JPH08129046A - 電流−電圧変換アンプのテスト回路 - Google Patents
電流−電圧変換アンプのテスト回路Info
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- JPH08129046A JPH08129046A JP6268926A JP26892694A JPH08129046A JP H08129046 A JPH08129046 A JP H08129046A JP 6268926 A JP6268926 A JP 6268926A JP 26892694 A JP26892694 A JP 26892694A JP H08129046 A JPH08129046 A JP H08129046A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ＩＣのチップ上にフォトダイオードと対にな
った電流−電圧変換アンプのテスト回路を設け、実際に
光照射を行うことなく、電流−電圧変換アンプのテスト
を行う。 【構成】 本発明は第１のＮＰＮトランジスタと第２の
ＮＰＮトランジスタからなるカレントミラー回路と、テ
スト電圧を印加するテスト端子とそのテスト端子と第１
のＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された第３の
抵抗と、第２のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続さ
れる電流端子とを有し、テスト端子に印加されるテスト
電圧に応じて電流端子に接続された電流−電圧変換アン
プから電流を引き込む。
った電流−電圧変換アンプのテスト回路を設け、実際に
光照射を行うことなく、電流−電圧変換アンプのテスト
を行う。 【構成】 本発明は第１のＮＰＮトランジスタと第２の
ＮＰＮトランジスタからなるカレントミラー回路と、テ
スト電圧を印加するテスト端子とそのテスト端子と第１
のＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された第３の
抵抗と、第２のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続さ
れる電流端子とを有し、テスト端子に印加されるテスト
電圧に応じて電流端子に接続された電流−電圧変換アン
プから電流を引き込む。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フォトダイオード（以
下ＰＤ）用電流−電圧変換アンプをテストする回路に関
するものである。
下ＰＤ）用電流−電圧変換アンプをテストする回路に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】図１０はＩＣ上に組み込んだＰＤおよび
電流−電圧変換アンプを示す図である。図１０におい
て、１０は光センサ、１２はＰＤ、２０は電流−電圧変
換アンプ、１４は基準電源、２１は増幅器、２２はフィ
ードバック抵抗である。この光センサ回路１０は、ＰＤ
に光を照射すると、ＰＤが電流−電圧変換アンプ２０か
ら電流Ｉを引き込み、その電流Ｉが電流−電圧変換アン
プで電圧Ｖに変換され、照射の強度に比例する電圧（Ｖ
ｏｕｔ）を出力端子１１に出力するように動作する。
電流−電圧変換アンプを示す図である。図１０におい
て、１０は光センサ、１２はＰＤ、２０は電流−電圧変
換アンプ、１４は基準電源、２１は増幅器、２２はフィ
ードバック抵抗である。この光センサ回路１０は、ＰＤ
に光を照射すると、ＰＤが電流−電圧変換アンプ２０か
ら電流Ｉを引き込み、その電流Ｉが電流−電圧変換アン
プで電圧Ｖに変換され、照射の強度に比例する電圧（Ｖ
ｏｕｔ）を出力端子１１に出力するように動作する。
【０００３】電流−電圧変換アンプ２０は、ＰＤ１２に
光が照射されると増幅器２１の反転端子から電流を引き
込むタイプのＰＤの場合には、光の照射量が増加すると
出力端子１１の出力電圧が増加するように動作する。一
方、ＩＣに光が照射されると増幅器２１の反転端子に電
流を流し込むタイプのＰＤの場合には、電流−電圧変換
アンプ２０は、光の照射量が増加すると出力端子１１の
出力電圧（Ｖｏｕｔ）が減少するように動作する。
光が照射されると増幅器２１の反転端子から電流を引き
込むタイプのＰＤの場合には、光の照射量が増加すると
出力端子１１の出力電圧が増加するように動作する。一
方、ＩＣに光が照射されると増幅器２１の反転端子に電
流を流し込むタイプのＰＤの場合には、電流−電圧変換
アンプ２０は、光の照射量が増加すると出力端子１１の
出力電圧（Ｖｏｕｔ）が減少するように動作する。
【０００４】従来、ＩＣ上に組み込まれたＰＤの特性を
試験するには、ＩＣが完成した後に光を実際にＰＤに照
射し電流−電圧変換アンプからの出力電圧を測定してい
た。
試験するには、ＩＣが完成した後に光を実際にＰＤに照
射し電流−電圧変換アンプからの出力電圧を測定してい
た。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実際に
光をＰＤに照射してテスト（電流特性、周波数特性等）
を行う場合、光を照射するためのテスト装置が複雑でま
た高価であり、テスト時間も長くなり、従って、人件費
が高くなり、半導体のコストが高くなるという問題点が
あった。
光をＰＤに照射してテスト（電流特性、周波数特性等）
を行う場合、光を照射するためのテスト装置が複雑でま
た高価であり、テスト時間も長くなり、従って、人件費
が高くなり、半導体のコストが高くなるという問題点が
あった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明はこのような問題
点を解消するための電流−電圧変換アンプのテスト回路
を提供するものである。本発明においては、光を実際に
半導体基板上のＰＤに照射することなく、半導体基板上
に設けられたテスト端子に電圧を印加するだけで、光を
照射した場合と同様のテストが可能となり、短時間に簡
単にテストが完了する。従って、その経済的な効果は大
きく、安価なＩＣまたは半導体集積回路を供給すること
ができる。
点を解消するための電流−電圧変換アンプのテスト回路
を提供するものである。本発明においては、光を実際に
半導体基板上のＰＤに照射することなく、半導体基板上
に設けられたテスト端子に電圧を印加するだけで、光を
照射した場合と同様のテストが可能となり、短時間に簡
単にテストが完了する。従って、その経済的な効果は大
きく、安価なＩＣまたは半導体集積回路を供給すること
ができる。
【０００７】本発明の一見地によれば、本発明は第１の
ＮＰＮトランジスタと第２のＮＰＮトランジスタからな
るカレントミラー回路と、テスト電圧を印加する入力端
子とその入力端子と第１のＮＰＮトランジスタのコレク
タ間に接続された第３の抵抗と、第２のＮＰＮトランジ
スタのコレクタに接続される電流端子とを有し、入力端
子に印加されるテスト電圧に応じて電流端子に接続され
た被測定回路から電流を引き込むように構成される。
ＮＰＮトランジスタと第２のＮＰＮトランジスタからな
るカレントミラー回路と、テスト電圧を印加する入力端
子とその入力端子と第１のＮＰＮトランジスタのコレク
タ間に接続された第３の抵抗と、第２のＮＰＮトランジ
スタのコレクタに接続される電流端子とを有し、入力端
子に印加されるテスト電圧に応じて電流端子に接続され
た被測定回路から電流を引き込むように構成される。
