JPH03128439A - 液体分析の校正方法 - Google Patents
液体分析の校正方法Info
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- JPH03128439A JPH03128439A JP1265281A JP26528189A JPH03128439A JP H03128439 A JPH03128439 A JP H03128439A JP 1265281 A JP1265281 A JP 1265281A JP 26528189 A JP26528189 A JP 26528189A JP H03128439 A JPH03128439 A JP H03128439A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/8483—Investigating reagent band
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
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- Y10T436/10—Composition for standardization, calibration, simulation, stabilization, preparation or preservation; processes of use in preparation for chemical testing
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- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は液体分析の測定値の校正方法に関するものであ
る。さらに詳しくは、測定範囲の一部濃度領域でしか標
準液或いは校正液が得られない場合でも広い濃度範囲に
亘って測定値を校正することができる校正方法に関する
ものである。
る。さらに詳しくは、測定範囲の一部濃度領域でしか標
準液或いは校正液が得られない場合でも広い濃度範囲に
亘って測定値を校正することができる校正方法に関する
ものである。
(発明の背景)
液体試料中の被検成分(アナライト)の定量分析では、
適当な化学的又は酵素的反応などにより被検成分に基づ
いて、その光学密度(吸光度、透過光学濃度又は反射光
学濃度)から被挟物濃度を求めることが行なわれている
。この時、濃度既知の標準試料の濃度と光学密度との対
応関係を予めアッセイして標準曲線(検量線ともいわれ
る)として作成しておき、この標準曲線を使って被検物
の濃度を決めている。
適当な化学的又は酵素的反応などにより被検成分に基づ
いて、その光学密度(吸光度、透過光学濃度又は反射光
学濃度)から被挟物濃度を求めることが行なわれている
。この時、濃度既知の標準試料の濃度と光学密度との対
応関係を予めアッセイして標準曲線(検量線ともいわれ
る)として作成しておき、この標準曲線を使って被検物
の濃度を決めている。
しかし標準曲線を作成するには多くの標準試料が必要で
あり、アッセイ毎に調製するのは煩雑である。特に臨床
検査などのように全血、血漿、血清などの生体体液を試
料とする場合には、濃度既知の標準試料(生体体液)を
随時準備してアッセイ毎に調製するのは困難である。そ
こで標準曲線を予め求めておき、アッセイ時にはこの標
準曲線との差異(又は誤差)を校正することが行なわれ
ている。すなわち所定の表示値を持つ何点かの校正液を
用いて、その測定値から校正曲線を作成し各試料の測定
値を校正している。
あり、アッセイ毎に調製するのは煩雑である。特に臨床
検査などのように全血、血漿、血清などの生体体液を試
料とする場合には、濃度既知の標準試料(生体体液)を
随時準備してアッセイ毎に調製するのは困難である。そ
こで標準曲線を予め求めておき、アッセイ時にはこの標
準曲線との差異(又は誤差)を校正することが行なわれ
ている。すなわち所定の表示値を持つ何点かの校正液を
用いて、その測定値から校正曲線を作成し各試料の測定
値を校正している。
例えばH,M、Lの各標準表示値を持つ校正液について
同一アッセイを行ない、得られた光学密度等から標準曲
線に基づき測定値り、m、1を求め第2図のようにプロ
ットし、得られた校正曲線を用いて各試料の測定とを校
正するものである。
同一アッセイを行ない、得られた光学密度等から標準曲
線に基づき測定値り、m、1を求め第2図のようにプロ
ットし、得られた校正曲線を用いて各試料の測定とを校
正するものである。
自動測定装置では、(1,L)、(m、M)、(h、H
)のデータからこの曲線の関数(通常は2次)を以下の
ように最小二乗法により求め、 Y=α+β・X+γ・x2 この補正式により測定値の校正を行なう。第2図に示す
ように、標準表示値り、M、Hの濃度差が十分に広けれ
ば測定値1.m、hが独立に変化しても、補正関数の曲
がりの効果(2次項の寄与)は少なく、広い範囲の測定
値を校正することができる。
)のデータからこの曲線の関数(通常は2次)を以下の
ように最小二乗法により求め、 Y=α+β・X+γ・x2 この補正式により測定値の校正を行なう。第2図に示す
ように、標準表示値り、M、Hの濃度差が十分に広けれ
ば測定値1.m、hが独立に変化しても、補正関数の曲
がりの効果(2次項の寄与)は少なく、広い範囲の測定
値を校正することができる。
しかし標準値り、M、Hの濃度差が十分に広くとれない
場合には、上限標準値Hを超える表示値、下限標準値し
より下の表示値は誤差の大きいものとなり、測定値1.
