JPH09210849A - 画像形成装置の光ビームずれ検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】２つのレーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向に
おける走査位置のずれを精度良く検出する。 【解決手段】光ビーム検知領域の主走査始端側の端縁が
相互に非平行である２つのセンサＢ，Ｃを主走査方向に
並べて配置する。そして、センサＢ，Ｃで、レーザビー
ムＬ１が検知される時間差Ｔ１と、レーザビームＬ２が
検知される時間差Ｔ２とを計測させる。そして、前記時
間差Ｔ１，Ｔ２の偏差Ｔ３と、走査速度と、センサＢ，
Ｃの角度とに基づいて、２つのレーザビームＬ１，Ｌ２
の副走査方向での間隔ずれを算出する。更に、前記セン
サＢ，Ｃの取付け角度の誤差情報を予め記憶させてお
き、かかる誤差情報を加味して前記間隔ずれ量の算出を
行わせる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は画像形成装置の光ビ
ームずれ検出装置に関し、詳しくは、複数の光ビームに
より記録媒体上を同時に主走査方向に平行に走査させて
複数ラインを同時に記録させる画像形成装置において、
前記複数の光ビームの副走査方向における走査位置のず
れを検出する技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】画像信号に基づいて変調されたレーザビ
ーム（光ビーム）を回転多面鏡などにより偏向して記録
媒体上に走査させることにより画像情報の記録を行わせ
る画像形成装置において、画像記録の高速化を図るに
は、複数のレーザビームを用いて複数ラインを同時に記
録させる構成とすれば良いことが知られている（特開平
２−１８８７１３号公報等参照）。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ように、複数のレーザビームを同時に走査させる場合に
は、複数のレーザビームそれぞれの走査位置が副走査方
向にずれて、画像記録のライン間隔が変動し、画像形成
の忠実性が損なわれることがあった。このため、特開平
７−２２８０００号公報には、副走査方向での光ビーム
の走査位置によって光ビームを検知する時間間隔が変化
する複数のセンサを用いて、副走査方向における光ビー
ム間隔のずれを検出し、副走査方向における走査位置を
調整する装置が開示されている。

【０００４】ところが、上記の構成によって副走査方向
における光ビーム間隔のずれを検出するためには、セン
サの取付け位置、特に、センサの取付け角度が基準値に
合致している必要があるが、取付け角度を高精度に基準
値に合致させることが困難であるため、光ビーム間隔の
ずれ量の検出に誤差を生じてしまう惧れがあった。本発
明は上記問題点に鑑みなされたものであり、センサの取
付け位置誤差が生じても、光ビーム間隔のずれを高い精
度で検出できるようにすることを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そのため請求項１記載の
発明は、複数の光ビームにより記録媒体上を同時に主走
査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録する
画像形成装置において、前記主走査方向に並べて配設さ
れ、前記主走査方向に直交する副走査方向での光ビーム
の走査位置によって光ビームを検知する時間間隔が変化
する複数の光ビーム検知手段と、各光ビーム毎に前記複
数の光ビーム検知手段それぞれで検知される時間間隔を
計測する検知間隔計測手段と、該検知間隔計測手段で計
測された各光ビーム毎の時間間隔と、予め記憶された前
記複数の光ビーム検知手段の取付け位置誤差の情報とに
基づいて、各光ビーム相互の前記副走査方向における間
隔を算出する副走査方向間隔算出手段と、を含んで構成
されることを特徴とする。

【０００６】かかる構成によると、複数の光ビーム検知
手段によって光ビームが検知される時間間隔が、副走査
方向における走査位置によって異なることによって、各
光ビーム相互の副走査方向における間隔が、前記時間間
隔の違いとして検出されることになる。しかし、前記光
ビーム検知手段の取付け位置に誤差があると、前記時間
間隔が誤って計測されて光ビーム間隔が誤検出されるこ
とになってしまうので、予め取付け位置誤差を求めてお
いてこれを記憶させておき、ビーム間隔の算出が前記誤
差情報を加味して行われるようにしたものである。

