JPH07321553A - 正弦波発振回路 - Google Patents

正弦波発振回路

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JPH07321553A
JPH07321553A JP6135078A JP13507894A JPH07321553A JP H07321553 A JPH07321553 A JP H07321553A JP 6135078 A JP6135078 A JP 6135078A JP 13507894 A JP13507894 A JP 13507894A JP H07321553 A JPH07321553 A JP H07321553A
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spiral
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sine wave
electrodes
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Takeshi Ikeda
毅 池田
Tadataka Oe
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 より少ない種類の部品を組み合わせて簡単に
正弦波を発生させることができしかも半導体基板上に一
体形成が可能な、あるいはこれに加えて大きく異なる2
種類の正弦波を簡単な構成で発生させることができる正
弦波発振回路を提供すること。 【構成】 正弦波発振回路1は、反転増幅器として機能
するインバータ論理回路10と、半導体基板上に形成さ
れた2つのLC素子12,14とを含んでいる。LC素
子12,14のそれぞれは、半導体基板上であってほぼ
同心状にほぼ平行に形成された渦巻き形状の第1および
第2のスパイラル電極と、この電極のそれぞれにp領域
とn領域とが接続された渦巻き形状のpn接合層を含ん
でおり、各電極がインダクタ導体として機能するととも
に、これら各インダクタ導体間にはpn接合層による分
布定数的なキャパシタが形成されている。このように、
正弦波発振回路1の各構成部品は半導体基板上に形成可
能であり、全体を一体形成することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、LC共振を利用して所
定周波数の正弦波信号を得る正弦波発振回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、通信等各種分野において正弦
波が使われており、この正弦波を得る発振回路も種々の
ものが知られている。例えば、高周波の正弦波を得るこ
とができる代表的な回路として、コルピッツ型やハート
レー型等の各種LC発振回路が知られている。
【0003】これらの各種LC発振回路は、いずれも原
理的にはトランジスタ等の増幅器とLC回路を組み合わ
せて構成されており、所望の発振周波数の正弦波を得る
ために各素子定数を決定する必要がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の正弦
波発振回路は、LC回路を構成するインダクタとキャパ
シタとを個別に用意して組み合わせていたため、設計の
自由度が増す反面、設計者等が決定する素子定数が多く
て設計が複雑になる。特に、正弦波を使用する装置によ
っては、より少ない種類の部品を組み合わせるだけで簡
単に所望の発振周波数を有することができれば便利であ
る。
【0005】また、LC回路を構成するインダクタはコ
アやボビンに巻線を施すものが多く、一般には集積化に
不向きである。LC回路を含む正弦波発振回路の全体を
IC化しようとした場合であっても、インダクタのみは
外付けしなければならないという不都合があり、回路全
体を半導体基板上に一体形成することができないという
問題があった。
【0006】さらに、上述した従来の正弦波発振回路
は、固定の基本周波数の正弦波を発生するものであり、
抵抗やキャパシタを可変素子に置き換えることによりこ
の基本周波数近傍の狭い範囲で周波数を可変できるだけ
である。したがって、周波数が異なる、例えば周波数が
3〜5倍程度異なる2種類の正弦波を発生させようとす
れば、基本的には2種類の正弦波発振回路を用意してお
いて、使用する正弦波を切り替えたい場合には用意した
正弦波発振回路自体を切り替えて使用する手法が用いら
れている。したがって、大きく周波数が異なる2種類の
正弦波を発生させようとすると、発振回路の規模が大き
くなってしまうという問題がある。
【0007】本発明は、このような点に鑑みて創作され
たものであり、その目的はより少ない種類の部品を組み
合わせて簡単に正弦波を発生させることができる正弦波
発振回路を提供することにある。
【0008】また、本発明の他の目的は、LC回路を含
めて半導体基板上に一体成形可能な正弦波発振回路を提
