JPH08159953A - 回路基板ユニット検査装置 - Google Patents
回路基板ユニット検査装置Info
- Publication number
- JPH08159953A JPH08159953A JP6298436A JP29843694A JPH08159953A JP H08159953 A JPH08159953 A JP H08159953A JP 6298436 A JP6298436 A JP 6298436A JP 29843694 A JP29843694 A JP 29843694A JP H08159953 A JPH08159953 A JP H08159953A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- unit
- board unit
- printed circuit
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】回路基板ユニットの動作確認試験を行う前、又
は動作確認中に、回路基板ユニットに振動を与えること
により、半田付け不良の検出精度を向上させることにあ
る。 【構成】回路基板ユニット検査装置に、振動装置を具備
することにより、回路基板ユニットを振動させる構造に
なっている。
は動作確認中に、回路基板ユニットに振動を与えること
により、半田付け不良の検出精度を向上させることにあ
る。 【構成】回路基板ユニット検査装置に、振動装置を具備
することにより、回路基板ユニットを振動させる構造に
なっている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は回路基板ユニットの動作
を検査するための回路基板ユニット検査装置に関する。
を検査するための回路基板ユニット検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の回路基板検査装置では、回路基板
ユニットの電気信号を検出するためのプローブピンを回
路基板上の配線パターンに接触させることにより、電気
信号を回路基板ユニット検査装置に取り込み、前記電気
信号により、回路基板ユニットの良否を判断していた。
ユニットの電気信号を検出するためのプローブピンを回
路基板上の配線パターンに接触させることにより、電気
信号を回路基板ユニット検査装置に取り込み、前記電気
信号により、回路基板ユニットの良否を判断していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前述の回路基
板ユニット検査装置では、部品が、回路基板に確実にハ
ンダ付けされていなくても、回路基板ユニットを検査す
る時点において回路基板と部品とが接触していれば、正
しい信号を基板ユニット検査装置に取り込むことにな
り、回路基板ユニット検査装置では良品として判断され
てしまうという問題があった。
板ユニット検査装置では、部品が、回路基板に確実にハ
ンダ付けされていなくても、回路基板ユニットを検査す
る時点において回路基板と部品とが接触していれば、正
しい信号を基板ユニット検査装置に取り込むことにな
り、回路基板ユニット検査装置では良品として判断され
てしまうという問題があった。
【0004】そこで本発明は、このような問題を解決す
るもので、その目的とするところは、回路基板ユニット
を振動させることによりハンダ付けが確実にされていな
い部品については基板に接触していない状態で信号を検
出できる装置を提供できるところにある。
るもので、その目的とするところは、回路基板ユニット
を振動させることによりハンダ付けが確実にされていな
い部品については基板に接触していない状態で信号を検
出できる装置を提供できるところにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の回路基板ユニッ
ト検査装置は、回路基板ユニット固定部と、前述回路基
板ユニット上の信号パターンのランドに接触し、信号を
取り込むためのプローブピンを具備したプローバー部
と、前述信号の良否を判定する回路から成る回路基板ユ
ニット検査装置に於て、回路基板ユニット固定部に回路
基板ユニットを振動させる装置を具備したことを特徴と
する。
ト検査装置は、回路基板ユニット固定部と、前述回路基
板ユニット上の信号パターンのランドに接触し、信号を
取り込むためのプローブピンを具備したプローバー部
と、前述信号の良否を判定する回路から成る回路基板ユ
ニット検査装置に於て、回路基板ユニット固定部に回路
基板ユニットを振動させる装置を具備したことを特徴と
する。
【0006】
【作用】このような構成によれば、回路基板ユニットが
振動することにより、回路基板に実装されている部品の
うち、回路基板に確実に固定されておらず、接触してい
るだけの部分が振動により回路基板と接触しなくなり、
不良基板として判断ができる。
振動することにより、回路基板に実装されている部品の
うち、回路基板に確実に固定されておらず、接触してい
るだけの部分が振動により回路基板と接触しなくなり、
不良基板として判断ができる。
