JPH0768817A - グレーズドAlN基板およびその製造方法 - Google Patents

グレーズドAlN基板およびその製造方法

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JPH0768817A
JPH0768817A JP6164738A JP16473894A JPH0768817A JP H0768817 A JPH0768817 A JP H0768817A JP 6164738 A JP6164738 A JP 6164738A JP 16473894 A JP16473894 A JP 16473894A JP H0768817 A JPH0768817 A JP H0768817A
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sio
glass
aln
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Seiji Toyoda
誠司 豊田
Kunio Sugamura
邦夫 菅村
Hideaki Yoshida
秀昭 吉田
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Mitsubishi Materials Corp
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    • C04B41/00After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/009After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone characterised by the material treated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ガラス層の厚さに従属することなく、軟化点
の高いガラス層の高温焼成を可能にしたグレーズドAl
N基板を提供する。 【構成】 AlN焼結体11を所定雰囲気中1300℃
で熱酸化を行い、20μmの厚さの表面酸化層12を形
成する。Siアルコキシド、Ti等のアルコキシド溶液
を用いたディップコート法により、表面酸化層12上に
5.0μm厚のSiO2系層13を被着し、1100℃
にて焼成する。このSiO2系層13上に、スクリーン
印刷法にて、SiO2−B23−PbO−Al23−Z
nO等の組成のガラスペーストを印刷し、1300℃に
て焼成する。この焼成後のガラス層14の厚さは20μ
mである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、感熱記録装置のサーマ
ルヘッド、薄膜回路、厚膜回路等に用いて好適なグレー
ズドAlN(窒化アルミニウム)基板およびその製造方
法に関する。
【0002】
【従来の技術】セラミック基板の表面にガラスを薄くコ
ートし、凹凸をなくしたグレーズドセラミック基板は、
例えばプリンタのサーマルヘッドに用いられる。このサ
ーマルヘッドは、感熱記録方式において、感熱記録紙に
密着し、内蔵した発熱抵抗体の発熱によって記録を行う
ものである。また、薄膜ハイブリッドIC用の回路基板
は、高精度、低雑音等の特性が要求され、高周波装置が
搭載されるため、その表面が平滑であることが必要であ
る。よって上述のグレーズドセラミック基板が、薄膜回
路基板に広く使われている。さらに、厚膜回路基板にお
いてもその特性向上のためにグレーズドセラミック基板
が用いられることが多い。
【0003】このグレーズドセラミック基板の基板材と
して熱伝導率の比較的大きいAlN焼結体を用いると、
放熱特性の良好なグレーズドAlN基板が得られる。し
かし、このAlN焼結体上に、グレーズドAl23基板
に用いられているガラス、例えば、SiO2−Al23
−B23−CaO系の酸化物系ガラスを塗布、焼成した
場合、ガラス層が割れやすい。これはAlN焼結体とガ
ラス層との熱膨張係数差が大きいためである。この対策
として、AlN焼結体の熱膨張係数に近似した、比較的
熱膨張係数の小さいガラスを用いることが考えられる。
しかしながら、そのガラスを用いた場合、ガラス層表面
の平滑性が十分に確保できない。すなわち、一般に熱膨
張係数の小さいガラスほど軟化点が高いため、ガラス層
表面の平滑性を確保するには、高温で焼成する必要があ
