JPH0810851B2 - 波形識別装置 - Google Patents
波形識別装置Info
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- JPH0810851B2 JPH0810851B2 JP5002285A JP228593A JPH0810851B2 JP H0810851 B2 JPH0810851 B2 JP H0810851B2 JP 5002285 A JP5002285 A JP 5002285A JP 228593 A JP228593 A JP 228593A JP H0810851 B2 JPH0810851 B2 JP H0810851B2
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- digital signal
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はデジタル信号のアイパタ
ーン開口度評価を行う波形識別装置に関し、特に、多値
ＰＣＭ信号のアイパターン開口度評価にも適する波形識
別装置に関する。
ーン開口度評価を行う波形識別装置に関し、特に、多値
ＰＣＭ信号のアイパターン開口度評価にも適する波形識
別装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、アイパターン開口度評価が、デジ
タル信号の波形の良さを判定する波形識別手段として多
用されている。このアイパターン開口度評価は、一般
に、サンプリングオシロスコープ上でデジタル信号のア
イパターンをアイマスクを用いて目視で観測し、所望の
アイパターンが得られているか否かを判断して行う。
タル信号の波形の良さを判定する波形識別手段として多
用されている。このアイパターン開口度評価は、一般
に、サンプリングオシロスコープ上でデジタル信号のア
イパターンをアイマスクを用いて目視で観測し、所望の
アイパターンが得られているか否かを判断して行う。
【０００３】しかし、この目視によるデジタル信号の波
形識別は、人間による観測を必要とするので、自動測定
ができないという欠点がある。また、低い確率でアイパ
ターンが劣化している信号については、この劣化を見落
すことがあった。
形識別は、人間による観測を必要とするので、自動測定
ができないという欠点がある。また、低い確率でアイパ
ターンが劣化している信号については、この劣化を見落
すことがあった。
【０００４】そこで、上記アイパターン開口度評価を自
動化するための試験手法が、公開特許公報（平１−１５
４６６０，平成１年６月１６日公開）に開示されてい
る。この試験手法では、評価すべきデジタル信号の識別
レベルを正弦波で変調するとともに、識別位相を上記正
弦波と位相差がπ／２の正弦波で変調し、円または楕円
上に移動する識別点を形成し（一種のリサージュ波形を
生成し）、この識別点により上記デジタル信号を識別
し、この識別された信号の誤り率を測定することによ
り、上記デジタル信号のアイパターン開口度評価を行っ
ている。
動化するための試験手法が、公開特許公報（平１−１５
４６６０，平成１年６月１６日公開）に開示されてい
る。この試験手法では、評価すべきデジタル信号の識別
レベルを正弦波で変調するとともに、識別位相を上記正
弦波と位相差がπ／２の正弦波で変調し、円または楕円
上に移動する識別点を形成し（一種のリサージュ波形を
生成し）、この識別点により上記デジタル信号を識別
し、この識別された信号の誤り率を測定することによ
り、上記デジタル信号のアイパターン開口度評価を行っ
ている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したデジタル信号
のアイパターン開口度評価において、目視法では、上述
のとおり、自動測定ができないことに加え、低い確率で
アイパターンが劣化している信号については十分な評価
を行うことができないという欠点があった。
のアイパターン開口度評価において、目視法では、上述
のとおり、自動測定ができないことに加え、低い確率で
アイパターンが劣化している信号については十分な評価
を行うことができないという欠点があった。
【０００６】また、上記自動試験手法は、アイパターン
