JP3410356B2 - 信号品質監視回路 - Google Patents
信号品質監視回路Info
- Publication number
- JP3410356B2 JP3410356B2 JP06297798A JP6297798A JP3410356B2 JP 3410356 B2 JP3410356 B2 JP 3410356B2 JP 06297798 A JP06297798 A JP 06297798A JP 6297798 A JP6297798 A JP 6297798A JP 3410356 B2 JP3410356 B2 JP 3410356B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- threshold voltage
- output
- signal
- mark
- transmission signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Dc Digital Transmission (AREA)
- Time-Division Multiplex Systems (AREA)
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気通信網におけ
る伝送特性の劣化を調べるための信号品質監視回路に関
するものである。
る伝送特性の劣化を調べるための信号品質監視回路に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】電気通信網の伝送品質を特定するための
ファクタとして符号誤り率或いはＱ値が用いられる。符
号誤り率を測定する方法の一つにＳＤＨ伝送方式におけ
るＢＩＰ−８と呼ばれる監視方式がある。ＢＩＰ−８
は、全てのビットから符号誤り率を推定するのではな
く、或る周期毎に特定のビットのみを抜き出してそのビ
ットから符号誤り率を推定する。しかしこのＢＩＰ−８
はＳＤＨ伝送方式に限られたものであり、他の信号系、
例えばＰＨＤのような場合には、別の方法を用いなけれ
ばならないので、ＳＤＨ符号誤り監視回路はＰＨＤには
適用できない。
ファクタとして符号誤り率或いはＱ値が用いられる。符
号誤り率を測定する方法の一つにＳＤＨ伝送方式におけ
るＢＩＰ−８と呼ばれる監視方式がある。ＢＩＰ−８
は、全てのビットから符号誤り率を推定するのではな
く、或る周期毎に特定のビットのみを抜き出してそのビ
ットから符号誤り率を推定する。しかしこのＢＩＰ−８
はＳＤＨ伝送方式に限られたものであり、他の信号系、
例えばＰＨＤのような場合には、別の方法を用いなけれ
ばならないので、ＳＤＨ符号誤り監視回路はＰＨＤには
適用できない。
【０００３】その他のＱ値測定方法の従来例には、マー
ク又はスペースを判断する閾値を変えて、その各々の値
に対して符号誤り率を測定した結果からＱ値を算出する
ものがある（N.S.Bergano et al.,IEEE Photon.Techno
l.Lett.,Vol.5,No.3,pp304-306,1993参照）。しかし、
この方法では、回路の規模が大きくなり、測定に多くの
時間を要し、また、高価であるという問題があった。
ク又はスペースを判断する閾値を変えて、その各々の値
に対して符号誤り率を測定した結果からＱ値を算出する
ものがある（N.S.Bergano et al.,IEEE Photon.Techno
l.Lett.,Vol.5,No.3,pp304-306,1993参照）。しかし、
この方法では、回路の規模が大きくなり、測定に多くの
時間を要し、また、高価であるという問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述の問題
点に鑑み、信号フォーマットに依存しない簡便な信号品
質監視回路を提供することを目的とする。
点に鑑み、信号フォーマットに依存しない簡便な信号品
質監視回路を提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項１の発明は、スペース及びマークの二値信号
が伝送されるマーク率が１／２であるような光伝送シス
テムの性能を評価する信号品質監視回路であって、一定
の間隔で変化する閾値電圧を発生する閾値電圧発生手段
と、閾値電圧発生手段から発生した閾値電圧と品質監視
されるべき伝送信号とを比較する比較器と、比較器から
の出力をカウントするカウンターと、カウンターからの
出力と前記閾値電圧発生手段からの出力とに基づいて伝
送信号のＱ値を求める演算回路とを具え、該演算回路
は、伝送信号のスペース及びマークにそれぞれ対応する
出力電圧の平均値μ0 及びμ1並びに当該出力電圧の標
準偏差σ0 及びσ1を算出し、次式： に基づいて伝送信号のＱ値を算出することを特徴とす
る。
め、請求項１の発明は、スペース及びマークの二値信号
が伝送されるマーク率が１／２であるような光伝送シス
テムの性能を評価する信号品質監視回路であって、一定
