JPH08126337A - インバータ装置 - Google Patents
インバータ装置Info
- Publication number
- JPH08126337A JPH08126337A JP6260489A JP26048994A JPH08126337A JP H08126337 A JPH08126337 A JP H08126337A JP 6260489 A JP6260489 A JP 6260489A JP 26048994 A JP26048994 A JP 26048994A JP H08126337 A JPH08126337 A JP H08126337A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- power semiconductor
- semiconductor element
- life
- time
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Inverter Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 電力用半導体素子に流れる電流の急激な変化
により電力用半導体素子とヒートスプレッダ間に発生し
た温度差による熱ストレスを考慮して電力用半導体素子
の寿命判定をする。 【構成】 電流検出部１１０からの検出電流と放熱フィ
ン温度検出部１２０からの検出温度に応じてトランジス
タ１０７の温度を推定するトランジスタ温度推定部２０
と、推定温度の変化における振幅に基いてトランジスタ
１０７の熱ストレス回数Ｓｔ1 を演算・積算するトラン
ジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１及び推定温度の
変化における割合に基いてトランジスタ１０７の熱スト
レス回数Ｓｔ2 を演算・積算するトランジスタ温度変化
率熱ストレス演算部２３の出力Ｓｔ1 、Ｓｔ2 とトラン
ジスタ１０７の固有の許容熱ストレス回数とを比較し
て、トランジスタ１０７が寿命となったか否かを判定す
るトランジスタ寿命判定部２２ａとから構成される。
により電力用半導体素子とヒートスプレッダ間に発生し
た温度差による熱ストレスを考慮して電力用半導体素子
の寿命判定をする。 【構成】 電流検出部１１０からの検出電流と放熱フィ
ン温度検出部１２０からの検出温度に応じてトランジス
タ１０７の温度を推定するトランジスタ温度推定部２０
と、推定温度の変化における振幅に基いてトランジスタ
１０７の熱ストレス回数Ｓｔ1 を演算・積算するトラン
ジスタ温度変化幅熱ストレス演算部２１及び推定温度の
変化における割合に基いてトランジスタ１０７の熱スト
レス回数Ｓｔ2 を演算・積算するトランジスタ温度変化
率熱ストレス演算部２３の出力Ｓｔ1 、Ｓｔ2 とトラン
ジスタ１０７の固有の許容熱ストレス回数とを比較し
て、トランジスタ１０７が寿命となったか否かを判定す
るトランジスタ寿命判定部２２ａとから構成される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、インバータ装置に関
するものである。
するものである。
【０００２】
【従来の技術】インバータ装置の主回路部を構成するコ
ンバータ部のダイオード、インバータ部のトランジスタ
及び帰還ダイオードなどの電力用半導体素子の寿命判定
については、従来は定期点検時に電力用半導体素子の各
端子間抵抗チェック等で行っていた。しかし、電力用半
導体素子の寿命は周囲温度や使用条件により大きく左右
され、劣化はある時期より急激に進むことが多いため、
異常を発見できず使用中にインバータ装置の故障となる
場合があった。
ンバータ部のダイオード、インバータ部のトランジスタ
及び帰還ダイオードなどの電力用半導体素子の寿命判定
については、従来は定期点検時に電力用半導体素子の各
端子間抵抗チェック等で行っていた。しかし、電力用半
導体素子の寿命は周囲温度や使用条件により大きく左右
され、劣化はある時期より急激に進むことが多いため、
異常を発見できず使用中にインバータ装置の故障となる
場合があった。
【０００３】図８および図９は、例えば特開平３−２６
１８７７号公報に示された従来のインバータ装置の構成
図および電力用半導体素子の寿命を判定するインバータ
装置内の制御部の構成図であり、電力用半導体素子内の
ジャンクション温度の上昇、下降による熱疲労により電
力用半導体素子の寿命を推定し、寿命に達した部品を表
示することにより、作業者が容易に判断できるようにな
り、故障を未然に防ぐというもので、以下説明する。
１８７７号公報に示された従来のインバータ装置の構成
図および電力用半導体素子の寿命を判定するインバータ
装置内の制御部の構成図であり、電力用半導体素子内の
ジャンクション温度の上昇、下降による熱疲労により電
力用半導体素子の寿命を推定し、寿命に達した部品を表
示することにより、作業者が容易に判断できるようにな
り、故障を未然に防ぐというもので、以下説明する。
【０００４】図８において、１００はインバータ装置、
２００は交流電源、３００はインバータ装置１００の負
荷としての誘導電動機、１０１は交流電源２００からの
交流電力を直流電力に変換するコンバータ部、１０２は
直流電力を交流電力に変換するインバータ部、１０３は
コンバータ部１０１またはインバータ部１０２で生ずる
電圧リプルを吸収する平滑回路部、１０４はコンバータ
部１０１、インバータ部１０２及び平滑回路部１０３と
から構成される主回路部である。主回路部１０４内にお
いて、１０５は整流ダイオード、１０６は平滑コンデン
サ、１０７はトランジスタ、１０８はトランジスタ１０
７と逆並列に接続される帰還ダイオードであり、整流ダ
イオード１０５、トランジスタ１０７及び帰還ダイオー
ド１０８を以下電力用半導体素子と記す。
２００は交流電源、３００はインバータ装置１００の負
荷としての誘導電動機、１０１は交流電源２００からの
交流電力を直流電力に変換するコンバータ部、１０２は
直流電力を交流電力に変換するインバータ部、１０３は
コンバータ部１０１またはインバータ部１０２で生ずる
電圧リプルを吸収する平滑回路部、１０４はコンバータ
部１０１、インバータ部１０２及び平滑回路部１０３と
から構成される主回路部である。主回路部１０４内にお
いて、１０５は整流ダイオード、１０６は平滑コンデン
サ、１０７はトランジスタ、１０８はトランジスタ１０
７と逆並列に接続される帰還ダイオードであり、整流ダ
イオード１０５、トランジスタ１０７及び帰還ダイオー
ド１０８を以下電力用半導体素子と記す。
【０００５】また、１１０はインバータ装置１００の出
力電流を検出する電流検出部、１２０はインバータ装置
の放熱フィン（図示せず）に取付けられた温度検出部、
１３０は主回路部１０４を駆動するための制御信号を与
える制御部、１３１は制御部１３０の指令によりトラン
ジスタ１０７を駆動するトランジスタ駆動部、１４０は
制御部１３０での演算結果や設定データ等を表示する表
示部である。なお、主回路部１０４を構成する電力用半
導体素子は、図示しない放熱フィンに取付けられてい
る。
力電流を検出する電流検出部、１２０はインバータ装置
の放熱フィン（図示せず）に取付けられた温度検出部、
１３０は主回路部１０４を駆動するための制御信号を与
える制御部、１３１は制御部１３０の指令によりトラン
ジスタ１０７を駆動するトランジスタ駆動部、１４０は
制御部１３０での演算結果や設定データ等を表示する表
示部である。なお、主回路部１０４を構成する電力用半
導体素子は、図示しない放熱フィンに取付けられてい
る。
【０００６】図９において１１０は電力用半導体素子に
流れる電流に応じた電流を検出する電流検出部、１２０
は放熱フィンの温度を検出する放熱フィン温度検出部、
２０は電流検出部１１０より得られる検出電流と放熱フ
ィン温度検出部１２０より得られる検出温度よりトラン
ジスタのジャンクション温度を推定するトランジスタ温
度推定部、２１はトランジスタのジャンクション温度の
変化幅を検出し、トランジスタの疲労程度を示す熱スト
レス回数を求めるトランジスタ温度変化幅熱ストレス演
算部、２２は熱ストレス回数が疲労限界に達したことを
判定するトランジスタ寿命判定部、１４０は熱ストレス
回数が疲労限界に達したときアラームを表示する表示部
である。図においてダイオード温度推定部３０、ダイオ
ード温度変化幅熱ストレス演算部３１、ダイオード寿命
判定部３２は対象をトランジスタからダイオードに置き
換えたもので、トランジスタ温度推定部２０、トランジ
スタ温度変化幅熱ストレス演算部２１、トランジスタ寿
命判定部２２と同様の処理を行うものである。
流れる電流に応じた電流を検出する電流検出部、１２０
は放熱フィンの温度を検出する放熱フィン温度検出部、
２０は電流検出部１１０より得られる検出電流と放熱フ
ィン温度検出部１２０より得られる検出温度よりトラン
ジスタのジャンクション温度を推定するトランジスタ温
度推定部、２１はトランジスタのジャンクション温度の
変化幅を検出し、トランジスタの疲労程度を示す熱スト
レス回数を求めるトランジスタ温度変化幅熱ストレス演
算部、２２は熱ストレス回数が疲労限界に達したことを
判定するトランジスタ寿命判定部、１４０は熱ストレス
回数が疲労限界に達したときアラームを表示する表示部
である。図においてダイオード温度推定部３０、ダイオ
ード温度変化幅熱ストレス演算部３１、ダイオード寿命
判定部３２は対象をトランジスタからダイオードに置き
換えたもので、トランジスタ温度推定部２０、トランジ
スタ温度変化幅熱ストレス演算部２１、トランジスタ寿
命判定部２２と同様の処理を行うものである。
【０００７】図１０はインバータ装置の運転、停止に伴
う電力用半導体素子内部のジャンクション温度Ｔj の変
化の一例を示すグラフである。図において、曲線１５０
はトランジスタ温度推定部２０又はダイオード温度推定
部３０で求めたトランジスタ又はダイオードのジャンク
ション温度の変化を示すもので、ＴjL0 ，ＴjL2 は極小
値、ＴjU1 ，ＴjU2 は極大値、ＴjW1 ，ＴjW2 ，ＴjW3
はジャンクション温度の変化の振幅（以下、温度変化幅
と記す）である。
う電力用半導体素子内部のジャンクション温度Ｔj の変
化の一例を示すグラフである。図において、曲線１５０
はトランジスタ温度推定部２０又はダイオード温度推定
部３０で求めたトランジスタ又はダイオードのジャンク
ション温度の変化を示すもので、ＴjL0 ，ＴjL2 は極小
値、ＴjU1 ，ＴjU2 は極大値、ＴjW1 ，ＴjW2 ，ＴjW3
はジャンクション温度の変化の振幅（以下、温度変化幅
と記す）である。
【０００８】また、図１１はトランジスタ温度変化幅熱
ストレス演算部２１及びダイオード温度変化幅熱ストレ
ス演算部３１の演算のフローチャートである。以下、図
１１を中心に図８ないし図１０のトランジスタ１０７を
例として動作の説明をする。図９のトランジスタ温度変
化幅熱ストレス演算部２１では、トランジスタ温度推定
部２０で推定した図８のトランジスタ１０７のジャンク
ション温度Ｔj の変化が図１０の曲線１５０に示すよう
に上昇から下降、または下降から上昇との極値となった
かを確認し、温度変化値の最大値、または最小値と判断
し、温度変化幅を求め、この温度変化幅より熱ストレス
を演算している。以下具体的な動作を図１１のフローに
よって説明する。図１１のステップ４１１は、トランジ
スタ１０７のジャンクション温度Ｔj が最大または最小
かをチェックするもので、最大または最小でない場合
は、ＮＯに進み無処理でエンドへ抜ける。
ストレス演算部２１及びダイオード温度変化幅熱ストレ
ス演算部３１の演算のフローチャートである。以下、図
１１を中心に図８ないし図１０のトランジスタ１０７を
例として動作の説明をする。図９のトランジスタ温度変
化幅熱ストレス演算部２１では、トランジスタ温度推定
部２０で推定した図８のトランジスタ１０７のジャンク
ション温度Ｔj の変化が図１０の曲線１５０に示すよう
に上昇から下降、または下降から上昇との極値となった
かを確認し、温度変化値の最大値、または最小値と判断
し、温度変化幅を求め、この温度変化幅より熱ストレス
を演算している。以下具体的な動作を図１１のフローに
よって説明する。図１１のステップ４１１は、トランジ
スタ１０７のジャンクション温度Ｔj が最大または最小
かをチェックするもので、最大または最小でない場合
は、ＮＯに進み無処理でエンドへ抜ける。
【０００９】また、トランジスタジャンクション温度Ｔ
j が最大または最小の場合はＹＥＳに進み、ステップ４
１２に於て最小値と次の最大値の差または最大値と次の
最小値の差ΔＴjWを求め、即ち、図１０の、ΔＴjW1 ，
ΔＴjW2 ，ΔＴjW3 を求め、次のステップ４１３で図８
のトランジスタ１０７の寿命を、温度変化に起因する熱
ストレスと置換え、１回の温度変化幅に対する熱ストレ
スを次式により算出し、熱ストレス回数とする。 ΔＳｔ1 ＝（ΔＴjW／ΔＴjs）2 ・１／２ ここで、ΔＳｔ1 は１回の温度変化幅に対する熱ストレ
ス回数、ΔＴjWは温度変化幅、ΔＴjsは主回路部１０４
のトランジスタ１０７の寿命を許容する熱ストレス回数
と置き換える際の基準となる基準温度差である。
j が最大または最小の場合はＹＥＳに進み、ステップ４
１２に於て最小値と次の最大値の差または最大値と次の
最小値の差ΔＴjWを求め、即ち、図１０の、ΔＴjW1 ，
ΔＴjW2 ，ΔＴjW3 を求め、次のステップ４１３で図８
のトランジスタ１０７の寿命を、温度変化に起因する熱
ストレスと置換え、１回の温度変化幅に対する熱ストレ
スを次式により算出し、熱ストレス回数とする。 ΔＳｔ1 ＝（ΔＴjW／ΔＴjs）2 ・１／２ ここで、ΔＳｔ1 は１回の温度変化幅に対する熱ストレ
ス回数、ΔＴjWは温度変化幅、ΔＴjsは主回路部１０４
のトランジスタ１０７の寿命を許容する熱ストレス回数
と置き換える際の基準となる基準温度差である。
【００１０】次にステップ４１４により累積値であるト
ランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 に、１回の
温度変化幅による熱ストレス回数ΔＳｔ1 を加算し、 Ｓｔ1←Ｓｔ1＋ΔＳｔ1 Ｓｔ1 を演算し、エンドとなる。上記の様に、トランジ
スタのジャンクション温度Ｔj が極値となる毎に、トラ
ンジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 が更新される
ことになる。
ランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 に、１回の
温度変化幅による熱ストレス回数ΔＳｔ1 を加算し、 Ｓｔ1←Ｓｔ1＋ΔＳｔ1 Ｓｔ1 を演算し、エンドとなる。上記の様に、トランジ
スタのジャンクション温度Ｔj が極値となる毎に、トラ
ンジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 が更新される
ことになる。
【００１１】次いで、図９のトランジスタ寿命判定部２
２において、上記トランジスタ温度変化幅熱ストレス演
算部２１で演算したトランジスタ温度変化幅熱ストレス
回数Ｓｔ1 とあらかじめ設定したトランジスタ１０７の
固有の寿命から求められたトランジスタ許容熱ストレス
回数Ｓｔmax と比較することにより、トランジスタ１０
７が疲労に達したか否かを判定し、トランジスタ温度変
化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 が許容熱ストレス回数を越え
た場合には、図９の表示部１４０にてトランジスタ１０
７が寿命となった旨アラーム表示をする。
２において、上記トランジスタ温度変化幅熱ストレス演
算部２１で演算したトランジスタ温度変化幅熱ストレス
回数Ｓｔ1 とあらかじめ設定したトランジスタ１０７の
固有の寿命から求められたトランジスタ許容熱ストレス
回数Ｓｔmax と比較することにより、トランジスタ１０
７が疲労に達したか否かを判定し、トランジスタ温度変
化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 が許容熱ストレス回数を越え
た場合には、図９の表示部１４０にてトランジスタ１０
７が寿命となった旨アラーム表示をする。
【００１２】又、上記では電力用半導体素子のうちトラ
ンジスタ１０７について説明したが、ダイオード１０５
及び１０８についても同様であり、説明を省略する。
ンジスタ１０７について説明したが、ダイオード１０５
及び１０８についても同様であり、説明を省略する。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】以上、説明した様に従
来のインバータ装置１００の主回路部１０４に使用され
ている電力用半導体素子の寿命については、電力用半導
体素子で発生する熱の温度変化による疲労を、温度変化
幅による熱ストレスとしてとらえ、判定を行っていた。
又、電力用半導体素子の実装においても、配線板上にダ
イボンディングされることが多くなってきている。即
ち、図１２は図８のインバータ装置１００の主回路部１
０４を構成するインバータ部１０２のトランジスタ１０
７の実装における要部拡大図であって、トランジスタ１
０７は図示するごとく、トランジスタ１０７の発熱を放
出するためのヒートスプレッダ１６０上に接合部材１６
１を介して保持され、ボンディングワイヤ１６２により
配線板１６３上のリード１６４と接続されており、１６