m、hの変化によっては被検成分の定量域内に極値を持
つことになって、測定値を校正することができない。
場合には、上限標準値Hを超える表示値、下限標準値し
より下の表示値は誤差の大きいものとなり、測定値1.
m、hの変化によっては被検成分の定量域内に極値を持
つことになって、測定値を校正することができない。
このような問題は、例えば、乾式分析要素を用いる乾式
分析方法、特に全血、血漿、血清等の生体体液中の被検
物を分析する場合に生じている。
分析方法、特に全血、血漿、血清等の生体体液中の被検
物を分析する場合に生じている。
乾式分析要素とは、透光性支持体の上に試薬層、多孔性
展開層などの機能をもつ層を順次積層したもので、展開
層の上に点着した水性液体試料を試薬層に供給して、試
薬層での発色を支持体側から反射測光してその光学密度
から比色法により被検物量を定量するものである。乾式
分析要素の具体例として米国特許2,846.808.
同3.036,893.同3.368,872.同3,
992,928.特開昭49−53888.特開昭51
−140191、同52−3488、同53−1310
89、同55−164356゜同60−222769、
同61−4959、同55−90859、C1inic
C11nicalChe、 24.1335−1350
.(1978)、 AnalyticalChemis
try、 55(4)、 498−514.(1983
)、 C1inicC11nicalChe、 27.
1287−1290.(1981)などに記載のものが
ある。
展開層などの機能をもつ層を順次積層したもので、展開
層の上に点着した水性液体試料を試薬層に供給して、試
薬層での発色を支持体側から反射測光してその光学密度
から比色法により被検物量を定量するものである。乾式
分析要素の具体例として米国特許2,846.808.
同3.036,893.同3.368,872.同3,
992,928.特開昭49−53888.特開昭51
−140191、同52−3488、同53−1310
89、同55−164356゜同60−222769、
同61−4959、同55−90859、C1inic
C11nicalChe、 24.1335−1350
.(1978)、 AnalyticalChemis
try、 55(4)、 498−514.(1983
)、 C1inicC11nicalChe、 27.
1287−1290.(1981)などに記載のものが
ある。
展開層に点着された液体試料は、展開層上で点着量にほ
ぼ比例した面積の円状に広がった後、有形成分が濾過さ
れつつ、その液体成分が試薬層に達する。この結果試薬
層には単位面積当りほぼ一定容量の水性液体試料が供給
される。この作用は展開作用またはメータリング作用と
呼ばれている。このような展開作用は、点着される水性
液体試料の物性(粘度、比重、pH等)に大きく影響さ
れる。従って、全血、血漿、血清、尿などの生体体液中
のアナライトを分析するには、校正液もこれら生物体液
に近い物性をもったものを用いることが好ましい、この
ため、例えば血液中のアルブミンや総蛋白量を定量する
場合には、凍結乾燥したヒト血清を適当な標準値となる
ように溶解して校正液として用いている。しかしこの場
合でも、アルブミンや総蛋白量の濃度を大きく変えると
、校正液の物性は測定すべき生物体液の物性とはかけ離
れたものになり校正液として不都合が生じるから、結局
、校正液の最低濃度と最高濃度の差は大きくすることは
できない。従って、最小二乗法などにより校正曲線を求
めても、前記したような極値を定量域内に生じたりして
、広い範囲での測定とを校正することができなかった。
ぼ比例した面積の円状に広がった後、有形成分が濾過さ
れつつ、その液体成分が試薬層に達する。この結果試薬
層には単位面積当りほぼ一定容量の水性液体試料が供給
される。この作用は展開作用またはメータリング作用と
呼ばれている。このような展開作用は、点着される水性
液体試料の物性(粘度、比重、pH等)に大きく影響さ
れる。従って、全血、血漿、血清、尿などの生体体液中
のアナライトを分析するには、校正液もこれら生物体液
に近い物性をもったものを用いることが好ましい、この
ため、例えば血液中のアルブミンや総蛋白量を定量する
場合には、凍結乾燥したヒト血清を適当な標準値となる
ように溶解して校正液として用いている。しかしこの場
合でも、アルブミンや総蛋白量の濃度を大きく変えると
、校正液の物性は測定すべき生物体液の物性とはかけ離
れたものになり校正液として不都合が生じるから、結局
、校正液の最低濃度と最高濃度の差は大きくすることは
できない。従って、最小二乗法などにより校正曲線を求
めても、前記したような極値を定量域内に生じたりして
、広い範囲での測定とを校正することができなかった。
(発明の目的)
本発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、校
正液の表示値の範囲外であっても精度良く測定値を校正
できる液体分析の校正方法を提供することを目的とする
。
正液の表示値の範囲外であっても精度良く測定値を校正
できる液体分析の校正方法を提供することを目的とする
