブランチメトリック信号λ00〜λ11の各々は、リミッタ
１１１〜１１４の夫々に供給される。リミッタ１１１〜
１１４の各々は、かかるブランチメトリック信号λ00〜
λ11各々の最大値を所定値に制限するためのリミッタで
ある。かかるリミッタ１１１〜１１４にて所定値に制限
されたブランチメトリック信号λ00〜λ11の各々は夫々
Ｄレジスタ１１５〜１１８に供給される。かかるＤレジ
スタ１１５〜１１８の各々は、リミッタ１１１〜１１４
夫々から供給されてくる信号をクロック信号のタイミン
グにて同期化してこれを加算器１２１〜１２４各々に供
給する。
２２の内部構成の一例を示す図である。図４において、
上記ブランチメトリック演算回路２２１から供給された
ブランチメトリック信号λ00〜λ11の各々は、リミッタ
１１１〜１１４の夫々に供給される。リミッタ１１１〜
１１４の各々は、かかるブランチメトリック信号λ00〜
λ11各々の最大値を所定値に制限するためのリミッタで
ある。かかるリミッタ１１１〜１１４にて所定値に制限
されたブランチメトリック信号λ00〜λ11の各々は夫々
Ｄレジスタ１１５〜１１８に供給される。かかるＤレジ
スタ１１５〜１１８の各々は、リミッタ１１１〜１１４
夫々から供給されてくる信号をクロック信号のタイミン
グにて同期化してこれを加算器１２１〜１２４各々に供
給する。
【００１５】加算器１２１は、Ｄレジスタ１１５から供
給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ00
と、このパスメトリック演算回路２２２にて最終的に得
られる最終パスメトリック値Ｌ0とを加算して得られた
加算値を比較器１２５及び選択回路１２７に夫々供給す
る。加算器１２２は、Ｄレジスタ１１６から供給された
最大値制限されたブランチメトリック信号λ01と、この
パスメトリック演算回路２２２にて最終的に得られる最
終パスメトリック値Ｌ1とを加算して得られた加算値を
比較器１２５及び選択回路１２７に夫々供給する。
給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ00
と、このパスメトリック演算回路２２２にて最終的に得
られる最終パスメトリック値Ｌ0とを加算して得られた
加算値を比較器１２５及び選択回路１２７に夫々供給す
る。加算器１２２は、Ｄレジスタ１１６から供給された
最大値制限されたブランチメトリック信号λ01と、この
パスメトリック演算回路２２２にて最終的に得られる最
終パスメトリック値Ｌ1とを加算して得られた加算値を
比較器１２５及び選択回路１２７に夫々供給する。
【００１６】加算器１２３は、Ｄレジスタ１１７から供
給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ10
と、上記最終パスメトリック値Ｌ0とを加算して得られ
た加算値を比較器１２６及び選択回路１２８に夫々供給
する。加算器１２４は、Ｄレジスタ１１８から供給され
た最大値制限されたブランチメトリック信号λ11と、上
記最終パスメトリック値Ｌ1とを加算して得られた加算
値を比較器１２６及び選択回路１２８に夫々供給する。
かかる加算器１２１〜１２４の各々にて上述した如き累
算加算が実行されるのである。
給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ10
と、上記最終パスメトリック値Ｌ0とを加算して得られ
た加算値を比較器１２６及び選択回路１２８に夫々供給
する。加算器１２４は、Ｄレジスタ１１８から供給され
た最大値制限されたブランチメトリック信号λ11と、上
記最終パスメトリック値Ｌ1とを加算して得られた加算
値を比較器１２６及び選択回路１２８に夫々供給する。
かかる加算器１２１〜１２４の各々にて上述した如き累
算加算が実行されるのである。
【００１７】比較器１２５は、加算器１２１及び１２２
各々から供給された加算値同士の大小比較を行ってこの
比較結果をパス選択信号Ｊ0として選択回路１２７及び
パスメモリ２２３夫々に供給する。選択回路１２７は、
かかるパス選択信号Ｊ0に従って小なる方の加算値を選
択してこれをパスメトリック値Ｐ0として比較器１６１
及び減算器１６４の各々に供給する。比較器１２６は、
加算器１２３及び１２４各々から供給された加算値同士
の大小比較を行ってこの比較結果をパス選択信号Ｊ1と
して選択回路１２８及び上記パスメモリ２２３夫々に供
給する。選択回路１２８は、かかるパス選択信号Ｊ1に
従って小なる方の加算値を選択してこれをパスメトリッ
ク値Ｐ1として比較器１６２及び減算器１６５の各々に
供給する。
各々から供給された加算値同士の大小比較を行ってこの
比較結果をパス選択信号Ｊ0として選択回路１２７及び
パスメモリ２２３夫々に供給する。選択回路１２７は、
かかるパス選択信号Ｊ0に従って小なる方の加算値を選
択してこれをパスメトリック値Ｐ0として比較器１６１
及び減算器１６４の各々に供給する。比較器１２６は、
加算器１２３及び１２４各々から供給された加算値同士
の大小比較を行ってこの比較結果をパス選択信号Ｊ1と
して選択回路１２８及び上記パスメモリ２２３夫々に供
給する。選択回路１２８は、かかるパス選択信号Ｊ1に
従って小なる方の加算値を選択してこれをパスメトリッ
ク値Ｐ1として比較器１６２及び減算器１６５の各々に
供給する。
【００１８】この際、上述した加算器１２１〜１２４、
比較器１２５及び１２６、選択回路１２７及び１２８な
る構成によりパスメトリック演算部を形成している。比
較器１６１は、上記パスメトリック値Ｐ0と、所定しき
