JP2000206429A - 光ビ―ム走査光学装置 - Google Patents
光ビ―ム走査光学装置Info
- Publication number
- JP2000206429A JP2000206429A JP642299A JP642299A JP2000206429A JP 2000206429 A JP2000206429 A JP 2000206429A JP 642299 A JP642299 A JP 642299A JP 642299 A JP642299 A JP 642299A JP 2000206429 A JP2000206429 A JP 2000206429A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light beam
- scanning direction
- light beams
- interval
- sub
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Laser Beam Printer (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 複数ビームの間隔の検出を精度良く高速に行
える光ビーム走査光学装置を得る。 【解決手段】 光ビームB1,B2の副走査方向の検出
をポリゴンミラーの1つの特定反射面による走査で10
回実行する。次に、得られた測定データの平均値を計測
した後、光ビームB1とB2のそれぞれの平均値の差を
比較器で計測する。さらに、光ビームB1とB2の副走
査方向の間隔が正規の状態であるときに対応する前記差
の基準値と、上記処理で実際に得られた平均値の差とか
ら、光ビームB1とB2の間隔のずれ量(相対位置ずれ
量)を算出する。そして、この相対位置ずれ量に基づい
て、光ビームB1,B2の副走査方向の間隔の補正を実
行する。
える光ビーム走査光学装置を得る。 【解決手段】 光ビームB1,B2の副走査方向の検出
をポリゴンミラーの1つの特定反射面による走査で10
回実行する。次に、得られた測定データの平均値を計測
した後、光ビームB1とB2のそれぞれの平均値の差を
比較器で計測する。さらに、光ビームB1とB2の副走
査方向の間隔が正規の状態であるときに対応する前記差
の基準値と、上記処理で実際に得られた平均値の差とか
ら、光ビームB1とB2の間隔のずれ量(相対位置ずれ
量)を算出する。そして、この相対位置ずれ量に基づい
て、光ビームB1,B2の副走査方向の間隔の補正を実
行する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ビーム走査光学
装置、特に、複数の光ビームを同時に走査する光ビーム
走査光学装置に関する。
装置、特に、複数の光ビームを同時に走査する光ビーム
走査光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】複数の光ビームを記録媒体上で同時に主
走査方向に平行に走査させ、複数ラインを同時に走査さ
せるマルチレーザ走査光学装置が知られている。ところ
で、マルチレーザ走査光学装置は、温度等の環境変化に
起因して、複数走査ライン間での副走査方向の間隔変動
が生じることが知られている。この対策として、副走査
方向のビーム間隔を検出し、可動要素により積極的に副
走査方向の間隔を補正する光ビーム走査光学装置が提案
されている(特開平7−248458号公報参照)。こ
の光ビーム走査光学装置は、三角形状のセンサを含む複
数のセンサを走査方向に配置し、一方のセンサを横切っ
たときのセンサからの立ち上がり信号出力から他方のセ
ンサを横切ったときのセンサからの立ち上がり信号出力
までのタイマー値を各ビームについて検出し、各ビーム
間でのタイマー値の差分から各ビームの副走査方向の間
隔を検出するものである。このとき、タイマー値の検出
は、ポリゴンミラー(回転多面鏡)の各反射面での1走
査毎に実行する。
走査方向に平行に走査させ、複数ラインを同時に走査さ
せるマルチレーザ走査光学装置が知られている。ところ
で、マルチレーザ走査光学装置は、温度等の環境変化に
起因して、複数走査ライン間での副走査方向の間隔変動
が生じることが知られている。この対策として、副走査
方向のビーム間隔を検出し、可動要素により積極的に副
走査方向の間隔を補正する光ビーム走査光学装置が提案
されている(特開平7−248458号公報参照)。こ
の光ビーム走査光学装置は、三角形状のセンサを含む複
数のセンサを走査方向に配置し、一方のセンサを横切っ
たときのセンサからの立ち上がり信号出力から他方のセ
ンサを横切ったときのセンサからの立ち上がり信号出力
までのタイマー値を各ビームについて検出し、各ビーム
間でのタイマー値の差分から各ビームの副走査方向の間
隔を検出するものである。このとき、タイマー値の検出
は、ポリゴンミラー(回転多面鏡)の各反射面での1走
査毎に実行する。
【0003】ところで、この特開平7−248458号
公報には、ポリゴンミラー(回転多面鏡)の各反射面で
の1走査毎に複数ビームの副走査方向の間隔を検出する
と、測定誤差が生じるため、ポリゴンミラーが有する反
射面の数以上の回数だけ副走査方向のビーム間隔を検出
し、得られたデータを平均化して副走査方向のビーム間
隔値とする旨の記載がある。
公報には、ポリゴンミラー(回転多面鏡)の各反射面で
の1走査毎に複数ビームの副走査方向の間隔を検出する
と、測定誤差が生じるため、ポリゴンミラーが有する反
射面の数以上の回数だけ副走査方向のビーム間隔を検出
し、得られたデータを平均化して副走査方向のビーム間
隔値とする旨の記載がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、測定デ
ータを平均化して副走査方向のビーム間隔値を得るよう
にしても、検出精度は多少向上するものの、やはりポリ
ゴンミラーの面精度(反射面の曲率、回転中心軸と反射
面との距離、反射面の面倒れ量)の面毎の偏差が大きい
場合には、ある反射面におけるビームの間隔に対する別
の反射面のビームの間隔の偏差が大きくなるという不具
合があった。つまり、図13(A),(B)及び(C)
に示すように、ポリゴンミラー12の反射面12a,1
2b,12c,…のそれぞれの面倒れ量が異なっている
と、それぞれの反射面12a,12b,12c,…によ
って反射されたレーザビームBは、センサS上の異なる
位置を横切ることになる(Z=0,−ΔZ,+ΔZ,
…)。このため、ポリゴンミラー12の各反射面12
a,12b,12c,…での1走査毎に複数ビームの副
走査方向の間隔を検出すると、上記のようなΔZのずれ
が検出誤差として入ってくる。
ータを平均化して副走査方向のビーム間隔値を得るよう
にしても、検出精度は多少向上するものの、やはりポリ
ゴンミラーの面精度(反射面の曲率、回転中心軸と反射
面との距離、反射面の面倒れ量)の面毎の偏差が大きい
場合には、ある反射面におけるビームの間隔に対する別
の反射面のビームの間隔の偏差が大きくなるという不具
合があった。つまり、図13(A),(B)及び(C)
に示すように、ポリゴンミラー12の反射面12a,1
2b,12c,…のそれぞれの面倒れ量が異なっている
と、それぞれの反射面12a,12b,12c,…によ
って反射されたレーザビームBは、センサS上の異なる
位置を横切ることになる(Z=0,−ΔZ,+ΔZ,
…)。このため、ポリゴンミラー12の各反射面12
a,12b,12c,…での1走査毎に複数ビームの副
走査方向の間隔を検出すると、上記のようなΔZのずれ
が検出誤差として入ってくる。
【0005】また、ポリゴンミラー12の各反射面12