【０００８】本発明の他の見地によれば、本発明は第１
のＰＮＰトランジスタと第２のＰＮＰトランジスタから
なるカレントミラー回路と、テスト電圧を印加する入力
端子とその入力端子と第１のＰＮＰトランジスタのエミ
ッタ間に接続された第３の抵抗と、第２のＰＮＰトラン
ジスタのエミッタに接続される電流端子とを有し、その
入力端子に印加されるテスト電圧に応じて電流端子に接
続された被測定回路に電流を流し込むように構成され
る。
のＰＮＰトランジスタと第２のＰＮＰトランジスタから
なるカレントミラー回路と、テスト電圧を印加する入力
端子とその入力端子と第１のＰＮＰトランジスタのエミ
ッタ間に接続された第３の抵抗と、第２のＰＮＰトラン
ジスタのエミッタに接続される電流端子とを有し、その
入力端子に印加されるテスト電圧に応じて電流端子に接
続された被測定回路に電流を流し込むように構成され
る。
【０００９】さらに、本発明の他の見地によれば、本発
明はｎ個のＮＰＮトランジスタからなるカレントミラー
回路と、テスト電圧を印加する入力端子とその入力端子
と第１のＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された
第３の抵抗と、ｎ−１個のＮＰＮトランジスタのコレク
タにそれぞれ接続される複数の電流端子とを有し、入力
端子に印加されるテスト電圧に応じて複数の電流端子に
接続された複数の被測定回路から電流を引き込むように
構成される。
明はｎ個のＮＰＮトランジスタからなるカレントミラー
回路と、テスト電圧を印加する入力端子とその入力端子
と第１のＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された
第３の抵抗と、ｎ−１個のＮＰＮトランジスタのコレク
タにそれぞれ接続される複数の電流端子とを有し、入力
端子に印加されるテスト電圧に応じて複数の電流端子に
接続された複数の被測定回路から電流を引き込むように
構成される。
【００１０】本発明の他の見地によれば、ｎ個のＮＰＮ
トランジスタからなるカレントミラー回路を有する本発
明は、さらに、１つのＮＰＮトランジスタを有し、その
ベースは第１のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続さ
れ、そのエミッタは第１のＮＰＮトランジスタのベース
に接続され、そのコレクタは電流源に接続されるように
構成される。
トランジスタからなるカレントミラー回路を有する本発
明は、さらに、１つのＮＰＮトランジスタを有し、その
ベースは第１のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続さ
れ、そのエミッタは第１のＮＰＮトランジスタのベース
に接続され、そのコレクタは電流源に接続されるように
構成される。
【００１１】本発明の他の見地によれば、本発明は第１
および第２のＮＰＮトランジスタからなる第１のカレン
トミラー回路と、第３および第４のＮＰＮトランジスタ
からなる第２のカレントミラー回路と、テスト電圧を印
加する入力端子とその入力端子と第１のＮＰＮトランジ
スタのコレクタおよび第４のＮＰＮトランジスタのコレ
クタ間に接続された第５の抵抗と、第２のＮＰＮトラン
ジスタのコレクタに接続される電流端子と、第３のＮＰ
Ｎトランジスタのコレクタに接続される電流供給回路と
を有し、入力端子に印加されるテスト電圧に応じて電流
端子に接続された被測定回路から電流を引き込むように
構成される。
および第２のＮＰＮトランジスタからなる第１のカレン
トミラー回路と、第３および第４のＮＰＮトランジスタ
からなる第２のカレントミラー回路と、テスト電圧を印
加する入力端子とその入力端子と第１のＮＰＮトランジ
スタのコレクタおよび第４のＮＰＮトランジスタのコレ
クタ間に接続された第５の抵抗と、第２のＮＰＮトラン
ジスタのコレクタに接続される電流端子と、第３のＮＰ
Ｎトランジスタのコレクタに接続される電流供給回路と
を有し、入力端子に印加されるテスト電圧に応じて電流
端子に接続された被測定回路から電流を引き込むように
構成される。
【００１２】さらに、本発明の他の見地によれば、本発
明は第１および第２のＮＰＮトランジスタからなる第１
のカレントミラー回路と、第３および第４のＰＮＰトラ
ンジスタからなる第２のカレントミラー回路と、テスト
電圧を印加する入力端子とその入力端子と第１のＮＰＮ
トランジスタのコレクタ間に接続された第５の抵抗と、
第２のＮＰＮトランジスタのコレクタおよび第４のＰＮ
Ｐトランジスタのコレクタに接続される電流端子と、第
３のＰＮＰトランジスタのコレクタとアースとの間に接
続された第６の抵抗と、入力端子に印加されるテスト電
圧に応じて電流端子に接続された被測定回路から電流を
引き込むように構成される。
明は第１および第２のＮＰＮトランジスタからなる第１
のカレントミラー回路と、第３および第４のＰＮＰトラ
ンジスタからなる第２のカレントミラー回路と、テスト
電圧を印加する入力端子とその入力端子と第１のＮＰＮ
トランジスタのコレクタ間に接続された第５の抵抗と、
第２のＮＰＮトランジスタのコレクタおよび第４のＰＮ
Ｐトランジスタのコレクタに接続される電流端子と、第
３のＰＮＰトランジスタのコレクタとアースとの間に接
続された第６の抵抗と、入力端子に印加されるテスト電
圧に応じて電流端子に接続された被測定回路から電流を
引き込むように構成される。
【００１３】さらに、本発明の他の見地によれば、本発
明は、さらに、入力端子とアース間に接続されたノイズ
対策用プルダウン抵抗を有するように構成される。
明は、さらに、入力端子とアース間に接続されたノイズ
対策用プルダウン抵抗を有するように構成される。
【００１４】
【作用】本発明においては、ＰＤの特性に合わせた電圧
を入力端子に加えることによって、カレントミラー回路
の一方に電流を流し、その電流と同一またはそれと一定
の関係のにある電流をカレントミラー回路の他方から得
て、この電流を電流−電圧変換アンプの入力に加え、こ
の電流−電圧変換アンプから電流を引きまたはこの電流
−電圧変換アンプに電流を流し込むことによって、電流
−電圧変換アンプの出力からＰＤに光を照射した場合と
同様の出力が得られる。
を入力端子に加えることによって、カレントミラー回路
の一方に電流を流し、その電流と同一またはそれと一定
の関係のにある電流をカレントミラー回路の他方から得
て、この電流を電流−電圧変換アンプの入力に加え、こ
の電流−電圧変換アンプから電流を引きまたはこの電流
−電圧変換アンプに電流を流し込むことによって、電流
−電圧変換アンプの出力からＰＤに光を照射した場合と
同様の出力が得られる。
【００１５】また、ＩＣ上に複数のＰＤがマウントされ
る場合には、ＩＣ上に設けられた複数のカレントミラー
回路の各電流端子に複数の被測定回路を接続し、各被測
定回路から電流を引き込むように構成することによっ
て、複数のＰＤに接続された電流−電圧変換アンプの特
性を同時にテストすることができる。
る場合には、ＩＣ上に設けられた複数のカレントミラー
回路の各電流端子に複数の被測定回路を接続し、各被測
定回路から電流を引き込むように構成することによっ
て、複数のＰＤに接続された電流−電圧変換アンプの特
性を同時にテストすることができる。
【００１６】
実施例１ 図１は本発明の第１の実施例による、電流−電圧変換ア
ンプのテスト回路を示す図である。図１において、１０
はＩＣ上に形成された光センサ、１２はＰＤ、２０は電
流−電圧変換アンプ、２１は増幅器、Ｒ２２は抵抗、１