い値Ｐthとの大小比較を行って、かかるパスメトリック
値Ｐ0が所定しきい値Ｐthよりも大なる時には論理
「１」の信号をアンドゲート１６３に供給する一方、こ
のパスメトリック値Ｐ0が所定しきい値Ｐthよりも小な
る時には論理「０」の信号をアンドゲート１６３に供給
する。又、比較器１６２は、上記パスメトリック値Ｐ1
と、所定しきい値Ｐthとの大小比較を行って、かかるパ
スメトリック値Ｐ1が所定しきい値Ｐthよりも大なる時
には論理「１」の信号をアンドゲート１６３に供給する
一方、このパスメトリック値Ｐ1が所定しきい値Ｐthよ
りも小なる時には論理「０」の信号をアンドゲート１６
３に供給する。
比較器１２５及び１２６、選択回路１２７及び１２８な
る構成によりパスメトリック演算部を形成している。比
較器１６１は、上記パスメトリック値Ｐ0と、所定しき
い値Ｐthとの大小比較を行って、かかるパスメトリック
値Ｐ0が所定しきい値Ｐthよりも大なる時には論理
「１」の信号をアンドゲート１６３に供給する一方、こ
のパスメトリック値Ｐ0が所定しきい値Ｐthよりも小な
る時には論理「０」の信号をアンドゲート１６３に供給
する。又、比較器１６２は、上記パスメトリック値Ｐ1
と、所定しきい値Ｐthとの大小比較を行って、かかるパ
スメトリック値Ｐ1が所定しきい値Ｐthよりも大なる時
には論理「１」の信号をアンドゲート１６３に供給する
一方、このパスメトリック値Ｐ1が所定しきい値Ｐthよ
りも小なる時には論理「０」の信号をアンドゲート１６
３に供給する。
【００１９】アンドゲート１６３は、比較器１６１及び
比較器１６２夫々から論理「１」の信号が供給された時
は論理「１」の信号を減算器１６４及び減算器１６５夫
々に供給する一方、これら比較器１６１もしくは比較器
１６２のどちらかから論理「０」の信号が供給された時
は論理「０」の信号を減算器１６４及び減算器１６５夫
々に供給する。減算器１６４は、アンドゲート１６３か
ら論理「１」の信号が供給された時は上記パスメトリッ
ク値Ｐ0の値から所定しきい値Ｐthを減算したものを正
規化パスメトリック値Ｑ0としてこれをリミッタ１５２
に供給する一方、アンドゲート１６３から論理「０」の
信号が供給された時はかかるパスメトリック値Ｐ0をそ
のまま正規化パスメトリック値Ｑ0としてこれをリミッ
タ１５２に供給する。減算器１６５は、アンドゲート１
６３から論理「１」の信号が供給された時は上記パスメ
トリック値Ｐ1の値から所定しきい値Ｐthを減算したも
のを正規化パスメトリック値Ｑ1としてこれをリミッタ
１５３に供給する一方、アンドゲート１６３から論理
「０」の信号が供給された時はかかるパスメトリック値
Ｐ1をそのまま正規化パスメトリック値Ｑ1としてこれを
リミッタ１５３に供給する。
比較器１６２夫々から論理「１」の信号が供給された時
は論理「１」の信号を減算器１６４及び減算器１６５夫
々に供給する一方、これら比較器１６１もしくは比較器
１６２のどちらかから論理「０」の信号が供給された時
は論理「０」の信号を減算器１６４及び減算器１６５夫
々に供給する。減算器１６４は、アンドゲート１６３か
ら論理「１」の信号が供給された時は上記パスメトリッ
ク値Ｐ0の値から所定しきい値Ｐthを減算したものを正
規化パスメトリック値Ｑ0としてこれをリミッタ１５２
に供給する一方、アンドゲート１６３から論理「０」の
信号が供給された時はかかるパスメトリック値Ｐ0をそ
のまま正規化パスメトリック値Ｑ0としてこれをリミッ
タ１５２に供給する。減算器１６５は、アンドゲート１
６３から論理「１」の信号が供給された時は上記パスメ
トリック値Ｐ1の値から所定しきい値Ｐthを減算したも
のを正規化パスメトリック値Ｑ1としてこれをリミッタ
１５３に供給する一方、アンドゲート１６３から論理
「０」の信号が供給された時はかかるパスメトリック値
Ｐ1をそのまま正規化パスメトリック値Ｑ1としてこれを
リミッタ１５３に供給する。
【００２０】この際、上述した比較器１６１及び１６
２、アンドゲート１６３、減算器１６４及び１６５なる
構成により、前述したパスメトリック演算部にて求めら
れたパスメトリック値の正規化を行うという正規化部を
形成している。リミッタ１５２は、正規化パスメトリッ
ク値Ｑ0の最大値を所定値Ｌmaxに制限してこれをＤレジ
スタ１４１に供給する。Ｄレジスタ１４１は、かかるリ
ミッタ１５２にて最大値制限された正規化パスメトリッ
ク値Ｑ0をクロック信号のタイミングにて同期化してこ
れを最終パスメトリック値Ｌ0として出力する。尚、こ
の最終パスメトリック値Ｌ0が上記加算器１２１及び１
２３の夫々に帰還供給される。リミッタ１５３は、正規
化パスメトリック値Ｑ1の最大値を所定値Ｌmaxに制限し
てこれをＤレジスタ１４２に供給する。Ｄレジスタ１４
２は、かかるリミッタ１５３にて最大値制限された正規
化パスメトリック値Ｑ1をクロック信号のタイミングに
て同期化してこれを最終パスメトリック値Ｌ1として出
力する。尚、この最終パスメトリック値Ｌ1が上記加算
器１２２及び１２４の夫々に帰還供給される。ここで、
上述の所定値Ｌmaxとは、そのＬmax自体が最終パスメト
リック値Ｌとして加算器１２１〜１２４に帰還供給され
てもかかる加算器各々が１回の加算処理にてオーバーフ
ローを起こさない最大値である。
２、アンドゲート１６３、減算器１６４及び１６５なる
構成により、前述したパスメトリック演算部にて求めら
れたパスメトリック値の正規化を行うという正規化部を
形成している。リミッタ１５２は、正規化パスメトリッ
ク値Ｑ0の最大値を所定値Ｌmaxに制限してこれをＤレジ
