JP3565365B2

JP3565365B2 - 光ディスクの評価装置

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Publication number: JP3565365B2
Application number: JP00765195A
Authority: JP
Inventors: 文彦横川; 英樹林
Original assignee: Pioneer Corp
Current assignee: Pioneer Corp
Priority date: 1995-01-20
Filing date: 1995-01-20
Publication date: 2004-09-15
Anticipated expiration: 2019-09-15
Also published as: JPH08195037A

Description

【０００１】
【産業上の利用分野】
本発明は、ディジタルデータが記録されている光ディスクを評価するための評価装置に関する。
【０００２】
【背景技術】
図１は、かかる光ディスクを含んだ記録情報再生装置の概略構成を示す図である。
かかる図１において、光ピックアップ１は、スピンドルモータ２によって回転駆動される光ディスク３に光ビームを照射する。更に、光ピックアップ１は、かかる光ディスク３からの反射光を光電変換して読取信号ｐを得てこれを２値化回路４に供給する。２値化回路４は、かかる読取信号ｐのレベルを所定閾値レベルと比較することにより２値のパルス信号ｓを得て、サンプリング回路５に供給する。サンプリング回路５は、かかるパルス信号ｓを所定クロックタイミングにてサンプリングしてサンプルデータを得て、これをデータ処理回路６に供給する。データ処理回路６は、かかるサンプルデータの系列に対して、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、これを再生ディジタルデータとして出力する。
【０００３】
ここで、上記光ディスク３のピット形状の評価、あるいは読取信号のＳ／Ｎの評価を行う手法の１つとして、ジッタを測定することによりこれらの評価を行う方法がある。すなわち、上記パルス信号ｓのエッジ間隔を測定して、この測定したエッジ間隔の理想間隔に対するバラツキをジッタとして求め、このジッタに基づいて上記評価を行うのである。
【０００４】
しかしながら、光ディスク３に記録情報が高密度記録されている場合には、読取信号ｐの高周波成分の信号レベルが小となってしまい、精度良く２値信号化することが困難となる。
従って、光ディスク３に記録情報が高密度記録されている場合には、かかるジッタを用いた評価方法では、ピット形状の評価、及び読取信号のＳ／Ｎの評価を精度良く行うことが出来ないという問題が発生した。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、かかる問題を解決すべくなされたものであり、光ディスクに記録情報が高密度記録されている場合においても、かかる光ディスクに対して、ピット形状の評価を精度良く行うことが出来る評価装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
本発明による光ディスクの評価装置は、ディジタルデータが記録されている光ディスクの評価装置であって、前記光ディスクから読み取られた読取信号を順次サンプリングしてサンプル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、前記サンプル値と複数の予測サンプル値各々との誤差値を前記サンプリングのタイミング毎に求めてこの誤差値各々に対応したブランチメトリックを得るブランチメトリック演算手段と、前記サンプリングタイミング毎に前記ブランチメトリックの累算加算値を逐次求めてこれをパスメトリックとするパスメトリック演算手段と、前記パスメトリックの値が所定しきい値より大となる度に前記パスメトリックの値から前記所定しきい値を減算すると共に正規化信号を出力する正規化手段と、単位時間あたりに供給される前記正規化信号の数をカウントしてこのカウント値を前記光ディスクのピット形状が異常であるか否かを評価するための評価信号として得る手段とを有する。