開口度評価において比較的測定時間を要する誤り率測定
を行う必要があるので、短時間に波形識別を行うことを
要求されるＰＣＭ通信装置の装置調整時等においては採
用し難いとういう欠点があった。
開口度評価において比較的測定時間を要する誤り率測定
を行う必要があるので、短時間に波形識別を行うことを
要求されるＰＣＭ通信装置の装置調整時等においては採
用し難いとういう欠点があった。
【０００７】さらに、この試験手法は、多値レベル・デ
ジタル信号のアイパターン開口度評価ができないという
欠点もある。
ジタル信号のアイパターン開口度評価ができないという
欠点もある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の波形識別装置
は、一定のビットレートで繰返し入力されるデジタル信
号をサンプリングしてサンプリングデータを生じるサン
プリング回路と、前記サンプリングデータを複数のレベ
ルに区分してレベル識別データを生じるレベル識別回路
と、前記レベル識別データを前記デジタル信号の特定タ
イムスロット区間において各レベル毎に計数しこの計数
データを一時蓄積するカウンタ回路と、特定レベル範囲
における前記計数データの標準偏差を計算する波形識別
手段とを備えている。
は、一定のビットレートで繰返し入力されるデジタル信
号をサンプリングしてサンプリングデータを生じるサン
プリング回路と、前記サンプリングデータを複数のレベ
ルに区分してレベル識別データを生じるレベル識別回路
と、前記レベル識別データを前記デジタル信号の特定タ
イムスロット区間において各レベル毎に計数しこの計数
データを一時蓄積するカウンタ回路と、特定レベル範囲
における前記計数データの標準偏差を計算する波形識別
手段とを備えている。
【０００９】なお、前記特定タイムスロット区間が、前
記デジタル信号のアイパターン収束点付近に設定されて
いてもよく、また、前記デジタル信号のビット中心点付
近に設定されていてもよい。
記デジタル信号のアイパターン収束点付近に設定されて
いてもよく、また、前記デジタル信号のビット中心点付
近に設定されていてもよい。
【００１０】こ本発明の波形識別装置は、一定のビット
レートで繰返し入力される多値振幅レベルのデジタル信
号をサンプリングしてサンプリングデータを生じるサン
プリング回路と、前記サンプリングデータを複数のレベ
ルに区分してレベル識別データを生じるレベル識別回路
と、前記レベル識別データを前記デジタル信号の特定タ
イムスロット区間において各レベル毎に計数しこの計数
データを一時蓄積するカウンタ回路と、特定レベル範囲
における前記計数データの標準偏差を計算する波形識別
手段とを備え、前記特定タイムスロット区間が、前記デ
ジタル信号のアイパターン収束点付近に設定されてお
り、前記特定レベル範囲が、アイパターン収束点のレベ
ルを中心として１単位振幅レベル以下である構成を採る
ことができる。
レートで繰返し入力される多値振幅レベルのデジタル信
号をサンプリングしてサンプリングデータを生じるサン
プリング回路と、前記サンプリングデータを複数のレベ
ルに区分してレベル識別データを生じるレベル識別回路
と、前記レベル識別データを前記デジタル信号の特定タ
イムスロット区間において各レベル毎に計数しこの計数
データを一時蓄積するカウンタ回路と、特定レベル範囲
における前記計数データの標準偏差を計算する波形識別
手段とを備え、前記特定タイムスロット区間が、前記デ
ジタル信号のアイパターン収束点付近に設定されてお
り、前記特定レベル範囲が、アイパターン収束点のレベ
ルを中心として１単位振幅レベル以下である構成を採る
ことができる。
【００１１】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【００１２】図１は本発明の一実施例のブロック図であ
る。また、図２は図１の実施例の動作の一つを説明する
信号波形図であり、（ａ）図は入力デジタル信号Ｓ１の
アイパターン図、（ｂ）図はカウンタ回路１３の蓄積す
る計数データＳ５の振幅ヒストグラム図である。
る。また、図２は図１の実施例の動作の一つを説明する
信号波形図であり、（ａ）図は入力デジタル信号Ｓ１の
アイパターン図、（ｂ）図はカウンタ回路１３の蓄積す