。
(発明の構成)
前記の目的は、被検成分の含有量の異なるn個(nは2
以上の整数)の校正液の表示値とその測定値とから求め
た校正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液
体分析の校正方法において、前記n個の校正液の表示値
の上限の範囲外の仮想点として被検成分定量域上限値近
傍の値における測定値を推定し、又は下限の範囲外の仮
想点として被検成分定量域下限値近傍の値あるいは被構
成分含有量O近傍の値における測定値を推定し、この仮
想測定値と前記n個の測定値のうちの2からnのうちの
任意の個数の選ばれた測定値とから校正曲線の関数を求
めることを特徴とする液体分析の校正方法により達成さ
れる。
以上の整数)の校正液の表示値とその測定値とから求め
た校正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液
体分析の校正方法において、前記n個の校正液の表示値
の上限の範囲外の仮想点として被検成分定量域上限値近
傍の値における測定値を推定し、又は下限の範囲外の仮
想点として被検成分定量域下限値近傍の値あるいは被構
成分含有量O近傍の値における測定値を推定し、この仮
想測定値と前記n個の測定値のうちの2からnのうちの
任意の個数の選ばれた測定値とから校正曲線の関数を求
めることを特徴とする液体分析の校正方法により達成さ
れる。
(原理)
第1図により本発明の詳細な説明する。
所定の標準表示値H,M、Lを持つ3つの校正液につい
て、被検成分の定量分析を実施するのと同じ方法でアッ
セイ行ない測定値1.m、hとを求め第1図のようにプ
ロットする。
て、被検成分の定量分析を実施するのと同じ方法でアッ
セイ行ない測定値1.m、hとを求め第1図のようにプ
ロットする。
次に仮想点の座標(仮想表示値、仮想測定値)を決める
。校正液表示値の上限以上に仮想点を求める場合には、
その仮想表示値は被検成分の定量範囲上限値近傍の値が
好ましく、より具体的には定量範囲の上限値である。ま
た校正液表示値の下限以下に仮想点を定める場合には、
その仮想表示値は、被検成分の含有量0の近傍又は定量
範囲の下限近傍の値とするのが好ましい。この内、通常
は被検成分Oの値を下限側の仮想点とするのが、後の数
学的処理を考慮すると、特に好ましい。これらの仮想表
示値に対応する推定測定値(後述の方法で推定する)が
仮想測定値である。
。校正液表示値の上限以上に仮想点を求める場合には、
その仮想表示値は被検成分の定量範囲上限値近傍の値が
好ましく、より具体的には定量範囲の上限値である。ま
た校正液表示値の下限以下に仮想点を定める場合には、
その仮想表示値は、被検成分の含有量0の近傍又は定量
範囲の下限近傍の値とするのが好ましい。この内、通常
は被検成分Oの値を下限側の仮想点とするのが、後の数
学的処理を考慮すると、特に好ましい。これらの仮想表
示値に対応する推定測定値(後述の方法で推定する)が
仮想測定値である。
ここでは定量上限の表示値HmaXに対応する仮想測定
値をh 、hawとし、また0点(表示値=0)の仮想
測定値をC0とする。ここで定量上限とは被検成分の定
量域の上限値を意味し、0点とは文字通り被検成分濃度
0(ゼロ)を意味する。この仮想点の仮想測定値h 1
llaXとC8を求める。
値をh 、hawとし、また0点(表示値=0)の仮想
測定値をC0とする。ここで定量上限とは被検成分の定
量域の上限値を意味し、0点とは文字通り被検成分濃度
0(ゼロ)を意味する。この仮想点の仮想測定値h 1
llaXとC8を求める。
一つの方法は、求めるべき校正曲線がm次であれば、(
1,L)、−、(m、M)、=、 (h、H)の(m
+1)個の(あるいは校正曲線の次数に応じて(1,1
)。
1,L)、−、(m、M)、=、 (h、H)の(m
+1)個の(あるいは校正曲線の次数に応じて(1,1
)。
(m、 M) 、 (h、旧の3点について各濃度につ
いて複数回分析操作を実施して被数個の測定値を求めて
もよい)を用い最小二乗法によりm−1次の曲線式を求
め、h waxと00を求める。本発明の好ましい態様
例として、校正曲線が2次関数の場合がある。通常校正
曲線は2次関数となる場合が多いから、この場合には(
1,L)、価、M)、(h、Hlの3点から1次の、即
ち、直線式を求め、Y = Hl、laxと交わる点か
ら(h、R□、H□X)を、X軸と交わる点から(CO
,O)を求めることができる。
いて複数回分析操作を実施して被数個の測定値を求めて
もよい)を用い最小二乗法によりm−1次の曲線式を求
め、h waxと00を求める。本発明の好ましい態様
例として、校正曲線が2次関数の場合がある。通常校正
曲線は2次関数となる場合が多いから、この場合には(
1,L)、価、M)、(h、Hlの3点から1次の、即
ち、直線式を求め、Y = Hl、laxと交わる点か
ら(h、R□、H□X)を、X軸と交わる点から(CO
,O)を求めることができる。
もう一つの方法では、fl、L)、(m、M)の2点を
用いてこの2点の延長軸線上でX軸と交わる点から(c
o、O)を求め、(m、M)、(h、H)の2点を用い
この2点の延長軸線上でY = H、、、と交わる点か
ら(h□X+ l(□X)を求めることができる。
用いてこの2点の延長軸線上でX軸と交わる点から(c
o、O)を求め、(m、M)、(h、H)の2点を用い
この2点の延長軸線上でY = H、、、と交わる点か
ら(h□X+ l(□X)を求めることができる。
こうして求めた2点を含む(co、o) 、 (1,
L)。
L)。
(m、M)lh、1()、 (Flmax、 Hmax
)の5点を用いて校正曲線(第1図実線)を求めること
ができる。求められた校正曲線により、1〜hの範囲外
にある測定値も校正することができる。
)の5点を用いて校正曲線(第1図実線)を求めること
ができる。求められた校正曲線により、1〜hの範囲外
にある測定値も校正することができる。
仮想点を求める方法をここでは2つ示したが、前者のよ
うに校正液のn個の全ての表示値を用いると、上限・下
限側の表示値はそれぞれ下限・上限側の側の仮想点に誤
差を与えることga判明した。このような場合には、後
者の方法のように上限(又は下限)側の仮想点を求める
場合には下限(又は上限)側の表示値・測定値は計算か
ら除いた方が好ましい。すなわち、n個の校正液がある
場合には、n個の校正液の表示値の内、上限側の2〜(
n−1)個の表示値とその測定値を用いて上限以上の仮
想点での推定測定値を求めシ一方下限以下の仮想点での
推定測定値は下限側の2〜(n−1)個の校正液の表示
値を用いて求めるのが好ましい。
うに校正液のn個の全ての表示値を用いると、上限・下
限側の表示値はそれぞれ下限・上限側の側の仮想点に誤
差を与えることga判明した。このような場合には、後
者の方法のように上限(又は下限)側の仮想点を求める
場合には下限(又は上限)側の表示値・測定値は計算か
ら除いた方が好ましい。すなわち、n個の校正液がある
場合には、n個の校正液の表示値の内、上限側の2〜(
n−1)個の表示値とその測定値を用いて上限以上の仮
想点での推定測定値を求めシ一方下限以下の仮想点での
推定測定値は下限側の2〜(n−1)個の校正液の表示
値を用いて求めるのが好ましい。
上限側及び下限側の2点のみを用いて仮想測定値を求め
るには、下記の式より行なう。定量上限値における仮想
測定値X□8については、LIIX:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn−+:2番目に高いの濃度の校正液の表示値xo:
最高濃度の校正液の測定値 X、、: 2番目に高い濃度の校正液の測定値0点にお
ける仮想測定値X0は Xo:0点における仮想測定値 Y、:最低濃度の校正液の表示値 Y2:2番目に低い濃度の校正液の表示値x、:最低濃
度の校正液の測定値 X2:2番目に低い濃度の校正液の測定値である。
るには、下記の式より行なう。定量上限値における仮想
測定値X□8については、LIIX:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn−+:2番目に高いの濃度の校正液の表示値xo:
最高濃度の校正液の測定値 X、、: 2番目に高い濃度の校正液の測定値0点にお
ける仮想測定値X0は Xo:0点における仮想測定値 Y、:最低濃度の校正液の表示値 Y2:2番目に低い濃度の校正液の表示値x、:最低濃
度の校正液の測定値 X2:2番目に低い濃度の校正液の測定値である。
(実施例)
血液成分の自動分析機である富士写真フィルム■製アナ
ライザーFDC5000を用いアルブミン定量分析用多
層分析要素の校正を次のようにして行なった。
ライザーFDC5000を用いアルブミン定量分析用多
層分析要素の校正を次のようにして行なった。
多層分析要素は特開昭64−49962の実施例1に記
載されているものを用いた。この多層分析要素は、透光
性支持体上に吸水層、さらに編物生地からなる展開層を
順次積層したもので、展開層にはアルブミンにより発色
するブロムクレゾールグリーンを指示薬とする試薬が含
浸されている。
載されているものを用いた。この多層分析要素は、透光
性支持体上に吸水層、さらに編物生地からなる展開層を
順次積層したもので、展開層にはアルブミンにより発色
するブロムクレゾールグリーンを指示薬とする試薬が含
浸されている。
校正に用いる校正液(キャリブレータ)は次のようにし
て調製した0校正液レベルL(表示値:2.4g/di
)はヒトブール血清に蒸留水を加え所定の濃度に設定
した後、凍結乾燥したものを用時に再溶解したものであ
る。レベルM(表示値:3.4g/d1)はヒトブール
血清をそのまま分注凍結乾燥したものを用時に再溶解し
たものである。またレベルH(表示値: 4.8g/d
i )はヒトブール血清に各種分析目的成分を添加し、
所定の濃度に調製したのち、分注凍結乾燥したもので用
時に再溶解したものである。
て調製した0校正液レベルL(表示値:2.4g/di
)はヒトブール血清に蒸留水を加え所定の濃度に設定
した後、凍結乾燥したものを用時に再溶解したものであ
る。レベルM(表示値:3.4g/d1)はヒトブール
血清をそのまま分注凍結乾燥したものを用時に再溶解し
たものである。またレベルH(表示値: 4.8g/d
i )はヒトブール血清に各種分析目的成分を添加し、
所定の濃度に調製したのち、分注凍結乾燥したもので用
時に再溶解したものである。
なおアナライザーFDC5000には、予め濃度既知の
標準試料により求めた標準曲線がメモリされており、多
層分析要素の反射光学密度より試料濃度(測定値)が求
められる。
標準試料により求めた標準曲線がメモリされており、多
層分析要素の反射光学密度より試料濃度(測定値)が求
められる。
FDC5000アナライザーで前記校正液レベルL、M
、Hなそれぞれ3回、上記分析要素に点着して37℃で
6分インクベーションし、分析要素内の変色の反射光学
濃度を中心波長640nmの可視光で測定した。その結
果以下のような測定データを得た。
、Hなそれぞれ3回、上記分析要素に点着して37℃で
6分インクベーションし、分析要素内の変色の反射光学
濃度を中心波長640nmの可視光で測定した。その結
果以下のような測定データを得た。
(以下余白)
レベルL
表示値
2.4g/di
測定値 平均値
2.3g/di
2.2g/di
2、20g/di
X1ニレベルLの校正液の測定値
x、ニレベルMの校正液の測定値
定量上限における仮想測定値(h、、、、、)レベルM
レベルH
3,4g/di
4.8g/di
3.6g/di
3.8g/di
3.8g/d1
4.6g/di
4.8g/di
3、73g/di
4、63g/di
ついで、下記の演算式に従って、coとり。、Xを算出
した。なお分析要素の定量上限H□8は6、0g/di
である。
した。なお分析要素の定量上限H□8は6、0g/di
である。
0点における仮想測定値(co)
YLニレペルLの校正液の表示値
Y2ニレベルMの校正液の表示値
H□X:定量上限値
YHニレベルHの校正液の表示値
YMニレベルMの校正液の表示値
xhニレベルHの校正液の測定値
xmmニレペルの校正液の測定値
その結果以下のような結果を得た。
c o −−1,48g/di
hm、x=5.40g/dl
このデータをもとに、校正関数の算出を行なった。−結
果を第4図に示す、その校正関数は、横軸(測定値)を
X軸、縦軸(表示値)をY軸とすると、 Y = 0.07608X2 + 0.5236
6X + 0.68746相関係数γミ0.989
1? 偏差5yx= 0.25505 であった。
果を第4図に示す、その校正関数は、横軸(測定値)を
X軸、縦軸(表示値)をY軸とすると、 Y = 0.07608X2 + 0.5236
6X + 0.68746相関係数γミ0.989
1? 偏差5yx= 0.25505 であった。
なお比較例として、仮想点を用いずにレベルL、M、H
の3点のみで校正関数を計算すると、Y = 0.31
172X” −1,16337X + 3.4459相
関係数γ= 0.98897 偏差5yx= 0.16536 となり、第5図に示すように極値を持つ校正曲線となっ
ていた。
の3点のみで校正関数を計算すると、Y = 0.31
172X” −1,16337X + 3.4459相
関係数γ= 0.98897 偏差5yx= 0.16536 となり、第5図に示すように極値を持つ校正曲線となっ
ていた。
こうして求めた校正関数を用いて、種々の濃度の試料の
測定値の校正を行なった。
測定値の校正を行なった。
なおアルブミン濃度の標準測定法は、ブロムクレゾール
グリーン比色測定法に基づき行なった。
グリーン比色測定法に基づき行なった。
(以下余白)
上記の表に示すように、比較例では中濃度域での補正効
果が顕著であるが、低濃度域、高濃度域では補正誤差が
大きく広い範囲での校正には耐えられない、一方実施例
では、校正液の濃度範囲を超える広い範囲にわたり補正
効果がみられた。
果が顕著であるが、低濃度域、高濃度域では補正誤差が
大きく広い範囲での校正には耐えられない、一方実施例
では、校正液の濃度範囲を超える広い範囲にわたり補正
効果がみられた。
このように本発明によれば、校正液を用意できない濃度
域にわたって広範囲に精度良(測定値を校正できる。
域にわたって広範囲に精度良(測定値を校正できる。
なお実施例では多層分析要素の測定値の校正について示
したが、本発明はこれに限られず、試料の物性などの原
因により定量域の全範囲で校正液を用意できない液体分
析にはいずれにも適用できるものであり、本発明はその
ようなものを包含する。
したが、本発明はこれに限られず、試料の物性などの原
因により定量域の全範囲で校正液を用意できない液体分
析にはいずれにも適用できるものであり、本発明はその
ようなものを包含する。
なお本発明の好ましい態様をまとめると以下の通りであ
る。
る。
(1) 被検成分の含有量の異なるn個(nは2以上
の整数)の校正液の表示値とその測定値とから求めた校
正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液体分
析の校正方法において、 前記n個の校正液の表示値の上限の範囲外の仮想点とし
て被検成分定量域上限値近傍の値における測定値を推定
し、又は下限の範囲外の仮想点として被検成分定量域下
限値近傍の値あるいは被検成分含有量0近傍の値におけ