スタ１４１に供給する。Ｄレジスタ１４１は、かかるリ
ミッタ１５２にて最大値制限された正規化パスメトリッ
ク値Ｑ0をクロック信号のタイミングにて同期化してこ
れを最終パスメトリック値Ｌ0として出力する。尚、こ
の最終パスメトリック値Ｌ0が上記加算器１２１及び１
２３の夫々に帰還供給される。リミッタ１５３は、正規
化パスメトリック値Ｑ1の最大値を所定値Ｌmaxに制限し
てこれをＤレジスタ１４２に供給する。Ｄレジスタ１４
２は、かかるリミッタ１５３にて最大値制限された正規
化パスメトリック値Ｑ1をクロック信号のタイミングに
て同期化してこれを最終パスメトリック値Ｌ1として出
力する。尚、この最終パスメトリック値Ｌ1が上記加算
器１２２及び１２４の夫々に帰還供給される。ここで、
上述の所定値Ｌmaxとは、そのＬmax自体が最終パスメト
リック値Ｌとして加算器１２１〜１２４に帰還供給され
てもかかる加算器各々が１回の加算処理にてオーバーフ
ローを起こさない最大値である。
【００２１】すなわち、かかる構成からなるパスメトリ
ック演算回路２２２においては、上記加算器１２１〜１
２４にて逐次累算加算して得られたパスメトリック値Ｐ
0及びＰ1各々の値が共に所定しきい値Ｐthより大となっ
た場合には、これらパスメトリック値Ｐ0及びＰ1各々か
ら上記所定しきい値Ｐthを一律に減算する。つまり、か
かる動作により、パスメトリック値Ｐ0及びＰ1の大小関
係を維持しつつ、その増大した累算加算値を減少させて
上記加算器１２１〜１２４のオーバーフローを防止する
という正規化が為されるのである。
ック演算回路２２２においては、上記加算器１２１〜１
２４にて逐次累算加算して得られたパスメトリック値Ｐ
0及びＰ1各々の値が共に所定しきい値Ｐthより大となっ
た場合には、これらパスメトリック値Ｐ0及びＰ1各々か
ら上記所定しきい値Ｐthを一律に減算する。つまり、か
かる動作により、パスメトリック値Ｐ0及びＰ1の大小関
係を維持しつつ、その増大した累算加算値を減少させて
上記加算器１２１〜１２４のオーバーフローを防止する
という正規化が為されるのである。
【００２２】パスメトリック演算回路２２２は、かかる
加算器１２１〜１２４にて得られた累算加算値が最小と
なるパスを示すパス選択信号Ｊ0及びＪ1をパスメモリ２
２３に供給する。かかるパスメモリ２２３は、上記パス
選択信号Ｊ0及びＪ1に応じて、「０」及び「１」の２値
からなるデータ系列を更新しつつこれを復号２値信号と
して順次出力する。
加算器１２１〜１２４にて得られた累算加算値が最小と
なるパスを示すパス選択信号Ｊ0及びＪ1をパスメモリ２
２３に供給する。かかるパスメモリ２２３は、上記パス
選択信号Ｊ0及びＪ1に応じて、「０」及び「１」の２値
からなるデータ系列を更新しつつこれを復号２値信号と
して順次出力する。
【００２３】以上の如く、ビタビ復号器２２は、上記Ａ
／Ｄ変換器２１から供給されたサンプル値系列に対し２
乗誤差が最小となるようなデータ系列を選択することに
より、２値の復号信号を得るのである。かかるビタビ復
号器２２の復号動作によれば、ノイズや符号間干渉の影
響により上記Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値
にレベル誤差が発生していても、２乗誤差が最小となる
ようなデータ系列を選択することにより、高い信頼性を
もって、光ディスク３に記録されている記録情報に対応
した２値の信号を得ることができるのである。
／Ｄ変換器２１から供給されたサンプル値系列に対し２
乗誤差が最小となるようなデータ系列を選択することに
より、２値の復号信号を得るのである。かかるビタビ復
号器２２の復号動作によれば、ノイズや符号間干渉の影
響により上記Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値
にレベル誤差が発生していても、２乗誤差が最小となる
ようなデータ系列を選択することにより、高い信頼性を
もって、光ディスク３に記録されている記録情報に対応
した２値の信号を得ることができるのである。
【００２４】符号演算回路２４は、かかるビタビ復号器
２２にて復号された復号２値信号を、再び上記所定ビッ
ト数からなるサンプル値の形態に変換すべく、かかる復
号２値信号に対して符号演算を施す。図５は、かかる符
号演算回路２４の内部構成の一例を示す図である。かか
る図５において、上記ビタビ復号器２２から供給された
復号２値信号は、Ｄフリップフロップ２４１及び乗算器
２４２各々に供給される。乗算器２４２は、かかる復号
２値信号に所定係数ｈ1を乗算して得られた値を加算器
２４４に供給する。この際、かかる復号２値信号の値が
「０」である場合には、「０」が加算器２４４に供給さ
れる一方、復号２値信号の値が「１」である場合には、
「ｈ 1」が加算器２４４に供給されるのである。Ｄフリ
ップフロップ２４１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１のサンプ
リングタイミングと同一タイミングにて上記復号２値信
号を取り込みこれを乗算器２４３に供給する。この際、
かかるＤフリップフロップ２４１は、上記復号２値信号
を１サンプルタイミング分だけ遅延してから、この復号
２値信号を乗算器２４３に供給することになる。乗算器
２４３は、この遅延復号２値信号に所定係数ｈ2を乗算
して得られた値を加算器２４４に供給する。この際、か
かる遅延復号２値信号の値が「０」である場合には、
「０」が加算器２４４に供給される一方、かかる遅延復
号２値信号の値が「１」である場合には、「ｈ2」が加