【０００７】請求項２記載の発明では、前記複数の光ビ
ーム検知手段それぞれが、前記副走査方向において前記
複数の光ビームの走査ラインを包含する光ビーム検知領
域を有し、かつ、前記光ビーム検知領域の主走査方向始
端側の端縁が相互に非平行である少なくとも一対の光ビ
ーム検知手段を含んで構成されるものとした。かかる構
成によると、前記相互に非平行である光ビーム検知領域
の主走査方向始端側の端縁の角度と、各光ビーム相互の
前記時間間隔の違いとに基づいて、ビーム間隔が算出さ
れることになる。

【０００８】請求項３記載の発明では、前記副走査方向
間隔算出手段における予め記憶された取付け位置誤差の
情報が、前記相互に非平行である光ビーム検知領域の主
走査方向始端側の端縁の角度情報である構成とした。か
かる構成によると、取付け角度の誤差によってビーム間
隔が誤検出されることを回避できることになる。

【０００９】請求項４記載の発明では、前記副走査方向
間隔算出手段で算出された間隔と、基準間隔との偏差に
基づいて、前記複数の光ビームのうちの少なくとも１つ
の光ビームの副走査方向における走査位置を調整する副
走査方向ずれ調整手段を設ける構成とした。かかる構成
によると、副走査方向における光ビームの間隔を、基準
間隔に補正した上で、画像形成を行わせることが可能と
なり、光ビームの走査位置ずれにより画像形成の忠実性
が損なわれることを回避できる。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を説明
する。図１は、本発明にかかる画像形成装置としてのレ
ーザプリンタの像露光系を示す図であり、このレーザプ
リンタは、画像データに応じて内部変調された２つのレ
ーザビーム（光ビーム）Ｌ１，Ｌ２を主走査方向に平行
に走査させ、２ラインを同時に記録させるタイプのもの
である。

【００１１】図１において、光源ユニット１は、前記２
つの半導体レーザ１ａ，１ｂを１列に配置してなり、該
光源ユニット１から発せられる２つの発散光は、集光レ
ンズ２によって平行な２つのレーザビームＬ１，Ｌ２に
なる。前記２つのレーザビームＬ１，Ｌ２はポリゴンミ
ラー３に照射され、該ポリゴンミラー３によって偏向さ
れる２つのレーザビームＬ１，Ｌ２は、ｆθレンズ４を
介して感光ドラム（記録媒体）５上に走査される。

【００１２】前記感光ドラム５は、レーザビームＬ１，
Ｌ２の主走査に同期して回転駆動され、これにより、レ
ーザビームＬ１，Ｌ２と感光ドラム５とが相対的に副走
査方向（主走査方向に直交する方向）に移動して２次元
の画像記録が行われる。上記のようにして画像データに
対応した露光が２ライン同時に行われて静電潜像が感光
ドラム５（記録媒体）上に形成される。そして、この静
電潜像に対して逆極性に帯電したトナーが付着されて現
像が行われ、その後記録紙がトナー像に重ねられ、記録
紙の裏側からコロナ帯電器でコロナ帯電極性とは逆極性
の電荷が記録紙に与えられることにより、トナー像が記
録紙に転写される。

【００１３】前記ポリゴンミラー３によって偏向された
レーザビームＬ１，Ｌ２の走査開始点は、走査領域の先
端側に配設されたインデックスセンサ６によって検出さ
れる。反射鏡７は、走査ラインの先端にレーザビームＬ
１，Ｌ２が照射されたときに、該レーザビームＬ１，Ｌ
２を前記インデックスセンサ６に導くためのものであ
る。