供することにある。
【0009】さらに、本発明の他の目的は、大きく周波
数が異なる2種類の正弦波を簡単な構成で発生させるこ
とができる正弦波発振回路を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1の正弦波発振回路は、入力信号を増幅
するとともに位相反転を行う反転増幅器と、半導体基板
上にほぼ並行して形成された2本のインダクタ導体を有
し、これら2本のインダクタ導体による2本のインダク
タとそれらの間のキャパシタとが分布定数的に形成され
ており、前記2本のインダクタ導体のいずれか一方が信
号入出力路として使用されるとともに、この信号入出力
路として使用されるいずれか一方のインダクタが互いに
直列接続され、他方のインダクタ同士が接続された複数
のLC素子と、を備え、前記反転増幅器の出力を直列接
続された複数の前記インダクタを介して入力側に帰還さ
せることにより正弦波発振を行うことを特徴とする。
【0011】請求項2の正弦波発振回路は、請求項1の
正弦波発振回路において、前記複数のLC素子の前記他
方のインダクタ同士を周波数調整用キャパシタを介して
接続したことを特徴とする。
【0012】請求項3の正弦波発振回路は、請求項1の
正弦波発振回路において、前記複数のLC素子の前記他
方のインダクタ同士をバリキャップを介して接続したこ
とを特徴とする。
【0013】請求項4の正弦波発振回路は、請求項1〜
3のいずれかの正弦波発振回路において、前記反転増幅
器をインバータ論理回路により構成することを特徴とす
る。
【0014】請求項5の正弦波発振回路は、請求項1〜
3のいずれかの正弦波発振回路において、前記反転増幅
器をソース接地回路あるいはエミッタ接地回路により構
成することを特徴とする。
【0015】請求項6の正弦波発振回路は、請求項1〜
5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素子
は、同一平面内でほぼ同心状で隣接して配置されてお
り、前記2本のインダクタ導体として機能する渦巻き形
状の2つの電極と、前記半導体基板の表面近傍であって
前記2つの電極に沿った位置に形成され、これら2つの
電極のいずれか一方にp領域が、他方にn領域が電気的
に接続されており、逆バイアス電圧を印加することによ
り前記キャパシタとして動作する渦巻き形状のpn接合
層と、を備えることを特徴とする。
【0016】請求項7の正弦波発振回路は、請求項1〜
5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素子
は、前記半導体基板を挟んでほぼ対向して配置されてお
り、前記2本のインダクタ導体として機能する渦巻き形
状の2つの電極と、前記半導体基板内であって前記2つ
の電極に挟まれた位置に形成され、これら2つの電極の
いずれか一方にp領域が、他方にn領域が電気的に接続
されており、逆バイアス電圧を印加することにより前記
キャパシタとして動作する渦巻き形状のpn接合層と、
を備えることを特徴とする。
【0017】請求項8の正弦波発振回路は、請求項1〜
5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素子
は、同一平面内でほぼ平行に隣接して配置されており、
前記2本のインダクタ導体として機能する蛇行形状の2
つの電極と、前記半導体基板の表面近傍であって前記2
つの電極に沿った位置に形成され、これら2つの電極の
いずれか一方にp領域が、他方にn領域が電気的に接続
されており、逆バイアス電圧を印加することにより前記
キャパシタとして動作する蛇行形状のpn接合層と、を
備えることを特徴とする。
【0018】請求項9の正弦波発振回路は、請求項1〜
5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素子
は、前記半導体基板を挟んで対向して配置されており、
前記2本のインダクタ導体として機能する蛇行形状の2
つの電極と、前記半導体基板内であって前記2つの電極
に挟まれた位置に形成され、これら2つの電極のいずれ
か一方にp領域が、他方にn領域が電気的に接続されて
おり、逆バイアス電圧を印加することにより前記キャパ
シタとして動作する渦巻き形状のpn接合層と、を備え
ることを特徴とする。
【0019】請求項10の正弦波発振回路は、請求項6
〜9のいずれかの正弦波発振回路において、前記2つの
電極のいずれか一方の長さを他方に比べて短く形成する
ことを特徴とする。
【0020】請求項11の正弦波発振回路は、請求項6
〜10のいずれかの正弦波発振回路において、前記他方
のインダクタとして機能する前記2つの電極の一方を複
数に分割し、あるいは前記他方のインダクタとして機能
する前記2つの電極の一方とともに対応する前記pn接
合層を複数に分割し、各分割片を前記複数のLC素子相
互間で接続することを特徴とする。
【0021】請求項12の正弦波発振回路は、請求項6
