JPH06208066A - 光学走査装置 - Google Patents
光学走査装置Info
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- JPH06208066A JPH06208066A JP5001722A JP172293A JPH06208066A JP H06208066 A JPH06208066 A JP H06208066A JP 5001722 A JP5001722 A JP 5001722A JP 172293 A JP172293 A JP 172293A JP H06208066 A JPH06208066 A JP H06208066A
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- scanning
- deflection
- beams
- scanning device
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被走査体の走査領域を２つの領域に分け、各
領域を別個の光ビームで走査する場合に、領域間の継ぎ
目部分の位置合わせを容易に行うことができるようにす
る。 【構成】 各レーザダイオード１ａ、１ｂからのレーザ
ビームを、コリメータレンズ２ａ、２ｂを通し、それぞ
れ回転多面鏡３ａ、３ｂによって互いに逆方向に偏向
し、ｆθレンズ４ａ、４ｂ、ミラー５ａ、５ｂを介して
感光体６上に結像させ、２つのビームによって感光体６
上を継ぎ目位置Ｐから互いに逆方向８ａ、８ｂに走査す
る。また、ビームディテクタ７の出力に基づいて２つの
回転多面鏡３ａ、３ｂによる偏向位相を同期させる。
領域を別個の光ビームで走査する場合に、領域間の継ぎ
目部分の位置合わせを容易に行うことができるようにす
る。 【構成】 各レーザダイオード１ａ、１ｂからのレーザ
ビームを、コリメータレンズ２ａ、２ｂを通し、それぞ
れ回転多面鏡３ａ、３ｂによって互いに逆方向に偏向
し、ｆθレンズ４ａ、４ｂ、ミラー５ａ、５ｂを介して
感光体６上に結像させ、２つのビームによって感光体６
上を継ぎ目位置Ｐから互いに逆方向８ａ、８ｂに走査す
る。また、ビームディテクタ７の出力に基づいて２つの
回転多面鏡３ａ、３ｂによる偏向位相を同期させる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザビームプリンタ
等、光ビームを用いて被走査体を走査して画像を形成す
る画像形成装置に用いられる光学走査装置に関する。
等、光ビームを用いて被走査体を走査して画像を形成す
る画像形成装置に用いられる光学走査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】複写機やレーザプリンタ等の画像形成装
置において、高速化あるいは高解像度化を図るために、
感光体の走査領域を複数の領域に分け、各領域をそれぞ
れ別個の偏向器を用いて別個の光ビームによって走査す
る方法が提案されている。この方法では、領域間の走査
線の継ぎ目部分を合わせることが必要になる。
置において、高速化あるいは高解像度化を図るために、
感光体の走査領域を複数の領域に分け、各領域をそれぞ
れ別個の偏向器を用いて別個の光ビームによって走査す
る方法が提案されている。この方法では、領域間の走査
線の継ぎ目部分を合わせることが必要になる。
【０００３】従来、領域間の走査線の継ぎ目部分を合わ
せる方法として、例えば特開昭６１−１１７２０号公報
や特開昭６２−１６９５７５号公報には、各光ビームを
偏向走査する複数の偏向器の回転位相を制御するような
方法が示されている。
せる方法として、例えば特開昭６１−１１７２０号公報
や特開昭６２−１６９５７５号公報には、各光ビームを
偏向走査する複数の偏向器の回転位相を制御するような
方法が示されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、前記各公報
に示されるような従来の走査方法は、図１０（ａ）に示
すように、複数の光ビーム５１、５２を同方向に走査す
る方法であるため、一方の光ビーム５１による走査線の
走査終了位置と、他方の光ビーム５２による走査線の走
査開始位置とをつなぎ合わせなければならない。一般的
に、走査開始位置はビームディテクタを用いて一定位置
となるように合わせているので、各走査線毎の走査開始
位置のばらつきは少ない。これに対し、走査終了位置の
方は、偏向器のモータの回転むら等の影響で各走査線毎
に主走査方向にずれが生じる。そのため、従来の走査方
法では、一方の光ビーム５１による走査線の走査終了位
置と他方の光ビーム５２による走査線の走査開始位置と
が主走査方向にずれるという問題点があった。
に示されるような従来の走査方法は、図１０（ａ）に示
すように、複数の光ビーム５１、５２を同方向に走査す
る方法であるため、一方の光ビーム５１による走査線の
走査終了位置と、他方の光ビーム５２による走査線の走
査開始位置とをつなぎ合わせなければならない。一般的
に、走査開始位置はビームディテクタを用いて一定位置
となるように合わせているので、各走査線毎の走査開始
位置のばらつきは少ない。これに対し、走査終了位置の
方は、偏向器のモータの回転むら等の影響で各走査線毎
に主走査方向にずれが生じる。そのため、従来の走査方
法では、一方の光ビーム５１による走査線の走査終了位
置と他方の光ビーム５２による走査線の走査開始位置と
