JPH08153935A - 垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール - Google Patents
垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュールInfo
- Publication number
- JPH08153935A JPH08153935A JP24633395A JP24633395A JPH08153935A JP H08153935 A JPH08153935 A JP H08153935A JP 24633395 A JP24633395 A JP 24633395A JP 24633395 A JP24633395 A JP 24633395A JP H08153935 A JPH08153935 A JP H08153935A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- emitting laser
- vertical cavity
- surface emitting
- cavity surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
ブマウントとを接合でき放熱特性及び発光特性の優れた
光モジュールを提供する。 【解決手段】 光モジュールは、第1の基板12と、第
1の基板12に支持された垂直共振器型面発光レーザ1
4及び垂直共振器型面発光レーザ14の底面に電気的に
接続された電極構造16と、第1のバンプ20及び第2
のバンプ18を有する第2の基板11とを備えている。
垂直共振器型面発光レーザ14の上面及び電極構造16
の上面は、第1の基板12から突き出しており、第1の
バンプ20及び該第2のバンプ18が電極構造16の上
面及び垂直共振器型面発光レーザ14の上面とそれぞれ
接するように第2の基板11が第1の基板12に対して
保持されている。第1の基板12及び第2の基板11の
間は樹脂22で満たされている。
Description
に関し、特に、垂直共振器型面発光レーザを有し、サブ
マウントに実装された光モジュールに関する。
光情報を並列に伝送することにより大容量の光通信を実
現するためキーデバイスとして、垂直共振器型面発光レ
ーザ(Vertical-Cavity Surface-Emitting Laser)が注目
されており、光ファイバとの接続に適した垂直共振器型
面発光レーザの実装技術が研究されている。例えば、1
993年度国際固体素子・材料コンファレンス予稿集6
94頁から696頁、あるいは、電子情報通信学会技術
研究報告「光・量子エレクトロニクス」OQE93−1
05号にサブマウントを備えた垂直共振器型面発光レー
ザが報告されている。
ように、pnpn構造の活性層を有する発光サイリスタ
がブラッグ反射器で挟まれた垂直共振器型面発光レーザ
1002がGaAs基板1004上に形成されており、
GaAs基板1004の表面には窒化ケイ素膜1006
が設けられている。垂直共振器型面発光レーザ1002
の全体を覆うように、厚さ9μmの金1008がメッキ
によりGaAs基板1004に形成されており、Sn/
Pbソルダーバンプ1010を備えたAlNヒートシン
ク1012に金メッキされた垂直共振器型面発光レーザ
1002がフリップチップ実装されている。
ーザ1002において発生した熱は、大部分がメッキさ
れた金、及びSn/Pbソルダーバンプを介してAlN
ヒートシンクから放散され、一部は金から直接空気中へ
放散される。また、活性層から直接GaAs基板100
4へ放散される。
て、GaAs基板1004とAlNヒートシンク101
2とは金属の塑性変形により接合されている。従って、
塑性変形が生じる程度に十分な荷重をGaAs基板10
04とAlNヒートシンク1012との間に加えなけれ
ばならず、この荷重の一部は垂直共振器型面発光レーザ
1002の活性層にも加わる。しかし、垂直共振器型面
発光レーザ1002の活性層に荷重が加わると、発光効
率が著しく低下し、最悪の場合、発光しないという問題
が生じる。
1010の熱伝導率は金に比べ約6分の1の値であるた
め、この部分で熱の伝導が悪くなる。このため、AlN
ヒートシンク1012が高い熱伝導率を備えていても十
分に放熱することができないという問題が生じる。
光レーザ1002のメサ表面に金メッキを行わなければ
ならず、このため余分な工程が必要となる。
めになされたものであり、その目的とするところは、小
さな荷重で垂直共振器型面発光レーザとサブマウントと
を接合し、金メッキを必ずしも必要とせずに実装できる
放熱特性及び発光特性の優れた光モジュールを提供する
ことにある。
発光レーザは、第1の基板と、該第1の基板に支持され
ており、上面及び底面と、少なくとも発光層を含む半導
体多層とを有する垂直共振器型面発光レーザと、該第1
の基板に支持されており、該垂直共振器型面発光レーザ
の底面に電気的に接続された電極構造と、第1のバンプ
及び第2のバンプを有する第2の基板とを備え、該垂直
共振器型面発光レーザの該上面及び該電極構造の上面
は、該第1の基板から突き出しており、該第1のバンプ
及び該第2のバンプが該電極構造の該上面及び該垂直共
振器型面発光レーザの該上面とそれぞれ接するように該
第2の基板が該第1の基板に対して保持されており、そ
のことにより上記目的が達成される。
は、第1の基板と、該第1の基板に支持されており、上
面及び底面と、少なくとも発光層を含む半導体多層とを
有する垂直共振器型面発光レーザと、第1の基板に支持
されており、該垂直共振器型面発光レーザの底面に電気
的に接続された電極構造と、該第1の基板に支持されて
おり、導電性の上面を有する第1の支持構造と、該垂直
共振器型面発光レーザの該上面と該第1の支持構造とを
電気的に接続する第1の配線と、第1のバンプ及び第2
のバンプを有する第2の基板とを備え、該電極構造の上
面及び該第1の支持構造の該上面は、第1の基板から突
き出しており、該第1のバンプ及び該第2のバンプが該
電極構造の該上面及び該第1の支持構造の該上面とそれ
ぞれ接するように該第2の基板が該第1の基板に対して
保持されており、そのことにより上記目的が達成され
る。
と、前記第2の基板上に設けられた第3のバンプを更に
有し、該第3のバンプが該トランジスタの一部と接して
てもよい。
と、該第1の基板上に形成され、導電性の上面を持つ第
2の支持構造と、該トランジスタと該第2の支持構造と
を電気的に接続する第2の配線と、前記第2の基板上に
設けられた第3のバンプを更に有し、該第3のバンプが
該第2の支持構造の上面と接していてもよい。
ーザは、第1の基板と、該第1の基板に支持されてお
り、上面及び底面と、少なくとも発光層を含む半導体多
層とを有する垂直共振器型面発光レーザと、該垂直共振
器型面発光レーザの上面上に形成されバイポーラトラン
ジスタと、該第1の基板に支持されており、該垂直共振
器型面発光レーザの底面に電気的に接続された電極構造
と、第1のバンプ及び第2のバンプを有する第2の基板
とを備え、該電極構造の上面は該第1の基板から突き出
しており、該第1のバンプ及び該第2のバンプが該電極
構造の該上面及び該バイポーラトランジスタの該上面の
一部とそれぞれ接するように該第2の基板が該第1の基
板に対して保持されており、そのことにより上記目的が
達成される。
ーザは、第1の基板と、該第1の基板に支持されてお
り、上面及び底面と、少なくとも発光層を含む半導体多
層とを有する垂直共振器型面発光レーザと、垂直共振器
型面発光レーザの上面上に形成されてたバイポーラトラ
ンジスタと、 該第1の基板に支持されており、該垂直
共振器型面発光レーザの底面に電気的に接続された電極
構造と、導電性の上面を有しており、該上面が突き出る
ように該第1の基板に支持された第1の支持構造と、該
バイポーラトランジスタと該第1の支持構造の該上面を
電気的に接続する第1の配線と、第1のバンプ及び第2
のバンプを有する第2の基板とを備え、該電極構造の上
面及び該第1の支持構造の該上面は第1の基板から突き
出しており、該第1のバンプ及び該第2のバンプが該電
極構造の該上面及び該第1の支持構造の上面とそれぞれ
接するように該第2の基板が該第1の基板に対して保持
されており、そのことにより上記目的が達成される。
発光レーザに近接して設けられていてもよい。
体多層と同じ半導体からなる半導体層と該半導体層上に
設けられた絶縁層と、該絶縁層上に設けられた電極によ
り構成されていてもよい。
体多層と同じ半導体からなる半導体層と該半導体層上に
設けられた金属膜により構成されていてもよい。
上面までの距離が前記第1の基板から前記垂直共振器型
面発光レーザの上面までの距離よりも大きくなっていて
もよい。
トランジスタであってもよい。
バイポーラトランジスタであってもよい。
接着剤が満たされてもよい。
い。
レーザをそれぞれ複数有し、前記第1の基板上において
該複数の電極構造は多角形の頂点位置しており該複数の
垂直共振器型面発光レーザは該多角形の内部に位置して
いてもよい。
の融点を有する金属から構成されていてもよい。
構成されていてもよい。
面発光レーザの前記上面は350℃以下の融点を有する
金属から構成されていてもよい。
面発光レーザの前記上面はビスマスから構成されていて
もよい。
層を挟む第1及び第2のブラッグ反射器を更に有してい
てもよい。
た位置に対応して、前記第1の基板の裏面に光ファイバ
を受けるガイド孔が設けられていてもよい。
レーザを有する光モジュール10の断面を示している。
光モジュール10は、n型GaAs半導体からなる第1
の基板12と、第1の基板12に支持された垂直共振器
型面発光レーザ14及び電極構造構造16と、シリコン
からなる第2の基板11とを有している。第2の基板は
サブマウントとして機能する。第2の基板11の表面に
は窒化ケイ素や酸化ケイ素等からなる絶縁膜21設けら
れており、絶縁膜21を介してマイクロバンプ18及び
20が第2の基板11上に設けられている。さらに図示
していないがマイクロバンプ18及び20はパッドを備
えた配線にそれぞれ接続されている。
及び電極構造16の上面15は第1の基板12から突き
出している。また、マイクロバンプ18及び20は、第
2の基板11の表面から突き出している。その結果、第
1の基板12と第2の基板11とはマイクロバンプ18
及び20が垂直共振器型面発光レーザ14の上面13及
び電極構造16の上面15とそれぞれ接するように保持
されており、紫外線硬化樹脂22が第1の基板12と第
2の基板11と間に満たされている。
24と発光層24を挟むn型ブラッグ反射器26及びp
型ブラッグ反射器28を含む半導体多層30と半導体多
層30上に設けられた電極32とを含んでいる。発光層
24から出射する光は、少なくとも第1の基板12また
は第2の基板11に対して透明であることが好ましい。
第1の基板12に対して発光層24から出射する光が透
明ではない場合には、第1の基板12の垂直共振器型面
発光レーザ14が設けられた位置に裏面からエッチング
により溝90を設け、出射光を取り出せばよい。
導体層で構成される半導体多層34と、半導体多層34
上に設けられた電極36とを含んでいる。半導体多層3
4内に形成されるpn接合は破壊されており、電極構造
36の上面15と下面19との間は低抵抗で接続され
る。垂直共振器型面発光レーザ14及び電極構造16は
低抵抗のn型GaAsからなるバッファ層38を介して
第1の基板12に設けられているため、垂直共振器型面
発光レーザ14の底面17及び電極構造16の底面19
がバッファ層38に接しており、互いに電気的に接続さ
れている。
に優れる材料で構成されることが好ましく、熱伝導性に
優れる金を含んでいることがより好ましい。
的な一例を図2を参照しながら説明する。図2に示すよ
うに、n型ブラッグ反射器26は、n型AlAs層41
及びn型GaAs層42を一対とする24.5対を含ん
でいる。また同様にp型ブラッグ反射器28はp型Al
As層43及びp型GaAs層44を一対とする24.