〜11のいずれかの正弦波発振回路において、前記pn
接合層に印加する逆バイアス電圧を変更することによ
り、前記LC素子内に分布定数的に形成されるキャパシ
タの容量値を変えることを特徴とする。
【0022】請求項13の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状
の電極と、前記渦巻き形状の電極と前記半導体基板との
間に形成された絶縁層と、前記半導体基板内にあって、
前記渦巻き形状の電極に対応して形成されるチャネルの
両端付近に形成されてソースおよびドレインとして機能
する第1および第2の拡散領域と、を備え、前記渦巻き
形状の電極とこれに対応して形成されるチャネルのそれ
ぞれが前記2本のインダクタ導体として機能するととも
に、前記チャネルを前記信号入出力路として使用するこ
とを特徴とする。
【0023】請求項14の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状
の電極と、前記渦巻き形状の電極と前記半導体基板との
間に形成された絶縁層と、前記半導体基板内にあって、
前記渦巻き形状の電極に対応して形成されるチャネルの
一方端付近に形成されてソースあるいはドレインとして
機能する第1の拡散領域と、を備え、前記渦巻き形状の
電極とこれに対応して形成されるチャネルのそれぞれが
前記2本のインダクタ導体として機能するとともに、前
記渦巻き形状の電極を前記信号入出力路として使用する
ことを特徴とする。
【0024】請求項15の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の
電極と、前記蛇行形状の電極と前記半導体基板との間に
形成された絶縁層と、前記半導体基板内にあって、前記
蛇行形状の電極に対応して形成されるチャネルの両端付
近に形成されてソースおよびドレインとして機能する第
1および第2の拡散領域と、を備え、前記蛇行形状の電
極とこれに対応して形成されるチャネルのそれぞれが前
記2本のインダクタ導体として機能するととにも、前記
チャネルを前記信号入出力路として使用することを特徴
とする。
【0025】請求項16の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の
電極と、前記蛇行形状の電極と前記半導体基板との間に
形成された絶縁層と、前記半導体基板内にあって、前記
蛇行形状の電極に対応して形成されるチャネルの一方端
付近に形成されてソースあるいはドレインとして機能す
る第1の拡散領域と、を備え、前記蛇行形状の電極とこ
れに対応して形成されるチャネルのそれぞれが前記2本
のインダクタ導体として機能するととにも、前記蛇行形
状の電極を前記信号入出力路として使用することを特徴
とする。
【0026】請求項17の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状
の第1の電極と、渦巻き形状の前記第1の電極と前記半
導体基板との間に形成された絶縁層と、前記半導体基板
表面であって、前記第1の電極と同心状で隣接して形成
された渦巻き形状の第2の電極と、前記半導体基板内に
あって、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
れるチャネルの両端付近に形成されてソースおよびドレ
インとして機能する第1および第2の拡散領域と、を備
え、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成される
チャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のイン
ダクタ導体として機能するととにも、前記チャネルを前
記信号入出力路として使用することを特徴とする。
【0027】請求項18の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状
の第1の電極と、渦巻き形状の前記第1の電極と前記半
導体基板との間に形成された絶縁層と、前記半導体基板
表面であって、前記第1の電極と同心状で隣接して形成
された渦巻き形状の第2の電極と、前記半導体基板内に
あって、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
れるチャネルの一方端付近に形成されてソースあるいは
ドレインとして機能する第1の拡散領域と、を備え、渦
巻き形状の前記第1の電極に対応して形成されるチャネ
ルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ
導体として機能するととにも、前記第2の電極を前記信
号入出力路として使用することを特徴とする。
【0028】請求項19の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の
第1の電極と、蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体