算器２４４に供給されるのである。加算器２４４は、こ
れら乗算器２４２及び２４３から供給された値を互いに
加算して得たものを理想サンプル値ｑとしてこれを２乗
誤差演算回路２５に供給する。
２２にて復号された復号２値信号を、再び上記所定ビッ
ト数からなるサンプル値の形態に変換すべく、かかる復
号２値信号に対して符号演算を施す。図５は、かかる符
号演算回路２４の内部構成の一例を示す図である。かか
る図５において、上記ビタビ復号器２２から供給された
復号２値信号は、Ｄフリップフロップ２４１及び乗算器
２４２各々に供給される。乗算器２４２は、かかる復号
２値信号に所定係数ｈ1を乗算して得られた値を加算器
２４４に供給する。この際、かかる復号２値信号の値が
「０」である場合には、「０」が加算器２４４に供給さ
れる一方、復号２値信号の値が「１」である場合には、
「ｈ 1」が加算器２４４に供給されるのである。Ｄフリ
ップフロップ２４１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１のサンプ
リングタイミングと同一タイミングにて上記復号２値信
号を取り込みこれを乗算器２４３に供給する。この際、
かかるＤフリップフロップ２４１は、上記復号２値信号
を１サンプルタイミング分だけ遅延してから、この復号
２値信号を乗算器２４３に供給することになる。乗算器
２４３は、この遅延復号２値信号に所定係数ｈ2を乗算
して得られた値を加算器２４４に供給する。この際、か
かる遅延復号２値信号の値が「０」である場合には、
「０」が加算器２４４に供給される一方、かかる遅延復
号２値信号の値が「１」である場合には、「ｈ2」が加
算器２４４に供給されるのである。加算器２４４は、こ
れら乗算器２４２及び２４３から供給された値を互いに
加算して得たものを理想サンプル値ｑとしてこれを２乗
誤差演算回路２５に供給する。
【００２５】つまり、かかる符号演算回路２４は、記録
再生系の伝達特性を近似したディジタルフィルタであ
る。この際、実際の記録再生系からは、ノイズを含んだ
サンプル値が得られるが、この符号演算回路２４ではノ
イズの無い理想的なサンプル値が生成されるのである。
遅延回路２３は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から供給された
サンプル値を所定時間ｔだけ遅延したものをサンプル値
ｒとして上記２乗誤差演算回路２５に供給する。この
際、かかる所定時間ｔとは、上記ビタビ復号器２２及び
符号演算回路２４の演算処理に費やされる時間と同一時
間である。
再生系の伝達特性を近似したディジタルフィルタであ
る。この際、実際の記録再生系からは、ノイズを含んだ
サンプル値が得られるが、この符号演算回路２４ではノ
イズの無い理想的なサンプル値が生成されるのである。
遅延回路２３は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から供給された
サンプル値を所定時間ｔだけ遅延したものをサンプル値
ｒとして上記２乗誤差演算回路２５に供給する。この
際、かかる所定時間ｔとは、上記ビタビ復号器２２及び
符号演算回路２４の演算処理に費やされる時間と同一時
間である。
【００２６】よって、Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサ
ンプル値にレベル誤差が生じていない場合には、上記理
想サンプル値ｑとサンプル値ｒは互いに同一のものとな
るのである。２乗誤差演算回路２５は、かかる理想サン
プル値ｑとサンプル値ｒとの２乗誤差、｛［理想サンプ
ル値ｑ］−［サンプル値ｒ］｝2を求めて、この２乗誤
差値に対応した２乗誤差信号を平均化回路２６に供給す
る。平均化回路２６は、かかる２乗誤差信号の単位時間
あたりの平均値を求めてこれを評価信号として出力す
る。
ンプル値にレベル誤差が生じていない場合には、上記理
想サンプル値ｑとサンプル値ｒは互いに同一のものとな
るのである。２乗誤差演算回路２５は、かかる理想サン
プル値ｑとサンプル値ｒとの２乗誤差、｛［理想サンプ
ル値ｑ］−［サンプル値ｒ］｝2を求めて、この２乗誤
差値に対応した２乗誤差信号を平均化回路２６に供給す
る。平均化回路２６は、かかる２乗誤差信号の単位時間
あたりの平均値を求めてこれを評価信号として出力す
る。
【００２７】ここで、光ディスク３のピット形状が正常
であり、かつ読取信号のＳ／Ｎが充分高い場合には、Ａ
／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値に直接対応して
いるサンプル値ｒと、このサンプル値をビタビ復号器２
２及び符号演算回路２４なる構成にて得られた理想サン
プル値ｑとが等しくなり、上記２乗誤差は０となる。従
って、この際、図２に示されるが如き評価装置２０から
は、正常読み取り動作を示すレベル０の評価信号が出力
されるのである。
であり、かつ読取信号のＳ／Ｎが充分高い場合には、Ａ
／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値に直接対応して
いるサンプル値ｒと、このサンプル値をビタビ復号器２
２及び符号演算回路２４なる構成にて得られた理想サン
プル値ｑとが等しくなり、上記２乗誤差は０となる。従
って、この際、図２に示されるが如き評価装置２０から
は、正常読み取り動作を示すレベル０の評価信号が出力
されるのである。
【００２８】一方、光ディスク３のピット形状に異常が
存在するか、もしくは読取信号のＳ／Ｎが低い場合に
は、上記サンプル値ｒは理想サンプル値ｑと隔たった値
