JPS63169539A - 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 - Google Patents
非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置Info
- Publication number
- JPS63169539A JPS63169539A JP43187A JP43187A JPS63169539A JP S63169539 A JPS63169539 A JP S63169539A JP 43187 A JP43187 A JP 43187A JP 43187 A JP43187 A JP 43187A JP S63169539 A JPS63169539 A JP S63169539A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- function
- model
- calibration curve
- analyzer
- model function
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 title claims description 11
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 15
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 102000004190 Enzymes Human genes 0.000 description 1
- 108090000790 Enzymes Proteins 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000003018 immunoassay Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、検量線作成機能を有する分析装置に係り、特
に非直線性検量線の適切な選択及び作成に機能に関する
。
に非直線性検量線の適切な選択及び作成に機能に関する
。
従来、この種の分析装置として、酵素免疫測定法（医学
書院発行：石井他著：Ｐ、１５３〜Ｐ。
書院発行：石井他著：Ｐ、１５３〜Ｐ。
１７４）に記載されたものがある。この従来の分析装置
における非直線性検量線作成機能は、数種のモデル関数
を有する場合に、市販の試薬を用いる際には、試薬メー
カの指定する関数を選択し、顧客が入力しなければなら
ず、試薬のロットにより関数が変化する傾向があるなど
、不安感が存在していた。
における非直線性検量線作成機能は、数種のモデル関数
を有する場合に、市販の試薬を用いる際には、試薬メー
カの指定する関数を選択し、顧客が入力しなければなら
ず、試薬のロットにより関数が変化する傾向があるなど
、不安感が存在していた。
上記従来技術において、数種のモデル関数を所有する場
合、適切なモデル関数を自動的に選択することと、選択
時の判定に用いる値、つまり作成した検量線と測定値と
のずれを濃度計算方向で計算し、より適切な方法でモデ
ル関数を選択することに対して配慮がなされておらず、
顧客側が選択し、入力しなければならずモデル関数の選
択判定の方法にも問題があった。
合、適切なモデル関数を自動的に選択することと、選択
時の判定に用いる値、つまり作成した検量線と測定値と
のずれを濃度計算方向で計算し、より適切な方法でモデ
ル関数を選択することに対して配慮がなされておらず、
顧客側が選択し、入力しなければならずモデル関数の選
択判定の方法にも問題があった。
本発明の口約は数種のモデル関数を所有していた場合に
、適切なモデル関数を自動的に選択することができる分
析装置を提供することにある。
、適切なモデル関数を自動的に選択することができる分
析装置を提供することにある。
上記目的は、以下の計算機能を演算処理装置に持たせる
ことにより、達成される。すなわち。
ことにより、達成される。すなわち。
１、同一測定値を用いて、全モデル関数のパラメータを
並行して計算する部分、 ２、上記で得られた近似曲線と測定値とのずれを濃度計
算方向で、全モデル関数について並行して計算する部分
、 ３、上記２で得られた各モデル関数におけるずれの中で
、最小を示す近似面、１！（モデル関数）を選択する部
分を設けることにより達成される。
並行して計算する部分、 ２、上記で得られた近似曲線と測定値とのずれを濃度計
算方向で、全モデル関数について並行して計算する部分
、 ３、上記２で得られた各モデル関数におけるずれの中で
、最小を示す近似面、１！（モデル関数）を選択する部
分を設けることにより達成される。
客モデル関数パラメータ計算及び作成した近似曲線と測
定点とのずれの計算において、全モデル関数についてｑ
η行して計算を行えるので、選別操作に到るまでの時間
が個々の検討するよりも少くて済む。また、近似曲線と
測定点とのずれの計算方法において、濃度計算と同じ方
向に偏差を計算することにより、より適切な判定用パラ
メータとして用いることができる。濃度計算方向とは、
後述の第２図で示すように、横軸に濃度、縦軸に測定値
をとった場合の濃度軸方向ということであり、従来の測
定値軸方向のずれの計算では、実際に濃度を計算する際
に、模式的に考えればある試料の測定値を濃度軸方向に
移動し、近似曲線に当った位置の濃度軸傾が濃度とする
ので、近似曲線を評価するには、濃度軸方向に計算する
のが適切である。
定点とのずれの計算において、全モデル関数についてｑ
η行して計算を行えるので、選別操作に到るまでの時間
が個々の検討するよりも少くて済む。また、近似曲線と
測定点とのずれの計算方法において、濃度計算と同じ方
向に偏差を計算することにより、より適切な判定用パラ
メータとして用いることができる。濃度計算方向とは、
後述の第２図で示すように、横軸に濃度、縦軸に測定値
をとった場合の濃度軸方向ということであり、従来の測
定値軸方向のずれの計算では、実際に濃度を計算する際
に、模式的に考えればある試料の測定値を濃度軸方向に
移動し、近似曲線に当った位置の濃度軸傾が濃度とする
ので、近似曲線を評価するには、濃度軸方向に計算する
のが適切である。
以下、本発明の一実施例を第１図及び第２図により説明
する。
する。
測定操作１により得られたデータ２を、ａ、ｂ・・・ｎ
のｎ個のモデル関数について並行して、そのパラメータ
を計算器３にて計算し、そこで得られた近似曲線９（第
２図）と測定値２とのずれを濃度軸８方向に標準偏差と
して計算器４にて計算し、それらの値の中で最小値を示
すモデル関数を判別器５で選び最適検量線として格納６
する。
のｎ個のモデル関数について並行して、そのパラメータ
を計算器３にて計算し、そこで得られた近似曲線９（第
２図）と測定値２とのずれを濃度軸８方向に標準偏差と
して計算器４にて計算し、それらの値の中で最小値を示
すモデル関数を判別器５で選び最適検量線として格納６
する。