の間隔で変化する閾値電圧を発生する閾値電圧発生手段
と、閾値電圧発生手段から発生した閾値電圧と品質監視
されるべき伝送信号とを比較する比較器と、比較器から
の出力をカウントするカウンターと、カウンターからの
出力と前記閾値電圧発生手段からの出力とに基づいて伝
送信号のＱ値を求める演算回路とを具え、該演算回路
は、伝送信号のスペース及びマークにそれぞれ対応する
出力電圧の平均値μ0 及びμ1並びに当該出力電圧の標
準偏差σ0 及びσ1を算出し、次式： に基づいて伝送信号のＱ値を算出することを特徴とす
る。
【０００６】請求項２の発明は、スペース及びマークの
二値信号が伝送されるマーク率が１／２であるような光
伝送システムの性能を評価する信号品質監視回路であっ
て、複数の異なる閾値電圧を発生する閾値電圧発生手段
と、閾値電圧発生手段から発生したそれぞれの閾値電圧
に対応して設けられ、該閾値電圧と品質監視されるべき
伝送信号とを比較する複数の比較器と、比較器に対応し
て設けられ、比較器からの出力をカウントする複数のカ
ウンターと、複数のカウンターからのそれぞれの出力と
閾値電圧発生手段からのそれぞれの出力とに基づいて伝
送信号のＱ値を求める演算回路とを具え、該演算回路
は、伝送信号のスペース及びマークにそれぞれ対応する
出力電圧の平均値μ0 及びμ1並びに当該出力電圧の標
準偏差σ0及びσ1を算出し、次式： に基づいて伝送信号のＱ値を算出することを特徴とす
る。
二値信号が伝送されるマーク率が１／２であるような光
伝送システムの性能を評価する信号品質監視回路であっ
て、複数の異なる閾値電圧を発生する閾値電圧発生手段
と、閾値電圧発生手段から発生したそれぞれの閾値電圧
に対応して設けられ、該閾値電圧と品質監視されるべき
伝送信号とを比較する複数の比較器と、比較器に対応し
て設けられ、比較器からの出力をカウントする複数のカ
ウンターと、複数のカウンターからのそれぞれの出力と
閾値電圧発生手段からのそれぞれの出力とに基づいて伝
送信号のＱ値を求める演算回路とを具え、該演算回路
は、伝送信号のスペース及びマークにそれぞれ対応する
出力電圧の平均値μ0 及びμ1並びに当該出力電圧の標
準偏差σ0及びσ1を算出し、次式： に基づいて伝送信号のＱ値を算出することを特徴とす
る。
【０００７】光多中継伝送において、ファイバを伝搬し
た光信号の強度損失を補償して光信号の強度を一定に保
つために各中継点で光増幅器が使用される。しかし、光
増幅器は自然放出光による雑音（amplified spontaneou
s emission noise: ＡＳＥ雑音）を発生させ、このＡＳ
Ｅ雑音は光信号と共に光ファイバ中を伝搬して中継点で
増幅される。従って、中継器の数の増加に伴ってＡＳＥ
雑音が増加し、他の雑音と比較して支配的なものとな
る。
た光信号の強度損失を補償して光信号の強度を一定に保
つために各中継点で光増幅器が使用される。しかし、光
増幅器は自然放出光による雑音（amplified spontaneou
s emission noise: ＡＳＥ雑音）を発生させ、このＡＳ
Ｅ雑音は光信号と共に光ファイバ中を伝搬して中継点で
増幅される。従って、中継器の数の増加に伴ってＡＳＥ
雑音が増加し、他の雑音と比較して支配的なものとな
る。
【０００８】ＡＳＥ雑音が重畳された光信号を受信し復
調すると、スペース及びマークに対応する出力電圧の分
布がそれぞれ正規分布（ガウス分布）で近似できるよう
になる。ＡＳＥ雑音がない場合の信号の時間波形及び強
度分布を図１(a) に、ＡＳＥ雑音が重畳された場合の信
号の時間波形及び強度分布を図１(b) に示す。図１(b)
において、σ0 及びσ1 は、それぞれスペース及びマー
クに対応する出力電圧の標準偏差、μ0 及びμ1 は、そ
れぞれスペース及びマークに対応する出力電圧の平均値
である。スペース及びマークに対応する出力電圧が正規
分布で表されるとき、Ｑ値及び符号誤り率は次式で表さ
れる。
調すると、スペース及びマークに対応する出力電圧の分
布がそれぞれ正規分布（ガウス分布）で近似できるよう
になる。ＡＳＥ雑音がない場合の信号の時間波形及び強
度分布を図１(a) に、ＡＳＥ雑音が重畳された場合の信
号の時間波形及び強度分布を図１(b) に示す。図１(b)
において、σ0 及びσ1 は、それぞれスペース及びマー
クに対応する出力電圧の標準偏差、μ0 及びμ1 は、そ
れぞれスペース及びマークに対応する出力電圧の平均値
である。スペース及びマークに対応する出力電圧が正規
分布で表されるとき、Ｑ値及び符号誤り率は次式で表さ
れる。
【０００９】
【数１】
このように、符号誤り率ＢＥＲは２値の電気信号からＱ
値を直接測定して得られ、信号系の種類に依存せずに信
号品質を監視することができる。本発明はこの原理に基
づくものである。
値を直接測定して得られ、信号系の種類に依存せずに信
号品質を監視することができる。本発明はこの原理に基
づくものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】次に図面を用いて本発明の実施例
を説明する。 〔実施例１〕図２は本発明の信号品質監視回路の第１実
施例の構成を示す図である。図中、１は入力光信号、２
はＯ／Ｅ変換及びクロック抽出を行う受光器、３はクロ
ック信号、４は出力電圧に対する増幅器、５は出力電
圧、６は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生される閾
値電圧、７は比較器、８はカウンター、９はカウンター
８の出力信号（カウント数）、10は演算回路、11はメモ
リー、12はメモリー11のデータである。
を説明する。 〔実施例１〕図２は本発明の信号品質監視回路の第１実
施例の構成を示す図である。図中、１は入力光信号、２
はＯ／Ｅ変換及びクロック抽出を行う受光器、３はクロ
ック信号、４は出力電圧に対する増幅器、５は出力電
圧、６は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生される閾
値電圧、７は比較器、８はカウンター、９はカウンター
８の出力信号（カウント数）、10は演算回路、11はメモ
リー、12はメモリー11のデータである。
【００１１】受光器２では入力光信号１のＯ／Ｅ変換及
びクロック抽出を行う。抽出されたクロック信号３は比
較器７及びカウンター８に入力される。受光器２でＯ／
Ｅ変換された入力光信号１は、増幅器４で増幅されて出
力電圧５（＝ｖ）の電気信号になる。閾値電圧６（＝ｖ
i :i=0,1,...,n）は間隔Δｖ＝ｖi −ｖi-1 で変化し、
比較器７は、増幅器４の出力電圧５を１ビット毎に閾値
電圧６と比較してｖ＜ｖi の場合に信号を出力する。カ
ウンター８では、閾値電圧６がｖi からｖi+1に変化す
る度に一旦リセットしてから比較器７の出力をカウント
し、カウント数９をメモリー11に入力する。メモリー11
は閾値電圧６とその時のカウント数９（＝Ｆ (ｖi ) ）
を記録する。演算回路10では、メモリー11のデータ12か
らＱ値を求める。
びクロック抽出を行う。抽出されたクロック信号３は比
較器７及びカウンター８に入力される。受光器２でＯ／
Ｅ変換された入力光信号１は、増幅器４で増幅されて出
力電圧５（＝ｖ）の電気信号になる。閾値電圧６（＝ｖ
i :i=0,1,...,n）は間隔Δｖ＝ｖi −ｖi-1 で変化し、
比較器７は、増幅器４の出力電圧５を１ビット毎に閾値
電圧６と比較してｖ＜ｖi の場合に信号を出力する。カ
ウンター８では、閾値電圧６がｖi からｖi+1に変化す
る度に一旦リセットしてから比較器７の出力をカウント
し、カウント数９をメモリー11に入力する。メモリー11
は閾値電圧６とその時のカウント数９（＝Ｆ (ｖi ) ）
を記録する。演算回路10では、メモリー11のデータ12か
らＱ値を求める。
【００１２】図３(a) は、閾値電圧ｖi と出力電圧ｖが
閾値電圧未満であると判定した回数Ｆ (ｖi ) との関係
の一例を示す図である。ここで、 ｆ (ｖi ) ＝Ｆ (ｖi ) −Ｆ (ｖi-1 ) （２） とおくと、ｆ (ｖi ) は、出力電圧ｖがｖi-1 ≦ｖ＜ｖ
i の範囲にあると判定できる回数を表している。即ち、
出力電圧ｖの分布を示す図３(b) は、出力電圧ｖがｖ
i-1 ≦ｖ＜ｖi となると判定した回数を示す。従って、
閾値電圧ｖi の設定は、出力電圧ｖの度数分布を求めて
いることになり、出力電圧そのものの分布を表してい
る。
閾値電圧未満であると判定した回数Ｆ (ｖi ) との関係
の一例を示す図である。ここで、 ｆ (ｖi ) ＝Ｆ (ｖi ) −Ｆ (ｖi-1 ) （２） とおくと、ｆ (ｖi ) は、出力電圧ｖがｖi-1 ≦ｖ＜ｖ
i の範囲にあると判定できる回数を表している。即ち、
出力電圧ｖの分布を示す図３(b) は、出力電圧ｖがｖ
i-1 ≦ｖ＜ｖi となると判定した回数を示す。従って、
閾値電圧ｖi の設定は、出力電圧ｖの度数分布を求めて
いることになり、出力電圧そのものの分布を表してい
る。
【００１３】ここで、前に述べたように、復調された出
力電圧の度数分布はＡＳＥ雑音の影響で、スペース又は
マークに対応する値を平均とする二つの正規分布の和で
表される。図３(b) において、ｖm0及びｖm1は、
力電圧の度数分布はＡＳＥ雑音の影響で、スペース又は
マークに対応する値を平均とする二つの正規分布の和で
表される。図３(b) において、ｖm0及びｖm1は、
【数２】
となる時の閾値電圧である。
【００１４】正規分布の一般式
【数３】
から、スペースに対応する出力電圧の分布ｆ0(ｖi ) 及
びマークに対応する出力電圧の分布ｆ1(ｖi ) は、
びマークに対応する出力電圧の分布ｆ1(ｖi ) は、
【数４】
となる。但し、Ｋ0 及びＫ1 はカウント数の総数に依存
する。σ0 及びσ1 はそれぞれスペース及びマークに対
応する出力電圧の標準偏差、ｖm0及びｖm1はそれぞれス
ペース及びマークに対応する出力電圧の平均値である。