【０００９】
【作用】
本発明による光ディスクの評価装置は、光ディスクから読み取られた読取信号をＡ／Ｄ変換してサンプル値を得て、このサンプル値とビタビ復号における予測サンプル値との２乗誤差の累算加算値が所定しきい値を越える度に実施される正規化動作の発生頻度に基づいて光ディスクの評価を行うための評価信号を得る。
【００１０】
【実施例】
以下、本発明の実施例について説明する。
図２は、評価装置２０を用いて、記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際の構成を示す図である。
かかる図２において、記録情報再生装置１０における光ピックアップ１は、スピンドルモータ２によって回転駆動される光ディスク３に光ビームを照射する。更に、光ピックアップ１は、かかる光ディスク３からの反射光を光電変換して読取信号ｐを得てこれをＡ／Ｄ変換器１１及び２１各々に供給する。記録情報再生装置１０におけるＡ／Ｄ変換器１１は、読取信号ｐをサンプリングして得たサンプル値をビタビ復号器１２に供給する。ビタビ復号器１２は、順次供給されてくるサンプル値の系列に基づいてビタビ復号を行って復号２値信号を得て、これをデータ処理回路６に供給する。データ処理回路６は、かかる復号２値信号に対して、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、これを再生ディジタルデータとして出力する。
【００１１】
評価装置２０におけるＡ／Ｄ変換器２１は、上記光ピックアップ１から供給された読取信号ｐを所定サンプルタイミングにてサンプリングし、これを所定ビット数からなるディジタルのサンプル値に変換してビタビ（Ｖｉｔｅｒｂｉ）復号器２２及び遅延回路２３に供給する。
図３は、かかるビタビ復号器２２の内部構成の一例を示す図である。
【００１２】
図３において、ブランチメトリック演算回路２２１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から順次供給されてくるサンプル値と、予め設定されている複数の予測サンプル値各々との２乗誤差、すなわち｛［サンプル値］−［予測サンプル値］｝^２を夫々求め、これらをブランチメトリック信号としてパスメトリック演算回路２２２に供給する。
【００１３】
ここで、かかるビタビ復号器２２に上述の読取信号ｐが供給されるまでの伝送路系をＰＲ（１、１）パーシャルレスポンス伝送系とすると、時点ｋにおける受信サンプル値Ｙ（ｋ）は、時点ｋにおける送信サンプル値Ｘ（ｋ）と一時点前の送信サンプル値Ｘ（ｋ−１）とによって予測出来る。すなわち、かかるＸ（ｋ）とＸ（ｋ−１）が「０、０」の時にはＹ（ｋ）は「０」となり、Ｘ（ｋ）とＸ（ｋ−１）が「０、１」もしくは「１、０」の時にはＹ（ｋ）は「１」となり、Ｘ（ｋ）とＸ（ｋ−１）が「１、１」の時にはＹ（ｋ）は「２」となるのである。つまり、ビタビ復号器に供給される受信サンプル値Ｙ（ｋ）は、２つの送信サンプル値Ｘ（ｋ）とＸ（ｋ−１）とに応じて４通りの予測が出来るのである。よって、この際ブランチメトリック演算回路２２１は、これら４つの予測値各々に対応した４つのブランチメトリック信号λ_００〜λ_１１をパスメトリック演算回路２２２に供給するのである。
【００１４】
図４は、かかるパスメトリック演算回路２２２の内部構成の一例を示す図である。
