JPH08105854A - Coセンサ - Google Patents

Coセンサ

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JPH08105854A
JPH08105854A JP24274694A JP24274694A JPH08105854A JP H08105854 A JPH08105854 A JP H08105854A JP 24274694 A JP24274694 A JP 24274694A JP 24274694 A JP24274694 A JP 24274694A JP H08105854 A JPH08105854 A JP H08105854A
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film
sensor
heater
silicon substrate
sensitive
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Yasuhiro Okamoto
康広 岡本
Bunji Katsumata
文治 勝又
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Yazaki Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】検出速度が速く、検出精度が高く、消費電力が
小さく、量産化が容易で低コストで製造できる接触燃焼
式COセンサを提供する。 【構成】N型シリコン基板1の上面にSiO2 膜4a、
Si3 4 膜5aからなる熱絶縁膜を設ける。薄膜抵抗
膜で中央の加熱部と加熱部の両側から引出される電極引
出し部とを有する二つのヒータ6,7を絶縁膜上に設け
る。その表面を絶縁体の保護膜8で被覆する。ヒータ6
の上にRh粉末5%とアルミナ粉末95%との混合物で
感応部10を、ヒータ7の上にアルミナで温度補償部1
1を形成する。シリコン基板1を裏面からエッチして感
応部10と温度補償部11の下に凹部12を形成してS
iO2 膜4aを露出させると同時に感応部10と温度補
償部11との間にシリコン基板1を貫通する矩形の切欠
部9を形成する。凹部12のヒータ6,7の加熱部の下
にそれぞれ均熱板3a,3bを形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、都市ガスまたはLPガ
ス等の燃焼時に発生する一酸化炭素ガスの濃度を検出す
る接触燃焼式COセンサに関する。
【0002】
【従来の技術】都市ガスまたはLPガス等を燃焼させて
使用する時、不完全燃焼して一酸化炭素ガスが発生する
と、中毒事故を起こす恐れがあるので、小型湯沸器等に
はCOセンサを取り付け、COガスの濃度を監視してい
る。COセンサにはいくつかの種類があり、例えば矢崎
技術リポート、第18号、(1993)93〜99頁、
特公昭63−26335号公報、特公昭64−1077
4号公報、特開平1−221649号公報にその内容が
開示されている。
【0003】図8は従来のCOセンサの第1の例の一部
切欠き斜視図である。
【0004】このCOセンサは、矢崎技術リポート、第
18号、(1993)93〜99頁に開示されたセンサ
である。ハウジング81は黄銅製のステム82とステン
レス鋼製のキャップ84とからなり、ステム82には複
数のリード端子83が設けられ、キャップ84にはガス
流通のための窓85a,85bがあけられている。セン
サ部は、検知素子86と温度補償用比較素子87とから
なり、アルミナ遮蔽板88を挟んで対称となるようにリ
ード端子83に接続される。そして、キャップ84が被
せられる。
【0005】図9は図8に示す検知素子および比較素子
の断面図である。
【0006】図9(a)に示すように、直径25μmの
Ptコイル91と、5%Rh粉末とアルミナ粉末とアル
ミナ系バインダと水とを混合したペーストを用意する。
このペーストをPtコイル91上に塗布し、約700℃
で焼成して5%Rh−アルミナ触媒92を形成する。こ
れにより検知素子86が製造される。アルミナ粉末はR
h触媒を担持する担体として作用するので、アルミナ担
体と呼ばれる。
