JP2007515816A - 任意のテスト信号を使用するデジタルデータ信号のテスト - Google Patents

Abstract

デジタルデータ信号（２０）をテストするために、サンプリングポイントにおいてデジタルデータ信号（２０）から導出された値（６０Ａ）が、分析ユニット（８０）内で任意のテスト信号の対応する値と比較される。この比較は、導出された値が任意のテスト信号の対応する値と実質的に一致しない場合はエラーと解釈され（８０）、デジタルデータ信号のビットエラーレートが決定される。

Description

本発明はデジタルデータ信号のテストに関する。

デジタル信号の遷移挙動を特徴づける、すなわち論理ゼロから論理１への遷移または論理１から論理ゼロへの遷移を特徴づけることは、デジタル回路の設計および製造においてますます重要になっている。被測定物（ＤＵＴ）をテストするために、通常、１つまたは複数の刺激信号をＤＵＴに供給し、刺激信号に対する１つまたは複数の応答信号を検出し、（たとえば、検出された応答信号を期待される応答信号と比較することによって）分析する。

デジタル回路の標準的な特徴付けでは、いわゆるビットエラーレート（ＢＥＲ）、すなわち、関連するデジタル信号の総数に対するエラーのあるデジタル信号（ビット）の比を決定する必要がある。アナライザの掃引遅延（sweep over delay）および閾値を使用して生成された２次元グラフィカル表現としていわゆるＢＥＲアイダイアグラムを決定するために、本願の出願人であるアジレントテクノロジーズ社によるアジレント（登録商標）Ｅ４８７５Ａユーザソフトウェア及び測定ソフトウェアを含むアジレント（登録商標）８１２５０ＰａｒＢＥＲＴプラットフォームなどのビットエラーレートテスタ（ＢＥＲＴ）が提供されている。結果として、複数のサンプリングポイントに対して、ＢＥＲ値がサンプリングポイントに依存するアイパターンが得られる。

各サンプリングポイントは、絶対時間または相対時間と、応答信号に対して比較される閾値によって決定される（絶対時間や相対時間は、たとえばクロック信号の対応する遷移に対するものであり、クロック信号は、通常は刺激信号を生成するためのシステムクロック、あるいは、システムクロック信号または応答信号から導出されるクロック信号である）。ＢＥＲアイダイアグラムは、アイの中のサンプリングポイントの位置に依存してＢＥＲ値を予想することができる情報を提供する。ジッタ、レベルノイズ（level noise）、位相マージン、品質因子（Ｑファクター）などのパラメータはＢＥＲアイダイアグラムから計算できる。

ＥＰ−Ａ−１２４１４８３、係属中の欧州特許出願０２０１７３３４．０と欧州特許出願０２０１７３３３．２、及び、係属中の国際特許出願ＰＣＴ／ＥＰ／０３５０３０７（これの出願は全て本出願の出願人による）は、ＢＥＲテストの種々の態様を開示している。尚、これらの教示は参照により本明細書に組み込まれるものとする。

本発明の目的はデジタルデータ信号のテスト手段を提供することである。この目的は１または複数の独立請求項に記載された発明によって達成される。好ましい実施形態は、１つまたは複数の従属請求項に示されている。

本発明は１つまたは複数の適切なソフトウェアプログラムによって部分的または完全に具体化することができ、またはサポートすることができる。このプログラムを任意の種類のデータ記憶媒体に記憶することができ、または任意の種類のデータ記憶媒体によって提供することができ、また、任意の適切なデータ処理ユニット内において、またはそのユニットによって実行することができる。好ましくは、ソフトウェアプログラムまたはルーチンは、測定シーケンスを制御し、アイダイアグラム、または、たとえば立ち上がり時間、立ち下り時間、信号レベル、ジッタなどアイダイアグラムの所定のパラメータを計算するために適用される。