【0007】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明の装置のブロック図で、回路基板ユ
ニット固定部2に固定された、被検査体である回路基板
ユニット1は、振動装置3により振動を与えられる。そ
の後プローバーユニット上下動装置5により、プローバ
ーユニット4に具備したプローブピンを前記回路基板ユ
ニット1上の信号パターンのランドに接触させる。プロ
ーバーユニット4は、回路基板ユニット1に対し、回路
を動作させる為に必要な電源及び駆動信号を供給すると
共に、回路基板ユニット1の任意の信号を取り込み、信
号処理ユニット6に伝達し、前記信号処理ユニット6に
て良否の判定を行い、結果を表示ユニット7に表示す
る。
する。図1は本発明の装置のブロック図で、回路基板ユ
ニット固定部2に固定された、被検査体である回路基板
ユニット1は、振動装置3により振動を与えられる。そ
の後プローバーユニット上下動装置5により、プローバ
ーユニット4に具備したプローブピンを前記回路基板ユ
ニット1上の信号パターンのランドに接触させる。プロ
ーバーユニット4は、回路基板ユニット1に対し、回路
を動作させる為に必要な電源及び駆動信号を供給すると
共に、回路基板ユニット1の任意の信号を取り込み、信
号処理ユニット6に伝達し、前記信号処理ユニット6に
て良否の判定を行い、結果を表示ユニット7に表示す
る。
【0008】図2は本発明の具体的な実施例で、振動装
置3の振動が、振動装置3と回路基板ユニット固定部2
とを連結している連結棒8により回路基板ユニット固定
部2に伝わる事により回路基板ユニット1も振動する。
前記回路基板ユニットに振動を加えた後に検査を実施す
る。
置3の振動が、振動装置3と回路基板ユニット固定部2
とを連結している連結棒8により回路基板ユニット固定
部2に伝わる事により回路基板ユニット1も振動する。
前記回路基板ユニットに振動を加えた後に検査を実施す
る。
【0009】図3は振動装置の振動源にモーターを用
い、かつ回路基板ユニット固定部2がプローバーユニッ
ト4も固定している例である。モーター9(又は12)
の回転と共に、円柱状の突起を有する円板10(又は1
3)も回転する。円板10(又は13)上の突起と回路
基板ユニット固定部2を連結している連結棒11(又は
14)が円板10(又は13)の回転運動を回路基板ユ
ニット固定部2の直線運動に変える。この例の場合、回
路基板ユニット1とプローバーユニット4は同時に振動
するため、回路基板ユニット1に振動を与えながら回路
を動作させ検査を実行する事ができる。モーター12に
より振動を加える場合は、連結棒11は回路基板ユニッ
ト固定部2との接続部を矢印16の方向に持ち上げるこ
とにより、またモーター9により振動を加える場合は、
連結棒14の回路基板ユニット固定部2との接続部を持
ち上げることにより、X方向、Y方向独立して振動を加
えることができる。
い、かつ回路基板ユニット固定部2がプローバーユニッ
ト4も固定している例である。モーター9(又は12)
の回転と共に、円柱状の突起を有する円板10(又は1
3)も回転する。円板10(又は13)上の突起と回路
基板ユニット固定部2を連結している連結棒11(又は
14)が円板10(又は13)の回転運動を回路基板ユ
ニット固定部2の直線運動に変える。この例の場合、回
路基板ユニット1とプローバーユニット4は同時に振動
するため、回路基板ユニット1に振動を与えながら回路
を動作させ検査を実行する事ができる。モーター12に
より振動を加える場合は、連結棒11は回路基板ユニッ
ト固定部2との接続部を矢印16の方向に持ち上げるこ
とにより、またモーター9により振動を加える場合は、
連結棒14の回路基板ユニット固定部2との接続部を持
ち上げることにより、X方向、Y方向独立して振動を加
えることができる。
【0010】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の回路基板ユ
ニット検査装置は、回路基板ユニットを回路基板ユニッ
ト固定部と共に振動させる装置を具備したことにより、
検査前、あるいは検査中に回路基板ユニットを振動させ
ることにより、部品の未実装検出精度を著しく向上させ
るという効果を有する。
ニット検査装置は、回路基板ユニットを回路基板ユニッ
ト固定部と共に振動させる装置を具備したことにより、
検査前、あるいは検査中に回路基板ユニットを振動させ
ることにより、部品の未実装検出精度を著しく向上させ
るという効果を有する。
【図1】本発明の回路基板ユニット検査装置のブロック
図。
図。
【図2】本発明の回路基板ユニット検査装置の一実施例
を示す図。
を示す図。
【図3】本発明の回路基板ユニット検査装置の他の一実
施例を示す図。
施例を示す図。
【図4】従来の回路基板ユニット検査装置を示すブロッ
ク図。
ク図。
1 回路基板ユニット 2 回路基板ユニット固定部 3 振動装置 4 プローバーユニット 5 プローバーユニット上下動装置 6 信号処理ユニット 7 表示ユニット 8 連結棒 9 モーター 10 円板 11 連結棒 12 モーター 13 円板 14 連結棒 15 プローブピン 16 矢印