図４において、上記ブランチメトリック演算回路２２１から供給されたブランチメトリック信号λ_００〜λ_１１の各々は、リミッタ１１１〜１１４の夫々に供給される。リミッタ１１１〜１１４の各々は、かかるブランチメトリック信号λ_００〜λ_１１各々の最大値を所定値に制限するためのリミッタである。かかるリミッタ１１１〜１１４にて所定値に制限されたブランチメトリック信号λ_００〜λ_１１の各々は夫々Ｄレジスタ１１５〜１１８に供給される。かかるＤレジスタ１１５〜１１８の各々は、リミッタ１１１〜１１４夫々から供給されてくる信号をクロック信号のタイミングにて同期化してこれを加算器１２１〜１２４各々に供給する。
【００１５】
加算器１２１は、Ｄレジスタ１１５から供給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ_００と、このパスメトリック演算回路２２２にて最終的に得られる最終パスメトリック値Ｌ_０とを加算して得られた加算値を比較器１２５及び選択回路１２７に夫々供給する。加算器１２２は、Ｄレジスタ１１６から供給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ_０１と、このパスメトリック演算回路２２２にて最終的に得られる最終パスメトリック値Ｌ_１とを加算して得られた加算値を比較器１２５及び選択回路１２７に夫々供給する。
【００１６】
加算器１２３は、Ｄレジスタ１１７から供給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ_１０と、上記最終パスメトリック値Ｌ_０とを加算して得られた加算値を比較器１２６及び選択回路１２８に夫々供給する。加算器１２４は、Ｄレジスタ１１８から供給された最大値制限されたブランチメトリック信号λ_１１と、上記最終パスメトリック値Ｌ_１とを加算して得られた加算値を比較器１２６及び選択回路１２８に夫々供給する。かかる加算器１２１〜１２４の各々にて上述した如き累算加算が実行されるのである。
【００１７】
比較器１２５は、加算器１２１及び１２２各々から供給された加算値同士の大小比較を行ってこの比較結果をパス選択信号Ｊ_０として選択回路１２７及びパスメモリ２２３夫々に供給する。選択回路１２７は、かかるパス選択信号Ｊ_０に従って小なる方の加算値を選択してこれをパスメトリック値Ｐ_０として比較器１６１及び減算器１６４の各々に供給する。比較器１２６は、加算器１２３及び１２４各々から供給された加算値同士の大小比較を行ってこの比較結果をパス選択信号Ｊ_１として選択回路１２８及び上記パスメモリ２２３夫々に供給する。選択回路１２８は、かかるパス選択信号Ｊ_１に従って小なる方の加算値を選択してこれをパスメトリック値Ｐ_１として比較器１６２及び減算器１６５の各々に供給する。
【００１８】
この際、上述した加算器１２１〜１２４、比較器１２５及び１２６、選択回路１２７及び１２８なる構成によりパスメトリック演算部を形成している。
比較器１６１は、上記パスメトリック値Ｐ_０と、所定しきい値Ｐｔｈとの大小比較を行って、かかるパスメトリック値Ｐ_０が所定しきい値Ｐｔｈよりも大なる時には論理「１」の信号をアンドゲート１６３に供給する一方、このパスメトリック値Ｐ_０が所定しきい値Ｐｔｈよりも小なる時には論理「０」の信号をアンドゲート１６３に供給する。又、比較器１６２は、上記パスメトリック値Ｐ_１と、所定しきい値Ｐｔｈとの大小比較を行って、かかるパスメトリック値Ｐ_１が所定しきい値Ｐｔｈよりも大なる時には論理「１」の信号をアンドゲート１６３に供給する一方、このパスメトリック値Ｐ_１が所定しきい値Ｐｔｈよりも小なる時には論理「０」の信号をアンドゲート１６３に供給する。
【００１９】