本発明の他の目的および多くの付随する利点は、添付の図面及び以下の詳細な説明からより容易かつより十分に理解されるであろう。実質的にまたは機能的に等しいかまたは同様な特徴には同じ参照符号を付している。

「本発明による好適な実施形態のより詳細な説明」
図１において、デジタルテスト信号２０（たとえばＤＵＴから提供される）を分析するための信号分析ユニット１０は、テスト信号２０を受信するサンプリング経路３０と、サンプリング経路３０の出力を受信して、連携して分析するように構成された分析ユニット８０とを備える。

サンプリング経路３０は、テスト信号２０を閾値Ｖｔｈに対して比較し、比較結果として比較信号５０Ａを提供するためのコンパレータ５０を備える。コンパレータ５０は、テスト信号が閾値より大きな場合には第１の値（好ましくはＨＩＧＨ信号）、テスト信号が閾値より小さな場合には第２の値（好ましくはＬＯＷ信号）を比較信号５０Ａとして提供する。

サンプリングデバイス６０は、複数の連続するタイミングマークを含むタイミング信号７０と共に比較信号５０Ａを入力として受信する。サンプリングデバイス６０は１つまたは複数の（及び、好ましくは各々の）タイミングマークに対する比較信号の値を導出するように構成される。サンプリングデバイス６０は、それぞれのタイミングマーク（複数可）に対する比較信号５０Ａの導出された値（複数可）を表すサンプリング信号６０Ａを出力として提供する。

ついで、サンプリング信号６０Ａと任意のテスト信号を比較するための分析ユニット８０によって、サンプリング信号６０Ａに対してさらなる分析を行う（直接でもよいし、さらに処理した後でもよい）。この任意のテスト信号をメモリ９０に記憶することができる。さらに、分析ユニット８０は、（たとえば、後で分析するために）サンプリング信号６０Ａを別のメモリ９５（同じメモリ９０でもよい）に記憶することができる。

オプションとして、デマルチプレクサ６５とディバイダ７５を分析ユニット８０の入力の前に結合して、受信した信号のデータレートを低減してもよい。しばしば、ＢＥＲロジックは、たとえばＦＰＧＡなどの低速デジタル回路内に実施されるので、高速データストリームはいくつかのそれより低速の信号に分解される。この手順はデマルチプレクスまたはデシリアライズと呼ばれ、デマルチプレクサ６５で行なわれる。ディバイダ７５はデマルチプレクサ６５を制御し、より低速のクロック（Clk/n：１／ｎに分周されたクロック）を分析ユニット８０に送る。

図１の例では、タイミング信号７０はクロック信号ＣＬＫから導出される。クロック信号ＣＬＫからのタイミングマークを含むそれぞれのタイミング信号（複数可）を生成するために、１つまたは複数の適切なタイミングユニットを設けてもよい。この例では、タイミングユニット１１０がクロック信号ＣＬＫからタイミング信号を生成する。クロック信号ＣＬＫは、たとえば、内部クロック信号、外部クロック信号、テスト信号２０から導出することができる（たとえば、当該技術分野において周知のクロックデータ回復方式を使用する）。タイミングユニット１１０は、受信したクロック信号内の遷移（好ましくは、立ち上がりエッジと立ち下りエッジのいずれか）からタイミングマークを導出し、さらに、タイミングマークを対応する遷移に対して制御可能に遅延させることにより、受信したクロック信号における対応する遷移に関してタイミングマークを修正できるようにすることもできる。

分析ユニット８０はサンプリング信号６０Ａとタイミング信号７０を受信する。分析ユニット８０はサンプリング信号６０Ａの連携分析（または、タイミング信号７０との連携分析）を提供し、これに関して、閾値Ｖｔｈと共にタイミング信号７０に関する知識を使用する。

閾値Ｖｔｈを変えることにより、サンプリングデバイス６０は可能な各閾値においてサンプリングすることができる。この場合、クロック信号ＣＬＫの対応する遷移に対するタイミングマークの相対的な時間（たとえば遅延時間）を変えることにより、さらに、テスト信号２０を時間軸に沿って分析できるようになる。したがって、たとえば、テスト信号２０のアイダイアグラムを決定することができる。