する。σ0 及びσ1 はそれぞれスペース及びマークに対
応する出力電圧の標準偏差、ｖm0及びｖm1はそれぞれス
ペース及びマークに対応する出力電圧の平均値である。
【００１５】標準偏差σ0 及びσ1 を求める際には、ｖ
m0＜ｖi ＜ｖm1では、ｆ0(ｖi ) とｆ1(ｖi ) とが重な
っているため、ｖ1 ＜ｖi ＜ｖm0（図３(c) ）、ｖm1＜
ｖi＜ｖn （図３(d) ）の範囲の値を用いる。
m0＜ｖi ＜ｖm1では、ｆ0(ｖi ) とｆ1(ｖi ) とが重な
っているため、ｖ1 ＜ｖi ＜ｖm0（図３(c) ）、ｖm1＜
ｖi＜ｖn （図３(d) ）の範囲の値を用いる。
【００１６】一般に、平均がμである度数分布ｇ（ｘ）
の標準偏差σは次式で表される。
の標準偏差σは次式で表される。
【数５】
【００１７】式（３）及び（６）から
【数６】
となる。
【００１８】平均値ｖm0及びｖm1並びに標準偏差σ0 及
びσ1 が分かれば、Ｑ値及び符号誤り率は式（１）から
求められる。演算回路10で、以上の式（１）、（２）、
（３）及び（７）の演算を行い、出力電圧５の度数分布
ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標準偏差σ0 及びσ
1 並びにＱ値を求める。
びσ1 が分かれば、Ｑ値及び符号誤り率は式（１）から
求められる。演算回路10で、以上の式（１）、（２）、
（３）及び（７）の演算を行い、出力電圧５の度数分布
ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標準偏差σ0 及びσ
1 並びにＱ値を求める。
【００１９】〔実施例２〕図４は本発明の信号品質監視
回路の第２実施例の構成を示す図である。図中、6-
0,...,6-n は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生され
る閾値電圧、7-0,...,7-n は比較器、8-0,...,8-n はカ
ウンター、9-0,...,9-n はカウンター8-0,...,8-n の出
力信号即ちカウント数であり、その他は図２の同符号の
部分と同一である。
回路の第２実施例の構成を示す図である。図中、6-
0,...,6-n は閾値電圧発生手段（図示せず）で発生され
る閾値電圧、7-0,...,7-n は比較器、8-0,...,8-n はカ
ウンター、9-0,...,9-n はカウンター8-0,...,8-n の出
力信号即ちカウント数であり、その他は図２の同符号の
部分と同一である。
【００２０】出力電圧５は、分岐されてそれぞれ比較器
7-0,...,7-n に入力される。閾値電圧6-0,...,6-n は固
定値ｖi ＝ｖ0 ＋ｉ・Δｖ（ｉ＝0,1,...,n ）に設定さ
れており、比較器7-0,...,7-n では、出力電圧５（＝
ｖ）と閾値電圧6-0,...,6-n （＝ｖi ）とを比較してｖ
＜ｖi の場合に信号を出力する。カウンター8-0,...,8-
n は、比較器7-0,...,7-n の出力をカウントしてカウン
ト数9-0,...,9-n を演算回路10に入力する。
7-0,...,7-n に入力される。閾値電圧6-0,...,6-n は固
定値ｖi ＝ｖ0 ＋ｉ・Δｖ（ｉ＝0,1,...,n ）に設定さ
れており、比較器7-0,...,7-n では、出力電圧５（＝
ｖ）と閾値電圧6-0,...,6-n （＝ｖi ）とを比較してｖ
＜ｖi の場合に信号を出力する。カウンター8-0,...,8-
n は、比較器7-0,...,7-n の出力をカウントしてカウン
ト数9-0,...,9-n を演算回路10に入力する。
【００２１】カウント数9-0,...,9-n は出力電圧５が閾
値電圧6-0,...,6-n 未満の累積度数Ｆ (ｖi ) に相当す
るので、演算回路10では、実施例１と同様にして式
（１）、（２）、（３）及び（７）の演算を行い、出力
電圧５の度数分布ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標
準偏差σ0 及びσ1 並びにＱ値を求める。
値電圧6-0,...,6-n 未満の累積度数Ｆ (ｖi ) に相当す
るので、演算回路10では、実施例１と同様にして式
（１）、（２）、（３）及び（７）の演算を行い、出力
電圧５の度数分布ｆ（ｖi ）、平均値ｖm0及びｖm1、標
準偏差σ0 及びσ1 並びにＱ値を求める。
【００２２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の信号品質
監視回路によれば、信号系に依存せずに直接Ｑ値を測定
して信号品質を監視できるという効果を奏する。
監視回路によれば、信号系に依存せずに直接Ｑ値を測定
して信号品質を監視できるという効果を奏する。
【図１】ＡＳＥ雑音がない場合(a) 及びＡＳＥ雑音が重
畳された場合(b) の信号の時間波形及び強度分布を示す
図である。
畳された場合(b) の信号の時間波形及び強度分布を示す