る測定値を推定し、この仮想測定値と前記n個の測定値
のうちの2からnのうちの任意の個数の選ばれた測定値
とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分
析の校正方法。
の整数)の校正液の表示値とその測定値とから求めた校
正曲線により、液体試料の測定値の校正を行なう液体分
析の校正方法において、 前記n個の校正液の表示値の上限の範囲外の仮想点とし
て被検成分定量域上限値近傍の値における測定値を推定
し、又は下限の範囲外の仮想点として被検成分定量域下
限値近傍の値あるいは被検成分含有量0近傍の値におけ
る測定値を推定し、この仮想測定値と前記n個の測定値
のうちの2からnのうちの任意の個数の選ばれた測定値
とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分
析の校正方法。
(2)校正液の表示値とその測定値とから求めた校正曲
線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校正
方法において、 n個の校正液の表示値の内、上限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値を
求め、この仮想測定値とn個の校正液の測定値とから校
正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校正
方法。
線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校正
方法において、 n個の校正液の表示値の内、上限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値を
求め、この仮想測定値とn個の校正液の測定値とから校
正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校正
方法。
(3) 校正液の表示値とその測定値とから求めた校
正曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の
校正方法において、 n個の校正液の表示値の内、下限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値を
求め、この仮想測定値とn個の校正液の測定値とから校
正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校正
方法。
正曲線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の
校正方法において、 n個の校正液の表示値の内、下限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値を
求め、この仮想測定値とn個の校正液の測定値とから校
正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分析の校正
方法。
(4)校正液の表示値とその測定値とから求めた校正曲
線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校正
方法において、 n個の校正液の表示値の内、上限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値を
求める一方、 n個の校正液の表示値の内、下限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値を
求め、 これら2つの仮想点の推定測定値とn個の校正液の測定
値とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体
分析の校正方法。
線により、試料の測定値の校正を行なう液体分析の校正
方法において、 n個の校正液の表示値の内、上限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、上限以上の仮想点での推定測定値を
求める一方、 n個の校正液の表示値の内、下限側の2〜(n−1)個
の表示値を用いて、下限以下の仮想点での推定測定値を
求め、 これら2つの仮想点の推定測定値とn個の校正液の測定
値とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体
分析の校正方法。
(5)前記上限以上の仮想点の表示値が定量範囲の上限
値であることを特徴とする (1)、 (−2)、
(3)又は(4)に記載の液体分析の校正方法。
値であることを特徴とする (1)、 (−2)、
(3)又は(4)に記載の液体分析の校正方法。
(6) 前記下限以下の仮想点の表示値が0点である
ことを特徴とするに(1)、 (2)、 (3)又は(
4)記載の液体分析の校正方法。
ことを特徴とするに(1)、 (2)、 (3)又は(
4)記載の液体分析の校正方法。
(7)前記上限以上の仮想点の測定値が、下記の式より
求める (5)に記載の液体分析の校正方法。
求める (5)に記載の液体分析の校正方法。