る。しかし、高温で焼成すると、AlN焼結体とガラス
層との間での反応性が高くなるため、それらの界面で反
応が起こり、気泡が発生しやすい。その結果、ガラス層
表面には気泡の発生による膨れ等の凹凸が形成される。
そして、ガラス層表面の平滑性が損なわれてしまう。
【0004】このAlN焼結体とガラス層との間での反
応を防止したグレーズドAlN基板としては、AlN焼
結体の表面に、表面酸化層を介してSiO2層を形成
し、このSiO2層上にガラス層を被着させたものがあ
る。このSiO2層は、AlN焼結体とガラス層との間
の反応を防止する。そして、ガラス層の厚さに応じてS
iO2層の厚さを増していけば、上記反応も抑制するこ
とができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うなグレーズドAlN基板にあっては、ガラス層の厚さ
に応じてSiO2層を厚くしすぎると、その焼成過程に
おいて、SiO2層に収縮割れが生じてしまうという課
題があった。この割れが生じると、ガラス層の高温焼成
の際に、ガラス層のガラス成分がAlN焼結体まで浸透
し、AlN焼結体と激しく反応し、ガラス層に気泡が発
生する。その結果、このグレーズド基板用ガラス層の表
面が凹凸になり、その表面平滑性が悪くなる。すなわ
ち、グレーズドAlN基板のガラス層を厚くすると、高
温焼成が困難になり、表面平滑性も損なわれていた。
【0006】そこで、本発明の目的は、ガラス層の厚さ
に従属することなく、軟化点の高いガラス層の高温焼成
を可能にしたグレーズドAlN基板およびその製造方法
を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載した発明
は、AlN焼結体を準備する工程と、SiO2を主成分
としてアルカリ土類金属の酸化物を含み、軟化点が10
00℃以下のガラスのガラスペーストを準備する工程
と、AlN焼結体の表面を酸化して0.2〜20μmの
厚さの表面酸化層を形成する工程と、TiO2、Zr
2、および、ZnOから選ばれた酸化物を5〜50重
量%含み、残りがSiO2からなる混合物であって、そ
の厚さが0.1〜10μmのSiO2系層を、表面酸化
層上に形成する工程と、このSiO2系層上の一部もし
くは全体に、上記ガラスペーストを被着、焼成してガラ
ス層を軟化させることによってグレーズドAlN基板を
形成する工程とを含むグレーズドAlN基板の製造方法
であって、上記ガラス層は、SiO2、Al23、B2
3、および、MOを含み、その組成比は、SiO2:Al
23:B23:MO=30〜70重量%:10〜40重
量%:1〜10重量%:10〜40重量%であり、上記
MOは、MgO、CaO、SrO、BaO、ZnO、お
よび、PbOの群から選ばれた酸化物であるグレーズド
AlN基板の製造方法である。
【0008】請求項2に記載した発明は、上記AlN焼
結体の表面酸化は、酸素分圧が0.5atm以上で、水
蒸気分圧が10-3atm以下の雰囲気で行う請求項1に
記載のグレーズドAlN基板の製造方法である。
【0009】請求項3に記載した発明は、AlN焼結体
の表面に形成された表面酸化層と、この表面酸化層上に
形成されたSiO2系層と、このSiO2系層上に形成さ
れた結晶層と、この結晶層上に形成されたガラス層と、
を有するグレーズドAlN基板であって、上記表面酸化
層の厚さは0.2〜20μmであり、上記SiO2系層
は、TiO2、ZrO2、および、ZnOから選ばれた酸
化物と、SiO2との混合物であって、その酸化物の含
有率は5〜50重量%であり、そのSiO2の含有率
は、50〜95重量%であり、その層厚は0.1〜10
μmであり、上記ガラス層は、SiO2、Al23、B2
3、および、MOを含み、その組成比は、SiO2:A
23:B23:MO=30〜70重量%:10〜40
重量%:1〜10重量%:10〜40重量%であり、M
Oは、MgO、CaO、SrO、BaO、ZnO、およ
び、PbOの群から選ばれた酸化物である。
【0010】
【作用】本発明に係るグレーズドAlN基板の製造方法
では、まず、AlN焼結体の表面層を、例えば酸素分圧
が0.5atm以上で、水蒸気分圧が10-3atm以下
の雰囲気で、熱酸化する。この結果、AlN焼結体の表
面に0.2〜20μmの厚さの表面酸化層を形成する。
上記雰囲気のコントロールは表面酸化層を緻密に保持す
るためである。
【0011】そして、この表面酸化層上に、厚さが0.