従って、サンプリングされた各値は、閾値Ｖｔｈによって表されるサンプリングポイントと、デジタルデータ信号２０のタイミングポイントに対応する。シングルエンド信号については、閾値Ｖｔｈは典型的にはデジタルデータ信号２０の電圧レベルに関連する。差分信号については、閾値Ｖｔｈは、デジタルデータ信号２０の通常の信号と、その通常の信号に対して相補的であるデジタルデータ信号２０の相補信号との間の差としての差分信号に関連付けることができる。この場合、コンパレータ５０は、通常の信号を、入力において受信したデジタルデータ信号２０の相補信号と比較する。

タイミングポイントは、相対的タイミングポイントであってもよく、ある期間のある固定値に関連付けることができるが、好ましくは、デジタルデータ信号２０の期間の変動をカバーするために、期間の現在の値に関連付けられる。

ここまでは、図１の実施形態は、実質的に、当該技術分野において周知であり、かつ、前述の文書に開示された標準的なビットエラーレートテスタ（ＢＥＲＴ）を表す。しかしながら、これらの従来技術のＢＥＲＴでは、通常は、ビットエラーレート（ＢＥＲ）の値は、サンプリング信号６０Ａを、エラーがないことが期待されるテスト信号２０を表す期待信号に対して比較することによって決定する。対照的に、本発明による分析ユニット８０はサンプリング信号６０Ａを任意のテスト信号と比較し、それから、ＢＥＲの値を決定したり、さらなる分析結果を得ることができる。サンプリング信号６０Ａの値が任意のテスト信号の対応する値と実質的に一致しない場合、分析ユニット８０は任意のテスト信号との比較結果をエラーとして解釈する。

このような任意のテスト信号は任意の種類の信号とすることができる。この任意のテスト信号（またはこの任意の種類の信号）は、デジタルデータ信号２０とは別個で（または独立しており）、かつ、それと相互に関連しておらず、または、デジタルデータ信号２０とは別個である（または独立している）か、それに相互に関連しておらず、または、デジタルデータ信号２０のデータ内容に関連しておらず、または、デジタルデータ信号２０と決定論的（または因果的）な関係がない。もっとも簡単な場合は、任意のテスト信号は、たとえば、（論理ＨＩＧＨ（高）信号または論理ＬＯＷ（低）信号、または任意の他の論理レベルといった）固定論理値などの任意のテスト値であってもよい。また、任意のテスト信号は、擬似ランダムバイナリシーケンス（ＰＲＢＳ）や、論理値が交番する信号（たとえば論理ＨＩＧＨ信号と論理ＬＯＷ信号の間で交番する信号）といった任意の種類の交番信号などのより複雑な信号であってもよい。

簡単にするために、以下では、任意のテスト信号（以下、任意テスト信号ともいう）を固定論理値のものとし、したがって、分析ユニット８０は、サンプリング信号６０Ａを１つの論理値（ＨＩＧＨまたはＬＯＷ、すなわち、高または低）に対して比較する、ということに基づいて説明を行う。しかしながら、もちろん、本発明による比較分析には、他のより複雑な任意テスト信号を提供することもできる。任意テスト信号として論理値が交番する信号の例では、たとえば交番する論理値ごとに個別に分析を実行することができる。

この例では、任意テスト信号を固定論理ＬＯＷにすると、サンプリング信号６０Ａは常に論理ＬＯＷと比較される。したがって分析ユニット８０は、サンプリング信号６０Ａの論理ＬＯＷからのずれをエラーと解釈する。