４は基準電源、１１は出力端子である。光がＩＣ上のＰ
Ｄ１２に当たると、ＰＤ１２は光照射によって発生した
電流を増幅器２１の反転端子から引き込み、抵抗Ｒ２２
によって決定される増幅度と基準電圧１４とによって得
られる電圧を出力端子１１に出力する。
ンプのテスト回路を示す図である。図１において、１０
はＩＣ上に形成された光センサ、１２はＰＤ、２０は電
流−電圧変換アンプ、２１は増幅器、Ｒ２２は抵抗、１
４は基準電源、１１は出力端子である。光がＩＣ上のＰ
Ｄ１２に当たると、ＰＤ１２は光照射によって発生した
電流を増幅器２１の反転端子から引き込み、抵抗Ｒ２２
によって決定される増幅度と基準電圧１４とによって得
られる電圧を出力端子１１に出力する。
【００１７】３０は本発明の電流−電圧変換アンプのテ
スト回路である。実施例１の電流−電圧変換アンプのテ
スト回路は、電流引き込みタイプのＰＤをテストするた
めに用いられる。ＴＲ１、ＴＲ２はそれぞれＮＰＮトラ
ンジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒａ、Ｒｂはそれぞれ抵抗であ
る。３１はテスト電圧を印加するためのテスト端子であ
る。ＮＰＮトランジスタＴＲ１、ＴＲ２、抵抗Ｒ１、Ｒ
２はカレントミラーを構成する。抵抗Ｒａはカレントミ
ラーの電流制限用抵抗である。抵抗Ｒｂは、ＩＣが市場
に出た後、テスト端子３１に何らかの原因でノイズ電圧
が誘起されたときに電流−電圧変換アンプのテスト回路
３０の電流端子から光センサ１０に電流が供給されない
ようにノイズ電圧をアースに逃がすためのノイズ対策用
プルダウン抵抗である。
スト回路である。実施例１の電流−電圧変換アンプのテ
スト回路は、電流引き込みタイプのＰＤをテストするた
めに用いられる。ＴＲ１、ＴＲ２はそれぞれＮＰＮトラ
ンジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒａ、Ｒｂはそれぞれ抵抗であ
る。３１はテスト電圧を印加するためのテスト端子であ
る。ＮＰＮトランジスタＴＲ１、ＴＲ２、抵抗Ｒ１、Ｒ
２はカレントミラーを構成する。抵抗Ｒａはカレントミ
ラーの電流制限用抵抗である。抵抗Ｒｂは、ＩＣが市場
に出た後、テスト端子３１に何らかの原因でノイズ電圧
が誘起されたときに電流−電圧変換アンプのテスト回路
３０の電流端子から光センサ１０に電流が供給されない
ようにノイズ電圧をアースに逃がすためのノイズ対策用
プルダウン抵抗である。
【００１８】次に本発明の一実施例の電流−電圧変換ア
ンプのテスト回路３０の動作について説明する。本発明
では、光照射をすることなく、ＰＤに光照射をした場合
と同様のテストをするものである。従って、テストに際
しては、光照射が行われないので、ＰＤには電流が流れ
ない。
ンプのテスト回路３０の動作について説明する。本発明
では、光照射をすることなく、ＰＤに光照射をした場合
と同様のテストをするものである。従って、テストに際
しては、光照射が行われないので、ＰＤには電流が流れ
ない。
【００１９】図２はテスト端子３１に印加されるテスト
電圧（Ｖｉｎ）、カレントミラー回路に流れる電流Ｉ、
Ｉ’および光センサ１０の出力端子に現れる出力電圧
（Ｖｏｕｔ）との関係を示す図である。この図において
は、Ｉ＝Ｉ’の場合を示す。
電圧（Ｖｉｎ）、カレントミラー回路に流れる電流Ｉ、
Ｉ’および光センサ１０の出力端子に現れる出力電圧
（Ｖｏｕｔ）との関係を示す図である。この図において
は、Ｉ＝Ｉ’の場合を示す。
【００２０】図１のテスト端子３１に図２（ａ）に示す
ような電圧信号Ｖｉｎを印加すると、ＮＰＮトランジス
タＴＲ１のコレクタには抵抗Ｒａ、ＮＰＮトランジスタ
ＴＲ１、抵抗ＴＲ１によって定まる図２（ｂ）に示すよ
うな電流信号Ｉ’が流れる。この電流Ｉ’はＮＰＮトラ
ンジスタＴＲ１、ＴＲ２および抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成さ
れたカレントミラーを介し、電流Ｉに変換され、電流−
電圧変換アンプ２０から電流を端子３２に引き込む。電
流ＩとＩ’との関係は、ＴＲ１、トランジスタ２のエミ
ッタサイズおよびＲ１、Ｒ２抵抗を変化させることによ
ってＩ＝Ｉ’、Ｉ＞Ｉ’、Ｉ＜Ｉ’の種々の関係を持た
せることができる。図２においては、Ｉ＝Ｉ’となるよ
うに設定された場合を示す。電流−電圧変換アンプ２０
から電流を引き込むことによって、電流−電圧変換アン
プ２０が動作し、光センサ１０の出力端子１１には図２
（ｃ）に示すように、テスト電圧Ｖｉｎに対応する電圧
Ｖｏｕｔが発生する。図１の場合は電流引き込みタイプ
のＰＤであるので、引き込み電流がＩが大きくなればＶ
ｏｕｔの電圧は大きくなる。従って、ＶｉｎとＶｏｕｔ
は図２に示すように同相となる。以上の説明したよう
に、テスト端子３１に単にテスト信号Ｖｉｎを印加する
ことによって、光照射を行うことなく、電流−電圧変換
アンプのテストを行うことができる。
ような電圧信号Ｖｉｎを印加すると、ＮＰＮトランジス
タＴＲ１のコレクタには抵抗Ｒａ、ＮＰＮトランジスタ
ＴＲ１、抵抗ＴＲ１によって定まる図２（ｂ）に示すよ
うな電流信号Ｉ’が流れる。この電流Ｉ’はＮＰＮトラ
ンジスタＴＲ１、ＴＲ２および抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成さ
れたカレントミラーを介し、電流Ｉに変換され、電流−
電圧変換アンプ２０から電流を端子３２に引き込む。電
流ＩとＩ’との関係は、ＴＲ１、トランジスタ２のエミ
ッタサイズおよびＲ１、Ｒ２抵抗を変化させることによ
ってＩ＝Ｉ’、Ｉ＞Ｉ’、Ｉ＜Ｉ’の種々の関係を持た
せることができる。図２においては、Ｉ＝Ｉ’となるよ
うに設定された場合を示す。電流−電圧変換アンプ２０
から電流を引き込むことによって、電流−電圧変換アン
プ２０が動作し、光センサ１０の出力端子１１には図２
（ｃ）に示すように、テスト電圧Ｖｉｎに対応する電圧
Ｖｏｕｔが発生する。図１の場合は電流引き込みタイプ
のＰＤであるので、引き込み電流がＩが大きくなればＶ
ｏｕｔの電圧は大きくなる。従って、ＶｉｎとＶｏｕｔ
は図２に示すように同相となる。以上の説明したよう
に、テスト端子３１に単にテスト信号Ｖｉｎを印加する
ことによって、光照射を行うことなく、電流−電圧変換
アンプのテストを行うことができる。
【００２１】実施例２ 図３は本発明の第２の実施例の電流−電圧変換アンプの
テスト回路を示す図である。実施例２は、電流流し込み
タイプのＰＤをテストするために用いられる。図３にお
いて、ＴＲ１、ＴＲ２はＰＮＰトランジスタ、Ｒ１、Ｒ
２、Ｒａ、Ｒｂは抵抗、３８は電源である。ＰＮＰトラ
ンジスタＴＲ１、ＴＲ２、抵抗Ｒ１、Ｒ２はカレントミ
ラーを構成する。抵抗Ｒａ、Ｒｂは、実施例１と同様の
動作をする。
テスト回路を示す図である。実施例２は、電流流し込み
タイプのＰＤをテストするために用いられる。図３にお
いて、ＴＲ１、ＴＲ２はＰＮＰトランジスタ、Ｒ１、Ｒ
２、Ｒａ、Ｒｂは抵抗、３８は電源である。ＰＮＰトラ
ンジスタＴＲ１、ＴＲ２、抵抗Ｒ１、Ｒ２はカレントミ
ラーを構成する。抵抗Ｒａ、Ｒｂは、実施例１と同様の
動作をする。
【００２２】次に動作について説明する。テスト端子に
電圧信号を印加すると、電圧Ｖｉｎは抵抗ＲａとＲ１に
より電流に変換され、ＰＮＰトランジスタＴＲ１のコレ
クタに電流Ｉ’が流れる。この電流Ｉ’はＰＮＰトラン
ジスタＴＲ１、ＴＲ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成された
