JPH0758078A - ウエットエッチング処理装置 - Google Patents

ウエットエッチング処理装置

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JPH0758078A
JPH0758078A JP20501593A JP20501593A JPH0758078A JP H0758078 A JPH0758078 A JP H0758078A JP 20501593 A JP20501593 A JP 20501593A JP 20501593 A JP20501593 A JP 20501593A JP H0758078 A JPH0758078 A JP H0758078A
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JP
Japan
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cassette
wafer
nitrogen
etching
tank
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JP20501593A
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English (en)
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Masafumi Iwashita
雅文 岩下
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electronics Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウエハ全面にエッチング液を接しさせて、ウ
エハを均一にエッチングする。 【構成】 エッチング液11としての燐酸をオーバーフ
ロー槽1に入れる。その外槽の燐酸を、吐出口7から循
環用配管5を通じてポンプ3で内槽へ循環させる。燐酸
をヒーター6で熱して、温度コントローラー10で所定
の温度に保持する。設定温度となったところで、ウエハ
13をセットしたカセット14を槽内に入れる。このカ
セット14を分散板2のカセット固定枠21上に置く
と、ウエハ突き上げ板14によってウエハ13が持ち上
がり、エッチング液がカセットの洗浄窓よりカセット1
4内に容易に流れ込む。また、窒素17をバブラー15
を通じて槽の底部より内槽全体に均一にバブリングす
る。この窒素でウエハ13を揺動させることで、その全
面にエッチング液11が確実に接する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置等の製造に
使用されるウエットエッチング処理装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】従来、素子分離工程で使用するシリコン
窒化膜をエッチング除去するために熱燐酸が用いられて
いる。熱燐酸を用いたシリコン窒化膜のエッチングでは
高温ウエットエッチング処理装置が使われている。この
装置のエッチング槽に、ウエハをセットしたカセットを
投入して、そのエッチングをする。
【0003】以下、従来のウエットエッチング処理につ
いて説明する。図4は従来のウエットエッチング処理装
置の概略図である。図4において、1はオーバーフロー
槽、2は分散板、3はポンプ、4はフィルター、5は循
環用配管、6はヒーター、7は吐出口、8は純水、9は
純水用配管、10は温度コントローラー、11はエッチ
ング液、12はカセット、13はウエハである。
【0004】この高温ウエットエッチング処理装置にお
いて、2つのカセット12が入るオーバーフロー槽1の
外槽のエッチング液11を、循環用配管5を通してポン
プ3で取り出し、フィルター4で異物を除去した後、吐
出口7から内槽へと循環させる。この吐出口7は内槽の
中央の位置にある。エッチング液11はヒーター6で加
熱して、温度コントローラー10で所定の温度に調節す
る。
【0005】この装置を所望の温度に設定した後、ウエ
ハ13をセットしたカセット12を内槽の分散板2上に
配置して、エッチングをする。
【0006】燐酸は加熱するとその水分が蒸発するの
で、純水8を純水用配管9を通してオーバーフロー槽1
に補給する。
【0007】図5はウエットエッチング処理装置のウエ
ハのカセット拡大図である。図中の斜線部は、ウエハ1
3と、カセット12のウエハ保持用の溝との接触部分で
ある。また、図中の矢印はウエットエッチングを行った
時のエッチング液11の侵入経路を示す。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述のごとき従来のウ
エットエッチング処理装置では、カセット12を槽内の
分散板2上に置くだけであるので、ウエハ13の、カセ
ット12のウエハ保持用溝部分との接触部分が、エッチ
ング液に接しにくくなり、エッチングが不均一になって
しまう。特に2つのカセット12が入るエッチング槽で
は、吐出口7から離れた位置にあるウエハ13は、エッ
チング液11の流れが弱くなるので、エッチングされに
くい。
【0009】本発明は、上記従来の課題を解決するもの
で、カセットにセットしたウエハ全面をエッチング液に
浸すためのウエットエッチング処理装置を提供すること
を目的とするものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のウエットエッチング処理装置は、オーバーフ
ロー槽と、槽内のエッチング液を循環させるポンプと、
槽内のエッチング液を一定温度に加熱するヒーターと、
前記温度を制御する温度コントローラーと、槽内の底部
内に設けられた分散板にカセットを固定する枠と、前記
槽内のエッチング液を窒素でバブリングするバブラーを
備えている。
【0011】また、前記槽内のエッチング液のバブリン
グが、自動弁を有するタイマー付き窒素供給装置によっ
て制御されている。
【0012】また、前記槽内のエッチング液を窒素バブ
リングするバブラーが、2対に並べられ、その2対の間
隔が前記カセット内のウエハの直径とほぼ同じ幅であ
る。
【0013】さらに、前記バブラーが、石英の直管で構
成されており、前記窒素を出す孔が直径1〜2mmであ
る。
【0014】
【作用】上記構成によれば、カセットのウエハ保持用溝
部分に沿って持ち上げるための固定部を備えているた
め、カセットのウエハ保持用溝部分に沿ってウエハを持
ち上げることができる。このため、エッチング液がカセ
ット洗浄窓よりカセット内部へ流れ込みやすくなる。さ
らに、バブラーによりウエハの下から窒素をバブリング
することにより、ウエハが揺動する。このため、ウエハ
全面がエッチング液に接するようになり、均一にエッチ
ングできる。
【0015】また、槽内のエッチング液のバブリング
を、自動弁を有するタイマー付き窒素供給装置を用い
て、一定の時間間隔に行うことによって、エッチング液
の温度の低下を生じさせないようにする。
【0016】また、槽内のエッチング液を窒素バブリン
グするバブラーを2対使用し、その2対の間隔を処理す
べきウエハの直径と同じか、またはそれより数cm短く
しておくことによって、カセットのウエハ保持用溝部分
との接触部分をバブリングすることができる。
【0017】また、バブラーを石英の直管とし、それか
ら窒素を吐出する孔の位置を直管の真下とすることによ
って、バブラー内のエッチング液を完全に抜くことがで
きる。
【0018】
【実施例】本発明の一実施例の高温ウエットエッチング
処理装置について、図面を参照して説明する。図1はそ
の概略図である。図1において、1は2カセットを入れ
るオーバーフロー槽、2はオーバーフロー槽1の底部に
付設した分散板、3はポンプ、4はフィルター、5は循
環用配管、6はヒーター、7はオーバーフロー槽1の内
槽底部の吐出口、8は純水、9は純水用配管、10は温
度コントローラー、11はエッチング液、12はカセッ
ト、13はウエハ、14は分散板2に設置したウエハ突
き上げ板、15はバブラー、16は窒素用配管、17は
窒素、18は窒素供給装置、19は電磁弁、20はタイ
マーである。
【0019】図2(a)は本実施例における分散板2の
平面図であり、図2(b)はそのa−a線に沿った断面
図である。図2において、21はカセット固定枠であ
る。
【0020】まず、エッチング液11として燐酸を用い
オーバーフロー槽1に入れる。オーバーフロー槽1の外
槽の燐酸を、循環用配管5を通じてポンプ3で取り出
し、燐酸中の異物をフィルター4で取り除き、吐出口7
から内槽へ循環させる。燐酸はヒーター6により加熱さ
れ、温度コントローラー10で所定の温度に保持する。
燐酸を加熱すると、その水分が蒸発するので、純水8を
純水用配管9を通じて補給する。燐酸が設定温度となっ
たところで、槽内にウエハ13をセットしたカセット1
2を投入する。このカセット12を分散板2のカセット
固定枠21に固定すると、ウエハ突き上げ板14によっ
てウエハ13が持ち上がる。ウエハ13が持ち上がるこ
とによって、ポンプ3で循環するエッチング液11が、
カセット12の洗浄窓(後述)からカセット12内に容
易に流れ込む。また、バブラー15を通じて、窒素17
を槽の底部より内槽全体に均一にバブリングする。この
窒素17でウエハ13を揺動させる。
【0021】窒素供給装置18は、電磁弁19とタイマ
ー20を備え、バブラー15との間に接続されている。
窒素供給装置18は、タイマー20により一定の時間間
隔で電磁弁19を開閉して、窒素17を供給する。この
ように窒素を一定間隔で供給することにより、エッチン
グ液11の温度の低下を防ぐことができる。また、窒素
の使用量を削減することもできる。
【0022】図3(a)はバブラー15をエッチング槽
に設置した状態を示す平面図、同図(b)はその断面
図、図3(c)は要部断面図である。図3において、2
2はカセットの洗浄窓である。バブラー15は、石英直
管が2対に並んだ構造とし、その間隔を処理すべきウエ
ハ13の直径と同じか、あるいは数cm短くしておく。
それを洗浄窓22のあるカセット12の下に設置してお
く。バブラー15から出た窒素は洗浄窓22を通って、
カセット12のウエハ保持用溝部分とウエハ13との接
触部分を通る。これによって、ウエハ13が揺動し、ウ
エハ13全面がエッチング液11に接するので均一にエ
ッチングすることができる。
【0023】また、バブラー15の石英直管で窒素を出
す孔23は、図3(c)に示すように直管の真下に位置
させる。この孔23の直径は1〜2mmである。この構
造によって、バブラー15内のエッチング液11を完全
に抜くことができる。
【0024】膜厚160nmのシリコン窒化膜をもつウ
エハ13を、2つのカセット12に14枚均等に入れ、
温度150℃の燐酸を用いてエッチングを90分間行っ
たところ、エッチング残りが全くなく、ウエハ全面を均
一にエッチングすることができた。同じ条件で、従来の
装置を使用して実験したところ、図5の斜線部分にエッ
チング残りが14枚中6枚見られた。
【0025】以上述べたように本実施例によれば、窒素
を一定間隔で供給することができ、エッチング液11の
温度の低下を防ぐことができる。また、窒素の使用量を
削減することができる。また、ウエハの、カセット12
の、ウエハ保持用の溝部分との接触部分をバブリングす
ることができ、カセット12のウエハ保持用溝部分とウ
エハ13との間にもエッチング液11が入り込むので、
エッチング残りをなくすことができる。さらにまた、バ
ブラー15内のエッチング液11を完全に抜くことがで
き、液交換の際に不純物を排出することができる。
【0026】
【発明の効果】本発明のウエット処理装置によれば、カ
セットのウエハ保持用溝部分に沿ってウエハを持ち上げ
るためカセットの洗浄窓よりエッチング液がカセット内
に流れ込みやすくなる。また、窒素バブリングにより、
ウエハを揺動させることにより、ウエハ全面がエッチン
グ液に接するようになる。このため、エッチング残りが
なく、ウエハ全面を均一にエッチングすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における高温ウエット処理装置
の概略図
【図2】(a)は図1に示した実施例における分散板の
平面図 (b)はそのa−a線に沿った断面図
【図3】(a)は図1に示した実施例においてバブラー
を設置した状態を示す平面図 (b)はその断面図 (c)は要部断面図
【図4】従来の高温ウエットエッチング処理装置の概略
【図5】従来の高温ウエットエッチング処理装置のウエ
ハカセット拡大図
【符号の説明】
1 オーバーフロー槽 2 分散板 3 ポンプ 4 フィルター 5 循環用配管 6 ヒーター 7 吐出口 8 純水 9 純水用配管 10 温度コントローラー 11 エッチング液 12 カセット 13 ウエハ 14 ウエハ突き上げ板 15 バブラー 16 窒素用配管 17 窒素 18 窒素供給装置 19 電磁弁 20 タイマー 21 カセット固定枠 22 洗浄窓 23 孔

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オーバーフロー槽と、前記槽内のエッチ
    ング液を循環するポンプと、前記槽内のエッチング液を
    一定温度に加熱するヒーターと、前記温度を制御する温
    度コントローラーと、前記槽内の底部内に設けられた分
    散板にカセットを固定する枠と、前記槽内のエッチング
    液を窒素でバブリングするバブラーとを備えたことを特
    徴とするウエットエッチング処理装置。
  2. 【請求項2】 前記槽内のエッチング液のバブリング
    が、自動弁を有するタイマー付き窒素供給装置によって
    制御されていることを特徴とする請求項1記載のウエッ
    トエッチング処理装置。
  3. 【請求項3】 前記槽内のエッチング液を窒素バブリン
    グするバブラーが、2対に並べられ、その2対の幅が前
    記カセット内のウエハの直径とほぼ同じ幅であることを
    特徴とする請求項1記載のウエットエッチング処理装
    置。
  4. 【請求項4】 前記バブラーが、石英の直管で構成され
    ており、前記窒素を出す孔が直径1〜2mmであること
    を特徴とする請求項1記載のウエットエッチング処理装
    置。
JP20501593A 1993-08-19 1993-08-19 ウエットエッチング処理装置 Pending JPH0758078A (ja)

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