a,12b,12c,…による走査で得られる測定デー
タを平均化して副走査方向のビーム間隔値を得るため、
反射面毎に正確に副走査方向のビーム間隔を検出した
り、反射面毎に副走査方向のビームの間隔を補正した
り、反射面毎に画像処理内容を補正したりする等の対応
が不可能であった。さらに、少なくともポリゴンミラー
の反射面の数だけ測定データを採る必要があるため、検
出時間が長くなるという問題があった。
a,12b,12c,…による走査で得られる測定デー
タを平均化して副走査方向のビーム間隔値を得るため、
反射面毎に正確に副走査方向のビーム間隔を検出した
り、反射面毎に副走査方向のビームの間隔を補正した
り、反射面毎に画像処理内容を補正したりする等の対応
が不可能であった。さらに、少なくともポリゴンミラー
の反射面の数だけ測定データを採る必要があるため、検
出時間が長くなるという問題があった。
【0006】そこで、本発明の目的は、回転多面鏡の各
反射面の面精度誤差の影響を受けず、複数のビームの間
隔の検出を精度良く高速に行える光ビーム走査光学装置
を提供することにある。
反射面の面精度誤差の影響を受けず、複数のビームの間
隔の検出を精度良く高速に行える光ビーム走査光学装置
を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段と作用】以上の目的を達成
するため、本発明に係る光ビーム走査光学装置は、
(a)複数の光源と、(b)前記複数の光源からの光ビ
ームを同時に偏向走査する回転多面鏡と、(c)複数の
前記光ビームの走査線上において受光し、複数の前記光
ビームの所定方向の間隔を検出する検出器と、(d)前
記検出器を用いて複数の前記光ビームの所定方向の間隔
検出を前記回転多面鏡の特定反射面による走査で複数回
実行し、得られた複数のデータに基づいて複数の前記光
ビームの所定方向の間隔値を算出する制御手段と、を備
えたことを特徴とする。
するため、本発明に係る光ビーム走査光学装置は、
(a)複数の光源と、(b)前記複数の光源からの光ビ
ームを同時に偏向走査する回転多面鏡と、(c)複数の
前記光ビームの走査線上において受光し、複数の前記光
ビームの所定方向の間隔を検出する検出器と、(d)前
記検出器を用いて複数の前記光ビームの所定方向の間隔
検出を前記回転多面鏡の特定反射面による走査で複数回
実行し、得られた複数のデータに基づいて複数の前記光
ビームの所定方向の間隔値を算出する制御手段と、を備
えたことを特徴とする。
【0008】以上の構成により、複数の光ビームの所定
方向の間隔検出を回転多面鏡の特定反射面による走査で
複数回実行し、得られた複数のデータより複数の前記光
ビームの所定方向の間隔値を算出するため、同一反射面
に対し複数回の間隔検出を実行することになる。これに
より、精度の良い間隔値が得られる。
方向の間隔検出を回転多面鏡の特定反射面による走査で
複数回実行し、得られた複数のデータより複数の前記光
ビームの所定方向の間隔値を算出するため、同一反射面
に対し複数回の間隔検出を実行することになる。これに
より、精度の良い間隔値が得られる。
【0009】さらに、複数の光ビームの所定方向の間隔
検出を、前記回転多面鏡の特定反射面による1走査中に
おいて複数回実行することにより、同一反射面に対して
1走査時間で複数回の間隔検出をすることになる。従っ
て、精度の良い間隔値を短時間で得られる。
検出を、前記回転多面鏡の特定反射面による1走査中に
おいて複数回実行することにより、同一反射面に対して
1走査時間で複数回の間隔検出をすることになる。従っ
て、精度の良い間隔値を短時間で得られる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光ビーム走査
光学装置の実施形態について添付図面を参照して説明す
る。各実施形態において、同一部品及び同一部分には同
じ符号を付した。
光学装置の実施形態について添付図面を参照して説明す
る。各実施形態において、同一部品及び同一部分には同
じ符号を付した。
【0011】[第1実施形態、図1〜図8]図1におい
て、光ビーム走査光学装置は、概略、光源ユニット1
と、シリンドリカルレンズ11と、ポリゴンミラー12
と、3本のfθレンズ13,14,15及びシリンドリ
カルレンズ16と、平面ミラー17とで構成されてい
る。
て、光ビーム走査光学装置は、概略、光源ユニット1
と、シリンドリカルレンズ11と、ポリゴンミラー12
と、3本のfθレンズ13,14,15及びシリンドリ
カルレンズ16と、平面ミラー17とで構成されてい
る。
【0012】光源ユニット1は、互いに直交方向に光ビ
ームB1,B2を放射するレーザダイオード2,3と、
ビーム結合素子4と、コリメータレンズ5とからなる。
レーザダイオード3から放射された光ビームB2は、ビ
ーム結合素子4のハーフミラー膜を透過して直進し、コ
リメータレンズ5によって平行光(又は収束光)とされ
る。レーザダイオード2から放射された光ビームB1
は、ビーム結合素子4のハーフミラー膜で90°に反射
され、コリメータレンズ5によって平行光(又は収束
光)とされる。光ビームB1,B2はビーム結合素子4
で同一進行方向に結合されるが、互いに副走査方向に数
μmの間隔で近接して進行する。
ームB1,B2を放射するレーザダイオード2,3と、
ビーム結合素子4と、コリメータレンズ5とからなる。
レーザダイオード3から放射された光ビームB2は、ビ
ーム結合素子4のハーフミラー膜を透過して直進し、コ
リメータレンズ5によって平行光(又は収束光)とされ
る。レーザダイオード2から放射された光ビームB1
は、ビーム結合素子4のハーフミラー膜で90°に反射
され、コリメータレンズ5によって平行光(又は収束
光)とされる。光ビームB1,B2はビーム結合素子4
で同一進行方向に結合されるが、互いに副走査方向に数
μmの間隔で近接して進行する。
【0013】コリメータレンズ5から出射された光ビー
ムB1,B2は、シリンドリカルレンズ11を介して回
転多面鏡であるポリゴンミラー12に到達する。シリン
ドリカルレンズ11は光ビームB1,B2をポリゴンミ
ラー12の反射面近傍に主走査方向に長い線状に集光す
る。ポリゴンミラー12は矢印a方向に一定角速度で回
転駆動される。光ビームB1,B2はポリゴンミラー1
2の回転に基づいて各反射面12a〜12fで等角速度
に偏向走査され、fθレンズ13,14,15及びシリ
ンドリカルレンズ16を透過し、平面ミラー17で下方
に反射される。その後、光ビームB1,B2は感光体ド
ラム25上で結像すると共に、矢印b方向に走査する。
即ち、この光学系では1回の走査で2ラインを同時に書
き込む。
ムB1,B2は、シリンドリカルレンズ11を介して回
転多面鏡であるポリゴンミラー12に到達する。シリン
ドリカルレンズ11は光ビームB1,B2をポリゴンミ
ラー12の反射面近傍に主走査方向に長い線状に集光す
る。ポリゴンミラー12は矢印a方向に一定角速度で回
転駆動される。光ビームB1,B2はポリゴンミラー1
2の回転に基づいて各反射面12a〜12fで等角速度
に偏向走査され、fθレンズ13,14,15及びシリ
ンドリカルレンズ16を透過し、平面ミラー17で下方
に反射される。その後、光ビームB1,B2は感光体ド
ラム25上で結像すると共に、矢印b方向に走査する。
即ち、この光学系では1回の走査で2ラインを同時に書
き込む。
【0014】fθレンズ13,14,15はポリゴンミ
ラー12で等角速度に偏向された光ビームB1,B2を
感光体ドラム25上での主走査速度を等速に補正(歪曲
収差補正)機能を有している。シリンドリカルレンズ1
6は前記シリンドリカルレンズ11と同様に副走査方向