になる。この際、かかる評価装置２０からは、上記サン
プル値ｒと理想サンプル値ｑとの差分に応じたレベルの
評価信号が出力されるのである。
存在するか、もしくは読取信号のＳ／Ｎが低い場合に
は、上記サンプル値ｒは理想サンプル値ｑと隔たった値
になる。この際、かかる評価装置２０からは、上記サン
プル値ｒと理想サンプル値ｑとの差分に応じたレベルの
評価信号が出力されるのである。
【００２９】尚、上記実施例においては、平均化回路２
６により、２乗誤差信号の単位時間あたりの平均値を求
めてこれを評価信号として出力する構成としているが、
統計的手法によりかかる２乗誤差信号における分散を求
めて、これを上記評価信号として出力するようにしても
構わない。又、２乗誤差演算回路２５にて得られた２乗
誤差信号を直接、評価信号として出力するようにしても
構わない。又、上述の如く２乗誤差を用いずに、理想サ
ンプル値ｑとサンプル値ｒとの減算値の絶対値に基づい
て評価信号を得るようにしても上記実施例と同様に光デ
ィスク３及び記録情報再生装置１０の評価を行うことが
できる。
６により、２乗誤差信号の単位時間あたりの平均値を求
めてこれを評価信号として出力する構成としているが、
統計的手法によりかかる２乗誤差信号における分散を求
めて、これを上記評価信号として出力するようにしても
構わない。又、２乗誤差演算回路２５にて得られた２乗
誤差信号を直接、評価信号として出力するようにしても
構わない。又、上述の如く２乗誤差を用いずに、理想サ
ンプル値ｑとサンプル値ｒとの減算値の絶対値に基づい
て評価信号を得るようにしても上記実施例と同様に光デ
ィスク３及び記録情報再生装置１０の評価を行うことが
できる。
【００３０】図６は、本発明の第２の特徴である評価装
置３０を用いて記録情報再生装置１０に対して評価試験
を実施する際の構成を示す図である。かかる図６におい
て、記録情報再生装置１０における光ピックアップ１
は、スピンドルモータ２によって回転駆動される光ディ
スク３に光ビームを照射する。更に、光ピックアップ１
は、かかる光ディスク３からの反射光を光電変換して読
取信号ｐを得てこれをＡ／Ｄ変換器１１及び２１各々に
供給する。記録情報再生装置１０におけるＡ／Ｄ変換器
１１は、読取信号ｐをサンプリングして得たサンプル値
をビタビ復号器１２に供給する。ビタビ復号器１２は、
順次供給されてくるサンプル値の系列に基づいてビタビ
復号を行って復号２値信号を得て、これをデータ処理回
路６に供給する。データ処理回路６は、かかる復号２値
信号に対して、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理
を施して、これを再生ディジタルデータとして出力す
る。
置３０を用いて記録情報再生装置１０に対して評価試験
を実施する際の構成を示す図である。かかる図６におい
て、記録情報再生装置１０における光ピックアップ１
は、スピンドルモータ２によって回転駆動される光ディ
スク３に光ビームを照射する。更に、光ピックアップ１
は、かかる光ディスク３からの反射光を光電変換して読
取信号ｐを得てこれをＡ／Ｄ変換器１１及び２１各々に
供給する。記録情報再生装置１０におけるＡ／Ｄ変換器
１１は、読取信号ｐをサンプリングして得たサンプル値
をビタビ復号器１２に供給する。ビタビ復号器１２は、
順次供給されてくるサンプル値の系列に基づいてビタビ
復号を行って復号２値信号を得て、これをデータ処理回
路６に供給する。データ処理回路６は、かかる復号２値
信号に対して、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理
を施して、これを再生ディジタルデータとして出力す
る。
【００３１】評価装置３０におけるＡ／Ｄ変換器２１
は、上記光ピックアップ１から供給された読取信号ｐを
所定サンプルタイミングにてサンプリングし、これを所
定ビット数からなるディジタルのサンプル値に変換して
ブランチメトリック演算回路２２１に供給する。かかる
ブランチメトリック演算回路２２１は、上記Ａ／Ｄ変換
器２１から順次供給されてくるサンプル値と、予め設定
されている複数の予測サンプル値各々との２乗誤差、す
なわち｛［サンプル値］−［予測サンプル値］｝ 2を夫
々求め、これらをブランチメトリック信号としてパスメ
トリック演算回路２２２｀に供給する。
は、上記光ピックアップ１から供給された読取信号ｐを
所定サンプルタイミングにてサンプリングし、これを所
定ビット数からなるディジタルのサンプル値に変換して
ブランチメトリック演算回路２２１に供給する。かかる
ブランチメトリック演算回路２２１は、上記Ａ／Ｄ変換
器２１から順次供給されてくるサンプル値と、予め設定
されている複数の予測サンプル値各々との２乗誤差、す
なわち｛［サンプル値］−［予測サンプル値］｝ 2を夫
々求め、これらをブランチメトリック信号としてパスメ
トリック演算回路２２２｀に供給する。
【００３２】ここで、かかるブランチメトリック演算回
路２２１に上述の読取信号ｐが供給されるまでの伝送路
系をＰＲ（１、１）パーシャルレスポンス伝送系とする
と、時点ｋにおける受信サンプル値Ｙ(k)は、時点ｋに
おける送信サンプル値Ｘ(k)と一時点前の送信サンプル
値Ｘ(k-1)とによって予測出来る。すなわち、かかるＸ
(k)とＸ(k-1)が「０、０」の時にはＹ(k)は「０」とな
り、Ｘ(k)とＸ(k-1)が「０、１」もしくは「１、０」の
時にはＹ(k)は「１」となり、Ｘ(k)とＸ(k-1)が「１、
１」の時にはＹ(k)は「２」となるのである。つまり、