1〜10μmのSiO2系層を形成する。SiO2系層
は、アルカリ土類金属の酸化物、例えばTiO2、Zr
2、および、ZnOから選ばれた酸化物を5〜50重
量%含み、残りがSiO2からなる混合物である。この
形成は、例えばディップコーティング法による。具体的
には、Siのアルコキシド溶液と、Ti、Zr、また
は、Znのアルコキシド溶液と、アルコールと、水との
混合溶液(懸濁液)に、表面酸化層を形成したAlN焼
結体を所定時間だけ浸積する。さらに、溶液からの引き
上げ後、AlN焼結体を乾燥し、焼成することにより、
表面酸化層上にSiO2系層を被着する。このSiO2
層とAlN焼結体との間に表面酸化層を介在させて、S
iO2系層とAlN焼結体との間の密着力を高めてい
る。なお、ディップコート法に代えてスピンコート法等
によってもよい。
【0012】そして、このSiO2系層上に、ガラスペ
ーストを例えばスクリーン印刷する。ガラスペーストの
組成は、SiO2を主成分とし、B23、PbO、Al2
3等を含み、さらに、ZnO、CaO、BaO、Mg
O、SrO等のアルカリ土類金属の酸化物を少なくとも
1種以上含む。そして、このガラスペーストのガラスの
軟化点は1000℃以下である。SiO2、Al23
軟化点を上昇させるのに対し、B23、PbOはこれを
降下させるものである。この印刷したガラス層を乾燥
し、脱脂し、例えば800〜1300℃で焼成する。こ
の結果、ガラス層とSiO2系層との間に結晶層が形成
されたグレーズドAlN基板を得ることができる。
【0013】この結晶層がバリア層となり、ガラス層中
のガラス成分がSiO2系層へ浸透することがない。よ
って、ガラス層のガラス成分がAlN焼結体と反応する
ことがない。さらに、AlN焼結体、表面酸化層、Si
2系層、結晶層、および、ガラス層の間で高い密着力
を得ることができる。このため、SiO2系層の層厚を
厚くしても割れが発生しない。したがって、このSiO
2系層上に、所定のガラス層を厚く形成し、高温焼成し
ても、ガラス層とAlN焼結体との反応を防止すること
ができる。よって、その厚さに影響されることなく、軟
化点の高いガラス層の高温焼成を可能にしている。この
ため、ガラス層の表面平滑性が向上する。
【0014】さらに、このガラス層の熱膨張係数は3.
4〜5.4×10-6/℃の範囲であり、AlN焼結体の
熱膨張係数に近くなる。PbO、MgO、CaO等の添
加量をコントロールして、ガラス層の熱膨張係数を制御
する。よって、ガラス層の熱膨張係数とAlN焼結体の
それとの差が小さくなる。この結果、焼成後のガラス層
の剥離またはガラス層の表面でのクラックや割れの発生
を防止することができる。よって、ガラス層の密着性、
基板の放熱特性、および、基板の表面平滑性に優れたサ
ーマルヘッド等に好適な回路基板が得られる。
【0015】
【実施例】以下に本発明の実施例について詳述する。図
1は本発明の第1実施例に係るグレーズドAlN基板を
示す断面図である。図2は第1実施例に係るグレーズド
AlN基板の製造方法を示すフローチャートである。
【0016】図1,2に示すように、第1実施例に係る
グレーズドAlN基板は、熱伝導率が160W/m・K
以上、熱膨張係数が4.4×10-6/℃程度のAlN焼
結体11を用いる。このAlN焼結体11の表面部には
表面酸化層12が形成され、この表面酸化層12の上の
全面にはSiO2系層13が被着されている。さらに、
このSiO2系層の上には、その一部または全面にガラ
ス層14が被覆、形成されている。AlN基板の用途に
応じてその一部にガラス層14を被覆する。そして、こ
のガラス層14の下部、すなわちSiO2系層13の表
面への接触部分には結晶層100が形成されている。
【0017】図2はこのグレーズドAlN基板の製造方
法の概略の工程を示している。すなわち、準備したAl
N焼結体11を熱酸化し、これにディップコーティング
によりSiO2系層13を被着する。そして、用意した
ガラスペーストをスクリーン印刷し、焼成する。この結
果、所望のグレーズドAlN基板が得られる。
【0018】表面酸化層12は、AlN焼結体11を、
例えば1100〜1500℃で酸素・水蒸気含有の雰囲
気{例えばP(O2)≧0.5atm,P(H2O)≦1
-3atm}中で加熱処理して形成される。換言する
と、表面酸化層12は、AlN焼結体11の酸化により
得られるAl23層を主成分としている。その層厚は
0.2〜20μmとする。この表面酸化層12は、Si
2系層13とAlN焼結体11との間の密着力を高め
ている。
【0019】この表面酸化層12上に、ディップコーテ
ィング法により、SiO2系層13を形成する。すなわ
ち、Siアルコキシド、Ti、Zr、または、Zn等の
アルコキシド、アルコール、水からなる溶液中に、Al
N焼結体をディップし、所定の引き上げ速度で引き上
げ、乾燥する(300℃、1時間)。なお、ゾル溶液中
に浸積してもよい。この後、このAlN焼結体を800
〜1100℃で1時間焼成する。このSiO2系層13
は、TiO2、ZrO2、および、ZnO等のアルカリ土
類金属の酸化物から選ばれたものと、SiO2との混合
物である。その酸化物の含有率は5〜50重量%であ
る。よって、残りの成分であるSiO2の含有率は、5
0〜95重量%である。このSiO2系層13中に含ま
れるTiO2、ZrO2、ZnO等の酸化物は、後述する
ガラス層14の結晶化を促進する。すなわち、Ti
2,ZrO2,ZnOは結晶層14の形成時、その結晶
核を形成するものであり、例えばAu,Pt等の酸化物
の微粒子(0.01〜1μm)を用いてもよい。また、
その層厚は0.1〜10μmとする。
【0020】このSiO2系層13上のガラス層14
は、ガラスペーストをスクリーン印刷し、乾燥、脱脂、
焼成工程を経て形成される。ガラスペースト用のガラス
は、SiO2、Al23、B23、および、MOを含
む。その組成比は、SiO2:Al23:B23:MO
=30〜70重量%:10〜40重量%:1〜10重量
%:10〜40重量%とする。上記MOは、MgO、C
aO、SrO、BaO、ZnO、および、PbOの群か
ら1または2以上が選ばれる。そして、これらの組成を
調整することにより、ガラスはその軟化点が1000℃
以下のもので、適切な熱膨張係数を持つものが使用され
る。また、ガラス層14のスクリーン印刷時の厚さは3
0μm以上である。
【0021】このガラス層14の形成方法は通常のグレ
ーズドセラミック基板の製造法に準ずる。例えば、ガラ
スペーストをSiO2系層13上にスクリーン印刷する
方法の他にも、プラスチックフィルムにガラスを塗布し
たシートをSiO2系層上に重ねる方法、ガラスの乳濁
液中へAlN基板をディップする方法等による。
【0022】これらの方法にてガラス層14を印刷、塗
布した基板を800℃〜1300℃の範囲のいずれかの
温度で焼成する。このとき、SiO2系層13中のTi
2、ZrO2、および、ZnOから選ばれた酸化物の作
用により焼成過程での結晶化が可能である。すなわち、
ガラス層14において、SiO2系層13に近い箇所が
結晶化し、ガラス層14とSiO2系層13との界面に
は、結晶層100が晶出する。また、AlN焼結体11
の表面酸化層12、SiO2系層13、結晶層100お
よびガラス層14の各界面が相溶し、これらの間に強固
な接着力を有するグレーズドAlN基板が得られる。
【0023】そして、この結晶層100がバリア層とな
り、ガラス層14中のガラス成分がSiO2層13へ浸
透することがない。よって、ガラス層14のガラス成分
がAlN焼結体11と反応することはない。このため、
SiO2系層13の層厚を厚くしても割れが発生しな
い。したがって、このSiO2系層13上に、ガラス層
14を厚く高温焼成しても、ガラス層14のガラス成分
とAlN焼結体11との反応を防止することができる。
よって、その厚さによって影響されることなく、軟化点
の高いガラス層14の高温焼成が可能になる。このた
め、ガラス層14の表面平滑性が向上する。
【0024】また、上記のように加える成分組成を調整
することで、ガラス層14の熱膨張係数は、3.4×1
-6〜5.4×10-6/℃の範囲にすることができる。
したがって、ガラス層14とAlN焼結体11の熱膨張
係数との差が小さくなるため、焼結後のガラス層14の
剥離またはガラス層14の表面でのクラックや割れの発
生を防止することができる。
【0025】なお、表面酸化層12の厚さを0.2μm
未満にすると、SiO2系層13のAlN焼結体11に
対する密着力が不十分となる。また、表面酸化層12の
厚さを20μmより厚くすると、グレーズドAlN基板
の熱放散性が低下する。
【0026】SiO2系層13のTiO2、ZrO2、お
よび、ZnOから選ばれた酸化物の含有率を50重量%
より多く、かつ、そのSiO2の含有率を50重量%未
満にすると、SiO2の量が少ないため、SiO2系層1
3と結晶層100との密着力が低下する。また、SiO
2系層13のTiO2、ZrO2、および、ZnOから選
ばれた酸化物の含有率を5重量%未満、かつ、そのSi
2微粒子の含有率を95重量%超にすると、焼成後の
SiO2系層13の表面に割れまたはクラックが発生す
る。さらに、SiO2系層13上のガラス層14の結晶
化が起こらないため、結晶層100を形成することがで
きない。このため、焼成過程で軟化ガラスたるガラス層
14のガラス成分がAlN焼結体11にまで浸透し、ガ
ラス層14の表面に膨れが発生する。
【0027】また、SiO2系層13の厚さが0.1μ
mより薄いときは、その層厚が薄いことに伴って、Si
2系層13中のSiO2成分の量が少なくなる。このた
め、ガラス層14およびAlN焼結体11の間の密着性
が高まらない。さらに、SiO2系層13中の上記酸化
物の量も少なくなるので、結晶層100の形成が不完全
になり、軟化ガラスたるガラス層14のガラス成分のA
lN焼結体11中への浸透、反応が進行し、ガラス層1
4の表面に膨れが生じる。また、SiO2系層13の厚
さが10μmより厚いときは、グレーズドAlN基板の
熱放散性が低下する。
【0028】なお、SiO2系層13中に、金、銀、白
金、銅等の貴金属粒子、または、五酸化二リン、三酸化
二ヒ素等の酸化物粒子、フッ化カルシウム等のフッ化物
粒子を添加してもガラス層14の結晶化の機能を有す
る。
【0029】また、ガラス層14の組成が上記限定範囲
を外れるときは、ガラスの熱膨張係数が3.4×10-6
/℃未満、あるいは、5.4×10-6/℃を超えるた
め、AlN焼結体11上にガラス層14を形成した場
合、ガラス層14の剥離やガラス層14表面でのクラッ
クや割れが生じる。
【0030】また、ガラス層14のSiO2、Al
23、MgO、CaO、SrO、および、BaOの各割
合が増大すると、ガラスの軟化点が上昇する。そのた
め、所定の温度、例えば1200〜1400℃で焼成を
行っても、ガラスの粘性が高く、粘性流動を利用したガ
ラス層14表面の平滑化ができない。さらに、PbOの
割合が増えると、ガラスの熱膨張係数が増大する。その
結果、ガラス層14表面にクラックや割れが生じる。ま
た、B23の割合が増えると、ガラスの分相が起こり、
均一なガラス層14が得られない。
【0031】次に、本実施例の第1具体例を説明する。
この具体例では、6枚のAlN焼結体を50×50×
0.8mm3の直方体の形状にそれぞれ切り出す。そし
て、1300℃で熱酸化を行って、4.5〜5.0μm
の厚さのAl23表面酸化層をそれぞれ形成する。
【0032】次に、各Al23表面酸化層上にSiO2
系層を形成する。このSiO2系層の形成方法は、これ
らのAlN焼結体を第1の混合液、第2の混合液または
第3の混合液に2枚ずつディップする。
【0033】この第1の混合液の成分は、エチルシリケ
ート、エチルアルコール、チタニウム・テトラ・イソ・
プロポキシド、イソプロピル・アルコール、および、
0.3%HCl水溶液である。この第1の混合液の各成
分の質量比は、エチルシリケート:エチルアルコール:
チタニウム・テトラ・イソ・プロポキシド:イソプロピ
ル・アルコール:0.3%HCl水溶液=310g:5
30g:36g:60g:54gである。
【0034】また、第2の混合液の成分は、エチルシリ
ケート、エチルアルコール、ジルコニウム・テトラ・ブ
トキシド、オキソブタン酸エチル、イソプロピル・アル
コール、および、0.3%HCl水溶液である。この第
2の混合液の各成分の質量比は、エチルシリケート:エ
チルアルコール:ジルコニウム・テトラ・ブトキシド:
オキソブタン酸エチル:イソプロピル・アルコール:
0.3%HCl水溶液=310g:530g:31g:
21g:46g:54gである。
【0035】さらに、第3の混合液の成分は、エチルシ
リケート、エチルアルコール、塩化亜鉛、および、0.
3%HCl水溶液である。この第3の混合液の各成分の
質量比は、エチルシリケート:エチルアルコール:塩化
亜鉛:0.3%HCl水溶液=280g:480g:1
6.8g:45gである。
【0036】そして、AlN焼結体をこれらの混合液中
にディップした後、乾燥し、大気雰囲気中で、1250
℃にて30分間、焼成する。この結果、各表面酸化層1
2上には、SiO2系層、詳しくはSiO2−TiO2
層、SiO2−ZrO2層またはSiO2−ZnO層が成
膜される。このとき、SiO2系層の厚さはそれぞれ
0.5μmである。
【0037】次に、焼成後の各SiO2系層上に、スク
リーン印刷法にて、所定のガラスペーストを印刷し、所
定温度(800〜1300℃)でそれぞれ焼成する。こ
の結果、各SiO2系層上に40μmの厚さのガラス層
がそれぞれ形成される。この結果、SiO2系層とガラ
ス層との界面には結晶層が晶出する。このときのガラス
層の化学組成およびその重量比、その焼成温度、結晶層
の組成、および、ガラス層の表面粗さ(Ra)を表1に
示す。
【0038】
【表1】
【0039】なお、構造1−1aおよび構造1−1bの
ものは、第1の混合液を用いたものである。すなわち、
SiO2−TiO2系層を積層したものである。また、構
造1−2aおよび構造1−2bのものは、第2の混合液
を用い、SiO2−ZrO2系層を形成したものである。
さらに、構造1−3aおよび構造1−3bのものは、第
3の混合液を用い、SiO2−ZnO系層を被着してい
る。
【0040】このような構造の各グレーズドAlN基板
について、結晶層とSiO2系層との界面の状態および
ガラス層の表面性状を評価した。この評価は、SEMを
用いて、これらの断面および表面を観察した。この結
果、全ての構造のグレーズドAlN基板において、軟化
ガラスたるガラス層のガラス成分がAlN焼結体中に浸
透している様子はなかった。また、ガラス層中に気泡の
存在も認められなかった。さらに、ガラス層の表面には
気泡の発生による膨れ等の凹凸はなかった。同様にガラ
ス層の表面平滑性も表面粗さ計を用いて評価した。この
結果、上記の表1に示すように、表面粗さ(Ra)=
0.05〜0.07μmという良好な結果が得られた。
以上の結果より、本発明の第1具体例に係るグレーズド
AlN基板は、サーマルヘッド、薄膜ハイブリッドIC
回路基板および厚膜ハイブリッドIC回路基板等に使用
すると良好な特性を示すものである。
【0041】次に、この実施例の第2具体例を説明す
る。この第2具体例は、SiO2系層の形成方法をスピ
ンコーティング法に変更した以外、上記第1具体例のも
のと同じである。このスピンコーティング法は、表面酸
化層を形成したAlN焼結体を500rpmの速度で回
転させながら、上記第1具体例で用いた3種類の混合液
を表面酸化層上に滴下し、SiO2系層の焼成・成膜を
それぞれ行ったものである。
【0042】この第2具体例にあっても、作製した各グ
レーズドAlN基板について、その断面状態およびその
表面(ガラス層の表面)の平滑性を評価した。SEM観
察の結果、各グレーズドAlN基板のガラス層のガラス
成分がSiO2系層、Al23酸化層、AlN焼結体の
基板中に浸透している様子はなかった。また、各ガラス
層中に気泡の存在も認められなかった。さらに、各ガラ
ス層の表面には気泡の発生による膨れ等の凹凸はなかっ
た。同様にガラス層の表面平滑性も表面粗さ計の評価の
結果、Ra=0.05〜0.07μmという良好な結果
が得られた。
【0043】次に、この実施例の第3具体例を説明す
る。この第3具体例は、SiO2系層の形成方法を高周
波スパッタリング法に変更した以外、上記第2具体例の
ものと同じである。この高周波スパッタリング法は、3
種類のターゲット材を用いて、Al23酸化層を形成し
たAlN焼結体を10rpmの速度で回転させ、電力:
100Wの条件で所定時間スパッタリングを行い、3種
類のSiO2系層を各表面酸化層上にそれぞれ成膜する
ものである。ターゲット材は、純度99%の石英ガラス
および酸化チタンを所定量混合した粉末から製造された
もの、純度99%の石英ガラスおよび酸化ジルコニウム
を所定量混合した粉末から製造されたもの、または、純
度99%の石英ガラスおよび酸化亜鉛を所定量混合した
粉末から製造されたものである。
【0044】この第3具体例にあっても、作製した各グ
レーズドAlN基板について、その断面状態およびその
表面(ガラス層の表面)の平滑性を評価した。SEM観
察の結果、各グレーズドAlN基板のガラス層のガラス
成分がSiO2系層、Al23酸化層、AlN焼結体の
基板中に浸透している様子はなかった。また、各ガラス
層中に気泡の存在も認められなかった。さらに、各ガラ
ス層の表面には気泡の発生による膨れ等の凹凸はなかっ
た。同様にガラス層の表面平滑性も表面粗さ計の評価の
結果、Ra=0.05〜0.07μmという良好な結果
が得られた。
【0045】さらに、この実施例にあっては、上記第1
〜第3具体例に限られず、SiO2系層中に、平均粒径
0.01〜1μmの金、銀、白金、銅等の貴金属粒子、
または、五酸化二リン、三酸化二ヒ素等の酸化物粒子、
フッ化カルシウム等のフッ化物粒子を5〜50重量%添
加した場合においても、上記第1〜第3具体例と同等の
良好な結果を得ることができる。
【0046】
【発明の効果】本発明によれば、基板材としてAlN焼
結体を用いているので、放熱特性が優れている。また、
AlN焼結体の表面層として表面酸化層を介在させるこ
とにより、その上に積層するSiO2系層とAlN焼結
体との密着力を高めることができる。また、SiO2
層の層厚を厚くしても割れが発生しない。さらに、この
SiO2系層上に結晶層を介在させているので、ガラス
層を厚く形成し高温焼成しても、ガラス層とAlN焼結
体との間の反応を防止することができる。よって、ガラ
ス層の厚さに影響されず、軟化点が高いガラス層の高温
焼成を可能にするものである。その表面平滑性も良好で
ある。この結果、サーマルヘッド等に好適な回路基板が
得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るグレーズドAlN基板の第1実施
例を示す断面図である。
【図2】本発明の第1実施例に係るグレーズドAlN基
板の製造方法を示すフローチャートである。
【符号の説明】
11 AlN焼結体 12 表面酸化層(Al23層) 13 SiO2系層 14 ガラス層 100 結晶層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05K 1/03 B 7011−4E // H01L 27/01 311 49/00 A

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 AlN焼結体を準備する工程と、 SiO2を主成分としてアルカリ土類金属の酸化物を含
    み、軟化点が1000℃以下のガラスのガラスペースト
    を準備する工程と、 AlN焼結体の表面を酸化して0.2〜20μmの厚さ
    の表面酸化層を形成する工程と、 TiO2、ZrO2、および、ZnOから選ばれた酸化物
    を5〜50重量%含み、残りがSiO2からなる混合物
    であって、その厚さが0.1〜10μmのSiO2系層
    を、表面酸化層上に形成する工程と、 このSiO2系層上の一部もしくは全体に、上記ガラス
    ペーストを被着、焼成してガラス層を軟化させることに
    よってグレーズドAlN基板を形成する工程とを含むグ
    レーズドAlN基板の製造方法であって、 上記ガラス層は、SiO2、Al23、B23、およ
    び、MOを含み、その組成比は、SiO2:Al23
    23:MO=30〜70重量%:10〜40重量%:
    1〜10重量%:10〜40重量%であり、上記MO
    は、MgO、CaO、SrO、BaO、ZnO、およ
    び、PbOの群から選ばれた酸化物であるグレーズドA
    lN基板の製造方法。
  2. 【請求項2】 上記AlN焼結体の表面酸化は、酸素分
    圧が0.5atm以上で、水蒸気分圧が10-3atm以
    下の雰囲気で行う請求項1に記載のグレーズドAlN基
    板の製造方法。
  3. 【請求項3】 AlN焼結体の表面に形成された表面酸
    化層と、 この表面酸化層上に形成されたSiO2系層と、 このSiO2系層上に形成された結晶層と、 この結晶層上に形成されたガラス層と、を有するグレー
    ズドAlN基板であって、 上記表面酸化層の厚さを0.2〜20μmとし、 上記SiO2系層は、TiO2、ZrO2、および、Zn
    Oから選ばれた酸化物と、SiO2との混合物からな
    り、その酸化物の含有率が5〜50重量%、SiO2
    含有率が50〜95重量%であり、その層厚を0.1〜
    10μmとし、 上記ガラス層は、SiO2、Al23、B23、およ
    び、MOを含み、その組成比は、SiO2:Al23
    23:MO=30〜70重量%:10〜40重量%:
    1〜10重量%:10〜40重量%であり、MOは、M
    gO、CaO、SrO、BaO、ZnO、および、Pb
    Oの群から選ばれた酸化物であることを特徴とするグレ
    ーズドAlN基板。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017002566A1 (ja) * 2015-06-30 2017-01-05 アオイ電子株式会社 配線基板およびサーマルヘッド

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017002566A1 (ja) * 2015-06-30 2017-01-05 アオイ電子株式会社 配線基板およびサーマルヘッド
JP2017013334A (ja) * 2015-06-30 2017-01-19 アオイ電子株式会社 配線基板およびサーマルヘッド
CN107709021A (zh) * 2015-06-30 2018-02-16 青井电子株式会社 配线基板和热敏头
CN107709021B (zh) * 2015-06-30 2019-09-13 青井电子株式会社 配线基板和热敏头

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