にのみパワーを有し、二つのレンズ11,16が協働し
てポリゴンミラーの面倒れ誤差を補正する。
ラー12で等角速度に偏向された光ビームB1,B2を
感光体ドラム25上での主走査速度を等速に補正(歪曲
収差補正)機能を有している。シリンドリカルレンズ1
6は前記シリンドリカルレンズ11と同様に副走査方向
にのみパワーを有し、二つのレンズ11,16が協働し
てポリゴンミラーの面倒れ誤差を補正する。
【0015】一方、光ビーム検出センサ20は、感光体
ドラム25近傍の、主走査方向上流側の位置に配置され
ている。従って、光ビームの走査方向先端部分は、ポリ
ゴンミラー12から出射された後、fθレンズ13〜1
5,シリンドリカルレンズ16及び平面ミラー17を介
して光ビーム検出センサ20へ入射する。光ビーム検出
センサ20のビーム検出信号は、後述するように、光ビ
ームの間隔値を算出するために使用される。
ドラム25近傍の、主走査方向上流側の位置に配置され
ている。従って、光ビームの走査方向先端部分は、ポリ
ゴンミラー12から出射された後、fθレンズ13〜1
5,シリンドリカルレンズ16及び平面ミラー17を介
して光ビーム検出センサ20へ入射する。光ビーム検出
センサ20のビーム検出信号は、後述するように、光ビ
ームの間隔値を算出するために使用される。
【0016】感光体ドラム25は矢印c方向に一定速度
で回転駆動され、ポリゴンミラー12及びfθレンズ1
3,14,15による矢印b方向への主走査と、感光体
ドラム25の矢印c方向への副走査によって感光体ドラ
ム25上に画像(静電潜像)が書き込まれる。
で回転駆動され、ポリゴンミラー12及びfθレンズ1
3,14,15による矢印b方向への主走査と、感光体
ドラム25の矢印c方向への副走査によって感光体ドラ
ム25上に画像(静電潜像)が書き込まれる。
【0017】次に、以上の構成からなる光ビーム走査光
学装置の光ビームB1とB2の副走査方向の間隔(相対
位置ずれ量)検出について説明する。
学装置の光ビームB1とB2の副走査方向の間隔(相対
位置ずれ量)検出について説明する。
【0018】ポリゴンミラー12の八つの反射面12a
〜12hのうちの一つを、光ビーム間隔検出用として特
定する。一つの反射面を特定する方法としては、例え
ば、ポリゴンミラー12の所定の位置に予め検出用突起
を設けたり、検出用磁性体を貼着し、これら検出用突起
や検出用磁性体を検出センサで検出することによって一
つの反射面を特定する方法等がある。第1実施形態で
は、反射面12aを光ビーム間隔検出用として特定し
た。ただし、予め光ビーム間隔検出として使用される反
射面を決めないで、ポリゴンミラー12の1回転を検出
する手段を設け、反射面12a〜12hのうちの1つを
光ビーム間隔検出用として利用する方法であってもよ
い。
〜12hのうちの一つを、光ビーム間隔検出用として特
定する。一つの反射面を特定する方法としては、例え
ば、ポリゴンミラー12の所定の位置に予め検出用突起
を設けたり、検出用磁性体を貼着し、これら検出用突起
や検出用磁性体を検出センサで検出することによって一
つの反射面を特定する方法等がある。第1実施形態で
は、反射面12aを光ビーム間隔検出用として特定し
た。ただし、予め光ビーム間隔検出として使用される反
射面を決めないで、ポリゴンミラー12の1回転を検出
する手段を設け、反射面12a〜12hのうちの1つを
光ビーム間隔検出用として利用する方法であってもよ
い。
【0019】図2に示すように光ビーム検出センサ20
としては、ポジション・センシング・ディテクタ20
(以下、PSD20と記す)が用いられる。PSD20
は、例えば光ビームの受光位置によって出力電圧が変化
するものであり、第1実施形態の場合、長さL方向に出
力電圧差Eの傾斜状電圧勾配を有している。このPSD
20は、長さL方向が主走査方向に対して直交するよう
に配置されている。
としては、ポジション・センシング・ディテクタ20
(以下、PSD20と記す)が用いられる。PSD20
は、例えば光ビームの受光位置によって出力電圧が変化
するものであり、第1実施形態の場合、長さL方向に出
力電圧差Eの傾斜状電圧勾配を有している。このPSD
20は、長さL方向が主走査方向に対して直交するよう
に配置されている。
【0020】まず、光ビーム走査光学装置を組み込んだ
複写機本体等に内蔵されているマイクロコンピュータか
らの制御により、レーザダイオード2のみを点灯して、
光ビームB1をポリゴンミラー12の反射面12aによ
って一回目の主走査を実行する。そして、光ビームB1
がPSD20上を走査したとき、PSD20の出力信号
の電圧v1(図3参照)を計測する。次に、ポリゴンミ
ラー12が1回転して再び反射面12aが戻ってくる
と、レーザダイオード2に代えてレーザダイオード3の
みを点灯して、光ビームB2を反射面12aによって2
回目の主走査を実行する。そして、光ビームB2がPS
D20上を走査したとき、PSD20の出力信号の電圧
v2(図3参照)を計測する。
複写機本体等に内蔵されているマイクロコンピュータか
らの制御により、レーザダイオード2のみを点灯して、
光ビームB1をポリゴンミラー12の反射面12aによ
って一回目の主走査を実行する。そして、光ビームB1
がPSD20上を走査したとき、PSD20の出力信号
の電圧v1(図3参照)を計測する。次に、ポリゴンミ
ラー12が1回転して再び反射面12aが戻ってくる
と、レーザダイオード2に代えてレーザダイオード3の
みを点灯して、光ビームB2を反射面12aによって2
回目の主走査を実行する。そして、光ビームB2がPS
D20上を走査したとき、PSD20の出力信号の電圧
v2(図3参照)を計測する。
【0021】こうして、マイクロコンピュータからの制
御信号により、光ビームB1,B2をポリゴンミラー1
2の特定の反射面12aのみによって主走査させると共
に、各レーザダイオード2,3を交互に複数回(第1実
施形態の場合は、10回)点灯させて、それぞれ10個
の電圧v1,v2の測定データを得た。このように、複
数個の測定データを得るのは、測定誤差を小さくするた
めである。これら複数のデータに基づいて信頼性の高い
相対位置ずれ量を検出することができる。
御信号により、光ビームB1,B2をポリゴンミラー1
2の特定の反射面12aのみによって主走査させると共
に、各レーザダイオード2,3を交互に複数回(第1実
施形態の場合は、10回)点灯させて、それぞれ10個
の電圧v1,v2の測定データを得た。このように、複
数個の測定データを得るのは、測定誤差を小さくするた
めである。これら複数のデータに基づいて信頼性の高い
相対位置ずれ量を検出することができる。
【0022】次に、マイクロコンピュータのメモリに格
納されている電圧v1,v2の測定データから、それぞ
れの平均値をマイクロコンピュータのCPUを使って算
出した後、電圧v1とv2の平均値の差V1を比較器に
よって計測する。さらに、光ビームB1とB2の副走査
方向の間隔が正規の状態であるときに対応する前記電圧
差V1の基準値V0と、上記処理で実際に得られた電圧
差V1との差ΔV1を算出する。この差ΔV1が、光ビ
ームB1とB2の副走査方向の電圧換算された相対位置
ずれ量となる。
納されている電圧v1,v2の測定データから、それぞ
れの平均値をマイクロコンピュータのCPUを使って算
出した後、電圧v1とv2の平均値の差V1を比較器に
よって計測する。さらに、光ビームB1とB2の副走査
方向の間隔が正規の状態であるときに対応する前記電圧
差V1の基準値V0と、上記処理で実際に得られた電圧
差V1との差ΔV1を算出する。この差ΔV1が、光ビ
ームB1とB2の副走査方向の電圧換算された相対位置
ずれ量となる。
