JPH05273305A - 実装基板検査装置 - Google Patents

実装基板検査装置

Info

Publication number
JPH05273305A
JPH05273305A JP4096028A JP9602892A JPH05273305A JP H05273305 A JPH05273305 A JP H05273305A JP 4096028 A JP4096028 A JP 4096028A JP 9602892 A JP9602892 A JP 9602892A JP H05273305 A JPH05273305 A JP H05273305A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
inspection
circuit board
arm
probes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4096028A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuo Wada
達夫 和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tescon Co Ltd
Original Assignee
Tescon Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tescon Co Ltd filed Critical Tescon Co Ltd
Priority to JP4096028A priority Critical patent/JPH05273305A/ja
Publication of JPH05273305A publication Critical patent/JPH05273305A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、プリント基板若しくはICやチッ
プ部品が実装された実装プリント基板の、回路パターン
の断線又は実装部品の有無や性能等を検査する実装基板
検査装置に関し、プローブの位置決め精度を低下させず
に軽量化とコストダウンを図り、かつ、プローブを上下
移動させる時に無用な振動を与えない実装基板検査装置
を提供することを目的とする。 【構成】 実装基板検査装置1において、プローブ6が
極座標方式で互いに回動自在にされた回転支持アーム4
とプローブ支持アーム5とで検査ポイントに移動させる
ように支持されるとともに、前記プローブ6が遠隔装置
(7等)により作動されて検査ポイントに当接されるよ
うにしたこと。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プリント基板若しくは
ICやチップ部品が実装された実装プリント基板の、回
路パターンの断線又は実装部品の有無や性能等を検査す
る実装基板検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、プリント基板の良品判定する実装
基板検査装置20は、例えば図9乃至図10に示す様な
ものが知られている。即ち、図面に示すX方向に移動自
在な4本の移動アーム21と、該移動アーム21に取付
られこれに対して図面のY方向に移動自在な検査ヘッド
22と、該検査ヘッド22に取り付けられたプローブ2
3を備え、検査対象のプリント基板24を装置内に搬入
して、前記プローブ23の先端部をプリント基板24上
に当接させて、プリント基板24の回路パターンの断線
や実装部品の有無及び性能等を検査して、プリント基板
24の良品判定を行うものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
実装基板検査装置20では、前記プローブ23を検査装
置のX−Y方向に自在に所定量移動させて検査ポイント
上に位置させるために、図10に示すように、検査装置
20内に搬送されガイドピン25で位置決めされたプリ
ント基板24に対して、ステッピングモター26で回動
されるボールネジ27により前記検査ヘッド22がY方
向に移動され、また、同様にして前記移動アーム21が
紙面垂直方向(X方向)に移動されるようにしている。
【0004】従って、回路パターンや実装部品の高密度
化に伴いプリント基板24上の検査ポイントに対する前
記プローブ23の位置制御は高い精度が要求され、前記
プローブ23の位置決め用の装置(前記移動アームや検
査ヘッドやガイド軸やボールネジ等)が高剛性材料で形
成されてコスト高となり、かつ重量も重くなる。例え
ば、従来の検査装置20は1tクラスとなり、設置する
床が強固なものでなければならず設置場所を限定するも
のであった。
【0005】また、前記プローブ23の検査時における
Z方向の移動は、検査ヘッド22に設けられたエアーシ
リンダーやモータ等の駆動源の作動で行われるので、当
該駆動源の作動時の振動が前記プローブ23に伝播し検
査精度に悪影響を与えるという問題がある。