る計数データＳ５の振幅ヒストグラム図である。
【００１３】図１および図２を併せ参照すると、この波
形識別装置は、繰返し入力されるデジタル信号Ｓ１とこ
の信号Ｓ１のクロック信号Ｓ２とに応答して信号Ｓ１対
応の計数データＳ５を生じる波形サンプリング測定装置
１と、この測定装置１から供給を受ける計数データＳ５
のばらつきの程度を算出する制御回路（以下、ＣＰＵ）
２とを備える。デジタル信号Ｓ１は、ランダム符号列で
変調された１６値ＱＡＭ信号を復調するＰＣＭ復調装置
からのＰチャンネル復調信号であり、この波形識別装置
でアイパターン開口度評価されるべき信号である。この
デジタル信号Ｓ１は、ランダムにレベル変化する多値レ
ベル信号であり、図示されるとおり、単位振幅レベルを
１とするとき、−２，−１，０，＋１および＋２の５振
幅レベルを持つ。また、この信号Ｓ１は、この信号Ｓ１
の通過した装置や伝送路によって歪みおよび雑音の付加
を受け、波形劣化を起している。
形識別装置は、繰返し入力されるデジタル信号Ｓ１とこ
の信号Ｓ１のクロック信号Ｓ２とに応答して信号Ｓ１対
応の計数データＳ５を生じる波形サンプリング測定装置
１と、この測定装置１から供給を受ける計数データＳ５
のばらつきの程度を算出する制御回路（以下、ＣＰＵ）
２とを備える。デジタル信号Ｓ１は、ランダム符号列で
変調された１６値ＱＡＭ信号を復調するＰＣＭ復調装置
からのＰチャンネル復調信号であり、この波形識別装置
でアイパターン開口度評価されるべき信号である。この
デジタル信号Ｓ１は、ランダムにレベル変化する多値レ
ベル信号であり、図示されるとおり、単位振幅レベルを
１とするとき、−２，−１，０，＋１および＋２の５振
幅レベルを持つ。また、この信号Ｓ１は、この信号Ｓ１
の通過した装置や伝送路によって歪みおよび雑音の付加
を受け、波形劣化を起している。
【００１４】波形サンプリング測定装置１内蔵のサンプ
リング回路１１は、デジタル信号Ｓ１を各ビット区間
（例えば時間Ｔ１〜Ｔ５＝Ｔｂ）ごとに多数の区間に分
割してサンプリングし、サンプリングデータＳ３を生じ
る。サンプリングデータＳ３は、レベル識別回路１２に
より、適切な複数のレベル，例えば振幅レベル−２〜＋
２の間を２５６レベルに区切ってレベル識別される。こ
のレベル識別データＳ４は、カウンタ回路１３により、
デジタル信号Ｓ１の特定タイムスロット区間においてレ
ベル毎（識別レベル番号ｉ毎，ｉは０〜ｎの整数）に計
数され、この計数データＳ５がカウンタ回路１３に一時
蓄積される。
リング回路１１は、デジタル信号Ｓ１を各ビット区間
（例えば時間Ｔ１〜Ｔ５＝Ｔｂ）ごとに多数の区間に分
割してサンプリングし、サンプリングデータＳ３を生じ
る。サンプリングデータＳ３は、レベル識別回路１２に
より、適切な複数のレベル，例えば振幅レベル−２〜＋
２の間を２５６レベルに区切ってレベル識別される。こ
のレベル識別データＳ４は、カウンタ回路１３により、
デジタル信号Ｓ１の特定タイムスロット区間においてレ
ベル毎（識別レベル番号ｉ毎，ｉは０〜ｎの整数）に計
数され、この計数データＳ５がカウンタ回路１３に一時
蓄積される。
【００１５】上述の波形サンプリング測定装置１は、市
販されているサンプリングオシロスコープの主要機能を
なすものであり、例えばソニーテクトロニクス社製（Ｔ
ＹＰＥ ＣＳＡ４０４）デジタルオシロスコープがこの
機能を有している。そして、上記デジタル信号Ｓ１のア
イパターンＤが、図２（ａ）の如くこの上述のオシロス
コープの表示画面上に、繰返し入力されるクロック信号
Ｓ２に同期して表示される。このアイパターンＤの開口
部は、デジタル信号Ｓ１の振幅レベル数（５レベル）に
対応して３個あり、ドット状に示されるレベル識別デー
タＳ４の振幅ばらつきの程度によって開口度が定まる。
販されているサンプリングオシロスコープの主要機能を
なすものであり、例えばソニーテクトロニクス社製（Ｔ
ＹＰＥ ＣＳＡ４０４）デジタルオシロスコープがこの
機能を有している。そして、上記デジタル信号Ｓ１のア
イパターンＤが、図２（ａ）の如くこの上述のオシロス
コープの表示画面上に、繰返し入力されるクロック信号
Ｓ２に同期して表示される。このアイパターンＤの開口
部は、デジタル信号Ｓ１の振幅レベル数（５レベル）に
対応して３個あり、ドット状に示されるレベル識別デー