Xmax :定量上限値における仮想測定値Ymax
:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn−+:2番目に高いの濃度の校正液の表示値Xn:
最高濃度の校正液の測定値 xn〜1:2番目に高い濃度の校正液の測定値(8)表
示値が0点である前記下限以下の仮想点の測定値が、下
記の式より求められる (6)に記載の液体分析の校正
方法。
:定量上限値 Yn:最高濃度の校正液の表示値 Yn−+:2番目に高いの濃度の校正液の表示値Xn:
最高濃度の校正液の測定値 xn〜1:2番目に高い濃度の校正液の測定値(8)表
示値が0点である前記下限以下の仮想点の測定値が、下
記の式より求められる (6)に記載の液体分析の校正
方法。
xo:0点における仮想測定値
YI:最低濃度の校正液の表示値
Y2:2番目に低い濃度の校正液の表示値XI:最低濃
度の校正液の測定値 x2:2番目に低い濃度の校正液の測定値(9)前記液
体分析が乾式分析方法による分析であることを特徴とす
る (1)〜(8)の何れかに記載の液体分析の校正方
法。
度の校正液の測定値 x2:2番目に低い濃度の校正液の測定値(9)前記液
体分析が乾式分析方法による分析であることを特徴とす
る (1)〜(8)の何れかに記載の液体分析の校正方
法。
(10)前記校正曲線は最小二乗法により求められるこ
とを特徴とする(1)〜(8)の何れかに記載の液体分
析の校正方法。
とを特徴とする(1)〜(8)の何れかに記載の液体分
析の校正方法。
(発明の効果)
以上のように本発明は、所定の表示値をもつ校正液の測
定値の他に、校正液の表示値の上限・下限の外の仮想点
での測定値を推定し、この仮想測定値を含めて校正曲線
を求めるものである。このため、校正液の標準値の範囲
外であっても精度良く測定値を校正できる。
定値の他に、校正液の表示値の上限・下限の外の仮想点
での測定値を推定し、この仮想測定値を含めて校正曲線
を求めるものである。このため、校正液の標準値の範囲
外であっても精度良く測定値を校正できる。
第1図は、本発明の原理図である。第2.3図は標準値
の濃度領域が広い場合、狭い場合のそれぞれ従来方法に
よる校正曲線を示す、第4図は本発明の実施例による校
正曲線であり、第5図は従来法による比較例の校正曲線
である。
の濃度領域が広い場合、狭い場合のそれぞれ従来方法に
よる校正曲線を示す、第4図は本発明の実施例による校
正曲線であり、第5図は従来法による比較例の校正曲線
である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被検成分の含有量の異なるn個(nは2以上の整数)
の校正液の表示値とその測定値とから求めた校正曲線に
より、液体試料の測定値の校正を行なう液体分析の校正
方法において、 前記n個の校正液の表示値の上限の範囲外の仮想点とし
て被検成分定量域上限値近傍の値における測定値を推定
し、又は下限の範囲外の仮想点として被検成分定量域下
限値近傍の値あるいは被検成分含有量0近傍の値におけ
る測定値を推定し、この仮想測定値と前記n個の測定値
のうちの2からnのうちの任意の個数の選ばれた測定値
とから校正曲線の関数を求めることを特徴とする液体分
析の校正方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1265281A JPH0816649B2 (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 液体分析の校正方法 |
EP90119509A EP0422646B1 (en) | 1989-10-13 | 1990-10-11 | Improvement in calibration |
DE69024453T DE69024453T2 (de) | 1989-10-13 | 1990-10-11 | Verbessertes Kalibrierungsverfahren |
US07/940,770 US5348889A (en) | 1989-10-13 | 1992-09-04 | Method for correcting a calibration curve |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1265281A JPH0816649B2 (ja) | 1989-10-13 | 1989-10-13 | 液体分析の校正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03128439A true JPH03128439A (ja) | 1991-05-31 |
JPH0816649B2 JPH0816649B2 (ja) | 1996-02-21 |
Family
ID=17415044
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5348889A (ja) |
EP (1) | EP0422646B1 (ja) |
JP (1) | JPH0816649B2 (ja) |