５は放熱フィンである。又、図１２は電力用半導体素子
としてトランジスタ１０７の例を示したがダイオード１
０５及び１０８の場合も同様である。
来のインバータ装置１００の主回路部１０４に使用され
ている電力用半導体素子の寿命については、電力用半導
体素子で発生する熱の温度変化による疲労を、温度変化
幅による熱ストレスとしてとらえ、判定を行っていた。
又、電力用半導体素子の実装においても、配線板上にダ
イボンディングされることが多くなってきている。即
ち、図１２は図８のインバータ装置１００の主回路部１
０４を構成するインバータ部１０２のトランジスタ１０
７の実装における要部拡大図であって、トランジスタ１
０７は図示するごとく、トランジスタ１０７の発熱を放
出するためのヒートスプレッダ１６０上に接合部材１６
１を介して保持され、ボンディングワイヤ１６２により
配線板１６３上のリード１６４と接続されており、１６
５は放熱フィンである。又、図１２は電力用半導体素子
としてトランジスタ１０７の例を示したがダイオード１
０５及び１０８の場合も同様である。
【００１４】従来のものは、熱ストレスにおいて図１２
のトランジスタ１０７とヒートスプレッダ１６０とを同
程度の温度として一緒に扱っていたが、急峻な立上り、
立下りが要求される工作機械用、又は正転、逆転などの
繰返し頻度の高い荷役搬送用などの用途においては、電
力用半導体素子に流れる電流の急激な変化によるトラン
ジスタ１０７などの電力用半導体素子とヒートスプレッ
ダ１６０間に発生する温度差を考慮しなくては、電力用
半導体素子とヒートスプレッダ間の接合部材１６１の疲
労を十分に判断することができないという問題点があっ
た。
のトランジスタ１０７とヒートスプレッダ１６０とを同
程度の温度として一緒に扱っていたが、急峻な立上り、
立下りが要求される工作機械用、又は正転、逆転などの
繰返し頻度の高い荷役搬送用などの用途においては、電
力用半導体素子に流れる電流の急激な変化によるトラン
ジスタ１０７などの電力用半導体素子とヒートスプレッ
ダ１６０間に発生する温度差を考慮しなくては、電力用
半導体素子とヒートスプレッダ間の接合部材１６１の疲
労を十分に判断することができないという問題点があっ
た。
【００１５】また、電力用半導体素子の寿命となる疲労
破壊のレベルに達した時点でアラームとする処理を行っ
ていたため、寿命になる以前にインバータ装置の使用方
法を改善するなどの延命処置ができないという問題点が
あった。
破壊のレベルに達した時点でアラームとする処理を行っ
ていたため、寿命になる以前にインバータ装置の使用方
法を改善するなどの延命処置ができないという問題点が
あった。
【００１６】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたもので、電力用半導体素子とヒートスプ
レッダ間に発生する温度差を考慮した接合部材の疲労を
判断することができるとともに、電力用半導体素子の寿
命になる以前に使用方法を改善するなどの延命処置がで
きるインバータ装置を得ることを目的としている。
ためになされたもので、電力用半導体素子とヒートスプ
レッダ間に発生する温度差を考慮した接合部材の疲労を
判断することができるとともに、電力用半導体素子の寿
命になる以前に使用方法を改善するなどの延命処置がで
きるインバータ装置を得ることを目的としている。
【００１７】
【課題を解決するための手段】この発明におけるインバ
ータ装置は、電力用半導体素子に流れる電流に応じた電
流を検出する電流検出手段からの検出電流と電力用半導
体素子に発生する熱に応じた温度を検出する温度検出手
段からの検出温度とに応じて温度推定手段で推定した電
力用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基いて
電力用半導体素子の熱ストレスを演算し、積算する温度
変化幅熱ストレス演算手段、及び推定温度の変化におけ
る割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
し、積算する温度変化率熱ストレス演算手段の出力と電
力用半導体素子の固有の許容熱ストレスとを使用して、
電力用半導体素子の寿命を演算する寿命演算手段とを備
えたものである。
ータ装置は、電力用半導体素子に流れる電流に応じた電
流を検出する電流検出手段からの検出電流と電力用半導
体素子に発生する熱に応じた温度を検出する温度検出手
段からの検出温度とに応じて温度推定手段で推定した電
力用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基いて
電力用半導体素子の熱ストレスを演算し、積算する温度
変化幅熱ストレス演算手段、及び推定温度の変化におけ
る割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
し、積算する温度変化率熱ストレス演算手段の出力と電
力用半導体素子の固有の許容熱ストレスとを使用して、
電力用半導体素子の寿命を演算する寿命演算手段とを備
えたものである。
【００１８】また、この発明のインバータ装置は、電力
用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出する電流
検出手段からの検出電流と電力用半導体素子に発生する
熱に応じた温度を検出する温度検出手段からの検出温度
とに応じて温度推定手段で電力用半導体素子の温度を推
定し、運転時間を設定する運転時間設定手段で設定され
た設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける振幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
する設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段、及
び、運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力用
半導体素子の推定温度の変化における割合に基いて電力
用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度
変化率熱ストレス演算手段の出力に基いて算出した設定
時間当りの熱ストレスと期待寿命時間設定手段で設定さ
れた電力用半導体素子の期待寿命時間から求められた設
定時間当りの許容熱ストレスとを比較し、算出された電
力用半導体素子の寿命が期待寿命時間を越えていないか
を判定する設定時間当り寿命判定手段とを備えたもので
ある。
用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出する電流
検出手段からの検出電流と電力用半導体素子に発生する
熱に応じた温度を検出する温度検出手段からの検出温度
とに応じて温度推定手段で電力用半導体素子の温度を推
定し、運転時間を設定する運転時間設定手段で設定され
た設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける振幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
する設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段、及
び、運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力用
半導体素子の推定温度の変化における割合に基いて電力
用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度
変化率熱ストレス演算手段の出力に基いて算出した設定
時間当りの熱ストレスと期待寿命時間設定手段で設定さ
れた電力用半導体素子の期待寿命時間から求められた設
定時間当りの許容熱ストレスとを比較し、算出された電
力用半導体素子の寿命が期待寿命時間を越えていないか
を判定する設定時間当り寿命判定手段とを備えたもので
ある。
【００１９】また、この発明のインバータ装置は、電力
用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出する電流
検出手段からの検出電流と電力用半導体素子に発生する
熱に応じた温度を検出する温度検出手段からの検出温度
とに応じて温度推定手段で電力用半導体素子の温度を推
定し、運転時間を設定する運転時間設定手段で設定され
た設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける振幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
する設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段、及び
運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力用半導
体素子の推定温度の変化における割合に基いて電力用半
導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化
率熱ストレス演算手段の出力に基いて電力用半導体素子
の運転可能寿命を推定する寿命推定手段とを備えたもの
である。
用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出する電流
検出手段からの検出電流と電力用半導体素子に発生する
熱に応じた温度を検出する温度検出手段からの検出温度
とに応じて温度推定手段で電力用半導体素子の温度を推
定し、運転時間を設定する運転時間設定手段で設定され
た設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける振幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
する設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段、及び
運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力用半導
体素子の推定温度の変化における割合に基いて電力用半
導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化
率熱ストレス演算手段の出力に基いて電力用半導体素子
の運転可能寿命を推定する寿命推定手段とを備えたもの
である。
【００２０】さらに、この発明によるインバータ装置
は、電力用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出
する電流検出手段からの検出電流と電力用半導体素子に
発生する熱に応じた温度を検出する温度検出手段からの
検出温度とに応じて温度推定手段で電力用半導体素子の
温度を推定し、電力用半導体素子の期待される寿命時間
を設定する期待寿命時間設定手段と、運転時間を設定す
る運転時間設定手段と、運転時間設定手段で設定された
運転時間における電力用半導体素子の寿命の判定または
寿命の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択をす
る運転時間チェック選択手段とで設定された設定データ
を記憶する設定データ記憶手段と、運転時間チェック選
択が無効の場合には電力用半導体素子の推定温度の変化
における振幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを
演算・積算し、有効の場合には更に設定時間毎に電力用
半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変
化幅熱ストレス演算手段と、運転時間チェック選択が無
効の場合には、電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
・積算し、有効の場合には更に設定時間毎に電力用半導
体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化率
熱ストレス演算手段と、運転時間チェック選択が無効の
場合には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及
び設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力と
電力用半導体素子の固有の熱ストレスとを比較し電力用
半導体素子が寿命になったか否かを判定し、有効の場合
には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及び設
定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力に基い
て算出した設定時間当りの熱ストレスと期待寿命時間設
定手段で設定された期待寿命時間から求められた設定時
間当り許容熱ストレスとを比較し、電力用半導体素子の
寿命が期待寿命時間を越えていないかを判定する設定時
間当り寿命判定手段と、運転時間チェック選択が有効の
場合、電力用半導体素子の運転可能寿命を推定する寿命
推定手段とを備えたものである。
は、電力用半導体素子に流れる電流に応じた電流を検出
する電流検出手段からの検出電流と電力用半導体素子に
発生する熱に応じた温度を検出する温度検出手段からの
検出温度とに応じて温度推定手段で電力用半導体素子の
温度を推定し、電力用半導体素子の期待される寿命時間
を設定する期待寿命時間設定手段と、運転時間を設定す
る運転時間設定手段と、運転時間設定手段で設定された
運転時間における電力用半導体素子の寿命の判定または
寿命の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択をす
る運転時間チェック選択手段とで設定された設定データ
を記憶する設定データ記憶手段と、運転時間チェック選
択が無効の場合には電力用半導体素子の推定温度の変化
における振幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを
演算・積算し、有効の場合には更に設定時間毎に電力用
半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変
化幅熱ストレス演算手段と、運転時間チェック選択が無
効の場合には、電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
・積算し、有効の場合には更に設定時間毎に電力用半導
体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化率
熱ストレス演算手段と、運転時間チェック選択が無効の
場合には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及
び設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力と
電力用半導体素子の固有の熱ストレスとを比較し電力用
半導体素子が寿命になったか否かを判定し、有効の場合
には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及び設
定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力に基い
て算出した設定時間当りの熱ストレスと期待寿命時間設
定手段で設定された期待寿命時間から求められた設定時
間当り許容熱ストレスとを比較し、電力用半導体素子の
寿命が期待寿命時間を越えていないかを判定する設定時
間当り寿命判定手段と、運転時間チェック選択が有効の
場合、電力用半導体素子の運転可能寿命を推定する寿命
推定手段とを備えたものである。
【００２１】さらにまた、この発明によるインバータ装
置は、寿命判定手段、設定時間当り寿命判定手段または
寿命推定手段の出力を表示する表示手段を備えたもので
ある。
置は、寿命判定手段、設定時間当り寿命判定手段または
寿命推定手段の出力を表示する表示手段を備えたもので
ある。
【００２２】
【作用】この発明におけるインバータ装置はその寿命演
算手段が、電力用半導体素子の推定温度の変化における
振幅に基いて前記電力用半導体素子の熱ストレスを演算
し、積算する温度変化幅熱ストレス演算手段及び電力用
半導体素子の推定温度の変化における割合に基いて前記
電力用半導体素子の熱ストレスを演算し、積算する温度
変化率熱ストレス演算手段の出力と電力用半導体素子の
固有の許容熱ストレスとを使用して、電力用半導体素子
の寿命を演算するので、電力用半導体素子に流れる電流
の急激な変化による電力半導体素子とヒートスプレッダ
間に発生する温度差にも考慮されたものとなる。
算手段が、電力用半導体素子の推定温度の変化における
振幅に基いて前記電力用半導体素子の熱ストレスを演算
し、積算する温度変化幅熱ストレス演算手段及び電力用
半導体素子の推定温度の変化における割合に基いて前記
電力用半導体素子の熱ストレスを演算し、積算する温度
変化率熱ストレス演算手段の出力と電力用半導体素子の
固有の許容熱ストレスとを使用して、電力用半導体素子
の寿命を演算するので、電力用半導体素子に流れる電流
の急激な変化による電力半導体素子とヒートスプレッダ
間に発生する温度差にも考慮されたものとなる。
【００２３】また、この発明のインバータ装置は、その
設定時間当り寿命判定手段が、寿命時間を比較する運転