基板との間に形成された絶縁層と、前記半導体基板表面
であって、前記第1の電極に沿ってほぼ平行に隣接して
形成された蛇行形状の第2の電極と、前記半導体基板内
にあって、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成さ
れるチャネルの両端付近に形成されてソースおよびドレ
インとして機能する第1および第2の拡散領域と、を備
え、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成されるチ
ャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のインダ
クタ導体として機能するとともに、前記チャネルを前記
信号入出力路として使用することを特徴とする。
【0029】請求項20の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の
第1の電極と、蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体
基板との間に形成された絶縁層と、前記半導体基板表面
であって、前記第1の電極に沿ってほぼ平行に隣接して
形成された蛇行形状の第2の電極と、前記半導体基板内
にあって、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成さ
れるチャネルの一方端付近に形成されてソースあるいは
ドレインとして機能する第1の拡散領域と、を備え、蛇
行形状の前記第1の電極に対応して形成されるチャネル
と前記第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ導
体として機能するとともに、前記第2の電極を前記信号
入出力路として使用することを特徴とする。
【0030】請求項21の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS
構造におけるゲートを形成する渦巻き形状の第1の電極
と、渦巻き形状の前記第1の電極と前記半導体基板との
間に形成された絶縁層と、前記半導体基板の他方の面側
に形成され、前記第1の電極とほぼ対向する位置に形成
された渦巻き形状の第2の電極と、前記半導体基板内に
あって、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
れるチャネルの両端付近に形成されてソースおよびドレ
インとして機能する第1および第2の拡散領域と、を備
え、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成される
チャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のイン
ダクタ導体として機能するとともに、前記チャネルを前
記信号入出力路として使用することを特徴とする。
【0031】請求項22の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS
構造におけるゲートを形成する渦巻き形状の第1の電極
と、渦巻き形状の前記第1の電極と前記半導体基板との
間に形成された絶縁層と、前記半導体基板の他方の面側
に形成され、前記第1の電極とほぼ対向する位置に形成
された渦巻き形状の第2の電極と、前記半導体基板内に
あって、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
れるチャネルの一方端付近に形成されてソースあるいは
ドレインとして機能する第1の拡散領域と、を備え、渦
巻き形状の前記第1の電極に対応して形成されるチャネ
ルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ
導体として機能するとともに、前記第2の電極を前記信
号入出力路として使用することを特徴とする。
【0032】請求項23の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS
構造におけるゲートを形成する蛇行形状の第1の電極
と、蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間
に形成された絶縁層と、前記半導体基板の他方の面側に
形成され、前記第1の電極とほぼ対向する位置に形成さ
れた蛇行形状の第2の電極と、前記半導体基板内にあっ
て、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成されるチ
ャネルの両端付近に形成されてソースおよびドレインと
して機能する第1および第2の拡散領域と、を備え、蛇
行形状の前記第1の電極に対応して形成されるチャネル
と前記第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ導
体として機能するとともに、前記チャネルを信号入出力
路として使用することを特徴とする。
【0033】請求項24の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS
構造におけるゲートを形成する蛇行形状の第1の電極
と、蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間
に形成された絶縁層と、前記半導体基板の他方の面側に
形成され、前記第1の電極とほぼ対向する位置に形成さ
れた蛇行形状の第2の電極と、前記半導体基板内にあっ
て、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成されるチ
ャネルの一方端付近に形成されてソースあるいはドレイ
ンとして機能する第1の拡散領域と、を備え、蛇行形状
の前記第1の電極に対応して形成されるチャネルと前記
第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ導体とし
て機能するとともに、前記第2の電極を信号入出力路と
して使用することを特徴とする。
【0034】請求項25の正弦波発振回路は、請求項1
3〜16のいずれかの正弦波発振回路において、前記半
導体基板表面近傍であって前記チャネルが形成される位
置の少なくとも一部に予めキャリアを注入するととも
に、前記渦巻き形状あるいは前記蛇行形状の電極に対し
て前記チャネルの長さを長くあるいは短く設定すること
により、渦巻き形状あるいは蛇行形状の前記電極と前記
チャネルとを部分的に対向させることを特徴とする。
【0035】請求項26の正弦波発振回路は、請求項1
7〜24のいずれかの正弦波発振回路において、前記第
1および第2の電極のいずれか一方の長さを他方に比べ
て短く形成することにより、渦巻き形状あるいは蛇行形
状の前記第2の電極と前記チャネルとを部分的に対向さ
せることを特徴とする。
【0036】請求項27の正弦波発振回路は、請求項1
3〜24,26のいずれかの正弦波発振回路において、
前記半導体基板表面近傍であって前記チャネルが形成さ
れる位置に、予めキャリアを注入することを特徴とす
る。
【0037】請求項28の正弦波発振回路は、請求項1
8,20,22,24,26,27のいずれかの正弦波
発振回路において、前記第1の電極に対応して形成され
る前記チャネルを前記他方のインダクタとして使用する
場合において、前記第1の電極を複数に分割することに
より前記第1の電極に対応して形成される前記チャネル
を複数に分割し、各分割チャネルの一方端近傍に形成さ
れた前記拡散領域同士を前記複数のLC素子相互間で接
続することを特徴とする。
【0038】請求項29の正弦波発振回路は、請求項1
7,19,21,23,26,27のいずれかの正弦波
発振回路において、前記第2の電極を前記他方のインダ
クタとして使用する場合において、前記第2の電極を複
数に分割し、各分割電極片の一方端近傍同士を前記複数
のLC素子相互間で接続することを特徴とする。
【0039】請求項30の正弦波発振回路は、請求項1
3〜29のいずれかの正弦波発振回路において、前記ゲ
ートを形成する電極に印加するゲート電圧を変更するこ
とにより、前記チャネルが有する抵抗値を可変に制御す
ることを特徴とする。
【0040】請求項31の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、前記半導体表面に直接あるいは第1の絶縁層を挟
んで形成された渦巻き形状の第1の電極と、前記第1の
電極の表面に形成された第2の絶縁層と、前記第1の電
極とほぼ対向する位置に前記第2の絶縁層を挟んで形成
された渦巻き形状の第2の電極と、を備え、前記第1お
よび第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ導体
として機能することを特徴とする。
【0041】請求項32の正弦波発振回路は、請求項1
〜5のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC素
子は、前記半導体表面に直接あるいは第1の絶縁層を挟
んで形成された蛇行形状の第1の電極と、前記第1の電
極の表面に形成された第2の絶縁層と、前記第1の電極
とほぼ対向する位置に前記第2の絶縁層を挟んで形成さ
れた蛇行形状の第2の電極と、を備え、前記第1および
第2の電極のそれぞれが前記2本のインダクタ導体とし
て機能することを特徴とする。
【0042】請求項33の正弦波発振回路は、請求項3
1または32の正弦波発振回路において、前記第2の絶
縁層は、前記第1の電極を酸化することにより形成され
た酸化膜であることを特徴とする。
【0043】請求項34の正弦波発振回路は、請求項3
1または32の正弦波発振回路において、前記第2の絶
縁層は、化学気相法により形成された半導体酸化膜ある
いは窒化膜であることを特徴とする。
【0044】請求項35の正弦波発振回路は、請求項3
1〜34のいずれかの正弦波発振回路において、前記第
1および第2の電極のいずれか一方の長さを他方に比べ
て短く形成することを特徴とする。
【0045】請求項36の正弦波発振回路は、請求項3
1〜35のいずれかの正弦波発振回路において、前記他
方のインダクタとして機能する前記第1および第2の電
極の一方を複数に分割し、各分割片を前記複数のLC素
子相互間で接続することを特徴とする。
【0046】請求項37の正弦波発振回路は、請求項1
〜36のいずれかの正弦波発振回路において、前記反転
増幅器の動作電源電圧を変えることにより、発振周波数
の切り替えを行うことを特徴とする。
【0047】請求項38の正弦波発振回路は、請求項1
〜37のいずれかの正弦波発振回路において、前記LC
素子と前記反転増幅器、あるいはこれらに加えて前記周
波数調整用キャパシタあるいは前記バリキャップを共通
する前記半導体基板上に一体形成することを特徴とす
る。
【0048】
【作用】請求項1の正弦波発振回路は、反転増幅器と半
導体基板上に形成された複数のLC素子とをリング状に
接続することにより構成されている。この反転増幅器で
は信号の位相が反転、すなわち180度ずれるため、こ
の反転増幅器に接続された複数のLC素子によって位相
がさらに180度ずれて、帰還後の信号の位相が0度あ
るいは360度となるような周波数で正弦波発振が行わ
れる。
【0049】このように請求項1の発明によれば、反転
増幅器と複数のLC素子とをリング状に接続するだけで
正弦波発振が行われており、より少ない部品を組み合わ
せるだけで簡単に正弦波を発生させることができる。
【0050】さらに、上述した複数のLC素子は半導体
基板上に形成されているため、反転増幅器を含む全ての
部品を半導体基板上に形成することが可能であり、半導
体製造技術を利用した大量生産や回路の小型化が可能と
なる。特に、これら各部品は1つの半導体基板上に形成
することもでき、この場合は回路全体を半導体基板上に
一体形成することになるため、大量生産や回路を小型化
がさらに容易になる。
【0051】また、請求項2の正弦波発振回路は、半導
体基板上に形成された上記LC素子の各キャパシタ成分
と直列に周波数調整用のキャパシタが接続されており、
この周波数調整用のキャパシタの容量に応じて複数のL
C素子における位相特性や共振特性を調整することがで
きる。したがって、この周波数調整用キャパシタの容量
を変えることにより、発生する正弦波の周波数をある範
囲で調整することができる。特に、この周波数調整用キ
ャパシタは、上述した半導体基板上に併せて形成するこ
ともできるため、回路全体として一体形成が可能であ
り、容易に大量生産および小型化が可能である点に変わ
りはない。
【0052】また、請求項3の正弦波発振回路は、さら
に上述した周波数調整用キャパシタをバリキャップに置
き換えたものであり、このバリキャップの容量を外部か
ら制御することにより、発生する正弦波の周波数をある
範囲で変更することが可能であり、電圧制御型の正弦波
発振回路を容易に構成することができる。しかも、この
バリキャップも半導体基板上に他の部品とともに一体形
成することが可能であり、回路全体の大量生産や小型化
が容易である点も同じである。
【0053】また、請求項4または5の正弦波発振回路
は、上述した反転増幅器をインバータ論理回路やトラン
ジスタを利用したソース接地回路あるいはエミッタ接地
回路により構成している。すなわち、これらはいずれも
入力信号の論理を反転させて出力すると同時に入力信号
の電圧レベルを増幅するものであり、このような構造が
単純な反転増幅器とLC素子とを組み合わせるだけで、
簡単に正弦波を発生させることができる。特に、上述し
たインバータ論理回路やソース接地回路あるいはエミッ
タ接地回路は一般には半導体基板上に形成されるもので
あり、他の部品とともに一体形成する場合にさらに好都
合となる。
【0054】請求項6〜9の正弦波発振回路は、上述し
た請求項1〜5で用いたLC素子の具体的構成を示した
第1の例を示したものである。
【0055】請求項6の発明によれば、半導体基板上で
あって同心状に隣接して配置された2つの電極と、これ
ら2つの電極に沿って形成された渦巻き形状のpn接合
層とにより上述したLC素子が形成されている。このp
n接合層に逆バイアス電圧を印加することにより、渦巻
き形状のキャパシタが形成される。したがって、2つの
電極のそれぞれにより形成されるインダクタとこのキャ
パシタとが半導体基板上に分布定数的に形成されること
になる。特に、このLC素子は、半導体製造技術を用い
て半導体基板に形成されるため、反転増幅器等のそれ以
外の部品とともに半導体基板上に一体形成する際に好都
合となる。
【0056】また、請求項7の発明によれば、請求項6
において半導体基板上に同心状に設けられていた2つの
電極を互いに半導体基板を挟んで対向配置することによ
りLC素子を形成しており、これにより各電極によるイ