【００１４】前記インデックスセンサ６は、図２に示す
ように、それぞれ個別に検知信号を出力する５つのセン
サＡ〜Ｅ（光ビーム検知手段）を１チップセンサとして
一体に備えて構成される。各センサＡ〜Ｅは主走査方向
に並べて配設され、Ａ→Ｂ→Ｄ→Ｃ（→Ｅ）の順にレー
ザビームＬ１，Ｌ２が走査されるようにしてある。各セ
ンサＡ〜Ｄの光ビーム検知領域（受光領域）は、２つの
レーザビームＬ１，Ｌ２の走査ラインを余裕を持って包
含する副走査方向（図２で上下方向）高さを有する直角
三角形に形成されている。そして、センサＡは、直角三
角形の検知領域の直角挟角を構成する２辺のうちの長辺
が、主走査方向始端側（図２で左側）の端縁となり、然
も、前記長辺が主走査方向に直交する（副走査方向に平
行する）ように配置される。また、センサＢは、直角三
角形の検知領域の斜辺が主走査方向始端側の端縁とな
り、然も、該斜辺が前記長辺と斜辺とがなす角度で主走
査方向に斜めに交差するように配置される。また、セン
サＤは、副走査方向を上下としたときに、センサＡの検
知領域の配置状態を上下反転させたように配置される。
更に、センサＣは、センサＡと副走査方向に沿った軸に
対してその検知領域が軸対称となるように配置される。

【００１５】尚、図２に示すセンサＡ，Ｃは、直角挟角
を構成する２辺のうちの長辺が、主走査方向に直交する
ように配置されるが、該長辺が主走査方向と平行になる
ように配置する構成であっても良い。上記センサＡ〜Ｄ
の配列によって、各センサＡ〜Ｄの主走査方向始端側の
端縁は、センサＡ，Ｄが相互に副走査方向に沿って平行
で、また、センサＢ，Ｃは、相互に非平行であり、然
も、主走査方向に対する傾きの方向が逆になっている。
即ち、センサＢ，Ｃにおいては、光ビーム検知領域の主
走査方向始端側の端縁相互の間隔は、図２で下方にレー
ザビームＬ１，Ｌ２の走査位置がずれるほど大きくな
る。

【００１６】尚、図２では、センサＡによるレーザビー
ムＬ１の検知始端位置（ビーム検知信号が立ち上がる位
置）をａ１として示し、レーザビームＬ２の検知始端位
置をａ２として示してあり、以下同様に、センサＢ〜Ｄ
によるレーザビームＬ１，Ｌ２の検知始端位置をｂ１，
ｂ２，ｃ１，ｃ２，ｄ１，ｄ２として示してある。そし
て、センサＡ〜Ｄによるレーザビームの検知間隔とは、
前記検知始端位置でレーザビームが検知されるタイミン
グの間隔、換言すれば、センサＡ〜Ｄのビーム検知信号
の立ち上がり間隔を示すものとする。

【００１７】また、前記センサＥは、２つのレーザビー
ムＬ１，２のうちの基準光ビームであるレーザビームＬ
１が、副走査方向における所期走査位置を通過したか否
かを判別するためのセンサであり、前記所期走査位置を
中心として配設されると共に、レーザビームＬ１の副走
査方向への走査位置ずれの許容範囲内でのみ検知信号を
出力するようにしてある。ここで、センサＥが前記許容
範囲内でのみ検知信号を出力するように、その光ビーム
検知領域の副走査方向の高さを走査位置ずれの許容範囲
に対応して設定するか、或いは、前記許容範囲に対応す
る幅のスリットが形成された遮光部材をセンサＥの受光
面に介装させるようにする。

【００１８】ここでは、上記構成のセンサＡ〜Ｄを用い
て、前記レーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向における
間隔のずれ量を、図３のフローチャートに示すようにし
て計測する。図３のフローチャートに示すプログラム
（検知間隔計測手段，副走査方向間隔算出手段）は、レ
ーザプリンタに電源が投入される毎に実行されるもので
あり、まず、レーザビームＬ１のみを点灯させ、通常の
画像記録時と同様に走査させる（Ｓ１）。

【００１９】そして、レーザビームＬ１が前記センサＡ
〜Ｄ上を走査したときに、センサＢのビーム検知の立ち
上がり（ｂ１）から、センサＣのビーム検知の立ち上が
り（ｃ１）までの時間（検知時間差）Ｔ１（図４参照）
を計測する（Ｓ２）。次いで、レーザビームＬ１に代え
てレーザビームＬ２のみを点灯させ、通常の画像記録時
と同様に走査させる（Ｓ３）。