ブランチメトリック演算回路２２１に供給される受信サ
ンプル値Ｙ(k)は、２つの送信サンプル値Ｘ(k)とＸ(k-
1)とに応じて４通りの予測が出来るのである。よって、
この際ブランチメトリック演算回路２２１は、これら４
つの予測値各々に対応した４つのブランチメトリック信
号λ00〜λ11をパスメトリック演算回路２２２｀に供給
するのである。
路２２１に上述の読取信号ｐが供給されるまでの伝送路
系をＰＲ（１、１）パーシャルレスポンス伝送系とする
と、時点ｋにおける受信サンプル値Ｙ(k)は、時点ｋに
おける送信サンプル値Ｘ(k)と一時点前の送信サンプル
値Ｘ(k-1)とによって予測出来る。すなわち、かかるＸ
(k)とＸ(k-1)が「０、０」の時にはＹ(k)は「０」とな
り、Ｘ(k)とＸ(k-1)が「０、１」もしくは「１、０」の
時にはＹ(k)は「１」となり、Ｘ(k)とＸ(k-1)が「１、
１」の時にはＹ(k)は「２」となるのである。つまり、
ブランチメトリック演算回路２２１に供給される受信サ
ンプル値Ｙ(k)は、２つの送信サンプル値Ｘ(k)とＸ(k-
1)とに応じて４通りの予測が出来るのである。よって、
この際ブランチメトリック演算回路２２１は、これら４
つの予測値各々に対応した４つのブランチメトリック信
号λ00〜λ11をパスメトリック演算回路２２２｀に供給
するのである。
【００３３】図７は、かかるパスメトリック演算回路２
２２｀の内部構成を示す図である。図７に示されるが如
く、かかるパスメトリック演算回路２２２｀は、図４に
て示されるパスメトリック演算回路２２２と同一機能ブ
ロックにて構成されている。この際、図７に示されるが
如く、かかるパスメトリック演算回路２２２｀において
は、そのアンドゲート１６３の論理出力を正規化信号と
して出力する構成となっている。
２２｀の内部構成を示す図である。図７に示されるが如
く、かかるパスメトリック演算回路２２２｀は、図４に
て示されるパスメトリック演算回路２２２と同一機能ブ
ロックにて構成されている。この際、図７に示されるが
如く、かかるパスメトリック演算回路２２２｀において
は、そのアンドゲート１６３の論理出力を正規化信号と
して出力する構成となっている。
【００３４】つまり、上述した加算器１２１〜１２４、
比較器１２５及び１２６、選択回路１２７及び１２８か
らなるパスメトリック演算部にて求められたパスメトリ
ック値Ｐ0及びＰ1各々の値が共に所定しきい値Ｐthより
大となった場合には、比較器１６１及び１６２、アンド
ゲート１６３、減算器１６４及び１６５なる正規化部に
て、これらパスメトリック値Ｐ0及びＰ1各々から上記所
定しきい値Ｐthを一律に減算するという正規化動作が実
行されると同時に、かかる正規化動作が実行されたこと
を示す論理「１」の正規化信号がアンドゲート１６３か
ら出力されるのである。
比較器１２５及び１２６、選択回路１２７及び１２８か
らなるパスメトリック演算部にて求められたパスメトリ
ック値Ｐ0及びＰ1各々の値が共に所定しきい値Ｐthより
大となった場合には、比較器１６１及び１６２、アンド
ゲート１６３、減算器１６４及び１６５なる正規化部に
て、これらパスメトリック値Ｐ0及びＰ1各々から上記所
定しきい値Ｐthを一律に減算するという正規化動作が実
行されると同時に、かかる正規化動作が実行されたこと
を示す論理「１」の正規化信号がアンドゲート１６３か
ら出力されるのである。
【００３５】周波数カウンタ３３は、上記正規化信号が
単位時間あたりに供給される数をカウントしてこのカウ
ント値に対応した評価信号を出力する。以上の如く、か
かる評価装置３０においては、光ディスク３のピット形
状に異常が存在するか、もしくは読取信号のＳ／Ｎが低
い場合には、上記ビタビ復号器２２における予測サンプ
ル値と、実際に上記Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサン
プル値とには大きな隔たりが生じてその２乗誤差値が大
となり、故にその累算加算値の増加スピードも大となる
点に着目して、かかる累算加算値が所定しきい値を越え
る度に実施される正規化動作の発生頻度を周波数カウン
タ３３にて測定することにより、光ディスク及び記録情
報再生装置各々の評価を行う評価信号を得る構成とした
のである。
単位時間あたりに供給される数をカウントしてこのカウ
ント値に対応した評価信号を出力する。以上の如く、か
かる評価装置３０においては、光ディスク３のピット形
状に異常が存在するか、もしくは読取信号のＳ／Ｎが低
い場合には、上記ビタビ復号器２２における予測サンプ
ル値と、実際に上記Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサン
プル値とには大きな隔たりが生じてその２乗誤差値が大
となり、故にその累算加算値の増加スピードも大となる
点に着目して、かかる累算加算値が所定しきい値を越え
る度に実施される正規化動作の発生頻度を周波数カウン
タ３３にて測定することにより、光ディスク及び記録情
報再生装置各々の評価を行う評価信号を得る構成とした
のである。
【００３６】尚、記録情報再生装置１０に設けられてい
るビタビ復号器１２のパスメトリック演算回路が図４に
て示されるが如き構成であれば、上記図７に示されるよ
うに、アンドゲート１６３から出力される正規化信号を
外部に取り出せる構成としておき、この正規化信号を直
接、周波数カウンタ３３に供給する構成としても良い。
るビタビ復号器１２のパスメトリック演算回路が図４に
て示されるが如き構成であれば、上記図７に示されるよ
うに、アンドゲート１６３から出力される正規化信号を