カレントミラーで電流Ｉに変換され、電流端子３２から
電流−電圧変換アンプに電流を流し込む。
電圧信号を印加すると、電圧Ｖｉｎは抵抗ＲａとＲ１に
より電流に変換され、ＰＮＰトランジスタＴＲ１のコレ
クタに電流Ｉ’が流れる。この電流Ｉ’はＰＮＰトラン
ジスタＴＲ１、ＴＲ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成された
カレントミラーで電流Ｉに変換され、電流端子３２から
電流−電圧変換アンプに電流を流し込む。
【００２３】この回路は図１と電流Ｉの向きが異なるが
動作は同じである。以上の説明したように、実施例２に
おいても、実施例１と同様にテスト端子３１に入力電圧
Ｖｉｎを印加することによって、光照射を行うことな
く、電流流し込みタイプのフォトダイオードを使用する
電流−電圧変換アンプのテストを行うことができる。
動作は同じである。以上の説明したように、実施例２に
おいても、実施例１と同様にテスト端子３１に入力電圧
Ｖｉｎを印加することによって、光照射を行うことな
く、電流流し込みタイプのフォトダイオードを使用する
電流−電圧変換アンプのテストを行うことができる。
【００２４】実施例３ 図４は本発明の第３の実施例の電流−電圧変換アンプの
テスト回路の回路図である。図４において、ＴＲ１〜Ｔ
ＲｎはＮＰＮトランジスタ、Ｒ１〜Ｒｎ、Ｒａ、Ｒｂは
抵抗である。３２、３３、３４はそれぞれ複数の光セン
サ１０2、１０n -1、１０nから電流を引き込むための電
流端子である。通常、一つのＩＣ基板上に複数のＰＤ、
たとえば、信号用ＰＤ、位置検出用ＰＤ等が設置され、
これらの複数のＰＤを使用する電流−電圧変換アンプを
同時にテストする場合に図４のような回路が使用され
る。
テスト回路の回路図である。図４において、ＴＲ１〜Ｔ
ＲｎはＮＰＮトランジスタ、Ｒ１〜Ｒｎ、Ｒａ、Ｒｂは
抵抗である。３２、３３、３４はそれぞれ複数の光セン
サ１０2、１０n -1、１０nから電流を引き込むための電
流端子である。通常、一つのＩＣ基板上に複数のＰＤ、
たとえば、信号用ＰＤ、位置検出用ＰＤ等が設置され、
これらの複数のＰＤを使用する電流−電圧変換アンプを
同時にテストする場合に図４のような回路が使用され
る。
【００２５】次に動作について説明する。テスト端子３
１にテスト電圧Ｖｉｎを印加すると抵抗Ｒａ、ＮＰＮト
ランジスタＴＲ１、抵抗Ｒ１によって定まる電流Ｉ
1が、ＮＰＮトランジスタＴＲ１のコレクタに流れ込
む。この電流Ｉ1はＮＰＮトランジスタＴＲ１〜ＴＲｎ
及び抵抗Ｒ１〜Ｒｎで構成されたカレントミラーを介
し、各ＮＰＮトランジスタＴＲ２〜ＴＲｎで電流Ｉ2〜
Ｉｎに変換され、ｎ−１個の電流−電圧変換アンプから
それぞれ電流を引き込む。以上の説明したように、実施
例３においても、実施例１と同様にテスト端子３１にテ
スト信号Ｖｉｎを印加することによって、光照射を行う
ことなく、複数個の電流流し込みタイプのＰＤを使用し
する電流−電圧変換アンプのテストを同時に行うことが
できる。
１にテスト電圧Ｖｉｎを印加すると抵抗Ｒａ、ＮＰＮト
ランジスタＴＲ１、抵抗Ｒ１によって定まる電流Ｉ
1が、ＮＰＮトランジスタＴＲ１のコレクタに流れ込
む。この電流Ｉ1はＮＰＮトランジスタＴＲ１〜ＴＲｎ
及び抵抗Ｒ１〜Ｒｎで構成されたカレントミラーを介
し、各ＮＰＮトランジスタＴＲ２〜ＴＲｎで電流Ｉ2〜
Ｉｎに変換され、ｎ−１個の電流−電圧変換アンプから
それぞれ電流を引き込む。以上の説明したように、実施
例３においても、実施例１と同様にテスト端子３１にテ
スト信号Ｖｉｎを印加することによって、光照射を行う
ことなく、複数個の電流流し込みタイプのＰＤを使用し
する電流−電圧変換アンプのテストを同時に行うことが
できる。
【００２６】実施例４ 図５は本発明の第４の実施例の電流−電圧変換アンプの
テスト回路の回路図である。図５において、ＴＲ１〜Ｔ
Ｒｎ、ＴＲａはＮＰＮトランジスタ、Ｒ１〜Ｒｎ、Ｒ
ａ、Ｒｂは抵抗である。ＴＲａはＴＲ１〜ＴＲｎのベー
ス寄生容量を充電するためのトランジスタであり、トラ
ンジスタの動作を高速化するために使用される。３９は
ＴＲａに電流Ｉ”を供給するための電流源である。３２
〜３４は電流を引き込むための電流端子であり、図４と
同様に複数の電流−電圧変換アンプに接続される。３７
はトランジスタのベース寄生容量である。
テスト回路の回路図である。図５において、ＴＲ１〜Ｔ
Ｒｎ、ＴＲａはＮＰＮトランジスタ、Ｒ１〜Ｒｎ、Ｒ
ａ、Ｒｂは抵抗である。ＴＲａはＴＲ１〜ＴＲｎのベー
ス寄生容量を充電するためのトランジスタであり、トラ
ンジスタの動作を高速化するために使用される。３９は
ＴＲａに電流Ｉ”を供給するための電流源である。３２
〜３４は電流を引き込むための電流端子であり、図４と
同様に複数の電流−電圧変換アンプに接続される。３７
はトランジスタのベース寄生容量である。
【００２７】次に動作について説明する。テスト端子に
電圧信号を印加すると抵抗Ｒａ、ＮＰＮトランジスタＴ
Ｒ１、抵抗Ｒ１によって定まる電流Ｉ1が、ＮＰＮトラ
ンジスタＴＲ１のコレクタに流れ込む。この電流Ｉ1は
ＮＰＮトランジスタＴＲ１〜ＴＲｎ及び抵抗Ｒ１〜Ｒｎ
で構成されたカレントミラーを介し、各ＮＰＮトランジ
スタＴＲ１〜ＴＲｎでそれぞれ電流Ｉ2〜Ｉｎに変換さ
れ、ｎ−１個の電流−電圧変換アンプからそれぞれ電流
を引き込む。
電圧信号を印加すると抵抗Ｒａ、ＮＰＮトランジスタＴ
Ｒ１、抵抗Ｒ１によって定まる電流Ｉ1が、ＮＰＮトラ
ンジスタＴＲ１のコレクタに流れ込む。この電流Ｉ1は
ＮＰＮトランジスタＴＲ１〜ＴＲｎ及び抵抗Ｒ１〜Ｒｎ
で構成されたカレントミラーを介し、各ＮＰＮトランジ
スタＴＲ１〜ＴＲｎでそれぞれ電流Ｉ2〜Ｉｎに変換さ
れ、ｎ−１個の電流−電圧変換アンプからそれぞれ電流
を引き込む。
【００２８】ＴＲ１〜ＴＲｎのＮＰＮトランジスタのベ
ース寄生容量は、ＮＰＮトランジスタＴＲａにより供給
される電流によってチャージされる。そのチャージが終
了するまでＴＲ１〜ＴＲｎのＮＰＮトランジスタは動作
せず、従ってトランジスタの動作が遅くなることは良く
知られている。従って、この実施例においては、ＴＲａ
を設け、電流源３９からＩ1とは独立にＴＲ１〜ＴＲｎ
のベース寄生容量を充電することによって、実施例３と
比較して、トランジスタの動作を高速化することができ
る。以上の説明したように、実施例４においても、実施
例３と同様にテスト端子３１にテスト電圧Ｖｉｎを印加
することによって、光照射を行うことなく、複数の電流
流し込みタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプ
の高速なテストを行うことができる。
ース寄生容量は、ＮＰＮトランジスタＴＲａにより供給
される電流によってチャージされる。そのチャージが終
了するまでＴＲ１〜ＴＲｎのＮＰＮトランジスタは動作
せず、従ってトランジスタの動作が遅くなることは良く
知られている。従って、この実施例においては、ＴＲａ
を設け、電流源３９からＩ1とは独立にＴＲ１〜ＴＲｎ
のベース寄生容量を充電することによって、実施例３と
比較して、トランジスタの動作を高速化することができ
る。以上の説明したように、実施例４においても、実施
例３と同様にテスト端子３１にテスト電圧Ｖｉｎを印加
することによって、光照射を行うことなく、複数の電流
流し込みタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプ
の高速なテストを行うことができる。