5対を含んでいる。n型ブラッグ反射器26とp型ブラ
ッグ反射器28との間には活性領域45が設けられてい
る。
46及び47と、スペーサ層48、49、50、及び5
1とを含んでいる。発光層24はバリア層46及び47
に挟まれており、更にバリア層46及び47はスペーサ
層48及び50とスペーサ層49及び51とによって挟
まれている。発光層24とバリア層46及び47とは、
それぞれアンドープのIn0.2Ga0.8As及びアンドー
プのGaAsからなる。またスペーサ層48及び49は
アンドープのAl0.5Ga0.5Asからなり、スペーサ層
50及び51はそれぞれn型Al0.5Ga0.5As及びp
型Al0.5Ga0.5Asからなる。バリア層46及び47
によって電子と正孔とが発光層24に閉じこめられる。
単一縦モードでレーザ発振するよう垂直共振器の長さを
調節するためにスペーサ層48〜51は設けられてい
る。これらの半導体層の厚み及び不純物濃度を表1に示
す。
において、マイクロバンプ18に接続された配線及びマ
イクロバンプ20に接続された配線にそれぞれプラス電
源及びマイナス電源を接続することにより、垂直共振器
型面発光レーザ14の電極32にはプラス電圧が印加さ
れ、電極構造16にはマイナス電圧が印加される。
直共振器型面発光レーザの底面17と電気的に接合され
るので、p型ブラッグ反射器28及びn型ブラッグ反射
器26にそれぞれプラス電圧及びマイナス電圧が印加さ
れ、垂直共振器型面発光レーザ14が発光することにな
る。
り製造される。
n型のGaAsからなる第1の基板12上にバッファ層
38及び図2に示すような半導体層24及び41〜51
(図2)を含む半導体多層30をMBE法などによりエ
ピタキシャル成長させる。図3(c)に示すように、塩
素を含む混合ガスを用いたドライエッチング法により、
バッファ層38が露出するまで半導体多層30の一部を
エッチングし、半導体多層30上に電極32及び36を
形成することにより、垂直共振器型面発光レーザ14及
び電極構造16を形成する。電極構造16の半導体多層
30にはバッファ層38と電極36との間に高電界を印
加してpn接合を破壊しておく。これにより、低抵抗を
備えた電極構造16が形成される。
の上に保持されたシリコンからなる第2の基板11上に
酸化ケイ素からなる絶縁膜21を形成し、その上に例え
ばTi/Pd/Auからなるマイクロバンプ18及び2
0を形成する。図示していないが、マイクロバンプには
電圧を印加するためのパッドを備えた配線が接続されて
いる。マイクロバンプ18及び20を覆うように紫外線
硬化樹脂22を絶縁膜21上に塗布した後、第1の基板
12を真空コレット52に吸着させて、マイクロバンプ
18及び20が垂直共振器型面発光レーザ14及び電極
構造16に対向するように第1の基板12を第2の基板
11に対して保持する。
器型面発光レーザ14の電極32の上面及び電極構造1
6の電極36の上面がマイクロバンプ18及び20に接
するように第1の基板12を第2の基板11に対して押
しつける。これにより、図3(e)に示すように、マイ
クロバンプ18及び20と垂直共振器型面発光レーザ1
4及び電極構造16との間の紫外線硬化樹脂22が排除
される。この状態を保持したまま、紫外線硬化樹脂22
に紫外線を照射する。紫外線の照射により紫外線硬化樹
脂22は収縮し、第1の基板12と第2の基板11とが
接着される。また、垂直共振器型面発光レーザ14の電
極32及び電極構造16の電極36はそれぞれマイクロ
バンプ18及び20と確実に接触し、良好な電気的接合
が形成される。電極32及び36は200nm以上の厚
さを有し、マイクロバンプ18及び20は500nm以
上の厚さを備えていることが好ましく、電極32及び3
6が2μm以上の厚さを有し、マイクロバンプ18及び
20は5μm以上の厚さを備えている時に最適な接合が
得られる。これにより図3(f)に示す光モジュール1
0が完成する。
が第1の基板12及び第2の基板11全体におよびなが
ら2つの基板11及び12が保持される。従って、垂直
共振器型面発光レーザの上面に加わる荷重を小さくする
ことができ、実装時の荷重により発光層に与える歪みを
低減できるので、発光効率の低下を防ぐことができる。
また、マイクロバンプを介して発光層で発生した熱を第
2の基板へ放熱することができるため放熱特性に優れ
る。
が破壊された半導体多層と半導体多層上に形成された電
極とから構成されていたが、電極構造16は導電性の他
の構造を備えていてもよい。以下にその具体例を示す。
は、図1に示される電極構造16のかわりに電極構造6
0を有している。電極構造60は、半導体多層や絶縁層
等からなる基部61と基部61の上面を覆って少なくと
もバッファ層38に電気的に接続された導電性の配線6
2とを備えている。配線62はバッファ層38と低抵抗
の電気的な接触を得るために、AuGe/Niあるいは
AuZn/Auなどのオーミック電極材料から形成され
ていることが好ましい。
は、図1に示される電極構造16のかわりに電極構造6
3を有している。電極構造63は、バッファ層38上に
形成されたオーミック電極64とオーミック電極64上
にメッキ法により形成された金層65とを備えている。
樹脂を用いているが、これに代えて熱硬化樹脂を用いて
もよい。
光レーザと電極構造を1つずつ備えた光モジュールを説
明したが、垂直共振器型面発光レーザ及び電極構造が1
つ以上設けられていてもよい。
器型面発光レーザと4つの電極構造を備える光モジュー
ルを構成するための第1の基板12の構造と第2の基板
11の構造を示す斜視図である。
つに配列された9つの垂直共振器型面発光レーザ14が
第1の基板12上に支持されている。電極構造16は垂
直共振器型面発光レーザ14の配列を囲む矩形68の4
つの頂点に配置されている。
て、第1の基板12に設けられた垂直共振器型面発光レ
ーザ14及び電極構造16に対応する位置にマイクロバ
ンプ18及び20が設けられている。マイクロバンプ1
8及び20にはそれぞれパッドを有する配線66及び6
7が接続されている。
ーザ14及び電極構造16を配置することにより、第1
の基板12と第2の基板11を接着する際に加わる荷重
は四隅の電極構造16に分散される。従って、マイクロ
バンプ18との接触により垂直共振器型面発光レーザ1
4が受ける荷重は均一になり、垂直共振器型面発光レー
ザ14の発光効率の劣化が図1に示される場合に比べて
より小さくなる。
の実施例による垂直共振器型面発光レーザを有する光モ
ジュール100の断面を示している。図6(a)中、第
1の実施例の光モジュール10の構成要素と同一の構成
要素には同じ参照符号を付している。
と、バッファ層38を介して第1の基板12に支持され
た垂直共振器型面発光レーザ14、電極構造16、及び
支持構造101と、第2の基板11とを有している。第
2の基板11の表面には窒化ケイ素や酸化ケイ素等から
なる絶縁膜21設けられており、絶縁膜21を介してマ
イクロバンプ20及び102が第2の基板11上に設け
られている。さらに図示していないがマイクロバンプ2
0及び102はパッドを備えた配線にそれぞれ接続され
ている。
24と発光層24を挟むn型ブラッグ反射器26及びp
型ブラッグ反射器28を含む半導体多層30と半導体多
層30上に設けられた電極32とを含んでいる。
導体層で構成される半導体多層34と、半導体多層34
上に設けられた電極36とを含んでいる。半導体多層3
4内に形成されるpn接合は破壊されており、電極構造
16の上面15と下面19との間は低抵抗で接続され
る。
半導体層からなる半導体多層103とを有しており、半
導体多層103と電極105の間には絶縁層104が設
けられている。支持構造101は、その上面108が導
電性であり、支持構造101の設けられたバッファ層3
8と上面108との間が電気的に絶縁されておれば半導
体多層103以外のどのような材料で構成されていても
よい。
12にポリイミド膜106が設けられており、ポリイミ
ド膜106上に垂直共振器型面発光レーザ14の電極3
2と支持構造103の電極105を電気的に接続する配
線107が設けられている。ポリイミド膜106は配線
107を第1の基板12の表面から所定の距離に保持す
るために主として設けられており、電極32と電極10
5の間の段差を小さくしている。これにより、電極32
と電極105の間の段差が大きくなり、配線107が連
続して形成されずに断線してしまうのを防いでいる。
造16の上面15はポリイミド膜106の表面から突き
出している。また、マイクロバンプ20および102も
第2の基板11から突き出している。このため、第1の
基板12と第2の基板11とは、マイクロバンプ20及
び102が電極構造16の上面15及び支持構造101
の上面108とそれぞれ接するように保持されており、
紫外線硬化樹脂22が第1の基板12と第2の基板11
との間に満たされている。
ンプ102に接続された配線及びマイクロバンプ20に
接続された配線にそれぞれプラス電源及びマイナス電源
を接続することにより、配線107にはプラス電圧が印
加され、電極構造16にはマイナス電圧が印加される。
14の電極32に電気的に接続されており、電極構造1
6はバッファ層38を介して垂直共振器型面発光レーザ
の底面17と電気的に接合されるので、p型ブラッグ反
射器28及びn型ブラッグ反射器26にそれぞれプラス
電圧及びマイナス電圧が印加され、垂直共振器型面発光
レーザ14が発光することになる。
は、第1の基板12に設けられた電極構造16及び支持
構造101が第2の基板11を保持するようにマイクロ
バンプ20及び102を受ける構造を備えていることに
ある。この構造により、垂直共振器型面発光レーザ14
に荷重を与えることなく、第1の基板12及び第2の基