ついで、分析ユニット８０は各サンプリングポイントについて、ビット数当たりの、任意テスト信号に対して比較することによって検出されたエラーの比を表すＢＥＲ値を決定することができる。こうして決定されたＢＥＲ値は、期待されるエラーのない信号に対して比較することによって決定されたＢＥＲ値とは異なることに注意されたい。これは、後者の場合、デジタルデータ信号２０の内容が分析において考慮されているが、前者の場合（すなわち本発明の場合）、任意テスト信号はデジタルデータ信号２０の内容とはまったく関係がないためである。これらのＢＥＲ値をよりよく区別するために、以下では、任意テスト信号と比較することにより決定されたＢＥＲ値を任意ビットエラーレート（ＡＢＥＲ）と記す。

分析ユニット８０はＡＢＥＲ値を決定するために、デジタルデータ信号２０のシーケンスにおいて、シーケンス内のビット数、シーケンス内で検出されたエラーの数、シーケンス内でエラーが検出されなかったビットとしてのエラーのないビットの数のうちの２つをカウントする。ＡＢＥＲ値を決定することの詳細内容はＢＥＲを決定することに対応し、それは、当該技術分野では周知であるので本明細書では繰り返さない。

図２は、複数のサンプリングポイントの各々について決定されたＡＢＥＲ値の例を示す。各サンプリングポイントは相対的な時間スケールのそれぞれの値ｔと電圧スケールのそれぞれのＶによって決定される。ＡＢＥＲのそれぞれの値をグレースケールを使用して表している。ＡＢＥＲを決定するための本発明による方式は従来のビットエラーレートテスタによるＢＥＲの決定とはまったく異なるが、図２に示されるＡＢＥＲアイダイアグラムは、従来のＢＥＲアイダイアグラムに似ていることが理解されるであろう。

分析ユニット８０は、さらに、決定されたＡＢＥＲ値を分析することにより、それぞれのサンプリングポイントにおけるデジタルデータ信号２０の発生（出現）の指標を導出することができる。しかしこのような分析を、分析ユニット８０に結合された異なるユニット（たとえば外部ユニット）によって提供することもできる。分析は、好ましくは、たとえば、閾値にわたって、決定されたＡＢＥＲ値の推移の差分をとること（または、閾値に対する、決定されたＡＢＥＲ値の推移を識別すること、あるいは、閾値に対して、決定された一連のＡＢＥＲ値の差分をとること）によってなされる。このような指標は発生（出現）頻度（または発生回数）、または、発生（または出現）分布、または、発生（または出現）確率であってよい。

図３Ａは、閾値Ｖに対する、相対的な時間スケールのある固定値ｔｘにおいて決定されたＡＢＥＲ値の推移（経過）を示す例である。図３Ａの例では、固定値ｔｘは図２の時間軸のほぼ中央になるであろう。

図３Ｂは、図３Ａの固定値ｔｘにおける決定されたＡＢＥＲ値の推移（または一連のＡＢＥＲ値）の差分を閾値Ｖにわたってとった例（または、閾値Ｖに対する一連のＡＢＥＲ値の差分をとった例）を示す。ｙ軸は、それぞれのサンプリングポイント（各々、値ｔｘと、ｘ軸のそれぞれの閾値Ｖによって表される）におけるデジタルデータ信号２０の発生の指標を示す。図３Ｂの例では、発生の指標は発生頻度（発生回数）となる。

分析ユニット８０は、異なるサンプリングポイントについて、導出された発生の指標を図的に（すなわち、グラフィックで）表わすために、受信または決定された情報をさらに処理することができる。しかしこのような処理を、分析ユニット８０に結合された異なるユニット（たとえば外部ユニット）により提供することもできる。グラフィック表現は、たとえば、アイダイアグラムなどにおける、それぞれのサンプリングポイント（たとえば、タイミングポイントや信号レベルの閾値または電圧）に対する、導出された指標の絶対分布または相対分布とすることができる。この表現は決定された指標のそれぞれの値を示すことができるが、値を値の範囲に分割し、特定のタイプの表現（たとえば、色および／または濃淡）をそれぞれの値の範囲に割り当てることによって、この表現をより良く理解することができる。

図４は、図３Ｂに示すような複数の図を異なるｔの値について描いた例を示す。ここで、発生頻度は、それぞれの値の範囲に適用されたグレースケールで表されている（明るい灰色から黒までのうち明るい灰色は発生頻度が最も高いことを表し、黒は発生頻度が最も低いことを表す。背景色は発生が検出されない領域を表す白である）。したがって、図４は、図２の例示的な曲線の発生頻度を表す。この表現は、実質的にはオシロスコープを使用することによって利用できる表現に対応する。

たとえば図３Ａに見られるように、アイの中央のＡＢＥＲ値は一定とは限らない。この挙動は、同じサンプリングポイントで測定を繰り返すことによっても観察されうる。これは、あるテスト間隔から別のテスト間隔までにテスト信号内で１とゼロの比の変動があるためである。アイの中央で発生が生じないことを示す図４のようなアイダイアグラムを得るために、発生頻度（発生回数）が少ない、低い発生確率を有するサンプリングポイントを強制的にゼロにすることができる。これは、図４の例に対してなされている。

本発明の１例によるデジタルテスト信号を分析するための信号分析ユニットを示す図である。 複数のサンプリングポイントについて決定されたＡＢＥＲ値の１例を示す図である。 閾値Ｖに対する、相対的な時間スケールのある固定値ｔｘにおいて決定されたＡＢＥＲ値の経過の１例を示す図である。 図３Ａの固定値ｔｘにおいて決定されたＡＢＥＲ値の経過の差分を、閾値Ｖにわたって（すなわち、閾値を変化させて）とった１例を示す図である。 図３Ｂに示す図を異なるｔの値について示した１例を示す図である。

Claims (29)

1. １つまたは複数の異なるサンプリングポイントの各々について、前記サンプリングポイントにおいてサンプリングされた各値（６０Ａ）を、任意のテスト信号の対応する値と比較する（８０）ことによって、デジタルデータ信号（２０）のビットエラーレートの値を決定するステップを含む、デジタルデータ信号（２０）をテストするための方法。
2. ａ）サンプリングポイントにおけるデジタルデータ信号（２０）から導出された値（６０Ａ）を、任意のテスト信号の対応する値と比較するステップ（８０）と、
   ｂ）前記導出された値が前記任意のテスト信号の対応する値に実質的に一致しない場合は、前記ステップａ）の比較結果をエラーとして解釈するステップ（８０）
   とを含む、デジタルデータ信号（２０）をテストするための方法。
3. ｃ）１つまたは複数の異なるサンプリングポイントの各々について、ビット数当たりの、前記ステップｂ）にしたがって検出されたエラーの比を表すビットエラーレートの値を決定するステップをさらに含む、請求項１または２に記載の方法。
4. 前記ステップｃ）は、前記デジタルデータ信号（２０）のシーケンスにおいて、
   前記シーケンス内のビット数、
   前記シーケンス内で前記ステップｃ）にしたがって検出されたエラーの数、
   前記ステップｃ）に従って前記シーケンス内でエラーが検出されなかったビットとしてのエラーのないビット数
   のうち、少なくとも１つ、好ましくは２つの数、をカウントするステップを含む、請求項３に記載の方法。
5. ｄ）それぞれのサンプリングポイントにおける、または、複数のそれぞれのサンプリングポイントの間における、前記デジタルデータ信号（２０）の発生の指標を導出するために、決定されたビットエラーレートの値を分析するステップをさらに含む、請求項１〜４のいずれかに記載の方法。
6. 前記指標を導出するステップは、決定されたビットエラーレートの値の推移の差分を、前記それぞれのサンプリングポイントの１つの特性、好ましくは閾値にわたってとるステップを含む、請求項５に記載の方法。
7. 前記指標は、発生回数、発生分布、発生確率のうち少なくとも１つである、請求項５または６に記載の方法。
8. ｅ）異なるサンプリングポイントについて、導出された発生の指標を図的に表すステップをさらに含む、請求項５〜７のいずれかに記載の方法。
9. 前記図的に表すステップは、
   それぞれのサンプリングポイントに対して、導出された指標の絶対分布または相対分布を図的に表すステップと、
   導出された指標をアイダイアグラムに図的に表すステップと、
   それぞれの閾値とそれぞれのタイミングポイントに対して、導出された指標の絶対分布または相対分布を図的に表すステップと、
   それぞれの信号レベルの電圧とそれぞれのタイミングポイントに対して、導出された指標の絶対分布または相対分布を図的に表すステップ
   の少なくとも１つのステップを含む、請求項８に記載の方法。
10. 前記ステップａ）からｂ）が複数の異なるサンプリングポイントについて繰り返される、請求項２〜９のいずれかに記載の方法。
11. 前記ステップａ）からｂ）は複数の異なる関連するサンプリングポイントについて繰り返され、各関連するサンプリングポイントは前記デジタルデータ信号（２０）に対応する期間に関するタイミングポイントを表す、請求項２〜１０のいずれかに記載の方法。
12. 前記ステップａ）は、前記サンプリングポイントにおいて前記デジタルデータ信号（２０）から前記値（６０Ａ）を導出するステップ（５０、６０）を含む、請求項２〜１１のいずれかに記載の方法。
13. 前記ステップａ）において、前記値（６０Ａ）は、好ましくはデジタルサンプリングによって、前記サンプリングポイントにおいて前記デジタルデータ信号（２０）の値をサンプリングすること（５０、６０）によって導出される、請求項２〜１２のいずれかに記載の方法。
14. 前記ステップａ）において、前記値は、
    前記デジタルデータ信号（２０）を前記サンプリングポイントの閾値（Ｖｔｈ）と比較（５０）して、これに対応して比較器出力信号（５０Ａ）を提供し、
    前記サンプリングポイントのタイミングポイントにおける前記比較器出力信号（５０Ａ）の値を、前記サンプリングポイントにおける前記デジタルデータ信号（２０）から導出された値（６０Ａ）としてサンプリングする（６０）
    ことによって導出される、請求項２〜１３のいずれかに記載の方法。
15. 前記比較するステップ（５０）は、
    前記デジタルデータ信号（２０）を前記閾値と直接比較する（５０）ことと、
    前記デジタルデータ信号（２０）の通常の信号を、前記通常の信号に対して相補的である前記デジタルデータ信号（２０）の相補信号と比較する（５０）こと
    のうち少なくとも１つを含む、請求項１４に記載の方法。
16. 前記閾値（Ｖｔｈ）が前記デジタルデータ信号（２０）の電圧レベルに関連することと、
    前記閾値（Ｖｔｈ）が、前記デジタルデータ信号（２０）の通常の信号と、前記通常の信号に対して相補的である前記デジタルデータ信号（２０）の相補信号との間の差としての差分信号に関連することと