【0023】すなわち、光ビームB1とB2の副走査方
向の間隔がずれていない場合には、電圧差V1と基準値
V0とは同一電圧となるためΔV1=0となる。一方、
光ビームB1,B2の間隔が副走査方向にずれている場
合、例えば、光ビームB1,B2の副走査方向の間隔が
+ΔY1だけずれている場合を想定する。この場合、図
2において光ビームB1とB2のそれぞれのPSD20
上での走査位置の隔りが大きくなるので電圧差V1が大
きくなり、光ビームB1とB2の副走査方向の間隔はΔ
V1=V1−V0として算出される(図3参照)。な
お、基準値V0は、複写機本体の走査パネル部のキー入
力により任意に変更設定できるようにするとよい。
向の間隔がずれていない場合には、電圧差V1と基準値
V0とは同一電圧となるためΔV1=0となる。一方、
光ビームB1,B2の間隔が副走査方向にずれている場
合、例えば、光ビームB1,B2の副走査方向の間隔が
+ΔY1だけずれている場合を想定する。この場合、図
2において光ビームB1とB2のそれぞれのPSD20
上での走査位置の隔りが大きくなるので電圧差V1が大
きくなり、光ビームB1とB2の副走査方向の間隔はΔ
V1=V1−V0として算出される(図3参照)。な
お、基準値V0は、複写機本体の走査パネル部のキー入
力により任意に変更設定できるようにするとよい。
【0024】こうして、光ビームB1とB2の副走査方
向の間隔(相対位置ずれ量)が電圧ΔV1として検出さ
れた場合には、例えば、光ビームB2の副走査方向の走
査位置を前記電圧ΔV1に基づいて算出されたずれ量に
従って機械的に調整して、光ビームB1とB2の副走査
方向における間隔を所望の値に補正することができる。
具体的には、レーザダイオード3の位置を可動要素によ
り積極的に副走査方向に移動させる。
向の間隔(相対位置ずれ量)が電圧ΔV1として検出さ
れた場合には、例えば、光ビームB2の副走査方向の走
査位置を前記電圧ΔV1に基づいて算出されたずれ量に
従って機械的に調整して、光ビームB1とB2の副走査
方向における間隔を所望の値に補正することができる。
具体的には、レーザダイオード3の位置を可動要素によ
り積極的に副走査方向に移動させる。
【0025】図4は、以上の光ビームB1,B2の副走
査方向の間隔(相対位置ずれ量)の検出の手順を示すフ
ローチャートである。このフローチャートに基づいて作
成された制御プログラムが、マイクロコンピュータに格
納されている。そして、操作パネル部からのキー入力指
示により、この制御プログラムに従って、順次、制御信
号がマイクロコンピュータから出力される。
査方向の間隔(相対位置ずれ量)の検出の手順を示すフ
ローチャートである。このフローチャートに基づいて作
成された制御プログラムが、マイクロコンピュータに格
納されている。そして、操作パネル部からのキー入力指
示により、この制御プログラムに従って、順次、制御信
号がマイクロコンピュータから出力される。
【0026】以上の構成からなる光ビーム走査光学装置
は、光ビームB1,B2の副走査方向の間隔の検出をポ
リゴンミラー12の1つの特定反射面12aによる走査
で複数回実行し、得られた複数の測定データに基づいて
所定の間隔値を算出するので、ポリゴンミラー12の面
精度(反射面の曲率、回転中心軸と反射面との距離、反
射面の面倒れ量)の面毎の偏差の影響はなくなる。この
結果、光ビームB1,B2の副走査方向の精度の良い間
隔値(相対位置ずれ量)を得ることができる。また、ポ
リゴンミラー12の特定反射面による走査で得られる測
定データを平均化して副走査方向の光ビーム間隔値を得
るため、反射面12a〜12h毎に正確な副走査方向の
光ビームB1,B2の間隔を検出したり、反射面12a
〜12h毎に副走査方向の光ビームB1,B2の間隔を
補正したり、反射面12a〜12h毎に画像処理内容を
補正したりする等の対応が可能になった。
は、光ビームB1,B2の副走査方向の間隔の検出をポ
リゴンミラー12の1つの特定反射面12aによる走査
で複数回実行し、得られた複数の測定データに基づいて
所定の間隔値を算出するので、ポリゴンミラー12の面
精度(反射面の曲率、回転中心軸と反射面との距離、反
射面の面倒れ量)の面毎の偏差の影響はなくなる。この
結果、光ビームB1,B2の副走査方向の精度の良い間
隔値(相対位置ずれ量)を得ることができる。また、ポ
リゴンミラー12の特定反射面による走査で得られる測
定データを平均化して副走査方向の光ビーム間隔値を得
るため、反射面12a〜12h毎に正確な副走査方向の
光ビームB1,B2の間隔を検出したり、反射面12a
〜12h毎に副走査方向の光ビームB1,B2の間隔を
補正したり、反射面12a〜12h毎に画像処理内容を
補正したりする等の対応が可能になった。
【0027】[第2実施形態、図5〜図7]第2実施形
態の光ビーム走査光学装置は、光ビーム検出センサを残
して、図1に示した装置と略同様の構成を有している。
図5に示すように、光ビーム検出センサであるPSD3
0は、長さL方向に出力電圧差Eの傾斜状電圧勾配を有
している。このPSD30は、長さL方向が主走査方向
に対して平行になるように配置されている。
態の光ビーム走査光学装置は、光ビーム検出センサを残
して、図1に示した装置と略同様の構成を有している。
図5に示すように、光ビーム検出センサであるPSD3
0は、長さL方向に出力電圧差Eの傾斜状電圧勾配を有
している。このPSD30は、長さL方向が主走査方向
に対して平行になるように配置されている。
【0028】以下、この光ビーム走査光学装置の光ビー
ムB1とB2の主走査方向の間隔(相対位置ずれ量)検
出を、ポリゴンミラー12の一つの特定反射面12aに
対し1走査時間内に複数回(第2実施形態の場合は2
回)実行する場合について説明する。
ムB1とB2の主走査方向の間隔(相対位置ずれ量)検
出を、ポリゴンミラー12の一つの特定反射面12aに
対し1走査時間内に複数回(第2実施形態の場合は2
回)実行する場合について説明する。
【0029】まず、時間t1(=0)でレーザダイオー
ド2のみを1パルス点灯して、光ビームB1をポリゴン
ミラー12の反射面12aを介してPSD30上にスポ
ット照射する。そして、光ビームB1がPSD30上を
照射したとき、PSD30の出力信号の電圧v1(図5
参照)を計測する。レーザダイオード2が消灯すると、
タイマによって時間Δtを計測し、時間t2(=Δt)
後にレーザダイオード3のみを1パルス点灯する。光ビ
ームB2はポリゴンミラー12の反射面12aを介して
PSD30上をスポット照射する。そして、光ビームB
2がPSD30上を照射したとき、PSD30の出力信
号の電圧v2(図5参照)を計測する。レーザダイオー
ド3が消灯すると、タイマによって時間Δtを計測し、
時間t3(=2Δt)後にレーザダイオード2のみを再
び1パルス点灯する。こうして、Δt時間毎にレーザダ
イオード2と3を交互に点灯して、時間t3,t4,t
5にそれぞれPSD30の出力信号の電圧v3,v4,
v5(図5参照)を計測する。ここで、PSD30の出
力信号の電圧v1〜v5の測定は、1走査時間内に実行
される。
ド2のみを1パルス点灯して、光ビームB1をポリゴン
ミラー12の反射面12aを介してPSD30上にスポ
ット照射する。そして、光ビームB1がPSD30上を
照射したとき、PSD30の出力信号の電圧v1(図5
参照)を計測する。レーザダイオード2が消灯すると、
タイマによって時間Δtを計測し、時間t2(=Δt)
後にレーザダイオード3のみを1パルス点灯する。光ビ
ームB2はポリゴンミラー12の反射面12aを介して
PSD30上をスポット照射する。そして、光ビームB