タＳ４の振幅ばらつきの程度によって開口度が定まる。
【００１６】ここで、時間Ｔ１およびＴ５がビット中心
点，時間Ｔ３が上記アイパターンの収束点を示してい
る。サンプリングデータＳ３は、デジタル信号Ｓ１の波
形劣化に対応し、同一振幅レベルを示すべきときでもレ
ベルがばらついている。このレベルばらつきは、アイパ
ターン収束点Ｔ３では少なく、逆にビット中心点Ｔ１
（またはＴ５）では大きいという特徴を持つ。図２
（ｂ）を参照すると、この振幅ヒストグラム図は、アイ
パターン収束点Ｔ３付近の時間Ｔ２〜Ｔ４を計数時間Ｔ
ｍとし、振幅レベル−２〜＋２の範囲をを計数レベル範
囲とするマスクＡの範囲の計数データＳ５の度数（ドッ
ト度数）を計数している。アイパターン収束点Ｔ５付近
では、このドット度数は、振幅レベル−２，−１，０，
＋１および＋２において極小になり、逆にこれらの振幅
レベルの中間にあるアイパターン収束点レベル（振幅レ
ベル−１．５，−０．５，＋０．５および＋１．５）に
おいて極大になる。
点，時間Ｔ３が上記アイパターンの収束点を示してい
る。サンプリングデータＳ３は、デジタル信号Ｓ１の波
形劣化に対応し、同一振幅レベルを示すべきときでもレ
ベルがばらついている。このレベルばらつきは、アイパ
ターン収束点Ｔ３では少なく、逆にビット中心点Ｔ１
（またはＴ５）では大きいという特徴を持つ。図２
（ｂ）を参照すると、この振幅ヒストグラム図は、アイ
パターン収束点Ｔ３付近の時間Ｔ２〜Ｔ４を計数時間Ｔ
ｍとし、振幅レベル−２〜＋２の範囲をを計数レベル範
囲とするマスクＡの範囲の計数データＳ５の度数（ドッ
ト度数）を計数している。アイパターン収束点Ｔ５付近
では、このドット度数は、振幅レベル−２，−１，０，
＋１および＋２において極小になり、逆にこれらの振幅
レベルの中間にあるアイパターン収束点レベル（振幅レ
ベル−１．５，−０．５，＋０．５および＋１．５）に
おいて極大になる。
【００１７】図１のＣＰＵ２は、一定時間（例えばデジ
タル信号Ｓ１の波形サンプリング測定装置１への特定数
のビット入力）ごとに、測定装置１からＧＰ−ＩＢバス
を通して計数データＳ５を読み込み、この計数データＳ
５の振幅ばらつきの程度を統計処理する。
タル信号Ｓ１の波形サンプリング測定装置１への特定数
のビット入力）ごとに、測定装置１からＧＰ−ＩＢバス
を通して計数データＳ５を読み込み、この計数データＳ
５の振幅ばらつきの程度を統計処理する。
【００１８】上記統計処理の一つは、以下のとおり実行
する。いま、識別レベル番号ｉのときの計数データＳ５
のドット度数をＹ（ｉ）とする。ＣＰＵ１は、振幅ばら
つきを評価すべきｉの範囲を決定する。統計処理を行う
ときには、ドット度数Ｙ（ｉ）のピーク部分を一固まり
にするように（即ち、振幅ばらつきが計算できるよう
に）、ｉの範囲を振幅レベル−２から−１のレベル範囲
に設定する（なお、この振幅レベル設定範囲は、ドット
度数のピーク部分が一固まりになるならば、他のレベル
範囲に設定してもよい）。ＣＰＵ２は、ドット度数Ｙ
（０）〜Ｙ（ｎ）から、計数データＳ５の振幅ばらつき
の程度を表わす標準偏差σを計算する。ここで、計数デ
ータＳ５の分散をｓとする。
する。いま、識別レベル番号ｉのときの計数データＳ５
のドット度数をＹ（ｉ）とする。ＣＰＵ１は、振幅ばら
つきを評価すべきｉの範囲を決定する。統計処理を行う
ときには、ドット度数Ｙ（ｉ）のピーク部分を一固まり
にするように（即ち、振幅ばらつきが計算できるよう
に）、ｉの範囲を振幅レベル−２から−１のレベル範囲
に設定する（なお、この振幅レベル設定範囲は、ドット
度数のピーク部分が一固まりになるならば、他のレベル
範囲に設定してもよい）。ＣＰＵ２は、ドット度数Ｙ
（０）〜Ｙ（ｎ）から、計数データＳ５の振幅ばらつき
の程度を表わす標準偏差σを計算する。ここで、計数デ
ータＳ５の分散をｓとする。
【００１９】
【００２０】ＣＰＵ２は、計数データＳ５の標準偏差σ
を計算すると、予め定めた判定定数Ｃとこの標準偏差σ
とを比較し、標準偏差σが判定定数Ｃより小さいとき、
波形サンプリング測定回路１に入力されたデジタル信号
Ｓ１のアイパターン開口度が良好であると判定する。
を計算すると、予め定めた判定定数Ｃとこの標準偏差σ
とを比較し、標準偏差σが判定定数Ｃより小さいとき、
波形サンプリング測定回路１に入力されたデジタル信号
Ｓ１のアイパターン開口度が良好であると判定する。
【００２１】図３は図２（ｂ）の計数データＳ５の振幅
ヒストグラムの一例を示す図である。
ヒストグラムの一例を示す図である。
【００２２】この計数データＳ５は、識別レベルを２５
６区分（ｎ＝２５５）したレベル識別データＳ４を蓄積
している。また、振幅レベル−２と−１との間を４０区
分（ｉ＝０からｉ＝３９まで）している。この計数デー
タＳ５は、デジタル信号Ｓ１を５ビット分，且つ測定時
間Ｔｍの間に蓄積されたものである。なお、デジタル信
号Ｓ１のビット間隔は８２０μＳであり、サンプリング
回路１１のサンプリング間隔は２０ｎＳである。レベル
識別番号ｉ＝０からｉ＝３９の間で計算されたこの計数
データＳ５の標準偏差σは、７．３であり、この標準偏
差の値でのデジタル信号Ｓ１は、ビットエラーレート１
×１０-3を示した。
６区分（ｎ＝２５５）したレベル識別データＳ４を蓄積
している。また、振幅レベル−２と−１との間を４０区
分（ｉ＝０からｉ＝３９まで）している。この計数デー
タＳ５は、デジタル信号Ｓ１を５ビット分，且つ測定時
間Ｔｍの間に蓄積されたものである。なお、デジタル信
号Ｓ１のビット間隔は８２０μＳであり、サンプリング
回路１１のサンプリング間隔は２０ｎＳである。レベル
識別番号ｉ＝０からｉ＝３９の間で計算されたこの計数
データＳ５の標準偏差σは、７．３であり、この標準偏
差の値でのデジタル信号Ｓ１は、ビットエラーレート１
×１０-3を示した。
【００２３】上記ビットエラーレートはアイパターン開
口度にほぼ対応するので、図１の実施例の動作の一つ
は、上記サンプリング波形測定回路１とＣＰＵ２を使用
してデジタル信号Ｓ１に応答して生成した計数データＳ
５の標準偏差σを計算することにより、デジタル信号Ｓ
１のアイパターン開口度評価を短時間にしかも簡便に行
うことができる。
口度にほぼ対応するので、図１の実施例の動作の一つ
は、上記サンプリング波形測定回路１とＣＰＵ２を使用
してデジタル信号Ｓ１に応答して生成した計数データＳ
５の標準偏差σを計算することにより、デジタル信号Ｓ
１のアイパターン開口度評価を短時間にしかも簡便に行
うことができる。
【００２４】なお、図１の実施例では、入力されるデジ
タル信号Ｓ１が多値レベル信号であったが、この信号Ｓ
１が２値信号であれば、より簡単にアイパターン開口度
評価を行えるのは明らかである。
タル信号Ｓ１が多値レベル信号であったが、この信号Ｓ
１が２値信号であれば、より簡単にアイパターン開口度
評価を行えるのは明らかである。
【００２５】図４は、図１の実施例の動作の別の一つを
説明する信号波形図であり、（ａ）図は入力デジタル信
号Ｓ１の波形改善前のアイパターン図、（ｂ）図は
（ａ）図におけるカウンタ回路１３の蓄積する計数デー
タＳ５の振幅ヒストグラム図、（ｃ）図は入力デジタル
信号Ｓ１の波形改善後のアイパターン図、（ｄ）図は
（ｃ）図におけるカウンタ回路１３の蓄積する計数デー
タＳ５の振幅ヒストグラム図である。
説明する信号波形図であり、（ａ）図は入力デジタル信
号Ｓ１の波形改善前のアイパターン図、（ｂ）図は
（ａ）図におけるカウンタ回路１３の蓄積する計数デー
タＳ５の振幅ヒストグラム図、（ｃ）図は入力デジタル
信号Ｓ１の波形改善後のアイパターン図、（ｄ）図は
（ｃ）図におけるカウンタ回路１３の蓄積する計数デー
タＳ５の振幅ヒストグラム図である。
【００２６】図４の実施例動作では、図２（ａ）または
図４（ａ），（ｃ）に示すマスクＢ部分の計数データＳ
５からこのデータＳ５の標準偏差σ１，σ２を計算す
る。マスクＢは、デジタル信号Ｓ１のビット中心点Ｔ１
の近傍，時間（Ｔ１−Ｔｄ）と時間（Ｔ１＋Ｔｄ）との
間および振幅のピーク点近傍，振幅レベル＋２ないし＋
１．５の範囲で形成される。デジタル信号Ｓ１の波形が
劣化している場合（ａ，ｂ図参照，装置の未調整のとき
など）には、信号Ｓ１ピーク点の時間Ｔ１への収束が悪
いため、計数データＳ５のドット度数のピークが振幅レ
ベルの広い範囲に広がり、従ってこの計数データＳ５の
標準偏差σ１は、図示するとおり、ｙａ／２に広がって
いる。しかし、デジタル信号Ｓ１の波形が良好であると
（ｃ，ｄ図参照，装置の調整後のときなど）には、信号