【００２０】そして、同様に、かかるレーザビームＬ２
が前記センサＡ〜Ｄ上を走査したときに、センサＢのビ
ーム検知の立ち上がり（ｂ２）から、センサＣのビーム
検知の立ち上がり（ｃ２）までの時間Ｔ２（図４参照）
を計測する（Ｓ４）。上記の時間Ｔ１，Ｔ２の計測を終
了すると、前記時間Ｔ１と時間Ｔ２の偏差の絶対値Ｔ３
を演算し、該絶対値Ｔ３に基づいて実際のビーム間隔を
求めて、該実際値とレーザビームＬ１，Ｌ２の副走査方
向における正規間隔としての基準値との差として、前記
間隔のずれ量を求める（Ｓ５）。

【００２１】尚、前記基準値は、レーザプリンタの操作
部を介して任意に変更設定できるようにすると良い。即
ち、主走査方向における時間ｔの情報は、走査速度ｖに
基づいて主走査方向における検知位置の距離ｙ（ｙ＝ｔ
×ｖ）の情報に変換でき（図５参照）、図４の場合に
は、ｂ１とｂ２との主走査方向での距離とｃ１とｃ２と
の主走査方向での距離との和が、Ｔ３×走査速度として
求められることになる。

【００２２】一方、前記センサＢ，Ｃにおける斜辺の角
度α，β（図５参照）の情報に基づいて前記主走査方向
における距離ｙは、副走査方向における距離ｄの情報に
変換できることになる。従って、前記絶対値Ｔ３と走査
速度とに基づいて時間Ｔ３に相当する距離ｙを求め、こ
れを底辺の長さとし、この底辺と他の２辺がそれぞれな
す角度α，βとする三角形の高さｄを求めれば、この高
さｄは、副走査方向におけるビーム間隔となる（図５参
照）。

【００２３】例えばα＝βであれば、ビーム間隔は、ビ
ーム間隔＝tan α×Ｔ３／２となる。ところで、前記角
度α，βが、センサＢ，Ｃの取付け角度のばらつきによ
ってばらつきを生じると（図５参照）、前記距離ｙ，ｄ
の相関関係が変化し、副走査方向におけるビーム間隔
（間隔ずれ量）を誤検出することになってしまう。そこ
で、予めインデックスセンサ６毎に前記角度α，βを計
測し、これによって求められた基準角度に対する取付け
角度のずれ量を誤差情報Δα，Δβとして記憶させてお
き、前記ビーム間隔（間隔ずれ量）を算出するときの角
度情報α，βを、前記誤差情報に基づいて補正した上
で、ビーム間隔（間隔ずれ量）を算出させる構成とする
と良い。

【００２４】かかる構成とすれば、センサＢ，Ｃの取付
け角度にばらつきがあっても、副走査方向におけるビー
ム間隔を精度良く求められることになる。また、例えば
レーザビームＬ１（基準光ビーム）の走査位置を固定と
して、特開昭６３−５０８０９号公報に開示されるよう
に副走査方向における走査位置を調整し得る機構（副走
査方向ずれ調整手段）をレーザビームＬ２側に備える場
合には、前記算出されたずれ量の情報に基づいてレーザ
ビームＬ２の副走査方向における走査位置を、レーザビ
ームＬ１の走査位置を固定として調整することで、レー
ザビームＬ１，Ｌ２の副走査方向における間隔を所期値
に修正することが可能となる。

【００２５】前記特開昭６３−５０８０９号公報に開示
される装置では、レーザビームを通過させるプリズムを
保持する保持板をプリズム面に平行な軸回りに回動可能
に支持し、かかる保持板の回動先端部に当接し保持板の
角度を決定する調整ねじの進退によってプリズム角度を
調整し、以て、副走査方向のピッチ（間隔）を調整する
構成である。

【００２６】前記時間Ｔ１，Ｔ２の計測は、具体的に
は、図６示すようにして行われる。尚、図６では、セン
サＡ，ＤによってレーザビームＬ１が検知される時間差
（ａ１とｄ１との間の時間）を計測させる場合を示して
あるが、センサＡ〜Ｄの他の組み合わせであっても同様
にして行われる。図６において、基準クロックｃｌｋを
１／16周期ずつ順次遅らせて16種類のディレイクロック
dl０（基準クロック）〜dl15をディジタルディレイライ
ンを用いて発生させている。尚、図６においては、クロ
ックｃｌｋ，dl１，dl２，dl８，dl12，dl15のみを示
し、他のディレイクロックについては図示を省略してあ
る。

【００２７】そして、例えばセンサＡの検知信号の立ち
上がりａ１に同期したクロック（検知信号の立ち上がり
直後に最初に立ち上がるクロック）がクロックdl８であ
ったとすると、該同期時の立ち上がりを最初のカウント
とし、続いてこのクロックdl８の立ち上がりを順次カウ
ントさせる。かかるカウント中に、センサＤの検知信号
が立ち上がり、この検知信号の立ち上がり（ｄ１）に同
期するクロックがクロックdl12であったとすると、それ
までのクロックdl８の立ち上がりをカウントした数（セ
ンサＡの検知信号（ａ１）に同期したクロックdl８の立
ち上がりを含む）から１を減算した値にクロック周期を
乗算した時間に、クロックdl８とクロックdl12との位相
差（４／16周期であり、ディレイクロック番号＝dl４と
して表すことができる。）を加算した値が、前記センサ
Ａ，Ｄの検知信号の出力時間差（ａ１とｄ１との間隔）
になる。

【００２８】そして、前述の副走査方向のずれ検出にお
いては、各時間Ｔ１，Ｔ２を、上記のようにしてクロッ
クカウント数とディレイクロック番号として求める一
方、間隔の規定値に相当する基準時間をやはりクロック
カウント数とディレイクロック番号として与えるように
して、時間差の演算においては、カウント数とディレイ
クロック番号とをそれぞれに演算させるようにすれば良
い。

【００２９】この場合、副走査方向における検知間隔に
関する情報は、クロックカウント数とディレイクロック
番号として与えられ、これに基づいて副走査方向のビー
ム間隔ずれが求められて、ビーム位置調整等が行われる
ことになる（図７参照）。次に、上記のようにして時間
を計測し、該計測結果に基づいてずれ検出を行う具体的
な回路例（検知間隔計測手段，副走査方向間隔算出手
段）を図８に従って説明する。

【００３０】図８において、センサＢ，Ｃの出力は、フ
ェイズ・ディテクター(1) 11とフェイズ・ディテクター
(2)12 とにそれぞれ出力される。一方、ディジタル・デ
ィレイライン13には基準クロックclk が入力され、該デ
ィジタル・ディレイライン13から前記クロックdl０〜dl
15が出力される。そして、前記フェイズ・ディテクター
(1)11,(2)12 では、センサＢ，Ｃの検知信号の立ち上が
りと同期するディレイクロックdl０〜dl15をそれぞれに
検出し（図６参照）、該検出結果を位相差演算部14に出
力する。

【００３１】該位相差演算部14では、センサＢの検知タ
イミング（ｂ１又はｂ２）に同期するクロックと、セン
サＣの検知タイミング（ｃ１又はｃ２）に同期するクロ
ックの位相差（１／16周期単位）、即ち、センサＢ，Ｃ
の検知間隔のクロック周期内の端数分を求め、その結果
を、センサＣの検知信号からワンショット回路31で生成
されるワンショットパルスに応じてラッチ回路18にラッ
チさせる。

【００３２】また、前記フェイズ・ディテクター(1)11
の検出結果はクロックセレクタ15にも出力され、該クロ
ックセレクタ15からは、センサＢの検知信号に同期する
ディレイクロックを選択的にカウンタ16に出力する。カ
ウンタ16では、センサＢ，Ｃの出力の立ち上がりｂ１
（ｂ２），ｃ１（ｃ２）間隔時間を、前記クロックセレ
クタ15から出力されるクロックをカウントして計測す
る。尚、前記カウンタ16のカウント区間は、センサＢ，
Ｃの出力が入力されるフリップ・フロップ17によって制
御されるようになっている。

【００３３】前記カウンタ16によるカウント値は、セン
サＣの検知信号から生成させたワンショットパルスでラ
ッチ回路18にラッチさせる。このようにして、例えばレ
ーザビームＬ１のみを点灯させたときのセンサＢ，Ｃの
検知間隔である時間Ｔ１を計測しラッチ回路18に記憶さ
せ、続いて、同様にしてレーザビームＬ２のみを点灯さ
せたときの時間Ｔ２を計測しラッチ回路18に記憶させ
る。

【００３４】クロックカウント数及びクロック位相差と
して前記時間Ｔ１，Ｔ２が得られると、時間差演算部19
では時間Ｔ１，Ｔ２の偏差を、カウント数とクロック位
相差とで個別に演算し、その結果を、ラッチ回路20に一
旦記憶させる。そして、ずれ演算部21では、前記ラッチ
回路20に記憶されたデータと、走査速度と、センサ角度
情報（角度誤差情報を含む）とに基づいて実際のビーム
間隔を算出すると共に、該実際のビーム間隔と操作部を
介して与えられる基準値との差としてレーザビームＬ
１，Ｌ２の副走査方向におけるずれ（間隔の変化量）を
演算し、かかる演算結果を表示部に出力する一方、レー
ザビームＬ２の副走査方向における走査位置を調整する
調整機構（副走査方向ずれ調整手段）に与えて、副走査
方向におけるずれの修正をレーザビームＬ１の走査位置
を基準として行わせる。

【００３５】上記のように、センサＢ，Ｃでレーザビー
ムが検知される間隔時間の計測によってレーザビームＬ
１，Ｌ２の副走査方向における間隔のずれ量を算出し、
かかるずれ量に応じてレーザビームＬ２の走査位置を固
定されたレーザビームＬ１（基準光ビーム）の走査位置
に対して副走査方向に調整することで、レーザビームＬ
１，Ｌ２の副走査方向における間隔を所期値に調整でき
ることになる。

【００３６】しかしながら、走査間隔の基準となるレー
ザビームＬ１の走査位置が副走査方向にずれていると、
たとえビームの間隔が所期値に調整されているとして
も、走査ライン間隔の変動を招くことになってしまう。
そこで、前記センサＥを用いてレーザビームＬ１（基準
光ビーム）が副走査方向における所期の走査位置を走査
しているか否かを判別すると良い。

【００３７】即ち、前記センサＥは、レーザビームＬ１
が所期の走査位置を中心とする副走査方向の許容範囲内
で走査された場合にのみ、レーザビームＬ１を検知する
ように設定されているから、レーザビームＬ１の走査中
であるにも関わらず、センサＥで検知されなかった場合
には、前記許容範囲を越えて副走査方向にずれているも
のと推定できる。

【００３８】そして、レーザビームＬ１の副走査方向へ
の位置ずれが検出されたときに、例えばＬＥＤを点灯さ
せるなどして警告するか、或いは、前記レーザビームＬ
２の走査位置を調整できる機構と同様な調整機構をレー
ザビームＬ１側にも設け、センサＥにより検知される位
置にレーザビームＬ１の走査位置を自動的に調整させた
後、ビーム間隔の検出及び該検出結果に基づくレーザビ
ームＬ２の走査位置の調整を行わせるようにしても良
い。

【００３９】また、上記では、センサＥを別途設けるこ
とで、レーザビームＬ１の走査位置を検知できるように
したが、前記センサＢ，ＣによってレーザビームＬ１が
検知される時間間隔と所期値とを比較することによって
も、レーザビームＬ１の副走査方向における走査位置の
検出が行える。かかる構成の場合、前記センサＥは不要
となり、センサ構成が簡略化される。但し、上記の構成
を実現するためには、センサ間隔と、センサ角度α，β
との双方を高精度に知っておく必要がある。