【0006】本発明は、上記の課題に鑑みてなされたも
ので、プローブの位置決め精度を低下させずに軽量化と
コストダウンを図り、かつ、プローブを上下移動させる
時に無用な振動を与えない実装基板検査装置を提供する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の上記課題を解決
し上記目的を達成するための要旨は、プリント基板若し
くは実装プリント基板の検査ポイントにプローブをX−
Yの2方向に自在に移動させ、かつ、電気的検査をし、
前記プリント基板等の良品判定を行う実装基板検査装置
において、前記プローブが極座標方式で互いに回動自在
にされた回転支持アームとプローブ支持アームとで検査
ポイントに移動されるように支持されるとともに、前記
プローブが遠隔装置により作動されて検査ポイントに当
接されるようにしたことに存する。
【0008】
【作用】本発明の実装基板検査装置によれば、プローブ
を移動自在にさせる回転支持アームとプローブ支持アー
ムが、極座標方式により回転制御されるようにしたの
で、従来のX−Y直交座標方式におけるような移動アー
ムやガイド軸等の重量物が不要となり、検査装置の軽量
化となる。
【0009】また、前記アーム等においては、プローブ
を検査ポイントに当接させる動作を遠隔装置で行うこと
にしたので、プローブの当該動作に伴う振動による悪影
響が除かれ、そしてプローブ支持アームが軽負荷とな
り、超軽量合金製とすることができる。これによっても
検査装置の軽量化となる。更に、前記アーム等によって
プローブを移動自在にせしめる装置が簡易な構造とな
り、検査装置全体の構造が簡略化される。
【0010】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は、本発明に係る実装基板検査装置の斜視図で
あり、図2乃至図4はこの実装基板検査装置の各部分の
説明図である。図において、符号1は実装基板検査装
置、2はヘッドアーム、3は支柱、4は回転支持アー
ム、5はプローブ支持アーム、6はプローブ、7は遠隔
操作用ケーブル、8は検査対象のプリント基板を各々示
している。
【0011】前記実装基板検査装置1は、従来の検査装
置(図9参照)と比較して明らかなように、プローブ6
を検査対象のプリント基板8の検査ポイントへと位置合
わせさせるべく、プリント基板8上で前記プローブ6を
X−Y方向に移動自在にさせるアームに大きな違いがあ
る。即ち、従来では直交するXーY方向に各々アームを
移動させる直交座標方式であったが、本発明の実装基板
検査装置1では、極座標方式とした点にある。
【0012】また、プローブ6の検査ポイントに対する
Z方向の移動は、プローブ6を保持するアームに直接プ
ローブ用駆動源を設けずに、遠隔装置を設けて、ワイヤ
操作による遠隔操作とした点にある。
【0013】前記ヘッドアーム2は、図2に示すような
支柱3に対して回動自在な回転支持アーム4と、該回転
支持アーム4に対して回動自在なプローブ支持アーム5
からなり、前記プローブ支持アーム5の先端部に検査用
のプローブ6が装着されている。そして、プローブ6に
は電気的に接続されるリード線7aが検査装置1の本体
側との間で接続されている。
【0014】そして、前記プローブ6をプリント基板8
上の検査ポイントに当接させるための遠隔装置として
は、プローブ6と支柱3の上部とを連結している遠隔操
作用ケーブル7内に挿通されているワイヤ9の一端を前
記プローブ6に連結し、図8に示すようなモータ10の
回転板10a上のピン10bの回転で往復動する連接棒
11に前記ワイヤ9の他端を連結して構成する。
【0015】前記モータ10の回転板10aが1回転す
ると、前記連接棒11を介してワイヤ9によってこれの
一端側に連結されているプローブ6がZ方向に1往復移
動することになるものである。また、前記アーム4,5
は、マグネシウムダイキャスト等の超軽量合金材料を用
い、この検査装置1の重量の軽量化を図り、例えば従来
1t程度あったものを300Kg以下とするものであ
る。これにより、検査装置1の設置場所がその重量によ
り制約を受けることがなくなるものである。
【0016】そして、前記アーム4,5を極座標方式で
所定角度回転させるには、図7に示すように、ステッピ
ングモータ15の回転を直接に回転支持アーム4に伝達
させ、ステッピングモータ16の回転をタイミングベル
ト若しくはチェーン等を介してプローブ支持アーム5に
伝達させるようにするものである。支柱3,3aの上下
方向の範囲内においてモータや回転減速機構部を納める
ようにして、アーム4,5の軽量化を図るものである。
なお、図7は後述の天井懸吊型で説明しているが、図2
に示すものにおけるアーム4,5の回転駆動方法も同じ
である。
【0017】上述のようなヘッドアーム2を実装基板検
査装置1内に4個各々独立にして備え、これらを1対に
して、若しくは3個を1組にして検査ポイントを電気的
にピックアップし、検査するものである。前記プローブ
6の代わりにCCDカメラ12aを設けて、プリント基
板8の位置補正をするためのカメラアーム12も設け
る。
【0018】前記ヘッドアーム2のプローブ支持アーム
5は互いに狭い場所で近接されるので、回転中に衝突し
ないように近接センサーを各々のプローブ支持アーム5
に取り付けて、異常に接近した場合には、アームの回転
動作を停止させ、警告ブザー音を発するようにするのが
好ましいものである。
【0019】また、前記ヘッドアーム2の配置では、プ
リント基板8の搬入のする、しないにより、前後2列に
配置したり前後左右に各1個配置したりするものであ
る。
【0020】このように、実装基板検査装置1を形成す
れば、検査対象のプリント基板8に各ヘッドアーム2の
プローブ6を極座標による位置制御で所定の位置に移動
させ、遠隔操作によりプローブ6を検査ポイントに当接
させて前記プリント基板8の良品検査を行うものであ
る。また、カメラアーム12により当該実装検査装置1
内に搬入されたプリント基板8の位置ズレを検出して、
この位置ズレを補正機構で補正をするものである。
【0021】その他の実施例として、図5乃至図7に示
すものが提案される。これは、前記支柱3を基台から立
設させた場合に対して、天井板14から懸吊させるタイ
プにした支柱3aとしたものである。その他は前述の実
施例と異なるところはない。
【0022】このように天井懸吊型にしたのは、搬入す
るプリント基板8に対する大きさの制約が非常に緩和さ
れることにある。更に、基台側に立設される支柱3等が
なくなるので、プリント基板の搬入装置等を設ける際の
制約が軽減され、設計の自由度が増すことになる。
【0023】本発明に係る実装基板検査装置1は一実施
例として上述の如くであるが、前記アーム4,5を極座
標方式で回転させるには他の公知手段を適宜採用できる
のは勿論であり、また、プローブ6を遠隔操作させる駆
動方式も他の公知手段を採用出来るものである。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る実装
基板検査装置は、プローブが極座標方式で互いに回動自
在にされた回転支持アームとプローブ支持アームとで検
査ポイントに移動されるように支持されるとともに、前
記プローブが遠隔装置により作動されて検査ポイントに
当接されることとしたので、プローブを移動自在にせし
める前記アーム等の移動装置が簡易な構造となり、か
つ、部品点数の軽減により検査装置全体の軽量化が図ら
れてコストを軽減できる。この検査装置の軽量化に伴
い、これを設置する場所の制約が除かれて便宜なものと
なる。また、プローブが、遠隔操作で作動され検査ポイ
ントに当接されるので、前記アーム等には軽負荷となっ
て軽量化が図れるとともに、プローブ用の駆動源が前記
プローブ支持アームに設けられていないので、検査時の
振動が除かれて検査精度の向上となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る実装基板検査装置の斜視図であ
る。
【図2】同じくプローブを移動自在にさせるアーム等の
移動装置の正面図である。
【図3】同じく実装基板検査装置の一部平面図である。
【図4】プローブ支持アームの概略平面図(イ)、同じ
くプローブを装着した状態の正面図(ロ)である。
【図5】アーム等を天井懸吊型にした場合の斜視図であ
る。
【図6】天井懸吊型のアーム等を実装基板検査装置に装
着した様子を示す一部正面図である。
【図7】アームの極座標方式による回転駆動装置を示す
概略説明図である。
【図8】同じくプローブを往復動させる機構を示す平面
図(イ)、正面図(ロ)である。
【図9】従来例に係る実装基板検査装置の斜視図であ
る。
【図10】同じくその側断面図である。
【符号の説明】
1 実装基板検査装置、2 ヘッドアーム、3 支柱、
4 回転支持アーム、5 プローブ支持アーム、6 プ
ローブ、7 遠隔操作用ケーブル、8 検査対象のプリ
ント基板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント基板若しくは実装プリント基板
    の検査ポイントにプローブをX−Yの2方向に自在に移
    動させ、かつ、電気的検査をし、前記プリント基板等の
    良品判定を行う実装基板検査装置において、前記プロー
    ブが極座標方式で互いに回動自在にされた回転支持アー
    ムとプローブ支持アームとで検査ポイントに移動される
    ように支持されるとともに、前記プローブが遠隔装置に
    より作動されて検査ポイントに当接されることを特徴と
    してなる実装基板検査装置。
JP4096028A 1992-03-24 1992-03-24 実装基板検査装置 Pending JPH05273305A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4096028A JPH05273305A (ja) 1992-03-24 1992-03-24 実装基板検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4096028A JPH05273305A (ja) 1992-03-24 1992-03-24 実装基板検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05273305A true JPH05273305A (ja) 1993-10-22

Family

ID=14153939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4096028A Pending JPH05273305A (ja) 1992-03-24 1992-03-24 実装基板検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05273305A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6624650B1 (en) 1999-05-31 2003-09-23 Microcraft Kk Impedance measuring device for printed wiring board
US6788078B2 (en) 2001-11-16 2004-09-07 Delaware Capital Formation, Inc. Apparatus for scan testing printed circuit boards
CN114062881A (zh) * 2020-08-03 2022-02-18 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 检查用连接装置及检查用连接装置的组装方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6624650B1 (en) 1999-05-31 2003-09-23 Microcraft Kk Impedance measuring device for printed wiring board
US6788078B2 (en) 2001-11-16 2004-09-07 Delaware Capital Formation, Inc. Apparatus for scan testing printed circuit boards
US7071716B2 (en) 2001-11-16 2006-07-04 Delaware Capital Formation, Inc. Apparatus for scan testing printed circuit boards
CN114062881A (zh) * 2020-08-03 2022-02-18 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 检查用连接装置及检查用连接装置的组装方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0221274A (ja) 潜在的歪曲プリント回路板点検のための補償システム
WO2007058693A1 (en) Method of automatically carrying ic-chips, on a planar array of vacuum nozzles, to a variable target in a chip tester
JPH06118115A (ja) 両面基板検査装置
JPH05273305A (ja) 実装基板検査装置
KR200447630Y1 (ko) 표면실장기판 검사기
JP3509040B2 (ja) 回路基板検査装置におけるプローブの移動制御方法
JP2548703Y2 (ja) 回路基板検査装置
JP2772115B2 (ja) プリント基板もしくは実装基板用データ処理方法及び装置
JP2769386B2 (ja) プリント基板検査装置
JPH06129831A (ja) 基板検査装置
JP3134495B2 (ja) 検査対象物の位置検出方法
JPH01320000A (ja) 部品の装着方法及び装置
JPH06125198A (ja) 表面実装機
JP3115112B2 (ja) 半導体検査装置
JP3062255B2 (ja) 回路基板検査装置における被検査回路基板の基準位置検出方法
JPH06300818A (ja) フレキシブル基板検査装置
JP2000205840A (ja) 形状検査装置
KR0151178B1 (ko) 비젼 표면 실장 부품 실장기의 카메라 캘리브레이션 방법
JPS59147277A (ja) 半導体集積回路の測定装置
JPH0722171B2 (ja) 基板検査装置
JPS62240871A (ja) プリント板測定装置のプロービング方法
JP3191058B2 (ja) Ic搬送装置
JP3075420B2 (ja) Icリード浮き検査装置および方法
JPH04152281A (ja) デュアルプローブヘッド
JPH06216580A (ja) 電子部品実装装置