Ｓ１ピーク点の時間Ｔ１への収束が良く、計数データＳ
５のドット度数のピークは狭くなり、この計数データＳ
５の標準偏差σ２は、図示するとおり、ｙｂ／２のよう
に狭くなる。従って、この実施例動作においても、計数
データＳ５の標準偏差を計算することにより、デジタル
信号Ｓ１のアイパターン開口度評価を行うことができ
る。
図４（ａ），（ｃ）に示すマスクＢ部分の計数データＳ
５からこのデータＳ５の標準偏差σ１，σ２を計算す
る。マスクＢは、デジタル信号Ｓ１のビット中心点Ｔ１
の近傍，時間（Ｔ１−Ｔｄ）と時間（Ｔ１＋Ｔｄ）との
間および振幅のピーク点近傍，振幅レベル＋２ないし＋
１．５の範囲で形成される。デジタル信号Ｓ１の波形が
劣化している場合（ａ，ｂ図参照，装置の未調整のとき
など）には、信号Ｓ１ピーク点の時間Ｔ１への収束が悪
いため、計数データＳ５のドット度数のピークが振幅レ
ベルの広い範囲に広がり、従ってこの計数データＳ５の
標準偏差σ１は、図示するとおり、ｙａ／２に広がって
いる。しかし、デジタル信号Ｓ１の波形が良好であると
（ｃ，ｄ図参照，装置の調整後のときなど）には、信号
Ｓ１ピーク点の時間Ｔ１への収束が良く、計数データＳ
５のドット度数のピークは狭くなり、この計数データＳ
５の標準偏差σ２は、図示するとおり、ｙｂ／２のよう
に狭くなる。従って、この実施例動作においても、計数
データＳ５の標準偏差を計算することにより、デジタル
信号Ｓ１のアイパターン開口度評価を行うことができ
る。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように本発明による波形識
別装置は、アイパターン開口度を評価すべき（波形識別
すべき）デジタル信号をサンプリングし、このサンプリ
ングデータにおける振幅レベルの標準偏差を特定の時間
および振幅レベルに区切って計算し、この計算結果から
上記アイパターン開口度を評価するので、デジタル信号
のアイパターン開口度評価を自動的にしかも低い確率で
アイパターンが劣化している信号についても十分な評価
を行うことができるという効果がある。
別装置は、アイパターン開口度を評価すべき（波形識別
すべき）デジタル信号をサンプリングし、このサンプリ
ングデータにおける振幅レベルの標準偏差を特定の時間
および振幅レベルに区切って計算し、この計算結果から
上記アイパターン開口度を評価するので、デジタル信号
のアイパターン開口度評価を自動的にしかも低い確率で
アイパターンが劣化している信号についても十分な評価
を行うことができるという効果がある。
【００２８】またこの発明は、簡便な装置を用いて短時
間に波形識別を行うことができるので、ＰＣＭ通信装置
の装置調整時等において有効に利用できる。
間に波形識別を行うことができるので、ＰＣＭ通信装置
の装置調整時等において有効に利用できる。
【００２９】さらにこの発明は、多値レベル・デジタル
信号のアイパターン開口度評価ができるという効果があ
る。
信号のアイパターン開口度評価ができるという効果があ
る。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
【図２】図１の実施例の動作の一つを説明する信号波形
図であり、（ａ）は入力デジタル信号のアイパターン
図、（ｂ）はカウンタ回路１３の蓄積する計数データＳ
５の振幅ヒストグラム図である。
図であり、（ａ）は入力デジタル信号のアイパターン
図、（ｂ）はカウンタ回路１３の蓄積する計数データＳ
５の振幅ヒストグラム図である。
【図３】図２（ｂ）の計数データＳ５の振幅ヒストグラ
ムの一例を示す図である。
ムの一例を示す図である。
【図４】図１の実施例の動作の別の一つを説明する信号
波形図であり、（ａ）は入力デジタル信号の波形改善前
のアイパターン図、（ｂ）は（ａ）におけるカウンタ回
路１３の蓄積する計数データＳ５の振幅ヒストグラム
図、（ｃ）は入力デジタル信号の波形改善後のアイパタ
ーン図、（ｄ）は（ｃ）におけるカウンタ回路１３の蓄
積する計数データＳ５の振幅ヒストグラム図である。
波形図であり、（ａ）は入力デジタル信号の波形改善前
のアイパターン図、（ｂ）は（ａ）におけるカウンタ回
路１３の蓄積する計数データＳ５の振幅ヒストグラム
図、（ｃ）は入力デジタル信号の波形改善後のアイパタ