【００４０】ところで、上記では、センサＡ〜Ｄのうち
のセンサＢ，Ｃのみを用いて、レーザビームＬ１，Ｌ２
の副走査方向におけるずれ量を検出し、該ずれを調整す
る処理を説明したが、かかる処理に続けてレーザビーム
Ｌ１，Ｌ２の主走査方向における走査位置関係（主走査
方向におけるずれ）を検出し、該検出結果に基づいて各
レーザビームＬ１，Ｌ２による書出し位置を制御するこ
とが好ましく、そのために、センサＡ，Ｄが設けられて
いる。

【００４１】前記主走査方向におけるずれを検出するた
めの処理内容を、図３のフローチャートにおいて、副走
査方向のずれ検出に続けて示してある。まず、レーザビ
ームＬ１のみを点灯させて（Ｓ６）、センサＡでレーザ
ビームＬ１が検知される立ち上がり（ａ１）と、センサ
ＤでレーザビームＬ１が検知される立ち上がり（ｄ１）
との時間差Ｔ５（図９参照）を測定させる（Ｓ７）。

【００４２】ここで、センサＡ，Ｄの光ビーム検知領域
の主走査方向始端側の端縁が、副走査方向に平行（主走
査方向に直交）であるから、前記時間差Ｔ５は、副走査
方向における走査位置に影響されずに、センサＡ，Ｄの
主走査方向始端側の端縁の間隔と走査速度とによっての
み決定されることになる。次に、センサＡにはレーザビ
ームＬ１のみが入射し、センサＤにはレーザビームＬ２
のみが入射するように、各レーザビームＬ１，Ｌ２のマ
スク制御を行いながら走査させ（Ｓ８）、センサＡでレ
ーザビームＬ１が検知される立ち上がり（ａ１）と、セ
ンサＤでレーザビームＬ２が検知される立ち上がり（ｄ
２）との時間差Ｔ６（図９参照）を測定させる（Ｓ
９）。

【００４３】前記マスク制御は、各レーザビームＬ１，
Ｌ２の点灯・消灯制御で行っても良いし、また、偏光素
子などの利用によってレーザビームＬ１，Ｌ２が選択的
にセンサＡ，Ｄに入射するようにしても良い。ここで、
各レーザビームＬ１，Ｌ２が、主走査方向にずれること
なく走査される場合には、前記時間差Ｔ５，Ｔ６は同一
時間となるはずであり、例えばレーザビームＬ１の走査
に遅れてレーザビームＬ２が走査される場合には、その
遅れが、Ｔ６−Ｔ５（＝Ｔ７）として求められることに
なる（Ｓ10：図９参照）。

【００４４】従って、上記の場合、レーザビームＬ１に
よる書出しに対してレーザビームＬ２に書出しを前記時
間Ｔ７だけ遅らせれば、主走査方向にずれて走査される
２つのレーザビームＬ１，Ｌ２によって主走査方向にず
れることなく、画像記録が行えることになる。前記書出
し位置の制御は、レーザビームＬ１に対応する水平同期
信号の発生に対して、レーザビームＬ２に対応する水平
同期信号の発生を前記時間Ｔ７だけ遅らせるようにすれ
ば良い。

【００４５】また、前記時間Ｔ５，Ｔ６が、前記副走査
方向におけるずれ検出で説明したように、ディレイクロ
ックのカウント数及びクロック位相差として求められる
場合には、クロックのカウント数に基づいて水平同期信
号を調整し、クロック位相差として求められるずれ分
は、ディレイクロックdl０〜dl15からの各レーザビーム
Ｌ１，Ｌ２に対応させるドットクロックの選択によって
調整するようにしても良い。

【００４６】尚、上記の副走査方向及び主走査方向にお
けるずれ検出のために用いたセンサＡ〜Ｄの各検知領域
の形状や組み合わせは、図２に示したものに限定される
ものではなく、種々の変形態様が想定されることは明ら
かである。また、３つのレーザビームＬ１，Ｌ２，Ｌ３
を用いて３ラインを同時記録させる構成においても、例
えば２つのレーザビームＬ１，Ｌ２について前記同様に
副走査方向のずれ量を一対のセンサを用いて検出し、更
に、２つのレーザビームＬ１，Ｌ３についてずれ量を検
出すれることで、レーザビームＬ１の走査位置を基準と
したときの各レーザビームＬ２，Ｌ３の副走査方向のず
れ量を検出できるので、２つのレーザビームＬ１，Ｌ２
を用いる構成に限定されない。

【００４７】

【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明によると、光ビーム検知手段の取付け位置に誤差があ
っても、副走査方向におけるビーム間隔を精度良く検出
できるという効果がある。請求項２記載の発明による
と、角度の情報に基づいて主走査方向での検知位置のず
れ量を副走査方向におけるずれ量に変換することで、副
走査方向における光ビームの間隔を検出することができ
るという効果がある。

【００４８】請求項３記載の発明によると、光ビーム検
知手段の取付け角度の誤差によって、ビーム間隔が誤検
出されることを回避できるという効果がある。請求項４
記載の発明によると、光ビームの副走査方向における走
査位置のずれにより画像形成の忠実性が損なわれること
を回避できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の像露光系を示す斜視図。

【図２】インデックスセンサの詳細を示す図。

【図３】主，副走査方向における光軸ずれ検出を示すフ
ローチャート。

【図４】副走査方向におけるずれ検出を説明するための
図。

【図５】センサ角度取付け角度とビーム間隔との相関を
示す図。

【図６】クロックを用いた時間計測を説明するためのタ
イムチャート。

【図７】ずれの検出結果による光軸調整を示すブロック
図。

【図８】副走査方向の光軸ずれ検出を行う回路構成を示
すブロック図。

【図９】主走査方向におけるずれ検出の特性を説明する
ための図。

【符号の説明】

１ 光源ユニット １ａ，１ｂ 半導体レーザ ２ 集光レンズ ３ ポリゴンミラー ４ ｆθレンズ ５ 感光ドラム ６ インデックスセンサ ７ 反射鏡 11，12 フェイズ・ディテクター 13 ディジタル・ディレイライン 14 位相差演算部 15 クロックセレクタ 16 カウンタ 18，20 ラッチ回路 19 時間差演算部 21 ずれ演算部 31 ワンショット回路 Ａ〜Ｅ センサ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の光ビームにより記録媒体上を同時に
   主走査方向に平行に走査させて複数ラインを同時に記録
   する画像形成装置において、 前記主走査方向に並べて配設され、前記主走査方向に直
   交する副走査方向での光ビームの走査位置によって光ビ
   ームを検知する時間間隔が変化する複数の光ビーム検知
   手段と、 各光ビーム毎に前記複数の光ビーム検知手段それぞれで
   検知される時間間隔を計測する検知間隔計測手段と、 該検知間隔計測手段で計測された各光ビーム毎の時間間
   隔と、予め記憶された前記複数の光ビーム検知手段の取
   付け位置誤差の情報とに基づいて、各光ビーム相互の前
   記副走査方向における間隔を算出する副走査方向間隔算
   出手段と、 を含んで構成された画像形成装置の光ビームずれ検出装
   置。
2. 【請求項２】前記複数の光ビーム検知手段それぞれが、
   前記副走査方向において前記複数の光ビームの走査ライ
   ンを包含する光ビーム検知領域を有し、かつ、前記光ビ
   ーム検知領域の主走査方向始端側の端縁が相互に非平行
   である少なくとも一対の光ビーム検知手段を含んで構成
   されることを特徴とする請求項１記載の画像形成装置の
   光ビームずれ検出装置。
3. 【請求項３】前記副走査方向間隔算出手段における予め
   記憶された取付け位置誤差の情報が、前記相互に非平行
   である光ビーム検知領域の主走査方向始端側の端縁の角
   度情報であることを特徴とする請求項２記載の画像形成
   装置の光ビームずれ検出装置。
4. 【請求項４】前記副走査方向間隔算出手段で算出された
   間隔と、基準間隔との偏差に基づいて、前記複数の光ビ
   ームのうちの少なくとも１つの光ビームの副走査方向に
   おける走査位置を調整する副走査方向ずれ調整手段を設
   けたことを特徴とする請求項１〜３のいずれか１つに記
   載の画像形成装置の光ビームずれ検出装置。