図である。
【図２】本発明の信号品質監視回路の第１実施例の構成
を示す図である。
を示す図である。
【図３】閾値電圧とカウンターのカウント数及び出力電
圧の分布との関係を示す図である。
圧の分布との関係を示す図である。
【図４】本発明の信号品質監視回路の第２実施例の構成
を示す図である。
を示す図である。
１ 入力光信号
２ 受光器
３ クロック信号
４ 増幅器
５ 出力電圧
６ 閾値電圧
７ 比較器
８ カウンター
９ カウンターの出力信号（カウント数）
１０ 演算回路
１１ メモリー
１２ メモリーのデータ
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 市野 晴彦
東京都新宿区西新宿３丁目19番２号 日
本電信電話株式会社内
(56)参考文献 特開 平６−237231（ＪＰ，Ａ)
特開 平４−42061（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
H04L 25/02
G01R 29/26
Claims (2)
- 【請求項１】 スペース及びマークの二値信号が伝送さ
れるマーク率が１／２であるような光伝送システムの性
能を評価する信号品質監視回路であって、一定の間隔で
変化する閾値電圧を発生する閾値電圧発生手段と、閾値
電圧発生手段から発生した閾値電圧と品質監視されるべ
き伝送信号とを比較する比較器と、比較器からの出力を
カウントするカウンターと、カウンターからの出力と前
記閾値電圧発生手段からの出力とに基づいて伝送信号の
Ｑ値を求める演算回路とを具え、該演算回路は、伝送信
号のスペース及びマークにそれぞれ対応する出力電圧の
平均値μ0 及びμ1並びに当該出力電圧の標準偏差σ0
及びσ1を算出し、次式： に基づいて伝送信号のＱ値を算出することを特徴とする
信号品質監視回路。 - 【請求項２】 スペース及びマークの二値信号が伝送さ
れるマーク率が１／２であるような光伝送システムの性
能を評価する信号品質監視回路であって、複数の異なる
閾値電圧を発生する閾値電圧発生手段と、閾値電圧発生
手段から発生したそれぞれの閾値電圧に対応して設けら
れ、該閾値電圧と品質監視されるべき伝送信号とを比較
する複数の比較器と、比較器に対応して設けられ、比較
器からの出力をカウントする複数のカウンターと、複数
のカウンターからのそれぞれの出力と閾値電圧発生手段
からのそれぞれの出力とに基づいて伝送信号のＱ値を求
める演算回路とを具え、該演算回路は、伝送信号のスペ
ース及びマークにそれぞれ対応する出力電圧の平均値μ
0 及びμ1並びに当該出力電圧の標準偏差σ0 及びσ1を
算出し、次式： に基づいて伝送信号のＱ値を算出することを特徴とする
信号品質監視回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06297798A JP3410356B2 (ja) | 1998-03-13 | 1998-03-13 | 信号品質監視回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06297798A JP3410356B2 (ja) | 1998-03-13 | 1998-03-13 | 信号品質監視回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11261653A JPH11261653A (ja) | 1999-09-24 |
| JP3410356B2 true JP3410356B2 (ja) | 2003-05-26 |
Family
ID=13215937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06297798A Expired - Fee Related JP3410356B2 (ja) | 1998-03-13 | 1998-03-13 | 信号品質監視回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3410356B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4283477B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2009-06-24 | アンリツ株式会社 | 光分岐方式による光信号の自己相関ビットエラー検出装置及び方法 |
| WO2009016742A1 (ja) * | 2007-07-31 | 2009-02-05 | Fujitsu Limited | 半導体装置及びノイズ計測方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0442061A (ja) * | 1990-06-06 | 1992-02-12 | Fujitsu Ltd | 信号レベル検出方法及び信号レベル検出装置 |