外部に取り出せる構成としておき、この正規化信号を直
接、周波数カウンタ３３に供給する構成としても良い。
【００３７】かかる構成によれば、評価装置３０の内部
構成としては図８にて示されるが如き周波数カウンタ３
３のみとなるのである。
構成としては図８にて示されるが如き周波数カウンタ３
３のみとなるのである。
【００３８】
【発明の効果】以上の如く、本発明の第１の特徴による
光ディスク及び記録情報再生装置の評価装置において
は、光ディスクから読み取られた読取信号をＡ／Ｄ変換
して得られたサンプル値と、このサンプル値をビタビ復
号して得られた復号２値信号に基づいて生成された理想
サンプル値との誤差に基づいて光ディスク及び記録情報
再生装置の評価を行うための評価信号を得る構成として
いる。
光ディスク及び記録情報再生装置の評価装置において
は、光ディスクから読み取られた読取信号をＡ／Ｄ変換
して得られたサンプル値と、このサンプル値をビタビ復
号して得られた復号２値信号に基づいて生成された理想
サンプル値との誤差に基づいて光ディスク及び記録情報
再生装置の評価を行うための評価信号を得る構成として
いる。
【００３９】又、本発明の第２の特徴による光ディスク
及び記録情報再生装置の評価装置は、光ディスクから読
み取られた読取信号をＡ／Ｄ変換してサンプル値を得
て、このサンプル値とビタビ復号における予測サンプル
値との２乗誤差の累算加算値が所定しきい値を越える度
に実施される正規化動作の発生頻度に基づいて光ディス
ク及び記録情報再生装置の評価を行うための評価信号を
得る構成としている。
及び記録情報再生装置の評価装置は、光ディスクから読
み取られた読取信号をＡ／Ｄ変換してサンプル値を得
て、このサンプル値とビタビ復号における予測サンプル
値との２乗誤差の累算加算値が所定しきい値を越える度
に実施される正規化動作の発生頻度に基づいて光ディス
ク及び記録情報再生装置の評価を行うための評価信号を
得る構成としている。
【００４０】よって、本発明によれば、高密度記録化に
よりその読取信号の高周波成分の信号レベルが小となっ
ても、光ディスク及び記録情報再生装置各々に対して、
ピット形状の評価及び読取信号のＳ／Ｎの評価を精度良
く行うことが出来て好ましいのである。
よりその読取信号の高周波成分の信号レベルが小となっ
ても、光ディスク及び記録情報再生装置各々に対して、
ピット形状の評価及び読取信号のＳ／Ｎの評価を精度良
く行うことが出来て好ましいのである。
【図１】光ディスクを含んだ記録情報再生装置の概略構
成を示す図である。
成を示す図である。
【図２】本発明の第１の特徴による評価装置２０を用い
て記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際
の構成を示す図である。
て記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際
の構成を示す図である。
【図３】ビタビ復号器２２の内部構成の一例を示す図で
ある。
ある。
【図４】パスメトリック演算回路２２２の内部構成の一
例を示す図である。
例を示す図である。
【図５】符号演算回路２４の内部構成の一例を示す図で
ある。
ある。
【図６】本発明の第２の特徴による評価装置３０を用い
て記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際
の構成を示す図である。
て記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際
の構成を示す図である。
【図７】パスメトリック演算回路２２２’の内部構成の
一例を示す図である。
一例を示す図である。
【図８】本発明の第２の特徴による評価装置３０を用い
て記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際
の構成を示す図である。
て記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際
の構成を示す図である。
２０、３０ 評価装置 ２１ Ａ／Ｄ変換器 ２２ ビタビ復号器 ２３ 遅延回路 ２４ 符号演算回路 ２５ ２乗誤差演算回路 ３３ 周波数カウンタ ２２２’ パスメトリック演算回路
フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 Ｆ 9558−5Ｄ 7/00 Ｔ 9464−5Ｄ 20/14 ３４１ Ｂ 9463−5Ｄ
Claims (4)
- 【請求項１】 ディジタルデータが記録されている光デ
ィスクから読み取られた読取信号に基づいて記録情報の
再生を行う記録情報再生装置及び前記光ディスクの評価
装置であって、 前記読取信号を順次サンプリングしてサンプル値に変換
するＡ／Ｄ変換器と、 前記サンプル値に基づいてビタビ復号を行って復号信号
を得るビタビ復号器と、 前記復号信号を前記サンプル値と同一形態に変換してこ
れを理想サンプル値として得る手段と、 前記サンプル値と前記理想サンプル値との誤差値を求め
てこれを前記光ディスク及び前記記録情報再生装置を評
価するための評価信号として得る誤差演算手段とを有す
ることを特徴とする光ディスク及び記録情報再生装置の
評価装置。 - 【請求項２】 前記誤差値の単位時間あたりの平均値を
前記評価信号として得る平均化手段を備えたことを特徴
とする請求項１記載の評価装置。 - 【請求項３】 前記誤差値は、前記サンプル値と前記理
想サンプル値との２乗誤差値であることを特徴とする請
求項１記載の評価装置。 - 【請求項４】 ディジタルデータが記録されている光デ