アンドゲート１６３は、比較器１６１及び比較器１６２夫々から論理「１」の信号が供給された時は論理「１」の信号を減算器１６４及び減算器１６５夫々に供給する一方、これら比較器１６１もしくは比較器１６２のどちらかから論理「０」の信号が供給された時は論理「０」の信号を減算器１６４及び減算器１６５夫々に供給する。減算器１６４は、アンドゲート１６３から論理「１」の信号が供給された時は上記パスメトリック値Ｐ_０の値から所定しきい値Ｐｔｈを減算したものを正規化パスメトリック値Ｑ_０としてこれをリミッタ１５２に供給する一方、アンドゲート１６３から論理「０」の信号が供給された時はかかるパスメトリック値Ｐ_０をそのまま正規化パスメトリック値Ｑ_０としてこれをリミッタ１５２に供給する。減算器１６５は、アンドゲート１６３から論理「１」の信号が供給された時は上記パスメトリック値Ｐ_１の値から所定しきい値Ｐｔｈを減算したものを正規化パスメトリック値Ｑ_１としてこれをリミッタ１５３に供給する一方、アンドゲート１６３から論理「０」の信号が供給された時はかかるパスメトリック値Ｐ_１をそのまま正規化パスメトリック値Ｑ_１としてこれをリミッタ１５３に供給する。
【００２０】
この際、上述した比較器１６１及び１６２、アンドゲート１６３、減算器１６４及び１６５なる構成により、前述したパスメトリック演算部にて求められたパスメトリック値の正規化を行うという正規化部を形成している。
リミッタ１５２は、正規化パスメトリック値Ｑ_０の最大値を所定値Ｌｍａｘに制限してこれをＤレジスタ１４１に供給する。Ｄレジスタ１４１は、かかるリミッタ１５２にて最大値制限された正規化パスメトリック値Ｑ_０をクロック信号のタイミングにて同期化してこれを最終パスメトリック値Ｌ_０として出力する。尚、この最終パスメトリック値Ｌ_０が上記加算器１２１及び１２３の夫々に帰還供給される。リミッタ１５３は、正規化パスメトリック値Ｑ_１の最大値を所定値Ｌｍａｘに制限してこれをＤレジスタ１４２に供給する。Ｄレジスタ１４２は、かかるリミッタ１５３にて最大値制限された正規化パスメトリック値Ｑ_１をクロック信号のタイミングにて同期化してこれを最終パスメトリック値Ｌ_１として出力する。尚、この最終パスメトリック値Ｌ_１が上記加算器１２２及び１２４の夫々に帰還供給される。ここで、上述の所定値Ｌｍａｘとは、そのＬｍａｘ自体が最終パスメトリック値Ｌとして加算器１２１〜１２４に帰還供給されてもかかる加算器各々が１回の加算処理にてオーバーフローを起こさない最大値である。
【００２１】
すなわち、かかる構成からなるパスメトリック演算回路２２２においては、上記加算器１２１〜１２４にて逐次累算加算して得られたパスメトリック値Ｐ_０及びＰ_１各々の値が共に所定しきい値Ｐｔｈより大となった場合には、これらパスメトリック値Ｐ_０及びＰ_１各々から上記所定しきい値Ｐｔｈを一律に減算する。つまり、かかる動作により、パスメトリック値Ｐ_０及びＰ_１の大小関係を維持しつつ、その増大した累算加算値を減少させて上記加算器１２１〜１２４のオーバーフローを防止するという正規化が為されるのである。
【００２２】
パスメトリック演算回路２２２は、かかる加算器１２１〜１２４にて得られた累算加算値が最小となるパスを示すパス選択信号Ｊ_０及びＪ_１をパスメモリ２２３に供給する。かかるパスメモリ２２３は、上記パス選択信号Ｊ_０及びＪ_１に応じて、「０」及び「１」の２値からなるデータ系列を更新しつつこれを復号２値信号として順次出力する。
【００２３】
以上の如く、ビタビ復号器２２は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から供給されたサンプル値系列に対し２乗誤差が最小となるようなデータ系列を選択することにより、２値の復号信号を得るのである。
かかるビタビ復号器２２の復号動作によれば、ノイズや符号間干渉の影響により上記Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値にレベル誤差が発生していても、２乗誤差が最小となるようなデータ系列を選択することにより、高い信頼性をもって、光ディスク３に記録されている記録情報に対応した２値の信号を得ることができるのである。
【００２４】
符号演算回路２４は、かかるビタビ復号器２２にて復号された復号２値信号を、再び上記所定ビット数からなるサンプル値の形態に変換すべく、かかる復号２値信号に対して符号演算を施す。
図５は、かかる符号演算回路２４の内部構成の一例を示す図である。