| JPH0810851B2 (ja) * | 1993-01-11 | 1996-01-31 | 日本電気株式会社 | 波形識別装置 |
-
1998
- 1998-03-13 JP JP06297798A patent/JP3410356B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH11261653A (ja) | 1999-09-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6188737B1 (en) | Method and apparatus for regenerating data | |
| US7233962B2 (en) | Optical error simulation system | |
| US6907197B2 (en) | Method and apparatus for measuring and estimating optical signal to noise ratio in photonic networks | |
| JP3514269B2 (ja) | デジタルレーザートランスミッタの消光比を判定する装置 | |
| US7925156B2 (en) | Apparatus and method for measuring the quality of burst signals and performing optical line diagnostics | |
| JP2775721B2 (ja) | ディジタルデータリンクの評価方法及びデータタイミングジッタの評価回路 | |
| CN101212258A (zh) | 光接收器 | |
| US20040222360A1 (en) | Method and apparatus for monitoring a photo-detector | |
| EP0903878B1 (en) | Distortion penalty measurement technique in optical systems based on signal level adjustment | |
| JP2530904B2 (ja) | 最適識別レベル制御方式 | |
| US8264977B2 (en) | Signal quality indicator | |
| CN111510207B (zh) | 量子密钥分发系统中源端光强波动测试方法 | |
| US6433899B1 (en) | Eye quality monitor for a 2R regenerator | |
| JP3410356B2 (ja) | 信号品質監視回路 | |
| CN115834046A (zh) | 一种具有光源监控功能的参考系无关量子密钥分发方法 | |
| JP3930886B2 (ja) | 光信号品質モニタ | |
| US20030117613A1 (en) | Method of measuring the error rate of an optical transmission system and apparatus for implementing the method | |
| US7813899B2 (en) | Method and circuit for statistical estimation | |
| EP2214331A1 (en) | Optical channel quality monitor | |
| Delezoide et al. | Investigating Q-drops and their probable causes | |
| JP3962395B2 (ja) | 光信号品質監視装置 | |
| CA2519392A1 (en) | Bit error rate monitoring method and device | |
| JP3459213B2 (ja) | 光信号品質評価方法および光信号品質評価装置並びに記憶媒体 | |
| JP3504902B2 (ja) | 光信号品質評価方法および光信号品質評価装置並びに記憶媒体 | |
| CN116232597B (zh) | 基于不可信源的即插即用测量设备无关量子数字签名方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080320 Year of fee payment: 5 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090320 Year of fee payment: 6 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100320 Year of fee payment: 7 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |