JP2006292749A - ランダムジッタ成分とデターミニスティックジッタ成分の分離 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】計測されたジッタの分布が取得される。ジッタの選択された成分について形態が選択される。選択される成分は、ランダム成分またはデターミニスティック成分である。選択された成分の選択された形態は、残りの成分の一般化関数と畳み込みされ、結果として生じる式を得る。この式が、計測されたジッタの分布にフィッティングされる。
【選択図】図1
Description
Claims (10)
- ランダムジッタ成分とデターミニスティックジッタ成分を分離する方法であって、
計測されたジッタの分布を取得するステップ(11)と、
選択されたジッタ成分用の形態を選択するステップ(12)であって、該選択されたジッタ成分は、前記ランダムジッタ成分又は前記デターミニスティックジッタ成分のいずれかであり、残りのジッタ成分は、該選択されたジッタ成分ではない前記ランダムジッタ成分又は前記デターミニスティックジッタ成分のいずれかである、ステップ(12)と、
前記選択されたジッタ成分用の前記選択された形態を、前記残りのジッタ成分用の一般関数と畳み込むことにより、結果として生じる式を得るステップ(13)と、
前記得られた式を、前記計測されたジッタの分布に対してフィッティングさせるステップ(14)と、
を含む、方法。 - 前記選択されたジッタ成分は、前記ランダムジッタ成分であり、前記残りのジッタ成分は、前記デターミニスティックジッタ成分である、
請求項1に記載の方法。 - 前記選択されたジッタ成分は、前記ランダムジッタ成分であり、前記選択された形態は、ガウスの形態である、
請求項1に記載の方法。 - 前記一般関数は、フーリエ級数として記述される、
請求項1に記載の方法。 - 前記得られた式を、前記計測されたジッタの分布に対してフィッティングすることにより得られるパラメータ値を使用し、前記残りのジッタ成分の値を取得するステップをさらに含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記得られた式を、前記計測されたジッタの分布に対してフィッティングすることにより得られるパラメータ値を使用し、前記選択されたジッタ成分および前記残りのジッタ成分の値を取得するステップをさらに含む、
請求項1に記載の方法。 - 前記選択されたジッタ成分が、該選択されたジッタ成分用の前記選択された形態に準拠しているかどうかを判定するようチェックするステップをさらに含む、
請求項1に記載の方法。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016133407A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 三菱電機株式会社 | ジッタ分離装置 |
JP2016136728A (ja) * | 2012-12-13 | 2016-07-28 | インテル・コーポレーション | Pam送信機におけるジッタを測定する方法、送信された信号における歪みを測定する方法、抑制のための歪み測定、pam送信機における偶数−奇数ジッタを測定する方法、クロックランダムジッタおよびクロック確定ジッタを計算する試験装置 |
JP2021511513A (ja) * | 2018-01-23 | 2021-05-06 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | ガウス分布及び有界成分を含むランダム・タイミング・ジッタの定量化 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7460592B2 (en) * | 2005-05-04 | 2008-12-02 | Advantest Corporation | Apparatus for measuring jitter and method of measuring jitter |
US7856463B2 (en) * | 2006-03-21 | 2010-12-21 | Advantest Corporation | Probability density function separating apparatus, probability density function separating method, testing apparatus, bit error rate measuring apparatus, electronic device, and program |
US20090213918A1 (en) * | 2008-02-27 | 2009-08-27 | Waschura Thomas E | Separating jitter components in a data stream |
US8271219B2 (en) * | 2008-10-24 | 2012-09-18 | Advantest Corporation | Deterministic component model identifying apparatus, identifying method, program, recording medium, test system and electronic device |
US8379754B2 (en) | 2009-03-31 | 2013-02-19 | Infineon Technologies Ag | Method and device for predicting a figure of merit from a distribution |
US9294237B2 (en) * | 2014-07-30 | 2016-03-22 | Tektronix, Inc. | Method for performing joint jitter and amplitude noise analysis on a real time oscilloscope |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003052670A1 (en) * | 2001-12-14 | 2003-06-26 | Wavecrest Corporation | Method and apparatus for analyzing a distribution |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69923160T2 (de) * | 1998-01-30 | 2005-12-29 | Wavecrest Corp., Edina | Jitter analysator und verfahren zur jitter analyse |
US6298315B1 (en) * | 1998-12-11 | 2001-10-02 | Wavecrest Corporation | Method and apparatus for analyzing measurements |
AU2001281363A1 (en) * | 2000-08-01 | 2002-02-13 | Wavecrest Corporation | Electromagnetic and optical analyzer |
US6832172B2 (en) | 2001-06-15 | 2004-12-14 | Tektronix, Inc. | Apparatus and method for spectrum analysis-based serial data jitter measurement |
US7206340B2 (en) * | 2003-01-29 | 2007-04-17 | Agilent Technologies, Inc. | Characterizing jitter of repetitive patterns |
DE60310886T2 (de) * | 2003-05-22 | 2007-05-10 | Agilent Technologies Inc., Santa Clara | Polynomiale Anpassung für Zittertrennung |
US6898535B2 (en) * | 2003-10-14 | 2005-05-24 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for decomposing signal jitter using multiple acquisitions |
US7512196B2 (en) * | 2004-06-28 | 2009-03-31 | Guidetech, Inc. | System and method of obtaining random jitter estimates from measured signal data |
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Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003052670A1 (en) * | 2001-12-14 | 2003-06-26 | Wavecrest Corporation | Method and apparatus for analyzing a distribution |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016136728A (ja) * | 2012-12-13 | 2016-07-28 | インテル・コーポレーション | Pam送信機におけるジッタを測定する方法、送信された信号における歪みを測定する方法、抑制のための歪み測定、pam送信機における偶数−奇数ジッタを測定する方法、クロックランダムジッタおよびクロック確定ジッタを計算する試験装置 |
JP2016133407A (ja) * | 2015-01-20 | 2016-07-25 | 三菱電機株式会社 | ジッタ分離装置 |
JP2021511513A (ja) * | 2018-01-23 | 2021-05-06 | テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. | ガウス分布及び有界成分を含むランダム・タイミング・ジッタの定量化 |
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