JPH01124751A - 変換式の作成方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （ａ業上の利用分野） この発明は分析値を得る変換式の作成方法に係り、詳し
くは基準の分析装置の分析値と、他の例えば製作して出
荷する分析装置の分析値を一致させる変換式の作成方法
に関する。

（発明の背景） 従来、透明支持体上に少なくとも一層の試薬層を有し、
被検体の点着により光学濃度変化を生じる分析スライド
に対・し、血液又は血清等の検体を滴下して反射濃度を
測定し、この検体における特定の成分の含有の有無ある
いはその含有量等を化学的に分析する分析装置がある。

この分析装置では分析スライドに光を照射し、この反射
する光を受光して、この反射光から反応の進行状態また
は結果等を測定し、その測定値を演算処理して分析値を
求めるようになっている。

しかしながら、分析スライドの反応の度合は、反射光に
よる光学反射濃度とは直線関係が成立しないため、例え
ば測定値が光学反射濃度に基づく場合には、光学反射濃
度を被検成分の物質濃度または酵素濃度性値の分析値に
変換させるには、何らかの変換式が必要である。

この変換式としては、「臨床生化学検査における分光測
定法」　（吉野二男・大沢久男編、学会出版センター）
で、例えば反射率と物質濃度との関係を、にｕｂａｌｋ
ｍ−Ｍｕｎｋの式によることが知られており、また同書
にはＷｌｌｌｉａｍｓ−Ｃ１ａｐｐｅｒの式や、Ｂｅｅ
ｒの法則に基づくものも教示され、さらに特開昭６２−
３２３４４号公報に開示され、またこの出願人は先に特
願昭６１−２５７３８２号において双曲線である変換式
を提案している。

ところで、このような変換式を分析装置に組み込む必要
があるが、この場合予め変換式を備えた基準の分析装置
を準備し、この基準の分析装置の分析値に、他の分析装
置の分析値を一致させるようにし、測定精度を向上させ
ることが考えられる。この場合、個々の分析装置への変
換式の合せ込みに、実際の分析スライドに検体を滴下し
て基準の分析装置と他の分析装置とで測定して、分析値
を基準の分析装置の分析値と一致させるようにすると、
検体の滴下による分析値のバラツキがあり、好ましくな
い、また、実際に滴下を行なう場合、反応時間があるの
で、測定値を出すまでに時間がかかる等の不具合がある
。

（発明の目的） この発明は上記の点に鑑み、測定値から分析値を得る変
換式を簡単、かつ低費用で短時間に合せ込むことが可能
な変換式の作成方法を提供することを目的としている。

（発明の構成） この発明は上記の目的を達成するため、複数の標準スラ
イドを基準の分析装置と他の分析装置とで測定して得た
それぞれの測定値に基づき、前記基準の分析装置の分析
値に、他の分析装置の分析値を対応させる変換式を求め
ることを特徴としている。

（作用） この発明では、検体を滴下する必要のない複数の標準ス
ライドを予め準備し、この標準スライドで基準の分析装
置と他の分析装置とで測定し、それぞれの測定値を得る
。そして、このそれぞれの測定値に基づき基準の分析装
置の分析値に、他の分析装置の分析値を対応させる変換
式を分析装置に合せ込む。

（実施例） 以下、その発明の実施例を添付図面に基づいて説明する
。

第１図はこの発明の第１実施例の基本構成を示すブロッ
ク図である。

図において符号１は標準スライドで、カラーベーパー、
プラスチック及びセラミック等で形成され、かつ所定の
色が付着されており、測定で所定の設定された光学反射
濃度がでるように構成されている。この標準スライド１
は分析スライド２と同形状に形成されており、この標準
スライド１は基準の分析装置３と他の分析装置４とでそ
れぞれ複数回測定される。

そして、それぞれの分析装置３．４に備えられた測定値
を得る手段５．６で、測定値（光学反射濃度）を得る。

この得られたそれぞれの複数の測定値は一次回帰式を求
める手段フに入力され、ここで測定値同士の一次回帰式
を求める。

この−次回帰式は他の分析装置の変換式を求める手段８
で、基準の分析装置３の変換式中の測定項に代入され、
基準の分析装置３の分析値に他の分析値＝４の分析値を
一致させる変換式を得る。

この変換式は測定値から分析値（被検成分の物質濃度ま
たは酵素活性値）を得るもので、この変換式が他の分析
装置４に合せ込まれ、分析スライド２の測定項目に応じ
た検量線を得る。

例えば、基準の分析装置３に備えられる変換式として、
特願昭６１−２５７３８２号明細書に記載の が用いられる。

この変換式（１）において、Ｙは求める被検成分の物質
濃度または酵素活性値である分析値であり、Ｘは測定値
で、エンドポイント測定法の場合には光学反射濃度、レ
イト測定法の場合には反応濃度の時間変化により求める
。また、Ａ％Ｂ、Ｃは分析スライドの種類、分析装置の
有する固有値によって定まる定数を表わす。

従って、前記−次回帰式を求める手段で求められた一次
回帰式が、例えば ＹｘａＸ＋ｂ　　・　・　・　（２） であるとすると、 この一次回帰式（２）を前記変換式（１）の測定項に代
入すると、 が求められ、この変換式（３）が他の分析装置４に備え
られる。

従って、この分析装置４で分析スライド２を測定すると
、この変換式（３）によって光学反射濃度の測定値から
分析値が求められ、この分析値は基準の分析装置３の分
析値と一致する。

なお、この交換式を求めるには、分析装置外に設置され
たコンピュータによって行なわれるが、分析装置内でも
でき、この場合にはデータを処理して分析装置内に、数
値入力して行なうようにしてもよい。

第２図はこの発明が適用される分析装置の外観図である
。この装置本体１１にはスライド挿入部１２、検体滴下
部１３、スライド排出部１４、表示部１５、プリンタ部
１６及び操作部１７が設けられており、表示部１５には
操作内容やエラー等が表示される。

第３図は操作部１フを示す図であり、日付等を入力する
数値キー１８、マイナス値を人力するマイナスキー１９
、数値の入れ間違いの取消しのとき等に使用する取消キ
ー２０、数値入力のときに使用する人カキ−２１、記録
紙の送り出しのとき使用する紙送りキー２２、分析スラ
イドを入れ間違いや検体滴下をやめるときに使用するリ
セットキー２３、他の分析機による測定値との回帰を修
正するときや分析スライドの較正をするときに使用する
較正キー２４、変換式作成、ウオームアツプ時間の短縮
、滴下時の表示変更、記憶データの呼び出し、単□位の
変更、日付の変更等に使用するコントロールキー２５、
分析スライドの挿入を完了したとき、または滴下を開始
するときに使用する挿入完了／滴下開始キー２６、滴下
が終了したときに使用する滴下終了キー２７が配置され
ている。

第４図は分析スライド２の分解斜視図、第５図はその断
面図である。分析スライド２は中央部の凹所に測光用の
透孔２８ａを有するマウントベース２８の凹所に試薬を
有する分析素子２９が装着され、その上から中央部に検
体滴下用の透孔３０ａを有するマウントカバ−３０を重
ね、超音波等の接着手段により接着されている。このマ
ウントベース２８の両側には挿入方向を決める段部２８
ｂが形成されており、またマウントカバー３０の表面に
は挿入方向を示す矢印３１ａ、測定項目名３１ｂ、測定
項目を判別するための測定項目識別コード３２が表示さ
れている。

前記分析スライドとして、エンドポイント測定法に従う
性質のものであれば、例えばグルコース（ＣｔＵ）、総
コレステロール（Ｔ−（：ｈａ）、へそグロビン（Ｈｂ
）、尿素窒素（ＢＵＮ）、尿酸（ＵＡ）、総タンパク（
ＴＰ）、アルブミン（Ａｌｂ）、トリグリセライド（Ｔ
Ｇ）、総ビリルビン（Ｔ−Ｂｉｌ）等があり滴下終了か
ら７分に設定され、また、レイト測定法に従うものであ
れば、例えばグルタミン酸オキザロ酢酸トランスアミナ
ーゼ（ＧＯＴ）、グルタミン酸ピルビン酸トランスアミ
ナーゼ（ＧＰＴ）等のように、その第１回目の測光を滴
下終了から７分、第２回目の測光を１１分に設定されも
のと、例えば、アルカリ性ホスファターゼ（ＡＬＰ）、
乳酸脱水素酵素（ＬＤＨ）等のように、第１回目の測光
を滴下終了から３．５分、第２回目の測光を７分に設定
されものとがあり、分析スライドによって測定方法と、
測定項目及び測光時間を異にしている。

ここで、レイト測定法の第１回目の測光時間を３．５分
としているのは、滴下可能時間が最も長く、また、３．
５分であれば所定の精度が得られるためである。また、
分析スライドによっては、第１回目の測光時間をエンド
ポイント測定法の測光時間と同じ７分にしたのは、特願
昭６１−７５９９７号に２叙されているように、実験上
、検体滴下から７分にすると妨害物質の影響が少なく精
度が向上するためである。

第６図は分析装置の概略構成図である。

分析スライド２はスライド挿入部１２の挿入台３３に、
その段部２８ｂを当てがい挿入すると、挿入モータ３４
で駆動するスライド挿入ローラ３５を介してインキュベ
ーション部３６の中に搬入される。挿入モータ３４は駆
動回路３７、インターフェース３８を介してＣＰＵ３９
で分析スライド２を挿入することが可能なとぎにのみ回
転し、処理能力以上の分析スライドが挿入されることを
禁止できるように制御される。

前記インキュベーション部３６は第７図に示す如く放熱
液体４０を収容し、この放熱液体４０により一定温度に
保持される恒温板４１と、この恒温板４１上に設置した
軸４２に軸支される移送手段であるディスク４３とから
構成されている。この放熱液体４０には温度検出センサ
４４が備えられ、この温度調節は温度情報に基づきＣＰ
Ｕ３９で温調回路４５を介して図示しないヒータを駆動
して行なわれる。この温度調節の安全センサ４６として
サーモスタットが設けられ、オーバヒートを防止する。

このディスク４３は分析スライド２を周方向に搬送させ
る機能を有し、さらにディスク４３の上方には一定の隙
間を介して保温用のカバー４７が設けられている。

ディスク４３はその周縁部にスライド受入部４８を有し
ており、このスライド受入部４８は第６図に示す如く等
角度に形成されているとともに、外周部を解放し、上面
に設けた開孔４８ａには密閉手段と１ノでの気密用ｉ４
９が嵌看されている。この気密用、ｉ　４９　ｉｆ挿入
された分析スライド２を上面から弾性的に押える機能を
備えている。

また、ディスク４３の周縁部にはスライド受入部４８の
設置領域間に放射状の溝４３ａが形成され、この放射状
の溝４３ａにはディスク４３の外周縁上に回転中心を持
つ回転盤５０の下面の偏心位置に触接した一つのビン５
１がこの回転盤５０の矢印方向の回転により係合・離脱
するようになっている０回転盤５０はその上方位置に配
置された駆動モータ５２で回転され、この駆動モータ５
２は駆動回路３７からの信号により駆動してディスク４
３を回転させる。なお、５３はディスク定位置機構で、
ディスク４３の停止位置を安定させる。