【0007】図9(b)に示すように、直径25μmの
Ptコイル93と、アルミナ粉末とアルミナ系バインダ
と水とを混合したペーストとを用意する。このペースト
をPtコイル93上に塗布し、約700℃で焼成してア
ルミナ担体94を形成する。これにより比較素子87が
製造される。アルミナ担体94はRhを含まない。
【0008】図10は図8に示すCOセンサの検出回路
の回路図である。
【0009】検知素子86と比較素子87とは、固定抵
抗R1 ,R2 、可変抵抗RV 、検出回路101とでブリ
ッジに組まれ、直流電源Eに接続される。都市ガスまた
はLPガス等のガスを流さない状態では検出回路101
に電流が流れないように可変抵抗RV を調整する。調整
後にガスを流す。
【0010】COガスが検知素子86に触れると、触媒
作用により素子表面で酸化され、反応熱が生じる。この
反応熱によりPtコイル91の抵抗値が上昇する。する
とブリッジ回路の平衡が崩れ、検出回路101に電流が
流れる。検出回路101はこの電流値を測定してCOガ
スの濃度を算出する。比較素子87は、周囲温度の変動
によるPtコイルの抵抗値の変動を打ち消し、反応熱に
よるPtコイルの抵抗値の上昇のみを純粋に取り出せる
ように補償する。アルミナ遮蔽板88は、検知素子86
と比較素子87との間に障壁を作り、検知素子86で発
生した反応熱が比較素子87へ移動して比較素子87の
周囲温度を乱すのを防ぎ、比較素子87が周囲温度を正
確に補償するのを助けている。これによりCOガスの濃
度検出精度が高められている。
【0011】図11は従来のCOセンサの第2の例の平
面図および断面図である。
【0012】このCOセンサは特開平1−221649
号公報に開示されたセンサである。検出素子は、シリコ
ン基板111の表面にSiO2 の第1膜112、Ptの
発熱体113、SiO2 の第2膜114、酸化錫半導体
のガス感応体115を順次形成し、ガス感応体115の
両端にPtの電極116a,116bを取り付け、ガス
感応体115の下部のシリコン基板111をエッチング
除去して切欠き部117を設けることにより形成され
る。切欠き部117は、ガス感応体115の熱容量を小
さくするために設けるものである。電極116a,11
6bに検出部118を接続する。検出部118は、ガス
感応体115がCOガスと接触したとき電気抵抗が減少
する性質を利用して電気抵抗値の減少からCOガス濃度
を求めるものである。
【0013】このCOセンサの検出手順は、次の通りで
ある。 (1)発熱体113に電流を流さず、ガス感応体115
を100℃以下の低温にする。 (2)検出部118でガス感応体115の電気抵抗値に
基づいてCOガス濃度を求め、不完全燃焼が生じている
かどうかを判定する。 (3)発熱体113に通電してガス感応体115を30
0℃以上の高温にしてガス感応体115の表面の汚れを
除去する。 (4)高温状態のガス感応体115の電気抵抗値を検出
部118で測定し、メタンガスの濃度を測定し、ガス漏
れの有無を判定する。 (5)発熱体113への通電を止めて発熱体113の発
熱を止め、ガス感応体115を100℃以下の低温にす
る。 (6)上記(1)〜(5)の手順を繰り返す。1回のヒ
ートサイクルに要する時間は約30秒程度である。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】第1の例は接触燃焼式
COセンサ、第2の例は半導体式COセンサである。第
1の例のCOセンサでは、検知素子86および比較素子
87は、Ptコイルの上に5%Rh−アルミナ触媒ある
いはアルミナ単体をビード状に形成して作られているた
め、表面積に対して体積が大きく、従って表面積に対す
る熱容量が大きくなり、COガス濃度検出速度が遅くな
るという問題がある。また、熱容量が大きいため、Pt
コイルに流す電流も大きくなり、消費電力が大きくなる
という問題がある。さらに、ビード状に形成された検知
素子86および比較素子87を用いて組立てるため多大
の工数を要し、量産化が難しくコストが高くなるという
問題がある。
【0015】第2の例のCOセンサでは、SiO2 の第
1膜112の下のシリコン基板111をエッチング除去
して切欠き部117を設けて熱容量を小さくしている。
これによりCOガス濃度検出速度は速くなるが、このよ
うなくり抜き形の切欠き部117を形成するのは中々難
しく、量産化が難しくコストが高くなるという問題があ
る。また、SiO2 膜単独では感応体115を支える支
持力が弱いので、幅広い短冊状に作られたPtの発熱体
113をSiO2 膜112の上に設けてSiO 2 膜11
2を補強している。このため、Ptの発熱体113を加
熱するために大電流を要するのみでなく、中央部から端
部への温度勾配が大きく、感応体115の温度が均一で
なく、検出精度が悪くなるという問題がある。さらに、
第2の例のCOセンサでは、第1の例のような比較素子
がないため、周囲温度の変動による抵抗値の変動を補償
する事が出来ず、検出精度が悪いという問題がある。温
度補償をするためには外部から温度補償回路を取付けな
ければならないが、温度補償回路を取付けるとそれだけ
コストが高くなる上に、外部からの温度補償回路の取付
けでは十分な温度補償ができないという問題がある。
【0016】本発明の目的は、検出速度が速く、検出精
度が高く、消費電力が小さく、量産化が容易で低コスト
で製造できるCOセンサを提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は、一導電型シリ
コン基板と、このシリコン基板の上面に設けられた絶縁
膜と、薄膜抵抗膜で作られ中央部に設けられた加熱部と
この加熱部の両側から引き出される電極引出し部とから
構成され前記絶縁膜上に間隔をおいて平行に設けられた
二つのヒータと、このヒータを含む表面を覆う保護膜
と、前記ヒータの加熱部の上方に形成された感応部と温
度補償部と、前記シリコン基板を裏面から選択除去して
前記ヒータの加熱部の下の前記絶縁膜を露出させる凹部
とを備えたセンサ素子を有することを特徴とする。
【0018】本発明は、前記絶縁膜が酸化シリコン膜と
窒化シリコン膜の二重膜で構成されていることを特徴と
する。
【0019】本発明は、前記ヒータが細い薄膜抵抗膜を
複数回折り曲げて形成される加熱部と、この加熱部の両
側から引き出される薄膜抵抗膜の接続部と、この接続部
に接続し金属線ボンディング接続可能な広さを有する電
極引出し部とから構成されていることを特徴とする。
【0020】本発明は、前記薄膜抵抗膜がTi膜とにP
t膜との二重膜で構成されていることを特徴とする。
【0021】本発明は、前記二つのヒータの下方の前記
絶縁膜の下にそれぞれ均熱板が設けられたことを特徴と
する。
【0022】本発明は、前記均熱板が反対導電型シリコ
ンで形成されていることを特徴とする。
【0023】本発明は、前記感応部と温度補償部との間
に前記シリコン基板を貫通するスリット状の切欠部が設
けられていることを特徴とする。
【0024】本発明は、前記感応部と温度補償部との間
に前記感応部と温度補償部とを熱遮蔽する障壁が前記シ
リコン基板の上方に設けられていることを特徴とする。
【0025】
【作用】本発明では、センサ素子は、感応部と温度補償
部とが同一基板上に平行に形成されて、周囲温度の変動
によるヒータの抵抗値の変動を温度補償部が打ち消し、
反応熱によるヒータの抵抗値の上昇のみを純粋に取り出
せるように補償しているので、十分に正確なCOガスの
濃度検出が可能である。感応部と温度補償部とは熱絶縁
膜上に形成され、しかも熱絶縁膜の下部には凹部が形成
されているので、感応部と温度補償部とは十分に熱絶縁
されると同時に熱容量が小さくなっており、感度が向上
し、検出速度も速くなっている。
【0026】本発明では、絶縁膜を酸化シリコン膜と窒
化シリコン膜の二重膜で構成した。熱膨張率の差のた
め、Siに対してSiO2 膜は圧縮応力を持ち、Si3
4 膜は引張応力を持っている。SiO2 膜単独である
と、ダイアフラムのコーナー部に亀裂が発生し易い傾向
があり、Si3 4 膜をシリコン基板に直接形成すると
Si3 4 膜に亀裂を生じ易い傾向がある。この亀裂発
生を抑えるためにSiとSi3 4 膜との間にSiO2
膜を挟み、膜厚制御を行うことにより亀裂発生を抑える
ことができ、支持力を強くすることができる。
【0027】絶縁膜を二重膜構造にして支持力を強くし
たので、絶縁膜を抵抗膜で補強してやる必要がなく、ヒ
ータは、薄膜抵抗膜を複数回折り曲げて形成される加熱
部と、この加熱部の両側から引き出される薄膜抵抗膜の
接続部と、この接続部に接続し金属線ボンディング接続
可能な広さを有する電極引出し部とから成る形にするこ
とができる。ヒータをこのような形にすることにより、
少ない電流で中央部の必要な部分のみ集中的に加熱で
き、中央部の加熱部の温度分布が均一になり、検出精度
を向上させると共に消費電力を低減することができる。
【0028】ヒータを中央部の加熱部のみ集中的に加熱
できるようにすると、電流集中により局部的に発熱し易
くなり、加熱部が断線し易くなる傾向がでてくる。ヒー
タの加熱部の温度を均一にして電流集中による局部発熱
を防止し、加熱線部分の断線を防止するために均熱板を
設ける。
【0029】薄膜抵抗膜をTi膜とPt膜との二重膜で
構成すると、その下の保護膜との密着性が良くなり、膜
剥がれが起こらず、歩留りが向上し、コストダウンを図
ることができる。
【0030】均熱板は、反対導電型高濃度不純物領域の
シリコンで厚さ数μmに作るのがよい。反対導電型高濃
度不純物領域にするのは、高濃度不純物領域が低濃度不
純物領域よりもエッチング速度が遅いことが利用でき、
エッチングの過不足がなく、反対導電型高濃度不純物領
域と同じ形の均熱板を形成することができるからであ
る。
【0031】感応部と温度補償部との間にシリコン基板
を貫通するスリット状の切欠部を設けることにより、感
応部と温度補償部との間が十分に熱絶縁され、感応部で
発生した反応熱が温度補償部へ移動して温度補償部の周
囲温度を乱すのを防ぎ、温度補償部が周囲温度を正確に
補償する。これによりCOガスの濃度検出精度が高めら
れている。
【0032】感応部と温度補償部との間に熱遮蔽用障壁
を設けると、障壁は、感応部で発生した反応熱がガスに
よって温度補償部へ運ばれ、温度補償部の周囲温度を上
昇させ、温度補償が乱されるのを防ぎ、COガスの濃度
検出精度を高める。
【0033】
【実施例】図1は本発明のCOセンサの第1の実施例の
センサ素子の平面図、A−A´断面図およびB−B´断
面図である。
【0034】結晶方位〔100〕のシリコン基板1の両
面にSiO2 膜4a,4b、Si34 膜5a,5bを
設けて熱絶縁膜とする。Si3 4 膜5aの上面にTi
膜とPt膜の二重層から成る薄膜抵抗膜を形成し、パタ
ーニングして間隔をおいて平行に形成される二つのヒー
タ6,7を設ける。ヒータ6,7は、中央部に細い薄膜
抵抗膜を多数回折り曲げられて形成された加熱部と、こ
の加熱部の両側から引き出される薄膜抵抗膜の接続部
と、この接続部に接続して金属線ボンディング接続可能
な広さを有する電極引出し部とから構成される。表面を
保護膜8で被覆し、選択エッチングして電極引出し用の
コンタクト窓6a,6b,7a,7bをあける。保護膜
8は、SiO2 、Si3 4 またはPSG(りん珪酸ガ
ラス)の単層または多層の膜からなり、CVD法,スパ
ッタ法などで形成される。ヒータ6の加熱部の上方の保
護膜8の上にRh粉末5%とアルミナ粉末95%との混
合物で感応部10を形成し、ヒータ7の加熱部の上方の
保護膜8の上にアルミナ単体で温度補償部11を形成す
る。温度補償部11は、周囲温度の変動によるヒータ6
の抵抗値の変動を補償するためのものであるから、感応
部10と同じ熱容量になるように形成する。マスクを設
け、シリコン基板1を裏面から選択エッチして感応部1
0と温度補償部11の下に凹部12を形成してSiO2
膜4aを露出させると同時に、感応部10と温度補償部
11との間にシリコン基板1を貫通する矩形の切欠部9
を形成する。切欠部9は、感応部10と温度補償部11
との間を熱絶縁し、検出精度を向上させるためのもので
ある。凹部12のヒータ6,7の加熱部の下にそれぞれ
均熱板3a,3bを形成する。
【0035】このセンサ素子は、図10に示した検出回
路と同様に、感応部10と温度補償部11とが固定抵抗
1 ,R2 、可変抵抗RV 、検出回路101とでブリッ
ジに組まれ、直流電源Eに接続される。COガスが感応
部10に触れると、触媒作用により素子表面で酸化さ
れ、反応熱が生じる。この反応熱によりヒータ6の抵抗
値が上昇する。するとブリッジ回路の平衡が崩れ、検出
回路101に電流が流れる。検出回路101はこの電流
値を測定してCOガスの濃度を算出する。
【0036】このセンサ素子は、感応部10と温度補償
部11とが同一基板上に平行に形成され、周囲温度の変
動によるヒータ6の抵抗値の変動を温度補償部11が打
ち消し、反応熱によるヒータ6の抵抗値の上昇のみを純
粋に取り出せるように補償しているので、十分に正確な
COガスの濃度検出が可能である。感応部10と温度補
償部11とはSiO2 膜4aとSi3 4 膜5aとから
成る熱絶縁膜上に形成され、しかも熱絶縁膜の下部には
凹部12が形成されているので、感応部10と温度補償
部11とは十分に熱絶縁されると同時に熱容量が小さく
なっており、感度が向上し、検出速度も速くなってい
る。
【0037】熱膨張率の差のため、Siに対してSiO
2 膜は圧縮応力を持ち、Si3 4膜は引張応力を持っ
ている。SiO2 膜単独であると、ダイアフラムのコー
ナー部に亀裂が発生し易い傾向があり、Si3 4 膜を
シリコン基板に直接形成するとSi3 4 膜に亀裂を生
じ易い傾向がある。この亀裂発生を抑えるためにSiと
Si3 4 膜との間にSiO2 膜を挟み、膜厚制御を行
うことにより亀裂発生を抑えることができる。この理由
からSiO2 −Si3 4 二重膜構造にするのである。
絶縁膜を二重膜構造にすることにより支持力が強くな
る。
【0038】絶縁膜を二重膜構造にして支持力を強くし
たので、図11で説明した従来例のように絶縁膜を抵抗
膜で補強してやる必要がなくなる。それ故、ヒータ6,
7は、図1に示すように、薄膜抵抗膜を複数回折り曲げ
て形成される加熱部と、この加熱部の両側から引き出さ
れる薄膜抵抗膜の接続部と、この接続部に接続し金属線
ボンディング接続可能な広さを有する電極引出し部とか
ら成る形にすることができる。ヒータ6,7をこのよう
な形にすることにより、少ない電流で中央部の必要な部
分のみ集中的に加熱でき、また細い薄膜抵抗膜の接続部
を設けたので熱伝導が小さくなって温度勾配が小さくな
り、中央部の加熱部の温度分布が均一になり、検出精度
を向上させると共に消費電力を低減することができる。
例えば、図8、図9に示したコイルを使用する従来のC
Oセンサでは消費電力が600mWであったのに対し
て、本発明品では消費電力が80mWまで下げることが
でき、消費電力を従来の1/7以下に低減することがで
きる。
【0039】ヒータ6,7を中央部の加熱部のみ集中的
に加熱できるようにすると、電流集中により局部的に発
熱し易くなり、加熱部が断線し易くなる傾向がでてく
る。ヒータ6,7の加熱部の温度を均一にして電流集中
による局部発熱を防止し、加熱線部分の断線を防止する
ために均熱板3a,3bを設ける。
【0040】ヒータ6,7を構成する薄膜抵抗膜をTi
膜とPt膜の二重層で形成すると、保護膜8との密着性
が良くなり、不良率を低減でき、コストダウンが図れ
る。
【0041】保護膜8は、ヒータ6,7の短絡を防ぐと
同時に、ヒータ6,7と感応部10,温度補償部11と
が接触して反応するのを防ぐ絶縁膜の働きをする。保護
膜8は、絶縁膜であること、感応部10,温度補償部1
1を構成しているアルミナとなじみがよいこと、熱伝導
率が高く、反応熱や周囲温度を素早くヒータに伝えるこ
と、ガスに対する耐蝕性が良好であること等が要求され
る。それ故、保護膜8は、SiO2 、Si3 4 または
PSG(りん珪酸ガラス)の単層または多層の膜で作ら
れる。
【0042】均熱板3a,3bは、反対導電型高濃度不
純物領域であるP+ 型シリコンで厚さ数μmに作るのが
よい。反対導電型高濃度不純物領域にするのは、高濃度
不純物領域が低濃度不純物領域よりもエッチング速度が
遅いことが利用でき、凹部12形成のエッチングと同時
に反対導電型高濃度不純物領域と同じ形の均熱板を形成
することができるからである。
【0043】切欠部9は、シリコン基板1を貫通するス
リット状に設けられることにより、感応部10と温度補
償部11との間を十分に熱絶縁し、感応部10と温度補
償部11との間に熱の移動が起こり感応部10で発生し
た反応熱により温度補償部11の周囲温度が乱されるの
を防ぎ、温度補償部11が周囲温度を正確に補償するの
を助けている。これによりCOガスの濃度検出精度が高
められる。
【0044】次に、第1の実施例のセンサ素子の製造方
法について説明する。
【0045】図2は第1の実施例のセンサ素子の製造方
法を説明するための工程順に示した断面図である。
【0046】まず、図2(a)に示すように、結晶方位
〔100〕のN型シリコン基板1の利用面にSiO2
42a,42bを約750nmの厚さに設け、ホトリソ
グラフィ技術によって上面のSiO2 膜42aに窓をあ
け、P型不純物を高濃度に導入してP+ 型領域43a,
43b(P+ 型領域43bは図示されず)を形成する。
【0047】次に、図2(b)に示すように、SiO2
膜42a,42bを除去し、新しくSiO2 膜4a,4
bを約500nmの厚さに設け、その上にSi3 4
5a,5bを約80nmの厚さに設ける。
【0048】次に、図2(c)に示すように、リフトオ
フ法を用いてヒータ6、ヒータ7(ヒータ7は図1参
照)を形成する。リフトオフ法を用いるヒータ6,7の
形成は次のように行う。まず、表面にホトレジストを塗
布し、ヒータ6,7のパターンを有するマスクで露光
し、現像してホトレジストのパターンを形成する。上方
からTiとPtを順次被着してTi−Pt二重膜の薄膜
抵抗膜を形成し、ホトレジストを溶解してホトレジスト
の上のTi−Pt膜をホトレジストと共に除去し、ホト
レジストのなかった部分のみにヒータ6,7を残す。ヒ
ータ6,7は、中央部に薄膜抵抗膜を多数回折り曲げら
れて形成された加熱部と、この加熱部の両側から引き出
される薄膜抵抗膜の接続部と、この接続部に接続して金
属線ボンディング接続可能な広さを有する電極引出し部
とから構成される。
【0049】次に、図2(d)に示すように、表面にC
VD法またはスパッタ法でSiO2、Si3 4 、また
はPSG(りん珪酸ガラス)等を単層または多層に堆積
して保護膜8を形成する。ホトリソグラフィ技術とドラ
イエッチング法によって保護膜8をパターニングしてヒ
ータ6,7の両端に電極引出し用のコンタクト窓6a,
6b,7a,7b(コンタクト窓7a,7bは図1参
照)をあける。
【0050】次に、図2(e)に示すように、シリコン
基板1の下面のSi3 4 膜5bにマスクを設け、P+
型領域43a,43bの下方と切欠部9を形成すべき領
域の下方のSi3 4 膜5b、SiO2 膜4b、および
切欠部9を形成すべき領域の上方のSi3 4 膜5a、
SiO2 膜4aをエッチング除去する。Si3 4 膜5
a,5b、SiO2 膜4a,4bをマスクにしてシリコ
ン基板1を異方性エッチングして凹部12を形成するこ
とにより前記のP+ 型領域43a,43bとその周辺の
SiO2 膜4aを露出させて均熱板3a,3b(均熱板
3bは図1参照)を形成すると同時に切欠部9(図1参
照)を形成する。エッチング液にはTMAH(テトラメ
チルアンモニウムハイドロオキサイド)が適する。TM
AHはSiO2 膜を余りエッチングせずにシリコンをエ
ッチングするからである。P+ 型領域にするのは、高濃
度不純物領域が低濃度不純物領域よりもエッチング速度
が遅いことを利用している。これを利用すると、P+
領域43a,43bの所でエッチングが自然に止まり、
エッチングの過不足が起こらず、P+ 型領域43a,4
3bと同じ形の均熱板3a,3bを形成することができ
る。
【0051】次に、図2(f)に示すように、保護膜8
上に感応部10と温度補償部11(図1参照)を形成す
る。感応部10は、Rh粉末5%とアルミナ粉末95%
とアルミナ系バインダと水とを混合してペーストを作
り、このペーストをヒータ6の上の保護膜8上に塗布
し、約700℃で焼成して作る。温度補償部11は、ア
ルミナ粉末とアルミナ系バインダと水とを混合してペー
ストを作り、このペーストをヒータ7の上の保護膜8上
に塗布し、約700℃で焼成して作る。焼成は感応部1
0と温度補償部11と同時に行う。温度補償部11は、
周囲温度の変動によるヒータ6の抵抗値の変動を補償す
るためのものであるから、感応部10と同じ熱容量にな
るように形成する。これによりCOセンサのセンサ素子
が形成される。
【0052】図3は本発明のCOセンサの第1の実施例
の一部切欠き斜視図である。
【0053】センサ素子を収容するハウジングは、ステ
ム21とキャップ23とからなる。ステム21にはリー
ド線22が4本引き出されている。キャップ23は、円
筒形で上面が閉ざされたコップ状に作られ、側面にガス
流通のため二つの切欠部24a.24bが設けられてい
る。見やすくするため、図3ではキャップ23の半分を
切欠いて示してある。ステム21に図1に示したセンサ
素子を固着し、金属細線25でセンサ素子のヒータのコ
ンタクト窓6a,6b,7a,7bとリード線22とを
ボンディング法で接続する。しかる後、キャップ23を
ステム21に溶接する。
【0054】二つの切欠部24a.24bから導入され
たガス中のCOガスが感応部10に触れると、触媒作用
により素子表面が酸化され、反応熱が生じる。この反応
熱によりヒータ6の抵抗値が上昇する。この抵抗値の変
化をブリッジ回路で測定してCOガスの濃度を検出す
る。温度補償部11は、周囲温度の変動によるヒータ6
の抵抗値の変動を打ち消し、反応熱によるヒータ6の抵
抗値の上昇のみを純粋に取り出せるように補償する作用
をする。
【0055】図4は本発明のCOセンサの第2の実施例
のセンサ素子の平面図、C−C´断面図およびD−D´
断面図である。
【0056】第2の実施例のセンサ素子には、シリコン
基板1を貫通する切欠部が設けられていない。これが第
1の実施例と異なる点であり、これ以外は第1の実施例
と同じである。切欠部がないと、熱絶縁性が少し悪くな
るが、チップ面積を小さくすることができ、小型化を図
るときに有効である。
【0057】図5は本発明のCOセンサの第3の実施例
のセンサ素子の平面図、E−E´断面図、F−F´断面
図およびG−G´断面図、図6は図5のガラス熱遮蔽体
の平面図、図7は図5に示す第3の実施例のセンサ素子
の分解斜視図である。
【0058】シリコン基板1に形成するセンサ素子は、
第1の実施例と全く同じである。第3の実施例では、感
応部10と温度補償部11との熱絶縁をさらに良くする
ため、ガラス製の熱遮蔽体51をセンサ素子の上に取り
付ける。ガラス熱遮蔽体51は、直方体のガラス板の感
応部10と温度補償部11の上方の部分に切欠部56
a,56bを設けて感応部10と温度補償部11とにガ
スが流れるようにすると同時に感応部10と温度補償部
11との間に障壁52を形成して感応部10と温度補償
部11との間を熱絶縁している。また、ヒータ6,7の
コンタクト窓6a,6b,7a,7bの上方の部分に切
欠部57a,57b〜58a,58bを設けて金属線ボ
ンディングによる接続ができるようにすると同時に壁5
4a,54b〜55a,55bを設けて熱遮蔽してい
る。さらにまた、壁53a,53bを設けて熱遮蔽する
と同時に壁53a,53bの下に切欠部56a,59b
を設けてガスが流れるようにしている。障壁52は、感
応部10で発生した反応熱がガスによって温度補償部1
1へ運ばれ、温度補償部11の周囲温度を上昇させ、温
度補償が乱されるのを防いでいる。
【0059】上記実施例では、熱遮蔽体51をガラスで
作ったが、これに限定されず、セラミックで作ることも
でき、同様の熱遮蔽効果を得ることができる。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では、シリ
コン基板に熱絶縁膜を設け、その上に感応部と温度補償
部とを間隔をおいて設け、これらの下のシリコンを除去
した熱絶縁構造としたので、温度補償されると同時に熱
容量が小さくなり、検出速度が速いCOセンサを得るこ
とができる。
【0061】本発明では、熱絶縁膜をSiO2 膜とSi
3 4 膜の二重膜にして強度を大きくし、ヒータを中央
部の加熱部とこの加熱部の両側から引き出される電極引
出し部とから構成形にすることにより、少ない電流で中
央部の必要な部分のみ集中的に加熱するようにしたの
で、検出精度を向上させると共に消費電力を従来の約1
/7以下に低減したCOセンサを得ることができる。ま
た、均熱板をヒータの下に設け、電流集中による局部発
熱を防止し、加熱線部分の断線を防止ようにしたので、
長寿命のCOセンサを得ることができる。
【0062】本発明では、感応部と温度補償部との間に
スリット状の切欠部を設けて感応部と温度補償部との間
が十分に熱絶縁されるようにしたので、周囲温度を正確
に補償し、ガス濃度検出精度が高められたCOセンサを
得ることができる。さらに、感応部と温度補償部との間
に熱遮蔽する障壁を設け、熱絶縁を一層良くしたので、
周囲温度をさらに正確に補償でき、ガス濃度検出精度を
一層高めたCOセンサを得ることができる。
【0063】本発明では、通常の半導体製造技術で製造
できる構造と材料と製造プロセスを採用したので、量産
化が容易で低コストのCOセンサを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のCOセンサの第1の実施例のセンサ素
子の平面図、A−A´断面図およびB−B´断面図であ
る。
【図2】図1に示す第1の実施例のセンサ素子の製造方
法を説明するための工程順に示した断面図である。
【図3】本発明のCOセンサの第1の実施例の一部切欠
き斜視図である。
【図4】本発明のCOセンサの第2の実施例のセンサ素
子の平面図、C−C´断面図およびD−D´断面図であ
る。
【図5】本発明のCOセンサの第3の実施例のセンサ素
子の平面図、E−E´断面図、F−F´断面図およびG
−G´断面図である。
【図6】図5のガラス熱遮蔽体の平面図である。
【図7】図5に示す第3の実施例のセンサ素子の分解斜
視図である。
【図8】従来のCOセンサの第1の例の一部切欠き斜視
図である。
【図9】図8に示す検出素子および比較素子の断面図で
ある。
【図10】図8に示すCOセンサの検出回路の回路図で
ある。
【図11】従来のCOセンサの第2の例の平面図および
断面図である。
【符号の説明】
1 N型シリコン基板 3a,3b 均熱板 4a,4b SiO2 膜 5a,5b Si3 4 膜 6 ヒータ(感応部用) 7 ヒータ(温度補償部用) 8 保護膜 9 切欠部 10 感応部 11 温度補償部 21 ステム 22 リード線 23 キャップ 24a,24b 切欠部 25 接続線 43a P+ 型領域

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一導電型シリコン基板と、このシリコン
    基板の上面に設けられた絶縁膜と、薄膜抵抗膜で作られ
    中央部に設けられた加熱部とこの加熱部の両側から引き
    出される電極引出し部とから構成され前記絶縁膜上に間
    隔をおいて平行に設けられた二つのヒータと、このヒー
    タを含む表面を覆う保護膜と、前記ヒータの加熱部の上
    方に形成された感応部と温度補償部と、前記シリコン基
    板を裏面から選択除去して前記ヒータの加熱部の下の前
    記絶縁膜を露出させる凹部とを備えたセンサ素子を有す
    ることを特徴とするCOセンサ。
  2. 【請求項2】 前記絶縁膜が酸化シリコン膜と窒化シリ
    コン膜の二重膜で構成されていることを特徴とする請求
    項1記載のCOセンサ。
  3. 【請求項3】 前記ヒータが細い薄膜抵抗膜を複数回折
    り曲げて形成される加熱部と、この加熱部の両側から引
    き出される薄膜抵抗膜の接続部と、この接続部に接続し
    金属線ボンディング接続可能な広さを有する電極引出し
    部とから構成されていることを特徴とする請求項1記載
    のCOセンサ。
  4. 【請求項4】 前記薄膜抵抗膜がTi膜とPt膜との二
    重膜で構成されていることを特徴とする請求項1または
    請求項3記載のCOセンサ。
  5. 【請求項5】 前記二つのヒータの下方の前記絶縁膜の
    下にそれぞれ均熱板が設けられたことを特徴とする請求
    項1記載のCOセンサ。
  6. 【請求項6】 前記均熱板が反対導電型シリコンで形成
    されていることを特徴とする請求項5記載のCOセン
    サ。
  7. 【請求項7】 前記感応部と温度補償部との間に前記シ
    リコン基板を貫通するスリット状の切欠部9が設けられ
    ていることを特徴とする請求項1記載のCOセンサ。
  8. 【請求項8】 前記感応部と温度補償部との間に前記感
    応部と温度補償部とを熱遮蔽する障壁が前記シリコン基
    板の上方に設けられていることを特徴とする請求項1記
    載のCOセンサ。
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