ィスクから読み取られた読取信号に基づいて記録情報の
再生を行う記録情報再生装置及び前記光ディスクの評価
装置であって、 前記読取信号を順次サンプリングしてサンプル値に変換
するＡ／Ｄ変換器と、 前記サンプル値と複数の予測サンプル値各々との誤差値
を前記サンプリングのタイミング毎に求めてこの誤差値
各々に対応したブランチメトリックを得るブランチメト
リック演算手段と、 前記サンプリングタイミング毎に前記ブランチメトリッ
クの累算加算値を逐次求めてこれをパスメトリックとす
るパスメトリック演算手段と、 前記パスメトリックの値が所定しきい値より大となる度
に前記パスメトリックの値から前記所定しきい値を減算
すると共に正規化信号を出力する正規化手段と、 単位時間あたりに供給される前記正規化信号の数をカウ
ントしてこのカウント値を前記光ディスク及び前記記録
情報再生装置を評価するための評価信号として得る手段
とを有することを特徴とする光ディスク及び記録情報再
生装置の評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00765195A JP3565365B2 (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 光ディスクの評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP00765195A JP3565365B2 (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 光ディスクの評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08195037A true JPH08195037A (ja) | 1996-07-30 |
| JP3565365B2 JP3565365B2 (ja) | 2004-09-15 |
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ID=11671734
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP00765195A Expired - Fee Related JP3565365B2 (ja) | 1995-01-20 | 1995-01-20 | 光ディスクの評価装置 |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3565365B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6847600B2 (en) | 2000-05-10 | 2005-01-25 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method for estimating the quality of an information recording medium utilizing equalization signals |
| WO2008140110A1 (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-20 | Nec Corporation | ビタビ検出器、及び、情報再生装置 |
| WO2008139712A1 (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Tdk Corporation | 光記録再生の信号評価方法、光記録再生方法 |
-
1995
- 1995-01-20 JP JP00765195A patent/JP3565365B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2008139712A1 (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Tdk Corporation | 光記録再生の信号評価方法、光記録再生方法 |
| JP2008282431A (ja) * | 2007-05-08 | 2008-11-20 | Tdk Corp | 光記録再生の信号評価方法、光記録再生方法 |
| US8189443B2 (en) | 2007-05-08 | 2012-05-29 | Tdk Corporation | Method for evaluating signal in optical recording and reading and method for optical recording and reading |
| WO2008140110A1 (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-20 | Nec Corporation | ビタビ検出器、及び、情報再生装置 |
| US8599670B2 (en) | 2007-05-15 | 2013-12-03 | Nec Corporation | Viterbi detector and information reproducing apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3565365B2 (ja) | 2004-09-15 |
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