が主走査方向にずれるという問題点があった。
【０００５】また、光学設計上は図１０（ａ）に示すよ
うに、２つの偏向器の実際の光学系の配置が、２つの領
域を直線で走査できるようになっていたとしても、図１
０（ｂ）に示すように、感光体は例えば矢印５３の方向
に等速度で移動しているので、走査線は斜めに描かれる
ことになり、２つの領域の継ぎ目位置は副走査方向にず
れを生じるので、この感光体の回転によるずれを考慮し
て副走査方向の位置合わせをする手段を設けなければな
らず、正確な位置合わせが難しいという問題点があっ
た。
うに、２つの偏向器の実際の光学系の配置が、２つの領
域を直線で走査できるようになっていたとしても、図１
０（ｂ）に示すように、感光体は例えば矢印５３の方向
に等速度で移動しているので、走査線は斜めに描かれる
ことになり、２つの領域の継ぎ目位置は副走査方向にず
れを生じるので、この感光体の回転によるずれを考慮し
て副走査方向の位置合わせをする手段を設けなければな
らず、正確な位置合わせが難しいという問題点があっ
た。
【０００６】そこで本発明の目的は、被走査体の走査領
域を２つの領域に分け、各領域を別個の光ビームで走査
する場合に、領域間の継ぎ目部分の位置合わせを容易に
行うことができるようにした光学走査装置を提供するこ
とにある。
域を２つの領域に分け、各領域を別個の光ビームで走査
する場合に、領域間の継ぎ目部分の位置合わせを容易に
行うことができるようにした光学走査装置を提供するこ
とにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明の光
学走査装置は、２つの光ビームを発生する光源部と、こ
の光源部からの各光ビームをそれぞれ別個に偏向し、被
走査体の同一位置から互いに逆方向に走査させる２つの
偏向手段と、この２つの偏向手段の偏向位相を同期させ
る位相制御手段とを備えたものである。
学走査装置は、２つの光ビームを発生する光源部と、こ
の光源部からの各光ビームをそれぞれ別個に偏向し、被
走査体の同一位置から互いに逆方向に走査させる２つの
偏向手段と、この２つの偏向手段の偏向位相を同期させ
る位相制御手段とを備えたものである。
【０００８】この光学走査装置では、２つの偏向手段に
よって、２つの光ビームが被走査体の同一位置から互い
に逆方向に走査され、位相制御手段によって２つの偏向
手段の偏向位相が同期される。
よって、２つの光ビームが被走査体の同一位置から互い
に逆方向に走査され、位相制御手段によって２つの偏向
手段の偏向位相が同期される。
【０００９】請求項２記載の発明の光学走査装置は、請
求項１記載の発明において、位相制御手段が、各偏向手
段によって偏向される２つの光ビームを受光して両偏向
手段の偏向位相のずれに応じた信号を出力する１つの光
検出器を有し、この光検出器の出力に基づいて偏向位相
を制御するものである。
求項１記載の発明において、位相制御手段が、各偏向手
段によって偏向される２つの光ビームを受光して両偏向
手段の偏向位相のずれに応じた信号を出力する１つの光
検出器を有し、この光検出器の出力に基づいて偏向位相
を制御するものである。
【００１０】請求項３記載の発明の光学走査装置は、請
求項１記載の発明において、位相制御手段が、各偏向手
段によって偏向される光ビームをそれぞれ別個に受光し
て各偏向手段の偏向位相に応じた信号を出力する２つの
光検出器を有し、この２つの光検出器の出力に基づいて
偏向位相を制御するものである。
求項１記載の発明において、位相制御手段が、各偏向手
段によって偏向される光ビームをそれぞれ別個に受光し
て各偏向手段の偏向位相に応じた信号を出力する２つの
光検出器を有し、この２つの光検出器の出力に基づいて
偏向位相を制御するものである。
【００１１】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図１ないし図６は本発明の第１実施例に係
るものである。
て説明する。図１ないし図６は本発明の第１実施例に係
るものである。
【００１２】図１は本実施例の光学走査装置の構成を示
す説明図である。本実施例の光学走査装置は、それぞれ
画像情報に応じて変調されたレーザビームを発生する２
つのレーザダイオード１ａ、１ｂと、各レーザダイオー
ド１ａ、１ｂからのビームを平行光束にするコリメータ
レンズ２ａ、２ｂと、このコリメータレンズ２ａ、２ｂ
通過後の各ビームをそれぞれ別個に偏向して感光体６の
同一位置から互いに逆方向に走査させる２つの回転多面
鏡３ａ、３ｂと、この回転多面鏡３ａ、３ｂで偏向され
る各ビームの走査速度を補正すると共に感光体６の近傍
にビームを結像させる２つのｆθレンズ４ａ、４ｂと、
このｆθレンズ４ａ、４ｂ通過後の各ビームを反射して
感光体６に導く２つのミラー５ａ、５ｂと、各回転多面
鏡３ａ、３ｂによって偏向される２つのビームを共に受
光する１つのビームディテクタ７とを備えている。
す説明図である。本実施例の光学走査装置は、それぞれ
画像情報に応じて変調されたレーザビームを発生する２
つのレーザダイオード１ａ、１ｂと、各レーザダイオー
ド１ａ、１ｂからのビームを平行光束にするコリメータ
レンズ２ａ、２ｂと、このコリメータレンズ２ａ、２ｂ
通過後の各ビームをそれぞれ別個に偏向して感光体６の
同一位置から互いに逆方向に走査させる２つの回転多面
鏡３ａ、３ｂと、この回転多面鏡３ａ、３ｂで偏向され
る各ビームの走査速度を補正すると共に感光体６の近傍