時間を設定する運転時間設定手段で設定された設定時間
毎に電力用半導体素子の推定温度の変化における振幅に
基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時
間当り温度変化幅熱ストレス演算手段、及び運転時間設
定手段で設定された設定時間毎に電力用半導体素子の推
定温度の変化における割合に基いて電力用半導体素子の
熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化率熱ストレ
ス演算手段の出力に基いて算出した設定時間当りの熱ス
トレスと期待寿命時間設定手段で設定された電力用半導
体素子の期待寿命時間から求められた設定時間当りの許
容熱ストレスとを比較し、算出された電力用半導体素子
の寿命が前記期待寿命時間を越えていないかを判定した
ので、設定時間の運転で期待寿命時間だけ運転可能か否
かの判定が可能となる。
設定時間当り寿命判定手段が、寿命時間を比較する運転
時間を設定する運転時間設定手段で設定された設定時間
毎に電力用半導体素子の推定温度の変化における振幅に
基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時
間当り温度変化幅熱ストレス演算手段、及び運転時間設
定手段で設定された設定時間毎に電力用半導体素子の推
定温度の変化における割合に基いて電力用半導体素子の
熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化率熱ストレ
ス演算手段の出力に基いて算出した設定時間当りの熱ス
トレスと期待寿命時間設定手段で設定された電力用半導
体素子の期待寿命時間から求められた設定時間当りの許
容熱ストレスとを比較し、算出された電力用半導体素子
の寿命が前記期待寿命時間を越えていないかを判定した
ので、設定時間の運転で期待寿命時間だけ運転可能か否
かの判定が可能となる。
【００２４】また、この発明によるインバータ装置は、
その寿命判定手段が、寿命時間を比較する運転時間を設
定する運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力
用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基いて電
力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温
度変化幅熱ストレス演算手段、及び運転時間設定手段で
設定された設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の
変化における割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレ
スを演算する設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手
段の出力に基いて電力用半導体素子の運転可能寿命を推
定するので、その運転可能寿命がわかる。
その寿命判定手段が、寿命時間を比較する運転時間を設
定する運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力
用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基いて電
力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温
度変化幅熱ストレス演算手段、及び運転時間設定手段で
設定された設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の
変化における割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレ
スを演算する設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手
段の出力に基いて電力用半導体素子の運転可能寿命を推
定するので、その運転可能寿命がわかる。
【００２５】また、この発明のインバータ装置によれ
ば、その運転時間チェック選択手段が、寿命時間を比較
する運転時間を設定する運転時間設定手段で設定された
運転時間における電力用半導体素子の寿命の判定または
寿命の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択をす
る。また、この発明の設定時間当り温度変化幅熱ストレ
ス演算手段は、運転時間チェック選択が無効の場合には
電力用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基い
て電力用半導体素子の熱ストレスを演算・積算し、有効
の場合には更に設定時間毎に電力用半導体素子の熱スト
レスを演算する。また、この発明の設定時間当り温度変
化率熱ストレス演算手段は、運転時間チェック選択が無
効の場合には、電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
・積算し、有効の場合には更に設定時間毎に前記電力用
半導体素子の熱ストレスを演算する。また、この発明の
設定時間当り寿命判定手段は、運転時間チェック選択が
無効の場合には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算
手段及び設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の
出力と電力用半導体素子の固有の熱ストレスとを比較し
電力用半導体素子が寿命になったか否かを判定し、有効
の場合には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段
及び設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力
に基いて算出した設定時間当りの熱ストレスと期待寿命
時間設定手段で設定された期待寿命時間から求められた
設定時間当り許容熱ストレスとを比較し、電力用半導体
素子の寿命が期待寿命時間を越えていないかを判定す
る。また、この発明の寿命推定手段は、運転時間チェッ
ク選択が有効の場合、電力用半導体素子の運転可能寿命
を推定する。
ば、その運転時間チェック選択手段が、寿命時間を比較
する運転時間を設定する運転時間設定手段で設定された
運転時間における電力用半導体素子の寿命の判定または
寿命の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択をす
る。また、この発明の設定時間当り温度変化幅熱ストレ
ス演算手段は、運転時間チェック選択が無効の場合には
電力用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基い
て電力用半導体素子の熱ストレスを演算・積算し、有効
の場合には更に設定時間毎に電力用半導体素子の熱スト
レスを演算する。また、この発明の設定時間当り温度変
化率熱ストレス演算手段は、運転時間チェック選択が無
効の場合には、電力用半導体素子の推定温度の変化にお
ける割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算
・積算し、有効の場合には更に設定時間毎に前記電力用
半導体素子の熱ストレスを演算する。また、この発明の
設定時間当り寿命判定手段は、運転時間チェック選択が
無効の場合には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算
手段及び設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の
出力と電力用半導体素子の固有の熱ストレスとを比較し
電力用半導体素子が寿命になったか否かを判定し、有効
の場合には設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段
及び設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力
に基いて算出した設定時間当りの熱ストレスと期待寿命
時間設定手段で設定された期待寿命時間から求められた
設定時間当り許容熱ストレスとを比較し、電力用半導体
素子の寿命が期待寿命時間を越えていないかを判定す
る。また、この発明の寿命推定手段は、運転時間チェッ
ク選択が有効の場合、電力用半導体素子の運転可能寿命
を推定する。
【００２６】さらにまた、この発明のインバータ装置に
よれば、表示手段は寿命判定手段、設定時間当り寿命判
定手段、または寿命推定手段の出力を表示するので、電
力用半導体素子の寿命、また設定時間の運転で期待寿命
だけ運転可能か否か、また設定時間の運転における運転
可能寿命が容易に判別できる。
よれば、表示手段は寿命判定手段、設定時間当り寿命判
定手段、または寿命推定手段の出力を表示するので、電
力用半導体素子の寿命、また設定時間の運転で期待寿命
だけ運転可能か否か、また設定時間の運転における運転
可能寿命が容易に判別できる。
【００２７】
実施例１．図１は、この発明の一実施例による電力用半
導体素子の寿命を判定する制御部の構成図である。図に
おいて、図８〜図１２と同一符号は同一又は相当部分を
示すもので、２３は電力用半導体素子としての図８のト
ランジスタ１０７の温度変化の割合に基いてトランジス
タ１０７の熱ストレス回数を演算・積算するトランジス
タ温度変化率熱ストレス演算部、２２ａはトランジスタ
温度変化幅熱ストレス演算部２１とトランジスタ温度変
化率熱ストレス演算部２３の出力に基いてトランジスタ
１０７の寿命を演算するトランジスタ寿命演算部、３３
は図８のダイオード１０５及び１０８の温度変化の割合
に基いてダイオード１０５及び１０８の熱ストレス回数
を演算・積算するダイオード温度変化率熱ストレス演算
部、３２ａはダイオード温度変化幅熱ストレス演算部３
１とダイオード温度変化率熱ストレス演算部３３の出力
に基いてダイオード１０５及び１０９の寿命を演算する
ダイオード寿命演算部である。また、３８はトランジス
タ温度変化幅熱ストレス演算部２１、トランジスタ温度
変化率熱ストレス演算部２３、トランジスタ寿命判定部
２２ａ、ダイオード温度変化幅熱ストレス演算部３１、
ダイオード温度変化率熱ストレス演算部３３、ダイオー
ド寿命判定部３２ａの出力データを記憶する記憶部、３
９はトランジスタおよびダイオードの固有の寿命を設定
する設定部である。
導体素子の寿命を判定する制御部の構成図である。図に
おいて、図８〜図１２と同一符号は同一又は相当部分を
示すもので、２３は電力用半導体素子としての図８のト
ランジスタ１０７の温度変化の割合に基いてトランジス
タ１０７の熱ストレス回数を演算・積算するトランジス
タ温度変化率熱ストレス演算部、２２ａはトランジスタ
温度変化幅熱ストレス演算部２１とトランジスタ温度変
化率熱ストレス演算部２３の出力に基いてトランジスタ
１０７の寿命を演算するトランジスタ寿命演算部、３３
は図８のダイオード１０５及び１０８の温度変化の割合
に基いてダイオード１０５及び１０８の熱ストレス回数
を演算・積算するダイオード温度変化率熱ストレス演算
部、３２ａはダイオード温度変化幅熱ストレス演算部３
１とダイオード温度変化率熱ストレス演算部３３の出力
に基いてダイオード１０５及び１０９の寿命を演算する
ダイオード寿命演算部である。また、３８はトランジス
タ温度変化幅熱ストレス演算部２１、トランジスタ温度
変化率熱ストレス演算部２３、トランジスタ寿命判定部
２２ａ、ダイオード温度変化幅熱ストレス演算部３１、
ダイオード温度変化率熱ストレス演算部３３、ダイオー
ド寿命判定部３２ａの出力データを記憶する記憶部、３
９はトランジスタおよびダイオードの固有の寿命を設定
する設定部である。
【００２８】図２はインバータ装置の運転、停止に伴う
電力用半導体素子内部のジャンクション温度Ｔj 及び温
度変化率｜ｄＴj ／ｄｔ｜の変化の一例を示すグラフで
ある。図において、曲線１５１は電力用半導体素子のジ
ャンクション温度Ｔj の時間変化の例、曲線１５２はジ
ャンクション温度Ｔj の変化に対応したジャンクション
温度Ｔj の変化の割合（温度変化率｜ｄＴj ／ｄｔ｜）
を示しており、電力用半導体素子を流れる急激な電流の
変化により発生する熱により、図１２のトランジスタ１
０７とヒートスプレッダ１６０間に生ずる温度差を考慮
した熱ストレス回数を算出するために使用する。
電力用半導体素子内部のジャンクション温度Ｔj 及び温
度変化率｜ｄＴj ／ｄｔ｜の変化の一例を示すグラフで
ある。図において、曲線１５１は電力用半導体素子のジ
ャンクション温度Ｔj の時間変化の例、曲線１５２はジ
ャンクション温度Ｔj の変化に対応したジャンクション
温度Ｔj の変化の割合（温度変化率｜ｄＴj ／ｄｔ｜）
を示しており、電力用半導体素子を流れる急激な電流の
変化により発生する熱により、図１２のトランジスタ１
０７とヒートスプレッダ１６０間に生ずる温度差を考慮
した熱ストレス回数を算出するために使用する。
【００２９】また、図３は図１のトランジスタ温度変化
率熱ストレス演算部２３及びダイオード温度変化率熱ス
トレス演算部３３の演算のフローチャートである。以
下、この発明の実施例１について図３のフローチャート
を中心に図８のトランジスタ１０７を例として図１及び
図２により動作の説明をする。まずステップ５０１に於
て、図１のトランジスタ温度変化率熱ストレス演算部２
３では、トランジスタ温度推定部２０の出力である図２
（ａ）のトランジスタジャンクション温度Ｔj の時間変
化曲線１５１から、温度の変化の割合（以後、温度変化
率と記す）ΔＴjaを、例えばあらかじめ設定したごく短
い一定時間Δｔ内のトランジスタジャンクション温度Ｔ
j の温度変化幅として次式 ΔＴja＝｜ΔＴj ／Δｔ｜ として算出する。次に、ステップ５０２で温度変化率Δ
Ｔjaを電力用半導体素子の固有な式として、例えばΔＳ
ｔ2 ＝ｍ（ｎ・｜ΔＴja｜）k を用い、Δｔ時間当りの
温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2 を算出する。ここ
で、ｍ，ｎ，ｋは電力用半導体素子の形状、部材の材質
によって決まる定数である。
率熱ストレス演算部２３及びダイオード温度変化率熱ス
トレス演算部３３の演算のフローチャートである。以
下、この発明の実施例１について図３のフローチャート
を中心に図８のトランジスタ１０７を例として図１及び
図２により動作の説明をする。まずステップ５０１に於
て、図１のトランジスタ温度変化率熱ストレス演算部２
３では、トランジスタ温度推定部２０の出力である図２
（ａ）のトランジスタジャンクション温度Ｔj の時間変
化曲線１５１から、温度の変化の割合（以後、温度変化
率と記す）ΔＴjaを、例えばあらかじめ設定したごく短
い一定時間Δｔ内のトランジスタジャンクション温度Ｔ
j の温度変化幅として次式 ΔＴja＝｜ΔＴj ／Δｔ｜ として算出する。次に、ステップ５０２で温度変化率Δ
Ｔjaを電力用半導体素子の固有な式として、例えばΔＳ
ｔ2 ＝ｍ（ｎ・｜ΔＴja｜）k を用い、Δｔ時間当りの
温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2 を算出する。ここ
で、ｍ，ｎ，ｋは電力用半導体素子の形状、部材の材質
によって決まる定数である。
【００３０】次にステップ５０３によりΔｔ時間当りの
温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2と、所定値ΔＳｔ2S
と大小比較を行い、ΔＳｔ2 ＜ΔＳｔ2Sの場合にはＮＯ
へ進み無処理でエンドへ抜ける。また、ΔＳｔ2 ≧ΔＳ
ｔ2Sの場合は、ＹＥＳに進みステップ５０４により積算
値であるトランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2
にΔｔ時間当りの温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2 を
加算し、 Ｓｔ2 ←Ｓｔ2 ＋ΔＳｔ2 Ｓｔ2 を演算し、エンドとなる。
温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2と、所定値ΔＳｔ2S
と大小比較を行い、ΔＳｔ2 ＜ΔＳｔ2Sの場合にはＮＯ
へ進み無処理でエンドへ抜ける。また、ΔＳｔ2 ≧ΔＳ
ｔ2Sの場合は、ＹＥＳに進みステップ５０４により積算
値であるトランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2
にΔｔ時間当りの温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2 を
加算し、 Ｓｔ2 ←Ｓｔ2 ＋ΔＳｔ2 Ｓｔ2 を演算し、エンドとなる。
【００３１】上記図３のフローチャートではΔｔ時間当
りの温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2 が、所定値ΔＳ
ｔ2S以上の場合のみ、トランジスタ温度変化率熱ストレ
ス回数Ｓｔ2 に加算したが、大小判別せずに加算しても
よい。
りの温度変化率熱ストレス回数ΔＳｔ2 が、所定値ΔＳ
ｔ2S以上の場合のみ、トランジスタ温度変化率熱ストレ
ス回数Ｓｔ2 に加算したが、大小判別せずに加算しても
よい。
【００３２】次に、図１のトランジスタ寿命演算部２２
ａでは、熱ストレス回数Ｓｔをトランジスタ温度変化幅