板11を接合することができる。従って、垂直共振器型
面発光レーザ14の発光層24に荷重を与え、垂直共振
器型面発光レーザ14の発光効率を劣化させることな
く、垂直共振器型面発光レーザをサブマウントに実装す
ることができる。接合時の荷重が確実に垂直共振器型面
発光レーザ14にかからないようにするためには、支持
構造101は、垂直共振器型面発光レーザ14に近接し
ていることが好ましく、垂直共振器型面発光レーザ14
から20μm以内の距離に配置されていることが好まし
い。また、電極105及び36は200nm以上の厚さ
を有し、マイクロバンプ102及び20は500nm以
上の厚さを備えていることが好ましく、電極105及び
36が2μm以上の厚さを有し、マイクロバンプ102
及び20は5μm以上の厚さを備えている時に最適な接
合が得られる。
実に荷重がかからないようにするために、図6(b)に
示すように、バッファ層38に対して支持構造101の
上面108が垂直共振器型面発光レーザ14の上面13
に比べて高くなっていることが好ましい。この様な構造
は、例えば、電極32の厚さよりも絶縁層104及び電
極105の厚さの合計を大きくすることによって実現可
能であり、上面108と上面13との高さの差は0.5
μm以上が好ましい。この構造によれば、支持構造10
1がマイクロバンプ102にめり込んだ場合でも、垂直
共振器型面発光レーザ14の上面13が第2の基板21
に接して、発光層24に荷重が加わることを確実に防ぐ
ことができる。
様の方法により製造される。
4の半導体多層30をドライエッチングにより、形成す
る際、電極構造16及び支持構造101のための半導体
多層34及び103を同時に形成する。その後、半導体
多層103上に絶縁層104を形成し、半導体多層30
及び34上にならびに絶縁層104上に電極32、3
6、及び105をそれぞれ形成する。バッファ層38を
覆うポリイミド膜106を形成した後、電極32及び1
05を接続する配線107を形成する。その後、実施例
1と同様の方法により、第2の基板11を第1の基板1
2に接合する。
6や熱硬化樹脂22は実施例1で説明したように種々の
改変が可能である。
ジュール100の出力特性の一例を示している。比較の
ために、第2の基板を接続する前の特性も示している。
図7から明らかなように、第2の基板を接続する前は、
最大出力は21mW程度であるが、第2の基板を接続す
ることにより、最大出力は32mW程度まで大きくなっ
ている。これは、第2の基板をマイクロバンプを介して
接続することにより、垂直共振器型面発光レーザにおい
て発生した熱がポリイミド膜106および紫外線硬化樹
脂22を介して第1の基板12および第2の基板11へ
放散され、活性層24の温度上昇が抑制されるからであ
る。
好適に結合させることができる。図8は光ファイバと接
続が可能な光モジュール110の断面を模式的に示して
いる。
と、第1の基板12に支持された垂直共振器型面発光レ
ーザ111、電極構造112、及び支持構造113と、
第2の基板11とを有している。第2の基板11の表面
には窒化ケイ素や酸化ケイ素等からなる絶縁膜21設け
られており、絶縁膜21を介してマイクロバンプ20及
び102が第2の基板11上に設けられている。さらに
図示していないがマイクロバンプ20及び102はパッ
ドを備えた配線にそれぞれ接続されている。
層24と発光層24を挟むn型ブラッグ反射器26及び
p型ブラッグ反射器114の一部を含む半導体多層11
5と半導体多層115上に設けられた電極32とを含ん
でいる。p型ブラッグ反射器114は、第1の基板12
の全面を覆って設けられている。
じ半導体層で構成される半導体多層116と、半導体多
層116上に設けられた電極36とを含んでいる。半導
体多層116はp型ブラッグ反射器114の一部分を含
んでおり、半導体多層116内に形成されるpn接合は
破壊されている。
半導体層からなる半導体多層117と、半導体多層11
7を覆う絶縁層118の一部と、絶縁層118上に設け
られた配線119の一部を有している。絶縁層118は
更に、垂直共振器型面発光レーザ111及び電極構造1
12の側面を覆ってp型ブラッグ反射器114上に形成
されている。また、配線119は、垂直共振器型面発光
レーザ111の電極32に接続されている。
13の上面120は第1の基板12から突き出してお
り、第1の基板12と第2の基板11とは、マイクロバ
ンプ20及び102が電極構造112の上面15及び支
持構造113の上面120とそれぞれ接するように保持
される。そして、紫外線硬化樹脂22が第1の基板12
と第2の基板11との間に満たされている。
器型面発光レーザ111が設けられている位置に対応し
て、ガイド穴121が設けられており、その周りに酸化
ケイ素膜122が形成されている。ガイド穴121に
は、コア124及びクラッド層125を有するマルチモ
ード光ファイバ123が挿入され、垂直共振器型面発光
レーザ111から出射した光127が、第1の基板12
を透過して、コア124に入射する。
光レーザ111を駆動するために必要な配線は、すべて
第2の基板11上に形成することができ、第1の基板1
2の裏面126に光ファイバと接続するための空間を確
保できる。また、第1の基板12の裏面に深いガイド穴
121を形成できるので、光ファイバ123と垂直共振
器型面発光レーザ111との位置合わせが非常に簡単に
行うことができる。従って、垂直共振器型面発光レーザ
111を第1の基板12に複数アレイ状に配置した場合
でも、容易に複数の光ファイバを接続することができ
る、光ファイバとの接続に適した光モジュール110が
実現される。
例による垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュー
ル130の断面を示している。光モジュール130は、
第1の基板12と、第1の基板12に支持された垂直共
振器型面発光レーザ132、電極構造136、及び電界
効果型トランジスタ134と、第2の基板11とを有し
ている。第2の基板11の表面には窒化ケイ素や酸化ケ
イ素等からなる絶縁膜21設けられており、絶縁膜21
を介してマイクロバンプ138、140、及び142が
第2の基板11上に設けられている。さらに図示してい
ないがマイクロバンプ138、140、及び142はパ
ッドを備えた配線にそれぞれ接続されている。
層24と発光層24を挟むn型ブラッグ反射器144の
一部及びp型ブラッグ反射器146とを含む半導体多層
148と半導体多層148上に設けられた電極150と
を含んでいる。n型ブラッグ反射器144は、第1の基
板12の全面を覆って設けられている。
チャネル層154と、チャネル層154に設けられたゲ
ート電極156、ソース電極158、及びドレイン電極
160を備えている。 チャネル層154は、半導体多
層148と同じ半導体層で構成される半導体多層152
上に形成されている。
チャネル層154と同じ半導体層で構成される半導体多
層162と、半導体多層162上に設けられた電極16
4とを含んでいる。半導体多層164はn型ブラッグ反
射器144の一部分を含んでおり、半導体多層164内
に形成されるpn接合は破壊されている。その結果、電
極構造136の上面166は、垂直共振器型面発光レー
ザ132のn型ブラッグ反射器144と低抵抗で接続さ
れる。
果型トランジスタ134、及び電極構造136の側面及
びn型ブラッグ反射器144は酸化ケイ素や窒化ケイ素
かなる絶縁膜168で覆われている。絶縁膜168上に
は垂直共振器型面発光レーザ132の電極150とソー
ス電極158とを電気的に接続する配線170が設けら
れている。
板12に設けられたn型ブラッグ反射器144の表面よ
りも突き出しており、第1の基板12と第2の基板11
とは、マイクロバンプ138、140、及び142が電
極構造136の上面166、ドレイン電極160、及び
ゲート電極156とそれぞれ接するように保持される。
そして、紫外線硬化樹脂22が第1の基板12と第2の
基板11との間に満たされている。
156に印加する電圧に基づいて、ドレイン電極160
とソース電極158との間に電流が流れ、配線170を
介して垂直共振器型面発光レーザ132に電圧が印加さ
れる。一方、電極構造136を介してn型ブラッグ反射
器144にも電圧が印加されるため、垂直共振器型面発
光レーザ132を発光させることができる。
レーザ132の上面172がマイクロバンプに接するこ
とがないので、発光層24に荷重を与えずに第2の基板
11を第1の基板12に接合できる。
垂直共振器型面発光レーザを備えた光モジュールを説明
したが、以下に説明するように電界効果型トランジスタ
の代わりにヘテロ接合バイポーラトランジスタを備えて
いてもよい。
している。光モジュール200は、第1の基板12と、
第1の基板12にバッファ層38を介して支持された垂
直共振器型面発光レーザ202、電極構造204、及び
ヘテロ接合バイポーラトランジスタ206と、第2の基
板11とを有している。第2の基板11の表面には窒化
ケイ素や酸化ケイ素等からなる絶縁膜21設けられてお
り、絶縁膜21を介してマイクロバンプ208、21
0、212、及び214が第2の基板11上に設けられ
ている。さらに図示していないがマイクロバンプ20
8、210、212、及び214はパッドを備えた配線
にそれぞれ接続されている。
層24と発光層24を挟むp型ブラッグ反射器216の
一部及びn型ブラッグ反射器218とを含む半導体多層
220と半導体多層220上に設けられた電極222と
を含んでいる。p型ブラッグ反射器216は、バッファ
層38の全面を覆って設けられている。
は、コレクタ層224、ベース層226、及びエミッタ
層228とこれらの半導体層に電気的に接続されたコレ
クタ電極230、ベース電極232、及びエミッタ電極