にビームを結像させる２つのｆθレンズ４ａ、４ｂと、
このｆθレンズ４ａ、４ｂ通過後の各ビームを反射して
感光体６に導く２つのミラー５ａ、５ｂと、各回転多面
鏡３ａ、３ｂによって偏向される２つのビームを共に受
光する１つのビームディテクタ７とを備えている。
【００１３】回転多面鏡３ａ、３ｂは、それぞれ位相制
御のできるモータによって互いに逆回転されるようにな
っている。また、ミラー５ａ、５ｂは平面ミラーまたは
シリンドリカルミラーである。また、ビームディテクタ
７は、各回転多面鏡３ａ、３ｂによって偏向される２つ
のビームの各走査開始端側で走査領域外のビームを受光
する位置に配設されている。
御のできるモータによって互いに逆回転されるようにな
っている。また、ミラー５ａ、５ｂは平面ミラーまたは
シリンドリカルミラーである。また、ビームディテクタ
７は、各回転多面鏡３ａ、３ｂによって偏向される２つ
のビームの各走査開始端側で走査領域外のビームを受光
する位置に配設されている。
【００１４】この光学走査装置では、各レーザダイオー
ド１ａ、１ｂからのレーザビームは、それぞれコリメー
タレンズ２ａ、２ｂを経て、回転多面鏡３ａ、３ｂによ
って互いに逆方向に偏向され、ｆθレンズ４ａ、４ｂ、
ミラー５ａ、５ｂを経て、感光体６上を、継ぎ目位置Ｐ
から互いに逆方向８ａ、８ｂに走査する。
ド１ａ、１ｂからのレーザビームは、それぞれコリメー
タレンズ２ａ、２ｂを経て、回転多面鏡３ａ、３ｂによ
って互いに逆方向に偏向され、ｆθレンズ４ａ、４ｂ、
ミラー５ａ、５ｂを経て、感光体６上を、継ぎ目位置Ｐ
から互いに逆方向８ａ、８ｂに走査する。
【００１５】本実施例では、光学設計上は、図４（ａ）
に示すように、各回転多面鏡３ａ、３ｂによって偏向さ
れる２つのビーム２１ａ、２１ｂが直線となるように光
学系が調整される。実際は、図４（ｂ）に示すように、
感光体６が例えば矢印５３の方向に等速度で移動してい
るので、ビーム２１ａ、２１ｂは感光体６上を斜めに走
査する。
に示すように、各回転多面鏡３ａ、３ｂによって偏向さ
れる２つのビーム２１ａ、２１ｂが直線となるように光
学系が調整される。実際は、図４（ｂ）に示すように、
感光体６が例えば矢印５３の方向に等速度で移動してい
るので、ビーム２１ａ、２１ｂは感光体６上を斜めに走
査する。
【００１６】図２は図１の光学走査装置を用いる画像形
成装置におけるレーザビームの変調に関わる構成を示す
ブロック図である。この図に示すように、画像形成装置
は、ビデオデータ１０を入力する２つのラインバッファ
１１ａ、１１ｂと、ラインバッファ１１ａから出力され
るビデオデータに応じてレーザダイオード１ａを駆動し
て、このレーザダイオード１ａの出力ビームを変調する
第１レーザドライバ１２ａと、ラインバッファ１１ｂか
ら出力されるビデオデータに応じてレーザダイオード１
ｂを駆動して、このレーザダイオード１ｂの出力ビーム
を変調する第２レーザドライバ１２ｂと、ビームディテ
クタ７の出力信号に基づいて記録開始タイミング信号を
発生し、ラインバッファ１１ａ、１１ｂに供給する記録
開始タイミング信号発生回路１３とを備えている。
成装置におけるレーザビームの変調に関わる構成を示す
ブロック図である。この図に示すように、画像形成装置
は、ビデオデータ１０を入力する２つのラインバッファ
１１ａ、１１ｂと、ラインバッファ１１ａから出力され
るビデオデータに応じてレーザダイオード１ａを駆動し
て、このレーザダイオード１ａの出力ビームを変調する
第１レーザドライバ１２ａと、ラインバッファ１１ｂか
ら出力されるビデオデータに応じてレーザダイオード１
ｂを駆動して、このレーザダイオード１ｂの出力ビーム
を変調する第２レーザドライバ１２ｂと、ビームディテ
クタ７の出力信号に基づいて記録開始タイミング信号を
発生し、ラインバッファ１１ａ、１１ｂに供給する記録
開始タイミング信号発生回路１３とを備えている。
【００１７】本実施例では、１ラインが２つの領域に分
割されており、１ライン分のビデオデータは、第１の領
域についてはラインバッファ１１ａに格納され、第２の
領域についてはラインバッファ１１ｂに格納される。そ
して、ビームディテクタ７の出力信号に基づいて記録開
始タイミング信号発生回路１３より記録開始タイミング
信号が発生され、この記録開始タイミング信号に応じて
各ラインバッファ１１ａ、１１ｂの読み出しが開始さ
れ、このラインバッファ１１ａ、１１ｂから読み出され
たビデオデータに応じてレーザドライバ１２ａ、１２ｂ
によって各領域毎の光ビームが変調される。ここで、ラ
インバッファ１１ａは、データの書き込み方向と読み出
し方向とが逆になっており、これによりデータを反転す
るようになっている。
割されており、１ライン分のビデオデータは、第１の領
域についてはラインバッファ１１ａに格納され、第２の
領域についてはラインバッファ１１ｂに格納される。そ
して、ビームディテクタ７の出力信号に基づいて記録開
始タイミング信号発生回路１３より記録開始タイミング
信号が発生され、この記録開始タイミング信号に応じて
各ラインバッファ１１ａ、１１ｂの読み出しが開始さ
れ、このラインバッファ１１ａ、１１ｂから読み出され
たビデオデータに応じてレーザドライバ１２ａ、１２ｂ
によって各領域毎の光ビームが変調される。ここで、ラ
インバッファ１１ａは、データの書き込み方向と読み出
し方向とが逆になっており、これによりデータを反転す
るようになっている。
【００１８】図３は本実施例の光学走査装置における２
つの回転多面鏡３ａ、３ｂの偏向位相を同期させる位相
制御回路の構成を示すブロック図である。この図に示す
ように、位相制御回路は、ビームディテクタ７の出力か
ら回転多面鏡３ａ、３ｂの位相ずれ量を検出する位相ず
れ検出回路１５と、この位相ずれ検出回路１５で検出さ
れた位相ずれ量に基づいて、一方の回転多面鏡を駆動す
るスキャナモータ１７の位相を調整する位相調整回路１
６とを備えている。
つの回転多面鏡３ａ、３ｂの偏向位相を同期させる位相
制御回路の構成を示すブロック図である。この図に示す
ように、位相制御回路は、ビームディテクタ７の出力か
ら回転多面鏡３ａ、３ｂの位相ずれ量を検出する位相ず
れ検出回路１５と、この位相ずれ検出回路１５で検出さ
れた位相ずれ量に基づいて、一方の回転多面鏡を駆動す
るスキャナモータ１７の位相を調整する位相調整回路１
６とを備えている。
【００１９】次に、本実施例における２つの走査領域の
継ぎ目部分における２つのビームの位置合わせの方法に
ついて説明する。
継ぎ目部分における２つのビームの位置合わせの方法に
ついて説明する。
【００２０】副走査方向の位置合わせは、ミラー５ａ、
５ｂによって各ビームの副走査方向の位置を調整するこ
とによって行う。２つのビームの副走査方向の位置が一
致したら、図１における継ぎ目位置Ｐから同時に書き込
みを開始するように２つのビームの偏向位相を調整すれ
ば、継ぎ目位置は一致する。
５ｂによって各ビームの副走査方向の位置を調整するこ
とによって行う。２つのビームの副走査方向の位置が一
致したら、図１における継ぎ目位置Ｐから同時に書き込
みを開始するように２つのビームの偏向位相を調整すれ
ば、継ぎ目位置は一致する。
【００２１】主走査方向の位置合わせは、まず、ビーム
ディテクタ７に２つのビームが同時に入射した場合に継
ぎ目位置Ｐに２つのビームが同時に来るように、ビーム
ディテクタ７の位置を調整する。このビームディテクタ
７の位置は、線対称に配置された２つの走査領域の対称
線上となる。
ディテクタ７に２つのビームが同時に入射した場合に継
ぎ目位置Ｐに２つのビームが同時に来るように、ビーム
ディテクタ７の位置を調整する。このビームディテクタ
７の位置は、線対称に配置された２つの走査領域の対称
線上となる。
【００２２】次に、ビームディテクタ７に同時にビーム
が入射するように、図３に示す位相制御回路によって位
相を合わせる。ここで、ビームディテクタ７の出力信号
は図５に示すようになる。図５（ａ）は２つのビームの
入射タイミングが完全にずれている状態を示し、（ｂ）
は２つのビームがビームディテクタ７に入射している時
間がわずかにオーバーラップしている状態を示し、
（ｃ）は（ｂ）の状態よりもオーバーラップしている時
間が長い状態を示し、（ｄ）は（ｃ）の状態よりもさら
にオーバーラップしている時間が長い状態を示してい
る。これらの図に示すように、２つのビームがビームデ
ィテクタ７に入射している時間がオーバーラップしてい
ると、オーバーラップしている時間だけビームディテク
タ７の出力電圧が約２倍になる。そこで、１つのビーム
のみが入射している状態におけるビームディテクタ７の
出力電圧値Ｖ0 と２つのビームが入射している状態にお
けるビームディテクタ７の出力電圧値Ｖ1 との間にしき
い値Ｖthを設定する。ビームディテクタ７の出力電圧が
しきい値Ｖth以上になっているオーバーラップ時間ｔが
２つのビームの位置ずれ量（位相ずれ量）に対応する。
このオーバーラップ時間ｔは、図３の位相ずれ検出回路
１５によって検出される。
が入射するように、図３に示す位相制御回路によって位
相を合わせる。ここで、ビームディテクタ７の出力信号
は図５に示すようになる。図５（ａ）は２つのビームの
入射タイミングが完全にずれている状態を示し、（ｂ）
は２つのビームがビームディテクタ７に入射している時
間がわずかにオーバーラップしている状態を示し、
（ｃ）は（ｂ）の状態よりもオーバーラップしている時
間が長い状態を示し、（ｄ）は（ｃ）の状態よりもさら
にオーバーラップしている時間が長い状態を示してい
る。これらの図に示すように、２つのビームがビームデ
ィテクタ７に入射している時間がオーバーラップしてい
ると、オーバーラップしている時間だけビームディテク
タ７の出力電圧が約２倍になる。そこで、１つのビーム
のみが入射している状態におけるビームディテクタ７の
出力電圧値Ｖ0 と２つのビームが入射している状態にお
けるビームディテクタ７の出力電圧値Ｖ1 との間にしき
い値Ｖthを設定する。ビームディテクタ７の出力電圧が
しきい値Ｖth以上になっているオーバーラップ時間ｔが
２つのビームの位置ずれ量（位相ずれ量）に対応する。
このオーバーラップ時間ｔは、図３の位相ずれ検出回路
１５によって検出される。
【００２３】図６はオーバーラップ時間ｔと２つのビー
ムの位置ずれ量Δｘとの関係を示す特性図である。本実
施例では、オーバーラップ時間ｔがｔ1 以上になるよう
に位相を合わせる。すなわち、図３の位相調整回路１６
は、一方の回転多面鏡のスキャナモータの位相を固定し
ておき、位相ずれ検出回路１５で検出されるオーバーラ
ップ時間ｔがｔ1 以上になるまで他方の回転多面鏡のス
キャナモータ１７の位相を徐々にずらしていく。このよ
うな位相の調整は、位相ずれ検出回路１５で検出される
オーバーラップ時間ｔが許容限界ｔ2 （ｔ2 ＜ｔ1 ）を
下回ったときに行う。これにより、オーバーラップ時間