熱ストレス演算部２１で演算し、積算したトランジスタ
温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 とトランジスタ温度変
化率熱ストレス演算部２３で演算し、積算したトランジ
スタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 とを加算し、 Ｓｔ＝Ｓｔ1 ＋Ｓｔ2 あらかじめ設定されたトランジスタ１０７固有の寿命か
ら求められた許容熱ストレス回数Ｓｔmax と比較するこ
とにより、トランジスタ１０７が疲労に達したか否かを
判定し、熱ストレス回数Ｓｔが許容熱ストレス回数を越
えた場合には、図１の表示部１４０に対してトランジス
タ１０７が寿命となった旨のアラーム表示指令などのア
ラーム処理を行う。又、許容熱ストレス回数Ｓｔmax か
ら熱ストレス回数Ｓｔを減算し、あらかじめ設定された
トランジスタ１０７固有の寿命をｔmax として下式によ
り、残りの寿命時間ｔrem を求め、 ｔrem ＝ｔmax ×｛（Ｓｔmax −Ｓｔ）／Ｓｔmax ｝ 図１の表示部１４０に残りの寿命時間として表示指令を
行う。
ａでは、熱ストレス回数Ｓｔをトランジスタ温度変化幅
熱ストレス演算部２１で演算し、積算したトランジスタ
温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 とトランジスタ温度変
化率熱ストレス演算部２３で演算し、積算したトランジ
スタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 とを加算し、 Ｓｔ＝Ｓｔ1 ＋Ｓｔ2 あらかじめ設定されたトランジスタ１０７固有の寿命か
ら求められた許容熱ストレス回数Ｓｔmax と比較するこ
とにより、トランジスタ１０７が疲労に達したか否かを
判定し、熱ストレス回数Ｓｔが許容熱ストレス回数を越
えた場合には、図１の表示部１４０に対してトランジス
タ１０７が寿命となった旨のアラーム表示指令などのア
ラーム処理を行う。又、許容熱ストレス回数Ｓｔmax か
ら熱ストレス回数Ｓｔを減算し、あらかじめ設定された
トランジスタ１０７固有の寿命をｔmax として下式によ
り、残りの寿命時間ｔrem を求め、 ｔrem ＝ｔmax ×｛（Ｓｔmax −Ｓｔ）／Ｓｔmax ｝ 図１の表示部１４０に残りの寿命時間として表示指令を
行う。
【００３３】又、上記図３及び図１１の熱ストレス回数
Ｓｔ1 、Ｓｔ2 の演算のフローチャートはインバータ装
置の電源投入後は繰り返し起動され、常時熱ストレス回
数Ｓｔ1 、Ｓｔ2 を積算するものである。又、上記説明
では１回の温度変化幅によるトランジスタ温度変化幅熱
ストレス回数ΔＳｔ1 の算出において、インバータ装置
１００の運転中についてトランジスタ１０７のジャンク
ション温度Ｔj の最大値、最小値の判定を極値であるか
否かで判定している例を示したが、電源投入後の初回の
ΔＳｔ1 算出については、電源投入時に電流検出部１１
０の検出した検出電流及び放熱フィン温度検出部１２０
の検出した検出温度に応じてトランジスタ温度推定部２
０で推定した温度を初回の最小値または最大値として使
用する。又、電源ＯＦＦを含む１回の温度変化幅による
トランジスタ温度変化幅熱ストレス回数ΔＳｔ1 の算出
については、電源ＯＦＦ時に最後に判定したトランジス
タ１０７のジャンクション温度Ｔj の極値及び電源ＯＦ
Ｆ時の検出電流、検出温度を記憶部（図示せず）にセー
ブしておき、次回電源投入時に行うようにすることで対
応可能である。上記のようにトランジスタ温度変化幅熱
ストレス回数とトランジスタ温度変化率熱ストレス回数
とから求めた熱ストレス回数をトランジスタの許容熱ス
トレス回数と比較して、トランジスタの疲労を判定する
ようにしたので、トランジスタに流れる電流の急激な変
化によりトランジスタとヒートスプレッダ間に発生する
温度差をも考慮したトランジスタの寿命判定ができるよ
うになる。又、上記では電力用半導体素子のうち図８の
トランジスタ１０７について説明したが、ダイオード１
０５及び１０８についても同様であり、説明を省略す
る。
Ｓｔ1 、Ｓｔ2 の演算のフローチャートはインバータ装
置の電源投入後は繰り返し起動され、常時熱ストレス回
数Ｓｔ1 、Ｓｔ2 を積算するものである。又、上記説明
では１回の温度変化幅によるトランジスタ温度変化幅熱
ストレス回数ΔＳｔ1 の算出において、インバータ装置
１００の運転中についてトランジスタ１０７のジャンク
ション温度Ｔj の最大値、最小値の判定を極値であるか
否かで判定している例を示したが、電源投入後の初回の
ΔＳｔ1 算出については、電源投入時に電流検出部１１
０の検出した検出電流及び放熱フィン温度検出部１２０
の検出した検出温度に応じてトランジスタ温度推定部２
０で推定した温度を初回の最小値または最大値として使
用する。又、電源ＯＦＦを含む１回の温度変化幅による
トランジスタ温度変化幅熱ストレス回数ΔＳｔ1 の算出
については、電源ＯＦＦ時に最後に判定したトランジス
タ１０７のジャンクション温度Ｔj の極値及び電源ＯＦ
Ｆ時の検出電流、検出温度を記憶部（図示せず）にセー
ブしておき、次回電源投入時に行うようにすることで対
応可能である。上記のようにトランジスタ温度変化幅熱
ストレス回数とトランジスタ温度変化率熱ストレス回数
とから求めた熱ストレス回数をトランジスタの許容熱ス
トレス回数と比較して、トランジスタの疲労を判定する
ようにしたので、トランジスタに流れる電流の急激な変
化によりトランジスタとヒートスプレッダ間に発生する
温度差をも考慮したトランジスタの寿命判定ができるよ
うになる。又、上記では電力用半導体素子のうち図８の
トランジスタ１０７について説明したが、ダイオード１
０５及び１０８についても同様であり、説明を省略す
る。
【００３４】実施例２．図４はこの発明の他の実施例に
よる電力用半導体素子の寿命を判定又は推測する制御部
の構成図である。図において、図１と同一符号は同一又
は相当部分を示し、その説明を省略する。３８ａはトラ
ンジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２
４、トランジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演
算部２５、トランジスタサイクル時間寿命判定部２６、
ダイオードサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部３
４、ダイオードサイクル時間温度変化率熱ストレス演算
部３５、ダイオードサイクル時間寿命判定部３６の出力
データを記憶する記憶部、３９ａはトランジスタおよび
ダイオードの固有の寿命を設定する設定部である。４０
は接合部材をも考慮した電力用半導体素子の期待寿命ｔ
1 を設定する期待寿命時間設定部、４１は設定期間当り
の平均熱ストレス回数を求めるためのサイクル時間ｔc
を設定する運転時間設定手段としてのサイクル時間設定
部、４２はサイクル時間設定部４１で設定されたサイク
ル時間ｔc により電力用半導体素子の寿命の判定または
寿命の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択を行
うサイクル時間チェック選択部、４３は期待寿命時間設
定部４０、サイクル時間設定部４１及びサイクル時間チ
ェック選択部４２で設定された設定データを記憶する設
定データ記憶部である。
よる電力用半導体素子の寿命を判定又は推測する制御部
の構成図である。図において、図１と同一符号は同一又
は相当部分を示し、その説明を省略する。３８ａはトラ
ンジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２
４、トランジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演
算部２５、トランジスタサイクル時間寿命判定部２６、
ダイオードサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部３
４、ダイオードサイクル時間温度変化率熱ストレス演算
部３５、ダイオードサイクル時間寿命判定部３６の出力
データを記憶する記憶部、３９ａはトランジスタおよび
ダイオードの固有の寿命を設定する設定部である。４０
は接合部材をも考慮した電力用半導体素子の期待寿命ｔ
1 を設定する期待寿命時間設定部、４１は設定期間当り
の平均熱ストレス回数を求めるためのサイクル時間ｔc
を設定する運転時間設定手段としてのサイクル時間設定
部、４２はサイクル時間設定部４１で設定されたサイク
ル時間ｔc により電力用半導体素子の寿命の判定または
寿命の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択を行
うサイクル時間チェック選択部、４３は期待寿命時間設
定部４０、サイクル時間設定部４１及びサイクル時間チ
ェック選択部４２で設定された設定データを記憶する設
定データ記憶部である。
【００３５】又、図において２４はサイクル時間チェッ
ク選択部４２の選択が無効の場合にはトランジスタ温度
推定部２０の出力である推定温度の変化における振幅に
基いてトランジスタ１０７の熱ストレスを演算・積算
し、有効の場合には更にサイクル時間設定部４１で設定
されたサイクル時間ｔc （一般にはサイクル運転の運転
時間、又は電源が投入されてから遮断されるまでの運転
時間として設定される）毎に熱ストレスを演算するトラ
ンジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部であ
る。２５はサイクル時間チェック選択部４２の選択が無
効の場合には、トランジスタ温度推定部２０の出力であ
る推定温度の変化における割合に基いてトランジスタ１
０７の熱ストレスを演算・積算し、有効の場合には更に
サイクル時間設定部４１で設定されたサイクル時間ｔc
毎に熱ストレスを演算するトランジスタサイクル時間温
度変化率熱ストレス演算部であり、通算の運転時間を積
算するタイマー機能を有する。２６はサイクル時間チェ
ック選択部４２の選択が無効の場合には、トランジスタ
サイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２４及びトラ
ンジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演算部２５
の出力とあらかじめ設定されたトランジスタ１０７固有
の寿命から求められた許容熱ストレス回数と比較してト
ランジスタ１０７が疲労に達したか否かを判定し、有効
の場合にはトランジスタサイクル時間温度変化幅熱スト
レス演算部２４及びトランジスタサイクル時間温度変化
率熱ストレス演算部２５の出力に基いて算出したサイク
ル時間当りの熱ストレス回数と期待寿命時間設定手段４
０で設定された期待寿命時間から求められたサイクル時
間当り許容熱ストレス回数とを比較し、トランジスタ１
０７の寿命が期待寿命時間を越えていないかを判定する
トランジスタサイクル時間寿命判定部である。２７はサ
イクル時間チェック選択部４２の選択が有効の場合、ト
ランジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２
４及びトランジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス
演算部２５の出力に基いて算出したサイクル時間当りの
熱ストレス回数よりトランジスタ１０７の運転可能寿命
を推定するトランジスタ寿命推定部である。また、３４
はダイオードサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算
部、３５はダイオードサイクル時間温度変化率熱ストレ
ス演算部、３６はダイオードサイクル時間寿命判定部、
３７はダイオード寿命推定部であり、これら３４〜３７
については、上記トランジスタサイクル時間温度変化幅
熱ストレス演算部２４、トランジスタサイクル時間温度
変化率熱ストレス演算部２５、トランジスタサイクル時
間寿命判定部２６、トランジスタ寿命判定部２７のトラ
ンジスタをダイオードに置き換えたものであり、同様の
働きであるので説明は省略する。
ク選択部４２の選択が無効の場合にはトランジスタ温度
推定部２０の出力である推定温度の変化における振幅に
基いてトランジスタ１０７の熱ストレスを演算・積算
し、有効の場合には更にサイクル時間設定部４１で設定
されたサイクル時間ｔc （一般にはサイクル運転の運転
時間、又は電源が投入されてから遮断されるまでの運転
時間として設定される）毎に熱ストレスを演算するトラ
ンジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部であ
る。２５はサイクル時間チェック選択部４２の選択が無
効の場合には、トランジスタ温度推定部２０の出力であ
る推定温度の変化における割合に基いてトランジスタ１
０７の熱ストレスを演算・積算し、有効の場合には更に
サイクル時間設定部４１で設定されたサイクル時間ｔc
毎に熱ストレスを演算するトランジスタサイクル時間温
度変化率熱ストレス演算部であり、通算の運転時間を積
算するタイマー機能を有する。２６はサイクル時間チェ
ック選択部４２の選択が無効の場合には、トランジスタ
サイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２４及びトラ
ンジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演算部２５
の出力とあらかじめ設定されたトランジスタ１０７固有
の寿命から求められた許容熱ストレス回数と比較してト
ランジスタ１０７が疲労に達したか否かを判定し、有効
の場合にはトランジスタサイクル時間温度変化幅熱スト
レス演算部２４及びトランジスタサイクル時間温度変化
率熱ストレス演算部２５の出力に基いて算出したサイク
ル時間当りの熱ストレス回数と期待寿命時間設定手段４
０で設定された期待寿命時間から求められたサイクル時
間当り許容熱ストレス回数とを比較し、トランジスタ１
０７の寿命が期待寿命時間を越えていないかを判定する
トランジスタサイクル時間寿命判定部である。２７はサ
イクル時間チェック選択部４２の選択が有効の場合、ト
ランジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２
４及びトランジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス
演算部２５の出力に基いて算出したサイクル時間当りの
熱ストレス回数よりトランジスタ１０７の運転可能寿命
を推定するトランジスタ寿命推定部である。また、３４
はダイオードサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算
部、３５はダイオードサイクル時間温度変化率熱ストレ
ス演算部、３６はダイオードサイクル時間寿命判定部、
３７はダイオード寿命推定部であり、これら３４〜３７
については、上記トランジスタサイクル時間温度変化幅
熱ストレス演算部２４、トランジスタサイクル時間温度
変化率熱ストレス演算部２５、トランジスタサイクル時
間寿命判定部２６、トランジスタ寿命判定部２７のトラ
ンジスタをダイオードに置き換えたものであり、同様の
働きであるので説明は省略する。
【００３６】図５は、図４のトランジスタサイクル時間
温度変化幅熱ストレス演算部２４及びダイオードサイク
ル時間温度変化幅熱ストレス演算部３４における演算の
フローチャートである。以下、この発明の実施例２の演
算部２４、３４のうち、トランジスタ１０７を例として
説明をする。先ず、ステップ４２０より図４のサイクル
時間チェック選択部４２の選択が有効か無効かをチェッ
クする。ここで、ＹＥＳの有効の場合にはステップ４２
１で引き続き、サイクル時間チェック処理中１フラグＯ
Ｎかをチェックし、ＮＯ（ＯＦＦ）の場合にはステップ
４２２に於てサイクル時間確認のため、タイマの時間ｔ
を初期化してカウントを開始するとともに、トランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 をサイクル時間当り
のトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数の初期値Ｓｔ
10としてセットし、サイクル時間チェック処理中１フラ
グをＯＮとする。またステップ４２０でＮＯの無効の場
合及びステップ４２１でＹＥＳ（ＯＮ）の場合には無処
理でステップ４２３に進む。
温度変化幅熱ストレス演算部２４及びダイオードサイク
ル時間温度変化幅熱ストレス演算部３４における演算の
フローチャートである。以下、この発明の実施例２の演
算部２４、３４のうち、トランジスタ１０７を例として
説明をする。先ず、ステップ４２０より図４のサイクル
時間チェック選択部４２の選択が有効か無効かをチェッ
クする。ここで、ＹＥＳの有効の場合にはステップ４２
１で引き続き、サイクル時間チェック処理中１フラグＯ
Ｎかをチェックし、ＮＯ（ＯＦＦ）の場合にはステップ
４２２に於てサイクル時間確認のため、タイマの時間ｔ
を初期化してカウントを開始するとともに、トランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 をサイクル時間当り
のトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数の初期値Ｓｔ