【００２９】実施例５ 図６は本発明の第５の実施例の電流−電圧変換アンプの
テスト回路の回路図である。図６において、ＴＲ１〜Ｔ
Ｒ４はＮＰＮトランジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ５１、Ｒ５
２、Ｒａ、Ｒｂは抵抗である。ＮＰＮトランジスタＴＲ
１、ＴＲ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２は第１のカレントミラー
を構成する。ＮＰＮトランジスタＴＲ３、ＴＲ４及び抵
抗Ｒ５１、Ｒ５２は第２のカレントミラーを構成する。
３８は直流電源、Ｒ５３、Ｒ５４、Ｒ５５は抵抗であ
り、Ｒ５４とＲ５５は分圧器を構成する。図７はテスト
端子３１から供給される入力電流Ｉ、第２のカレントミ
ラー回路に流れる電流ＩDC、第１のカレントミラー回路
に流れる電流ＩAC’およびＩACの関係を示す図である。
テスト回路の回路図である。図６において、ＴＲ１〜Ｔ
Ｒ４はＮＰＮトランジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ５１、Ｒ５
２、Ｒａ、Ｒｂは抵抗である。ＮＰＮトランジスタＴＲ
１、ＴＲ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２は第１のカレントミラー
を構成する。ＮＰＮトランジスタＴＲ３、ＴＲ４及び抵
抗Ｒ５１、Ｒ５２は第２のカレントミラーを構成する。
３８は直流電源、Ｒ５３、Ｒ５４、Ｒ５５は抵抗であ
り、Ｒ５４とＲ５５は分圧器を構成する。図７はテスト
端子３１から供給される入力電流Ｉ、第２のカレントミ
ラー回路に流れる電流ＩDC、第１のカレントミラー回路
に流れる電流ＩAC’およびＩACの関係を示す図である。
【００３０】次に動作について説明する。図６の回路に
おいては、第１のＮＰＮトランジスタＴＲ１には、抵抗
Ｒａ、ＮＰＮトランジスタＴＲ１、抵抗Ｒ１によって定
まる図７（ｂ）に示すような交流電流ＩAC’が流れる。
一方、ＮＰＮトランジスタＴＲ３には抵抗Ｒ５３、ＮＰ
ＮトランジスタＴＲ３、抵抗５１によって定まる直流電
流ＩDC’が流れる。この電流ＩDC’はＮＰＮトランジス
タＴＲ３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ５１、Ｒ５２で構成される
第２のカレントミラーによって、第４のＮＰＮトランジ
スタＴＲ４において図７（ａ）中に示すような直流電流
ＩDCに変換される。交流電流ＩAC’と直流電流ＩDCとが
重畳された図７（ａ）に示すような波形の電流Ｉ（＝Ｉ
AC’＋ＩDC）を流すような電圧信号Ｖｉｎをテスト端子
に印加する。電流ＩAC’はＮＰＮトランジスタＴＲ１、
ＴＲ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成されたカレントミラー
によって、ＮＰＮトランジスタＴＲ２で電流ＩACに変換
され、電流端子３２を介して電流−電圧変換アンプから
電流を引き込む。Ｒｂは、実施例１と同じようにノイズ
電圧をアースに逃がすためのノイズ対策用プルダウン抵
抗である。
おいては、第１のＮＰＮトランジスタＴＲ１には、抵抗
Ｒａ、ＮＰＮトランジスタＴＲ１、抵抗Ｒ１によって定
まる図７（ｂ）に示すような交流電流ＩAC’が流れる。
一方、ＮＰＮトランジスタＴＲ３には抵抗Ｒ５３、ＮＰ
ＮトランジスタＴＲ３、抵抗５１によって定まる直流電
流ＩDC’が流れる。この電流ＩDC’はＮＰＮトランジス
タＴＲ３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ５１、Ｒ５２で構成される
第２のカレントミラーによって、第４のＮＰＮトランジ
スタＴＲ４において図７（ａ）中に示すような直流電流
ＩDCに変換される。交流電流ＩAC’と直流電流ＩDCとが
重畳された図７（ａ）に示すような波形の電流Ｉ（＝Ｉ
AC’＋ＩDC）を流すような電圧信号Ｖｉｎをテスト端子
に印加する。電流ＩAC’はＮＰＮトランジスタＴＲ１、
ＴＲ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成されたカレントミラー
によって、ＮＰＮトランジスタＴＲ２で電流ＩACに変換
され、電流端子３２を介して電流−電圧変換アンプから
電流を引き込む。Ｒｂは、実施例１と同じようにノイズ
電圧をアースに逃がすためのノイズ対策用プルダウン抵
抗である。
【００３１】ＰＤの特性は、光が照射されないときは電
流が０であり、光の照射強度が強くなると電流が大きく
なる特性を有する。従って、光を照射したときにＰＤに
流れる電流と同じ特性の電流でテストをすることが電流
−電圧変換アンプ回路に求められる。しかしながら、図
７（ｂ）に示すように電流０を振幅の最小値とする電流
波形ＩAC’をテスト端子３１からトランジスタＴＲ１に
供給することは困難な場合がある。そのような場合に
は、図７（ａ）に示すような直流電流ＩDCに交流電流Ｉ
AC’を重畳させたＩを流すような電圧をテスト端子３１
に印加し、その電流Ｉから直流成分ＩDCのみを第２のカ
レントミラーによって取り去ることによって、第１のト
ランジスタＴＲ１には図７（ｂ）に示すような電流振幅
の下部が０Ｖとなる電流波形ＩAC’を供給できる。
流が０であり、光の照射強度が強くなると電流が大きく
なる特性を有する。従って、光を照射したときにＰＤに
流れる電流と同じ特性の電流でテストをすることが電流
−電圧変換アンプ回路に求められる。しかしながら、図
７（ｂ）に示すように電流０を振幅の最小値とする電流
波形ＩAC’をテスト端子３１からトランジスタＴＲ１に
供給することは困難な場合がある。そのような場合に
は、図７（ａ）に示すような直流電流ＩDCに交流電流Ｉ
AC’を重畳させたＩを流すような電圧をテスト端子３１
に印加し、その電流Ｉから直流成分ＩDCのみを第２のカ
レントミラーによって取り去ることによって、第１のト
ランジスタＴＲ１には図７（ｂ）に示すような電流振幅
の下部が０Ｖとなる電流波形ＩAC’を供給できる。
【００３２】上述したように、ＮＰＮトランジスタＴＲ
３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ５１、Ｒ５２で構成される第２の
カレントミラーはこの直流成分ＩDCを生成するための回
路である。抵抗Ｒ５５、Ｒ５４によって分圧された電圧
を抵抗５３を介してＮＰＮトランジスタＴＲ３のコレク
タに加え、直流電流ＩDC’がトランジスタＴＲ３のコレ
クタに流れるように分圧電圧および構成要素の値を決定
する。この直流電流ＩDC’は、ＮＰＮトランジスタＴＲ
３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ５１、Ｒ５２で構成された第２の
カレントミラーを介しＩDCに変換される。
３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ５１、Ｒ５２で構成される第２の
カレントミラーはこの直流成分ＩDCを生成するための回
路である。抵抗Ｒ５５、Ｒ５４によって分圧された電圧
を抵抗５３を介してＮＰＮトランジスタＴＲ３のコレク
タに加え、直流電流ＩDC’がトランジスタＴＲ３のコレ
クタに流れるように分圧電圧および構成要素の値を決定
する。この直流電流ＩDC’は、ＮＰＮトランジスタＴＲ
３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ５１、Ｒ５２で構成された第２の
