JPH0772399A - 画像形成装置 - Google Patents

画像形成装置

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JPH0772399A
JPH0772399A JP5159472A JP15947293A JPH0772399A JP H0772399 A JPH0772399 A JP H0772399A JP 5159472 A JP5159472 A JP 5159472A JP 15947293 A JP15947293 A JP 15947293A JP H0772399 A JPH0772399 A JP H0772399A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】２つのレーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向に
おける間隔のずれを、簡便な構成で検出する。 【構成】２つのセンサＢ，Ｃの光ビーム検知領域の主走
査始端側の端縁が、主走査方向に対して相互に傾き方向
を逆として斜めに交差するように主走査方向に並べて配
置する。そして、レーザビームＬ１のみを点灯させたと
きに、センサＢ，ＣでレーザビームＬ１が検知される時
間差Ｔ１を計測させる。また、同様に、レーザビームＬ
２のみを点灯させたときに、センサＢ，Ｃでレーザビー
ムＬ２が検知される時間差Ｔ２を計測させる。そして、
前記時間差Ｔ１，Ｔ２の偏差Ｔ３と、該偏差Ｔ３の基準
値とを比較して、２つのレーザビームＬ１，Ｌ２の副走
査方向での間隔ずれを算出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は画像形成装置に関し、詳
しくは、複数の光ビームにより記録媒体上を同時に主走
査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録させ
る画像形成装置に関し、特に、前記複数の光ビームの光
軸ずれを検知する技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像信号に基づいて変調されたレーザビ
ーム（光ビーム）を回転多面鏡などにより偏向して記録
媒体上に走査させることにより画像情報の記録を行わせ
る画像形成装置においては、記録の高速化を図るには、
複数のレーザビームを用いて複数ラインを同時に記録さ
せる構成とすれば良いことが知られている（特開平２−
１８８７１３号公報等参照）。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ように、複数のレーザビームを同時に走査させる場合に
は、複数のレーザビームそれぞれの走査位置が主走査方
向又は副走査方向にずれて、忠実な画像形成に影響が出
ることがあった。本発明は上記問題点に鑑みされたもの
であり、複数の光ビームを用いて画像記録を行わせる構
成の画像形成装置において、特に、副走査方向における
光ビームの光軸ずれを簡単な構成で測定できるように
し、また、かかる副走査方向における光軸ずれの検知及
び主走査方向における光軸ずれの検知に好適な装置を提
供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】そのため本発明にかかる
画像形成装置は、複数の光ビームにより記録媒体上を同
時に主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に
記録させるものであって、２つの光ビーム検知手段を、
それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁
が相互に非平行となるように主走査方向に並べて配設す
る一方、前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームの
みを前記２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射
させ、前記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検
知される時間差を測定する第１の時間差計測手段と、こ
の第１の時間差計測手段で走査される光ビームとは別の
１つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それ
ぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で
前記光ビームが検知される時間差を測定する第２の時間
差計測手段と、前記第１及び第２の時間差計測手段でそ
れぞれに計測された時間差の偏差を演算する時間偏差演
算手段と、この時間偏差演算手段で演算された偏差と基
準値とを比較して、前記第１及び第２の時間差計測手段
でそれぞれに選択的に走査された２つの光ビームの前記
主走査方向に直交する副走査方向における間隔のずれを
検知する副走査方向ずれ検知手段と、を含んで構成され
る。
【０００５】また、本発明にかかる画像形成装置は、複
数の光ビームにより記録媒体上を同時に主走査方向に平
行に走査させて複数ラインを同時に記録させる画像形成
装置であって、少なくとも３つの光ビーム検知手段を主
走査方向に並べて配設する一方、これらの光ビーム検知
手段それぞれの光ビーム検知領域の主走査方向始端側の
端縁が、相互に非平行となる組み合わせと平行となる組
み合わせとの両方を有するようにした。
【０００６】
【作用】上記構成の画像形成装置によると、２つの光ビ
ーム検知手段が、それぞれの光ビーム検知領域の主走査
方向始端側の端縁が相互に非平行となるように主走査方
向に並べて配設されるから、前記端縁間の距離は、主走
査方向に直交する副走査方向に沿って変化することにな
る。
【０００７】従って、１つの光ビームのみを２つの光ビ
ーム検知手段に検知させる場合には、各光ビーム検知手
段によって光ビームが検知される立ち上がりの間隔時間
は、副走査方向における走査位置によって変化すること
になる。ここで、比較対象とする２つの光ビームについ
て、それぞれに前記立ち上がり間隔時間を測定すると、
各光ビームにおける間隔時間の差は、各光ビームの副走
査方向における間隔に相関する値となり、前記間隔時間
の差の変化は副走査方向における光軸のずれ（副走査方
向における光ビームの間隔の変化）を示すことになる。
【０００８】また、本発明にかかる画像形成装置では、
上記のような副走査方向における光ビーム間隔の測定に
供することができるように、光ビーム検知領域の主走査
方向始端側の端縁が相互に非平行となる光ビーム検知手
段の組み合わせを備えると共に、前記端縁が相互に平行
となる光ビーム検知手段の組み合わせを備えるように、
少なくとも３つの光ビーム検知手段を設けてある。
【０００９】ここで、前記端縁が相互に平行となる光ビ
ーム検知手段の組み合わせを用いると、この場合には、
副走査方向における走査位置のずれは、各光ビーム検知
手段により光ビームが検知される時間間隔に影響せず、
主走査方向における位置関係のみを取り出すことが可能
であるから、複数の光ビームにおける主走査方向におけ
るずれの検知に供することが可能である。
【００１０】
【実施例】以下に本発明の実施例を説明する。図１は、
本発明にかかる画像形成装置の一実施例としてレーザプ
リンタの像露光系を示す図であり、本実施例のレーザプ
リンタは、画像データに応じて内部変調された２つのレ
ーザビーム（光ビーム）Ｌ１，Ｌ２を主走査方向に平行
に走査させ、２ラインを同時に記録させるタイプのもの
である。
【００１１】図１において、光源ユニット１は、前記２
つの半導体レーザ１ａ，１ｂを１列に配置してなり、該
光源ユニット１から発せられる２つの発散光は、集光レ
ンズ２によって平行な２つのレーザビームＬ１，Ｌ２に
なる。前記２つのレーザビームＬ１，Ｌ２はポリゴンミ
ラー３に照射され、該ポリゴンミラー３によって偏向さ
れる２つのレーザビームＬ１，Ｌ２は、ｆθレンズ４を
介して感光ドラム（記録媒体）５上に走査される。
【００１２】前記感光ドラム５は、レーザビームＬ１，
Ｌ２の主走査に同期して回転駆動され、これにより、レ
ーザビームＬ１，Ｌ２と感光ドラム５とが相対的に副走
査方向（主走査方向に直交する方向）に移動して２次元
の画像記録が行われる。上記のようにして画像データに
対応した露光が２ライン同時に行われて静電潜像が感光
ドラム５（記録媒体）上に形成される。そして、この静
電潜像に対して逆極性に帯電したトナーが付着されて現
像が行われ、その後記録紙がトナー像に重ねられ、記録
紙の裏側からコロナ帯電器でコロナ帯電極性とは逆極性
の電荷が記録紙に与えられることにより、トナー像が記
録紙に転写される。
【００１３】前記ポリゴンミラー３によって偏向された
レーザビームＬ１，Ｌ２の走査開始点は、走査領域の先
端側に配設されたインデックスセンサ６によって検出さ
れる。反射鏡７は、走査ラインの先端にレーザビームＬ
１，Ｌ２が照射されたときに、該レーザビームＬ１，Ｌ
２を前記インデックスセンサ６に導くためのものであ
る。
【００１４】前記インデックスセンサ６は、図２に示す
ように、それぞれ個別に検知信号を出力する４つのセン
サ（光ビーム検知手段）Ａ〜Ｄを一体に備えて構成さ
れ、各センサＡ〜Ｄは主走査方向に並べて配設され、Ａ
→Ｂ→Ｄ→Ｃの順にレーザビームＬ１，Ｌ２が走査され
る。各センサＡ〜Ｄの光ビーム検知領域（受光領域）
は、直角三角形に形成されている。そして、センサＡ
は、直角三角形の検知領域の直角挟角を構成する２辺の
うちの長辺が、主走査方向始端側の端縁となり、然も、
前記長辺が主走査方向に直交する（副走査方向に平行す
る）ように配置される。また、センサＢは、直角三角形
の検知領域の斜辺が主走査方向始端側の端縁となり、然
も、該斜辺が前記長辺と斜辺とがなす角度で主走査方向
に斜めに交差するように配置される。また、センサＤ
は、副走査方向を上下としたときに、センサＡの検知領
域の配置状態を上下反転させたように配置される。更
に、センサＣは、センサＡと副走査方向に沿った軸に対
してその検知領域が軸対称となるように配置される。
【００１５】尚、図２に示すセンサＡ，Ｃは、直角挟角
を構成する２辺のうちの長辺が、主走査方向に直交する
ように配置されるが、該長辺が主走査方向と平行になる
ように配置する構成であっても良い。上記センサＡ〜Ｄ
の配列によって、各センサＡ〜Ｄの主走査方向始端側の
端縁は、センサＡ，Ｄが相互に副走査方向に沿って平行
で、また、センサＢ，Ｃは、相互に非平行であり、然
も、主走査方向に対する傾きの方向が逆になっている。
【００１６】尚、図２では、センサＡによるレーザビー
ムＬ１の検知始端位置（ビーム検知信号が立ち上がる位
置）をａ１として示し、レーザビームＬ２の検知始端位
置をａ２として示してあり、以下同様に、センサＢ〜Ｄ
によるレーザビームＬ１，Ｌ２の検知始端位置をｂ１，
ｂ２，ｃ１，ｃ２，ｄ１，ｄ２として示してある。本実
施例では、上記構成のセンサＡ〜Ｄを用いて、前記レー
ザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向における間隔のずれ
を、図３のフローチャートに示すようにして計測する。
【００１７】図３のフローチャートに示すプログラム
は、レーザプリンタに電源が投入される毎に実行される
ものであり、まず、レーザビームＬ１のみを点灯させ、
通常の画像記録時と同様に走査させる（Ｓ１）。そし
て、レーザビームＬ１が前記センサＡ〜Ｄ上を走査した
ときに、センサＢのビーム検知の立ち上がり（ｂ１）か
ら、センサＣのビーム検知の立ち上がり（ｃ１）までの
時間（検知時間差）Ｔ１（図４参照）を計測する（Ｓ
２）。
【００１８】尚、上記のＳ１，Ｓ２の機能が、第１の時
間差計測手段に相当する。次いで、レーザビームＬ１に
代えてレーザビームＬ２のみを点灯させ、通常の画像記
録時と同様に走査させる（Ｓ３）。そして、同様に、か
かるレーザビームＬ２が前記センサＡ〜Ｄ上を走査した
ときに、センサＢのビーム検知の立ち上がり（ｂ２）か
ら、センサＣのビーム検知の立ち上がり（ｃ２）までの
時間Ｔ２（図４参照）を計測する（Ｓ４）。
【００１９】尚、上記のＳ３，Ｓ４の機能が、第２の時
間差計測手段に相当する。上記の時間Ｔ１，Ｔ２の計測
を終了すると、前記時間Ｔ１と時間Ｔ２の偏差の絶対値
Ｔ３を演算する。更に、レーザビームＬ１，Ｌ２の副走
査方向における間隔が正規の状態であるときに対応する
前記偏差Ｔ３の基準値と、上記処理で実際に求められた
偏差Ｔ３との差を、前記間隔のずれ量に相当する値とし
て求める（Ｓ５）。このＳ５の機能が、時間偏差演算手
段及び副走査方向ずれ検知手段に相当する。
【００２０】尚、前記基準値は、レーザプリンタの操作
部を介して任意に変更設定できるようにすると良い。即
ち、レーザビームＬ１がセンサＢ，Ｃで検知される副走
査方向における位置ｂ１，ｃ１を基準位置として想定し
たときに、例えばレーザビームＬ２の走査位置が副走査
方向に図４で下側にずれたとする。この場合、レーザビ
ームＬ２がセンサＢ，Ｃで検知される副走査方向におけ
る位置ｂ２，ｃ２は、センサＢ，Ｃの検知始端側端縁の
間隔が、図４において下方に行くに従って主走査方向の
両側に広がるよう構成されていることによって、位置ｂ
２は走査の始端側にずれ、逆に、位置ｃ２は走査の終端
側にずれることになり、以て、時間Ｔ２が長くなり、時
間Ｔ３が基準に対してより長くなる。
【００２１】従って、時間Ｔ３と基準値との偏差を求め
れば、走査速度と前記センサＢ，Ｃにおける斜辺の角度
との情報に基づいて、レーザビームＬ１，Ｌ２の間隔の
ずれ量を算出することができるものである。ここで、例
えば特開昭６３−５０８０９号公報に開示されるように
副走査方向における走査位置を調整し得る機構を備える
場合には、前記算出されたずれ量の情報に基づいてレー
ザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向における走査位置を調
整することで、レーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向に
おける間隔を規定値に修正することが可能となる。
【００２２】尚、上記のようにしてレーザビームＬ１，
Ｌ２の副走査方向における間隔ずれを検出させる場合に
は、センサＢ，Ｃの斜辺が主走査方向に対して斜めに交
差する角度によって、ずれによって生じる時間差が変動
し、図５に示す角度Ｂ°をなるべく鋭角に設定する、換
言すれば、センサＢ，Ｃの検知領域の斜辺の間隔が副走
査方向に沿って急激に変化することが望ましく、更に、
前記角度Ｂ°は、走査位置の調整精度や、時間計測の分
解能によって決定すると良い。
【００２３】また、前記時間Ｔ１，Ｔ２の計測結果や、
最終的に演算されたずれ量などの情報を、レーザプリン
タに設けられた表示部に表示させるようにしても良い。
ところで、前記時間Ｔ１，Ｔ２の計測は、本実施例で
は、図６に示すようにして行われる。尚、図６では、セ
ンサＡ，ＤによってレーザビームＬ１が検知される時間
差（ａ１とｄ１との間の時間）を計測させる場合を示し
てあるが、センサＡ〜Ｄの他の組み合わせであっても同
様にして行われる。
【００２４】図６において、基準クロックｃｌｋを１／
16周期ずつ順次遅らせて16種類のディレイクロックdl０
（基準クロック）〜dl15をディジタルディレイラインを
用いて発生させている。尚、図６においては、クロック
ｃｌｋ，dl１，dl２，dl８，dl12，dl15のみを示し、他
のディレイクロックについては図示を省略してある。そ
して、例えばセンサＡの検知信号の立ち上がりａ１に同
期したクロック（検知信号の立ち上がり直後に最初に立
ち上がるクロック）がクロックdl８であったとすると、
該同期時の立ち上がりを最初のカウントとし、続いてこ
のクロックdl８の立ち上がりを順次カウントさせる。
【００２５】かかるカウント中に、センサＤの検知信号
が立ち上がり、この検知信号の立ち上がり（ｄ１）に同
期するクロックがクロックdl12であったとすると、それ
までのクロックdl８の立ち上がりをカウントした数（セ
ンサＡの検知信号（ａ１）に同期したクロックdl８の立
ち上がりを含む）から１を減算した値にクロック周期を
乗算した時間に、クロックdl８とクロックdl12との位相
差（４／16周期であり、ディレイクロック番号＝dl４と
して表すことができる。）を加算した値が、前記センサ
Ａ，Ｄの検知信号の出力時間差（ａ１とｄ１との間隔）
になる。
【００２６】そして、前述の副走査方向のずれ検出にお
いては、各時間Ｔ１，Ｔ２を、上記のようにしてクロッ
クカウント数とディレイクロック番号として求める一
方、間隔の規定値に相当する基準時間をやはりクロック
カウント数とディレイクロック番号として与えるように
して、時間差の演算においては、カウント数とディレイ
クロック番号とをそれぞれに演算させるようにすれば良
い。
【００２７】この場合、副走査方向におけるずれの情報
は、クロックカウント数とディレイクロック番号として
調整機構（例えばステッピングモータ）に出力されるこ
とになる（図７参照）。次に、上記のようにして時間を
計測し、該計測結果に基づいてずれ検出を行う具体的な
回路例を図８に従って説明する。
【００２８】図８において、センサＢ，Ｃの出力は、フ
ェイズ・ディテクター(1) 11とフェイズ・ディテクター
(2)12 とにそれぞれ出力される。一方、ディジタル・デ
ィレイライン13には基準クロックclk が入力され、該デ
ィジタル・ディレイライン13から前記クロックdl０〜dl
15が出力される。そして、前記フェイズ・ディテクター
(1)11,(2)12 では、センサＢ，Ｃの検知信号の立ち上が
りと同期するディレイクロックdl０〜dl15をそれぞれに
検出し（図６参照）、該検出結果を位相差演算部14に出
力する。
【００２９】該位相差演算部14では、センサＢの検知タ
イミング（ｂ１又はｂ２）に同期するクロックと、セン
サＣの検知タイミング（ｃ１又はｃ２）に同期するクロ
ックの位相差（１／16周期単位）、即ち、センサＢ，Ｃ
の検知間隔のクロック周期内の端数分を求め、その結果
を、センサＣの検知信号からワンショット回路31で生成
されるワンショットパルスに応じてラッチ回路18にラッ
チさせる。
【００３０】また、前記フェイズ・ディテクター(1)11
の検出結果はクロックセレクタ15にも出力され、該クロ
ックセレクタ15からは、センサＢの検知信号に同期する
ディレイクロックを選択的にカウンタ16に出力する。カ
ウンタ16では、センサＢ，Ｃの出力の立ち上がりｂ１
（ｂ２），ｃ１（ｃ２）間隔時間を、前記クロックセレ
クタ15から出力されるクロックをカウントして計測す
る。尚、前記カウンタ16のカウント区間は、センサＢ，
Ｃの出力が入力されるフリップ・フロップ17によって制
御されるようになっている。
【００３１】前記カウンタ16によるカウント値は、セン
サＣの検知信号から生成させたワンショットパルスでラ
ッチ回路18にラッチさせる。このようにして、例えばレ
ーザビームＬ１のみを点灯させたときのセンサＢ，Ｃの
検知間隔である時間Ｔ１を計測しラッチ回路18に記憶さ
せ、続いて、同様にしてレーザビームＬ２のみを点灯さ
せたときの時間Ｔ２を計測しラッチ回路18に記憶させ
る。
【００３２】尚、図８の回路構成において、第１の時間
差計測手段及び第２の時間差計測手段としての機能は、
前記フェイズ・ディテクター(1)11,(2)12 、ディジタル
・ディレイライン13、位相差演算部14、クロックセレク
タ15、カウンタ16、フリップ・フロップ17、ラッチ回路
18、ワンショット回路31によって実現される。クロック
カウント数及びクロック位相差として前記時間Ｔ１，Ｔ
２が得られると、時間偏差演算手段としての時間差演算
部19では時間Ｔ１，Ｔ２の偏差を、カウント数とクロッ
ク位相差とで個別に演算し、その結果を、ラッチ回路20
に一旦記憶させる。
【００３３】そして、副走査方向ずれ検知手段としての
ずれ演算部21では、操作部を介して与えられる基準値
と、前記ラッチ回路20に記憶されたデータとを比較し
て、レーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向におけるずれ
（間隔の変化量）を演算し、かかる演算結果を表示部に
出力する一方、調整機構に与えて副走査方向におけるず
れの修正を行わせる。
【００３４】ところで、上記では、センサＡ〜Ｄのうち
のセンサＢ，Ｃのみを用いて、レーザビームＬ１，Ｌ２
の副走査方向におけるずれを検出し、該ずれを調整する
処理を説明したが、かかる処理に続けてレーザビームＬ
１，Ｌ２の主走査方向における走査位置関係（主走査方
向におけるずれ）を検出し、該検出結果に基づいて各レ
ーザビームＬ１，Ｌ２による書出し位置を制御すること
が好ましく、そのために、センサＡ，Ｄが設けられてい
る。
【００３５】前記主走査方向におけるずれを検出するた
めの処理内容を、図３のフローチャートにおいて、副走
査方向のずれ検出に続けて示してある。まず、レーザビ
ームＬ１のみを点灯させて（Ｓ６）、センサＡでレーザ
ビームＬ１が検知される立ち上がり（ａ１）と、センサ
ＤでレーザビームＬ１が検知される立ち上がり（ｄ１）
との時間差Ｔ５（図９参照）を測定させる（Ｓ７）。
【００３６】ここで、センサＡ，Ｄの光ビーム検知領域
の主走査方向始端側の端縁が、副走査方向に平行（主走
査方向に直交）であるから、前記時間差Ｔ５は、副走査
方向における走査位置に影響されずに、センサＡ，Ｄの
主走査方向始端側の端縁の間隔と走査速度とによっての
み決定されることになる。次に、センサＡにはレーザビ
ームＬ１のみが入射し、センサＤにはレーザビームＬ２
のみが入射するように、各レーザビームＬ１，Ｌ２のマ
スク制御を行いながら走査させ（Ｓ８）、センサＡでレ
ーザビームＬ１が検知される立ち上がり（ａ１）と、セ
ンサＤでレーザビームＬ２が検知される立ち上がり（ｄ
２）との時間差Ｔ６（図９参照）を測定させる（Ｓ
９）。
【００３７】前記マスク制御は、各レーザビームＬ１，
Ｌ２の点灯・消灯制御で行っても良いし、また、偏光素
子などの利用によってレーザビームＬ１，Ｌ２が選択的
にセンサＡ，Ｄに入射するようにしても良い。ここで、
各レーザビームＬ１，Ｌ２が、主走査方向にずれること
なく走査される場合には、前記時間差Ｔ５，Ｔ６は同一
時間となるはずであり、例えばレーザビームＬ１の走査
に遅れてレーザビームＬ２が走査される場合には、その
遅れが、Ｔ６−Ｔ５（＝Ｔ７）として求められることに
なる（Ｓ10：図９参照）。
【００３８】従って、上記の場合、レーザビームＬ１に
よる書出しに対してレーザビームＬ２に書出しを前記時
間Ｔ７だけ遅らせれば、主走査方向にずれて走査される
２つのレーザビームＬ１，Ｌ２によって主走査方向にず
れることなく、画像記録が行えることになる。前記書出
し位置の制御は、レーザビームＬ１に対応する水平同期
信号の発生に対して、レーザビームＬ２に対応する水平
同期信号の発生を前記時間Ｔ７だけ遅らせるようにすれ
ば良い。
【００３９】また、前記時間Ｔ５，Ｔ６が、前記副走査
方向におけるずれ検出で説明したように、ディレイクロ
ックのカウント数及びクロック位相差として求められる
場合には、クロックのカウント数に基づいて水平同期信
号を調整し、クロック位相差として求められるずれ分
は、ディレイクロックdl０〜dl15からの各レーザビーム
Ｌ１，Ｌ２に対応させるドットクロックの選択によって
調整するようにしても良い。
【００４０】ところで、上記の副走査方向及び主走査方
向におけるずれ検出のために用いたセンサＡ〜Ｄの各検
知領域の形状や組み合わせは、図２に示したものに限定
されるものではなく、例えば図10〜図13に示すようなセ
ンサＡ〜Ｄの構成であっても良い。即ち、副走査方向に
おけるずれを検出するためには、光ビーム検知領域の主
走査方向始端側の端縁が相互に非平行となるセンサの組
み合わせが存在すれば良く、また、主走査方向における
ずれを検出するためには、光ビーム検知領域の主走査方
向始端側の端縁が共に主走査方向に直交して平行である
センサの組み合わせが存在すれば良く、更に、光ビーム
検知領域の主走査方向始端側の端縁が規定されれば、検
知領域の形状は三角であっても四角であっても良い。
【００４１】更に、上記では、副走査方向のずれ検出に
用いるセンサ対と、主走査方向のずれ検出に用いるセン
サ対とからなる４つのセンサＡ〜Ｄで構成したが、図14
に示すように、３つのセンサＡ〜Ｃで同様の機能を果た
すことが可能である。即ち、図14に示す構成では、四角
な光ビーム検知領域に形成された２つのセンサＡ，Ｂ
を、その検知領域の主走査方向始端側の端縁が主走査方
向に直交するように配設する一方、光ビーム検知領域が
三角形に形成されたセンサＣをその主走査始端側となる
斜辺が主走査方向に斜めに交差するように配設してあ
る。
【００４２】そして、前記図14に示すセンサ構成で、副
走査方向におけるずれを検出させる場合には、例えばセ
ンサＢとセンサＣとの組み合わせを用いる（図15参
照）。ここで、センサＢの検知領域の主走査方向始端側
の端縁が主走査方向に直交するが、センサＣの検知領域
の主走査方向始端側の端縁は主走査方向に斜めに交差す
るので、副走査方向におけるずれが発生すれば、それが
各センサＢ，Ｃによって検出される時間差の変化として
表れることになり、以て、副走査方向のずれを検出でき
る（図15参照）。
【００４３】但し、センサＢの検知領域の主走査方向始
端側の端縁が主走査方向に直交することによって、図２
又は図４（或いは図10〜図13）に示すセンサＢ，Ｃの組
み合わせを用いる場合に比べて、副走査方向におけるず
れが時間に大きく影響しないため、精度的には、図２又
は図４（或いは図10〜図13）に示すセンサＢ，Ｃのよう
に、検知領域の主走査方向始端側の端縁がそれぞれ主走
査方向に斜めに交差し、然も、傾きの方向が異なるセン
サの組み合わせを用いることが好ましい。
【００４４】また、図14に示すようなセンサＡ〜Ｃによ
って、主走査方向におけるずれを検出する場合には、図
16に示すように、センサＡ，Ｂの組み合わせを用いて前
述と同様にして検出できる。即ち、図14に示すような３
つのセンサＡ〜Ｃで構成される場合であっても、光ビー
ム検知領域の主走査方向始端側の端縁が、相互に非平行
となる組み合わせと副走査方向に沿って平行となる組み
合わせとの両方を有すれば、換言すると、副走査方向に
沿って平行なセンサ対と、主走査方向に斜めに交差する
１つのセンサとがあれば、副走査方向及び主走査方向の
ずれを両方検出できることになる。
【００４５】従って、３つのセンサＡ〜Ｃによる組み合
わせにおいても、図14の構成に限定されるものではな
く、例えば図17〜図20に示すような種々の態様が容易に
想定される。尚、主走査方向におけるずれ検出を行う必
要がない場合には、光ビーム検知領域の主走査方向始端
側の端縁が相互に非平行であるセンサ対のみを備えれば
良いことになる。
【００４６】また、３つのレーザビームＬ１，Ｌ２，Ｌ
３を用いて３ラインを同時記録させる構成においても、
例えば２つのレーザビームＬ１，Ｌ２について前記同様
に副走査方向のずれを一対のセンサを用いて検出し、更
に、２つのレーザビームＬ１，Ｌ３についてずれを検出
すれることで、レーザビームＬ１の走査位置を基準とし
たときの各レーザビームＬ２，Ｌ３の副走査方向のずれ
を検出できるので、２つのレーザビームＬ１，Ｌ２を用
いる構成に限定されない。
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように本発明にかかる画像
形成装置によると、副走査方向における光ビームの間隔
のずれ（光軸ずれ）を簡便な構成によって検出すること
ができるという効果があり、かかる検出結果を用いて光
軸を調整することで安定的な画像形成が可能となる。
【００４８】また、本発明にかかる画像形成装置による
と、前記副走査方向における光軸ずれの検出と、主走査
方向における光軸ずれの検出との両方に対応することが
でき、副走査方向における光軸を正規位置とし、かつ、
主走査方向における光ビームの位置関係に応じた書出し
制御を行うことが可能となるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例の像露光系を示す斜視図。
【図２】インデックスセンサの詳細を示す図。
【図３】主，副走査方向における光軸ずれ検出を示すフ
ローチャート。
【図４】副走査方向におけるずれ検出を説明するための
図。
【図５】副走査方向におけるずれ検出の特性を説明する
ための図。
【図６】クロックを用いた時間計測を説明するためのタ
イムチャート。
【図７】ずれの検出結果による光軸調整を示すブロック
図。
【図８】副走査方向の光軸ずれ検出を行う回路構成を示
すブロック図。
【図９】主走査方向におけるずれ検出の特性を説明する
ための図。
【図10】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図11】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図12】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図13】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図14】３つのセンサによるセンサを構成を示す図。
【図15】３つのセンサによる副走査方向におけるずれ検
出を示す図。
【図16】３つのセンサによる主走査方向におけるずれ検
出を示す図。
【図17】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図18】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図19】センサ構成の他の実施例を示す図。
【図20】センサ構成の他の実施例を示す図。
【符号の説明】 １ 光源ユニット １ａ，１ｂ 半導体レーザ ２ 集光レンズ ３ ポリゴンミラー ４ ｆθレンズ ５ 感光ドラム ６ インデックスセンサ ７ 反射鏡 11，12 フェイズ・ディテクター 13 ディジタル・ディレイライン 14 位相差演算部 15 クロックセレクタ 16 カウンタ 18，20 ラッチ回路 19 時間差演算部 20 ずれ演算部 31 ワンショット回路

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】複数の光ビームにより記録媒体上を同時に
    主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録
    させる画像形成装置であって、 ２つの光ビーム検知手段を、それぞれの光ビーム検知領
    域の主走査方向始端側の端縁が相互に非平行となるよう
    に主走査方向に並べて配設する一方、 前記複数の光ビームのうちの１つの光ビームのみを前記
    ２つの光ビーム検知手段それぞれに走査・入射させ、前
    記２つの光ビーム検知手段で前記光ビームが検知される
    時間差を測定する第１の時間差計測手段と、 該第１の時間差計測手段で走査される光ビームとは別の
    １つの光ビームのみを前記２つの光ビーム検知手段それ
    ぞれに走査・入射させ、前記２つの光ビーム検知手段で
    前記光ビームが検知される時間差を測定する第２の時間
    差計測手段と、 前記第１及び第２の時間差計測手段でそれぞれに計測さ
    れた時間差の偏差を演算する時間偏差演算手段と、 該時間偏差演算手段で演算された偏差と基準値とを比較
    して、前記第１及び第２の時間差計測手段でそれぞれに
    選択的に走査された２つの光ビームの前記主走査方向に
    直交する副走査方向における間隔のずれを検知する副走
    査方向ずれ検知手段と、 を含んで構成されることを特徴とする画像形成装置。
  2. 【請求項２】複数の光ビームにより記録媒体上を同時に
    主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録
    させる画像形成装置であって、 少なくとも３つの光ビーム検知手段を主走査方向に並べ
    て配設する一方、これらの光ビーム検知手段それぞれの
    光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が、相互に
    非平行となる組み合わせと平行となる組み合わせとの両
    方を有することを特徴とする画像形成装置。
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