10としてセットし、サイクル時間チェック処理中１フラ
グをＯＮとする。またステップ４２０でＮＯの無効の場
合及びステップ４２１でＹＥＳ（ＯＮ）の場合には無処
理でステップ４２３に進む。
【００３７】次いで、図５のステップ４２３によりトラ
ンジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７
のジャンクション温度Ｔj が最大または最小かをチェッ
クし、最大または最小でないＮＯの場合は無処理でエン
ドに抜ける。ここで、ステップ４２３がＹＥＳとなる
と、ステップ４２４により図１１のステップ４１２ない
しステップ４１４と同様に１回の温度変化幅ΔＴjwを算
出し、１回の温度変化幅に対する熱ストレス回数ΔＳｔ
1 を算出するとともに、積算値であるトランジスタ温度
変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 を演算する（Ｓｔ1 ←Ｓｔ
1 ＋ΔＳｔ1 ）。
ンジスタ温度推定部２０で推定したトランジスタ１０７
のジャンクション温度Ｔj が最大または最小かをチェッ
クし、最大または最小でないＮＯの場合は無処理でエン
ドに抜ける。ここで、ステップ４２３がＹＥＳとなる
と、ステップ４２４により図１１のステップ４１２ない
しステップ４１４と同様に１回の温度変化幅ΔＴjwを算
出し、１回の温度変化幅に対する熱ストレス回数ΔＳｔ
1 を算出するとともに、積算値であるトランジスタ温度
変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 を演算する（Ｓｔ1 ←Ｓｔ
1 ＋ΔＳｔ1 ）。
【００３８】次いで、ステップ４２５でサイクル時間チ
ェック選択部４２の選択が有効か無効かをチェックし、
無効のＮＯの場合は無処理でエンドに抜ける。ここで、
有効のＹＥＳの場合は、ステップ４２６によりカウント
しているｔが図４のサイクル時間設定部４１で設定され
たサイクル時間ｔc に達したかどうかチェックし、ｔ＜
ｔc の場合には無処理でエンドに抜ける。又、ｔ≧ｔc
の場合には、次のステップ４２７に進みトランジスタ温
度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 をサイクル時間ｔc 運転
後のトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ11とし
てセットするとともに、サイクル時間当りのトランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1cとして、上記Ｓｔ11
とＳｔ10との差を求め、Ｓｔ1c、Ｓｔ11とを図４のトラ
ンジスタサイクル時間寿命判定部２６に送信するととも
に、サイクル時間チェック処理中１フラグをＯＦＦとす
る。
ェック選択部４２の選択が有効か無効かをチェックし、
無効のＮＯの場合は無処理でエンドに抜ける。ここで、
有効のＹＥＳの場合は、ステップ４２６によりカウント
しているｔが図４のサイクル時間設定部４１で設定され
たサイクル時間ｔc に達したかどうかチェックし、ｔ＜
ｔc の場合には無処理でエンドに抜ける。又、ｔ≧ｔc
の場合には、次のステップ４２７に進みトランジスタ温
度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 をサイクル時間ｔc 運転
後のトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ11とし
てセットするとともに、サイクル時間当りのトランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1cとして、上記Ｓｔ11
とＳｔ10との差を求め、Ｓｔ1c、Ｓｔ11とを図４のトラ
ンジスタサイクル時間寿命判定部２６に送信するととも
に、サイクル時間チェック処理中１フラグをＯＦＦとす
る。
【００３９】図６は、図４のトランジスタサイクル時間
温度変化率熱ストレス演算部２５及びダイオードサイク
ル時間温度変化率熱ストレス演算部３５における演算の
フローチャートである。以下、この発明の実施例２の演
算部２５、３５の動作のうち、図８のトランジスタ１０
７を例として説明する。先ず、ステップ５２０により図
４のサイクル時間チェック選択部４２の選択が有効か無
効かをチェックする。ここで、有効のＹＥＳの場合には
ステップ５２１により引き続き、サイクル時間チェック
処理中２フラグＯＮかをチェックし、ＮＯ（ＯＦＦ）の
場合にはステップ５２２によりサイクル時間確認のた
め、時間ｔを初期化してカウントを開始するとともに、
トランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 をサイク
ル時間当りのトランジスタ温度変化率熱ストレス回数の
初期値Ｓｔ20としてセットし、サイクル時間チェック処
理中２フラグをＯＮとする。またステップ５２０で無効
のＮＯの場合およびステップ５２１でＹＥＳ（ＯＮ）の
場合には無処理でステップ５２３に進む。
温度変化率熱ストレス演算部２５及びダイオードサイク
ル時間温度変化率熱ストレス演算部３５における演算の
フローチャートである。以下、この発明の実施例２の演
算部２５、３５の動作のうち、図８のトランジスタ１０
７を例として説明する。先ず、ステップ５２０により図
４のサイクル時間チェック選択部４２の選択が有効か無
効かをチェックする。ここで、有効のＹＥＳの場合には
ステップ５２１により引き続き、サイクル時間チェック
処理中２フラグＯＮかをチェックし、ＮＯ（ＯＦＦ）の
場合にはステップ５２２によりサイクル時間確認のた
め、時間ｔを初期化してカウントを開始するとともに、
トランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 をサイク
ル時間当りのトランジスタ温度変化率熱ストレス回数の
初期値Ｓｔ20としてセットし、サイクル時間チェック処
理中２フラグをＯＮとする。またステップ５２０で無効
のＮＯの場合およびステップ５２１でＹＥＳ（ＯＮ）の
場合には無処理でステップ５２３に進む。
【００４０】次いで、ステップ５２３により図３のステ
ップ５０１ないしステップ５０４と同様に、温度変化率
ΔＴjaを算出し、温度変化率ΔＴjaに対する熱ストレス
回数ΔＳｔ2 を算出するとともに、積算値であるトラン
ジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 を演算する（Ｓ
ｔ2 ←Ｓｔ2 ＋ΔＳｔ2 ）。
ップ５０１ないしステップ５０４と同様に、温度変化率
ΔＴjaを算出し、温度変化率ΔＴjaに対する熱ストレス
回数ΔＳｔ2 を算出するとともに、積算値であるトラン
ジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 を演算する（Ｓ
ｔ2 ←Ｓｔ2 ＋ΔＳｔ2 ）。
【００４１】次いで、ステップ５２４でサイクル時間チ
ェック選択部４２の選択が有効か無効かをチェックし、
無効のＮＯの場合は無処理でエンドに抜ける。ここで、
有効のＹＥＳの場合は、ステップ５２５によりカウント
しているｔがサイクル時間ｔc に達したかどうかチェッ
クし、ｔ＜ｔc の場合には無処理でエンドに抜ける。
又、ｔ≧ｔc の場合には、ステップ５２６へと進みトラ
ンジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 をサイクル時
間ｔc 運転後のトランジスタ温度変化率熱ストレス回数
Ｓｔ21としてセットするとともに、サイクル時間当りの
トランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2cとして、
上記Ｓｔ21とＳｔ20との差を求め、Ｓｔ2c、Ｓｔ21とを
図４のトランジスタサイクル時間寿命判定部２６に送信
するとともに、サイクル時間チェック処理中２フラグを
ＯＦＦとする。
ェック選択部４２の選択が有効か無効かをチェックし、
無効のＮＯの場合は無処理でエンドに抜ける。ここで、
有効のＹＥＳの場合は、ステップ５２５によりカウント
しているｔがサイクル時間ｔc に達したかどうかチェッ
クし、ｔ＜ｔc の場合には無処理でエンドに抜ける。
又、ｔ≧ｔc の場合には、ステップ５２６へと進みトラ
ンジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 をサイクル時
間ｔc 運転後のトランジスタ温度変化率熱ストレス回数
Ｓｔ21としてセットするとともに、サイクル時間当りの
トランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2cとして、
上記Ｓｔ21とＳｔ20との差を求め、Ｓｔ2c、Ｓｔ21とを
図４のトランジスタサイクル時間寿命判定部２６に送信
するとともに、サイクル時間チェック処理中２フラグを
ＯＦＦとする。
【００４２】図７は、図４のトランジスタサイクル時間
寿命判定部２６及びダイオードサイクル時間寿命判定部
３６の寿命判定のフローチャートである。以下、この発
明の実施例２の判定部２６、３６のうち、トランジスタ
１０７を例として説明する。先ず、ステップ６００によ
り図４のサイクル時間チェック選択部４２の選択が有効
か無効かをチェックする。ここで、有効のＹＥＳの場合
には引き続きステップ６０１によりサイクル時間チェッ
ク処理中３フラグＯＮかをチェックし、ＮＯ（ＯＦＦ）
の場合にはステップ６０２によりサイクル時間確認のた
めタイマの時間ｔを初期化してカウントを開始するとと
もに、サイクル時間チェック処理中３フラグをＯＮす
る。次いで、ステップ６０３でカウントしているｔがサ
イクル時間ｔc に達したかどうかチェックし、ｔ＜ｔc
の場合は無処理でエンドに抜ける。ここで、ｔ≧ｔc と
なった場合に次のステップ６０４が実行される。即ちこ
のステップは、トランジスタサイクル時間温度変化幅熱
ストレス演算部２４及びトランジスタサイクル時間温度
変化率熱ストレス演算部２５から出力されたトランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ11、サイクル時間当り
のトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1c、トラ
ンジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ21及びサイクル
時間当りのトランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ
2cを取込み、サイクル時間当りのトランジスタ熱ストレ
ス回数Ｓｔc を、Ｓｔc ＝Ｓｔ1c＋Ｓｔ2cとして算出す
る。次に、図４の期待寿命時間設定部４０で設定された
期待寿命時間ｔ1 とサイクル時間設定部４１で設定され
たサイクル時間ｔc とあらかじめ設定されたトランジス
タ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許容
熱ストレス回数Ｓｔmax とトランジスタ温度変化幅熱ス
トレス回数Ｓｔ11及びトランジスタ温度変化率熱ストレ
ス回数Ｓｔ21と、通算の運転時間ｔ2 から、下式により
トランジスタのサイクル時間当り許容熱ストレス回数Ｓ
ｔcmaxを求め、 Ｓｔcmax＝｛Ｓｔmax −（ｓｔ11＋Ｓｔ21）｝×（ｔc
／ｔ1 −ｔ2 ） サイクル時間チェック処理中３フラグをＯＦＦすること
になる。
寿命判定部２６及びダイオードサイクル時間寿命判定部
３６の寿命判定のフローチャートである。以下、この発
明の実施例２の判定部２６、３６のうち、トランジスタ
１０７を例として説明する。先ず、ステップ６００によ
り図４のサイクル時間チェック選択部４２の選択が有効
か無効かをチェックする。ここで、有効のＹＥＳの場合
には引き続きステップ６０１によりサイクル時間チェッ
ク処理中３フラグＯＮかをチェックし、ＮＯ（ＯＦＦ）
の場合にはステップ６０２によりサイクル時間確認のた
めタイマの時間ｔを初期化してカウントを開始するとと
もに、サイクル時間チェック処理中３フラグをＯＮす
る。次いで、ステップ６０３でカウントしているｔがサ
イクル時間ｔc に達したかどうかチェックし、ｔ＜ｔc
の場合は無処理でエンドに抜ける。ここで、ｔ≧ｔc と
なった場合に次のステップ６０４が実行される。即ちこ
のステップは、トランジスタサイクル時間温度変化幅熱
ストレス演算部２４及びトランジスタサイクル時間温度
変化率熱ストレス演算部２５から出力されたトランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ11、サイクル時間当り
のトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1c、トラ
ンジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ21及びサイクル
時間当りのトランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ
2cを取込み、サイクル時間当りのトランジスタ熱ストレ
ス回数Ｓｔc を、Ｓｔc ＝Ｓｔ1c＋Ｓｔ2cとして算出す
る。次に、図４の期待寿命時間設定部４０で設定された
期待寿命時間ｔ1 とサイクル時間設定部４１で設定され
たサイクル時間ｔc とあらかじめ設定されたトランジス
タ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許容
熱ストレス回数Ｓｔmax とトランジスタ温度変化幅熱ス
トレス回数Ｓｔ11及びトランジスタ温度変化率熱ストレ
ス回数Ｓｔ21と、通算の運転時間ｔ2 から、下式により
トランジスタのサイクル時間当り許容熱ストレス回数Ｓ
ｔcmaxを求め、 Ｓｔcmax＝｛Ｓｔmax −（ｓｔ11＋Ｓｔ21）｝×（ｔc
／ｔ1 −ｔ2 ） サイクル時間チェック処理中３フラグをＯＦＦすること
になる。
【００４３】次にステップ６０５にて、サイクル時間当
りのトランジスタ熱ストレス回数Ｓｔc が、トランジス
タのサイクル時間当り許容熱ストレス回数Ｓｔcmaxを越
えていないかをチェックし、Ｓｔc ＜Ｓｔcmaxの場合に
は、無処理でエンドに抜け、Ｓｔc ≧Ｓｔcmaxの場合に
はステップ６０６によりサイクル時間ｔc として設定し
た運転を継続した場合のトランジスタ１０７の寿命が期
待寿命時間ｔ1 だけの使用が出来ないことになるので、
図４の表示部１４０に対してのアラーム表示指令などア
ラーム処理を行う。
りのトランジスタ熱ストレス回数Ｓｔc が、トランジス
タのサイクル時間当り許容熱ストレス回数Ｓｔcmaxを越
えていないかをチェックし、Ｓｔc ＜Ｓｔcmaxの場合に
は、無処理でエンドに抜け、Ｓｔc ≧Ｓｔcmaxの場合に
はステップ６０６によりサイクル時間ｔc として設定し
た運転を継続した場合のトランジスタ１０７の寿命が期
待寿命時間ｔ1 だけの使用が出来ないことになるので、
図４の表示部１４０に対してのアラーム表示指令などア
ラーム処理を行う。
【００４４】上記ステップ６００のサイクル時間チェッ
ク選択部４２の選択がＮＯの無効となっている場合に
は、ステップ６１０により図４のトランジスタサイクル
時間温度変化幅熱ストレス演算部２４及びトランジスタ
サイクル時間温度変化率熱ストレス演算部２５で算出し
たトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 及びト
ランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 よりトラン
ジスタの熱ストレス回数Ｓｔを求める（Ｓｔ＝Ｓｔ1 ＋
Ｓｔ2 ）。
ク選択部４２の選択がＮＯの無効となっている場合に
は、ステップ６１０により図４のトランジスタサイクル
時間温度変化幅熱ストレス演算部２４及びトランジスタ
サイクル時間温度変化率熱ストレス演算部２５で算出し
たトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1 及びト
ランジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2 よりトラン
ジスタの熱ストレス回数Ｓｔを求める（Ｓｔ＝Ｓｔ1 ＋
Ｓｔ2 ）。
【００４５】次に、ステップ６１１によりトランジスタ
の熱ストレス回数Ｓｔとあらかじめ設定されたトランジ
スタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許
容熱ストレス回数Ｓｔmax とを比較し、Ｓｔ＜Ｓｔmax
の場合には、無処理でエンドに抜け、Ｓｔ≧Ｓｔmax の
場合にはステップ６１２により図４の表示部１４０に対
してのアラーム表示指令などアラーム処理を行う。
の熱ストレス回数Ｓｔとあらかじめ設定されたトランジ
スタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許
容熱ストレス回数Ｓｔmax とを比較し、Ｓｔ＜Ｓｔmax
の場合には、無処理でエンドに抜け、Ｓｔ≧Ｓｔmax の
場合にはステップ６１２により図４の表示部１４０に対
してのアラーム表示指令などアラーム処理を行う。
【００４６】図４のトランジスタ寿命推定部２７の処理
について以下説明する。あらかじめ設定されたトランジ
スタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許
