JPH0750314A - 半導体装置とそのワイヤボンディング方法 - Google Patents

半導体装置とそのワイヤボンディング方法

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JPH0750314A
JPH0750314A JP5215080A JP21508093A JPH0750314A JP H0750314 A JPH0750314 A JP H0750314A JP 5215080 A JP5215080 A JP 5215080A JP 21508093 A JP21508093 A JP 21508093A JP H0750314 A JPH0750314 A JP H0750314A
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wire
electrode pad
wires
inner lead
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Hirotake Sunaguchi
洋毅 砂口
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体チップ上の電極パッドの間隔を従来よ
り狭めた場合でも、ワイヤ同士の接触を防止できるよう
にする。 【構成】 電極パッド2側を第1ボンドとしインナリー
ド3側を第2ボンドとして接続したワイヤ4と、電極パ
ッド2側を第2ボンドとしインナリード3側を第1ボン
ドとして接続したワイヤ4とを、インナリード3の配列
方向に沿って交互に配置した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体チップ上に形成
された電極パッドと半導体チップの周辺に配列されたイ
ンナリードとをワイヤにて接続してなる半導体装置とそ
のワイヤボンディング方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図4は、従来の半導体装置を説明する要
部斜視図である。図において、半導体チップ1の上面に
は複数の電極パッド2が一定の間隔で形成されている。
また、半導体チップ1の周辺には外部引出用端子として
のインナリード3が上記電極パッド2の各々に対応して
配列されている。そして、半導体チップ1上の電極パッ
ド2とその周辺に配置されたインナリード3とは、極細
のワイヤ4によって接続されている。
【0003】ところで、従来における半導体装置のワイ
ヤボンディング方法では、一般的に、半導体チップ1上
の電極パッド2側を第1ボンドとし、その周辺のインナ
リード3側を第2ボンドとした正ボンディングを、チッ
プ端から順にインナリード3の配列方向に沿って行って
いた。よって、当然のことながら、半導体チップ1上の
電極パッド2側では全てボールボンドが行われ、相対す
るインナリード3側では全てステッチボンドが行われて
いた。このため、ワイヤ4の立ち上がり部分は、全て半
導体チップ1側に配置されていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の半導体装置では、近年のファインピッチ化や多ピン化
などへの対応として、半導体チップ1上の電極パッド2
の間隔を狭くすると、ワイヤボンディング時のループ曲
がりや、モールド成形時の樹脂圧によるワイヤ流れ等に
よってワイヤ4に傾きが生じた際、ワイヤ4の立ち上が
り部分でワイヤ4同士が接触してしまうという問題があ
った。
【0005】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたもので、半導体チップ上の電極パッドの間隔を従来
より狭めた場合であっても、ワイヤ同士の接触を防止す
ることができる半導体装置とそのワイヤボンディング方
法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するためになされたもので、半導体チップ上に形成さ
れた電極パッドと半導体チップの周辺に配列されたイン
ナリードとをワイヤにて接続してなる半導体装置におい
て、電極パッド側を第1ボンドとしインナリード側を第
2ボンドとして接続されたワイヤと、電極パッド側を第
2ボンドとしインナリード側を第1ボンドとして接続さ
れたワイヤとが、インナリードの配列方向に沿って交互
に配置されているものである。
【0007】また、半導体チップ上に形成された電極パ
ッドと半導体チップの周辺に配列されたインナリードと
をワイヤにて接続する半導体装置のワイヤボンディング
方法において、電極パッド側を第1ボンドとしインナリ
ード側を第2ボンドとしてワイヤを接続する正ボンディ
ングと、電極パッド側を第2ボンドとしインナリード側
を第1ボンドとしてワイヤを接続する逆ボンディングと
を、インナリードの配列方向に沿って交互に行うように
したものである。
【0008】
【作用】本発明の半導体装置においては、正ボンディン
グによって接続されたワイヤと、逆ボンディングによっ
て接続されたワイヤとが、インナリードの配列方向に沿
って交互に配置されているため、従来よりもワイヤの立
ち上がり部分の間隔が広く確保されるようになる。ま
た、本発明のワイヤボンディング方法においては、イン
ナリードの配列方向に沿って正ボンディングと逆ボンデ
ィングとを交互に行うことで、ワイヤボンディングにお
けるキャピラリの移動距離が従来よりも短くなる。
【0009】
【実施例】図1は、本発明に係わる半導体装置を説明す
る要部斜視図である。図において、半導体チップ1の上
面には複数の電極パッド2が所定のピッチで形成されて
いる。また、半導体チップ1の周辺には外部引出用端子
としてのインナリード3が上記電極パッド2に対応して
配列されている。そして、半導体チップ1上の電極パッ
ド2とその周辺に配置されたインナリード3とは、極細
のワイヤ4によって接続されている。
【0010】ここで本実施例の半導体装置においては、
半導体チップ1上の電極パッド2側を第1ボンドとし、
その周辺のインナリード3側を第2ボンドとしたワイヤ
4と、その反対に電極パッド2側を第2ボンドとし、イ
ンナリード3側を第1ボンドとしたワイヤ4とが、イン
ナリード3の配列方向に沿って交互に配置されている。
すなわち、電極パッド2とインナリード3のいずれの側
においても、ボールボンドによる圧着ボール4aとステ
ッチボンドによるクレセント(三日月部分)4bとが、
電極パッド2やインナリード3の配列方向に沿って交互
に配置されている。
【0011】次に、本実施例の半導体装置のワイヤボン
ディング方法について図2を参照しながら説明する。ま
ず、図示せぬキャピラリの先端に形成したボールを、チ
ップ端に配置された電極パッド2上にボールボンドによ
り圧着する。次に、所定のループ形状を描きながらキャ
ピラリをインナリード3側に移動して、ワイヤ4の一端
をインナリード3上にステッチボンドにより圧着する。
続いて、隣接するインナリード3側にキャピラリを移動
して、キャピラリの先端に形成したボールをボールボン
ドによりインナリード3上に圧着する。次いで、所定の
ループ形状を描きながらキャピラリを電極パッド2側に
移動して、ワイヤ4の一端を電極パッド2上にステッチ
ボンドにより圧着する。以下、上記同様の手順にしたが
ってキャピラリを図中矢印で示すように移動させなが
ら、電極パッド2とインナリード3とをワイヤ4にて接
続していく。
【0012】以上述べたように、まず本実施例の半導体
装置においては、正ボンディングによって接続されたワ
イヤ4と、逆ボンディングによって接続されたワイヤ4
とが、インナリード3の配列方向に沿って交互に配置さ
れているため、図3に示すように、半導体チップ1側に
おけるワイヤ4の立ち上がり部分の間隔Lが電極パッド
2の間隔Pのほぼ2倍となり、しかもインナリード3側
においてはそのリード間隔が電極パッド2の間隔Pより
も広く確保されることから、その分だけワイヤ4の立ち
上がり部分の間隔Lが半導体チップ1側以上に確保され
るため、ワイヤボンディング時のループ曲がりやモール
ド成形時のワイヤ流れ等によってワイヤが図中一点破線
で示すように傾いた場合でも、ワイヤ4同士の接触が起
こり難くなる。
【0013】また、本実施例のワイヤボンディング方法
では、半導体チップ1上の電極パッド2側を第1ボンド
とし、その周辺のインナリード3側を第2ボンドとして
ワイヤ4を接続する正ボンディングと、その反対に電極
パッド2側を第2ボンドとし、インナリード3側を第1
ボンドとしてワイヤ4を接続する逆ボンディングとを、
インナリード3の配列方向に沿って交互に行うようにし
たので、従来のように1本のワイヤ4を接続するたびに
キャピラリを電極パッド2とインナリード3間で移動さ
せる場合に比べて、キャピラリの移動距離が短くなる。
【0014】
【発明の効果】以上、説明したように本発明の半導体装
置によれば、正ボンディングによって接続されたワイヤ
と、逆ボンディングによって接続されたワイヤとが、イ
ンナリードの配列方向に沿って交互に配置されているた
め、従来よりもワイヤの立ち上がり部分の間隔が広く確
保され、これにより種々の要因によってワイヤの倒れが
生じた場合でも、ワイヤ同士の接触が起こり難くなる。
その結果、従来よりも電極パッドの間隔を狭めた場合で
あっても、ワイヤ同士の接触が確実に防止されるように
なるため、さらなる多ピン化並びにファインピッチ化へ
の対応が実現可能となる。
【0015】また、本発明のワイヤボンディング方法に
おいては、インナリードの配列方向に沿って正ボンディ
ングと逆ボンディングとを交互に行うことにより、キャ
ピラリの移動距離が従来よりも短くなるため、ワイヤボ
ンディング工程での効率アップが図られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる半導体装置を説明する要部斜視
図である。
【図2】本発明に係わる半導体装置のワイヤボンディン
グ方法を説明する要部平面図である。
【図3】半導体チップ上におけるワイヤの高さ関係を説
明する図である。
【図4】従来の半導体装置を説明する要部斜視図であ
る。
【符号の説明】
1 半導体チップ 2 電極パッド 3 インナリード 4 ワイヤ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップ上に形成された電極パッド
    と前記半導体チップの周辺に配列されたインナリードと
    をワイヤにて接続してなる半導体装置において、 前記電極パッド側を第1ボンドとし前記インナリード側
    を第2ボンドとして接続されたワイヤと、前記電極パッ
    ド側を第2ボンドとし前記インナリード側を第1ボンド
    として接続されたワイヤとが、前記インナリードの配列
    方向に沿って交互に配置されていることを特徴とする半
    導体装置。
  2. 【請求項2】 半導体チップ上に形成された電極パッド
    と前記半導体チップの周辺に配列されたインナリードと
    をワイヤにて接続する半導体装置のワイヤボンディング
    方法において、 前記電極パッド側を第1ボンドとし前記インナリード側
    を第2ボンドとしてワイヤを接続する正ボンディング
    と、前記電極パッド側を第2ボンドとし前記インナリー
    ド側を第1ボンドとしてワイヤを接続する逆ボンディン
    グとを、前記インナリードの配列方向に沿って交互に行
    うことを特徴とする半導体装置のワイヤボンディング方
    法。
JP5215080A 1993-08-06 1993-08-06 半導体装置とそのワイヤボンディング方法 Pending JPH0750314A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009117520A (ja) * 2007-11-05 2009-05-28 Fujitsu Microelectronics Ltd 半導体装置及び半導体装置の製造方法
JP2011166620A (ja) * 2010-02-12 2011-08-25 Murata Mfg Co Ltd Lcフィルタ
JP2013179146A (ja) * 2012-02-28 2013-09-09 Casio Comput Co Ltd 半導体装置及びその製造方法
US9123713B2 (en) 2010-11-24 2015-09-01 Tessera, Inc. Lead structures with vertical offsets

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