JPS63132166A - 検量線設定方法 - Google Patents

検量線設定方法

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JPS63132166A
JPS63132166A JP27807786A JP27807786A JPS63132166A JP S63132166 A JPS63132166 A JP S63132166A JP 27807786 A JP27807786 A JP 27807786A JP 27807786 A JP27807786 A JP 27807786A JP S63132166 A JPS63132166 A JP S63132166A
Authority
JP
Japan
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calibration curve
concentration
calibration
curve
quadratic
Prior art date
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Pending
Application number
JP27807786A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Tawara
田原 高
Masashi Imase
今瀬 雅司
Chieko Kurihara
栗原 知恵子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS63132166A publication Critical patent/JPS63132166A/ja
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、試料中に含まれる特定物質の測定技術に関す
るものであり、特に試料および試薬を含む検液の吸光度
を測定し、この測定した吸光度を測定物質の濃度に変換
するために必要な検量線を設定する方法に関するもので
ある。
〔従来の技術〕
臨床検査における免疫学的手法を用いた測定法としては
ラジオ・イムノ・アッセイ (RI A)、エンザイム
・イムノ・アッセイ (EIA)、ラテックス比濁法、
免疫比濁法などが知られている。
このような免疫学的手法を用いた測定法における検量線
は一般に複雑な曲線を示すため、実用上は多数の異なる
濃度の標準液を多重測定し、得られた測定値から統計学
的手法により回帰曲線式を求め、これを検量線として使
用している。
〔発明が解決しようとする問題点) 上述した従来の検量線設定方法では、免疫学的手法の持
つ測定条件の不安定性から、すなわち試薬ロフト間の差
、調整誤差、反応時間、反応温度、B/F分離、洗浄等
が不安定なことから測定毎に検量線を設定し直さなけれ
ばならない不都合があった。このため、検量線設定のた
めに多くの試薬や標準液を必要とし、試薬コストが高く
なり、さらに測定に必要な時間や人手が必要でありた。
このため、測定回数を減らして、コスト、時間および労
力を省くことが行われている。しかし、毎日検査すべき
ところを週に1回または2回にまとめて検査することは
検査の迅速性を欠き、実際のニーズに十分窓えられない
欠点となっている。
EIAを初めとする免疫学的測定におけるキャリブレー
ションは上述したように測定可能範囲内にある複数の異
なる濃度の標準液を多重測定し、得られた複数の吸光度
値を回帰して得られる曲線を検量線として用いる。この
ような検量線設定方法の一例が特開昭58−10983
7号公報に開示されている。このような場合、曲線は2
次式、3次式あるいはlogit変換式、Iogit 
log変換式など種々のものが知られているが、実用上
は2次式で多くの項目を測定することができる。2次式
の検量線を設定する場合、数学的には3点の値が得られ
れば検量線を決定することができるが、通常は測定のば
らつき等を考慮して5つの異なる既知濃度の標準液をそ
れぞれ3回ずつ合計で15回測定し、これら15の測定
値に基づいて2次式の検量線を決定している。このよう
に必要以上の測定を行なっているため、測定に要する試
薬のコスト、測定時間、測定労力の面で無駄があった。
特に免疫反応用の試薬にはきわめて高価なものもあるの
で、検量線設定のためのコストが対応して高価となる。
特に測定検体数が少ない場合には、1検体当りの検量線
設定コストは高くなる。例えば上述した例では1回のキ
ャリブレーションに標準液を15回測定するので、1日
15検体を測定する場合は2倍、30検体では1.5倍
の費用がかかることになる。したがって用手法検査にお
いては、検体が一定数集まったときに測定を行なうよう
にしているが、検査の迅速性が失われてしまう欠点があ
る。
一方、免疫学的測定においても自動化が進んでおり、中
小病院においても自動分析機によって誰もが迅速に精度
よく検査を行なえるようになったが、キャリブレーショ
ンに必要な測定回数が検査コストに大きく影響を及ぼし
ており、キャリブレーションのための測定をできる限り
少なくすることが強く望まれている。
本発明の目的は、上述した従来の欠点を除去し、キャリ
ブレーションのための測定数を減らすことによって試薬
コスト、測定時間、労力を著しく軽減でき、その結果と
して検査コストを大幅に低減することができる検量線設
定方法を提供しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段および作用〕本発明の検
量線設定方法は、免疫学的測定において、Xを被検物質
の濃度、yを測定値とするとき、2次曲線y=ax”+
bx+cで表わされる検量線を設定するに当り、 異なる2種類の既知の濃度xl、xtの標準試料の測定
値!、、’!xを求め、 検量線の掻大値の軌跡を表わす直線y=Ax+Bのデー
タを入力し、 よりa、b、cを求めて、検量線y=ax” +bX+
Cを設定することを特徴とするものである。
本発明は次のような事実を確認し、その認識に基づいて
為したものである。自動化の実現により反応時間、反応
温度、B/F分離、試薬分注、サンプル分注など反応条
件の制御が精度よく行なわれるようになったため、測定
値の信頬性、精度が向上し、したがってキャリプレーシ
ロンのための測定回数を減らしても測定誤差を減らすこ
とができる。
本発明では2次曲線で表わされる検量線の極大値が非常
に高い精度を以って直線上に位置するという事実を実験
的に立証した。したがってこの直線の方程式と、2つの
異なる標準液の測定値とから2次曲線で表わされる検量
線を特定することができる。
C実施例〕 第1図は本発明による検量線設定方法を示すフローチャ
ートである。先ず、同一項目について同一試薬ロフトを
用いて種々の濃度Xl+  xz・・−・・x。
の標準液を多重測定して測定値)’+、”jz・・・・
・・・y。
を求める。このようにして得られる1組の測定値と濃度
との関係を直交座標上にプロットすると第2図に示すよ
うな検量線が得られる。第2図において測定可能範囲は
X、以下の濃度であるとすると、点P1〜P5の範囲を
近似する2次曲線y=a、x”+b、x+c、を求める
。このような処理を各測定値の組毎に行ない、第3図に
示すように複数の2次曲線y=a、x”−t−b、x+
c、。
y=a2X”+k)2X+C2+  3F=a、、x”
+b、、x+c−・・−・−を求める。これらの2次曲
線の極大値プロットすると第4図に示すようになる。こ
の第4図では濃度の異なる5つの標準液を用いて検量線
を求める操作を11日間行なって得られた11本の検量
線の極大値をプロットしたものである。このようにして
得られた極大値を統計学的に処理すると極大値の軌跡は
一つの直線式y =A x +Bによって十分に回帰さ
れていることが確かめられた。
すなわち、第4図に示す例では、y = 1.4563
 x +426.8244なる回帰直線が得られ、相関
係数は0.9501である。このようにして、第3図に
示す複数の検量線の極大値の軌跡を表わす直vAy−A
x+Bを求める。
次に、2種類の既知の濃度”I+x2の標準液を用い、
その吸光度yl、y!を求める。第5図には、P +(
X I+ y+)、Pg(Xz+:l’z)と、上述し
たようにして求めた極大値の軌跡を表わす直線y=Ax
+Bが示されている。このように、2点と極大値が通る
直線が与えられれば検量線を表わす2次曲線y=ax”
+bx+cは以下の連立方程式を解くことによって求め
ることができる。
ただし、Xは極大値のX座標である。
2次曲線の極大値の軌跡を表わす直線y=Ax十Bは、
同一試薬ロフト内では同一であることが確認されている
ので、試薬ロフトが変わるときにだけ測定し直せばよく
、通常のキャリブレーションは2種類の標準液を用いて
2回測定するだけでよいので、検査コスト、時間および
労力は著しく軽減さることになる。
第6図AおよびBは測定毎にキャリブレーションを実施
する従来の方法による測定値と、測定毎に キャリブレ
ーションを行なわず同一の検量線を用いた場合の測定値
と、本発明の方法によって設定した検量線を用いた場合
の測定値との相関係数および標準誤差を示すものであり
、本発明の方法の場合の相関係数は0.999〜1.0
00の間にあり、また標準誤差も2〜IB/−と小さい
範囲内になっていることが’liI認された。
第7図は測定毎にキャリブレーションを行なう従来の方
法による測定値をMo、本発明の方法による測定値をM
lとするとき、 の値を示すグラフである。この図から明らかなように、
4〜700 ng/−の広い濃度範囲において、上記の
値は士10%の範囲内に入っており、本発明の方法が十
分な測定精度を与えるものであることが確認できた。
本発明による検量線設定方法によれば、キャリブレーシ
ョンに使用する2種類の標準液の測定値PL+  Pz
は必ず検量線の上に乗ることになるので、どのような濃
度のものでも用いることができるが、第8図に示すよう
に少なくとも一方を正常値範囲の下限値X0および上限
値X1の近傍の値に選択したり、測定可能範囲の下限値
X!および上限値X3の近傍の濃度に選定したりするの
が好適である。また、一方の標準液の濃度をカントオフ
僅の濃度とすることもできる。
〔発明の効果〕
上述した本発明の検量線設定方法によれば、各測定項目
について、試薬ロフトを交換する際にだけ、例えば5つ
の標準液を多重測定して検it線を表わす2次曲線の極
大値の軌跡を表わす直線y=A x + Bを求めてお
けば同一試薬ロフト内では2種類の標準液を測定するだ
けで検量線を設定することができる。このように従来よ
りも大幅に少ない測定回数で検量線が設定できるため、
キャリブレーションのための測定に必要な試薬、時間、
人手、標準液等の無駄を減らすことができ、検査コスト
を低減することができる。
また、2種類の標準液の濃度は測定項目毎に自由に設定
でき回帰による検量線設定ではないため、この2種類の
標準液を測定して得られた点を検量線は必ず通ることに
なる。したがって、十分に精度管理すべき標準液の濃度
を管理することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による検量線設定方法の順次の操作のフ
ローチャートを示す図、 第2図は1組の標準液を1回測定して1つの検量線を求
める操作を説明するための図、第3図は1組の標準液を
多重測定して複数の検!4Mを求める操作を説明するた
めの図、第4図は第3図に示す複数の検量線の極大値と
その軌跡を表わす直線を示す図、 第5図は2種類の標準液の測定値と極大値の軌跡を表わ
す直線とで検量線を設定する操作を説明するための図、 第6図AおよびBは本発明方法と従来の方法との相関係
数および標準誤差を示す図、 第7図は本発明の方法による測定誤差の相対値を示すグ
ラフ、 第8図は本発明の方法に用いる2種類の標準液の濃度の
選定例を示すグラフである。 第2図 第3図 □儂良 第4図 第5図 λ〆   匂 4−儂度 ?56図A 筆6図B

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、免疫学的測定において、xを被検物質の濃度、yを
    測定値とするとき、2次曲線y=ax^2+bx+cで
    表わされる検量線を設定するに当り、 異なる2種類の既知の濃度x_1、x_2の標準試料の
    測定値y_1、y_2を求め、 検量線の極大値の軌跡を表わす直線y=A x+Bのデータを入力し、 {y_1=ax_(1^2)+bx_1+cy_2=a
    x_(2^2)+bx_2+c O=2aX+b aX^2+bX+c=AX+B} よりa、b、cを求めて、検量線y=ax^2+bx+
    cを設定することを特徴とする検量線設定方法。 2、前記2種類の標準試料の1つの濃度を、測定可能範
    囲の下限値の近傍の濃度とすることを特徴とする特許請
    求の範囲1記載の検量線設定方法。 3、前記2種類の標準試料の1つの濃度を、正常値範囲
    の下限値の近傍の濃度とすることを特徴とする特許請求
    の範囲1記載の検量線設定方法。 4、前記2種類の標準試料の1つの濃度を、カットオフ
    値の近傍の濃度とすることを特徴とする特許請求の範囲
    1記載の検量線設定方法。 5、前記2種類の標準試料の1つの濃度を測定可能範囲
    の上限値の近傍の濃度とすることを特徴とする特許請求
    の範囲1または2記載の検量線設定方法。 6、前記2種類のき標準試料の1つの濃度を正常値範囲
    の上限値の近傍の濃度とすることを特徴とする特許請求
    の範囲1または2記載の検量線設定方法。
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