234とを有している。ベース層226はエミッタ層2
28とコレクタ層224とに挟まれており、コレクタ層
224は、半導体多層220と同じ半導体層で構成され
る半導体多層236上にバッファ層238を介して形成
されている。
じ半導体層で構成される半導体多層240と半導体多層
240上に設けられた電極242とを含んでいる。半導
体多層240はp型ブラッグ反射器216の一部分を含
んでおり、半導体多層240内に形成されるpn接合は
破壊されている。その結果、電極構造204の上面24
4は、垂直共振器型面発光レーザ202のp型ブラッグ
反射器216と低抵抗で接続される。
接合バイポーラトランジスタ206、及び電極構造20
4の側面及びp型ブラッグ反射器216は酸化ケイ素や
窒化ケイ素からなる絶縁膜246で覆われている。絶縁
膜246上には垂直共振器型面発光レーザ202の電極
222とコレクタ電極230とを電気的に接続する配線
248が設けられている。
12に形成されたp型ブラッグ反射器216の表面より
も突き出しており、第1の基板12と第2の基板11と
は、マイクロバンプ208、210、212、及び21
4が電極構造204の上面244、エミッタ電極23
4、ベース電極232、及びコレクタ電極230とそれ
ぞれ接するように保持されている。第1の基板12と第
2の基板11との間には紫外線硬化樹脂22が満たされ
ている。
ンプ212を介してベース電極232に印加される電圧
あるいは電流に基づいて、エミッタ電極234とコレク
タ電極230との間に電流が流れ、配線248を介して
垂直共振器型面発光レーザ202のn型ブラッグ反射器
218に電圧が印加される。一方、電極構造204を介
してp型ブラッグ反射器216にも電圧が印加されるた
め、垂直共振器型面発光レーザ202を発光させること
ができる。
レーザ202の上面250がマイクロバンプに接するこ
とがないので、発光層24に荷重を与えずに第2の基板
11を第1の基板12に接合できる。
バイポーラトランジスタを垂直共振器型面発光レーザ上
に形成することもできる。
している。光モジュール260は、第1の基板12と、
第1の基板12にバッファ層38を介して支持された垂
直共振器型面発光レーザ262及び電極構造264と、
垂直共振器型面発光レーザ262上に形成されたヘテロ
接合バイポーラトランジスタ266と、第2の基板11
とを有している。第2の基板11の表面には窒化ケイ素
や酸化ケイ素等からなる絶縁膜21が設けられており、
絶縁膜21を介してマイクロバンプ268、270、2
72、及び274が第2の基板11上に設けられてい
る。さらに図示していないがマイクロバンプ268、2
70、272、及び274はパッドを備えた配線にそれ
ぞれ接続されている。
層24と発光層24を挟むp型ブラッグ反射器276の
一部及びn型ブラッグ反射器278とを含んでいる。p
型ブラッグ反射器276は、バッファ層38の全面を覆
って設けられている。
は、コレクタ層280、ベース層282、及びエミッタ
層284とベース層282及びエミッタ層284とそれ
ぞれ電気的に接続されたベース電極286及び287、
ならびにエミッタ電極288とを有している。ベース層
282はエミッタ層284とコレクタ層280とに挟ま
れており、コレクタ層280は、垂直共振器型面発光レ
ーザ262のn型ブラッグ反射器278上に形成されて
いる。
ーザ262と同じ半導体層で構成される半導体多層29
0と半導体多層290上に設けられた電極292とを含
んでいる。半導体多層290はp型ブラッグ反射器27
6の一部分を含んでおり、半導体多層290内に形成さ
れるpn接合は破壊されている。その結果、電極構造2
64の上面294は、垂直共振器型面発光レーザ262
のp型ブラッグ反射器276と低抵抗で接続される。
接合バイポーラトランジスタ266、及び電極構造26
4の側面及びp型ブラッグ反射器276は酸化ケイ素や
窒化ケイ素からなる絶縁膜296で覆われている。
板12に形成されたp型ブラッグ反射器276の表面か
ら突き出しており、第1の基板12と第2の基板11と
は、マイクロバンプ268、270、272、及び27
4がベース電極286、エミッタ電極288、ベース電
極287、及び電極構造264の上面294とそれぞれ
接するように保持されている。第1の基板12と第2の
基板11との間には紫外線硬化樹脂22が満たされてい
る。
ンプ268及び272からベース電極286及び287
を介してベース層282に印加される電圧に基づいて、
マイクロバンプ270からエミッタ層284、ベース層
282、及びコレクタ層280を介してn型ブラッグ反
射器278へマイナスの電荷が印加される。一方、マイ
クロバンプ274から電極構造290を介してp型ブラ
ッグ反射器276にプラスの電圧が印加されるため、垂
直共振器型面発光レーザ262を発光させることができ
る。
あるいはバイポーラトランジスタの3端子のうちの少な
くとも2つの端子を受けるマイクロバンプが第2の基板
11上に設けられている光モジュールを説明した。しか
し、これらの端子を直接受けるマイクロバンプは必ず必
要なわけではない。例えば、光モジュールが更に他の能
動素子や受動素子を有している場合には、これらの端子
が、能動素子や受動素子に接続され、第2の基板に設け
られたマイクロバンプには直接接続されていなくてもよ
い。
4の実施例による垂直共振器型面発光レーザを有する光
モジュール300の断面を示している。光モジュール3
00は2つの支持構造を備え、マイクロバンプが直接電
界効果型トランジスタと接しない点で図9に示される光
モジュール130と異なっている。図12(a)におい
て、図9に示される光モジュール130と同じ構成要素
には同一の参照符号を付している。
と、第1の基板12に支持された垂直共振器型面発光レ
ーザ132、電極構造136、電界効果型トランジスタ
134、第1の支持構造302、及び第2の支持構造3
04と、第2の基板11とを有している。第2の基板1
1の表面には窒化ケイ素や酸化ケイ素等からなる絶縁膜
21が設けられており、絶縁膜21を介してマイクロバ
ンプ138、306、及び308が第2の基板11上に
設けられている。さらに図示していないがマイクロバン
プ138、306、及び308はパッドを備えた配線に
それぞれ接続されている。
層24と発光層24を挟むn型ブラッグ反射器144の
一部及びp型ブラッグ反射器146とを含む半導体多層
148と半導体多層148上に設けられた電極150と
を含んでいる。n型ブラッグ反射器144は、第1の基
板12の全面を覆って設けられている。
チャネル層154と、チャネル層154に設けられたゲ
ート電極156、ソース電極158、及びドレイン電極
160を備えている。 チャネル層154は、半導体多
層148と同じ半導体層で構成される半導体多層152
上に形成されている。
チャネル層154と同じ半導体層で構成される半導体多
層162と、半導体多層162上に設けられた電極16
4とを含んでいる。半導体多層162はn型ブラッグ反
射器144の一部分を含んでおり、半導体多層162内
に形成されるpn接合は破壊されている。その結果、電
極構造136の上面166は、垂直共振器型面発光レー
ザ132のn型ブラッグ反射器144と低抵抗で接続さ
れる。
304は、半導体多層148及びチャネル層154と同
じ半導体層で構成される半導体多層310及び312
と、半導体多層310及び312を覆う絶縁層168の
一部と、絶縁層168上に設けられた配線314及び3
16の一部を有している。配線314及び316はそれ
ぞれドレイン電極160及びゲート電極156に電気的
に接続されている。
果型トランジスタ134、電極構造136、第1の支持
構造302、及び第2の支持構造304の側面及びn型
ブラッグ反射器144は酸化ケイ素や窒化ケイ素からな
る絶縁膜168で覆われている。絶縁膜168上には垂
直共振器型面発光レーザ132の電極150とソース電
極158とを電気的に接続する配線170が設けられて
いる。
02上面、及び第2の支持構造304の上面は、第1の
基板12から突き出しており、第1の基板第1の基板1
2と第2の基板11とは、マイクロバンプ138、30
6、及び308が電極構造136の上面166、第1の
支持構造302、及び第2の支持構造304とそれぞれ
接するように保持されている。そして、紫外線硬化樹脂
22が第1の基板12と第2の基板11との間に満たさ
れている。
ンプ308から配線316及びゲート電極156に印加
される電圧に基づいて、マイクロバンプ306から配線
314、ドレイン電極160、ソース電極158、及び
配線170を介して垂直共振器型面発光レーザ132の
p型ブラッグ反射器146に電圧が印加される。一方、
電極構造136を介してn型ブラッグ反射器144にも
電圧が印加されるため、垂直共振器型面発光レーザ13
2を発光させることができる。
ーザ132の上面がマイクロバンプに接することがない
ので、発光層24に荷重を与えずに第2の基板11を第
1の基板12に接合できる。更に、電界効果型トランジ
スタ134にも荷重を与えることもない。
確実に荷重がかからないようにするために、図12
(b)に示すように、第1の基板12に対して第1の支
持構造302及び第2の支持構造304の上面318及
び320が垂直共振器型面発光レーザ132の上面32
2に比べて高くなっていることが好ましい。この様な構
造は、例えば、半導体多層310及び312と絶縁層1
68との間に適当な厚さを有し、酸化ケイ素や窒化ケイ
素からなる絶縁層324を形成すればよい。上面318
及び320と上面322との高さの差は0.5μm以上
が好ましい。この場合には、配線314及び316が大
きな段差にまたがって形成される際に断線しないよう