カレントミラーを介しＩDCに変換される。
【００３３】この実施例５の回路によれば、図７（ｃ）
に示すように電流ＩACは電流振幅の下部が正確に０Ｖと
なり、光を照射したときに流れるＰＤの電流特性に非常
に近い電流波形とすることができるために、実施例１よ
りも、より実際のＰＤの動作特性に近い電流を電流−電
圧変換アンプから引き込むことができる。
に示すように電流ＩACは電流振幅の下部が正確に０Ｖと
なり、光を照射したときに流れるＰＤの電流特性に非常
に近い電流波形とすることができるために、実施例１よ
りも、より実際のＰＤの動作特性に近い電流を電流−電
圧変換アンプから引き込むことができる。
【００３４】以上の説明したように、実施例５において
も、実施例４と同様にテスト端子３１に入力信号を印加
することによって、光照射を行うことなく、電流引き込
みタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプのテス
トを行うことができる。
も、実施例４と同様にテスト端子３１に入力信号を印加
することによって、光照射を行うことなく、電流引き込
みタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプのテス
トを行うことができる。
【００３５】実施例６ 図８は本発明の第６の実施例の電流−電圧変換アンプの
テスト回路の回路図である。図８において、ＴＲ１、Ｔ
Ｒ２はＮＰＮトランジスタ、ＴＲ３、ＴＲ４はＰＮＰト
ランジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ６１、Ｒ６２、Ｒ６３、Ｒ
ａ、Ｒｂは抵抗である。ＮＰＮトランジスタＴＲ１、Ｔ
Ｒ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２は第１のカレントミラーを構成
する。ＰＮＰトランジスタＴＲ３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ６
１、Ｒ６２は第２のカレントミラーを構成する。
テスト回路の回路図である。図８において、ＴＲ１、Ｔ
Ｒ２はＮＰＮトランジスタ、ＴＲ３、ＴＲ４はＰＮＰト
ランジスタ、Ｒ１、Ｒ２、Ｒ６１、Ｒ６２、Ｒ６３、Ｒ
ａ、Ｒｂは抵抗である。ＮＰＮトランジスタＴＲ１、Ｔ
Ｒ２及び抵抗Ｒ１、Ｒ２は第１のカレントミラーを構成
する。ＰＮＰトランジスタＴＲ３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ６
１、Ｒ６２は第２のカレントミラーを構成する。
【００３６】図９は、トランジスタＴＲ１に流れる電流
Ｉ’、トランジスタＴＲ２を流れる電流Ｉ、第２のカレ
ントミラー回路に流れる電流ＩDC、電流−電圧変換アン
プから引き込む電流ＩACの関係を示す図である。
Ｉ’、トランジスタＴＲ２を流れる電流Ｉ、第２のカレ
ントミラー回路に流れる電流ＩDC、電流−電圧変換アン
プから引き込む電流ＩACの関係を示す図である。
【００３７】次に動作について説明する。この回路も、
実施例５の回路と同様に、光を照射したときのＰＤの実
際の動作特性に近い電流を電流−電圧変換アンプから引
き込むように構成される。図９（ｂ）は光を照射したと
きのＰＤの動作特性に近い電流特性を有する電流ＩACを
示す。図９（ａ）は交流電流ＩACに直流電流ＩDCを重畳
させた電流Ｉ（＝ＩAC＋ＩDC）を示す。図８において
は、電流端子３２からＰＤの実際の動作特性に近い電流
をＩACを引き込むために、テスト端子３１は、図９
（ａ）に示す電流Ｉ’を流すような電圧Ｖｉｎを第１の
ＮＰＮトランジスタＴＲ１に供給する。第１のＮＰＮト
ランジスタＴＲ１を流れる電流Ｉ’はＮＰＮトランジス
タＴＲ１、ＴＲ２および抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成された第
１のカレントミラーによって電流Ｉに変換される。この
電流Ｉは図９（ａ）に示すように、交流電流ＩACに直流
電流ＩDCを重畳させた電流であるから、外部から電流Ｉ
DCを生成し電流ＩACに加える必要がある。
実施例５の回路と同様に、光を照射したときのＰＤの実
際の動作特性に近い電流を電流−電圧変換アンプから引
き込むように構成される。図９（ｂ）は光を照射したと
きのＰＤの動作特性に近い電流特性を有する電流ＩACを
示す。図９（ａ）は交流電流ＩACに直流電流ＩDCを重畳
させた電流Ｉ（＝ＩAC＋ＩDC）を示す。図８において
は、電流端子３２からＰＤの実際の動作特性に近い電流
をＩACを引き込むために、テスト端子３１は、図９
（ａ）に示す電流Ｉ’を流すような電圧Ｖｉｎを第１の
ＮＰＮトランジスタＴＲ１に供給する。第１のＮＰＮト
ランジスタＴＲ１を流れる電流Ｉ’はＮＰＮトランジス
タＴＲ１、ＴＲ２および抵抗Ｒ１、Ｒ２で構成された第
１のカレントミラーによって電流Ｉに変換される。この
電流Ｉは図９（ａ）に示すように、交流電流ＩACに直流
電流ＩDCを重畳させた電流であるから、外部から電流Ｉ
DCを生成し電流ＩACに加える必要がある。
【００３８】この直流成分ＩDCを生成するための回路が
ＰＮＰトランジスタＴＲ３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ６１、Ｒ
６２で構成される第２のカレントミラー回路である。第
２のカレントミラー回路は必要な直流成分ＩDCを生成す
るようにＰＮＰトランジスタの特性および抵抗Ｒ６１、
Ｒ６２、Ｒ６３の値が決定される。このように、実施例
６においては、ＮＰＮトランジスタＴＲ２のコレクタ電
流中の直流成分ＩDCはＰＮＰトランジスタＴＲ４のコレ
クタから供給されるため、電流−電圧変換アンプからは
交流成分ＩACのみを引き込むことができる。
ＰＮＰトランジスタＴＲ３、ＴＲ４及び抵抗Ｒ６１、Ｒ
６２で構成される第２のカレントミラー回路である。第
２のカレントミラー回路は必要な直流成分ＩDCを生成す
るようにＰＮＰトランジスタの特性および抵抗Ｒ６１、
Ｒ６２、Ｒ６３の値が決定される。このように、実施例
６においては、ＮＰＮトランジスタＴＲ２のコレクタ電
流中の直流成分ＩDCはＰＮＰトランジスタＴＲ４のコレ
クタから供給されるため、電流−電圧変換アンプからは
交流成分ＩACのみを引き込むことができる。
【００３９】この実施例６の回路によれば、図９（ｂ）
に示すように電流ＩACは、電流振幅の下部が正確に０Ｖ
となり、光を照射したときのＰＤの動作特性に非常に近
い電流波形とすることができるために、実施例１より
も、光を照射したときのＰＤの動作により近い電流を電
流−電圧変換アンプから引き込むことができる。
に示すように電流ＩACは、電流振幅の下部が正確に０Ｖ
となり、光を照射したときのＰＤの動作特性に非常に近
い電流波形とすることができるために、実施例１より
も、光を照射したときのＰＤの動作により近い電流を電
流−電圧変換アンプから引き込むことができる。
【００４０】以上の説明したように、実施例６において
も、実施例５と同様にテスト端子３１からテスト電圧を
印加することによって、光照射を行うことなく、電流を
引き込むタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプ
のテストを行うことができる。
も、実施例５と同様にテスト端子３１からテスト電圧を
印加することによって、光照射を行うことなく、電流を
引き込むタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプ
のテストを行うことができる。
【００４１】上述の説明においては、テスト電圧は正弦
波で示したが、矩形パルスを使用してもよい。また、上
述の説明においては、実施例２を除いては、電流を引き
込むタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプのテ
スト回路について述べたが、電流を流し込むタイプのＰ
Ｄを使用する電流−電圧変換アンプのテスト回路はＰＮ
Ｐトランジスタを使用することによって同様に構成でき
ることは実施例２から容易に理解できる。
波で示したが、矩形パルスを使用してもよい。また、上
述の説明においては、実施例２を除いては、電流を引き
込むタイプのＰＤを使用する電流−電圧変換アンプのテ
スト回路について述べたが、電流を流し込むタイプのＰ
Ｄを使用する電流−電圧変換アンプのテスト回路はＰＮ
Ｐトランジスタを使用することによって同様に構成でき
ることは実施例２から容易に理解できる。
【００４２】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、ＩＣの
チップ上にフォトダイオードと対になった電流−電圧変
換アンプのテスト回路を設けることによって、光照射を
行うことなく、電流−電圧変換アンプのテストを行うこ
とができる。さらに、予め光を照射したときのＰＤの電
流を測定しておき、その動作電流に近い電流を流すよう
な電圧をテスト端子から供給することによって、ＰＤの
動作特性に非常に近い電流を電流−電圧変換アンプから
引き込むことができる。
チップ上にフォトダイオードと対になった電流−電圧変
換アンプのテスト回路を設けることによって、光照射を
行うことなく、電流−電圧変換アンプのテストを行うこ
とができる。さらに、予め光を照射したときのＰＤの電
流を測定しておき、その動作電流に近い電流を流すよう
な電圧をテスト端子から供給することによって、ＰＤの
動作特性に非常に近い電流を電流−電圧変換アンプから
引き込むことができる。
【００４３】本発明においては、このような電流−電圧
変換アンプのテスト回路を用いることによって、半導体
基板上のＰＤに実際に光を照射することなく、半導体基
板上に設けられたテスト端子に電圧を印加するだけで、
光を照射した場合と同様のテストが可能となり、短時間
に簡単にテストが完了する。また、非常に高価な測定回
路が不要になると共に、人手による測定を省略でき、迅
速で非常に経済的な電流−電圧変換アンプのテストがで
きる。従って、その経済的な効果は大きく、安価な半導
体を供給することができる。
変換アンプのテスト回路を用いることによって、半導体
基板上のＰＤに実際に光を照射することなく、半導体基
板上に設けられたテスト端子に電圧を印加するだけで、
光を照射した場合と同様のテストが可能となり、短時間
に簡単にテストが完了する。また、非常に高価な測定回
路が不要になると共に、人手による測定を省略でき、迅
速で非常に経済的な電流−電圧変換アンプのテストがで
きる。従って、その経済的な効果は大きく、安価な半導
体を供給することができる。
【図１】図１は本発明の第１の実施例による電流−電圧
変換アンプのテスト回路を示す図である。
変換アンプのテスト回路を示す図である。
【図２】図２はテスト端子に印加されるテスト電圧Ｖｉ
ｎ、カレントミラー回路に流れる電流Ｉおよび光センサ
の出力端子に現れる出力電圧Ｖｏｕｔとの関係を示す図
である。
ｎ、カレントミラー回路に流れる電流Ｉおよび光センサ
の出力端子に現れる出力電圧Ｖｏｕｔとの関係を示す図
である。
【図３】図３は本発明の第２の実施例による電流−電圧
変換アンプのテスト回路を示す図である。
変換アンプのテスト回路を示す図である。
【図４】図４は本発明の第３の実施例による電流−電圧
変換アンプのテスト回路を示す図である。
変換アンプのテスト回路を示す図である。
【図５】図５は本発明の第４の実施例による電流−電圧
変換アンプのテスト回路を示す図である。
変換アンプのテスト回路を示す図である。
【図６】図６は本発明の第５の実施例による電流−電圧
変換アンプのテスト回路を示す図である。
変換アンプのテスト回路を示す図である。
【図７】図７はテスト端子から供給される電流Ｉ、第１
のカレントミラー回路に流れる各電流ＩAC、ＩAC’およ
び第２のカレントミラー回路に流れる電流ＩDCの関係を
示す図である。
のカレントミラー回路に流れる各電流ＩAC、ＩAC’およ
び第２のカレントミラー回路に流れる電流ＩDCの関係を
示す図である。
【図８】図８は本発明の第６の実施例による電流−電圧
変換アンプのテスト回路を示す図である。
変換アンプのテスト回路を示す図である。
【図９】図９はテスト端子から供給される電流Ｉ’、第
１および第２のカレントミラー回路を流れる各電流Ｉ、
ＩACの関係を示す図である。
１および第２のカレントミラー回路を流れる各電流Ｉ、
ＩACの関係を示す図である。
【図１０】従来の電流−電圧変換アンプのテスト回路を
示す図である。
示す図である。
１０ 光センサ １１ 出力端子 １２ フォトダイオード（ＰＤ） １４ 基準電源 ２０ 電流−電圧変換アンプ ２１ 増幅器 ３１ テスト端子 ３２〜３４ 電流端子 ３７ ベース寄生容量 ３８ 直流電源 ３９ 電流源 Ｒ１、Ｒ２、Ｒ２２ 抵抗 Ｒａ 電流制限用抵抗 Ｒｂ ノイズ対策用プルダウン抵抗 ＴＲ１、ＴＲ２、ＴＲ３、ＴＲ４ トランジスタ Ｒ５１、Ｒ５２、Ｒ５３、Ｒ５４、Ｒ５５ 抵抗 Ｒ６１、Ｒ６２、Ｒ６３ 抵抗
Claims (14)
- 【請求項１】 第１のＮＰＮトランジスタと第２のＮＰ
Ｎトランジスタからなるカレントミラー回路と、 テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第１の
ＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された第３の抵
抗と、 第２のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続される電流
端子とを有し、 前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の電
流端子に接続された被測定回路から電流を引き込むこと
を特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項２】 請求項１記載の電流−電圧変換アンプの
テスト回路において、 前記カレントミラー回路は、第１のＮＰＮトランジスタ
のベースと第２のＮＰＮトランジスタのベースは互に接
続され、第１のＮＰＮトランジスタのエミッタは第１の
抵抗の一端に接続され、第２のＮＰＮトランジスタのエ
ミッタは第２の抵抗の一端に接続され、前記第２のＮＰ
Ｎトランジスタのベースが前記第１のＮＰＮトランジス
タのコレクタに接続され、前記第１および第２の抵抗の
他端は接地されることを特徴とする電流−電圧変換アン
プのテスト回路。 - 【請求項３】 第１のＰＮＰトランジスタと第２のＰＮ
Ｐトランジスタからなるカレントミラー回路と、 テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第１の
ＰＮＰトランジスタのエミッタ間に接続された第３の抵
抗と、 第２のＰＮＰトランジスタのエミッタに接続される電流
端子とを有し、 前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の電
流端子に接続された被測定回路に電流を流し込むことを