ｔがｔ1 、ｔ2 のときの位置ずれ量をそれぞれΔｘ0 、
Δｘ1 としたとき、位置ずれ量をΔｘ0 からΔｘ1 の間
で保証することができる。
ムの位置ずれ量Δｘとの関係を示す特性図である。本実
施例では、オーバーラップ時間ｔがｔ1 以上になるよう
に位相を合わせる。すなわち、図３の位相調整回路１６
は、一方の回転多面鏡のスキャナモータの位相を固定し
ておき、位相ずれ検出回路１５で検出されるオーバーラ
ップ時間ｔがｔ1 以上になるまで他方の回転多面鏡のス
キャナモータ１７の位相を徐々にずらしていく。このよ
うな位相の調整は、位相ずれ検出回路１５で検出される
オーバーラップ時間ｔが許容限界ｔ2 （ｔ2 ＜ｔ1 ）を
下回ったときに行う。これにより、オーバーラップ時間
ｔがｔ1 、ｔ2 のときの位置ずれ量をそれぞれΔｘ0 、
Δｘ1 としたとき、位置ずれ量をΔｘ0 からΔｘ1 の間
で保証することができる。
【００２４】以上説明したように本実施例では、２つの
ビームを、感光体６の同一位置（継ぎ目位置Ｐ）から互
いに逆方向に走査させている。従って、感光体６の移動
に伴う副走査方向の継ぎ目位置のずれはないので、継ぎ
目位置の副走査方向の位置合わせは、光学走査装置の光
学系のアライメントを調整するための測定装置上で光学
的に行うことができる。
ビームを、感光体６の同一位置（継ぎ目位置Ｐ）から互
いに逆方向に走査させている。従って、感光体６の移動
に伴う副走査方向の継ぎ目位置のずれはないので、継ぎ
目位置の副走査方向の位置合わせは、光学走査装置の光
学系のアライメントを調整するための測定装置上で光学
的に行うことができる。
【００２５】また、継ぎ目位置の主走査方向の位置合わ
せについては、走査領域外のビームを受光するビームデ
ィテクタ７からの信号を用いて、偏向位相すなわち回転
多面鏡のモータの回転位相を合わせることにより電気的
に行うことができる。このとき、ビームディテクタ７が
各ビームを検知するタイミングと継ぎ目位置の主走査方
向のずれの間には相関があるので、ビームの検知タイミ
ングを利用して、主走査方向の位置ずれを検知し、自動
的に位置合わせを行うことができる。なお、偏向位相制
御用のビームディテクタ７は特別に用意する必要はな
く、一般に用いられている水平走査開始位置検出用のビ
ームディテクタを利用することができる。
せについては、走査領域外のビームを受光するビームデ
ィテクタ７からの信号を用いて、偏向位相すなわち回転
多面鏡のモータの回転位相を合わせることにより電気的
に行うことができる。このとき、ビームディテクタ７が
各ビームを検知するタイミングと継ぎ目位置の主走査方
向のずれの間には相関があるので、ビームの検知タイミ
ングを利用して、主走査方向の位置ずれを検知し、自動
的に位置合わせを行うことができる。なお、偏向位相制
御用のビームディテクタ７は特別に用意する必要はな
く、一般に用いられている水平走査開始位置検出用のビ
ームディテクタを利用することができる。
【００２６】このように本実施例では、２つの領域の継
ぎ目位置から走査を開始するので、回転多面鏡のモータ
の回転むら等の影響で継ぎ目位置が主走査方向にずれる
ことがなく、また、感光体の回転によるずれを考慮して
副走査方向の位置合わせをする必要がないので、領域間
の継ぎ目部分の位置合わせを容易に、かつ正確に行うこ
とができる。
ぎ目位置から走査を開始するので、回転多面鏡のモータ
の回転むら等の影響で継ぎ目位置が主走査方向にずれる
ことがなく、また、感光体の回転によるずれを考慮して
副走査方向の位置合わせをする必要がないので、領域間
の継ぎ目部分の位置合わせを容易に、かつ正確に行うこ
とができる。
【００２７】図７ないし図９は本発明の第２実施例に係
るものである。
るものである。
【００２８】図７は本実施例の光学走査装置の構成を示
す説明図である。本実施例では、第１実施例における１
つのビームディテクタ７の代わりに、各ビームを受光す
る２つのビームディテクタ７ａ、７ｂを設けたものであ
る。
す説明図である。本実施例では、第１実施例における１
つのビームディテクタ７の代わりに、各ビームを受光す
る２つのビームディテクタ７ａ、７ｂを設けたものであ
る。
【００２９】図８は本実施例における位相制御回路の構
成を示すブロック図である。この図に示すように、位相
制御回路は、ビームディテクタ７ａ、７ｂの出力のタイ
ミングを比較して、ビーム検出のタイミングのずれ量を
検出する比較回路３１と、この比較回路３１の出力と所
定値を比較して回転多面鏡３ａ、３ｂの位相ずれ量を検
出する位相ずれ検出回路３２と、この位相ずれ検出回路
３２で検出された位相ずれ量に基づいて、一方の回転多
面鏡を駆動するスキャナモータ１７の位相を調整する位
相調整回路３３とを備えている。
成を示すブロック図である。この図に示すように、位相
制御回路は、ビームディテクタ７ａ、７ｂの出力のタイ
ミングを比較して、ビーム検出のタイミングのずれ量を
検出する比較回路３１と、この比較回路３１の出力と所
定値を比較して回転多面鏡３ａ、３ｂの位相ずれ量を検
出する位相ずれ検出回路３２と、この位相ずれ検出回路
３２で検出された位相ずれ量に基づいて、一方の回転多
面鏡を駆動するスキャナモータ１７の位相を調整する位
相調整回路３３とを備えている。
【００３０】その他の構成は第１実施例と同様である。
【００３１】次に、本実施例における２つの走査領域の
継ぎ目部分における２つのビームの位置合わせの方法に
ついて説明する。
継ぎ目部分における２つのビームの位置合わせの方法に
ついて説明する。
【００３２】副走査方向の位置合わせについては第１実
施例と同様である。
施例と同様である。
【００３３】主走査方向の位置合わせは、各ビームディ
テクタ７ａ、７ｂに同時にビームが入射した場合に継ぎ
目位置Ｐに２つのビームが同時に来るように、ビームデ
ィテクタ７ａ、７ｂの位置を調整すれば、第１実施例と
同様の方法で位相を制御することができる。この場合
は、図８の比較回路３１で各ビームディテクタ７ａ、７
ｂのビーム検出のタイミングのずれ量を検出し、位相ず
れ検出回路３２で、このタイミングのずれ量と所定値と
しての“０”との差を位相ずれ量として検出する。そし
て、この位相ずれ量が所定値以下になるように位相を合
わせる。
テクタ７ａ、７ｂに同時にビームが入射した場合に継ぎ
目位置Ｐに２つのビームが同時に来るように、ビームデ
ィテクタ７ａ、７ｂの位置を調整すれば、第１実施例と
同様の方法で位相を制御することができる。この場合
は、図８の比較回路３１で各ビームディテクタ７ａ、７
ｂのビーム検出のタイミングのずれ量を検出し、位相ず
れ検出回路３２で、このタイミングのずれ量と所定値と
しての“０”との差を位相ずれ量として検出する。そし
て、この位相ずれ量が所定値以下になるように位相を合
わせる。
【００３４】また、本実施例では、上述のように特定の
位置にビームディテクタ７ａ、７ｂが配置されていなか
ったとしても、位相を合わせることがてきる。この場合
の位相合わせの方法について図９を参照して説明する。
図９（ａ）はビームディテクタ７ａのビーム検出タイミ
ング４１と記録開始タイミング４３とを示し、図９
（ｂ）はビームディテクタ７ｂのビーム検出タイミング
４２と記録開始タイミング４３とを示している。一方の
ビームがビームディテクタ７ａに入射してから継ぎ目位
置Ｐに達するまでの時間ｔa と、他方のビームがビーム
ディテクタ７ｂに入射してから継ぎ目位置Ｐに達するま
での時間ｔb を予め計測しておく。このｔaとｔb の差
Δｔをプリセットしておけば、両ビームの偏向位相をΔ
ｔだけずらした状態に合わせれば、継ぎ目位置Ｐに各ビ
ームが入ってくるタイミングは一致する。従って、図８
の比較回路３１で各ビームディテクタ７ａ、７ｂのビー
ム検出のタイミングのずれ量を検出し、位相ずれ検出回
路３２で、比較回路３１で検出したタイミングのずれ量
と所定値としての“Δｔ”との差を位相ずれ量として検
出し、この位相ずれ量が所定値以下になるように位相を
合わせれば良い。
位置にビームディテクタ７ａ、７ｂが配置されていなか
ったとしても、位相を合わせることがてきる。この場合
の位相合わせの方法について図９を参照して説明する。
図９（ａ）はビームディテクタ７ａのビーム検出タイミ
ング４１と記録開始タイミング４３とを示し、図９
（ｂ）はビームディテクタ７ｂのビーム検出タイミング
４２と記録開始タイミング４３とを示している。一方の
ビームがビームディテクタ７ａに入射してから継ぎ目位
置Ｐに達するまでの時間ｔa と、他方のビームがビーム
ディテクタ７ｂに入射してから継ぎ目位置Ｐに達するま
での時間ｔb を予め計測しておく。このｔaとｔb の差
Δｔをプリセットしておけば、両ビームの偏向位相をΔ
ｔだけずらした状態に合わせれば、継ぎ目位置Ｐに各ビ
ームが入ってくるタイミングは一致する。従って、図８
の比較回路３１で各ビームディテクタ７ａ、７ｂのビー
ム検出のタイミングのずれ量を検出し、位相ずれ検出回
路３２で、比較回路３１で検出したタイミングのずれ量
と所定値としての“Δｔ”との差を位相ずれ量として検
出し、この位相ずれ量が所定値以下になるように位相を
合わせれば良い。
【００３５】その他の作用および効果は第１実施例と同
様である。
様である。
【００３６】
【発明の効果】以上説明したように請求項１ないし３記
載の発明によれば、被走査体の走査領域を２つの領域に
分け、各領域を別個の光ビームで走査する場合に、２つ
の光ビームを被走査体の同一位置から互いに逆方向に走
査させるようにしたので、領域間の継ぎ目部分の位置合
わせを容易に行うことができるという効果がある。
載の発明によれば、被走査体の走査領域を２つの領域に
分け、各領域を別個の光ビームで走査する場合に、２つ
の光ビームを被走査体の同一位置から互いに逆方向に走
査させるようにしたので、領域間の継ぎ目部分の位置合
わせを容易に行うことができるという効果がある。
【図１】 本発明の第１実施例の光学走査装置の構成を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図２】 図１の光学走査装置を用いる画像形成装置に
おけるレーザビームの変調に関わる構成を示すブロック
図である。
おけるレーザビームの変調に関わる構成を示すブロック
図である。
【図３】 図１の光学走査装置における２つの回転多面
鏡の偏向位相を同期させる位相制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
鏡の偏向位相を同期させる位相制御回路の構成を示すブ
ロック図である。
【図４】 第１実施例におけるビームの走査領域を示す
説明図である。
説明図である。
【図５】 図１におけるビームディテクタの出力信号を
示す波形図である。
示す波形図である。
【図６】 図１におけるビームディテクタの各ビーム毎
の出力のオーバーラップ時間と２つのビームの位置ずれ
量との関係を示す特性図である。
の出力のオーバーラップ時間と２つのビームの位置ずれ