に、ポリイミド樹脂326を絶縁層168上に設け段差
を小さくすることが好ましい。この構造によれば、第1
の支持構造302及び第2の支持構造304がマイクロ
バンプ306及び308にめり込んだ場合でも、垂直共
振器型面発光レーザ132の上面322が第2の基板1
1に接して、発光層24に荷重が加わることを確実に防
ぐことができる。
及び電界効果型トランジスタを備えた光モジュールを説
明したが、以下に説明するように電界効果型トランジス
タの代わりにヘテロ接合バイポーラトランジスタを備え
ていてもよい。
面を示している。光モジュール330は2つの支持構造
を備え、マイクロバンプがヘテロ接合バイポーラトラン
ジスタと接しない点で図10に示される光モジュール2
00と異なっている。図13(a)において、図10に
示される光モジュール200と同じ構成要素には同一の
参照符号を付している。
と、第1の基板12にバッファ層38を介して支持され
た垂直共振器型面発光レーザ202、電極構造204、
第1の支持構造332、第2の支持構造334、及びヘ
テロ接合バイポーラトランジスタ206と、第2の基板
11とを有している。
化ケイ素等からなる絶縁膜21が設けられており、絶縁
膜21を介してマイクロバンプ208、336、及び3
38が第2の基板11上に設けられている。さらに図示
していないがマイクロバンプ208、336、及び33
8はパッドを備えた配線にそれぞれ接続されている。
層24と発光層24を挟むp型ブラッグ反射器216の
一部及びn型ブラッグ反射器218とを含む半導体多層
220と半導体多層220上に設けられた電極222と
を含んでいる。p型ブラッグ反射器216は、バッファ
層38の全面を覆って設けられている。
は、コレクタ層224、ベース層226、及びエミッタ
層228とこれらの半導体層に電気的に接続されたコレ
クタ電極230、ベース電極232、及びエミッタ電極
234とを有している。ベース層226はエミッタ層2
28とコレクタ層224とに挟まれており、コレクタ層
224は、半導体多層220と同じ半導体層で構成され
る半導体多層236上にバッファ層238を介して形成
されている。
じ半導体層で構成される半導体多層240と半導体多層
240上に設けられた電極242とを含んでいる。半導
体多層240はp型ブラッグ反射器216の一部分を含
んでおり、半導体多層240内に形成されるpn接合は
破壊されている。その結果、電極構造204の上面24
4は、垂直共振器型面発光レーザ202のp型ブラッグ
反射器216と低抵抗で接続される。
334は、半導体多層236、バッファ層238、コレ
クタ層224、ベース層226、及びエミッタ層228
と同じ半導体層でそれぞれ構成される半導体多層340
及び342と、半導体多層340及び342を覆う絶縁
層246の一部と、絶縁層246上に設けられた配線3
46及び348の一部をそれぞれ有している。配線34
6及び348はそれぞれベース電極232及びエミッタ
電極234に電気的に接続されている。
接合バイポーラトランジスタ206、第1の支持構造3
32、第2の支持構造334、及び電極構造204の側
面ならびにp型ブラッグ反射器216は酸化ケイ素や窒
化ケイ素からなる絶縁膜246で覆われている。絶縁膜
246上には垂直共振器型面発光レーザ202の電極2
22とコレクタ電極230とを電気的に接続する配線2
48が設けられている。配線248、346、及び34
8は絶縁層246上に設けられたポリイミド膜350に
保持されている。
構造332の上面352、及び第2の支持構造334の
上面354は、それぞれ第1の基板12から突き出して
おり、第1の基板12と第2の基板11とは、マイクロ
バンプ208、336、及び338が電極構造204の
上面244、第1の支持構造332の上面352、及び
第2の支持構造334とそれぞれ接するように保持され
ている。第1の基板12と第2の基板11との間には紫
外線硬化樹脂22が満たされている。
ンプ336から配線346を介してベース電極232に
印加される電圧に基づいて、マイクロバンプ338から
配線348、エミッタ電極234、コレクタ電極23
0、及び配線248を介して垂直共振器型面発光レーザ
202のn型ブラッグ反射器218に電圧が印加され
る。一方、電極構造204を介してp型ブラッグ反射器
216にも電圧が印加されるため、垂直共振器型面発光
レーザ202を発光させることができる。
ーザ202の上面がマイクロバンプに接することがない
ので、発光層24に荷重を与えずに第2の基板11を第
1の基板12に接合できる。更に、ヘテロ接合バイポー
ラトランジスタ206にも荷重を与えることもない。
確実に荷重がかからないようにするために、図13
(b)に示すように、第1の基板12に対して第1の支
持構造332及び第2の支持構造334の上面352及
び354が垂直共振器型面発光レーザ202の上面25
0に比べて高くなっていることが好ましい。この様な構
造は、例えば、半導体多層340及び342と絶縁層2
46との間に適当な厚さを有し、酸化ケイ素や窒化ケイ
素からなる絶縁層358をそれぞれ形成すればよい。上
面352及び354と上面250との高さの差は0.5
μm以上が好ましい。この構造によれば、第1の支持構
造332及び第2の支持構造334がマイクロバンプ3
36及び338にめり込んだ場合でも、垂直共振器型面
発光レーザ202の上面250が第2の基板11に接し
て、発光層24に荷重が加わることを確実に防ぐことが
できる。
バイポーラトランジスタを垂直共振器型面発光レーザ上
に形成することもできる。
面を示している。光モジュール360は2つの支持構造
を備え、マイクロバンプがヘテロ接合バイポーラトラン
ジスタと接しない点で図11に示される光モジュール2
60と異なっている。図14(a)において、図11に
示される光モジュール260と同じ構成要素には同一の
参照符号を付している。
と、第1の基板12にバッファ層38を介して支持され
た垂直共振器型面発光レーザ262、電極構造362、
第1の支持構造364、及び第2の支持構造366と、
垂直共振器型面発光レーザ262上に形成されたヘテロ
接合バイポーラトランジスタ266と、第2の基板11
とを有している。第2の基板11の表面には窒化ケイ素
や酸化ケイ素等からなる絶縁膜21が設けられており、
絶縁膜21を介してマイクロバンプ368、370、及
び372が第2の基板11上に設けられている。さらに
図示していないがマイクロバンプ368、370、及び
372はパッドを備えた配線にそれぞれ接続されてい
る。
層24と発光層24を挟むp型ブラッグ反射器276の
一部及びn型ブラッグ反射器278とを含んでいる。p
型ブラッグ反射器276は、バッファ層38の全面を覆
って設けられている。
は、コレクタ層280、ベース層282、及びエミッタ
層284と、ベース層282及びエミッタ層284とそ
れぞれ電気的に接続されたベース電極286、及びエミ
ッタ電極288とを有している。ベース層282はエミ
ッタ層284とコレクタ層280とに挟まれており、コ
レクタ層280は、垂直共振器型面発光レーザ262の
n型ブラッグ反射器278上に形成されている。
ーザ262、ならびにコレクタ層280、ベース層28
2、及びエミッタ層284と同じ半導体層で構成される
半導体多層374と、半導体多層374上に設けられた
電極376とを含んでいる。半導体多層374はp型ブ
ラッグ反射器276の一部分を含んでおり、半導体多層
374内に形成されるpn接合は破壊されている。その
結果、電極構造362の上面378は、垂直共振器型面
発光レーザ262のp型ブラッグ反射器276と低抵抗
で接続される。
366は、半導体多層374と同じ半導体層で構成され
る半導体多層380及び382と、半導体多層380及
び382を覆う絶縁層296の一部と、絶縁層296上
に設けられた配線384及び386の一部をそれぞれ有
している。配線384及び386は絶縁層296上に形
成されたポリイミド膜392に保持され、それぞれベー
ス電極286及びエミッタ電極288に電気的に接続さ
れている。
接合バイポーラトランジスタ266、第1の支持構造3
64、第2の支持構造366、及び電極構造362の側
面及びp型ブラッグ反射器276は酸化ケイ素や窒化ケ
イ素からなる絶縁膜296で覆われている。
構造364の上面388、及び第2の支持構造366の
上面390はそれぞれ第1の基板12から突き出してお
り、第1の基板12と第2の基板11とは、マイクロバ
ンプ368、370、及び372が電極構造362の上
面378、第1の支持構造364の上面388、及び第
2の支持構造366の上面390とそれぞれ接するよう
に保持されている。そして、紫外線硬化樹脂22が第1
の基板12と第2の基板11との間に満たされている。
ンプ370から配線384及びベース電極286を介し
てベース層282に印加される電圧に基づいて、マイク
ロバンプ372から配線386、エミッタ層284、ベ
ース層282、及びコレクタ層280を介してn型ブラ
ッグ反射器278へマイナスの電荷が印加される。一
方、マイクロバンプ368から電極構造362を介して
p型ブラッグ反射器276にプラスの電圧が印加される
ため、垂直共振器型面発光レーザ262を発光させるこ
とができる。
ーザ262上に設けられたヘテロ接合バイポーラトラン
ジスタ266がマイクロバンプに接することがないの
で、発光層24に荷重を与えずに第2の基板11を第1
の基板12に接合できる。
確実に荷重がかからないようにするために、図14
(b)に示すように、第1の基板12に対して第1の支
持構造364及び第2の支持構造366の上面388及
び390がヘテロ接合バイポーラトランジスタ266の
上面394に比べて高くなっていることが好ましい。こ