容熱ストレス回数Ｓｔmax と、トランジスタ温度変化幅
熱ストレス回数Ｓｔ11、サイクル時間当りのトランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1cとトランジスタ温度
変化率熱ストレス回数Ｓｔ21、サイクル時間当りのトラ
ンジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2c、サイクル時
間設定部４１で設定されたサイクル時間ｔc とを使用し
て、下式により運転可能寿命ｔr を推定し、 ｔr ＝［｛Ｓｔmax −（Ｓｔ11＋Ｓｔ21）｝／（Ｓｔ1c
＋Ｓｔ2c）］×ｔc 表示部１４０に対して出力する。上記のように、サイク
ル時間当りのトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数と
サイクル時間当りトランジスタ温度変化率熱ストレス回
数をもとにトランジスタのサイクル時間当りの許容熱ス
トレス回数と比較し、トランジスタの寿命が期待寿命だ
けの使用が出来るか否かの判定及びまたトランジスタの
運転可能寿命を推定するようにしたので、トランジスタ
に流れる電流の急激な変化によりトランジスタとヒート
スプレッダ間に発生する温度差をも考慮した正確なトラ
ンジスタの期待寿命までの使用の可否判定及びトランジ
スタの運転可能寿命の推定ができるようになる。
について以下説明する。あらかじめ設定されたトランジ
スタ１０７の固有の寿命から求められたトランジスタ許
容熱ストレス回数Ｓｔmax と、トランジスタ温度変化幅
熱ストレス回数Ｓｔ11、サイクル時間当りのトランジス
タ温度変化幅熱ストレス回数Ｓｔ1cとトランジスタ温度
変化率熱ストレス回数Ｓｔ21、サイクル時間当りのトラ
ンジスタ温度変化率熱ストレス回数Ｓｔ2c、サイクル時
間設定部４１で設定されたサイクル時間ｔc とを使用し
て、下式により運転可能寿命ｔr を推定し、 ｔr ＝［｛Ｓｔmax −（Ｓｔ11＋Ｓｔ21）｝／（Ｓｔ1c
＋Ｓｔ2c）］×ｔc 表示部１４０に対して出力する。上記のように、サイク
ル時間当りのトランジスタ温度変化幅熱ストレス回数と
サイクル時間当りトランジスタ温度変化率熱ストレス回
数をもとにトランジスタのサイクル時間当りの許容熱ス
トレス回数と比較し、トランジスタの寿命が期待寿命だ
けの使用が出来るか否かの判定及びまたトランジスタの
運転可能寿命を推定するようにしたので、トランジスタ
に流れる電流の急激な変化によりトランジスタとヒート
スプレッダ間に発生する温度差をも考慮した正確なトラ
ンジスタの期待寿命までの使用の可否判定及びトランジ
スタの運転可能寿命の推定ができるようになる。
【００４７】上記では、電力用半導体素子のトランジス
タ１０７について説明したがダイオード１０５及び１０
８についても同様であり、説明を省略する。
タ１０７について説明したがダイオード１０５及び１０
８についても同様であり、説明を省略する。
【００４８】又、上記実施例ではトランジスタサイクル
時間寿命判定部２６とトランジスタ寿命推定部２７とを
独立したものとして、直列に接続した例を示したが、単
独でもよく、又並列に接続してもよく、又トランジスタ
サイクル時間寿命判定部２６の寿命判定とトランジスタ
寿命推定部２７の寿命推定とを合せて行い、結果を同時
に表示するようにしてもよい、又、この場合トランジス
タサイクル時間寿命判定部２６とトランジスタ寿命推定
部２７とを合せて一つの処理部としても同等の効果が得
られる。
時間寿命判定部２６とトランジスタ寿命推定部２７とを
独立したものとして、直列に接続した例を示したが、単
独でもよく、又並列に接続してもよく、又トランジスタ
サイクル時間寿命判定部２６の寿命判定とトランジスタ
寿命推定部２７の寿命推定とを合せて行い、結果を同時
に表示するようにしてもよい、又、この場合トランジス
タサイクル時間寿命判定部２６とトランジスタ寿命推定
部２７とを合せて一つの処理部としても同等の効果が得
られる。
【００４９】又、上記実施例では期待寿命時間設定部４
０、サイクル時間設定部４１及びサイクル時間チェック
選択部４２の設定データを一旦設定データ記憶部４３に
記憶する例を示したが、期待寿命時間設定部４０、サイ
クル時間設定部４１及びサイクル時間チェック選択部４
２を例えばカウンタ、ボリュームなどを利用し、トラン
ジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２４、
トランジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演算部
２５、トランジスタサイクル時間寿命判定部２６及びト
ランジスタ寿命推定部２７等を処理時に直接設定データ
を見にいくようにしてもよい。
０、サイクル時間設定部４１及びサイクル時間チェック
選択部４２の設定データを一旦設定データ記憶部４３に
記憶する例を示したが、期待寿命時間設定部４０、サイ
クル時間設定部４１及びサイクル時間チェック選択部４
２を例えばカウンタ、ボリュームなどを利用し、トラン
ジスタサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部２４、
トランジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演算部
２５、トランジスタサイクル時間寿命判定部２６及びト
ランジスタ寿命推定部２７等を処理時に直接設定データ
を見にいくようにしてもよい。
【００５０】又、上記実施例ではトランジスタ許容熱ス
トレス回数Ｓｔmax をあらかじめ設定されたトランジス
タ１０７の固有の寿命から求めるものとしたが、トラン
ジスタ許容熱ストレス回数Ｓｔmax としてあらかじめ設
定しておいてもよく、入力手段を利用して設定してもよ
い。
トレス回数Ｓｔmax をあらかじめ設定されたトランジス
タ１０７の固有の寿命から求めるものとしたが、トラン
ジスタ許容熱ストレス回数Ｓｔmax としてあらかじめ設
定しておいてもよく、入力手段を利用して設定してもよ
い。
【００５１】又、上記実施例では電流検出部１１０とし
てインバータ部の出力電流３相分を検出した例を示した
が、２相分の出力電流を検出し、他の１相分を算出して
求めても同等の効果が得られる。更に、簡便な方法とし
ては各相等価であるとして、１相分の出力電流を検出す
ることも可能である。
てインバータ部の出力電流３相分を検出した例を示した
が、２相分の出力電流を検出し、他の１相分を算出して
求めても同等の効果が得られる。更に、簡便な方法とし
ては各相等価であるとして、１相分の出力電流を検出す
ることも可能である。
【００５２】更に、上記実施例ではインバータ部の出力
電流を検出した例を示したが、電力用半導体素子に流れ
る電流に応じた電流を検出出来ればよく、電流検出部は
インバータ部の入力側の直流母線に設けてもよく、又直
接電力半導体素子に流れる電流を検出するようにしても
よい。
電流を検出した例を示したが、電力用半導体素子に流れ
る電流に応じた電流を検出出来ればよく、電流検出部は
インバータ部の入力側の直流母線に設けてもよく、又直
接電力半導体素子に流れる電流を検出するようにしても
よい。
【００５３】又、上記実施例では放熱フィンの温度を検
出した例を示したが、電力用半導体素子に発生した熱に
応じた温度を検出することが出来ればよく、温度検出部
を例えば配線板上とか電力用半導体素子の近傍などに設
けてもよい。
出した例を示したが、電力用半導体素子に発生した熱に
応じた温度を検出することが出来ればよく、温度検出部
を例えば配線板上とか電力用半導体素子の近傍などに設
けてもよい。
【００５４】又、上記実施例では電力用半導体素子とし
て、トランジスタ及びダイオードの例を示したが、サイ
リスタ、ＧＴＯ（ゲート ターン オフ サイリス
タ）、ＭＯＳ ＦＥＴ（Ｍｅｔａｌ ｏｘｉｄｅ ｓｅ
ｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｆｉｅｌｄ ｅｆｆｅｃｔ
ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）等においても同様である。
て、トランジスタ及びダイオードの例を示したが、サイ
リスタ、ＧＴＯ（ゲート ターン オフ サイリス
タ）、ＭＯＳ ＦＥＴ（Ｍｅｔａｌ ｏｘｉｄｅ ｓｅ
ｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ ｆｉｅｌｄ ｅｆｆｅｃｔ
ｔｒａｎｓｉｓｔｏｒ）等においても同様である。
【００５５】又、上記実施例では３相インバータ装置に
ついて説明したが、単相インバータ装置や多相インバー
タ装置にも同様に実施することが出来、インバータ装置
以外の例えば直流電源装置等にも実施することが出来
る。
ついて説明したが、単相インバータ装置や多相インバー
タ装置にも同様に実施することが出来、インバータ装置
以外の例えば直流電源装置等にも実施することが出来
る。
【００５６】
【発明の効果】以上のように、この発明のインバータ装
置によれば、寿命判定手段は、電力用半導体素子の推定
温度の変化における振幅に基いて電力用半導体素子の熱
ストレスを演算・積算する温度変化幅熱ストレス演算手
段及び電力用半導体素子の推定温度の変化における割合
に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算・積算す
る温度変化率熱ストレス演算手段の出力を電力用半導体
素子の固有の許容熱ストレスと使用して、電力用半導体
素子の寿命を演算するので、電力用半導体素子に流れる
電流の急激な変化による電力用半導体素子とヒートスプ
レッダ間に発生する温度差にも考慮したより正確な電力
用半導体素子の寿命の演算が可能となる。
置によれば、寿命判定手段は、電力用半導体素子の推定
温度の変化における振幅に基いて電力用半導体素子の熱
ストレスを演算・積算する温度変化幅熱ストレス演算手
段及び電力用半導体素子の推定温度の変化における割合
に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算・積算す
る温度変化率熱ストレス演算手段の出力を電力用半導体
素子の固有の許容熱ストレスと使用して、電力用半導体
素子の寿命を演算するので、電力用半導体素子に流れる
電流の急激な変化による電力用半導体素子とヒートスプ
レッダ間に発生する温度差にも考慮したより正確な電力
用半導体素子の寿命の演算が可能となる。
【００５７】また、この発明のインバータ装置によれ
ば、設定時間当り寿命判定手段は、寿命時間を比較する
運転時間を設定する運転時間設定手段で設定された設定
時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変化における振
幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算する設
定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及び運転時間
設定手段で設定された設定時間毎に温度の変化における
割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算する
設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力に基
いて算出した設定時間当りの熱ストレスと期待寿命時間
設定手段で設定された電力用半導体素子の期待寿命時間
から求められた設定時間当りの許容熱ストレスとを比較
するようにしたので、設定時間の運転で期待寿命時間だ
け運転可能か否かの判定が可能となり、インバータ装置
の負荷状況及び使用頻度など使用方法を改善するなどの
延命処置が可能となる。
ば、設定時間当り寿命判定手段は、寿命時間を比較する
運転時間を設定する運転時間設定手段で設定された設定
時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変化における振
幅に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算する設
定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及び運転時間
設定手段で設定された設定時間毎に温度の変化における
割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレスを演算する
設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力に基
いて算出した設定時間当りの熱ストレスと期待寿命時間
設定手段で設定された電力用半導体素子の期待寿命時間
から求められた設定時間当りの許容熱ストレスとを比較
するようにしたので、設定時間の運転で期待寿命時間だ
け運転可能か否かの判定が可能となり、インバータ装置
の負荷状況及び使用頻度など使用方法を改善するなどの
延命処置が可能となる。
【００５８】更に、この発明のインバータ装置によれ
ば、寿命推定手段は、寿命時間を比較する運転時間を設
定する運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力
用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基いて電
力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温
度変化幅熱ストレス演算手段及び運転時間設定手段で設
定された設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変
化における割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレス
を演算する設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段
の出力に基いて電力用半導体素子の運転可能寿命を推定
するようにしたので、電力用半導体素子またはインバー
タ装置の交換時期の予測が可能となる。
ば、寿命推定手段は、寿命時間を比較する運転時間を設
定する運転時間設定手段で設定された設定時間毎に電力
用半導体素子の推定温度の変化における振幅に基いて電
力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温
度変化幅熱ストレス演算手段及び運転時間設定手段で設
定された設定時間毎に電力用半導体素子の推定温度の変
化における割合に基いて電力用半導体素子の熱ストレス
を演算する設定時間当り温度変化率熱ストレス演算手段
の出力に基いて電力用半導体素子の運転可能寿命を推定
するようにしたので、電力用半導体素子またはインバー
タ装置の交換時期の予測が可能となる。
【００５９】更に、この発明のインバータ装置によれ
ば、運転時間チェック選択手段は、寿命時間を比較する
運転時間を設定する運転時間設定手段で設定された設定
時間における電力用半導体素子の寿命の判定または寿命
の推定の少くとも１つを実効するか電力用半導体素子の
積算した熱ストレスにより電力用半導体素子の寿命の判
定をするか選択できるようにし、更に設定時間当り温度
変化幅熱ストレス演算手段、設定時間当り温度変化率熱
ストレス演算手段及び設定時間当り寿命判定手段は運転
時間チェック選択手段の選択により設定時間当りの熱ス
トレスと積算した熱ストレスとの両者を扱えるようにし
たので、例えばインバータ装置の使用方法を決定した時
とか変更した時に設定時間当りの熱ストレスを使用して
期待寿命時間設定手段で設定された電力用半導体素子の
期待寿命時間から求められた設定時間当りの許容熱スト
レスとの比較により設定時間の運転で期待寿命時間だけ
運転可能か否かの判定または電力用半導体素子の運転可
能寿命の推定を行い、インバータ装置の使用方法を変更
せずに運転する場合に積算した熱ストレスを使用して電
力用半導体素子が寿命となったか否かの判定を行うなど
適宜使い分けが可能となり、インバータ装置の使用方法
を決定した時とか変更した時に、インバータ装置の負荷
状況及び使用頻度など使用方法を改善するなどの延命処
置ができるとともに、電力用半導体素子またはインバー
タ装置の交換時期ができ、一旦決められた使用方法で運
転する場合に電力用半導体素子の寿命の判定ができると
いう、経過に対応した電力用半導体素子の寿命管理が可
能となる。
ば、運転時間チェック選択手段は、寿命時間を比較する
運転時間を設定する運転時間設定手段で設定された設定
時間における電力用半導体素子の寿命の判定または寿命
の推定の少くとも１つを実効するか電力用半導体素子の
積算した熱ストレスにより電力用半導体素子の寿命の判
定をするか選択できるようにし、更に設定時間当り温度
変化幅熱ストレス演算手段、設定時間当り温度変化率熱
ストレス演算手段及び設定時間当り寿命判定手段は運転
時間チェック選択手段の選択により設定時間当りの熱ス
トレスと積算した熱ストレスとの両者を扱えるようにし
たので、例えばインバータ装置の使用方法を決定した時
とか変更した時に設定時間当りの熱ストレスを使用して
期待寿命時間設定手段で設定された電力用半導体素子の
期待寿命時間から求められた設定時間当りの許容熱スト
レスとの比較により設定時間の運転で期待寿命時間だけ
運転可能か否かの判定または電力用半導体素子の運転可
能寿命の推定を行い、インバータ装置の使用方法を変更