量との関係を示す特性図である。
【図７】 本発明の第２実施例の光学走査装置の構成を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図８】 第２実施例における位相制御回路の構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図９】 図７における各ビームディテクタのビーム検
出タイミングと記録開始タイミングとを示すタイミング
チャートである。
出タイミングと記録開始タイミングとを示すタイミング
チャートである。
【図１０】 従来の光学走査装置におけるビームの走査
領域を示す説明図である。
領域を示す説明図である。
１ａ、１ｂ…レーザダイオード、３ａ、３ｂ…回転多面
鏡、６…感光体、７…ビームディテクタ
鏡、６…感光体、７…ビームディテクタ
Claims (3)
- 【請求項１】 ２つの光ビームを発生する光源部と、 この光源部からの各光ビームをそれぞれ別個に偏向し、
被走査体の同一位置から互いに逆方向に走査させる２つ
の偏向手段と、 この２つの偏向手段の偏向位相を同期させる位相制御手
段とを具備することを特徴とする光学走査装置。 - 【請求項２】 前記位相制御手段は、各偏向手段によっ
て偏向される２つの光ビームを受光して両偏向手段の偏
向位相のずれに応じた信号を出力する１つの光検出器を
有し、この光検出器の出力に基づいて偏向位相を制御す
ることを特徴とする請求項１記載の光学走査装置。 - 【請求項３】 前記位相制御手段は、各偏向手段によっ
て偏向される光ビームをそれぞれ別個に受光して各偏向
手段の偏向位相に応じた信号を出力する２つの光検出器
を有し、この２つの光検出器の出力に基づいて偏向位相
を制御することを特徴とする請求項１記載の光学走査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5001722A JPH06208066A (ja) | 1993-01-08 | 1993-01-08 | 光学走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5001722A JPH06208066A (ja) | 1993-01-08 | 1993-01-08 | 光学走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06208066A true JPH06208066A (ja) | 1994-07-26 |
Family
ID=11509465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5001722A Pending JPH06208066A (ja) | 1993-01-08 | 1993-01-08 | 光学走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06208066A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000187171A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Ricoh Co Ltd | 光ビーム走査装置 |
| JP2001091875A (ja) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置 |
| US6288818B1 (en) | 1998-12-22 | 2001-09-11 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning apparatus |
| EP1241509A2 (en) | 2001-03-16 | 2002-09-18 | Ricoh Company, Ltd. | Method and apparatus for image forming with dual optical scanning systems |
| JP2004191863A (ja) * | 2002-12-13 | 2004-07-08 | Ricoh Co Ltd | 光走査用ミラー、光走査方法、光走査装置及び画像形成装置 |
| DE19757602B4 (de) * | 1997-01-14 | 2005-07-14 | Pentax Corp. | Abtasteinrichtung mit optischem Kaskade-Abtastsystem |
| EP2015556A3 (en) * | 2007-07-11 | 2009-07-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multi-functional device having scanner module and image scanning apparatus employing the scanner module |
| US7852523B2 (en) | 2007-07-11 | 2010-12-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Scanner module and image scanning apparatus employing the same |