かかる図５において、上記ビタビ復号器２２から供給された復号２値信号は、Ｄフリップフロップ２４１及び乗算器２４２各々に供給される。乗算器２４２は、かかる復号２値信号に所定係数ｈ_１を乗算して得られた値を加算器２４４に供給する。この際、かかる復号２値信号の値が「０」である場合には、「０」が加算器２４４に供給される一方、復号２値信号の値が「１」である場合には、「ｈ_１」が加算器２４４に供給されるのである。Ｄフリップフロップ２４１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１のサンプリングタイミングと同一タイミングにて上記復号２値信号を取り込みこれを乗算器２４３に供給する。この際、かかるＤフリップフロップ２４１は、上記復号２値信号を１サンプルタイミング分だけ遅延してから、この復号２値信号を乗算器２４３に供給することになる。乗算器２４３は、この遅延復号２値信号に所定係数ｈ_２を乗算して得られた値を加算器２４４に供給する。この際、かかる遅延復号２値信号の値が「０」である場合には、「０」が加算器２４４に供給される一方、かかる遅延復号２値信号の値が「１」である場合には、「ｈ_２」が加算器２４４に供給されるのである。加算器２４４は、これら乗算器２４２及び２４３から供給された値を互いに加算して得たものを理想サンプル値ｑとしてこれを２乗誤差演算回路２５に供給する。
【００２５】
つまり、かかる符号演算回路２４は、記録再生系の伝達特性を近似したディジタルフィルタである。この際、実際の記録再生系からは、ノイズを含んだサンプル値が得られるが、この符号演算回路２４ではノイズの無い理想的なサンプル値が生成されるのである。
遅延回路２３は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から供給されたサンプル値を所定時間ｔだけ遅延したものをサンプル値ｒとして上記２乗誤差演算回路２５に供給する。この際、かかる所定時間ｔとは、上記ビタビ復号器２２及び符号演算回路２４の演算処理に費やされる時間と同一時間である。
【００２６】
よって、Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値にレベル誤差が生じていない場合には、上記理想サンプル値ｑとサンプル値ｒは互いに同一のものとなるのである。
２乗誤差演算回路２５は、かかる理想サンプル値ｑとサンプル値ｒとの２乗誤差、｛［理想サンプル値ｑ］−［サンプル値ｒ］｝^２を求めて、この２乗誤差値に対応した２乗誤差信号を平均化回路２６に供給する。平均化回路２６は、かかる２乗誤差信号の単位時間あたりの平均値を求めてこれを評価信号として出力する。
【００２７】
ここで、光ディスク３のピット形状が正常であり、かつ読取信号のＳ／Ｎが充分高い場合には、Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値に直接対応しているサンプル値ｒと、このサンプル値をビタビ復号器２２及び符号演算回路２４なる構成にて得られた理想サンプル値ｑとが等しくなり、上記２乗誤差は０となる。
従って、この際、図２に示されるが如き評価装置２０からは、正常読み取り動作を示すレベル０の評価信号が出力されるのである。
【００２８】
一方、光ディスク３のピット形状に異常が存在するか、もしくは読取信号のＳ／Ｎが低い場合には、上記サンプル値ｒは理想サンプル値ｑと隔たった値になる。この際、かかる評価装置２０からは、上記サンプル値ｒと理想サンプル値ｑとの差分に応じたレベルの評価信号が出力されるのである。
【００２９】
尚、上記実施例においては、平均化回路２６により、２乗誤差信号の単位時間あたりの平均値を求めてこれを評価信号として出力する構成としているが、統計的手法によりかかる２乗誤差信号における分散を求めて、これを上記評価信号として出力するようにしても構わない。又、２乗誤差演算回路２５にて得られた２乗誤差信号を直接、評価信号として出力するようにしても構わない。又、上述の如く２乗誤差を用いずに、理想サンプル値ｑとサンプル値ｒとの減算値の絶対値に基づいて評価信号を得るようにしても上記実施例と同様に光ディスク３及び記録情報再生装置１０の評価を行うことができる。
【００３０】
図６は、本発明による評価装置３０を用いて記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際の構成を示す図である。
かかる図６において、記録情報再生装置１０における光ピックアップ１は、スピンドルモータ２によって回転駆動される光ディスク３に光ビームを照射する。更に、光ピックアップ１は、かかる光ディスク３からの反射光を光電変換して読取信号ｐを得てこれをＡ／Ｄ変換器１１及び２１各々に供給する。記録情報再生装置１０におけるＡ／Ｄ変換器１１は、読取信号ｐをサンプリングして得たサンプル値をビタビ復号器１２に供給する。ビタビ復号器１２は、順次供給されてくるサンプル値の系列に基づいてビタビ復号を行って復号２値信号を得て、これをデータ処理回路６に供給する。データ処理回路６は、かかる復号２値信号に対して、伝送路復号及び誤り訂正等のデータ処理を施して、これを再生ディジタルデータとして出力する。
【００３１】
評価装置３０におけるＡ／Ｄ変換器２１は、上記光ピックアップ１から供給された読取信号ｐを所定サンプルタイミングにてサンプリングし、これを所定ビット数からなるディジタルのサンプル値に変換してブランチメトリック演算回路２２１に供給する。かかるブランチメトリック演算回路２２１は、上記Ａ／Ｄ変換器２１から順次供給されてくるサンプル値と、予め設定されている複数の予測サンプル値各々との２乗誤差、すなわち｛［サンプル値］−［予測サンプル値］｝^２を夫々求め、これらをブランチメトリック信号としてパスメトリック演算回路２２２｀に供給する。
【００３２】
ここで、かかるブランチメトリック演算回路２２１に上述の読取信号ｐが供給されるまでの伝送路系をＰＲ（１、１）パーシャルレスポンス伝送系とすると、時点ｋにおける受信サンプル値Ｙ（ｋ）は、時点ｋにおける送信サンプル値Ｘ（ｋ）と一時点前の送信サンプル値Ｘ（ｋ−１）とによって予測出来る。すなわち、かかるＸ（ｋ）とＸ（ｋ−１）が「０、０」の時にはＹ（ｋ）は「０」となり、Ｘ（ｋ）とＸ（ｋ−１）が「０、１」もしくは「１、０」の時にはＹ（ｋ）は「１」となり、Ｘ（ｋ）とＸ（ｋ−１）が「１、１」の時にはＹ（ｋ）は「２」となるのである。つまり、ブランチメトリック演算回路２２１に供給される受信サンプル値Ｙ（ｋ）は、２つの送信サンプル値Ｘ（ｋ）とＸ（ｋ−１）とに応じて４通りの予測が出来るのである。よって、この際ブランチメトリック演算回路２２１は、これら４つの予測値各々に対応した４つのブランチメトリック信号λ_００〜λ_１１をパスメトリック演算回路２２２｀に供給するのである。
【００３３】
図７は、かかるパスメトリック演算回路２２２｀の内部構成を示す図である。図７に示されるが如く、かかるパスメトリック演算回路２２２｀は、図４にて示されるパスメトリック演算回路２２２と同一機能ブロックにて構成されている。この際、図７に示されるが如く、かかるパスメトリック演算回路２２２｀においては、そのアンドゲート１６３の論理出力を正規化信号として出力する構成となっている。
【００３４】
つまり、上述した加算器１２１〜１２４、比較器１２５及び１２６、選択回路１２７及び１２８からなるパスメトリック演算部にて求められたパスメトリック値Ｐ_０及びＰ_１各々の値が共に所定しきい値Ｐｔｈより大となった場合には、比較器１６１及び１６２、アンドゲート１６３、減算器１６４及び１６５なる正規化部にて、これらパスメトリック値Ｐ_０及びＰ_１各々から上記所定しきい値Ｐｔｈを一律に減算するという正規化動作が実行されると同時に、かかる正規化動作が実行されたことを示す論理「１」の正規化信号がアンドゲート１６３から出力されるのである。
【００３５】
周波数カウンタ３３は、上記正規化信号が単位時間あたりに供給される数をカウントしてこのカウント値に対応した評価信号を出力する。
以上の如く、かかる評価装置３０においては、光ディスク３のピット形状に異常が存在するか、もしくは読取信号のＳ／Ｎが低い場合には、上記ビタビ復号器２２における予測サンプル値と、実際に上記Ａ／Ｄ変換器２１にて得られたサンプル値とには大きな隔たりが生じてその２乗誤差値が大となり、故にその累算加算値の増加スピードも大となる点に着目して、かかる累算加算値が所定しきい値を越える度に実施される正規化動作の発生頻度を周波数カウンタ３３にて測定することにより、光ディスク及び記録情報再生装置各々の評価を行う評価信号を得る構成としたのである。
【００３６】
尚、記録情報再生装置１０に設けられているビタビ復号器１２のパスメトリック演算回路が図４にて示されるが如き構成であれば、上記図７に示されるように、アンドゲート１６３から出力される正規化信号を外部に取り出せる構成としておき、この正規化信号を直接、周波数カウンタ３３に供給する構成としても良い。
【００３７】
かかる構成によれば、評価装置３０の内部構成としては図８にて示されるが如き周波数カウンタ３３のみとなるのである。
【００３９】
【発明の効果】
本発明による光ディスクの評価装置は、光ディスクから読み取られた読取信号をＡ／Ｄ変換してサンプル値を得て、このサンプル値とビタビ復号における予測サンプル値との２乗誤差の累算加算値が所定しきい値を越える度に実施される正規化動作の発生頻度に基づいて光ディスクの評価を行うための評価信号を得る構成としている。
【００４０】
よって、本発明によれば、高密度記録化によりその読取信号の高周波成分の信号レベルが小となっても、光ディスク及び記録情報再生装置各々に対して、ピット形状の評価及び読取信号のＳ／Ｎの評価を精度良く行うことが出来て好ましいのである。
【図面の簡単な説明】
【図１】光ディスクを含んだ記録情報再生装置の概略構成を示す図である。
【図２】本発明の第１の特徴による評価装置２０を用いて記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際の構成を示す図である。
【図３】ビタビ復号器２２の内部構成の一例を示す図である。
【図４】パスメトリック演算回路２２２の内部構成の一例を示す図である。
【図５】符号演算回路２４の内部構成の一例を示す図である。
【図６】本発明の第２の特徴による評価装置３０を用いて記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際の構成を示す図である。
【図７】パスメトリック演算回路２２２’の内部構成の一例を示す図である。
【図８】本発明の第２の特徴による評価装置３０を用いて記録情報再生装置１０に対して評価試験を実施する際の構成を示す図である。
【主要部分の符号の説明】
２０、３０評価装置
２１Ａ／Ｄ変換器
２２ビタビ復号器
２３遅延回路
２４符号演算回路
２５２乗誤差演算回路
３３周波数カウンタ
２２２’ パスメトリック演算回路

Claims

ディジタルデータが記録されている光ディスクの評価装置であって、
前記光ディスクから読み取られた読取信号を順次サンプリングしてサンプル値に変換するＡ／Ｄ変換器と、
前記サンプル値と複数の予測サンプル値各々との誤差値を前記サンプリングのタイミング毎に求めてこの誤差値各々に対応したブランチメトリックを得るブランチメトリック演算手段と、
前記サンプリングタイミング毎に前記ブランチメトリックの累算加算値を逐次求めてこれをパスメトリックとするパスメトリック演算手段と、
前記パスメトリックの値が所定しきい値より大となる度に前記パスメトリックの値から前記所定しきい値を減算すると共に正規化信号を出力する正規化手段と、
単位時間あたりに供給される前記正規化信号の数をカウントしてこのカウント値を前記光ディスクのピット形状が異常であるか否かを評価するための評価信号として得る手段とを有することを特徴とする光ディスクの評価装置。