せずに運転する場合に積算した熱ストレスを使用して電
力用半導体素子が寿命となったか否かの判定を行うなど
適宜使い分けが可能となり、インバータ装置の使用方法
を決定した時とか変更した時に、インバータ装置の負荷
状況及び使用頻度など使用方法を改善するなどの延命処
置ができるとともに、電力用半導体素子またはインバー
タ装置の交換時期ができ、一旦決められた使用方法で運
転する場合に電力用半導体素子の寿命の判定ができると
いう、経過に対応した電力用半導体素子の寿命管理が可
能となる。
【００６０】更に、この発明のインバータ装置によれ
ば、寿命判定手段、設定時間当り寿命判定手段または寿
命推定手段の出力を表示する表示手段を備え、電力用半
導体素子の寿命、また設定時間の運転で期待寿命だけ運
転可能か否か、また設定時間の運転における運転可能寿
命が容易に判断できるようにしたので、寿命の判定が可
能となると共に、インバータ装置の使用方法の改善など
の延命処理及びインバータ装置の交換時期の予測が可能
となる。
ば、寿命判定手段、設定時間当り寿命判定手段または寿
命推定手段の出力を表示する表示手段を備え、電力用半
導体素子の寿命、また設定時間の運転で期待寿命だけ運
転可能か否か、また設定時間の運転における運転可能寿
命が容易に判断できるようにしたので、寿命の判定が可
能となると共に、インバータ装置の使用方法の改善など
の延命処理及びインバータ装置の交換時期の予測が可能
となる。
【図１】 この発明の実施例１による電力用半導体素子
の寿命を判定する制御部の構成図である。
の寿命を判定する制御部の構成図である。
【図２】 この発明の実施例１によるインバータ装置の
運転、停止に伴う電力用半導体素子のジャンクション温
度Ｔj 及び温度変化率｜ｄＴj ／ｄｔ｜の変化の一例を
示すグラフである。
運転、停止に伴う電力用半導体素子のジャンクション温
度Ｔj 及び温度変化率｜ｄＴj ／ｄｔ｜の変化の一例を
示すグラフである。
【図３】 この発明の実施例１によるトランジスタ温度
変化率熱ストレス演算部及びダイオード温度変化率熱ス
トレス演算部の演算のフローチャートである。
変化率熱ストレス演算部及びダイオード温度変化率熱ス
トレス演算部の演算のフローチャートである。
【図４】 この発明の実施例２による電力用半導体素子
の寿命を判定又は推測する制御部の構成図である。
の寿命を判定又は推測する制御部の構成図である。
【図５】 この発明の実施例２によるトランジスタサイ
クル時間温度変化幅熱ストレス演算部及びダイオードサ
イクル時間温度変化幅熱ストレス演算部の演算のフロー
チャートである。
クル時間温度変化幅熱ストレス演算部及びダイオードサ
イクル時間温度変化幅熱ストレス演算部の演算のフロー
チャートである。
【図６】 この発明の実施例２によるトランジスタサイ
クル時間温度変化率熱ストレス演算部及びダイオードサ
イクル時間温度変化率熱ストレス演算部の演算のフロー
チャートである。
クル時間温度変化率熱ストレス演算部及びダイオードサ
イクル時間温度変化率熱ストレス演算部の演算のフロー
チャートである。
【図７】 この発明の実施例２によるトランジスタサイ
クル時間寿命判定部及びダイオードサイクル時間寿命判
定部の寿命判定のフローチャートである。
クル時間寿命判定部及びダイオードサイクル時間寿命判
定部の寿命判定のフローチャートである。
【図８】 従来並びにこの発明に共通なインバータ装置
の構成図である。
の構成図である。
【図９】 従来のインバータ装置において、電力用半導
体素子の寿命を判定する制御部の構成図である。
体素子の寿命を判定する制御部の構成図である。
【図１０】 インバータ装置の運転、停止に伴う電力用
半導体素子のジャンクション温度Ｔj の変化の一例を示
す図である。
半導体素子のジャンクション温度Ｔj の変化の一例を示
す図である。
【図１１】 従来のトランジスタ温度変化幅熱ストレス
演算部及びダイオード温度変化幅熱ストレス演算部の演
算のフローチャートである。
演算部及びダイオード温度変化幅熱ストレス演算部の演
算のフローチャートである。
【図１２】 従来並びにこの発明に共通なインバータ装
置の主回路部を構成するトランジスタの実装における要
部拡大図である。
置の主回路部を構成するトランジスタの実装における要
部拡大図である。
２０ トランジスタ温度推定部、２１ トランジスタ温
度変化幅熱ストレス演算部、２２ トランジスタ寿命判
定部、２２ａ トランジスタ寿命演算部、２３トランジ
スタ温度変化率熱ストレス演算部、２４ トランジスタ
サイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部、２５ トラ
ンジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演算部、２
６ トランジスタサイクル時間寿命判定部、２７ トラ
ンジスタ寿命推定部、３０ ダイオード温度推定部、３
１ ダイオード温度変化幅熱ストレス演算部、３２ ダ
イオード寿命判定部、３２ａ ダイオード寿命演算部、
３３ ダイオード温度変化率熱ストレス演算部、３４
ダイオードサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部、
３５ ダイオードサイクル時間温度変化率熱ストレス演
算部、３６ ダイオードサイクル時間寿命判定部、３７
ダイオード寿命推定部、３８，３８ａ 記憶部、３
９，３９ａ 寿命設定部、４０ 期待寿命時間設定部、
４１ サイクル時間設定部、４２ サイクル時間チェッ
ク選択部、４３ 設定データ記憶部、１００ インバー
タ装置、１０１ コンバータ装置、１０２ インバータ
部、１０３ 平滑回路部、１０４ 主回路部、１０５
ダイオード、１０６ 平滑コンデンサ、１０７ トラン
ジスタ、１０８ 帰還ダイオード、１１０ 電流検出
部、１２０ 温度検出部、１３０，１３０ａ，１３０ｂ
制御部、１３１ トランジスタ駆動部、１４０ 表示
部、１６０ ヒートスプレッダ、１６１ 接合部材、１
６２ ボンディングワイヤ、１６３ 配線板、１６４
リード、１６５ 放熱フィン、２００ 交流電源、３０
０ 誘導電動機。
度変化幅熱ストレス演算部、２２ トランジスタ寿命判
定部、２２ａ トランジスタ寿命演算部、２３トランジ
スタ温度変化率熱ストレス演算部、２４ トランジスタ
サイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部、２５ トラ
ンジスタサイクル時間温度変化率熱ストレス演算部、２
６ トランジスタサイクル時間寿命判定部、２７ トラ
ンジスタ寿命推定部、３０ ダイオード温度推定部、３
１ ダイオード温度変化幅熱ストレス演算部、３２ ダ
イオード寿命判定部、３２ａ ダイオード寿命演算部、
３３ ダイオード温度変化率熱ストレス演算部、３４
ダイオードサイクル時間温度変化幅熱ストレス演算部、
３５ ダイオードサイクル時間温度変化率熱ストレス演
算部、３６ ダイオードサイクル時間寿命判定部、３７
ダイオード寿命推定部、３８，３８ａ 記憶部、３
９，３９ａ 寿命設定部、４０ 期待寿命時間設定部、
４１ サイクル時間設定部、４２ サイクル時間チェッ
ク選択部、４３ 設定データ記憶部、１００ インバー
タ装置、１０１ コンバータ装置、１０２ インバータ
部、１０３ 平滑回路部、１０４ 主回路部、１０５
ダイオード、１０６ 平滑コンデンサ、１０７ トラン
ジスタ、１０８ 帰還ダイオード、１１０ 電流検出
部、１２０ 温度検出部、１３０，１３０ａ，１３０ｂ
制御部、１３１ トランジスタ駆動部、１４０ 表示
部、１６０ ヒートスプレッダ、１６１ 接合部材、１
６２ ボンディングワイヤ、１６３ 配線板、１６４
リード、１６５ 放熱フィン、２００ 交流電源、３０
０ 誘導電動機。
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の電力用半導体素子を有するインバ
ータ装置において、前記電力用半導体素子に流れる電流
またはこの電流に応じた電流を検出する電流検出手段
と、前記電力用半導体素子に発生する熱に応じた温度を
検出する温度検出手段と、前記電流検出手段からの検出
電流と前記温度検出手段からの検出温度とに応じて前記
電力用半導体素子の温度を推定する温度推定手段と、前
記温度推定手段で推定した推定温度の変化における振幅
に基いて前記電力用半導体素子の熱ストレスを演算し、
積算する温度変化幅熱ストレス演算手段と、前記温度推
定手段で推定した推定温度の変化における割合に基いて
前記電力用半導体素子の熱ストレスを演算し、積算する
温度変化率熱ストレス演算手段と、前記温度変化幅熱ス
トレス演算手段及び前記温度変化率熱ストレス演算手段
の出力と前記電力用半導体素子の固有の許容熱ストレス
とを使用して、前記電力用半導体素子の寿命を演算する
寿命演算手段と、を備えたことを特徴とするインバータ
装置。 - 【請求項２】 複数の電力用半導体素子を有するインバ
ータ装置において、前記電力用半導体素子に流れる電流
またはこの電流に応じた電流を検出する電流検出手段
と、前記電力用半導体素子に発生する熱に応じた温度を
検出する温度検出手段と、前記電流検出手段からの検出
電流と前記温度検出手段からの検出温度とに応じて前記
電力用半導体素子の温度を推定する温度推定手段と、前
記電力用半導体素子の期待される寿命時間を設定する期
待寿命時間設定手段と、運転時間を設定する運転時間設
定手段と、前記運転時間設定手段で設定された設定時間
毎に前記温度推定手段で推定した推定温度の変化におけ
る振幅に基いて前記電力用半導体素子の熱ストレスを演
算する設定時間当り温度変化幅熱ストレス演算手段と、
前記運転時間設定手段で設定された設定時間毎に前記温
度推定手段で推定した推定温度の変化における割合に基
いて前記電力用半導体素子の熱ストレスを演算する設定
時間当り温度変化率熱ストレス演算手段と、前記設定時
間当り温度変化幅熱ストレス演算手段及び前記設定時間
当り温度変化率熱ストレス演算手段の出力に基いて算出
した設定時間当りの熱ストレスと前記期待寿命時間設定
手段で設定された期待寿命時間から求められた設定時間
当りの許容熱ストレスとを比較し、前記電力用半導体素
子の寿命が前記期待寿命時間を越えていないかを判定す
る設定時間当り寿命判定手段と、を備えたことを特徴と
するインバータ装置。 - 【請求項３】 複数の電力用半導体素子を有するインバ
ータ装置において、前記電力用半導体素子に流れる電流
またはこの電流に応じた電流を検出する電流検出手段
と、前記電力用半導体素子に発生する熱に応じた温度を
検出する温度検出手段と、前記電流検出手段からの検出
電流と前記温度検出手段からの検出温度とに応じて前記
電力用半導体素子の温度を推定する温度推定手段と、運
転時間を設定する運転時間設定手段と、前記運転時間設
定手段で設定された設定時間毎に前記温度推定手段で推
定した推定温度の変化における振幅に基いて前記電力用
半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変
化幅熱ストレス演算手段と、前記運転時間設定手段で設
定された設定時間毎に前記温度推定手段で推定した推定
温度の変化における割合に基いて前記電力用半導体素子
の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化率熱スト
レス演算手段と、前記設定時間当り温度変化幅熱ストレ
ス演算手段及び前記設定時間当り温度変化率熱ストレス
演算手段の出力に基いて前記電力用半導体素子の運転可
能寿命を推定する寿命推定手段と、を備えたことを特徴
とするインバータ装置。 - 【請求項４】 複数の電力用半導体素子を有するインバ
ータ装置において、前記電力用半導体素子に流れる電流
またはこの電流に応じた電流を検出する電流検出手段
と、前記電力用半導体素子に発生する熱に応じた温度を
検出する温度検出手段と、前記電流検出手段からの検出
電流と前記温度検出手段からの検出温度とに応じて前記
電力用半導体素子の温度を推定する温度推定手段と、前
記電力用半導体素子の期待される寿命時間を設定する期
待寿命時間設定手段と、運転時間を設定する運転時間設
定手段と、前記運転時間設定手段で設定された運転時間
における前記電力用半導体素子の寿命の判定または寿命
の推定の少くとも１つを実効するか否かの選択をする運
転時間チェック選択手段と、前記期待寿命時間設定手
段、前記運転時間設定手段および前記運転時間チェック
選択手段で設定された設定データを記憶する設定データ
記憶手段と、前記運転時間チェック選択手段の選択が無
効の場合には前記温度推定手段で推定した推定温度の変
化における振幅に基いて前記電力用半導体素子の熱スト
レスを演算・積算し、有効の場合には更に前記運転時間
設定手段で設定された設定時間毎に前記電力用半導体素
子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変化幅熱ス
トレス演算手段と、前記運転時間チェック選択手段の選
択が無効の場合には、前記温度推定時間で推定した推定
温度の変化における割合に基いて前記電力用半導体素子
の熱ストレスを演算・積算し、有効の場合には更に前記
運転時間設定手段で設定された設定時間毎に前記電力用
半導体素子の熱ストレスを演算する設定時間当り温度変
化率熱ストレス演算手段と、前記運転時間チェック選択
手段の選択が無効の場合には前記設定時間当り温度変化
幅熱ストレス演算手段及び前記設定時間当り温度変化率
熱ストレス演算手段の出力と前記電力用半導体素子の固
有の熱ストレスとを比較し前記電力用半導体素子が寿命
になったか否かを判定し、有効の場合には前記設定時間
当り温度変化幅熱ストレス演算手段及び前記設定時間当
り温度変化率熱ストレス演算手段の出力に基いて算出し
た設定時間当りの熱ストレスと前記期待寿命時間設定手
段で設定された期待寿命時間から求められた設定時間当
り許容熱ストレスとを比較し、前記電力用半導体素子の
寿命が前記期待寿命時間を越えていないかを判定する設
定時間当り寿命判定手段と、前記運転時間チェック選択
手段の選択が有効の場合、前記電力用半導体素子の運転
可能寿命を推定する寿命推定手段と、を備えたことを特
徴とするインバータ装置。 - 【請求項５】 寿命判定手段、設定時間当り寿命判定手
段または寿命推定手段の出力を表示する表示手段を備え
たことを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれか
に記載のインバータ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26048994A JP3541460B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | インバータ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26048994A JP3541460B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | インバータ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08126337A true JPH08126337A (ja) | 1996-05-17 |
| JP3541460B2 JP3541460B2 (ja) | 2004-07-14 |
Family
ID=17348680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26048994A Expired - Fee Related JP3541460B2 (ja) | 1994-10-25 | 1994-10-25 | インバータ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3541460B2 (ja) |
Cited By (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1038960A (ja) * | 1996-07-24 | 1998-02-13 | Fanuc Ltd | 熱的ストレスによるパワー半導体素子の故障予測方法 |
| US6724313B2 (en) | 2001-10-22 | 2004-04-20 | Hitachi, Ltd. | Fault detection system |
| JP2005354812A (ja) * | 2004-06-11 | 2005-12-22 | Hitachi Ltd | インバータ装置 |
| JP2006049411A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Toshiba Mach Co Ltd | パワー素子接合部の温度上昇を推定し、監視する方法及び装置 |
| JP2006067690A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Hitachi Building Systems Co Ltd | 電力変換器用制御装置 |
| US7023172B2 (en) | 2003-03-12 | 2006-04-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Motor controller |
| JP2006114575A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | パワーモジュール |