| US7924478B2 (en) | 2007-07-11 | 2011-04-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Scanner module and image scanning apparatus employing the same |
| US8049771B2 (en) | 2007-09-03 | 2011-11-01 | Ricoh Company, Ltd. | Multi-beam image forming apparatus |
| US9800844B2 (en) | 2013-08-28 | 2017-10-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Image projection apparatus |
-
1993
- 1993-01-08 JP JP5001722A patent/JPH06208066A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19757602B4 (de) * | 1997-01-14 | 2005-07-14 | Pentax Corp. | Abtasteinrichtung mit optischem Kaskade-Abtastsystem |
| JP2000187171A (ja) * | 1998-12-22 | 2000-07-04 | Ricoh Co Ltd | 光ビーム走査装置 |
| US6288818B1 (en) | 1998-12-22 | 2001-09-11 | Ricoh Company, Ltd. | Optical scanning apparatus |
| JP2001091875A (ja) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置 |
| EP1241509A2 (en) | 2001-03-16 | 2002-09-18 | Ricoh Company, Ltd. | Method and apparatus for image forming with dual optical scanning systems |
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| EP2015556A3 (en) * | 2007-07-11 | 2009-07-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multi-functional device having scanner module and image scanning apparatus employing the scanner module |
| US7852523B2 (en) | 2007-07-11 | 2010-12-14 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Scanner module and image scanning apparatus employing the same |
| US7924478B2 (en) | 2007-07-11 | 2011-04-12 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Scanner module and image scanning apparatus employing the same |
| US8228567B2 (en) | 2007-07-11 | 2012-07-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multi-functional device having scanner module and image scanning apparatus employing the scanner module |
| US9225866B2 (en) | 2007-07-11 | 2015-12-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multi-functional device having scanner module and image scanning apparatus employing the scanner module |
| US9383501B2 (en) | 2007-07-11 | 2016-07-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Scanner module and image scanning apparatus employing the same |
| US8049771B2 (en) | 2007-09-03 | 2011-11-01 | Ricoh Company, Ltd. | Multi-beam image forming apparatus |
| US9800844B2 (en) | 2013-08-28 | 2017-10-24 | Mitsubishi Electric Corporation | Image projection apparatus |
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