Claims (1)
- 【請求項1】 電子部品の実装された回路基板(以後回
路基板ユニットと呼ぶ)を固定するための固定部と、前
記回路基板ユニット上の信号パターンのランドに接触し
信号を取り込むためのプローブピンを具備したプローバ
ー部と、前記信号の、良否を判断する回路とから成る回
路基板ユニット検査装置に於て、回路基板ユニット固定
部に、回路基板ユニットを振動させる装置を具備したこ
とを特徴とする回路基板ユニット検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6298436A JPH08159953A (ja) | 1994-12-01 | 1994-12-01 | 回路基板ユニット検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6298436A JPH08159953A (ja) | 1994-12-01 | 1994-12-01 | 回路基板ユニット検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08159953A true JPH08159953A (ja) | 1996-06-21 |
Family
ID=17859691
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6298436A Pending JPH08159953A (ja) | 1994-12-01 | 1994-12-01 | 回路基板ユニット検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08159953A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013051650A1 (ja) * | 2011-10-06 | 2013-04-11 | 新日鉄住金マテリアルズ株式会社 | はんだの搭載性評価方法 |
-
1994
- 1994-12-01 JP JP6298436A patent/JPH08159953A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013051650A1 (ja) * | 2011-10-06 | 2013-04-11 | 新日鉄住金マテリアルズ株式会社 | はんだの搭載性評価方法 |
JPWO2013051650A1 (ja) * | 2011-10-06 | 2015-03-30 | 新日鉄住金マテリアルズ株式会社 | はんだの搭載性評価方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3371869B2 (ja) | ベアチップlsi搭載基板の高速テスト装置 | |
JP3193418B2 (ja) | 自動イン・サーキット・テスターおよびその試験方法 | |
WO2017169179A1 (ja) | 基板検査装置 | |
JPH08159953A (ja) | 回路基板ユニット検査装置 | |
JPH06313785A (ja) | 振動による実装部品の半田付け不良検出方法並びに加振装置及び加振、測定プローブユニット | |
JP2810149B2 (ja) | 加振方法及び装置 | |
JPH06314899A (ja) | 半導体挿抜装置及び半導体挿抜方法 | |
JP4096347B2 (ja) | 電子部品、回路基板及び電子部品付き回路基板 | |
JP2000241508A (ja) | 基板検査装置及び基板検査方法 | |
KR20050067759A (ko) | 반도체 검사장치 | |
JPH07113849A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JPS62123338A (ja) | 高密度実装基板の検査装置 | |
JP2850877B2 (ja) | 半導体集積回路測定方法及び装置 | |
JPH1183957A (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
JPH09186418A (ja) | バウンダリスキャンテストにおけるプリント配線板の接続構造 | |
JPH05273305A (ja) | 実装基板検査装置 | |
CA2594715C (en) | Surface mount package fault detection apparatus | |
JPH05164822A (ja) | 実装回路装置の検査方法 | |
JPH07113851A (ja) | 回路基板検査装置 | |
JP2004128427A (ja) | はんだ接続良否検査方法及びその装置 | |
JP2669400B2 (ja) | 可動式プローブ型試験機 | |
JPH0540892U (ja) | 電気特性試験装置 | |
JPH07229945A (ja) | 電子部品の加振による足浮き検出方法 | |
JPH0712891A (ja) | Ic試験装置 | |
JP2717884B2 (ja) | 半導体ウエハ測定方法 |