ーン図、（ｄ）は（ｃ）におけるカウンタ回路１３の蓄
積する計数データＳ５の振幅ヒストグラム図である。
１ 波形サンプリング測定回路 ２ ＣＰＵ １１ サンプリング回路 １２ レベル識別回路 １３ カウンタ回路
Claims (5)
- 【請求項１】 一定のビットレートで繰返し入力される
デジタル信号をサンプリングしてサンプリングデータを
生じるサンプリング回路と、前記サンプリングデータを
複数のレベルに区分してレベル識別データを生じるレベ
ル識別回路と、前記レベル識別データを前記デジタル信
号の特定タイムスロット区間において各レベル毎に計数
しこの計数データを一時蓄積するカウンタ回路と、特定
レベル範囲における前記計数データの標準偏差を計算す
る波形識別手段とを備えることを特徴とする波形識別装
置。 - 【請求項２】 前記特定タイムスロット区間が、前記デ
ジタル信号のアイパターン収束点付近に設定されている
ことを特徴とする請求項１記載の波形識別装置。 - 【請求項３】前記特定タイムスロット区間が、前記デジ
タル信号のビット中心点付近に設定されていることを特
徴とする請求項１記載の波形識別装置。 - 【請求項４】 前記デジタル信号が、多値振幅レベルを
有し、 前記特定レベル範囲が、アイパターン収束点のレベルを
中心として１単位振幅レベル以下であることを特徴とす
る請求項１記載の波形識別装置。 - 【請求項５】 一定のビットレートで繰返し入力される
多値振幅レベルのデジタル信号をサンプリングしてサン
プリングデータを生じるサンプリング回路と、前記サン
プリングデータを複数のレベルに区分してレベル識別デ
ータを生じるレベル識別回路と、前記レベル識別データ
を前記デジタル信号の特定タイムスロット区間において
各レベル毎に計数しこの計数データを一時蓄積するカウ
ンタ回路と、特定レベル範囲における前記計数データの
標準偏差を計算する波形識別手段とを備え、 前記特定タイムスロット区間が、前記デジタル信号のア
イパターン収束点付近に設定されており、 前記特定レベル範囲が、アイパターン収束点のレベルを
中心として１単位振幅レベル以下であることを特徴とす
る波形識別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5002285A JPH0810851B2 (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | 波形識別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5002285A JPH0810851B2 (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | 波形識別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06237231A JPH06237231A (ja) | 1994-08-23 |
| JPH0810851B2 true JPH0810851B2 (ja) | 1996-01-31 |
Family
ID=11525106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5002285A Expired - Fee Related JPH0810851B2 (ja) | 1993-01-11 | 1993-01-11 | 波形識別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPH0810851B2 (ja) |
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-
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- 1993-01-11 JP JP5002285A patent/JPH0810851B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JPH06237231A (ja) | 1994-08-23 |
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