JPH0749525Y2 - 質量流量自動制御装置 - Google Patents
質量流量自動制御装置Info
- Publication number
- JPH0749525Y2 JPH0749525Y2 JP1985058143U JP5814385U JPH0749525Y2 JP H0749525 Y2 JPH0749525 Y2 JP H0749525Y2 JP 1985058143 U JP1985058143 U JP 1985058143U JP 5814385 U JP5814385 U JP 5814385U JP H0749525 Y2 JPH0749525 Y2 JP H0749525Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flow rate
- thermal expansion
- control valve
- mass flow
- orifice
- Prior art date
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、装置本体内の流路を流れる流体の質量流量を
測定するセンサー部とその測定結果に基づいて開度を自
動的に調節するように構成された熱膨張式流量制御弁と
を備えた質量流量自動制御装置に関する。
測定するセンサー部とその測定結果に基づいて開度を自
動的に調節するように構成された熱膨張式流量制御弁と
を備えた質量流量自動制御装置に関する。
この種の質量流量自動制御装置は、流量自動制御弁の弁
体を熱膨張体によって駆動するため、モータ駆動、電磁
駆動、空気圧駆動等のものと比べると、駆動部分の構成
が弁体の大きさの割に小さくて、装置全体をコンパクト
化でき、しかも駆動部分の構成が簡素で寿命が長く、長
期間安定した流量制御が可能である等の利点を有すると
ころから、半導体製造装置に多く用いられている。
体を熱膨張体によって駆動するため、モータ駆動、電磁
駆動、空気圧駆動等のものと比べると、駆動部分の構成
が弁体の大きさの割に小さくて、装置全体をコンパクト
化でき、しかも駆動部分の構成が簡素で寿命が長く、長
期間安定した流量制御が可能である等の利点を有すると
ころから、半導体製造装置に多く用いられている。
しかしながら、上記の質量流量自動制御装置において
は、流量制御弁が熱膨張体によって弁体を駆動する構成
であるが故に、応答性が悪く、応答の遅れにより、流体
が流れ始めてから所定の流量に安定するまでの間に過大
の流量が流れることがあった。また故障により流量制御
弁が開放の状態で制御不能になったり、センサー部から
の異常信号によって弁体が開方向大きく移動したり、あ
るいはノーマルオープン型の流量制御弁において、停電
や熱膨張体を加熱するヒータの断線が生じた場合にも、
流量制御弁により制御される最大流量(フルスケール流
量)を越える流量が流れることがあった。
は、流量制御弁が熱膨張体によって弁体を駆動する構成
であるが故に、応答性が悪く、応答の遅れにより、流体
が流れ始めてから所定の流量に安定するまでの間に過大
の流量が流れることがあった。また故障により流量制御
弁が開放の状態で制御不能になったり、センサー部から
の異常信号によって弁体が開方向大きく移動したり、あ
るいはノーマルオープン型の流量制御弁において、停電
や熱膨張体を加熱するヒータの断線が生じた場合にも、
流量制御弁により制御される最大流量(フルスケール流
量)を越える流量が流れることがあった。
このような異常流量が流れると、流体が無駄に消費され
るばかりでなく、質量流量自動制御装置が組み込まれた
半導体製造装置等に事故が発生したり、製品に不良品が
発生し、安全性及び経済性の両面で大きな問題となるの
である。
るばかりでなく、質量流量自動制御装置が組み込まれた
半導体製造装置等に事故が発生したり、製品に不良品が
発生し、安全性及び経済性の両面で大きな問題となるの
である。
本考案は、熱膨張式流量制御弁を用いた質量流量自動制
御装置における上記の問題点を簡単な、しかも流体中に
粒子状浮遊物質が発生する虞れのない構成によって、解
決することを目的としている。
御装置における上記の問題点を簡単な、しかも流体中に
粒子状浮遊物質が発生する虞れのない構成によって、解
決することを目的としている。
上記の目的を達成するため、本考案は、流路を流れる流
体の最大流量を熱膨張式流量制御弁によるフルスケール
流量よりも僅かに多い流量値に制限するオリフィスを、
質量流量自動制御装置の本体に着脱自在に取り付けられ
る継手の内部に設けたのである。
体の最大流量を熱膨張式流量制御弁によるフルスケール
流量よりも僅かに多い流量値に制限するオリフィスを、
質量流量自動制御装置の本体に着脱自在に取り付けられ
る継手の内部に設けたのである。
上記の構成によれば、通常時には、熱膨張式流量制御弁
によって、所定の流量に自動制御され、熱膨張式流量制
御弁の応答遅れが生じたり、またセンサー部からの異常
信号、停電、断線、その他の故障が生じて熱膨張式流量
制御弁の弁体が開方向に大きく移動したときには、オリ
フイスによって制限された最大流量、つまり熱膨張式流
量制御弁により制御されるフルスケール流量を大幅に越
えない流量が流れることになる。
によって、所定の流量に自動制御され、熱膨張式流量制
御弁の応答遅れが生じたり、またセンサー部からの異常
信号、停電、断線、その他の故障が生じて熱膨張式流量
制御弁の弁体が開方向に大きく移動したときには、オリ
フイスによって制限された最大流量、つまり熱膨張式流
量制御弁により制御されるフルスケール流量を大幅に越
えない流量が流れることになる。
そして、前記オリフィスを、質量流量自動制御装置の本
体に着脱自在に取り付けられる継手の内部に設けている
ので、流体の種類や熱膨張式流量制御弁のフルスケール
流量に応じて、オリフィスを継手ごと容易に交換するこ
とができると共に、この種の質量流量自動制御装置をコ
ンパクトなものにすることができる。
体に着脱自在に取り付けられる継手の内部に設けている
ので、流体の種類や熱膨張式流量制御弁のフルスケール
流量に応じて、オリフィスを継手ごと容易に交換するこ
とができると共に、この種の質量流量自動制御装置をコ
ンパクトなものにすることができる。
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図はノーマルオープン型の熱式質量流量自動制御装
置を示し、第2図はその要部を示す。
置を示し、第2図はその要部を示す。
前記熱式質量流量自動制御装置は、質量流量を測定する
センサー部Aとその測定結果に基づいて開度を自動的に
調節すべく構成された熱膨張式流量制御弁Bとを備えて
いる。1は装置本体、2は断熱構造のカバーである。装
置本体1に形成した流路3の入口には継手4をねじ込む
ための雌ねじが形成され、出口には継手5をねじ込むた
めの雌ねじが形成されている。
センサー部Aとその測定結果に基づいて開度を自動的に
調節すべく構成された熱膨張式流量制御弁Bとを備えて
いる。1は装置本体、2は断熱構造のカバーである。装
置本体1に形成した流路3の入口には継手4をねじ込む
ための雌ねじが形成され、出口には継手5をねじ込むた
めの雌ねじが形成されている。
センサー部Aは既知構造のもので、流路3に設けた層流
素子6、該層流素子6を迂回する毛細管7、該毛細管7
に巻き付けたセンサーコイル8a,8bを備え、毛細管7を
流れる流体により、その質量流量に比例してセンサーコ
イル8a,8bが冷却され、センサーコイル8a,8bの温度変化
に伴う抵抗値の変化を電気信号として取り出すように構
成されている。
素子6、該層流素子6を迂回する毛細管7、該毛細管7
に巻き付けたセンサーコイル8a,8bを備え、毛細管7を
流れる流体により、その質量流量に比例してセンサーコ
イル8a,8bが冷却され、センサーコイル8a,8bの温度変化
に伴う抵抗値の変化を電気信号として取り出すように構
成されている。
熱膨張式流量制御弁Bも既知構造のもので、流路3に形
成した弁口9の開度調節を行う弁体10と、これを駆動す
る熱膨張体11、熱膨張体11を加熱して膨張させるヒータ
12を備えている。
成した弁口9の開度調節を行う弁体10と、これを駆動す
る熱膨張体11、熱膨張体11を加熱して膨張させるヒータ
12を備えている。
前記流路3には、出口側の継手5の内部に、第2図に示
すように、最大流量を前記熱膨張式流量制御弁Bにより
制御されるフルスケール流量より僅かに多い流量値に制
限するオリフイス13とフイルター14とが設けられてい
る。15はオリフイス形成用部材(音速ノズル)16をねじ
込むための雌ねじ、17はシール用Oリング、18は上流側
配管、19は下流側配管を示す。
すように、最大流量を前記熱膨張式流量制御弁Bにより
制御されるフルスケール流量より僅かに多い流量値に制
限するオリフイス13とフイルター14とが設けられてい
る。15はオリフイス形成用部材(音速ノズル)16をねじ
込むための雌ねじ、17はシール用Oリング、18は上流側
配管、19は下流側配管を示す。
上記の構成によれば、定常状態においては、センサー部
Aによる測定結果に基づいて前記熱膨張式流量制御弁B
が自動的に開度調節され、オリフイス13によって設定さ
れる流量よりも少ない流量範囲で、目的とする一定流量
に維持される。
Aによる測定結果に基づいて前記熱膨張式流量制御弁B
が自動的に開度調節され、オリフイス13によって設定さ
れる流量よりも少ない流量範囲で、目的とする一定流量
に維持される。
熱膨張式流量制御弁Bの応答遅れが生じたり、センサー
部Aからの異常信号、停電、ヒータ12の断線、その他の
故障により弁体10が開方向に大きく移動したり、全開の
状態で閉じ方向への制御が不能になった場合には、オリ
フイス13によって設定された流量が流れ、それ以上の流
量が制限される。即ち、オリフイス13を通して流体が吸
引されると、オリフイス13による圧損が生じ、圧損が当
該オリフイス13に関して設定された水準以上に維持され
る限り、オリフイス13を通る流体の流量は当該オリフイ
ス13の規定通りとなり、圧損が増大しても下流側への流
出量は一定流量に維持されることになる。
部Aからの異常信号、停電、ヒータ12の断線、その他の
故障により弁体10が開方向に大きく移動したり、全開の
状態で閉じ方向への制御が不能になった場合には、オリ
フイス13によって設定された流量が流れ、それ以上の流
量が制限される。即ち、オリフイス13を通して流体が吸
引されると、オリフイス13による圧損が生じ、圧損が当
該オリフイス13に関して設定された水準以上に維持され
る限り、オリフイス13を通る流体の流量は当該オリフイ
ス13の規定通りとなり、圧損が増大しても下流側への流
出量は一定流量に維持されることになる。
またオリフイス13は継手5に内蔵されているので、流体
の種類や目的とするフルスケール流量に応じて、オリフ
イス13を継手5ごと容易に着脱交換することができる。
の種類や目的とするフルスケール流量に応じて、オリフ
イス13を継手5ごと容易に着脱交換することができる。
そして、前記実施例においては、オリフィス13を流体出
口側(下流側)の継手5内に設けているので、例えば何
らかの原因により流体出口側に急激な圧力変化が生じて
も、この圧力変化による質量流量自動制御装置への悪影
響を吸収緩和することができる。
口側(下流側)の継手5内に設けているので、例えば何
らかの原因により流体出口側に急激な圧力変化が生じて
も、この圧力変化による質量流量自動制御装置への悪影
響を吸収緩和することができる。
なお、オリフィス13を流体入口側(上流側)の継手5内
に設けてもよいことは勿論である。
に設けてもよいことは勿論である。
本考案は、上述した構成よりなり、熱膨張式流量制御弁
の応答遅れが生じたり、センサー部からの異常信号、停
電、熱膨張式流量制御弁のヒータの断線、その他の故障
によって、弁体が開方向に大きく移動したり、全開状態
において閉じ方向への制御が不能になっても、オリフイ
スによって制限された流量以上の過大流量が流れず、従
って、流体が無駄に消費されたり、質量流量自動制御装
置が組み込まれた半導体製造装置等に事故が発生した
り、製品に不良品が発生することを未然に防止すること
ができる効果がある。
の応答遅れが生じたり、センサー部からの異常信号、停
電、熱膨張式流量制御弁のヒータの断線、その他の故障
によって、弁体が開方向に大きく移動したり、全開状態
において閉じ方向への制御が不能になっても、オリフイ
スによって制限された流量以上の過大流量が流れず、従
って、流体が無駄に消費されたり、質量流量自動制御装
置が組み込まれた半導体製造装置等に事故が発生した
り、製品に不良品が発生することを未然に防止すること
ができる効果がある。
しかも本考案の質量流量自動制御装置は、オリフイスに
よって最大流量を制限するため、例えばニードルバルブ
を用いて流量制限する場合のように設定流量に狂いが生
じる虞れがなく、またニードルバルブのような摺動部分
がないので、摺動に起因する粒子状浮遊物質の発生がな
く、半導体製造ガスのように極く微量なチリ、ホコリが
問題になる半導体製造装置における質量流量自動制御装
置として好適に使用できるのである。
よって最大流量を制限するため、例えばニードルバルブ
を用いて流量制限する場合のように設定流量に狂いが生
じる虞れがなく、またニードルバルブのような摺動部分
がないので、摺動に起因する粒子状浮遊物質の発生がな
く、半導体製造ガスのように極く微量なチリ、ホコリが
問題になる半導体製造装置における質量流量自動制御装
置として好適に使用できるのである。
そして、本考案においては、オリフィスを、質量流量自
動制御装置の本体に着脱自在に取り付けられる継手の内
部に設けているので、流体の種類や熱膨張式流量制御弁
のフルスケール流量に応じて、オリフィスを継手ごと容
易に交換することができると共に、この種の質量流量自
動制御装置をコンパクトなものにすることができる。
動制御装置の本体に着脱自在に取り付けられる継手の内
部に設けているので、流体の種類や熱膨張式流量制御弁
のフルスケール流量に応じて、オリフィスを継手ごと容
易に交換することができると共に、この種の質量流量自
動制御装置をコンパクトなものにすることができる。
図面は本考案の一実施例を示し、第1図は熱式質量流量
自動制御装置の概略断面図、第2図は要部の断面図であ
る。 A……センサー部、B……熱膨張式流量制御弁、5……
継手、13……オリフイス。
自動制御装置の概略断面図、第2図は要部の断面図であ
る。 A……センサー部、B……熱膨張式流量制御弁、5……
継手、13……オリフイス。
Claims (1)
- 【請求項1】装置本体内の流路を流れる流体の質量流量
を測定するセンサー部とその測定結果に基づいて開度を
自動的に調節するように構成された熱膨張式流量制御弁
とを備えた質量流量自動制御装置において、前記流路を
流れる流体の最大流量を前記熱膨張式流量制御弁による
フルスケール流量よりも僅かに多い流量値に制限するオ
リフィスを、前記装置本体に着脱自在に取り付けられる
継手の内部に設けたことを特徴とする質量流量自動制御
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985058143U JPH0749525Y2 (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 質量流量自動制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985058143U JPH0749525Y2 (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 質量流量自動制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS61176609U JPS61176609U (ja) | 1986-11-04 |
JPH0749525Y2 true JPH0749525Y2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=30583367
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985058143U Expired - Lifetime JPH0749525Y2 (ja) | 1985-04-17 | 1985-04-17 | 質量流量自動制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0749525Y2 (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0994251A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Nagano Keiki Seisakusho Ltd | 気腹装置 |
JPH0994252A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-04-08 | Nagano Keiki Seisakusho Ltd | 腹腔排煙装置 |
US6062256A (en) * | 1997-02-11 | 2000-05-16 | Engineering Measurements Company | Micro mass flow control apparatus and method |
JP3522544B2 (ja) * | 1998-08-24 | 2004-04-26 | 忠弘 大見 | 流体可変型流量制御装置 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57101910A (en) * | 1980-12-17 | 1982-06-24 | Fujitsu Ltd | Method and device for controlling flow rate of gas |
JPS6010312U (ja) * | 1983-06-27 | 1985-01-24 | 日本電気株式会社 | ガス流量調整装置 |
-
1985
- 1985-04-17 JP JP1985058143U patent/JPH0749525Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS61176609U (ja) | 1986-11-04 |
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