    のうちの少なくとも１つの特徴を有する、請求項１〜１５のいずれかに記載の方法。
17. 前記タイミングポイントが前記デジタルデータ信号（２０）に対応する期間に関連付けられることと、
    前記タイミングポイントが前記デジタルデータ信号（２０）のテスト時に存在する期間の現在の値に関連付けられることと、
    前記タイミングポイントがある期間のある固定値に関連付けられることと、
    前記タイミングポイントが前記デジタルデータ信号（２０）のテスト期間に実質的に対応する期間のある固定値に関連付けられることと、
    前記タイミングポイントが前記デジタルデータ信号（２０）の期間の変動と共に変わる期間の現在の値に関連付けられること
    とのうちの少なくとも１つの特徴を有する、請求項１〜１６のいずれかに記載の方法。
18. 前記任意のテスト信号は、
    前記デジタルデータ信号（２０）とは別個の信号、
    前記デジタルデータ信号（２０）のデータ内容と関連のない信号、
    前記デジタルデータ信号（２０）と相互に関連しない信号、
    前記デジタルデータ信号（２０）と決定論的な関係がない信号、
    前記デジタルデータ信号（２０）とは独立した信号、
    任意のテスト値、
    好ましくは論理ＨＩＧＨ信号と論理ＬＯＷ信号のうち１つである固定論理値、
    前記デジタルデータ信号（２０）の１つの論理レベル、
    擬似ランダムバイナリシーケンスＰＲＢＳ、
    交番する信号、
    好ましくは論理ＨＩＧＨ信号と論理ＬＯＷ信号の間で交番する、交番する論理値を有する信号
    のうち少なくとも１つである、請求項１〜１７のいずれかに記載の方法。
19. 前記デジタルデータ信号（２０）は論理値が交番する信号であり、前記ステップｃ）は前記交番する論理値の各値について個別に実行される、請求項３〜１８のいずれかに記載の方法。
20. 前記各サンプリングポイントは、
    閾値（Ｖｔｈ）と、
    前記デジタルデータ信号（２０）内のタイミングポイント
    のうち少なくとも１つの特性によって表される、請求項１〜１９のいずれかに記載の方法。
21. 好ましくはデータ記憶媒体に記憶され、コンピュータなどのデータ処理システム上で実行されると請求項１〜２０のいずれかに記載の方法を実行するソフトウェアプログラムまたは製品。
22. １つまたは複数の異なるサンプリングポイントの各々について、サンプリングポイントにおいてサンプリングされた各値を任意のテスト信号の対応する値と比較することにより、デジタルデータ信号（２０）のビットエラーレートの値を決定するように構成されたビットエラーレートユニット（８０）を備える、デジタルデータ信号（２０）をテストするためのシステム。
23. サンプリングポイントにおけるデジタルデータ信号（２０）から導出された値を任意のテスト信号の対応する値と比較するように構成されたコンパレータ（８０）と、
    前記導出された値が前記任意のテスト信号の対応する値と実質的に一致しない場合は、前記ステップａ）での比較結果をエラーとして解釈するように構成されたエラー検出器（８０）
    を備える、デジタルデータ信号（２０）をテストするためのシステム。
24. １つまたは複数の異なるサンプリングポイントの各々について、ビット数当たりの、前記エラー検出器が検出したエラーの比を表すビットエラーレートの値を決定するように構成されたビットエラーレートユニット（８０）をさらに備える、請求項２２または２３に記載のシステム。
25. 前記ビットエラーレートユニット（８０）は、前記デジタルデータ信号（２０）のシーケンスにおいて、
    前記シーケンス内のビット数と、
    前記シーケンス内で前記エラー検出器が検出したエラーの数と、
    前記エラー検出器がエラーを検出しなかったビットとしての前記シーケンス内のエラーのないビットの数
    のうちの少なくとも１つ、好ましくは２つ、をカウントするように構成されたカウンタを備える、請求項２４に記載のシステム。
26. それぞれのサンプリングポイントにおいて前記デジタルデータ信号（２０）の発生の指標を導出するために、ビットエラーレートの決定された値を分析するように構成された分析ユニット（８０）をさらに備える、請求項２２〜２５のいずれかに記載のシステム。
27. 前記分析ユニットは、
    前記決定されたビットエラーレートの値の推移の差分を、それぞれのサンプリングポイントの１つの特性、好ましくは前記閾値にわたってとるように構成された差分器（または微分器８０）を備える、請求項２６に記載のシステム。
28. 前記指標は、発生頻度、発生分布、発生確率のうちの少なくとも１つである、請求項２６または２７に記載のシステム。
29. 異なるサンプリングポイントに対して、導出された発生の指標を図的に表すように構成されたグラフィックスユニットをさらに備える、請求項２６〜２８のいずれかに記載のシステム。

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