JPH02164789A - 単結晶直径自動制御装置 - Google Patents
単結晶直径自動制御装置Info
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 238000004033 diameter control Methods 0.000 claims abstract description 11
- 239000000155 melt Substances 0.000 claims description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 19
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
おける成長単結晶の直径自動制御装置の改良に関わり、
特にテレビカメラを使用して成長中の単結晶の直径を測
定しつつ制御する、映像信号処理装置に関するものであ
る。
0で示されているように、結晶育成時に、結晶と融液の
境界に現れる輝度の高いリング(以下、ブライトリング
という)を、テレビカメラにより撮影し、その出力によ
るモニタテレビ表示面上の映像に対して、サンプリング
ラインと呼ばれる走査線に平行な、−次元測定領域を、
上下に移動することによって、ブライトリングの最大直
径を8(11定する方法がある。これを図面で説明する
。
プリングライン、2は融液面より明るいブライトリング
、3は成長中の結晶、4は融液面を現わしている。
ンプリングラインと交わるブライトリングの幅を計測す
る方法を示す6図中1はサンプリングライン、2はブラ
イトリングを模式的に示したもの、5はサンプリングラ
イン上の輝度の変化に対応したビデオ信号を示す、この
ビデオ信号を。
デオ46号をモニタテレビ画像上の座標に対応させ、さ
らにこの情報を、コンピューターにより解析し、サンプ
リングラインと2ケ所で交わるブライトリング幅を計算
する。また、サンプリングラインの移動及びサンプリン
グラインの長さの設定はコンピューターにより行なって
いる。
プリングラインを移動させながら、ブライトリング幅を
測定し、その測定値を記憶し2ケ所でサンプリングライ
ンと交わるブライトリング幅をすべて測定した後、記憶
した測定値の中から、最大値を選択し、直径測定値とし
て出力する。この出力により、育成する半導体単結晶の
直径を規定値に自動制御する。
tltl!定領域を、テレビ画面上で上下に移動しなが
ら、ブライトリング幅の上下方向分布を読み込んで、そ
の最大値を選び出すコンピューターが必要であり、した
がって、これらの装置間では繁雑なデータの通信を行わ
なくてはならない、また、サンプリングラインの移動・
測定それによる最大値の検出をすべて直列的に行なうの
で測定に時間を要し、装置の較正も大掛かりとなって、
非常に高価なシステムになる。
ビカメラによりとらえたビデオ画像の融液面の成長中単
結晶と融液面の境界に生じる輝度の高いブライドリング
に対応した、一本の走査線上の輝度信号ピークのうち、
個々のピークについて設定スレッショールドレベル以上
にある時間を1111定し、これを出力する装置Aと、
これと同時に並列に機能して、設定スレッショールドレ
ベル以上にある2個のピークの間隔に相当する時間を測
定し、その出力を行なう装置Bと、さらにこれらの装置
からの出力結果に対し、一本の走査線掃引終了時に、こ
の走査線上に生じた設定スレッショールドレベル以上の
ピークを計数して、計数値が1であるときは装置Aから
の出力値、計数値が2であるときは装置Bからの出力値
、計数値が3以上であるときは直前の出力値、のいずれ
かを選択し出力する機能を有した装fIICと、各走査
線の掃引に伴って装置Cから出力される値を逐次大小比
較しながら、直前の値より大きい値が出力されたときだ
け、この値を更新して、一画面分の走査終了時に、備わ
ったメモリに最大値を記録するよう構成した装置WDと
、一画面毎に装置Dから得られる値を予め定めた直径設
定値と比較し、その差により引上装置の運転緒元を調整
する装置Eとを備えたことを特徴とする。 すなわち本
発明では、すべての走査線において、ブライトリング幅
の測定を行ない、その測定値が、一本前の走査線での測
定結果と比較して大きな場合のみ、前回に記憶した測定
値を書き換えて記憶する。この動作を、通常のビデオ信
号と同期して行うことで、一画面の走査終了後に、その
画面のブライトリングの幅の最大値だけを記憶させる。
ールドレベル以上のピーク数をカウントすることによっ
て、正確な測定値ではないと判断された場合には、前回
の測定値が採用される。
ロジック)と呼ばれる比較的高速で標準的なICの組
合せで行なうことができる。
素子を用いることもできる。
点距離の長い方のカメラを、絞りと呼ばれる結晶転位を
排除する工程の制御に用いることが望ましい。
する。
上のどの位置にあるかにより異なる。これを、第2図及
び第5図で説明する。第2図中a〜dの輝度信号のパタ
ーンのうち、ブライトリング幅の測定にかかわるのは、
b、cのパターンである。Cの場合最大直径を得るには
、必要のないパターンの様に考えられるが、実際には、
絞りと呼ばれる直径を3M程に制御して、結晶を成長さ
せる部分と肩と呼ばれる前記絞り部から目標とする結晶
直径までに直径を拡大する部分では、Cのパターンが、
最大直径部に現れることがある。本発明では、bとCの
パターンをそれぞれ装置Aと装置Bの二つの測定装置で
同時に測定し、その走査終了時にパターンがbであるか
、Cであるかを判断して、どちらかの測定装置の出力を
得る。パターンの判別は、スレッショールドレベル以上
のピークの個数を数えることにより行われる。第5図e
の様にピークが一つの場合には第2図Cのパターン、第
5図fの様にピークが二つの場合には、第2図すのパタ
ーンとして判別し、それぞれのパターンに対応した波形
整形を行ない、第5図fの場合には、二つのピーク間隔
に対応したパルス幅のパルスを発生し、このパルスの幅
を計潤し、第5図eの場合には、スレッショールドレベ
ル以上にある部分の幅に対応したパルス幅を発生し、こ
のパルス幅を計測する。融液面にスレッショールドレベ
ル以上の高輝度の部分があった場合、第5図gの様にス
レッショールドレベル以上のパルスが、三つ以上発生す
る。パルス幅の測定を行う装置とは別に、このパルス数
をカウントする装置により、三つ以上のパルスがカウン
トされた場合には、パルス幅測定が行なえないと判断し
、前回の11111定結果を保持する様に動作をする。
幅計測装置測定結果を選択して出力する。
部分のブライトリング幅を、前回の走査線の測定結果と
比較して、大きい場合のみ、前回の測定結果を更新して
、新しい結果を記憶する、この動作は、一本の走査を終
了して、次の走査を新しく開始するまでの時間内に行う
ことが可能である。
ブライトリング幅の最大値が自動的に記憶されている。
れるまで保持される。この様にして画面毎に測定が行わ
れるため通常のビデオ装置を使用した場合には、60回
/秒の測定速度となる。
る装置の実施例を示すブロック図である。
ている。すなわち、シード絞り部の直径が細い部分を制
御する場合には、長い焦点距離のレンズを付けたカメラ
により、拡大した影像について分解能を落さずに測定を
することができる。
使用して、クロックパルスとそれに同期した水平・垂直
同期パルス、ビデオ信号を同時に切り換えている(第1
図中番号15)、ビデオ信号は、バッファアンプ8を通
り、スレッショールドレベルの自動設定回路に入る。こ
れは、輝度信号のピークと、平均値の間の任意の比率に
スレッショールドレベルを、自動的に設定する回路であ
り、窓ガラスの汚れや製造条件の変更等による液面輝度
の変化に対しても自動的に追従して、スレッショールド
レベルを、測定に適したレベルに維持することが出来る
。即ち、ピークホールド回路9が、ブライトンター(B
)19の出力を、データレジスター(1)22及びデジ
タルコンパレーター21に入力する。
22の入力と、出力の2進コードを比較し。
22にデータ更新の指示を与える。もし、パルスカウン
ター12の出力が3以上の場合、データ更新の指示を受
は付けない様に指示を与える。この様にして一画面の走
査が終了し時、データレジスター(1)22には、その
画面のブライトリング最大幅に相等したパルスカウント
値がセットされている。この値は、一画面の走査終了時
に、ただちにデータレジスタ(n)23に転送され、次
の画面の走査が終了するまで保持される。このデータレ
ジスター(■)の2進コードがD/Aコンバーター24
によりアナログ電圧に変換される。これは、ローパスフ
ィルター25により平均化され、直径制御装置2Gに入
力され、基準値と比較されて、直径を基準値に近づける
様に制御される。
ピーク輝度に追従し、ローパスフィルタlOで画面の輝
度の平均値に追従する。この両者の出力の中間の任意の
比率にスレッショールドレベルを設定することによって
、安定にブライトリングを検出するためのスレッショー
ルドレベルを、自動的に設定することができる。コンパ
レーター11によりスレッショールドレベル以上の信号
について、パルス化して、波形整形回路(A)13.
(B)14、及びパルスカウンター12に出力する。
をそのまま整形するが、波形整形回路(B)14は、2
個のパルスが入力された場合には、1個目のパルスの立
上りから2個目のパルスの立下りまでの時間に等しいパ
ルス幅のパルスを発生する。ゲート回路16及び17は
、それぞれの波形整形回路からの出力により、クロック
パルスをパルスカウンタ(A)18及び(B )19に
出力する。
パルス数が1個の場合には、パルスカウンター(A)1
8の出力を、2個の場合には、パルスカラ景況列491
.垂直画素配列398のものを用い、レンズは、シード
絞り部の直径制御用に焦点距離135Mのものを、直胴
部制御用に、55I111のものを用いた。パスルカウ
ンター、データセレクタ。
し、12bit構成をとった。
mm〜3.5Mの範囲において、10.2Mの精度でま
た、結晶* I!)1部は、直径130m+++’t”
±0 、6cm (7) 精度で1llil制御でき、
容易に無転位化することができた。
ークを明確にするため、干渉模型の赤外フィルターと、
青緑透過型の光学フィルターをテレビカメラのレンズに
付加して使用した。
定しているため、シードの曲がりゃ、カメラのブレ、液
面位置の変更などによって、ブライトリングの位置が画
面内で変化しても、安定に測定できる。
速な位置変動に対しても、正確な測定ができる。また、
十分に平均化した測定値を使用できるため、見掛は上分
解能が向上する。
にある輝度信号ピークの数を計測して、測定値の妥当性
の評価、大小比較を行なっているので、ノイズを拾った
り、誤って計測したりすることがない上、画像メモリー
や、マイクロプロセッサ及びそれを働かすソフトウェア
等を必要とせず、標準的なICにより、極めて安価に製
作できる。
少ない安定した測定出力が得られるため、直径制御が安
定かつ、高精度に行なえる。
施例のブロック図。 第2図は、本発明の一実施例の単結晶直径自動制御装置
によるシード絞り部側定時における、ビデオ信号を示す
図。 第3図は、単結晶直径自動制御装置のモニターテレビの
影像を示す図。 第4図は、単結晶直径自動制御装置によるブライトリン
グ幅測定における。ビデオ信号とブライトリング、走査
線、スレッショールドレベルの関係図。 第5図は、本発明の一実施例である単結晶直径自動制御
装置の波形整形の様子を示す図。 l・・・・サンプリングライン 2・・・・ブライトリング 3・・・・成長中の結晶 4・・・・融液面 5・・・・ビデオ信号 6・・・・スレッショールドレベル 50・・・・カメラコントローラー1 60・・・・カメラコントローラー■ 7・・・・ビデオ信号切換 8 ・ 1 ・ 9 ・ ・ ・ − 10・ ・ ・ ・ 111・・ 12・ ・ ・ ・ 13・ ・ ・ ・ 14・ ・ ・ ・ 15・ ・ ・ ・ 161 ・ ・ 17・ ・ ・ ・ 18・ ・ ・ ・ 19・ ・ ・ ・ 20・ ・ ・ ・ 21・ ・ ・ ・ 22・ ・ ・ ・ 23・ ・ ・ ・ 24・ ・ ・ ・ 26・ ・ ・ ・ 103−− ・ バッファアンプ ピークホールド回路 ローパスフィルター コンパレーター パルスカウンター 波形整形回路(A) 波形整形回路CB) 同期信号クロックパルス切換 ゲート回路 ゲート回路 パルスカウンター(A) パルスカウンター(B) データセレクター デジタルコンパレーター データレジスター(1) データレジスター(■) D/Aコンバーター ローパスフィルター 直径制御装置 2次元CCDカメラ 104・・・ 2次元CODカメラ 特許出願人 小松電子金属株式会社 第3図 ブライトリング曙 第2図 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、融液面を監視するテレビカメラと、このテレビカメ
ラから出力されたビデオ画像中の成長中単結晶と融液面
との境界に生じる輝度の高いリングに対応した、一の走
査線上の輝度信号ピークのうち、個々のピークについて
設定スレッショールドレベル以上にある時間を測定し、
これを出力する装置Aと、これと並列に機能して、設定
スレッショールドレベル以上にある2個のピークの間隔
に相当する時間を測定し、これを出力する装置Bと、さ
らにこれらの装置からの出力結果に対し、一本の走査線
掃引終了時に、この走査線上に生じた設定スレッショー
ルドレベル以上のピークを計数して、計数値が1である
ときは装置Aからの出力値、計数値が2であるときは装
置Bからの出力値、計数値が3以上であるときは直前の
出力値、のいずれかのうち一つを選択、出力する機能を
有した装置Cと、各走査線の掃引に伴って装置Cから出
力される前記いずれかの値を逐次大小比較しながら、直
前の値より大きい値が出力されたときだけ、この値を更
新して、最終的に一画面分の走査終了時に、備えたメモ
リに最大値を記録するよう構成された装置Dと、一画面
毎に装置Dから得られる値を予め定めた直径設定値と比
較し、その差により引上装置の運転緒元を調整する装置
Eとを備えたことを特徴とする単結晶直径自動制御装置
。 2、テレビカメラに二次元固体撮像素子を用いたことを
特徴とする請求項1記載の単結晶直径自動制御装置。 3、焦点距離の異なる2台のテレビカメラを有すること
を特徴とする請求項1または2記載の単結晶直径自動制
御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63316224A JPH0780717B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 単結晶直径自動制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63316224A JPH0780717B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 単結晶直径自動制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02164789A true JPH02164789A (ja) | 1990-06-25 |
JPH0780717B2 JPH0780717B2 (ja) | 1995-08-30 |
Family
ID=18074688
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63316224A Expired - Lifetime JPH0780717B2 (ja) | 1988-12-16 | 1988-12-16 | 単結晶直径自動制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH0780717B2 (ja) |
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- 1988-12-16 JP JP63316224A patent/JPH0780717B2/ja not_active Expired - Lifetime
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