DE (1) | DE69024453T2 (ja) |
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JP2010527001A (ja) * | 2007-05-07 | 2010-08-05 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 低アルカリ度溶液のpHを測定するための方法及び装置 |
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JP3504750B2 (ja) * | 1993-12-22 | 2004-03-08 | オルソ−クリニカル ダイアグノスティクス,インコーポレイティド | 検量関係式の再校正法及び定量試験キット |
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US6277584B1 (en) | 1998-12-16 | 2001-08-21 | Dade Behring Inc. | Method for calibrating a chemical analyzer with improved accuracy at low signal levels |
CN1287140C (zh) * | 2000-09-25 | 2006-11-29 | 松下电器产业株式会社 | 色层分析定量测量装置 |
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WO2011156522A1 (en) | 2010-06-09 | 2011-12-15 | Optiscan Biomedical Corporation | Measuring analytes in a fluid sample drawn from a patient |
EP2877952B1 (en) | 2012-07-27 | 2023-04-12 | Gen-Probe Incorporated | Dual reference calibration method and system for quantifying polynucleotides |
CN104019842B (zh) * | 2014-05-27 | 2016-08-31 | 格力电器(合肥)有限公司 | 校准工装和校准方法 |
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JPS63111446A (ja) * | 1986-10-29 | 1988-05-16 | Konica Corp | 分析装置 |
JPS63132166A (ja) * | 1986-11-21 | 1988-06-04 | Olympus Optical Co Ltd | 検量線設定方法 |
JPS63169539A (ja) * | 1987-01-07 | 1988-07-13 | Hitachi Ltd | 非直線性検量線作成用モデル関数自動選択機能を有する分析装置 |
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JPH0746111B2 (ja) * | 1988-03-18 | 1995-05-17 | 株式会社日立製作所 | 試料分析方法及びこれを用いた自動分析装置 |
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1989
- 1989-10-13 JP JP1265281A patent/JPH0816649B2/ja not_active Expired - Fee Related
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1990
- 1990-10-11 DE DE69024453T patent/DE69024453T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-10-11 EP EP90119509A patent/EP0422646B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-09-04 US US07/940,770 patent/US5348889A/en not_active Expired - Lifetime
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EP0422646A3 (en) | 1992-01-08 |
JPH0816649B2 (ja) | 1996-02-21 |
DE69024453D1 (de) | 1996-02-08 |
US5348889A (en) | 1994-09-20 |
EP0422646A2 (en) | 1991-04-17 |
EP0422646B1 (en) | 1995-12-27 |
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