特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項４】 請求項３記載の電流−電圧変換アンプの
テスト回路において、 前記カレントミラー回路は、第１のＰＮＰトランジスタ
のベースと第２のＰＮＰトランジスタのベースは互に接
続され、第１のＰＮＰトランジスタのエミッタは第１の
抵抗の一端に接続され、第２のＰＮＰトランジスタのエ
ミッタは第２の抵抗の一端に接続され、前記第２のＰＮ
Ｐトランジスタのベースが前記第１のＰＮＰトランジス
タのコレクタに接続され、前記第１および第２の抵抗の
他端は直流電源に接続されることを特徴とする電流−電
圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項５】 ｎ個のＮＰＮトランジスタからなるカレ
ントミラー回路と、 テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第１の
ＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された第３の抵
抗と、 前記ｎ−１個のＮＰＮトランジスタのコレクタにそれぞ
れ接続される複数の電流端子とを有し、 前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の複
数の電流端子に接続された複数の被測定回路から電流を
引き込むことを特徴とする電流−電圧変換アンプのテス
ト回路。 - 【請求項６】 請求項５記載の電流−電圧変換アンプの
テスト回路において、 前記カレントミラー回路のｎ個のＮＰＮトランジスタの
ベースは互に接続され、ｎ番目のＮＰＮトランジスタの
エミッタはｎ番目の抵抗の一端に接続され、第２のＮＰ
Ｎトランジスタのベースは第１のＮＰＮトランジスタの
コレクタに接続され、ｎ個の抵抗の他端は接地されるこ
とを特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項７】 請求項６記載の電流−電圧変換アンプの
テスト回路において、 さらに、１つのＮＰＮトランジスタを有し、そのベース
は第１のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続され、そ
のエミッタは第１のＮＰＮトランジスタのベースに接続
され、そのコレクタは直流電源に接続されていることを
特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項８】 請求項７記載の電流−電圧変換アンプの
テスト回路において、 前記のＮＰＮトランジスタのコレクタは電流源を介して
直流電源に接続されていることを特徴とする電流−電圧
変換アンプのテスト回路。 - 【請求項９】 第１および第２のＮＰＮトランジスタか
らなる第１のカレントミラー回路と、 第３および第４のＮＰＮトランジスタからなる第２のカ
レントミラー回路と、 テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第１の
ＮＰＮトランジスタのコレクタおよび第４のＮＰＮトラ
ンジスタのコレクタ間に接続された第５の抵抗と、 第２のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続される電流
端子と、 第３のＮＰＮトランジスタのコレクタに接続される電流
供給回路とを有し、 前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の電
流端子に接続された被測定回路から電流を引き込むこと
を特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項１０】 請求項９記載の電流−電圧変換アンプ
のテスト回路において、 前記電流供給回路は、直流電源とアース間に直列接続さ
れた第７の抵抗と第８の抵抗と、その接続点と第３のＮ
ＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された第６の抵抗
とから構成されることを特徴とする電流−電圧変換アン
プのテスト回路。 - 【請求項１１】 請求項１０記載の電流−電圧変換アン
プのテスト回路において、 前記第１のカレントミラー回路は、第１のＮＰＮトラン
ジスタのベースと第２のＮＰＮトランジスタのベースが
互に接続され、第１のＮＰＮトランジスタのエミッタが
第１の抵抗の一端に接続され、第２のＮＰＮトランジス
タのエミッタが第２の抵抗の一端に接続され、前記第２
のＮＰＮトランジスタのベースが前記第１のＮＰＮトラ
ンジスタのコレクタに接続され、前記第１および第２の
抵抗の他端は接地され、 前記第２のカレントミラー回路は、第３のＮＰＮトラン
ジスタのベースと第４のＮＰＮトランジスタのベースが
互に接続され、第３のＮＰＮトランジスタのエミッタが
第３の抵抗の一端に接続され、第４のＮＰＮトランジス
タのエミッタが第４の抵抗の一端に接続され、前記第４
のＮＰＮトランジスタのベースが前記第３のＮＰＮトラ
ンジスタのコレクタに接続され、前記第３および第４の
抵抗の他端は接地されることを特徴とする電流−電圧変
換アンプのテスト回路。 - 【請求項１２】 第１および第２のＮＰＮトランジスタ
からなる第１のカレントミラー回路と、 第３および第４のＰＮＰトランジスタからなる第２のカ
レントミラー回路と、 テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第１の
ＮＰＮトランジスタのコレクタ間に接続された第５の抵
抗と、 第２のＮＰＮトランジスタのコレクタおよび第４のＰＮ
Ｐトランジスタのコレクタに接続される電流端子と、 第３のＰＮＰトランジスタのコレクタとアースとの間に
接続された第６の抵抗と、 前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の電
流端子に接続された被測定回路から電流を引き込むこと
を特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項１３】 請求項１２記載の電流−電圧変換アン
プのテスト回路において、 前記第１のカレントミラー回路は、第１のＮＰＮトラン
ジスタのベースと第２のＮＰＮトランジスタのベースが
互に接続され、第１のＮＰＮトランジスタのエミッタが
第１の抵抗の一端に接続され、第２のＮＰＮトランジス
タのエミッタが第２の抵抗の一端に接続され、前記第２
のＮＰＮトランジスタのベースが前記第１のＮＰＮトラ
ンジスタのコレクタに接続され、前記第１および第２の
抵抗の他端は接地され、 前記第２のカレントミラー回路は、第３のＰＮＰトラン
ジスタのベースと第４のＰＮＰトランジスタのベースが
互に接続され、第３のＰＮＰトランジスタのエミッタが
第３の抵抗の一端に接続され、第４のＰＮＰトランジス
タのエミッタが第４の抵抗の一端に接続され、前記第４
のＰＮＰトランジスタのベースが前記第３のＰＮＰトラ
ンジスタのコレクタに接続され、前記第３および第４の
抵抗の他端が直流電源に接続されることを特徴とする電
流−電圧変換アンプのテスト回路。 - 【請求項１４】 請求項１から１３のいずれかに記載の
電流−電圧変換アンプのテスト回路において、 さらに、前記入力端子とアース間に接続された抵抗を有
することを特徴とする電流−電圧変換アンプのテスト回
路。
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