| JP2007028741A (ja) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Hitachi Ltd | 電力変換器とその管理システム |
| JP2007043860A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Meidensha Corp | 保護用ヒューズの寿命推定装置 |
| JP2007245966A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Nissan Motor Co Ltd | 車両用駆動制御装置 |
| WO2008014738A1 (de) * | 2006-08-01 | 2008-02-07 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Verfahren zur beurteilung einer halbleiterschaltung |
| JP2009012702A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Toyota Motor Corp | ハイブリッド車両用駆動装置及び制御方法 |
| US8238131B2 (en) | 2005-12-20 | 2012-08-07 | Abb Oy | Method of changing an operation mode of a frequency converter based on temperature conditions, and a frequency converter having a changeable mode of operation based on temperature conditions |
| JP2012200434A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Daikoku Denki Co Ltd | 遊技機用の負荷時間計測装置 |
| WO2014042057A1 (ja) * | 2012-09-11 | 2014-03-20 | 株式会社東芝 | 医用装置及びｘ線高電圧装置 |
| US9313933B2 (en) | 2011-10-06 | 2016-04-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Power converter performing evaporative cooling of a switching element |
| KR20160047840A (ko) * | 2014-10-23 | 2016-05-03 | 삼성전자주식회사 | 프로그램 가능한 신뢰성 에이징 타이머를 이용하는 장치 및 방법 |
| JP2016111734A (ja) * | 2014-12-02 | 2016-06-20 | トヨタ自動車株式会社 | モータコントローラ、電動車両、及び、スイッチング素子の熱ストレス推定方法 |
| CN106531704A (zh) * | 2015-09-14 | 2017-03-22 | 三菱电机株式会社 | 寿命推定电路及使用了该寿命推定电路的半导体装置 |
| JP2018537061A (ja) * | 2016-02-03 | 2018-12-13 | ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィＭｉｔｓｕｂｉｓｈｉ Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｒ＆Ｄ Ｃｅｎｔｒｅ Ｅｕｒｏｐｅ Ｂ．Ｖ． | パワー半導体モジュールの損傷レベル又は寿命予測を推定する方法及びデバイス |
| JP2019187030A (ja) * | 2018-04-05 | 2019-10-24 | 株式会社東芝 | 電力変換装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03202787A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-04 | Nemitsuku Ramuda Kk | 電源装置の電解コンデンサ寿命検出装置 |
| JPH03261877A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | 電力変換装置及びインバータ装置 |
| JPH0670553A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-11 | Hitachi Ltd | 寿命診断機能を備えたインバータ装置 |
-
1994
- 1994-10-25 JP JP26048994A patent/JP3541460B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03202787A (ja) * | 1989-12-29 | 1991-09-04 | Nemitsuku Ramuda Kk | 電源装置の電解コンデンサ寿命検出装置 |
| JPH03261877A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | 電力変換装置及びインバータ装置 |
| JPH0670553A (ja) * | 1992-08-20 | 1994-03-11 | Hitachi Ltd | 寿命診断機能を備えたインバータ装置 |
Cited By (32)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1038960A (ja) * | 1996-07-24 | 1998-02-13 | Fanuc Ltd | 熱的ストレスによるパワー半導体素子の故障予測方法 |
| US6724313B2 (en) | 2001-10-22 | 2004-04-20 | Hitachi, Ltd. | Fault detection system |
| US6759964B2 (en) | 2001-10-22 | 2004-07-06 | Hitachi, Ltd. | Fault detection system |
| US7046155B2 (en) | 2001-10-22 | 2006-05-16 | Hitachi, Ltd. | Fault detection system |
| DE10392498B4 (de) * | 2003-03-12 | 2008-07-24 | Mitsubishi Denki K.K. | Vorrichtung zur Steuerung eines Elektromotors |
| US7023172B2 (en) | 2003-03-12 | 2006-04-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Motor controller |
| JP2005354812A (ja) * | 2004-06-11 | 2005-12-22 | Hitachi Ltd | インバータ装置 |
| JP2006049411A (ja) * | 2004-08-02 | 2006-02-16 | Toshiba Mach Co Ltd | パワー素子接合部の温度上昇を推定し、監視する方法及び装置 |
| JP2006067690A (ja) * | 2004-08-26 | 2006-03-09 | Hitachi Building Systems Co Ltd | 電力変換器用制御装置 |
| JP4677756B2 (ja) * | 2004-10-13 | 2011-04-27 | 富士電機システムズ株式会社 | パワーモジュール |
| JP2006114575A (ja) * | 2004-10-13 | 2006-04-27 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | パワーモジュール |
| JP2007028741A (ja) * | 2005-07-14 | 2007-02-01 | Hitachi Ltd | 電力変換器とその管理システム |
| JP4591246B2 (ja) * | 2005-07-14 | 2010-12-01 | 株式会社日立製作所 | 電力変換器 |
| JP2007043860A (ja) * | 2005-08-05 | 2007-02-15 | Meidensha Corp | 保護用ヒューズの寿命推定装置 |
| US8238131B2 (en) | 2005-12-20 | 2012-08-07 | Abb Oy | Method of changing an operation mode of a frequency converter based on temperature conditions, and a frequency converter having a changeable mode of operation based on temperature conditions |
| JP2007245966A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Nissan Motor Co Ltd | 車両用駆動制御装置 |
| WO2008014738A1 (de) * | 2006-08-01 | 2008-02-07 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Verfahren zur beurteilung einer halbleiterschaltung |
| JP2009012702A (ja) * | 2007-07-09 | 2009-01-22 | Toyota Motor Corp | ハイブリッド車両用駆動装置及び制御方法 |
| JP2012200434A (ja) * | 2011-03-25 | 2012-10-22 | Daikoku Denki Co Ltd | 遊技機用の負荷時間計測装置 |
| US9313933B2 (en) | 2011-10-06 | 2016-04-12 | Mitsubishi Electric Corporation | Power converter performing evaporative cooling of a switching element |
| JP2014056668A (ja) * | 2012-09-11 | 2014-03-27 | Toshiba Corp | 医用画像診断装置及びｘ線高電圧装置 |
| CN104011854A (zh) * | 2012-09-11 | 2014-08-27 | 株式会社东芝 | 医用装置及x射线高压装置 |
| WO2014042057A1 (ja) * | 2012-09-11 | 2014-03-20 | 株式会社東芝 | 医用装置及びｘ線高電圧装置 |
| CN104011854B (zh) * | 2012-09-11 | 2017-03-01 | 东芝医疗系统株式会社 | 医用装置及x射线高压装置 |
| US10349507B2 (en) | 2012-09-11 | 2019-07-09 | Toshiba Medical Systems Corporation | Medical apparatus and X-ray high voltage apparatus |
| KR20160047840A (ko) * | 2014-10-23 | 2016-05-03 | 삼성전자주식회사 | 프로그램 가능한 신뢰성 에이징 타이머를 이용하는 장치 및 방법 |
| JP2016111734A (ja) * | 2014-12-02 | 2016-06-20 | トヨタ自動車株式会社 | モータコントローラ、電動車両、及び、スイッチング素子の熱ストレス推定方法 |
| CN106531704A (zh) * | 2015-09-14 | 2017-03-22 | 三菱电机株式会社 | 寿命推定电路及使用了该寿命推定电路的半导体装置 |
| JP2017058146A (ja) * | 2015-09-14 | 2017-03-23 | 三菱電機株式会社 | 寿命推定回路およびそれを用いた半導体装置 |
| US10338128B2 (en) | 2015-09-14 | 2019-07-02 | Mitsubishi Electric Corporation | Life estimation circuit and semiconductor device made using the same |
| JP2018537061A (ja) * | 2016-02-03 | 2018-12-13 | ミツビシ・エレクトリック・アールアンドディー・センター・ヨーロッパ・ビーヴィＭｉｔｓｕｂｉｓｈｉ Ｅｌｅｃｔｒｉｃ Ｒ＆Ｄ Ｃｅｎｔｒｅ Ｅｕｒｏｐｅ Ｂ．Ｖ． | パワー半導体モジュールの損傷レベル又は寿命予測を推定する方法及びデバイス |
| JP2019187030A (ja) * | 2018-04-05 | 2019-10-24 | 株式会社東芝 | 電力変換装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3541460B2 (ja) | 2004-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH08126337A (ja) | インバータ装置 | |
| KR101668174B1 (ko) | 전동기 제어 장치 | |
| EP1983640B1 (en) | Power conversion apparatus and method of estimating power cycle life | |
| JP5617211B2 (ja) | インバータ装置の冷却能力測定方法 | |
| JP2767965B2 (ja) | 電力変換装置及びインバータ装置 | |
| JP4151651B2 (ja) | インバータ装置 | |
| JP4591246B2 (ja) | 電力変換器 | |
| JP5260090B2 (ja) | 電力変換装置 | |
| JPH11356036A (ja) | 直流電源装置 | |
| JPH0627175A (ja) | コンデンサの寿命計算装置 | |
| JP2012135119A (ja) | インバータ装置 | |
| JP2009197602A (ja) | 真空ポンプ装置の電子部品の寿命度合い予測方法、及び真空ポンプ装置 | |
| US10812009B2 (en) | Motor driving device and abnormal heat generation detecting method for motor driving device | |
| JP2007049837A (ja) | 電力変換器の制御装置 | |
| JP5381229B2 (ja) | コンデンサの劣化検出回路及びこれを備えた電子機器 | |
| JP7472663B2 (ja) | 電力変換装置 | |
| JPH06233553A (ja) | インバータ装置 | |
| JP2003009589A (ja) | 予熱発生機構 | |
| JP4677756B2 (ja) | パワーモジュール | |
| JP2010246246A (ja) | 電力供給装置 | |
| KR101925035B1 (ko) | 전력 변환 장치 및 이를 포함하는 공기 조화기 | |
| KR20180106436A (ko) | 인버터의 냉각 운영장치 | |
| JP7255107B2 (ja) | 半導体素子のモニタ装置 | |
| TWI785692B (zh) | 電力轉換裝置及遠距監視系統 | |
| JPH07245965A (ja) | インバータ装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20031209 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040206 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040309 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040322 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080409 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090409 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100409 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100409 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110409 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |