JPH0740373B2 - 光学式ディスク再生装置のトラッキングエラー信号発生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、光学式ディスク再生装置のトラッキングエラ
ー信号発生装置に関し、さらに詳しくは、光学式ディス
ク再生装置において検出光がディスク上に形成されたピ
ット列を正確にトレースするために設けられるトラッキ
ングサーボ機構などに好適に用いられる光学式ディスク
再生装置のトラッキングエラー信号発生装置に関する。

従来の技術 第６図は、典型的な先行技術の３ビーム方式を用いたト
ラッキングエラー信号検出回路30の電気的構成を示すブ
ロック図である。光ピックアップから発生される光ビー
ムは、第７図示のように主ビーム31、第１副ビーム32お
よび第２副ビーム33の３ビームに分割されてディスク34
上に照射され、これらの反射光は、それぞれ主光検知部
35および２つの副光検知部36,37に入射される。

主ビーム31はディスク34上に形成されるピット列38を読
取り、これが主光検知部35において電気信号に変換され
て図示しない復調回路でデジタルデータが再生される。
一方、２つの副光検知部36,37からの出力はそれぞれ減
算回路39に与えられて、減算処理が行われる。これによ
って減算回路39からは、ピット列38からの主ビーム31の
ずれに対応したトラッキングエラー信号が出力される。
このようにして出力されたトラッキングエラー信号は、
トラッキングサーボ回路（図示せず）に与えられ、上記
エラー信号に基づいて主ビーム31のずれが補正される。

このようなトラッキングエラー信号検出回路30が用いら
れるディスク記録／再生装置においては、たとえば外部
から振動が与えられた場合などには、前記主ビーム31が
ピット列38からずれる場合がある。したがってこのよう
な振動に対して主ビーム31のずれを抑制するためには、
上記トラッキングエラー信号の利得を大きく設定する必
要がある。

一方、たとえばディスク34上に傷がある場合において、
第１および第２副ビーム32,33がこの傷の上を通過する
際には、上記トラッキングエラー信号に乱れが発生す
る。したがってこのような傷の影響によるトラッキング
エラー信号の乱れを抑制するためには、トラッキングエ
ラー信号の利得を可及的に小さく設定する必要がある。

従来、このように相反する設定条件があるために、上記
トラッキングサーボエラー信号の利得を、上記２つの要
請の中間的なレベルに設定していた。

発明が解決すべき問題点 しかしながら、トラッキングサーボを所望の精度で実現
するためは、トラッキングエラー信号の利得を一定以上
に設定しなければならず、したがって第１および第２副
ビーム32,33がディスク34上の傷を通過すると、トラッ
キングエラー信号に現れる乱れを効果的に抑制すること
ができず、この乱れに起因する光ピックアップの誤動作
や、トラックジャンプなどの異常事態の発生を除去する
ことができなかった。

本発明の目的は、前述の問題点を解決して、信号再生時
の利得を増大して、再生信号の品質を向上でき、一方、
ディスク上の傷などに起因して発生されるノイズなどを
除去することができる光学式ディスク再生装置のトラッ
キングエラー信号発生装置を提供することである。

問題点を解決するための手段 本発明は、ピット列が周方向に沿って形成され、この周
方向ピット列が半径方向に間隔をあけて複数列形成さ
れ、回転駆動されるディスク体12と、 回転駆動されるディスク体12のピット列を検出する一対
の検出手段3,4であって、ピット列に関して半径方向配
列ピッチの半径の距離を半径方向に沿って相互に隔てた
ディスク体上の位置をそれぞれ検出する、そのような検
出手段3,4と、 各検出手段3,4の出力が入力され、一方検出手段３の出
力から他方検出手段４の出力が減算される第１減算手段
５とを備え、 第１減算手段５からの出力によって、１つのピット列を
読取るようにトラッキングする光学式ディスク再生装置
のトラッキング信号発生装置において、 各検出手段3,4の出力の高周波成分をそれぞれエンベロ
ープ検波する一対の検波器9,10と、 前記一方検出手段３に対応する一方検波器９の出力を、
前記他方検出手段４に対応する他方検波器10の出力から
減算する第２減算手段６と、 第１および第２減算手段5,6の各出力を加算する加算手
段Ａとを設け、 上記加算手段Ａは、上記一方および他方の検出手段3,4
をディスク体12の半径方向に移動したとき当該移動区間
の傷の有無により信号の振幅が変化し、傷が無いとき振
幅の大きい信号を、傷があるとき振幅が零に近い信号を
発生するようにしたことを特徴とする光学式ディスク再
生装置のトラッキングエラー信号発生装置である。

作 用 本発明に従えば、回転駆動されるディスク12のピット列
を周方向に読取る際のトラッキングエラー検出するため
に一対の検出手段3,4が設けられ、これらの出力には周
方向のピット列に対応する高周波成分と、トラッキング
エラー時に半径方向へ複数ピット列にわたって移動する
際の周期的なエンベロープの変動分とを含む。これらの
各検出手段3,4は、ビット列に半径方向配列ピッチの半
分の距離を半径方向に沿って隔てて配置されており、こ
れらの各検出手段3,4の出力は第１減算手段５において
減算され、またそれらの各検出手段3,4の出力の高周波
成分は、エンベロープ検波されて、第２減算手段６で減
算される。第１減算手段５では、一方の検出手段３の出
力から他方検出手段４の出力が減算され、また第２減算
手段６では、一方検出手段３に対応する一方検波器９の
出力を、他方検出手段４に対応する他方検波器10の出力
から減算するように構成される。したがってこのように
して得られた２つの第１および第２減算手段5,6からの
出力は、ディスク12に傷などがなければ、それぞれ同位
相となる。すなわち、一方および他方検出手段3,4は、
ピット列の半径方向配列ピッチの半分の距離を半径方向
に隔ててディスク12上の位置を検出するので、これら２
つの出力は相互に180゜位相がずれている。したがって
ディスク12に傷などがないとき、第１および第２減算手
段5,6の各出力は同一位相であり、このような同一位相
の各出力が加算手段Ａで加算されることになる。したが
って大きな出力を加算手段Ａから得て、トラッキング信
号を発生することができるようになる。ディスク12上に
傷があるときには、第１および第２減算手段5,6からの
出力は、傷の影響を受けている区間において、相互に位
相が180゜ずれている。したがって第１および第２減算
手段5,6の出力は、加算手段Ａによって加算されること
によって相殺され、その加算出力は零に近い値となる。
このようにして、ディスク12上に傷などがないときに
は、大きなレベルを有するトラッキング信号を得ること
ができ、傷などがあるときには、傷の影響がある区間に
おいて零に近いトラッキング信号を得ることができるよ
うになる。

なお、ディスク12の１ピット列をトラッキングして読取
って再生を行うために、第１減算手段５の出力を用いる
ことは、第６図に関連して述べた先行技術と同様であ
る。

実施例 第１図は、本発明の一実施例であるトラッキングエラー
信号検出回路１の電気的構成を示す図である。トラッキ
ングエラー信号検出回路１は主光検知部２、２つの副光
検知部3,4および２つの演算増幅器5,6などを含み、副光
検知部３の出力は、抵抗R1,R2を介して演算増幅器５の
非反転入力端子に与えられる一方、コンデンサC1、増幅
器７、検波器９、コンデンサC3および抵抗R5をそれぞれ
この順序で介して、演算増幅器６の反転入力端子に与え
られる。また副光検知部４の出力は、抵抗R3を介して減
算増幅器５の反転入力端子に与えられる一方、コンデン
サC2、増幅器８、検波器10、コンデンサC4、抵抗R7およ
び抵抗R8をそれぞれこの順序で介して、演算増幅器６の
非反転入力端子に与えられる。

上記演算増幅器５は、その出力が抵抗R4を介して反転入
力端子に与えられ、抵抗R1,R2,R3,R4とによって負帰還
形差動増幅器が構成される。一方、演算増幅器６も、そ
の出力は抵抗R6を介して反転入力端子に与えられ、抵抗
R5,R6,R7,R8とによって、負帰還形差動増幅器が構成さ
れる。このような演算増幅器5,6のそれぞれの出力は、
抵抗R9,R10を介して加算手段である接続点Ａに与えら
れ、この接続点Ａからは、後述されるトラッキングエラ
ー信号が出力される。

ここで、第１図示のトラッキングエラー信号検出回路１
の動作について説明する前に、光ピックアップから照射
される副ビームに関連する基本的動作を、第２図および
第３図を参照して説明する。

光ピックアップから照射された副ビーム11は、ディスク
12上で反射されて、たとえば副光検知部３に入射され
る。副光検知部３では、ディスク12から反射された副ビ
ーム11が電気的信号に変換されて出力され、この出力に
基づいてトラッキングエラー信号が形成される。そこで
副ビーム11がたとえば第２図（１）図示のようにディス
ク12上のピット列13を横断した場合には、副光検知部３
からの出力電圧には、横軸に副ビーム11のディスク12に
対する半径方向の変位をとると、第２図（２）図示のよ
うな波形が得られる。すなわちピット列13上に照射され
た副ビーム11は、大部分がピット列13に吸収されるの
で、その反射光量が減少する。したがって副ビーム11が
ピット列13上にあるときには、副光検知部３から出力電
圧が低下する。

また第２図（３）図示のように、副ビーム11がディスク
12の回転によってピット列13上を走査する場合には、副
ビーム11はピック列13上をその長手方向に沿って順次照
射していくので、副光検知部３からの出力電圧には、第
２図（４）図示のような波形が得られる。

第３図を参照して、副ビーム11が第３図（１）図示のよ
うにディスク12に形成される複数のピット列13上を矢符
Ａ方向に横断しながら照射すると、副ビーム11は複数の
ピット列13の各ピットを読取るので、横軸に副ビーム11
の半径方向変位を取ると、第３図（２）図示のような波
形が得られる。また、副ビーム11を回転中のディスク12
に照射すると、副光検知部３の出力には第３図（４）図
示のようにディスク12の回転に伴う高周波成分が得られ
る。この高周波成分の振幅は、ピット列13を読取る第３
図（３）図示の波形に比べて極めて小さく、副ビーム11
がピット列13を照射したときに最大になり、各ピット列
13間において最小となる。

このようにして副光検知部３には、第３図（３）および
第３図（４）図示の２つの波形が得られることになり、
したがって副光検知部３からの出力は、これら２つの波
の合成波として第３図（２）図示のような波形が得られ
る。

次に第４図を参照して、本実施例のトラッキングエラー
信号検出回路１の動作について説明する。本実施例にお
いては、トラッキングサーボ手段として光ピックアップ
から発生されるレーザ光が主ビーム16、第１副ビーム17
および第２副ビーム18に分割されて、ディスク12に照射
される３ビーム方式を用いる。

主ビーム16、第１副ビーム17および第２副ビーム18はそ
れぞれ主光検知部２および２つの副光検知部3,4に入射
され、ここで電気的信号に変換される。主光検知部２か
らの出力は復調回路（図示せず）に与えられて復調され
る。副光検知部３からの出力は演算増幅器５の非反転入
力端子に与えられる一方、コンデンサC1に与えられる。
副光検知部４の出力は演算増幅器５の反転入力端子に与
えられる一方、コンデンサC2に与えられる。

動作中、主光検知部２がトラックを正確に追従している
ときには、２つの副光検知部3,4の１つのピット列に重
なる割合が同一であるので、それらの副光検知部3,4の
出力もまた同一となる。さらにまたエンベロープ検波し
て得られる出力レベルも同一である。したがって演算増
幅器5,6の出力は零となり、これらの出力を接続点Ａで
加算しても、トラッキングエラー信号は発生しない。こ
れによって副光検知部3,4を搭載する光ピックアップ
は、ディスク12の半径方向に移動することはなく、その
ままの状態を保持して、再生が行われる。

そこで、第４図（１）図示のような矢符Ｂ方向に回転中
のディスク12上を上記３つのビームが走査する場合にお
いて、接続点21,22に出力される出力電圧は、横軸にデ
ィスク12上における第１および第２副ビーム17,18の半
径方向変位を取ると、それぞれ第４図（２）および第４
図（３）図示のような波形が得られる。第４図（２）お
よび第４図（３）図示の波形において相互に半波長ずれ
ているのは、第１および第２副ビーム17,18が第４図
（１）図示のように、各ピット列13の半径方向ピッチの
半分の距離を半径方向に沿って隔てたディスク12上の位
置を照射することによる。

なお、上記２つの出力は実際には、第３図（２）図示の
ような高周波成分が加算されているが、この高周波成分
の振幅は第４図（３）図示のような低周波成分に比べて
極めて微少であるのでこれを無視し、第４図（２）には
低周波成分のみを記載してある。このようにして得られ
た第４図（２）および第４図（３）図示の２つの出力
が、演算増幅器５の非反転入力端子および反転入力端子
にそれぞれ入力されると、この演算増幅器５は差動増幅
器を構成するので、その出力i1は上記２つの出力が減算
されて第４図（４）図示のような波形が得られる。

２つのコンデンサC1,C2に与えられた副光検知部3,4から
の出力は、これら２つのコンデンサC1,C2によって第３
図（３）図示の出力に対応する低周波成分が取除かれ、
第３図（４）図示の出力に対応する高周波成分のみが取
出され、これらが増幅器7,8に与えられる。増幅器7,8に
おいては、前記２つのコンデンサC1,C2によって取出さ
れた高周波成分が増幅されて、その出力a1,a2には、そ
れぞれ第４図（５）および第４図（６）図示のような波
形が得られる。これら２つの出力a1,a2はそれぞれ検波
器9,10によってエンベロープ検波され（第４図（７）お
よび第４図（８）参照、２つのコンデンサC3,C4および
２つの抵抗R5,R7を介して演算増幅器６の非反転入力端
子および反転入力端子にそれぞれ与えられる。この演算
増幅器６は前述したように差動増幅器を構成するので、
その出力i2には第４図（９）図示のような波形が得られ
る。

このようにして得られた２つの演算増幅器5,6からの出
力i1,i2は、それぞれ抵抗R9,R10を介して第１図の接続
点Ａに与えられる。この接続点Ａにおいては、上記２つ
の出力が加算されるので、その出力Ｅは第４図（10）図
示のように演算増幅器５からの出力i1が増幅されたよう
な波形が得られ、これがトラッキングエラー信号として
サーボ駆動手段（図示せず）に与えられ、トラッキング
サーボが実現される。

このように光ピックアップがトラックを正確に追従して
いる際に、外乱等による振動によって光ピックアップが
ディスク12の半径方向に不意に移動すると、上述の第４
図のように、副光検知部3,4の１つのピット列に重なる
割合およびその各出力が同一とはならず、たとえば光ピ
ックアップが第４図に示される状態、すなわち一方の副
光検知部３が１つのピット列の中心に位置し、かつ他方
の副光検知部４がいずれのピット列にも重なっていない
状態に移動された場合には、前記一方の副光検知部３か
らの出力は、トラックに位置するピットによって低いも
のとなり、また他方の副光検知部４からの出力は、ピッ
トに重ならないので、高い値となる。したがって演算増
幅器５の出力は、負の性質、すなわちマイナス方向を有
する値となる。またこれらの２つの副光検知部3,4の出
力をそれぞれエンベロープ検波したその値を求めると、
その検波出力は、副光検知部３に対応して高い値とな
り、また副光検知部４に対応して低い値となる。したが
って演算増幅器６の出力としては負の性質、すなわちマ
イナス方向を持つ値となる。

したがってこれら２つの演算増幅器5,6の出力を接続点
Ａにおいて加算すると、その加算出力は大きな値とな
り、この加算出力の値がトラッキングエラー信号として
導出されるので、利得の高いトラッキングエラー信号を
得ることができるのである。

第５図を参照して、ディスク12上に傷23がある場合に発
生されるトラッキングエラー信号について説明する。

回転中のディスク12上にたとえば第５図（１）図示のよ
うに傷23があり、デジタル情報の一部分が欠落している
場合を想定する。ピットの長さ3.3μｍに対して、傷23
は、たとえばその10⁶倍以上の長さを有するけれども、
第５図（１）では、図面を簡略化するために、傷23は上
下を短くして描いてある。第１副ビーム17および第２副
ビームがこの傷23を読取ると、前記接続点21,22には第
５図（２）および第５図（３）図示のような波形が得ら
れる。すなわち、傷23が無ければ前述したように第４図
（２）および第４図（３）図示のような波形が得られ
る。しかしながら傷23がある場合には、たとえば接続点
21の出力においては、傷23に起因して変位l1から急激に
出力レベルが低下し、変位l1〜変位l4の間おける出力レ
ベル０となり、変位l5において正常な出力レベルに復帰
する。一方、接続点22の出力においては、変位l2から急
激に出力レベルが低下し、変位l3〜変位l6の間における
出力レベルが０となり、変位l7において正常な出力レベ
ルに復帰する。したがって演算増幅器５の出力i1は、上
記２つの出力が減算されて第５図（４）図示のような波
形が得られる。

この出力i1は、傷23の影響を受ける変位l0〜変位l7まで
の区間S1において、２つのピークP1,P2が現れる。これ
ら２つのピークP1,P2は、傷がないディスク12を読取っ
た場合に現れる複数のピークQ1,Q2,Q3,…（第４図
（４）および第５図（４）参照）とほぼ同じレベルを有
しており、このようなピークP1,P2を含む出力i1がその
ままトラッキングエラー信号として出力されると、サー
ボ駆動手段などの誤動作の原因となる。

検波器9,10からの出力には傷23の影響を受けて第５図
（５）および第５図（６）図示のような波形が得られ、
これらに基づいて演算増幅器６からの出力i2には第５図
（７）図示のような波形が得られる。ここで注目すべ
き、傷がないディスク12を読取った場合における演算増
幅器5,6からの出力i1,i2は、それぞれ第４図（４）およ
び第４図（９）図示のように同位相であるが、傷23があ
るディスク12を読取った場合における演算増幅器5,6の
出力i1,i2は、傷の影響が現れる区間S1において位相が
ずれている。すなわち傷の影響を受けた出力i2において
現れる２つのピークP3,P4は、前述した２つのピークP1,
P2と逆相となっている。

したがって接続点Ａからの出力Ｅは、上記２つの出力i
1,i2が加算されるので前記２つのピークP1,P2とピークP
3,P4とがそれぞれ相殺され、一方、傷23の影響を受けな
い２つのピークQ1,Q8は共に増幅されて第５図（８）図
示のような出力が得られ、これがトラッキングエラー信
号として出力される。

上述の第５図に関連して述べたように、光ピックアップ
がトラックを正確に追従している際に外乱等による振動
によって光ピックアップがディスク12の半径方向に不意
に移動した場合であって、その移動先に傷23が存在した
ときの動作をさらに述べると、光ピックアップがディス
ク12の半径方向に不意に移動して第５図に示される状
態、すなわち一方の副光検知部３が傷23内に位置し、か
つ他方の副光検知部４がいずれのピッチ列にも重なって
いない状態に移動された場合では、前記一方の副光検知
部３からの出力は、トラックに位置する傷によってほと
んどないものとなり、すなわちその副光検知部３の出力
は零となり、また他方の副光検知部４からの出力は、ピ
ットがないので高い値になる。したがって演算増幅器５
の出力は、その性質、すなわち一方向を持つ値となる。

これら２つの副光検知部3,4の出力をそれぞれエンベロ
ープ検波して、それらの値を考察すると、そのエンベロ
ープ検波の出力は、副光検知部３の出力がほとんどない
ので、その副光検知部３の出力に対応するエンベロープ
検波出力は低い値となる。また他方の副光検知部４の出
力はエンベロープ検波した値は低いものとなる。したが
って演算増幅器６の出力はほぼ零となる。

したがってこれら２つの演算増幅器5,6の接続点Ａで加
算すると、その加算出力としては演算増幅器５の出力と
ほぼ等しい値にしかならず、この接続点Ａの出力の値が
トラッキングエラー信号となるので、利得の低いトラッ
キングエラー信号を得ることができる。このようにして
光ピックアップが傷23に入ったときの瞬間的な衝撃によ
って光ピックアップが外れてしまうことを防ぐことが可
能になる。

このようにして本実施例に従うトラッキングエラー信号
検出回路１によれば、ディスク12上に傷がない場合に
は、トラッキングエラー信号の出力レベルが増幅されて
トラッキングサーボ信号のゲインすなわち利得が高くな
る。したがって、たとえば該トラッキグエラー信号検出
回路１が用いられるディスク再生装置が外部から振動を
受けた場合などにおいても、上記ゲインを高く設定する
ことができるので、主ビーム16がピット列13から外れる
ことが防がれる。

ディスク12上に傷23がある場合においては、傷23の影響
を受ける区間S1におけるトラッキングエラー信号の出力
レベルが０に近い状態となるために、傷によるトラッキ
ングエラー信号の乱れを最小限にすることができ、光ピ
ックアップの異常動作やトラックジャンプなどの異常事
態を防止することができる。

上述のように、接続点Ａからの出力は、副光検知部3,4
がディスク12の半径方向に移動したときに、ピット列か
らのトラッキングの乱れを防ぐために用いられ、通常動
作におけるディスク12の１ピット列を辿って読取りを行
うときには、演算増幅器５の出力が用いられ、このこと
は前述の第６図に関連して述べた先行技術と同様であ
る。

上述の実施例の構成と動作を要約して述べると次のとお
りとなる。ディスク12の傷23に一方の副光検知部３のみ
が突入した場合において、他方の副光検知部４の出力に
よって演算増幅器５において出力が得られ、このような
演算増幅器５の出力と、２つの副光検知部3,4の出力を
それぞれエンベロープ検波した信号をもう１つの演算増
幅器６によって演算することによって得られた出力と
を、接続点Ａで加算することによって、傷23がない正常
なディスク12を再生するときにおいてトラッキングエラ
ー信号の利得を大きく設定することができ、また傷23が
存在するディスクを再生するときにおいてトラッキング
エラー信号の利得を小さく設定することができる。これ
によってディスク12上の傷23に起因するトラッキングエ
ラー信号の乱れを制御することができる。

すなわち演算増幅器５の出力と演算増幅器６の出力とを
加算することによって、初めて、トラックずれ、すなわ
ち２つの副光検知部3,4がディスク12の半径方向に移動
した状態が生じた際に、適度なトラッキングエラー信号
を得ることができる。このとき演算増幅器５のみの出力
は小さいものである。したがってトラッキングエラー信
号が乱れたとしても、その乱れとしては演算増幅器５の
出力のみの振幅であるので、そのトラッキングエラー信
号は小さな値となる。これに比べて、たとえば演算振幅
器６の出力のみによってトラッキングエラー信号を得て
いる構成であれば、ディスク12の傷23に一方の副光検知
部３のみが突入した場合、演算振幅器６の出力が大きい
ので、トラッキングエラー信号が乱れたとき、その乱れ
としては大きな値となってしまう。本発明の上述の実施
例によれば、ディスク12の傷23に副光検知部３のみが突
入した場合におけるトラッキングエラー信号の利得を小
さくすることができるという利点が達成される。

発明の効果 以上のように本発明の光学式ディスク再生装置のトラッ
キングエラー信号発生装置によれば、一対の副光検知部
3,4は、ピット列に関して半径方向配列ピッチの半分の
距離を半径方向に沿って隔てて配置されており、第１お
よび第２演算増幅器5,6は、各副光検知部3,4の出力を18
0゜反転して導出するように、各副光検知部3,4に関連し
て接続されているので、ディスク12上に傷がなければ、
第１および第２演算増幅器5,6の出力は同一位相であ
り、したって大きい振幅を有するトラッキング信号を発
生することができる。またディスク12上に傷などがある
ときには、その傷の影響を受けている区間において、第
１および第２演算増幅器5,6の出力の位相は相互に180゜
ずれた反転した波形となり、したがってそれらが加算手
段Ａで加算されることによって、トラッキング信号のレ
ベルが零に近い値となる。こうして傷などがあるときに
おける読取り出力の異常に伴う異常事態の発生を防止す
ることができるようになるとともに、傷などの影響を考
慮することなく、読取り出力の利得を所望の大きさに設
定することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例であるトラッキングエラー信
号検出回路１の電気的構成を示すブロック図、第２図お
よび第３図は本実施例のトラッキングサーボ機構の基本
的動作を説明するための図、第４図はディスク12に傷な
どがない場合のトラッキングエラー信号検出回路１の動
作を説明するための図、第５図はディスク12に傷などが
ある場合のトラッキングエラー信号検出回路１の動作を
説明するための図、第６図は典型的な先行技術の電気的
構成を示すブロック図、第７図は先行技術を説明するた
めの図である。 １……トラッキングエラー信号検出回路、２……主光検
出部、３……副光検知部、5,6……演算増幅器、7,8……
増幅器、9,10……検波器、11……副ビーム、12……ディ
スク、13……ピット列、16……主ビーム、17……第１副
ビーム、18……第２副ビーム

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ピット列が周方向に沿って形成され、この
   周方向ピット列が半径方向に間隔をあけて複数列形成さ
   れ、回転駆動されるディスク体12と、 回転駆動されるディスク体12のピット列を検出する一対
   の検出手段3,4であって、ピット列に関して半径方向配
   列ピッチの半径の距離を半径方向に沿って相互に隔てた
   ディスク体上の位置をそれぞれ検出する、そのような検
   出手段3,4と、 各検出手段3,4の出力が入力され、一方検出手段３の出
   力から他方検出手段４の出力が減算される第１減算手段
   ５とを備え、 第１減算手段５からの出力によって、１つのピット列を
   読取るようにトラッキングする光学式ディスク再生装置
   のトラッキング信号発生装置において、 各検出手段3,4の出力の高周波成分をそれぞれエンベロ
   ープ検波する一対の検波器9,10と、 前記一方検出手段３に対応する一方検波器９の出力を、
   前記他方検出手段４に対応する他方検波器10の出力から
   減算する第２減算手段６と、 第１および第２減算手段5,6の各出力を加算する加算手
   段Ａとを設け、 上記加算手段Ａは、上記一方および他方の検出手段3,4
   をディスク体12の半径方向に移動したとき当該移動区間
   の傷の有無により信号の振幅が変化し、傷が無いとき振
   幅の大きい信号を、傷があるとき振幅が零に近い信号を
   発生するようにしたことを特徴とする光学式ディスク再
   生装置のトラッキングエラー信号発生装置。