具体例１）表１のデータを用い、上記計算過程を通過さ
せると表２のモデル関数の中で選択されたのは関数６で
あり、その時の計算器４で計算された標準偏差は表３に
示した。
せると表２のモデル関数の中で選択されたのは関数６で
あり、その時の計算器４で計算された標準偏差は表３に
示した。
注）ｙ：ｔｔｌｌ定値、Ｘ：濃度。
ｙｏ−に−ａ−ｂ−Ｃ：パラメータ
具体例２）表４のデータを用い、第１図の計算過程を通
過させると表２のモデル関数の中で選択されたのは関数
ａであり、その時の計算器４で計算された標準偏差は表
５に示す通りとなる。
過させると表２のモデル関数の中で選択されたのは関数
ａであり、その時の計算器４で計算された標準偏差は表
５に示す通りとなる。
表 ５
具体例でも示した様に、本実施例によれば、３つのモデ
ル関数の中から、標準偏差の最も小さい関数が自動的に
採用され、そのパラメータと共に検量線として格納され
た。
ル関数の中から、標準偏差の最も小さい関数が自動的に
採用され、そのパラメータと共に検量線として格納され
た。
また、計算器４の中の計算において、近似曲線９と測定
値２のずれ１１．１２の計算方向は、濃度軸方向（Ｘ軸
）８．１２であり、これを第２図に示した。
値２のずれ１１．１２の計算方向は、濃度軸方向（Ｘ軸
）８．１２であり、これを第２図に示した。
以上説明したように本発明によれば、全自動的に、かつ
高速で適切なモデル関数を選択することができる。
高速で適切なモデル関数を選択することができる。
第１図は本発明の一実施例の計過程を示すフロー図、第
２図は計算器４における計算方法を説明した説明図であ
る。 ３・・・全モデル関数のパラメータを並行して計算する
計算器、４・・・全モデル関数の近似曲線と測定煮詰
ｌ 区
２図は計算器４における計算方法を説明した説明図であ
る。 ３・・・全モデル関数のパラメータを並行して計算する
計算器、４・・・全モデル関数の近似曲線と測定煮詰
ｌ 区
Claims (1)
- １、演算処理装置を備え、検量線作成機能を有する分析
装置において、非直線性検量線作成機能の加え、非直線
性検量線作成時に、測定値を用いて近似計算を複数種の
モデル関数について並行して行う計算器と、それらの計
算結果から測定値と近似曲線とのずれを計算してずれが
最小のモデル関数を選択する選別器を設けたことを特徴
とする非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を
有する分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP43187A JPS63169539A (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP43187A JPS63169539A (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63169539A true JPS63169539A (ja) | 1988-07-13 |
Family
ID=11473623
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP43187A Pending JPS63169539A (ja) | 1987-01-07 | 1987-01-07 | 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63169539A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0422646A2 (en) * | 1989-10-13 | 1991-04-17 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Improvement in calibration |
-
1987
- 1987-01-07 JP JP43187A patent/JPS63169539A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0422646A2 (en) * | 1989-10-13 | 1991-04-17 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Improvement in calibration |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH06249855A (ja) | 血液凝固時間測定方法とその装置 | |
| JP2516468B2 (ja) | Ｃおよびｓ同時分析装置 | |
| CN113532341B (zh) | 用于确定测量测量物体的测量策略的方法和设备及程序 | |
| JPS63169539A (ja) | 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 | |
| CN107818051A (zh) | 一种测试用例的跳转分析方法、装置及服务器 | |
| JPS6018725A (ja) | はかりによる部品個数計数装置 | |
| JP4095189B2 (ja) | 自動分析装置および自動分析装置の検量線判定処理方法 | |
| JPH0674923A (ja) | Ｘ線回折定性分析装置 | |
| CN116848511A (zh) | 用于进行自动化临床诊断交叉研究的系统和方法 | |
| JP2666568B2 (ja) | 生化学自動分析装置 | |
| JPH07120381A (ja) | 検量線作成方法および自動分析装置 | |
| JPS60135842A (ja) | 検量線作成方法 | |
| JPH0214731A (ja) | 添加機における添加量保証方法 | |
| JPH04275643A (ja) | プログラムのテストシステム | |
| JP2742490B2 (ja) | 部品の品質検査方案作成システムにおけるデータ解析方案作成装置 | |
| JP2000214091A (ja) | ラマン分光法を用いたｄｌｃ膜の定量測定方法 | |
| JPH1079599A (ja) | 実装工場診断システム | |
| JP2001133294A (ja) | 作業処理時間の自動表示方法及びその自動表示装置 | |
| JPS60161560A (ja) | 自動分析装置のデ−タ処理装置 | |
| JP3016181U (ja) | 染色品の色判定装置 | |
| CN106855841A (zh) | 一种系统内存分析方法和装置 | |
| JPH09265392A (ja) | ソフトウェアの品質分析評価方法およびシステム | |
| JPS6246264A (ja) | 自動化学分析装置 | |
| JPH0375561A (ja) | 粒子凝集パターン判定方法 | |
| JPH06242118A (ja) | 自動分析装置および精度管理試料の測定方法 |