の様な構造は、例えば、半導体多層380及び382と
絶縁層296との間に適当な厚さを有し、酸化ケイ素や
窒化ケイ素からなる絶縁層396をそれぞれ形成すれば
よい。上面388及び390と上面394との高さの差
は0.5μm以上が好ましい。この構造によれば、第1
の支持構造364及び第2の支持構造366がマイクロ
バンプ370及び372にめり込んだ場合でも、ヘテロ
接合バイポーラトランジスタ266の上面394が第2
の基板11に接して、発光層24に荷重が加わることを
確実に防ぐことができる。
ュールの製造方法の一例として、光モジュール360の
製造方法を詳細に説明する。
と、垂直共振器型面発光レーザ262を構成する複数の
半導体層と、ヘテロ接合バイポーラトランジスタ266
を構成する複数の半導体層とをMBE法などによりn+
型GaAsからなる第1の基板12上にエピタキシャル
成長させる。
形成するために、24.5対のp型AlAs層402及
びp型GaAs層404を交互に積層する。また、n型
ブラッグ共振器278を形成するために、24.5対の
n型AlAs層422及びn型GaAs層420を交互
に積層する。
層24を挟んでバリア層410及び412を設け、レー
ザの共振器長を調整するために、スペーサ層406、4
08、414、及び418を設けている。更に、ベース
層282とエミッタ層284の間にGaAs層424を
設け、エミッタ層284上に、グレーディッド層426
及びキャップ層428を設ける。これらの半導体層の厚
み及び不純物濃度を表2に示す。
示した半導体層を形成した第1の基板12のキャップ層
428上にAuGe/Niからなる金属膜を形成し、パ
ターニングして、電極構造の電極376及びエミッタ電
極288を形成する。また、第1の支持構造364及び
第2の支持構造366を形成するためのマスクとして電
極430及び432を形成する。その後、これらの電極
288、376、430、及び432をマスクとしてベ
ース層282が露出するまで、キャップ層428、グレ
ーディッド層426、エミッタ層284を硫酸と過酸化
水素水との混合溶液を用いてエッチングする。
電極286を形成する。その後、熱処理し、これらの電
極と半導体層との間にオーミック接触を形成する。
286、288、376、430、及び432をマスク
として少なくともp型ブラッグ反射器276を構成する
半導体層が露出するまで、塩素ガスを用いたドライエッ
チング法により、積層された半導体層をエッチングす
る。その後、電極376とp型ブラッグ反射器276の
表面の間で電圧を印加し、電極構造362内の半導体層
に形成されているpn接合を破壊する。
2の表面の構造全体を覆う絶縁層296を形成し、更に
ポリイミド膜22を形成する。その後、電極376、2
86、及び288の一部を露出させるコンタクトホール
を形成し、ベース電極286に電気的に接続し、第1の
支持構造364の上部に達する配線384、及びエミッ
タ電極288に電気的に接続し、第2の支持構造366
の上部に達する配線386を形成する。
と同様の方法によりおこなう。これにより、図14に示
される光モジュール360が形成される。
施例による光モジュール500の断面を示している。光
モジュール500は低融点金属からなるマイクロバンプ
を備え、第1と第2の基板との接合をマイクロバンプと
マイクロバンプを受ける電極との合金化により実現する
点で実施例1の光モジュール10と異なっている。図1
7において、図1に示される光モジュール10と同じ構
成要素には同一の参照符号を付している。
ンプ506は、絶縁層21上に形成された金層502と
金層502上に形成されたビスマス層504とを有して
いる。同様にマイクロバンプ512も金層508とビス
マス層510とからなる。ビスマス層504及び510
と電極32及び36との界面ではビスマスと電極32及
び36を構成する金属とが合金化した層が形成されてい
る。
2の基板11に設けられたマイクロバンプ506及び5
12を電極32及び36とそれぞれ接触させた後、この
状態で接触部が350℃以上になるように加熱する。加
熱により、ビスマスが溶融し、電極32及び36を構成
する金属とビスマスとが合金化されマイクロバンプ50
6及び512と電極32及び36とが接合される。これ
により、第1の基板12と第2の基板11とが接合され
る。
は合金化により行われるので、接合には荷重加える必要
がない。従って、発光層24へほとんど荷重を与えるこ
とがなく垂直共振器型面発光レーザ14の発光効率が劣
化することもない。
12と第2の基板11とを接合する際に実施例1で説明
したような熱硬化樹脂を用いる必要はない。しかし、第
1の基板12と第2の基板11との安定した接合状態を
保つために適当な樹脂で第1の基板12と第2の基板1
1との間を満たしておいてもよい。
1から4において説明した種々の構造の光モジュールに
適用できる。
にビスマスを用いたマイクロバンプを適用した例を示し
ている。図18に示される光モジュール520は、第2
の基板上に金層522とビスマス層524とからなるマ
イクロバンプ526及び金層528とビスマス層530
とからなるマイクロバンプ532を有する点で、図6の
光モジュール100と異なる。この構造の場合、マイク
ロバンプ526は配線108を構成する金属と接してお
り、その界面において合金化層が形成されている。
タを有する光モジュールにビスマスを用いたマイクロバ
ンプを適用した例を示している。図19に示される光モ
ジュール540は、第2の基板11上にそれぞれ、金層
542、548、554、及び560とビスマス層54
4、550、556、及び562からなるマイクロバン
プ546、552、558、及び564を有する点で、
図10の光モジュール200と異なる。この構造の場
合、マイクロバンプ552、558、及び564はエミ
ッタ電極234、ベース電極232、及びコレクタ電極
230または配線170を構成する金属とそれぞれ接し
ており、その界面において合金化層が形成されている。
ラトランジスタを有する光モジュールにビスマスからな
るマイクロバンプを適用した例を示している。図20に
示される光モジュール580は、第2の基板11上にそ
れぞれ、金層582、588、及び594とビスマス層
584、590、及び596からなるマイクロバンプ5
86、592、及び598を有する点で、図113の光
モジュール330と異なる。この構造の場合、マイクロ
バンプ586及び592は配線348及び346を構成
する金属と接しており、その界面において合金化層が形
成されている。
らなるマイクロバンプを備えた光モジュールを説明し
た。しかし、実施例1から4において説明したように、
マイクロバンプはビスマス以外の金属で構成し、マイク
ロバンプを受ける電極構造、支持構造、あるいは垂直共
振器型面発光レーザの上面がビスマスから構成されるよ
うに、電極構造や垂直共振器型面発光レーザの上面とな
る電極あるいは支持構造上に設けられる配線をビスマス
から構成してもよい。
施例1から5において説明してたが、各実施例で説明し
た構造を他の実施例の構造と適宜組み合わせてもよい。
電極構造を実施例2から5の光モジュールに用いてもよ
い。また、実施例2から5の光モジュールは1つ垂直共
振器型面発光レーザを備えているが、図5(a)及び
(b)に示されるように垂直共振器型面発光レーザを複
数アレイ状に配置してもよい。更に、図8を参照して光
ファイバとの接続を説明したが、実施例1あるいは3か
ら5のいずれの光モジュールを図8に示す構造に改変し
てもよい。
の基板12は、n型GaAs以外の種々の半導体基板を
用いてもよい。垂直共振器型面発光レーザ14を構成す
る半導体多層30の形成に適した基板を用いることがで
きる。例えば、InP系の活性層を有する垂直共振器型
面発光レーザを形成する場合には、InP基板を用いれ
ばよい。
なようにInGaAs以外の半導体からなる発光層を用いても
よい。また、n型ブラッグ反射器及びp型ブラッグ反射
器のいずれが第1の基板に近接して設けられていてもよ
いが、第1の基板全体を覆うようにp型ブラッグ反射器
を第1の基板に近接して設ければ、p型ブラッグ反射器
の抵抗を小さくすることができる。
性の種々の基板を用いることができるが、好ましくは熱
伝導性がよい材料からなるほうが好ましい。導電性の基
板を用いる場合には、マイクロバンプを形成する表面に
絶縁膜を形成しておくことが好ましい。第2の基板とし
ては、AlN基板、ダイヤモンド膜を備え、ガラス、シ
リコン、及び酸化アルミニウム等からなる基板を用いる
ことができる。
ような大きな荷重を発光層に与えることなく垂直共振器
型面発光レーザが形成された基板をサブマウント基板に
実装することができる構造により、高い発光効率を備え
た光モジュールが得られる。
造を示す断面図である。
面発光レーザの構造を示す断面図である。
ルの製造方法を説明する断面図である。
ジュールに用いられる電極構造の変形例を示す断面図で
ある。
数の垂直共振器型面発光レーザを備えた光モジュールを
構成する第1及び第2の基板の斜視図である。
よる光モジュールの構造を示す断面図である。
グラフである。
ファイバとの接続を説明する断面図である。
造を示す断面図である。
ルの構造を示す断面図である。
ュールの構造を示す断面図である。
による光モジュールの構造を示す断面図である。
による別の光モジュールの構造を示す断面図である。
による更に別の光モジュールの構造を示す断面図であ
る。
器型面発光レーザの構造を示す断面図である。
ュールの製造方法を説明する断面図である。
構造を示す断面図である。
ルの構造を示す断面図である。
ュールの構造を示す断面図である。
ュールの構造を示す断面図である。
光レーザの構造を示す断面図である。
Claims (22)
- 【請求項1】 第1の基板と、 該第1の基板に支持されており、上面及び底面と、少な
くとも発光層を含む半導体多層とを有する垂直共振器型
面発光レーザと、 該第1の基板に支持されており、該垂直共振器型面発光
レーザの底面に電気的に接続された電極構造と、 第1のバンプ及び第2のバンプを有する第2の基板とを
備え、 該垂直共振器型面発光レーザの該上面及び該電極構造の
上面は、該第1の基板から突き出しており、該第1のバ
ンプ及び該第2のバンプが該電極構造の該上面及び該垂
直共振器型面発光レーザの該上面とそれぞれ接するよう
に該第2の基板が該第1の基板に対して保持された、垂
直共振器型面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項2】 第1の基板と、 該第1の基板に支持されており、上面及び底面と、少な
くとも発光層を含む半導体多層とを有する垂直共振器型
面発光レーザと、 第1の基板に支持されており、該垂直共振器型面発光レ
ーザの底面に電気的に接続された電極構造と、 該第1の基板に支持されており、導電性の上面を有する
第1の支持構造と、 該垂直共振器型面発光レーザの該上面と該第1の支持構
造とを電気的に接続する第1の配線と、 第1のバンプ及び第2のバンプを有する第2の基板とを
備え、 該電極構造の上面及び該第1の支持構造の該上面は、第
1の基板から突き出しており、該第1のバンプ及び該第
2のバンプが該電極構造の該上面及び該第1の支持構造
の該上面とそれぞれ接するように該第2の基板が該第1
の基板に対して保持された、垂直共振器型面発光レーザ
を有する光モジュール。 - 【請求項3】 前記第1の基板に支持されたトランジス
タと、前記第2の基板上に設けられた第3のバンプを更
に有し、該第3のバンプが該トランジスタの一部と接し
ている、請求項1に記載の垂直共振器型面発光レーザを
有する光モジュール。 - 【請求項4】 前記第1の基板に支持されたトランジス
タと、該第1の基板上に形成され、導電性の上面を持つ
第2の支持構造と、該トランジスタと該第2の支持構造
とを電気的に接続する第2の配線と、前記第2の基板上
に設けられた第3のバンプを更に有し、該第3のバンプ
が該第2の支持構造の上面と接している請求項2に記載
の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項5】 第1の基板と、 該第1の基板に支持されており、上面及び底面と、少な
くとも発光層を含む半導体多層とを有する垂直共振器型
面発光レーザと、 該垂直共振器型面発光レーザの上面上に形成されバイポ
ーラトランジスタと、 該第1の基板に支持されており、該垂直共振器型面発光
レーザの底面に電気的に接続された電極構造と、 第1のバンプ及び第2のバンプを有する第2の基板とを
備え、 該電極構造の上面は該第1の基板から突き出しており、
該第1のバンプ及び該第2のバンプが該電極構造の該上
面及び該バイポーラトランジスタの該上面の一部とそれ
ぞれ接するように該第2の基板が該第1の基板に対して
保持された垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュ
ール。 - 【請求項6】 第1の基板と、 該第1の基板に支持されており、上面及び底面と、少な
くとも発光層を含む半導体多層とを有する垂直共振器型
面発光レーザと、該垂直共振器型面発光レーザの上面上
に形成されてたバイポーラトランジスタと、 該第1の
基板に支持されており、該垂直共振器型面発光レーザの
底面に電気的に接続された電極構造と、 導電性の上面を有しており、該上面が突き出るように該
第1の基板に支持された第1の支持構造と、 該バイポーラトランジスタと該第1の支持構造の該上面
を電気的に接続する第1の配線と、 第1のバンプ及び第2のバンプを有する第2の基板とを
備え、 該電極構造の上面及び該第1の支持構造の該上面は第1
の基板から突き出しており、該第1のバンプ及び該第2
のバンプが該電極構造の該上面及び該第1の支持構造の
上面とそれぞれ接するように該第2の基板が該第1の基
板に対して保持された垂直共振器型面発光レーザを有す
る光モジュール。 - 【請求項7】 前記第1の支持構造は前記垂直共振器型
面発光レーザに近接して設けられている請求項2または
6に記載の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュ
ール。 - 【請求項8】 前記第1の支持構造は少なくとも前記半
導体多層と同じ半導体からなる半導体層と該半導体層上
に設けられた絶縁層と、該絶縁層上に設けられた電極と
からなる請求項2または6に記載の垂直共振器型面発光
レーザを有する光モジュール。 - 【請求項9】 前記第1の支持構造は少なくとも前記半
導体多層と同じ半導体からなる半導体層と該半導体層上
に設けられた金属膜とからなる請求項2または6に記載
の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項10】 前記第1の基板から前記第1の支持構
造の上面までの距離が前記第1の基板から前記垂直共振
器型面発光レーザの上面までの距離よりも大きい請求項
2または6に記載の垂直共振器型面発光レーザを有する
光モジュール。 - 【請求項11】 前記バイポーラトランジスタは電界効
果型トランジスタである請求項3に記載の垂直共振器型
面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項12】 前記バイポーラトランジスタはヘテロ
接合バイポーラトランジスタである請求項3に記載の垂
直共振器型面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項13】 前記第1の基板と前記第2の基板との
間に接着剤が満たされている請求項1から12のいずれ
かに記載の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュ
ール。 - 【請求項14】 前記接着剤は熱硬化樹脂である請求項
に記載13の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジ
ュール。 - 【請求項15】 前記接着剤は紫外線硬化樹脂である請
求項13に記載の垂直共振器型面発光レーザを有する光
モジュール。 - 【請求項16】 前記電極構造及び前記垂直共振器型面
発光レーザをそれぞれ複数有し、前記第1の基板上にお
いて該複数の電極構造は多角形の頂点位置しており該複
数の垂直共振器型面発光レーザは該多角形の内部に位置
している請求項1から6のいずれかに記載の垂直共振器
型面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項17】 前記第1及び第2のバンプは350℃
以下の融点を有する金属からなる請求項1から6のいず
れかに記載の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジ
ュール。 - 【請求項18】 前記第1及び第2のバンプはビスマス
からなる請求項17に記載の垂直共振器型面発光レーザ
を有する光モジュール。 - 【請求項19】 前記電極構造の前記上面及び垂直共振
器型面発光レーザの前記上面は350℃以下の融点を有
する金属からなる請求項1から6のいずれかに記載の垂
直共振器型面発光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項20】 前記電極構造の前記上面及び垂直共振
器型面発光レーザの前記上面はビスマスからなる請求項
19に記載の垂直共振器型面発光レーザを有する光モジ
ュール。 - 【請求項21】 前記垂直共振器面発光レーザは、前記
発光層を挟む第1及び第2のブラッグ反射器を更に有す
る請求項1から6のいずれかに記載の垂直共振器型面発
光レーザを有する光モジュール。 - 【請求項22】 前記垂直共振器型面発光レーザが設け
られた位置に対応して、前記第1の基板の裏面に光ファ
イバを受けるガイド孔が設けられている請求項1から6
のいずれかに記載の垂直共振器型面発光レーザを有する
光モジュール。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24633395A JP2795627B2 (ja) | 1994-09-28 | 1995-09-25 | 垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6-233834 | 1994-09-28 | ||
JP23383494 | 1994-09-28 | ||
JP24633395A JP2795627B2 (ja) | 1994-09-28 | 1995-09-25 | 垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08153935A true JPH08153935A (ja) | 1996-06-11 |
JP2795627B2 JP2795627B2 (ja) | 1998-09-10 |
Family
ID=26531218
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24633395A Expired - Fee Related JP2795627B2 (ja) | 1994-09-28 | 1995-09-25 | 垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2795627B2 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001189526A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-07-10 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 自己走査型面発光レーザアレイ |