前記スライド受入部４８はこの実施例では第８図の如く
１番地〜２０番地の２０個が設けられ、各スライド受入
部４８のうち、１番地はキャリブレーションのために空
けられ、分析スライド２は２番地〜２０番地に１９個を
挿入することとなる。そして、装置本体１の適所に設け
られた電源スィッチのＯＮによりディスク４３が後記す
る残留分析スライドの排出処理を行なうために空回転し
た後、２番地のスライド受入部４８を装置本体１１の前
面に設けられたスライド挿入部１２に対応した位置に移
動する。この２番地のスライド受入部４８に最初の分析
スライド２を挿入し、その挿入をセンサ取付板５４に設
けられたスライド挿入検知センサ５５が検出すると、分
析スライド２の挿入完了信号がインターフェース３８を
介してＣＰＵ３９に人力される。この出力信号を受領し
たＣＰＵ３９は駆動回路３７を介して駆動モータ５２を
作動しディスク４３を１ピッチ送り、３番地のスライド
受入部４８をスライド挿入部１２に対応させ、次の分析
スライド２の挿入を可能にする。その際、先に２番地に
挿入された分析スライド２は１ピッチ送られた位置にお
いて、ディスク番地検出センサ５６及び項目識別コード
読み取りセンサ５７と対向して一時停止し、ディスク４
３０番地を読み取りと分析スライド２の測定項目識別コ
ードが読み取られる。このような動作が所定数の分析ス
ライドに対して順次繰り返され、インターフェース３８
を介してＣＰＬＩ３９で処理され、ＲＡＭ５９にディス
クの番地と測定項目が記憶されるとともに、後記する測
定モード０、Ｉ、２．３が選択される。ＲＯＭ５８には
ＣＰＵ３９を制御するプログラムが書き込まれており、
ＣＰＵ３９はこのプログラムに従ってインターフェース
３８から必要とされる外部データを取込んだり、あるい
はＲＡＭ５９との間で情報の授受を行なったりしながら
演′＃処理し、必要に応じて処理した情報をインターフ
ェース３８へ出力する。

前記検体滴下部１３にはディスク４３より外側に滴下孔
６０が配置され、この滴下孔６０は平時はスプリング６
１で付勢されたシャッタ６２で閉塞されている。この滴
下孔６０に対して分析スライド２の分析素子２９を位置
付けるために、スライド往復動手段６３がディスク４３
の内側に設けられている。このスライド往復動手段６３
のスライド押出板６４は半径方向へ摺動可能に設けられ
、このスライド押出板６４はリンク６５を介して滴下ソ
レノイド６６のプランジャー６６ａと連結されている。

リンク６５は軸６７を支点に回動可能となっており、滴
下ソレノイド６６はＣＰＵ３９により制御され、通電す
るとプランジャー６６ａをスプリング６８に抗して吸引
するため、スライド押出板６４が矢印ａ方向に移動して
分析スライド２を押し出す、これによりシャッター６２
がスプリング６１に抗して押されるため滴下孔６０が開
口されて、分析スライド２の分析素子２９が滴下孔６０
の真下に移動し、検体滴下可能な状態になる。

スライド往復動手段６３は最初の検体滴下のときは装置
本体１１の操作部１７上の滴下開始キー２６を押すこと
により、ＣＰＵ３９で滴下ソレノイド６６が作動され、
分析スライド２をスライド受入部４８から押し出すよう
に駆動されるが、次の検体滴下からは自動で作動するよ
うになフている。また、検体滴下後に滴下終了キー２７
を押すと滴下ソレノイド６６が非通電状態になり、スプ
リング６８の作用によってスライド押出板６４は矢印ａ
方向と反対す方向に復帰し、検体滴下された分析スライ
ド２が元のスライド受入部４８に戻るようになっている
。

前記スライド排出部１４には測光された後の分析スライ
ド２を装置外に排出するスライド排出手段６９が設けら
れている。このスライド排出手段６９のスライド押出板
７０は矢印方向へ移動して、分析スライド２を押し出す
、このスライド押出板７０はリンク７１を介して排出ソ
レノイド７２のプランジャー７２ａと連結され、リンク
７１は軸７３を支点として回動可能になっており、平時
はスプリング７４でディスク４３の内側方向へ付勢され
ている。排出ソレノイド７２が通電によりブランジャー
フ２ａをスプリングフ４に抗して押すと、スライド受入
部４８にある分析スライド２が外部に排出される。また
、排出ソレノイド７２が非通電状態になると、スライド
押出板７０が矢印ａ方向と反対のｂ方向に復帰し、この
スライド押出板７０の復帰はスライド排出センサ７５で
確認される。この排出作動は分析スライド２を全部排出
するまで行なわれ、スライド排出センサ７５で排出完了
信号が出力される。

第９図は光学系を示している。この光学系は照射部７６
と測光部７７とからなり、検体滴下により分析スライド
２の分析素子２９に含有した試薬との反応の進行状態又
は結果を反応による色の濃度変化で光学的に測定するも
のであり、密閉されたボックス７８内に配置され、外部
からゴミや塵埃が侵入しないようになっている。この照
射部７６ではタングステンランプ、ハロゲンランプ等の
光ｆＡ７９より発生した光線がコールドフィルタ８０、
干渉フィルタ８１、レンズ８２、しぼり８３及びレンズ
８４を介して分析スライド２に応じた所定の波長（測定
項目に応じた波長）の照射光線とし、さらにこの照射光
線はミラー８５を介して屈曲され、透明なガラス８６を
透過して集光ユニット８７に形成された照射窓８８から
分析スライド２の測定面に照射される。この反射光は測
光部７７の光ファイバー８９を通して受光素子９０に伝
送され、この受光素子９０で電気信号に変換し、その反
射濃度即ち光学的濃度を出し、ＣＰＵ３９で測定項目毎
に作られた変換式による検量線に照らして測定値から分
析値を求めてプリンタ部１６でロール状記録紙に印字さ
れ、装置本体１１の上面に設け゛た送出口より送り出さ
れる。

この測光部７７の上方位置には第６図に示すように圧着
ソレノイド９ｆａで作動する圧着機構９１ｂが配置され
、この圧着機構９１ｂで測光時に分析スライド２を下方
へ押圧して安定させ５正確な測定ができるようにしてい
る。

９２はキャリブレーション機構で、光源フ９のランプが
経時変化や電気的ノイズ等で常に安定しているとは限ら
ないことから、実際の分析スライドを測光する前のでき
るだけ近い時間内に測光系の補正を行なう較正手段であ
る。このキャリブレーション機構９２は光学濃度を正確
に測光できる装置で予め測定されている低い光学濃度値
の第一標準板９３と、高い光学濃度値の第二標準板９４
の２種を備えたスライド９５を設け、モータ９６の駆動
でこのスライド９５を直線の往復運動を行なうようにな
りでいる。

また、このキャリブレーション機構９２で、光源フ９の
光量チエツクが行なわれる。即ち、分析スライド２を挿
入する前及び挿入後の検体滴下前とで、スライド９５を
移動させて例えば高い光学濃度値の第二標準板９４に光
源フ９からの照射光を反射させて、この反射する光を光
ファイバー８９を通して受光素子９０に伝送し、この受
光素子９０で電気信号に変換し、ＣＰＵ３９でこの光学
的濃度から光量を求め、これから光源７９の光量をチエ
ツクするようになっている。

ＣＰＵ３９では予め設定されたチエツク光量基準から光
源７９の光源７９の寿命と光量不足とをチエツクし、光
源７９の寿命では表示部１５に警告するが、装置本体１
１は作動可能な状態にある。また、光源７９の光量不足
ではエラー表示を行ない、作動を停止させるようになっ
ている。

次に、この実施例の作動順を第１０図に基づいて説明す
る。

まず、電源スィッチをオンする（ステップａ）と、イニ
シャルセットが行なわれ、例えばキャリブレーション機
構９２が定位置にあることを確認したり、スライド挿入
部１２の途中に分析スライド２が止まっていた場合、ス
ライド挿入ローラ３５で押し込む等の作動をする（ステ
ップｂ）。

また、電源スィッチをＯＮすると同時に、インキュベー
ジコン部３６が反応温度まで調節され、その後で、ディ
スク４３内に分析スライド２が残っていないかが、測定
項目識別コード読み取りセンサ５６で検知され、残って
いる場合には残っている番地のスライド受入部４８をス
ライド排出部１４を設けた位置に移送し、排出処理が行
なわれる。全てのスライド受部４８に分析スライド２が
ないことが確認された後、２番地のスライド受入部４８
をスライド挿入部１２に対応する位置まで移動しくステ
ップＣ）、しかる後、オペレータは必要に応じて操作部
１７の数字キー１８を操作して日付、検体ＮＯを入力（
ステップｄ）する。

上記作業の終了後、分析スライド２をスライド挿入部１
２より挿入しくステップｅ）、最初の分析スライド２が
２番地のスライド受入部４８に挿入されると、それがス
ライド挿入検知センサ５５により検出され、ディスク４
３が１ピッチ送られ、３番地のスライド受入部４８を装
置本体１１のスライド挿入部１２に持っていく。

かくして３番地αスライド受入部４８が装置本体１１の
スライド挿入部１２に至ると先に挿入された２番地の分
析スライド２はスライド挿入部１２の次の停止位置に位
置しており、ここで測定項目がコード３２から読み取ら
れ（ステップｆ）、ＣＰＵ３９で測定モードの選択が行
なわれ（ステップｇ）、この測定モードによってＲＡＭ
５９に何番地のスライド受入部４８には何項目、例えば
ＧＰＴ　（レイト測定法）、ＢＵＮ　（エンドポイント
測定法）の分析スライドが挿入されたかがそれぞれ記憶
される。

そして、測光しようとする分析スライドの全部が挿入さ
れた後、オペレータが挿入完了キー２６を押す（ステッ
プｈ）。これにより、スライド挿入ローラ３５が数秒後
に、停止するとともに分析スライド２を挿入しないまま
空けである２番地を測光部７７へ搬送し、この測光部７
７に設けたキャリブレーション機構９２を作動してキャ
リブレーションを実施する（ステップｉ）、その後、２
番地のスライド受入部４８に挿入された分析スライド２
を検体滴下部１３に移動する（ステップｊ）、この分析
スライドが滴下部１３に来たことはブザー等で知らされ
る。又、表示部１５に検体Ｎｏ、１ｌＩＩＩ定項目等が
表示される。オペレータはこの表示を確認してピペット
に必要な検体を取ってから操作部１７の滴下開始キー２
６を押す。

この滴下開始キー２６の押し操作により、スライド往復
動手段６３が作動し、分析スライド２の分析素子２９を
滴下孔６０の真下に位置させ、この動作で同時に分析ス
ライド２により、シャッタ６２が押されて滴下孔６０を
解放する。しかる後、ピペットに取った検体を滴下孔６
０から分析スライド２の分析素子２９に滴下する（ステ
ップｋ）、しかして分析スライド２が滴下孔６０の真下
に位置されてから検体滴下までの時間はＣＰＵ３９によ
り管理され、滴下孔６０からシャッタ６２を解放したま
ま長時間放置されることを防止している。

上述の如く検体滴下した後、オペレータが滴下終了キー
２フを押すと、スライド往復動手段６３が元の位置に復
帰して、検体滴下された分析素２をディスク４３のスラ
イド受入部４８に戻す、これによりディスク４３が１ピ
ッチ回転し、次の番地の分析スライド２を滴下部１３に
移動させる０滴下終了キー２７が押された場合において
、滴下終了から測光までの時間を各分析スライド毎に、
最初の分析スライドの滴下からその分析スライドの測光
までの時間（猶予時間）、次の滴下までの時間はそれぞ
れＣＰＵ３９で管理されている。

全ての分析スライド２に対して検体滴下が行なわれた後
、タイムアツプすると、ディスク４３の位置方向回転に
従って２番地の分析スライド２から順次測光部７７へ搬
送され、測光部７フにおいて、測光（ステップＪりが行
なわれ、その結果がプリンタ部１６でロール状記録紙に
印字され、送出口から送り出される。

かくして、セットした全ての分析スライド２（検体滴下
した分析スライドの全部）についての測光が終了すると
、それらの分析スライドはスライド排出部１４が設けら
れた位置まで搬送され、ここにおいて順次外部に排出さ
れ（ステップｍ）、排出が終了した後は２番地がスライ
ド挿入部１２に移動されて一回の分析作業を終了する。

このようにして分析スライド２が測定処理されるが、こ
の分析装置の測定値から分析値を得る変換式を作成する
場合には、第１０図のステップａ、ｂにおいてイニシャ
ルセットを終了してディスク４３の２番地をスライド挿
入部１２へ移送した後、コントロールキー２５を押す、
この分析装置４の変換式を作成するフローチャートを第
１１図に示す。

基準の分析装置３は例えば、前記変換式（１）％式％ そして、分析装置４のコントロールキー２５を操作する
と、ステップａにおいてコントロールキー２５の入力が
判断され、変換式の作成モードが選択されたか否かが判
断され（ステップｂ）、作成モードでない場合には他の
機能、例えば測光部の清掃機能等の他の機能が選択され
た否かが判断され（ステップＣ）、他の機能が選択され
た場合にはステップｄでその処理が行なわれる。

変換式の作成モードが選択された場合には、スライド挿
入ローラ３５を回転させ（ステップｅ）、標準スライド
１を挿入しないまま空けである２番地に挿入しくステッ
プｆ）、この標準スライド１が挿入されると、スライド
挿入ローラ３５の回転が停止される（ステップｇ）０次
に、１番地を測光部７７へ移送しくステップｈ）、この
測光部７７に設けたキャリブレーション機構９２を作動
して、さらに測定に必要な波長の干渉フィルタ８１をセ
ットしキャリブレーションを実施する（ステップｔ）ｅ そして、光量不足か否かの判断を行ない（ステップｊ）
、光量が不足する場合には表示部１５にエラー表示しく
ステップｋ）、作動を停止する（ステップＩｔ）。また
、光量が不足していない場合には光源７９が寿命が近い
か否かの判断が行なわれ（ステップｍ）、寿命が近い場
合にはランプ交換の表示が行なわれる（ステップｎ）。

そして、２番地のスライド受入部４８に挿入された標準
スライド１を測光部フ７へ移送しくステップＯ）、これ
を測光しくステップｐ）、その光学反射濃度の測定値を
ＲＡＭ５９に記憶しくステップｑ）、この標準スライド
１による測定を所定回数繰り返す（ステップｒ）。

このような標準スライド１による測定を基準の分析装置
３においても同様に行ない、この基準の分析装置３によ
る測定値を、別に接続したパーソナルコンピュータに読
み込み（ステップＳ）、この測定値とこの分析装置４の
ＲＡＭ５９から取り出された測定値（ステップｔ）とか
ら測定値同士の一次回帰式を求める（ステップｕ）、そ
して、この一次回帰式を基準の分析装置３の変換式中の
測定環に代入して、前記他の分析値！ｉ！４の変換式（
３）を求め（ステップｖ）、この変換式（３）をＲＡＭ
５９に書き込み（ステップｗ）、検量線を得る。

以後、この分析装置４は分析スライド２の測定値から変
換式（３）による検量線で分析値が求められ、この分析
値が基準の分析装置３の測定値と一致する。このように
、変換式の作成が標準スライド１で行なわれるため、分
析スライド２に滴下して行なうものに比して、測定値の
バラツキを抑えることができ、また標準スライド１は再
使用可能なので経費削減できる。しかも、インキュベー
ション時間が不要になり、短時間に基準の分析装置３と
の合せ込みを行なうことができる。

第１２図は他の実施例を示している。

この実施例では、標準スライド１を基準の分析装置３と
他の分析装置４とで、測定値から分析値を得る変換式の
定数の数に応じて測定する。

例えば、前記変換式（１）を求める場合には、３個の基
準スライドｌを測定して、それぞれの測定値を得る手段
５．６で測定値Ｘ　ｌｌ＋　Ｘ　１２＝Ｘ１３とＸ２１
１　　Ｘ２２＋　　ｘｉｓを求める。なお、コノ場合、
１点で複数個の基準スライドを使用し、測定値を平均し
ても良い。

そして、基準の分析値を得る手段９で、この基準の分析
装置３で得た測定値Ｘ１２〜Ｘ１３からＢ。

Ｙｌｌｌｌ千生０１ Ｘ　１１””　Ａ　Ｉ Ｙ　１２”　　　　　　　　　　　＋　ＣＩＸ　１２−
　Ａ　Ｉ Ｒ。

で基準の分析値Ｙ、〜Ｙ１３を求める。ここで、変換式
の定数ＡＩ　、Ｂ＋　、ＣＩは予め設定されている。

さらに、変換式を得る手段１０で、この基準の分析値と
分析装置４の測定値とから定数を求める。

例えば、前記の基準の分析値Ｙｌｌ〜Ｙ１．と、測定値
Ｘ２１〜Ｘ２３とから変換式 から定数Ａ、、Ｂ、、Ｃ，を求めて、この定数を代入し
た変換式を分析装置４のＲＡＭ５９に書き込む、また、
ＲＡＭ５９に書き込まずに、ＲＯＭ５８に記憶させても
よい。

（発明の効果） 以上の説明より明らかな如く、この発明に係る分析値を
得る変換式の作成方法は、複数の標準スライドを基準の
分析装置と他の分析装置とで測定して得たそれぞれの測
定値に基づき、基準の分析装置の分析値に、他の分析装
置の分析値を対応させるようになしたから、実際に検体
を分析スライドに滴下する必要がなく、滴下による測定
値のバラツキの影響を排除することができる。また、標
準スライドによるため、この滴下や反応時間を省略する
ことがで籾、その分変換式の合せ込みが簡単に、低費用
で、しかも短時間に行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

図はこの発明の一実施例を示し、第１図はこの発明の基
本構成を示すブロック図、第２図は分析装置の外観斜視
図、第３図は操作部を示す図、第４図は分析スライドの
分解斜視図、第５図は分析スライドの断面図、第６図は
分析装置の概略構成図、第７図は第６図の■−■断面図
、第８図はディスクの平面図、Ｎ９図は光学系を示す断
面図、第１０図はこの装置の作動順を示すフローチャー
ト、第１１図は変換式を得るフローチャート、第１２図
はこの発明の他の実施例を示すブロック図である。 図中符号１は標準スライド、２は分析スライド５３は基
準の分析装置、４は他の分析装置、５．６は測定値を得
る手段、７は一次回帰式を求める手段、８は他の分析装
置の変換式を求める手段、９は基準の分析値を得る手段
、１０は定数を求めて変換式を得る手段である。 特　許　出　願　人　　　コニカ株式会社第２図 第　３２ 第１図 ｎ 第５図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の標準スライドを基準の分析装置と他の分析
   装置とで測定して得たそれぞれの測定値に基づき、前記
   基準の分析装置の分析値に、他の分析装置の分析値を対
   応させる変換式の作成方法。
2. （２）複数の標準スライドを基準の分析装置と他の分析
   装置とで測定して得られたそれぞれの測定値同士の一次
   回帰式を求め、この一次回帰式を基準の分析装置の変換
   式中の測定項に代入して、前記他の分析装置の変換式を
   求める特許請求の範囲第１項記載の変換式の作成方法。