2がPSD30上を照射したとき、PSD30の出力信
号の電圧v2(図5参照)を計測する。レーザダイオー
ド3が消灯すると、タイマによって時間Δtを計測し、
時間t3(=2Δt)後にレーザダイオード2のみを再
び1パルス点灯する。こうして、Δt時間毎にレーザダ
イオード2と3を交互に点灯して、時間t3,t4,t
5にそれぞれPSD30の出力信号の電圧v3,v4,
v5(図5参照)を計測する。ここで、PSD30の出
力信号の電圧v1〜v5の測定は、1走査時間内に実行
される。
【0030】図5において、光ビームB1,B2の走査
位置がPSD30の右方に移動するにつれて、PSD3
0の出力信号の電圧v1〜v5は一定の割合で低くな
る。具体的には、PSD30の長さL方向の単位長さあ
たりの出力電圧ΔEは、以下の式(1)で表示される。 ΔE=E/L…(1)
位置がPSD30の右方に移動するにつれて、PSD3
0の出力信号の電圧v1〜v5は一定の割合で低くな
る。具体的には、PSD30の長さL方向の単位長さあ
たりの出力電圧ΔEは、以下の式(1)で表示される。 ΔE=E/L…(1)
【0031】一方、時間Δtの間に光ビームB1,B2
がPSD30上を移動する距離ΔYは、以下の式(2)
で表示される。 ΔY=Δt×f…(2) (f:光ビームB1,B2のPSD30上での走査速
度)
がPSD30上を移動する距離ΔYは、以下の式(2)
で表示される。 ΔY=Δt×f…(2) (f:光ビームB1,B2のPSD30上での走査速
度)
【0032】従って、時間Δt後のPSD30の出力信
号の電圧差ΔVは、前記式(1)及び式(2)より、以
下の式(3)で表示される。 ΔV=ΔY×ΔE…(3)
号の電圧差ΔVは、前記式(1)及び式(2)より、以
下の式(3)で表示される。 ΔV=ΔY×ΔE…(3)
【0033】次に、電圧v1とv2の差V1、並びに電
圧v3とv4の差V2を比較器によって計測する。さら
に、光ビームB1とB2の主走査方向の位置が正規の状
態であるときに対応する前記差V1,V2の基準値V0
と、上記処理で実際に得られた差V1,V2との差ΔV
1,ΔV2を算出し、さらにその平均値を計算する。こ
の差ΔV1,ΔV2の平均値が、光ビームB1とB2の
主走査方向の電圧換算された間隔(相対位置ずれ量)と
なる。
圧v3とv4の差V2を比較器によって計測する。さら
に、光ビームB1とB2の主走査方向の位置が正規の状
態であるときに対応する前記差V1,V2の基準値V0
と、上記処理で実際に得られた差V1,V2との差ΔV
1,ΔV2を算出し、さらにその平均値を計算する。こ
の差ΔV1,ΔV2の平均値が、光ビームB1とB2の
主走査方向の電圧換算された間隔(相対位置ずれ量)と
なる。
【0034】すなわち、図5に示すように、光ビームB
1,B2が主走査方向にずれていない場合には、差V
1,V2と基準値V0とは同一電圧となるため、ΔV1
=0,ΔV2=0となる。一方、光ビームB1,B2が
主走査方向にずれている場合を想定する。例えば、図6
に示すように、光ビームB1とB2が主走査方向にΔX
1ずれている場合を想定する。この場合、光ビームB1
とB2のそれぞれのPSD30上での走査位置の隔りが
大きくなるので電圧差V1,V2が大きくなり、光ビー
ムB1とB2の主走査方向の相対位置ずれ量はΔV1=
V1−V0,ΔV2=V2−V0として算出される。
1,B2が主走査方向にずれていない場合には、差V
1,V2と基準値V0とは同一電圧となるため、ΔV1
=0,ΔV2=0となる。一方、光ビームB1,B2が
主走査方向にずれている場合を想定する。例えば、図6
に示すように、光ビームB1とB2が主走査方向にΔX
1ずれている場合を想定する。この場合、光ビームB1
とB2のそれぞれのPSD30上での走査位置の隔りが
大きくなるので電圧差V1,V2が大きくなり、光ビー
ムB1とB2の主走査方向の相対位置ずれ量はΔV1=
V1−V0,ΔV2=V2−V0として算出される。
【0035】こうして、得られた電圧差ΔV1,ΔV2
の平均値に基づいて、例えば光ビームB2による書出し
に対して光ビームB1による書出しを遅くする(具体的
には、レーザダイオード2の画像データの供給タイミン
グを遅くする等の電気的補正を実行する)ことにより、
光ビームB1とB2の書出し位置を揃えることができ
る。
の平均値に基づいて、例えば光ビームB2による書出し
に対して光ビームB1による書出しを遅くする(具体的
には、レーザダイオード2の画像データの供給タイミン
グを遅くする等の電気的補正を実行する)ことにより、
光ビームB1とB2の書出し位置を揃えることができ
る。
【0036】図7は、以上の光ビームB1,B2の主走
査方向の位置ずれ量の検出の手順を示すフローチャート
である。このフローチャートに基づいて作成された制御
プログラムがマイクロコンピュータに格納されている。
そして、操作パネル部からの指示により、この制御プロ
グラムに従って順次制御信号がマイクロコンピュータか
ら出力される。
査方向の位置ずれ量の検出の手順を示すフローチャート
である。このフローチャートに基づいて作成された制御
プログラムがマイクロコンピュータに格納されている。
そして、操作パネル部からの指示により、この制御プロ
グラムに従って順次制御信号がマイクロコンピュータか
ら出力される。
【0037】以上の構成からなる第2実施形態の光ビー
ム走査光学装置は、前記第1実施形態の光ビーム走査光
学装置の作用効果に加え、光ビームB1とB2の間隔の
検出を高速で行なうことができる。
ム走査光学装置は、前記第1実施形態の光ビーム走査光
学装置の作用効果に加え、光ビームB1とB2の間隔の
検出を高速で行なうことができる。
【0038】[第3実施形態、図8〜図10]第3実施
形態の光ビーム走査光学装置は、光ビーム検出センサを
残して、図1に示した装置と略同様の構成を有してい
る。図8に示すように、光ビーム検出センサは、2個の
フォトダイオードPD1,PD2をその長手方向が主走
査方向に対して垂直になるように並置して構成したもの
である。
形態の光ビーム走査光学装置は、光ビーム検出センサを
残して、図1に示した装置と略同様の構成を有してい
る。図8に示すように、光ビーム検出センサは、2個の
フォトダイオードPD1,PD2をその長手方向が主走
査方向に対して垂直になるように並置して構成したもの
である。
【0039】以下、この光ビーム走査光学装置の光ビー
ムB1とB2の主走査方向の間隔(相対位置ずれ量)検
出を、ポリゴンミラー12の一つの特定反射面12aに
対して複数回実行する場合について説明する。
ムB1とB2の主走査方向の間隔(相対位置ずれ量)検
出を、ポリゴンミラー12の一つの特定反射面12aに
対して複数回実行する場合について説明する。
【0040】まず、レーザダイオード2のみを点灯し
て、光ビームB1をポリゴンミラー12の反射面12a
によって主走査させる。そして、光ビームB1がフォト
ダイオードPD1,PD2上をそれぞれ走査したとき、
フォトダイオードPD1,PD2の出力信号の立ち上が
り時間t1,t2をタイマーにて計測し、その差T1
(=t2−t1)を得る。この差T1は、光ビームB1
がフォトダイオードPD1とPD2の間を通過する時間
である。
て、光ビームB1をポリゴンミラー12の反射面12a
によって主走査させる。そして、光ビームB1がフォト
ダイオードPD1,PD2上をそれぞれ走査したとき、
フォトダイオードPD1,PD2の出力信号の立ち上が
り時間t1,t2をタイマーにて計測し、その差T1
(=t2−t1)を得る。この差T1は、光ビームB1
がフォトダイオードPD1とPD2の間を通過する時間
である。
【0041】次に、図9に示すように、ポリゴンミラー
12が1回転して再び反射面12aが戻ってくると、レ
ーザダイオード2のみを再び点灯して、反射面12aに
よって光ビームB1の2回目の主走査を開始する。そし
て、光ビームB1がフォトダイオードPD1上を走査し
たとき、フォトダイオードPD1の出力信号の立ち上が
り時間t3に同期させてレーザダイオード3を点灯し、
光ビームB2を反射面12aによって主走査させる。一
方、レーザダイオード2は、フォトダイオードPD1の
出力信号の立ち下がり時間t4に同期して消灯する。光
ビームB2がフォトダイオードPD2上を走査したと
き、フォトダイオードPD2の出力信号の立ち上がり時
間t5を計測し、差T2(=t5−t4)を得る。この
差T2は、光ビームB1を基準にして光ビームB2がフ
ォトダイオードPD1とPD2の間を通過する時間であ
る。
12が1回転して再び反射面12aが戻ってくると、レ
ーザダイオード2のみを再び点灯して、反射面12aに
よって光ビームB1の2回目の主走査を開始する。そし
て、光ビームB1がフォトダイオードPD1上を走査し
たとき、フォトダイオードPD1の出力信号の立ち上が
り時間t3に同期させてレーザダイオード3を点灯し、
光ビームB2を反射面12aによって主走査させる。一
方、レーザダイオード2は、フォトダイオードPD1の
出力信号の立ち下がり時間t4に同期して消灯する。光
ビームB2がフォトダイオードPD2上を走査したと
き、フォトダイオードPD2の出力信号の立ち上がり時
間t5を計測し、差T2(=t5−t4)を得る。この
差T2は、光ビームB1を基準にして光ビームB2がフ
ォトダイオードPD1とPD2の間を通過する時間であ
る。
【0042】ここで、図9に示すように、光ビームB
1,B2が主走査方向にずれることなく走査される場合
には、差T1と差T2とは同一時間となる。一方、図1
0に示すように、光ビームB1とB2が主走査方向に距
離ΔX1だけずれている場合には、光ビームB1とB2
の主走査方向の間隔はΔT2=T1−T2として算出さ
れる。
1,B2が主走査方向にずれることなく走査される場合
には、差T1と差T2とは同一時間となる。一方、図1
0に示すように、光ビームB1とB2が主走査方向に距
離ΔX1だけずれている場合には、光ビームB1とB2
の主走査方向の間隔はΔT2=T1−T2として算出さ
れる。
【0043】さらに、前記手順を複数回実行し、光ビー
ムB1,B2をポリゴンミラー12の特定の反射面12
aのみによって主走査させて、複数個のΔT2の測定デ
ータを得た後、その平均値を算出する。こうして、得ら
れたΔT2の平均値に基づいて、例えば光ビームB2に
よる書出しに対して光ビームB1による書出しを遅くす
ることにより、光ビームB1とB2の書出し位置を揃え
ることができる。
ムB1,B2をポリゴンミラー12の特定の反射面12
aのみによって主走査させて、複数個のΔT2の測定デ
ータを得た後、その平均値を算出する。こうして、得ら
れたΔT2の平均値に基づいて、例えば光ビームB2に
よる書出しに対して光ビームB1による書出しを遅くす
ることにより、光ビームB1とB2の書出し位置を揃え
ることができる。
【0044】以上の構成からなる光ビーム走査光学装置
は、光ビームB1,B2の主走査方向の間隔の検出をポ
リゴンミラー12の1つの特定反射面12aによる走査
で複数回実行し、得られた複数の測定データに基づいて
所定の間隔値を算出するので、ポリゴンミラー12の面
精度の面毎の偏差の影響はなくなる。この結果、光ビー
ムB1,B2の主走査方向の精度の良い間隔値(相対位
置ずれ量)を得ることができる。また、ポリゴンミラー
12の特定反射面による走査で得られる測定データを平
均化して主走査方向のビーム間隔値を得るので、反射面
12a〜12h毎に正確な主走査方向の光ビームB1,
B2の間隔を検出したり、反射面12a〜12h毎に主
走査方向の光ビームB1,B2の間隔を補正したり、反
射面12a〜12h毎に画像処理内容を補正したりする
等の対応が可能になった。
は、光ビームB1,B2の主走査方向の間隔の検出をポ
リゴンミラー12の1つの特定反射面12aによる走査
で複数回実行し、得られた複数の測定データに基づいて
所定の間隔値を算出するので、ポリゴンミラー12の面
精度の面毎の偏差の影響はなくなる。この結果、光ビー
ムB1,B2の主走査方向の精度の良い間隔値(相対位
置ずれ量)を得ることができる。また、ポリゴンミラー
12の特定反射面による走査で得られる測定データを平
均化して主走査方向のビーム間隔値を得るので、反射面
12a〜12h毎に正確な主走査方向の光ビームB1,
B2の間隔を検出したり、反射面12a〜12h毎に主
走査方向の光ビームB1,B2の間隔を補正したり、反
射面12a〜12h毎に画像処理内容を補正したりする
等の対応が可能になった。
【0045】[第4実施形態、図11]第4実施形態の
光ビーム走査光学装置は、光ビーム検出センサを残し
て、図1に示した装置と略同様の構成を有している。図
11に示すように、光ビーム検出センサは、2個のフォ
トダイオードPD1,PD2をその長手方向が主走査方
向に対して角度θだけ左右に傾いた状態で並置して構成
したものである。
光ビーム走査光学装置は、光ビーム検出センサを残し
て、図1に示した装置と略同様の構成を有している。図
11に示すように、光ビーム検出センサは、2個のフォ
トダイオードPD1,PD2をその長手方向が主走査方
向に対して角度θだけ左右に傾いた状態で並置して構成
したものである。
【0046】以下、この光ビーム走査光学装置の光ビー
ムB1とB2の副走査方向の間隔(相対位置ずれ量)検
出を、ポリゴンミラー12の一つの特定反射面12aに
対して複数回実行する場合について説明する。
ムB1とB2の副走査方向の間隔(相対位置ずれ量)検
出を、ポリゴンミラー12の一つの特定反射面12aに
対して複数回実行する場合について説明する。
【0047】まず、レーザダイオード2のみを点灯し
て、光ビームB1をポリゴンミラー12の反射面12a
によって一回目の主走査を実行する。そして、光ビーム
B1がフォトダイオードPD1,PD2上をそれぞれ走
査したとき、フォトダイオードPD1,PD2の出力信
号の立ち上がり時間t1,t2をタイマーにて計測し、
その差T1(=t2−t1)を得る。次に、ポリゴンミ
ラー12が1回転して再び反射面12aが戻ってくる
と、レーザダイオード2に代えてレーザダイオード3の
みを点灯して、光ビームB2を反射面12aによって2
回目の主走査を実行する。そして、光ビームB2がフォ
トダイオードPD1,PD2の出力信号の立ち上がり時
間t3,t4をタイマーにて計測し、その差T2(=t
4−t3)を得る。ただし、時間t1〜t4の計測は、
フォトダイオードPD1,PD2の出力信号の立ち下が
りのタイミングを基点としてもよい。
て、光ビームB1をポリゴンミラー12の反射面12a
によって一回目の主走査を実行する。そして、光ビーム
B1がフォトダイオードPD1,PD2上をそれぞれ走
査したとき、フォトダイオードPD1,PD2の出力信
号の立ち上がり時間t1,t2をタイマーにて計測し、
その差T1(=t2−t1)を得る。次に、ポリゴンミ
ラー12が1回転して再び反射面12aが戻ってくる
と、レーザダイオード2に代えてレーザダイオード3の
みを点灯して、光ビームB2を反射面12aによって2
回目の主走査を実行する。そして、光ビームB2がフォ
トダイオードPD1,PD2の出力信号の立ち上がり時
間t3,t4をタイマーにて計測し、その差T2(=t
4−t3)を得る。ただし、時間t1〜t4の計測は、
フォトダイオードPD1,PD2の出力信号の立ち下が
りのタイミングを基点としてもよい。
【0048】一方、光ビームB1とB2の副走査方向の
間隔Y1は以下の式(4)及び式(5)を用いて算出さ
れる。 X=K・(T1−T2)/2…(4) Y1=Xtanθ…(5) (ただし、K:時間を距離に換算するための定数)
間隔Y1は以下の式(4)及び式(5)を用いて算出さ
れる。 X=K・(T1−T2)/2…(4) Y1=Xtanθ…(5) (ただし、K:時間を距離に換算するための定数)
【0049】次に、光ビームB1とB2の副走査方向の
間隔が正規の状態であるときに対応する前記間隔Y1の
基準値Y0と、上記処理で実際に得られた間隔Y1との
差ΔY1を算出する。この差ΔY1が、副走査方向にお
ける光ビームB1,B2の相対位置ずれ量となる。
間隔が正規の状態であるときに対応する前記間隔Y1の
基準値Y0と、上記処理で実際に得られた間隔Y1との
差ΔY1を算出する。この差ΔY1が、副走査方向にお
ける光ビームB1,B2の相対位置ずれ量となる。
【0050】すなわち、光ビームB1とB2の副走査方
向の相対位置ずれがない場合には、間隔Y1と基準値Y
0とは同一寸法となるためΔY1=0となる。一方、光
ビームB1とB2の副走査方向の間隔がずれている場
合、光ビームB1とB2の副走査方向の相対位置ずれ量
はΔY1=Y1−Y0として算出される。
向の相対位置ずれがない場合には、間隔Y1と基準値Y
0とは同一寸法となるためΔY1=0となる。一方、光
ビームB1とB2の副走査方向の間隔がずれている場
合、光ビームB1とB2の副走査方向の相対位置ずれ量
はΔY1=Y1−Y0として算出される。
【0051】さらに、前記手順を複数回実行し、光ビー
ムB1,B2をポリゴンミラー12の特定の反射面12
aのみによって主走査させると共に、各レーザダイオー
ド2,3を交互に複数回点灯させて、複数個のΔY1の
測定データを得た後、その平均値を算出する。こうし
て、得られたΔY1の平均値に基づいて、光ビームB1
とB2の副走査方向における間隔を所望の値に補正する
ことができる。
ムB1,B2をポリゴンミラー12の特定の反射面12
aのみによって主走査させると共に、各レーザダイオー
ド2,3を交互に複数回点灯させて、複数個のΔY1の
測定データを得た後、その平均値を算出する。こうし
て、得られたΔY1の平均値に基づいて、光ビームB1
とB2の副走査方向における間隔を所望の値に補正する
ことができる。
【0052】[他の実施形態]なお、本発明に係る光ビ
ーム走査光学装置は前記実施形態に限定するものではな
く、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。
特に、光ビームを受光する検出器としては、PSDの他
に、2次元CCD等を用いてもよい。2次元CCDを用
いることにより、主走査方向と副走査方向のそれぞれの
光ビーム間隔を同時に検出することができる。
ーム走査光学装置は前記実施形態に限定するものではな
く、その要旨の範囲内で種々に変更することができる。
特に、光ビームを受光する検出器としては、PSDの他
に、2次元CCD等を用いてもよい。2次元CCDを用
いることにより、主走査方向と副走査方向のそれぞれの
光ビーム間隔を同時に検出することができる。
【0053】また、前記実施形態において、図12に示
すように、レーザダイオード2,3から放射される光ビ
ームB1,B2の偏光方向を異ならせると共に、この偏
光方向の異なる光ビームB1,B2を分光する偏光プリ
ズム41を二つのフォトセンサ(例えばフォトダイオー
ド等)42,43の前に配置する構成を採用してもよ
い。偏光プリズム41からフォトセンサ42までの光ビ
ームB1の光路長は、偏光プリズム41からフォトセン
サ43までの光ビームB2の光路長と等しくなるように
設定している。この構成により、レーザダイオード2,
3を同期して点灯させると、光ビームB1とB2が主走
査方向に相対的にずれていない場合には、センサ42,
43の出力信号波形に時間のずれは生じない。一方、光
ビームB1とB2が主走査方向に相対的にずれている場
合には、センサ42,43の出力信号波形に時間のずれ
が生じ、この時間のずれ量が光ビームB1とB2の主走
査方向の位置ずれ量となる。
すように、レーザダイオード2,3から放射される光ビ
ームB1,B2の偏光方向を異ならせると共に、この偏
光方向の異なる光ビームB1,B2を分光する偏光プリ
ズム41を二つのフォトセンサ(例えばフォトダイオー
ド等)42,43の前に配置する構成を採用してもよ
い。偏光プリズム41からフォトセンサ42までの光ビ
ームB1の光路長は、偏光プリズム41からフォトセン
サ43までの光ビームB2の光路長と等しくなるように
設定している。この構成により、レーザダイオード2,
3を同期して点灯させると、光ビームB1とB2が主走
査方向に相対的にずれていない場合には、センサ42,
43の出力信号波形に時間のずれは生じない。一方、光
ビームB1とB2が主走査方向に相対的にずれている場
合には、センサ42,43の出力信号波形に時間のずれ
が生じ、この時間のずれ量が光ビームB1とB2の主走
査方向の位置ずれ量となる。
【0054】
【発明の効果】以上の説明で明らかなように、本発明に
よれば、複数の光ビームの所定方向の間隔検出を、回転
多面鏡の一つの特定反射面による走査で複数回実行する
ので、回転多面鏡の反射面毎の面精度のばらつきの影響
を受けないで、ビームの間隔の検出を行える。従って、
複数ビームの間隔の検出を精度良く行うことができる光
ビーム走査光学装置が得られる。
よれば、複数の光ビームの所定方向の間隔検出を、回転
多面鏡の一つの特定反射面による走査で複数回実行する
ので、回転多面鏡の反射面毎の面精度のばらつきの影響
を受けないで、ビームの間隔の検出を行える。従って、
複数ビームの間隔の検出を精度良く行うことができる光
ビーム走査光学装置が得られる。
【0055】また、複数の光ビームの所定方向の間隔検
出を、回転多面鏡の特定反射面による1走査中において
複数回実行することにより、複数の光ビームの間隔の検
出を高速で行なうことができる。
出を、回転多面鏡の特定反射面による1走査中において
複数回実行することにより、複数の光ビームの間隔の検
出を高速で行なうことができる。
【図1】本発明に係る光ビーム走査光学装置の第1実施
形態を示す概略構成図。
形態を示す概略構成図。
【図2】光ビームの副走査方向の間隔検出の手順を示す
説明図。
説明図。
【図3】図2に示した光ビームの副走査方向の間隔検出
のタイムチャート。
のタイムチャート。
【図4】光ビームの副走査方向の間隔検出の手順を示す
フローチャート。
フローチャート。
【図5】本発明に係る光ビーム走査光学装置の第2実施
形態の光ビームの主走査方向の間隔検出の手順を示す説
明図。
形態の光ビームの主走査方向の間隔検出の手順を示す説
明図。
【図6】光ビームが主走査方向にずれている場合の、主
走査方向の間隔検出の手順を示す説明図。
走査方向の間隔検出の手順を示す説明図。
【図7】光ビームの主走査方向の間隔検出の手順を示す
フローチャート。
フローチャート。
【図8】本発明に係る光ビーム走査光学装置の第3実施
形態の光ビームの主走査方向の間隔検出の手順を示す説
明図。
形態の光ビームの主走査方向の間隔検出の手順を示す説
明図。
【図9】図8に続く光ビームの主走査方向の間隔検出の
手順を示す説明図。
手順を示す説明図。
【図10】光ビームが主走査方向にずれている場合の、
主走査方向の間隔検出の手順を示す説明図。
主走査方向の間隔検出の手順を示す説明図。
【図11】本発明に係る光ビーム走査光学装置の第4実
施形態の光ビームの副走査方向の間隔検出の手順を示す
説明図。
施形態の光ビームの副走査方向の間隔検出の手順を示す
説明図。
【図12】他の実施形態を示す光ビーム検出センサの側
面図。
面図。
【図13】従来の光ビーム走査光学装置の光ビームの副
走査方向の間隔検出の手順を示す説明図。
走査方向の間隔検出の手順を示す説明図。
2,3…レーザダイオード 12…ポリゴンミラー 12a…特定反射面 20,30…光ビーム検出センサ 42,43…フォトセンサ B1,B2…光ビーム PD1,PD2…フォトダイオード
フロントページの続き (72)発明者 竹下 健司 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 立部 秀成 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 Fターム(参考) 2C362 BA56 BA69 BA70 BA71 BB31 BB32 BB46 2H045 AA01 BA22 BA33 CA88
Claims (2)
- 【請求項1】 複数の光源と、 前記複数の光源からの光ビームを同時に偏向走査する回
転多面鏡と、 複数の前記光ビームの走査線上において受光し、複数の
前記光ビームの所定方向の間隔を検出する検出器と、 前記検出器を用いて複数の前記光ビームの所定方向の間
隔検出を前記回転多面鏡の特定反射面による走査で複数
回実行し、得られた複数のデータに基づいて複数の前記
光ビームの所定方向の間隔値を算出する制御手段と、 を備えたことを特徴とする光ビーム走査光学装置。 - 【請求項2】 複数の前記光ビームの所定方向の間隔検
出を、前記回転多面鏡の特定反射面による1走査中にお
いて複数回実行することを特徴とする請求項1記載の光
ビーム走査光学装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP642299A JP2000206429A (ja) | 1999-01-13 | 1999-01-13 | 光ビ―ム走査光学装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP642299A JP2000206429A (ja) | 1999-01-13 | 1999-01-13 | 光ビ―ム走査光学装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000206429A true JP2000206429A (ja) | 2000-07-28 |
Family
ID=11637949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP642299A Pending JP2000206429A (ja) | 1999-01-13 | 1999-01-13 | 光ビ―ム走査光学装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000206429A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004286888A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置、画像形成装置、および画像形成システム |
JP2008170881A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置および光走査方法および画像形成装置およびカラー画像形成装置 |
CN108693638A (zh) * | 2017-03-30 | 2018-10-23 | 京瓷办公信息系统株式会社 | 扫描光束的光扫描装置以及具备该装置的图像形成装置 |
-
1999
- 1999-01-13 JP JP642299A patent/JP2000206429A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004286888A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-14 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置、画像形成装置、および画像形成システム |
JP2008170881A (ja) * | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置および光走査方法および画像形成装置およびカラー画像形成装置 |
CN108693638A (zh) * | 2017-03-30 | 2018-10-23 | 京瓷办公信息系统株式会社 | 扫描光束的光扫描装置以及具备该装置的图像形成装置 |
CN108693638B (zh) * | 2017-03-30 | 2020-10-30 | 京瓷办公信息系统株式会社 | 扫描光束的光扫描装置以及具备该装置的图像形成装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5627670A (en) | Scanning optical apparatus having beam scan controller | |
US5841465A (en) | Light beam focal position detecting device, light beam projecting device, and light beam recording apparatus | |
JP4036911B2 (ja) | マルチビーム走査装置 | |
US5903377A (en) | Scanning apparatus having a cascade scanning optical system | |
JP2000194082A (ja) | レンチキュラ―材料のプリントにおけるスキュ―補正 | |
JPH06208066A (ja) | 光学走査装置 | |
JP2000206429A (ja) | 光ビ―ム走査光学装置 | |
JPH09159948A (ja) | 画像形成装置 | |
JP3468248B2 (ja) | 画像形成装置 | |
JP4039611B2 (ja) | 光走査装置及びそれを備えた画像形成装置 | |
JP3493451B2 (ja) | レーザビーム走査装置 | |
JP2002350753A (ja) | 光走査装置 | |
JP2002277778A (ja) | 光走査装置及びそれを備えた画像形成装置 | |
JP2001108930A (ja) | 走査光学装置及びその制御方法 | |
JPH10197336A (ja) | レーザビーム計測装置 | |
JP3895895B2 (ja) | 光ビーム走査装置 | |
JP3532359B2 (ja) | 光走査装置 | |
JP2001281572A (ja) | 光走査装置 | |
JP2002250882A (ja) | マルチビーム走査装置 | |
JP2003266770A (ja) | 画像形成装置 | |
JPH0519204A (ja) | 走査光学装置 | |
JP4261079B2 (ja) | 走査ビーム測定評価装置及び画像形成装置 | |
JP3141597B2 (ja) | 光学走査装置 | |
JPS62225067A (ja) | 光走査装置 | |
JP2000187170A (ja) | マルチビーム走査光学装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20050614 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20050701 |