US6507594B1 (en) | 1997-09-30 | 2003-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical device structure and fabrication method thereof |
WO2007077740A1 (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-12 | Nec Corporation | 半導体光素子 |
JP2008505508A (ja) * | 2004-06-30 | 2008-02-21 | クリー インコーポレイテッド | 発光デバイスをパッケージするためのチップスケール方法およびチップスケールにパッケージされた発光デバイス |
US7843985B2 (en) | 2006-12-18 | 2010-11-30 | Seiko Epson Corporation | Light chip and optical module |
WO2020031478A1 (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-13 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 小型光トランシーバ |
WO2020110504A1 (ja) * | 2018-11-27 | 2020-06-04 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 駆動装置および発光装置 |
-
1995
- 1995-09-25 JP JP24633395A patent/JP2795627B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6507594B1 (en) | 1997-09-30 | 2003-01-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical device structure and fabrication method thereof |
US6771677B2 (en) | 1997-09-30 | 2004-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical device structure and fabrication method thereof |
JP2001189526A (ja) * | 2000-01-05 | 2001-07-10 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 自己走査型面発光レーザアレイ |
JP2008505508A (ja) * | 2004-06-30 | 2008-02-21 | クリー インコーポレイテッド | 発光デバイスをパッケージするためのチップスケール方法およびチップスケールにパッケージされた発光デバイス |
US7952172B2 (en) | 2005-12-26 | 2011-05-31 | Nec Corporation | Semiconductor optical element |
WO2007077740A1 (ja) * | 2005-12-26 | 2007-07-12 | Nec Corporation | 半導体光素子 |
JP5034952B2 (ja) * | 2005-12-26 | 2012-09-26 | 日本電気株式会社 | 半導体光素子 |
US7843985B2 (en) | 2006-12-18 | 2010-11-30 | Seiko Epson Corporation | Light chip and optical module |
WO2020031478A1 (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-13 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 小型光トランシーバ |
JP2020027147A (ja) * | 2018-08-10 | 2020-02-20 | 国立研究開発法人情報通信研究機構 | 小型光トランシーバ |
WO2020110504A1 (ja) * | 2018-11-27 | 2020-06-04 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 駆動装置および発光装置 |
JPWO2020110504A1 (ja) * | 2018-11-27 | 2021-10-14 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 駆動装置および発光装置 |
US11996673B2 (en) | 2018-11-27 | 2024-05-28 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Drive device and light emitting device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2795627B2 (ja) | 1998-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0704947B1 (en) | Optical module having a vertical-cavity surface-emitting laser | |
CN106505410B (zh) | 垂直腔面发射激光器阵列及其制造方法 | |
JP4160597B2 (ja) | 半導体発光素子及びその製造方法 | |
US6222868B1 (en) | Surface-type optical device, fabrication method therefor and display device | |
JP4985260B2 (ja) | 発光装置 | |
JP5354828B2 (ja) | 光生成能力を高めたiii−窒化物発光デバイス | |
WO2021124968A1 (ja) | 垂直共振器型面発光レーザ素子、垂直共振器型面発光レーザ素子アレイ、垂直共振器型面発光レーザモジュール及び垂直共振器型面発光レーザ素子の製造方法 | |
JP6083194B2 (ja) | 面発光型半導体レーザアレイ装置、光源および光源モジュール | |
JP2005303080A (ja) | 半導体発光素子及びその製造方法 | |
US9966730B2 (en) | Surface-emitting laser apparatus and manufacturing method thereof | |
JP2795627B2 (ja) | 垂直共振器型面発光レーザを有する光モジュール及びその製造方法 | |
JP6308319B2 (ja) | 面発光型半導体レーザアレイ | |
JP2005079580A (ja) | 複数の発光領域を有するレーザー装置 | |
JPH10308560A (ja) | 半導体発光素子および発光装置 | |
JP5695785B1 (ja) | 発光装置 | |
JP2002353561A (ja) | 面発光レーザ装置およびその製造方法 | |
JP3365787B2 (ja) | Ledチップ実装部品 | |
JPH06163981A (ja) | 半導体装置 | |
JP7548831B2 (ja) | 半導体発光装置 | |
US20230101361A1 (en) | Method for manufacturing diffusion cover, diffusion cover, and semiconductor light-emitting device comprising same | |
JP3894607B2 (ja) | 半導体レーザおよびその製法 | |
JPS61184889A (ja) | 半導体発光装置 | |
JPH0287584A (ja) | 面発光アレイ装置 | |
JPH0284785A (ja) | 半導体発光装置 | |
JPH10335741A (ja) | 半導体レ−ザ素子及びその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980615 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080626 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090626 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100626 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100626 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110626 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120626 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |