JPH0780717B2 - 単結晶直径自動制御装置 - Google Patents
単結晶直径自動制御装置Info
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- JPH0780717B2 JPH0780717B2 JP63316224A JP31622488A JPH0780717B2 JP H0780717 B2 JPH0780717 B2 JP H0780717B2 JP 63316224 A JP63316224 A JP 63316224A JP 31622488 A JP31622488 A JP 31622488A JP H0780717 B2 JPH0780717 B2 JP H0780717B2
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- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Description
ける成長単結晶の直径自動制御装置の改良に関わり、特
にテレビカメラを使用して成長中の単結晶の直径を測定
しつつ制御する、映像信号処理装置に関するものであ
る。
れているように、結晶育成時に、結晶と融液の境界に現
れる輝度の高いリング(以下、ブライトリングという)
を、テレビカメラにより撮影し、その出力によるモニタ
テレビ表示面上の映像に対して、サンプリングラインと
呼ばれる走査線に平行な、一次元測定領域を、上下に移
動することによって、ブライトリングの最大直径を測定
する方法がある。これを図面で説明する。
プリングライン、2は融液面より明るいブライトリン
グ、3は成長中の結晶、4は融液面を現わしている。
ンプリングラインと交わるブライトリングの幅を計測す
る方法を示す。図中1はサンプリングライン、2はブラ
イトリングを模式的に示したもの、5はサンプリングラ
イン上の輝度の変化に対応したビデオ信号を示す。この
ビデオ信号を、6のスレツシヨールドレベルを基準にし
て2値化する。
オ信号をモニタテレビ画像上の座標に対応させ、さらに
この情報を、コンピューターにより解析し、サンプリン
グラインと2ケ所で交わるブライトリング幅を計算す
る。また、サンプリングラインの移動及びサンプリング
ラインの長さの設定はコンピューターにより行なってい
る。
プリングラインを移動させながら、ブライトリング幅を
測定し、その測定値を記憶し2ケ所でサンプリングライ
ンと交わるブライトリング幅をすべて測定した後、記憶
した測定値の中から、最大値を選択し、直径測定値とし
て出力する。この出力により、育成する半導体単結晶の
直径を規定値に自動制御する。
測定領域を、テレビ画面上で上下に移動しながら、ブラ
イトリング幅の上下方向分布を読み込んで、その最大値
を選び出すコンピューターが必要であり、したがって、
これらの装置間では繁雑なデータの通信を行わなくては
ならない。また、サンプリングラインの移動・測定それ
による最大値の検出をすべて直列的に行なうので測定に
時間を要し、装置の較正も大掛かりとなって、非常に高
価なシステムになる。
ビカメラによりとらえたビデオ画像の融液面の成長中単
結晶と融液面の境界に生じる輝度の高いブライトリング
に対応した、一本の走査線上の輝度信号ピークのうち、
個々のピークについて設定スレッショールドレベル以上
にある時間を測定し、これを出力する装置Aと、これと
同時に並列に機能して、設定スレッショールドレベル以
上にある2個のピークの間隔に相当する時間を測定し、
その出力を行なう装置Bと、さらにこれらの装置からの
出力結果に対し、一本の走査線掃引終了時に、この走査
線上に生じた設定スレッショールドレベル以上のピーク
を計数して、計数値が1であるときは装置Aからの出力
値、計数値が2であるときは装置Bから出力値、計数値
が3以上であるときは直前の出力値、いずれかを選択し
出力する機能を有した装置Cと、各走査線の掃引に伴っ
て装置Cから出力される値を逐次大小比較しながら、直
前の値より大きい値が出力されたときだけ、この値を更
新して、一画面分の走査終了時に、備わったメモリに最
大値を記憶するよう構成した装置Dと、一画面毎に装置
Dから得られる値を予め定めた直径設定値と比較し、そ
の差により引上装置の運転緒元を調整する装置Eとを備
えたことを特徴とする。すなわち本発明では、すべての
走査線において、ブライトリング幅の測定を行ない、そ
の測定値が、一本前の走査線での測定結果と比較して大
きな場合のみ、前回に記憶した測定値を書き換えて記憶
する。この動作を、通常のビデオ信号と同期して行うこ
とで、一画面の走査終了後に、その画面のブライトリン
グの幅の最大値だけを記憶させる。したがって測定速度
は、60回/秒である。
ールドレベル以上のピーク数をカウントすることによつ
て、正確な測定値ではないと判断された場合には、前回
の測定値が採用される。
ロジック)と呼ばれる比較的高速で標準的なICの組合せ
で行なうことができる。
素子を用いることもできる。
点距離の長い方のカメラを、絞りと呼ばれる結晶転移を
排除する工程の制御に用いることが望ましい。
する。
上のどの位置にあるかにより異なる。これを、第2図及
び第5図で説明する。第2図中a〜dの輝度信号のパタ
ーンのうち、ブライトリング幅の測定にかかわるのは、
b,cのパターンである。cの場合最大直径を得るには、
必要のないパターンの様に考えられるが、実際には、絞
りと呼ばれる直径を3mm程に制御して、結晶を成長させ
る部分と肩と呼ばれる前記絞り部から目標とする結晶直
径までに直径を拡大する部分では、cのパターンが、最
大直径部に現れることがある。本発明では、bとcのパ
ターンをそれぞれ装置Aと装置Bの二つの測定装置で同
時に測定し、その走査終了時にパターンがbであるか、
cであるかを判断して、どちらかの測定装置の出力を得
る。パターンの判別は、スレッショールドレベル以上の
ピークの個数を数えることにより行われる。第5図eの
様にピークが一つの場合には第2図cのパターン、第5
図fの様にピークが二つの場合には、第2図bのパター
ンとして判別し、それぞれのパターンに対応した波形整
形を行ない、第5図fの場合には、二つのピーク間隔に
対応したパルス幅のパルスを発生し、このパスルの幅を
計測し、第5図eの場合には、スレッショールドレベル
以上にある部分の幅に対応したパルス幅を発生し、この
パルス幅を計測する。融液面にスレッショールドレベル
以上の高輝度の部分があった場合、第5図gの様にスレ
ッショールドレベル以上のパルスが、三つ以上発生す
る。パルス幅の測定を行う装置とは別に、このパルス数
をカウントする装置により、三つ以上のパルスがカウン
トされた場合には、パルス幅測定が行なえないと判断
し、前回の測定結果を保持する様に動作をする。また、
パルス数が2または1の場合には、前記のパルス幅計測
装置測定結果を選択して出力する。
部分のブライトリング幅を、前回の走査線の測定結果と
比較して、大きい場合のみ、前回の測定結果を更新し
て、新しい結果を記憶する、この動作は、一本の走査を
終了して、次の走査を新しく開始するまでの時間内に行
うことが可能である。
ブライトリング幅の最大値が自動的に記憶されている。
この最大値は、別の記憶装置で次の画面の最大値が得ら
れるまで保持される。この様にして画面毎に測定が行わ
れるため通常のビデオ装置を使用した場合には、60回/
秒の測定速度となる。
る装置の実施例を示すブロック図である。
ている。すなわち、シード絞り部の直径が細い部分を制
御する場合には、長い焦点距離のレンズを付けたカメラ
により、拡大した撮像について分解能を落さずに測定を
することができる。本実施例では、2次元CCDカメラ103
及び104を使用して、クロックパルスとそれに同期した
水平・垂直同期パルス、ビデオ信号を同時に切り換えて
いる(第1図中番号15)。ビデオ信号は、バッファアン
プ8を通り、スレッショールドレベルの自動設定回路に
入る。これは、輝度信号のピークと、平均値の間の任意
の比率にスレッショールドレベルを、自動的に設定する
回路であり、窓ガラスの汚れや製造条件の変更等による
液面輝度の変化に対しても自動的に追従して、スレッシ
ョールドレベルを、測定に適したレベルに維持すること
が出来る。即ち、ピークホールド回路9が、ブライトリ
ングのピーク輝度に追従し、ローパスフィルタ10で画面
の輝度の平均値に追従する。この両者の出力の中間の任
意の比率にスレッショールドレベルを設定することによ
って、安定にブライトリングを検出するためのスレッシ
ョールドレベルを、自動的に設定することができる。コ
ンパレーター11によりスレッショールドレベル以上の信
号について、パルス化して、波形整形回路(A)13,
(B)14,及びパルスカウンター12に出力する。
のまま整形するが、波形整形回路(B)14は、2個のパ
ルスが入力された場合には、1個目のパルスの立上りか
ら2個目のパルスの立下りまでの時間に等しいパルス幅
のパルスを発生する。ゲート回路16及び17は、それぞれ
の波形整形回路からの出力により、クロックパルスをパ
ルスカウンタ(A)18及び(B)19に出力する。
ス数が1個の場合には、パルスカウンター(A)18の出
力を、2個の場合には、パルスカウンター(B)19の出
力を、データレジスター(I)22及びデジタルコンパレ
ーター21に入力する。
22の入力と、出力の2進コードを比較し、入力が出力よ
り大きい場合のみ、データレジスタ(I)22にデータ更
新の指示を与える。もし、パルスカウンター12の出力が
3以上の場合、データ更新の指示を受け付けない様に指
示を与える。この様にして一画面の走査が終了し時、デ
ータレジスター(I)22には、その画面のブライトリン
グ最大幅に相等したパルスカウント値がセットされてい
る。この値は、一画面の走査終了時に、ただちにデータ
レジスタ(II)23に転送され、次の画面の走査が終了す
るまで保持される。このデータレジスター(II)の2進
コードがD/Aコンバーター24によりアナログ電圧に変換
される。これは、ローパスフィルター25により平均化さ
れ、直径制御装置26に入力され、基準値と比較されて、
直径を基準値に近づける様に制御される。
垂直画素配列308のものを用い、レンズは、シード絞り
部の直径制御様に焦点距離135mmのものを、直胴部制御
用に、55mmのものを用いた。パスルカウンター,データ
セレクタ,データレジスタ等はすべて標準のTTL ICを使
用し、12bit構成をとった。
〜3.5mmの範囲において、±0.2mmの精度でまた、結晶直
胴部は、直径130mmで±0.6mmの精度で制御でき、容易に
無転移化することができた。
ークを明確にするため、干渉模型の赤外線フィルター
と、青緑透過型の光学フィルターをテレビカメラのレン
ズに付加して使用した。
いるため、シードの曲がりや、カメラのブレ、液面位置
の変更などによって、ブライトリングの位置が画面内で
変化しても、安定に測定できる。
な位置変動に対しても、正確な測定ができる。また、十
分に平均化した測定値を使用できるため、見掛け上分解
能が向上する。
ある輝度信号ピークの数を計測して、測定値の妥当性の
評価、大小比較を行なっているので、ノイズを拾った
り、誤って計測したりすることがない上、画像メモリー
や、マイクロプロセッサ及びそれを働かすソフトウェア
等を必要とせず、標準的なICにより、極めて安価に製作
できる。
ない安定した測定出力が得られるため、直径制御が安定
かつ、高精度に行なえる。
施例のブロック図。 第2図は、本発明の一実施例の単結晶直径自動制御装置
によるシード絞り部測定時における、ビデオ信号を示す
図。 第3図は、単結晶直径自動制御装置のモニターテレビの
影像を示す図。 第4図は、単結晶直径自動制御装置によるブライトリン
グ幅測定における、ビデオ信号とブライトリング、走査
線、スレッショールドレベルの関係図。 第5図は、本発明の一実施例である単結晶直径自動制御
装置の波形整形の様子を示す図。 1……サンプリングライン 2……ブライトリング 3……成長中の結晶 4……融液面 5……ビデオ信号 6……スレッショールドレベル 50……カメラコントローラーI 60……カメラコントローラーII 7……ビデオ信号切換 8……バッファアンプ 9……ピークホールド回路 10……ローパスフィルター 11……コンパレーター 12……パルスカウンター 13……波形整形回路(A) 14……波形整形回路(B) 15……同期信号クロックパルス切換 16……ゲート回路 17……ゲート回路 18……パルスカウンター(A) 19……パルスカウンター(B) 20……データセレクター 21……デジタルコンパレーター 22……データレジスター(I) 23……データレジスター(II) 24……D/Aコンバーター 25……ローパスフィルター 26……直径制御装置 103……2次元CCDカメラ 104……2次元CCDカメラ
Claims (3)
- 【請求項1】融液面を監視するテレビカメラと、このテ
レビカメラから出力されたビデオ画像中の成長中単結晶
と融液面との境界に生じる輝度の高いリングに対応し
た、一の走査線上の輝度信号ピークのうち、個々のピー
クについて設定スレツシヨールドレベル以上にある時間
を測定し、これを出力する装置Aと、これと並列に機能
して、設定スレッショールドレベル以上にある2個のピ
ークの間隔に相当する時間を測定し、これを出力する装
置Bと、さらにこれらの装置からの出力結果に対し、一
本の走査線掃引終了時に、この走査線上に生じた設定ス
レッショールドレベル以上のピークを計数して、計数値
が1であるときは装置Aから出力値、計数値が2である
ときは装置Bからの出力値、計数値が3以上であるとき
は直前の出力値、のいずれかのうち一つを選択、出力す
る機能を有した装置Cと、各走査線の掃引毎に装置Cか
ら出力される前記いずれかの値を逐次大小比較しなが
ら、直前の値より大きい値が出力されたときだけ、この
値を更新して、最終的に一画面分の走査終了時に、備え
たメモリに最大値を記録するよう構成された装置Dと、
一画面毎に装置Dから得られる値を予め定めた直径設定
値と比較し、その差により引上装置の運転緒元を調整す
る装置Eとを備えたことを特徴とする単結晶直径自動制
御装置。 - 【請求項2】テレビカメラに二次元固体撮像素子を用い
たことを特徴とする請求項1記載の単結晶直径自動制御
装置。 - 【請求項3】焦点距離の異なる2台のテレビカメラを有
することを特徴とする請求項1または2記載の単結晶直
径自動制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63316224A JPH0780717B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 単結晶直径自動制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63316224A JPH0780717B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 単結晶直径自動制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02164789A JPH02164789A (ja) | 1990-06-25 |
JPH0780717B2 true JPH0780717B2 (ja) | 1995-08-30 |
Family
ID=18074688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63316224A Expired - Lifetime JPH0780717B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 単結晶直径自動制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0780717B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI911856A (fi) * | 1990-04-27 | 1991-10-28 | Nippon Kokan Kk | Foerfarande och apparat foer bestaemning av diametern hos en enskild silikonkristall. |
DE19548845B4 (de) * | 1995-12-27 | 2008-04-10 | Crystal Growing Systems Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Ziehen von Einkristallen nach dem Czochralski-Verfahren |
JP5109928B2 (ja) * | 2008-10-21 | 2012-12-26 | 信越半導体株式会社 | 単結晶直径の検出方法、及びこれを用いた単結晶の製造方法、並びに単結晶製造装置 |
JP5664573B2 (ja) * | 2012-02-21 | 2015-02-04 | 信越半導体株式会社 | シリコン融液面の高さ位置の算出方法およびシリコン単結晶の引上げ方法ならびにシリコン単結晶引上げ装置 |
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CN103575734B (zh) * | 2013-11-22 | 2016-06-08 | 晶格码(青岛)智能科技有限公司 | 晶体三维晶面生长动力学的立体成像测定系统及方法 |
JP6519422B2 (ja) * | 2015-09-15 | 2019-05-29 | 株式会社Sumco | 単結晶の製造方法および装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62119190A (ja) * | 1985-11-14 | 1987-05-30 | Kyushu Denshi Kinzoku Kk | 単結晶の直径制御方法および装置 |
JPS62138387A (ja) * | 1985-12-10 | 1987-06-22 | Mitsubishi Metal Corp | 引上結晶の直径測定装置 |
JPS62241890A (ja) * | 1986-04-14 | 1987-10-22 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体単結晶の直径制御方法 |
-
1988
- 1988-12-16 JP JP63316224A patent/JPH0780717B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02164789A (ja) | 1990-06-25 |
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