JPH0816649B2 - 液体分析の校正方法 - Google Patents
液体分析の校正方法Info
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- JPH0816649B2 JPH0816649B2 JP1265281A JP26528189A JPH0816649B2 JP H0816649 B2 JPH0816649 B2 JP H0816649B2 JP 1265281 A JP1265281 A JP 1265281A JP 26528189 A JP26528189 A JP 26528189A JP H0816649 B2 JPH0816649 B2 JP H0816649B2
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N21/8483—Investigating reagent band
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は液体分析の測定値の校正方法に関するもので
ある。さらに詳しくは、測定範囲の一部濃度領域でしか
標準液或いは校正液が得られない場合でも広い濃度範囲
に亘って測定値を校正することができる校正方法に関す
るものである。
ある。さらに詳しくは、測定範囲の一部濃度領域でしか
標準液或いは校正液が得られない場合でも広い濃度範囲
に亘って測定値を校正することができる校正方法に関す
るものである。
（発明の背景） 液体試料中の被検成分（アナライト）の定量分析で
は、適当な化学的又は酵素的反応などにより被検成分に
基づいて、その光学密度（吸光度、透過光学濃度又は反
射光学濃度）から被検物濃度を求めることが行なわれて
いる。この時、濃度既知の標準試料の濃度と光学密度と
の対応関係を予めアッセイして標準曲線（検量線ともい
われる）として作成しておき、この標準曲線を使って被
検物の濃度を決めている。
は、適当な化学的又は酵素的反応などにより被検成分に
基づいて、その光学密度（吸光度、透過光学濃度又は反
射光学濃度）から被検物濃度を求めることが行なわれて
いる。この時、濃度既知の標準試料の濃度と光学密度と
の対応関係を予めアッセイして標準曲線（検量線ともい
われる）として作成しておき、この標準曲線を使って被
検物の濃度を決めている。
しかし標準曲線を作成するには多くの標準試料が必要
であり、アッセイ毎に調製するのは煩雑である。特に臨
床検査などのように全血、血漿、血清などの生体体液を
試料とする場合には、濃度既知の標準試料（生体体液）
を随時準備してアッセイ毎に調製するのは困難である。
そこで標準曲線を予め求めておき、アッセイ時にはこの
標準曲線との差異（又は誤差）を校正することが行なわ
れている。すなわち所定の表示値を持つ何点かの校正液
を用いて、その測定値から校正曲線を作成し各試料の測
定値を校正している。
であり、アッセイ毎に調製するのは煩雑である。特に臨
床検査などのように全血、血漿、血清などの生体体液を
試料とする場合には、濃度既知の標準試料（生体体液）
を随時準備してアッセイ毎に調製するのは困難である。
そこで標準曲線を予め求めておき、アッセイ時にはこの
標準曲線との差異（又は誤差）を校正することが行なわ
れている。すなわち所定の表示値を持つ何点かの校正液
を用いて、その測定値から校正曲線を作成し各試料の測
定値を校正している。
例えばH,M,Lの各標準表示値を持つ校正液について同
一アッセイを行ない、得られた光学密度等から標準曲線
に基づき測定値h,m,lを求め第２図のようにプロット
し、得られた校正曲線を用いて各試料の測定とを校正す
るものである。自動測定装置では、（l,L）、（ｍ、
Ｍ）、（ｈ、Ｈ）のデータからこの曲線の関数（通常は
２次）を以下のように最小二乗法により求め、 Ｙ＝α＋β・Ｘ＋γ・X2 この補正式により測定値の校正を行なう。第２図に示
すように、標準表示値L,M,Hの濃度差が十分に広ければ
測定値l,m,hが独立に変化しても、補正関数の曲がりの
効果（２次項の寄与）は少なく、広い範囲の測定値を校
正すことができる。
一アッセイを行ない、得られた光学密度等から標準曲線
に基づき測定値h,m,lを求め第２図のようにプロット
し、得られた校正曲線を用いて各試料の測定とを校正す
るものである。自動測定装置では、（l,L）、（ｍ、
Ｍ）、（ｈ、Ｈ）のデータからこの曲線の関数（通常は
２次）を以下のように最小二乗法により求め、 Ｙ＝α＋β・Ｘ＋γ・X2 この補正式により測定値の校正を行なう。第２図に示
すように、標準表示値L,M,Hの濃度差が十分に広ければ
測定値l,m,hが独立に変化しても、補正関数の曲がりの
効果（２次項の寄与）は少なく、広い範囲の測定値を校
正すことができる。
しかし標準値L,M,Hの濃度差が十分に広くとれない場
合には、上限標準値Ｈを超える表示値、下限標準値Ｌよ
り下の表示値は誤差の大きいものとなり、測定値l,m,h
の変化によっては被検成分の定量域内に極値を持つこと
になって、測定値を校正することができない。
合には、上限標準値Ｈを超える表示値、下限標準値Ｌよ
り下の表示値は誤差の大きいものとなり、測定値l,m,h
の変化によっては被検成分の定量域内に極値を持つこと
になって、測定値を校正することができない。
このような問題は、例えば、乾式分析要素を用いる乾
式分析方法、特に全血、血漿、血清等の生体体液中の被
検物を分析する場合に生じている。
式分析方法、特に全血、血漿、血清等の生体体液中の被
検物を分析する場合に生じている。
乾式分析要素とは、透光性支持体の上に試薬層、多孔
性展開層などの機能をもつ層を順次積層したもので、展
開層の上に点着した水性液体試料を試薬層に供給して、
試薬層での発色を支持体側から反射測光してその光学密
度から比色法により被検物量を定量するものである。乾
式分析要素の具体例として米国特許2,846,808,同3,036,
893,同3,368,872,同3,992,928,特開昭49−53888,特開昭
51−140191、同52−3488、同53−131089、同55−16435
6,同60−222769、同61−4959、同55−90859、Clinical
Chemistry,24,1335−1350,（1978）,Analytical Chemis
try,55（４）,498−514,（1983）,Clinical Chemistryh
27,1287−1290,（1981）などに記載のものがある。
性展開層などの機能をもつ層を順次積層したもので、展
開層の上に点着した水性液体試料を試薬層に供給して、
試薬層での発色を支持体側から反射測光してその光学密
度から比色法により被検物量を定量するものである。乾
式分析要素の具体例として米国特許2,846,808,同3,036,
893,同3,368,872,同3,992,928,特開昭49−53888,特開昭
51−140191、同52−3488、同53−131089、同55−16435
6,同60−222769、同61−4959、同55−90859、Clinical
Chemistry,24,1335−1350,（1978）,Analytical Chemis
try,55（４）,498−514,（1983）,Clinical Chemistryh
27,1287−1290,（1981）などに記載のものがある。
展開層に点着された液体試料は、展開層上で点着量に
ほぼ比例した面積の円状に広がった後、有形成分が濾過
されつつ、その液体成分が試薬層に達する。この結果試
薬層には単位面積当りほぼ一定容量の水性液体試料が供
給される。この作用は展開作用またはメータリング作用
と呼ばれている。このような展開作用は、点着される水
性液体試料の物性（粘度、比重、pH等）に大きく影響さ
れる。従って、全血、血漿、血清、尿などの生体体液中
のアナライトを分析するには、校正液もこれら生物体液
に近い物性をもったものを用いることが好ましい。この
ため、例えば血液中のアルブミンや総蛋白量を定量する
場合には、凍結乾燥したヒト血清を適当な標準値となる
ように溶解して校正液として用いている。しかしこの場
合でも、アルブミンや総蛋白量の濃度を大きく変える
と、校正液の物性は測定すべき生物体液の物性とはかけ
離れたものになり校正液として不都合が生じるから、結
局、校正液の最低濃度と最高濃度の差は大きくすること
はできない。従って、最小二乗法などにより校正曲線を
求めても、前記したような極値を定量域内に生じたりし
て、広い範囲での測定とを校正することができなかっ
た。
ほぼ比例した面積の円状に広がった後、有形成分が濾過
されつつ、その液体成分が試薬層に達する。この結果試
薬層には単位面積当りほぼ一定容量の水性液体試料が供
給される。この作用は展開作用またはメータリング作用
と呼ばれている。このような展開作用は、点着される水
性液体試料の物性（粘度、比重、pH等）に大きく影響さ
れる。従って、全血、血漿、血清、尿などの生体体液中
のアナライトを分析するには、校正液もこれら生物体液
に近い物性をもったものを用いることが好ましい。この
ため、例えば血液中のアルブミンや総蛋白量を定量する
場合には、凍結乾燥したヒト血清を適当な標準値となる
ように溶解して校正液として用いている。しかしこの場
合でも、アルブミンや総蛋白量の濃度を大きく変える
と、校正液の物性は測定すべき生物体液の物性とはかけ
離れたものになり校正液として不都合が生じるから、結
局、校正液の最低濃度と最高濃度の差は大きくすること
はできない。従って、最小二乗法などにより校正曲線を
求めても、前記したような極値を定量域内に生じたりし
て、広い範囲での測定とを校正することができなかっ
た。
（発明の目的） 本発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、
校正液の表示値の範囲外であっても精度良く測定値を校
正できる液体分析の校正方法を提供することを目的とす
る。
校正液の表示値の範囲外であっても精度良く測定値を校
正できる液体分析の校正方法を提供することを目的とす
る。
（発明の構成） 前記の目的は、被検成分の含有量の異なるｎ個（ｎは
２以上の整数）の校正液の表示値とその測定値とから求
めた校正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう
液体分析の校正方法において、前記ｎ個の校正液の表示
値の上限の範囲外の仮想点として被検成分定量域上限値
近傍の値における測定値を推定し、又は下限の範囲外の
仮想点として被検成分定量域下限値近傍の値あるいは被
検成分含有量０近傍の値における測定値を推定し、この
仮想測定値と前記ｎ個の測定値のうちの２からｎのうち
の任意の個数の選ばれた測定値とから校正曲線の関数を
求めることを特徴とする液体分析の校正方法により達成
される。
２以上の整数）の校正液の表示値とその測定値とから求
めた校正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう
液体分析の校正方法において、前記ｎ個の校正液の表示
値の上限の範囲外の仮想点として被検成分定量域上限値
近傍の値における測定値を推定し、又は下限の範囲外の
仮想点として被検成分定量域下限値近傍の値あるいは被
検成分含有量０近傍の値における測定値を推定し、この
仮想測定値と前記ｎ個の測定値のうちの２からｎのうち
の任意の個数の選ばれた測定値とから校正曲線の関数を
求めることを特徴とする液体分析の校正方法により達成
される。
（原理） 第１図により本発明の原理を説明する。
所定の標準表示値H,M,Lを持つ３つの校正液につい
て、被検成分の定量分析を実施するのと同じ方法でアッ
セイ行ない測定値l,m,hとを求め第１図のようにプロッ
トする。
て、被検成分の定量分析を実施するのと同じ方法でアッ
セイ行ない測定値l,m,hとを求め第１図のようにプロッ
トする。
次に仮想点の座標（仮想表示値，仮想測定値）を決め
る。校正液表示値の上限以上に仮想点を求める場合に
は、その仮想表示値は被検成分の定量範囲上限値近傍の
値が好ましく、より具体的には定量範囲の上限値であ
る。また校正液表示値の下限以下に仮想点を定める場合
には、その仮想表示値は、被検成分の含有量０の近傍又
は定量範囲の下限近傍の値とするのが好ましい。この
内、通常は被検成分０の値を下限側の仮想点とするの
が、後の数学的処理を考慮すると、特に好ましい。これ
らの仮想表示値に対応する推定測定値（後述の方法で推
定する）が仮想測定値である。
る。校正液表示値の上限以上に仮想点を求める場合に
は、その仮想表示値は被検成分の定量範囲上限値近傍の
値が好ましく、より具体的には定量範囲の上限値であ
る。また校正液表示値の下限以下に仮想点を定める場合
には、その仮想表示値は、被検成分の含有量０の近傍又
は定量範囲の下限近傍の値とするのが好ましい。この
内、通常は被検成分０の値を下限側の仮想点とするの
が、後の数学的処理を考慮すると、特に好ましい。これ
らの仮想表示値に対応する推定測定値（後述の方法で推
定する）が仮想測定値である。
ここでは定量上限の表示値Hmaxに対応する仮想測定値
をhmaxとし、また０点（表示値＝０）の仮想測定値をc0
とする。ここで定量上限とは被検成分の定量域の上限値
を意味し、０点とは文字通り被検成分濃度０（ゼロ）を
意味する。この仮想点の仮想測定値hmaxとc0を求める。
をhmaxとし、また０点（表示値＝０）の仮想測定値をc0
とする。ここで定量上限とは被検成分の定量域の上限値
を意味し、０点とは文字通り被検成分濃度０（ゼロ）を
意味する。この仮想点の仮想測定値hmaxとc0を求める。
一つの方法は、求めるべき校正曲線がｍ次であれば、
（l,L），…，（m,M），…，（h,H）の（ｍ＋１）個の
（あるいは校正曲線の次数に応じて（l,L），（m,M），
（h,H）の３点について各濃度について複数回分析操作
を実施して被数個の測定値を求めてもよい）を用い最小
二乗法によりｍ−１次の曲線式を求め、hmaxとc0を求め
る。本発明の好ましい態様例として、校正曲線が２次関
数の場合がある。通常校正曲線は２次関数となる場合が
多いから、この場合には（l,L），（m,M）、（h,H）の
３点から１次の、即ち、直線式を求め、Ｙ＝Hmaxと交わ
る点から（hmax,Hmax）を、Ｘ軸と交わる点から（c0,
0）を求めることができる。
（l,L），…，（m,M），…，（h,H）の（ｍ＋１）個の
（あるいは校正曲線の次数に応じて（l,L），（m,M），
（h,H）の３点について各濃度について複数回分析操作
を実施して被数個の測定値を求めてもよい）を用い最小
二乗法によりｍ−１次の曲線式を求め、hmaxとc0を求め
る。本発明の好ましい態様例として、校正曲線が２次関
数の場合がある。通常校正曲線は２次関数となる場合が
多いから、この場合には（l,L），（m,M）、（h,H）の
３点から１次の、即ち、直線式を求め、Ｙ＝Hmaxと交わ
る点から（hmax,Hmax）を、Ｘ軸と交わる点から（c0,
0）を求めることができる。
もう一つの方法では、（l,L）、（m,M）の２点を用い
てこの２点の延長軸線上でＸ軸と交わる点から（c0,0）
を求め、（m,M）、（h,H）の２点を用いこの２点の延長
軸線上でＹ＝Hmaxと交わる点から（hmax,Hmax）を求め
るこができる。
てこの２点の延長軸線上でＸ軸と交わる点から（c0,0）
を求め、（m,M）、（h,H）の２点を用いこの２点の延長
軸線上でＹ＝Hmaxと交わる点から（hmax,Hmax）を求め
るこができる。
こうして求めた２点を含む（c0,0），（l,L），（m,
M），（h,H），（hmax,Hmax）の５点を用いて校正曲線
（第１図実線）を求めることができる。求められた校正
曲線により、ｌ〜ｈの範囲外にある測定値も校正するこ
とができる。
M），（h,H），（hmax,Hmax）の５点を用いて校正曲線
（第１図実線）を求めることができる。求められた校正
曲線により、ｌ〜ｈの範囲外にある測定値も校正するこ
とができる。
仮想点を求める方法をここでは２つ示したが、前者の
ように校正液のｎ個の全ての表示値を用いると、上限・
下限側の表示値はそれぞれ下限・上限側の側の仮想点に
誤差を与えることga判明した。このような場合には、後
者の方法のように上限（又は下限）側の仮想点を求める
場合には下限（又は上限）側の表示値・測定値は計算か
ら除いた方が好ましい。すなわち、ｎ個の校正液がある
場合には、ｎ個の校正液の表示値の内、上限側の２〜
（ｎ−１）個の表示値とその測定値を用いて上限以上の
仮想点での推定測定値を求め、一方下限以下の仮想点で
の推定測定値は下限側の２〜（ｎ−１）個の校正液の表
示値を用いて求めるのが好ましい。
ように校正液のｎ個の全ての表示値を用いると、上限・
下限側の表示値はそれぞれ下限・上限側の側の仮想点に
誤差を与えることga判明した。このような場合には、後
者の方法のように上限（又は下限）側の仮想点を求める
場合には下限（又は上限）側の表示値・測定値は計算か
ら除いた方が好ましい。すなわち、ｎ個の校正液がある
場合には、ｎ個の校正液の表示値の内、上限側の２〜
（ｎ−１）個の表示値とその測定値を用いて上限以上の
仮想点での推定測定値を求め、一方下限以下の仮想点で
の推定測定値は下限側の２〜（ｎ−１）個の校正液の表
示値を用いて求めるのが好ましい。
上限側及び下限側の２点のみを用いて仮想測定値を求
めるには、下記の式より行なう。定量上限値における仮
想測定値Xmaxについては、 Ymax:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn-1:2番目に高いの濃度の校正液の表示値 Xn:最高濃度の校正液の測定値 Xn-1:2番目に高い濃度の校正液の測定値 ０点における仮想測定値X0は X0:0点における仮想測定値 Y1:最低濃度の校正液の表示値 Y2:2番目に低い濃度の校正液の表示値 X1:最低濃度の校正液の測定値 X2:2番目に低い濃度の校正液の測定値 である。
めるには、下記の式より行なう。定量上限値における仮
想測定値Xmaxについては、 Ymax:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn-1:2番目に高いの濃度の校正液の表示値 Xn:最高濃度の校正液の測定値 Xn-1:2番目に高い濃度の校正液の測定値 ０点における仮想測定値X0は X0:0点における仮想測定値 Y1:最低濃度の校正液の表示値 Y2:2番目に低い濃度の校正液の表示値 X1:最低濃度の校正液の測定値 X2:2番目に低い濃度の校正液の測定値 である。
（実施例） 血液成分の自動分析機である富士写真フイルム（株）
アナライザーFDC5000を用いたアルブミン定量分析用多
層分析要素の校正を次のようにして行なった。
アナライザーFDC5000を用いたアルブミン定量分析用多
層分析要素の校正を次のようにして行なった。
多層分析要素は特開昭64−49962の実施例１に記載さ
れているものを用いた。この多層分析要素は、透光性支
持体上に吸水層、さらに編物生地からなる展開層を順次
積層したもので、展開層にはアルブミンにより発色する
ブロムクレゾールグリーンを指示薬とする試薬が含浸さ
れている。
れているものを用いた。この多層分析要素は、透光性支
持体上に吸水層、さらに編物生地からなる展開層を順次
積層したもので、展開層にはアルブミンにより発色する
ブロムクレゾールグリーンを指示薬とする試薬が含浸さ
れている。
校正に用いる校正液（キャリブレータ）は次のように
して調製した。校正液レベルＬ（表示値:2.4g/dl）はヒ
トプール血清に蒸留水を加え所定の濃度に設定した後、
凍結乾燥したものを用時に再溶解したものである。レベ
ルＭ（表示値:3.4g/dl）はヒトプール血清をそのまま分
注凍結乾燥したものを用時に再溶解したものである。ま
たレベルＨ（表示値:4.8g/dl）はヒトプール血清に各種
分析目的成分を添加し、所定の濃度に調製したのち、分
注凍結乾燥したもので用時に再溶解したものである。
して調製した。校正液レベルＬ（表示値:2.4g/dl）はヒ
トプール血清に蒸留水を加え所定の濃度に設定した後、
凍結乾燥したものを用時に再溶解したものである。レベ
ルＭ（表示値:3.4g/dl）はヒトプール血清をそのまま分
注凍結乾燥したものを用時に再溶解したものである。ま
たレベルＨ（表示値:4.8g/dl）はヒトプール血清に各種
分析目的成分を添加し、所定の濃度に調製したのち、分
注凍結乾燥したもので用時に再溶解したものである。
なおアナライザーFDC5000には、予め濃度既知の標準
試料により求めた標準曲線がメモリされており、多層分
析要素の反射光学密度より試料濃度（測定値）が求めら
れる。
試料により求めた標準曲線がメモリされており、多層分
析要素の反射光学密度より試料濃度（測定値）が求めら
れる。
FDC5000アナライザーで前記校正液レベルL,M,Hをそれ
ぞれ３回、上記分析要素に点着して37℃で６分インクベ
ーションし、分析要素内の変色の反射光学濃度を中心波
長640nmの可視光で測定した。その結果以下のような測
定データを得た。
ぞれ３回、上記分析要素に点着して37℃で６分インクベ
ーションし、分析要素内の変色の反射光学濃度を中心波
長640nmの可視光で測定した。その結果以下のような測
定データを得た。
ついで、下記の演算式に従って、c0とhmaxを算出し
た。なお分析要素の定量上限Hmaxは6.0g/dlである。
た。なお分析要素の定量上限Hmaxは6.0g/dlである。
０点における仮想測定値（c0） YL:レベルＬの校正液の表示値 YM:レベルＭの校正液の表示値 Xl:レベルＬの校正液の測定値 Xm:レベルＭの校正液の測定値 定量上限における仮想測定値（hmax） Hmax:定量上限値 YH:レベルＨの校正液の表示値 YM:レベルＭの校正液の表示値 Xh:レベルＨの校正液の測定値 Xm:レベルＭの校正液の測定値 その結果以下のような結果を得た。
c0＝−1.48g/dl hmax＝5.40g/dl このデータをもとに、校正関数の算出を行なった。結
果を第４図に示す。その校正関数は、横軸（測定値）を
Ｘ軸、縦軸（表示値）をＹ軸とすると、 Ｙ＝0.07608X2＋0.52366X＋0.68746 相関係数γ＝0.98917 偏差Syx＝0.25505 であった。
果を第４図に示す。その校正関数は、横軸（測定値）を
Ｘ軸、縦軸（表示値）をＹ軸とすると、 Ｙ＝0.07608X2＋0.52366X＋0.68746 相関係数γ＝0.98917 偏差Syx＝0.25505 であった。
なお比較例として、仮想点を用いずにレベルL,M,Hの
３点のみで校正関数を計算すると、 Ｙ＝0.31172X2−1.16337X＋3.4459 相関係数γ＝0.98897 偏差Syx＝0.16536 となり、第５図に示すように極値を持つ校正曲線となっ
ていた。
３点のみで校正関数を計算すると、 Ｙ＝0.31172X2−1.16337X＋3.4459 相関係数γ＝0.98897 偏差Syx＝0.16536 となり、第５図に示すように極値を持つ校正曲線となっ
ていた。
こうして求めた校正関数を用いて、種々の濃度の試料
の測定値の校正を行なった。
の測定値の校正を行なった。
なおアルブミン濃度の標準測定法は、ブロムクレゾー
ルグリーン比色測定法に基づき行なった。
ルグリーン比色測定法に基づき行なった。
上記の表に示すように、比較例では中濃度域での補正
効果が顕著であるが、低濃度域、高濃度域では補正誤差
が大きく広い範囲での校正には耐えられない。一方実施
例では、校正液の濃度範囲を超える広い範囲にわたり補
正効果がみられた。
効果が顕著であるが、低濃度域、高濃度域では補正誤差
が大きく広い範囲での校正には耐えられない。一方実施
例では、校正液の濃度範囲を超える広い範囲にわたり補
正効果がみられた。
このように本発明によれば、校正液を用意できない濃
度域にわたって広範囲に精度良く測定値を校正できる。
度域にわたって広範囲に精度良く測定値を校正できる。
なお実施例では多層分析要素の測定値の校正について
示したが、本発明はこれに限られず、試料の物性などの
原因により定量域の全範囲で校正液を用意できない液体
分析にはいずれにも適用できるものであり、本発明はそ
のようなものを包含する。
示したが、本発明はこれに限られず、試料の物性などの
原因により定量域の全範囲で校正液を用意できない液体
分析にはいずれにも適用できるものであり、本発明はそ
のようなものを包含する。
なお本発明の好ましい態様をまとめると以下の通りで
ある。
ある。
（１） 被検成分の含有量の異なるｎ個（ｎは２以上の
整数）の校正液の表示値とその測定値とから求めた校正
曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液体分析
の校正方法において、 前記ｎ個の校正液の表示値の上限の範囲外の仮想点と
して被検成分定量域上限値近傍の値における測定値を推
定し、又は下限の範囲外の仮想点として被検成分定量域
下限値近傍の値あるいは被検成分含有量０近傍の値にお
ける測定値を推定し、この仮想測定値と前記ｎ個の測定
値のうちの２からｎのうちの任意の個数の選ばれた測定
値とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体
分析の校正方法。
整数）の校正液の表示値とその測定値とから求めた校正
曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液体分析
の校正方法において、 前記ｎ個の校正液の表示値の上限の範囲外の仮想点と
して被検成分定量域上限値近傍の値における測定値を推
定し、又は下限の範囲外の仮想点として被検成分定量域
下限値近傍の値あるいは被検成分含有量０近傍の値にお
ける測定値を推定し、この仮想測定値と前記ｎ個の測定
値のうちの２からｎのうちの任意の個数の選ばれた測定
値とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体
分析の校正方法。
（２） 校正液の表示値とその測定値とから求めた校正
曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校
正方法において、 ｎ個の校正液の表示値の内、上限側の２〜（ｎ−１）
個の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値
を求め、この仮想測定値とｎ個の校正液の測定値とから
校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校
正方法。
曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校
正方法において、 ｎ個の校正液の表示値の内、上限側の２〜（ｎ−１）
個の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値
を求め、この仮想測定値とｎ個の校正液の測定値とから
校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校
正方法。
（３） 校正液の表示値とその測定値とから求めた校正
曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校
正方法において、 ｎ個の校正液の表示値の内、下限側の２〜（ｎ−１）
個の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値
を求め、この仮想測定値とｎ個の校正液の測定値とから
校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校
正方法。
曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校
正方法において、 ｎ個の校正液の表示値の内、下限側の２〜（ｎ−１）
個の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値
を求め、この仮想測定値とｎ個の校正液の測定値とから
校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校
正方法。
（４） 校正液の表示値とその測定値とから求めた校正
曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校
正方法において、 ｎ個の校正液の表示の内、上限側の２〜（ｎ−１）個
の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値を
求める一方、 ｎ個の校正液の表示値の内、下限側の２〜（ｎ−１）
個の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値
を求め、 これら２つの仮想点の推定測定値とｎ個の校正液の測
定値とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液
体分析の校正方法。
曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校
正方法において、 ｎ個の校正液の表示の内、上限側の２〜（ｎ−１）個
の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値を
求める一方、 ｎ個の校正液の表示値の内、下限側の２〜（ｎ−１）
個の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値
を求め、 これら２つの仮想点の推定測定値とｎ個の校正液の測
定値とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液
体分析の校正方法。
（５） 前記上限以上の仮想点の表示値が定量範囲の上
限値であることを特徴とする（１），（２），（３）又
は（４）に記載の液体分析の校正方法。
限値であることを特徴とする（１），（２），（３）又
は（４）に記載の液体分析の校正方法。
（６） 前記下限以下の仮想点の表示値が０点であるこ
とを特徴とするに（１），（２），（３）又は（４）記
載の液体分析の校正方法。
とを特徴とするに（１），（２），（３）又は（４）記
載の液体分析の校正方法。
（７） 前記上限以上の仮想点の測定値が、下記の式よ
り求める（５）に記載の液体分析の校正方法。
り求める（５）に記載の液体分析の校正方法。
Xmax:定量上限値における仮想測定値 Ymax:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn-1:2番目に高いの濃度の校正液の表示値 Xn:最高濃度の校正液の測定値 Xn-1:2番目に高い濃度の校正液の測定値 （８） 表示値が０点である前記下限以下の仮想点の測
定値が、下記の式より求められる（６）に記載の液体分
析の校正方法。
定値が、下記の式より求められる（６）に記載の液体分
析の校正方法。
X0:0点における仮想測定値 Y1:最低濃度の校正液の表示値 Y2:2番目に低い濃度の校正液の表示値 X1:最低濃度の校正液の測定値 X2:2番目に低い濃度の校正液の測定値 （９） 前記液体分析が乾式分析方法による分析である
ことを特徴とする（１）〜（８）の何れかに記載の液体
分析の校正方法。
ことを特徴とする（１）〜（８）の何れかに記載の液体
分析の校正方法。
（10） 前記校正曲線は最小二乗法により求められるこ
とを特徴とする（１）〜（８）の何れかに記載の液体分
析の校正方法。
とを特徴とする（１）〜（８）の何れかに記載の液体分
析の校正方法。
（発明の効果） 以上のように本発明は、所定の表示値をもつ校正液の
測定値の他に、校正液の表示値の上限・下限の外の仮想
点での測定値を推定し、この仮想測定値を含めて校正曲
線を求めるものである。このため、校正液の標準値の範
囲外であっても精度良く測定値を校正できる。
測定値の他に、校正液の表示値の上限・下限の外の仮想
点での測定値を推定し、この仮想測定値を含めて校正曲
線を求めるものである。このため、校正液の標準値の範
囲外であっても精度良く測定値を校正できる。
第１図は、本発明の原理図である。第２、３図は標準値
の濃度領域が広い場合、狭い場合のそれぞれ従来方法に
よる校正曲線を示す。第４図は本発明の実施例による校
正曲線であり、第５図は従来法による比較例の校正曲線
である。
の濃度領域が広い場合、狭い場合のそれぞれ従来方法に
よる校正曲線を示す。第４図は本発明の実施例による校
正曲線であり、第５図は従来法による比較例の校正曲線
である。
Claims (1)
- 【請求項１】被検成分の含有量の異なるｎ個（ｎは２以
上の整数）の校正液の表示値とその測定値とから求めた
校正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液体
分析の校正方法において、 前記ｎ個の校正液の表示値の上限の範囲外の仮想点とし
て被検成分定量域上限値近傍の値における測定値を推定
し、又は下限の範囲外の仮想点として被検成分定量域下
限値近傍の値あるいは被検成分含有量０近傍の値におけ
る測定値を推定し、この仮想測定値と前記ｎ個の測定値
のうちの２からｎのうちの任意の個数の選ばれた測定値
とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分
析の校正方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1265281A JPH0816649B2 (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 液体分析の校正方法 |
| DE69024453T DE69024453T2 (de) | 1989-10-13 | 1990-10-11 | Verbessertes Kalibrierungsverfahren |
| EP90119509A EP0422646B1 (en) | 1989-10-13 | 1990-10-11 | Improvement in calibration |
| US07/940,770 US5348889A (en) | 1989-10-13 | 1992-09-04 | Method for correcting a calibration curve |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1265281A JPH0816649B2 (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 液体分析の校正方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03128439A JPH03128439A (ja) | 1991-05-31 |
| JPH0816649B2 true JPH0816649B2 (ja) | 1996-02-21 |
Family
ID=17415044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1265281A Expired - Fee Related JPH0816649B2 (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 液体分析の校正方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5348889A (ja) |
| EP (1) | EP0422646B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0816649B2 (ja) |
| DE (1) | DE69024453T2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE69233452T2 (de) * | 1991-09-09 | 2005-12-15 | Canon K.K. | Quantitativer Nachweis vom Lipid, in reiner Form oder im Komplex mit anderen Verbindungen |
| US5441418A (en) * | 1993-05-20 | 1995-08-15 | Binney & Smith Inc. | Thermochromic drawing device |
| JP3504750B2 (ja) * | 1993-12-22 | 2004-03-08 | オルソ−クリニカル ダイアグノスティクス，インコーポレイティド | 検量関係式の再校正法及び定量試験キット |
| US5514635A (en) * | 1993-12-29 | 1996-05-07 | Optum Corporation | Thermal writing surface and method for making the same |
| US5550053A (en) * | 1995-01-05 | 1996-08-27 | Si Industrial Instruments, Inc. | Method of calibrating an automatic chemical analyzer |
| US6649075B1 (en) * | 1996-07-23 | 2003-11-18 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for measuring etch uniformity of a semiconductor wafer |
| US6277584B1 (en) | 1998-12-16 | 2001-08-21 | Dade Behring Inc. | Method for calibrating a chemical analyzer with improved accuracy at low signal levels |
| KR100513210B1 (ko) * | 2000-09-25 | 2005-09-08 | 마츠시타 덴끼 산교 가부시키가이샤 | 크로마토그래피 정량 측정 장치 |
| US20060200070A1 (en) * | 2005-02-14 | 2006-09-07 | Callicoat David N | Method and apparatus for calibrating an analyte detection system with a calibration sample |
| US7883898B2 (en) * | 2007-05-07 | 2011-02-08 | General Electric Company | Method and apparatus for measuring pH of low alkalinity solutions |
| US8597190B2 (en) | 2007-05-18 | 2013-12-03 | Optiscan Biomedical Corporation | Monitoring systems and methods with fast initialization |
| WO2011156522A1 (en) | 2010-06-09 | 2011-12-15 | Optiscan Biomedical Corporation | Measuring analytes in a fluid sample drawn from a patient |
| EP2877952B1 (en) | 2012-07-27 | 2023-04-12 | Gen-Probe Incorporated | Dual reference calibration method and system for quantifying polynucleotides |
| CN104019842B (zh) * | 2014-05-27 | 2016-08-31 | 格力电器（合肥）有限公司 | 校准工装和校准方法 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JPS6358164A (ja) * | 1986-08-28 | 1988-03-12 | Shimadzu Corp | デ−タ処理装置 |
| JPS63111446A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-16 | Konica Corp | 分析装置 |
| JPS63132166A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-04 | Olympus Optical Co Ltd | 検量線設定方法 |
| JPS63169539A (ja) * | 1987-01-07 | 1988-07-13 | Hitachi Ltd | 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 |
| JPH01124751A (ja) * | 1987-11-10 | 1989-05-17 | Konica Corp | 変換式の作成方法 |
| JPH0746111B2 (ja) * | 1988-03-18 | 1995-05-17 | 株式会社日立製作所 | 試料分析方法及びこれを用いた自動分析装置 |
| US5126952A (en) * | 1991-01-22 | 1992-06-30 | Eastman Kodak Company | Bar coding calibration |
-
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- 1989-10-13 JP JP1265281A patent/JPH0816649B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-10-11 EP EP90119509A patent/EP0422646B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-10-11 DE DE69024453T patent/DE69024453T2/de not_active Expired - Fee Related
-
1992
- 1992-09-04 US US07/940,770 patent/US5348889A/en not_active Expired - Lifetime
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| EP0422646A2 (en) | 1991-04-17 |
| DE69024453D1 (de) | 1996-02-08 |
| US5348889A (en) | 1994-09-20 |
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| DE69024453T2 (de) | 1996-06-05 |
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