ンダクタとその間のpn接合層によるキャパシタとが分
布定数的に形成されることになる。請求項6のLC素子
と同様に、このLC素子は半導体製造技術を用いて半導
体基板に形成されるため、反転増幅器等のそれ以外の部
品とともに一体形成する際に好都合となる。
【0057】また、請求項8,9の発明によれば、請求
項6,7における電極を渦巻き形状から蛇行形状に置き
換えることによりLC素子が形成されている。一般に
は、導体を渦巻き形状に形成することによりインダクタ
として機能させることができるが、使用する周波数帯域
によっては導体を蛇行形状とした場合でもインダクタと
して機能させることができる。すなわち、電極を蛇行形
状に形成した場合には、各凹凸部の1つ1つが約1/2
ターンのコイルとなってこれらが直列に接続されるた
め、電極全体が所定のインダクタンスを有するインダク
タとして機能する。特に、使用する信号の周波数が高周
波領域に達するような場合には小さなインダクタンスで
足りるため、蛇行形状のインダクタで足りる場合があ
る。
【0058】特に、電極を蛇行形状に形成した場合に
は、電極の一方端あるいは両端に配線を施す場合に、こ
の配線を電極の一部と交差せずに引き出せる利点があ
り、正弦波発振回路全体の製造工程の簡略化が可能とな
る。
【0059】また、請求項10の発明によれば、2つの
電極のいずれか一方を短く形成することにより、インダ
クタ導体が部分的に対向したLC素子が形成されてい
る。一般に、正弦波発振回路全体の発振周波数は、分布
定数的に形成されたインダクタンスとキャパシタンスと
により決定されるため、一方の電極を短く形成すること
によりキャパシタンスを小さくすれば、それに伴って発
振周波数も変更されることになる。したがって、部分対
向させる電極の割合等を変えることにより発振周波数を
ある範囲で調整することができ、正弦波発振回路の設計
の自由度が増すことにもなる。
【0060】また、請求項11の発明によれば、2つの
電極のいずれか一方を複数に分割、あるいはこの電極の
分割とともに対応するpn接合層を複数に分割すること
により、分割されたインダクタ導体による影響が少ない
LC素子が形成されている。すなわち、各分割電極片の
自己インダクタンスは小さくなるため、分割されない電
極が有するインダクタンスと分布定数的に形成されたキ
ャパシタンスとによりLC素子の特性がほぼ決定される
ことになる。したがって、電極の分割状態を変えること
により発振周波数をある範囲で調整することができ、正
弦波発振回路の設計の自由度が増すことにもなる。
【0061】また、請求項12の発明によれば、pn接
合層に印加する逆バイアス電圧を変更することにより、
分布定数的に形成されるキャパシタの容量値が変更可能
なLC素子が形成されている。一般に、pn接合層は可
変の逆バイアス電圧を印加することによりバリキャップ
として動作する。したがって、印加する逆バイアス電圧
を可変に制御して渦巻き形状あるいは蛇行形状を有する
pn接合層の全域をバリキャップとして動作させること
により、ある範囲で周波数特性を変更可能なLC素子と
することができ、電圧制御型の正弦波発振回路を容易に
実現することができる。
【0062】請求項13〜24の正弦波発振回路は、上
述した請求項1〜5で用いたLC素子の具体的構成を示
した第2の例を示したものである。
【0063】請求項13〜16の発明によれば、ゲート
が渦巻き形状あるいは蛇行形状を有するMOS構造のL
C素子が形成されており、ゲート電極とこれに対応して
形成されるチャネルとがそれぞれインダクタ導体として
機能するとともにこれらの間に分布定数的なキャパシタ
が形成されている。これらの各LC素子は、マスクの形
状等を変更するだけで通常のMOSトランジスタを製造
する工程を利用して製造可能であり、反転増幅器等のそ
れ以外の部品とともに半導体基板上に一体形成する際に
好都合となる。特に、反転増幅器もMOS構造を有する
場合、例えばMOSトランジスタやCMOS等のインバ
ータ論理回路により構成した場合には、正弦波発振回路
全体をMOS構造とすることができることから、製造工
程の簡略化や各部品の高密度実装化が可能となり、IC
やLCIの一部として組み込む場合に特に好都合とな
る。
【0064】請求項17〜24の発明によれば、上述し
た請求項13〜16の各LC素子のゲート電極にほぼ平
行に、あるいはほぼ対向するように第2の電極を設ける
ことによりMOS構造のLC素子が形成されており、ゲ
ート電極は独立して逆バイアス印加用に用いられてい
る。したがって、ゲート電極への電圧印加とチャネルや
第2の電極を介した信号の伝送とを切り離すことがで
き、複数のLC素子毎に異なるバイアス電圧を設定する
場合に特に好都合となる。
【0065】また、請求項25の発明によれば、請求項
13〜16におけるゲート電極とチャネルとを部分的に
対向させることによりLC素子が形成されている。一般
に、ゲート電極に対応する半導体基板表面にチャネルが
形成されるが、予めこのチャネルが形成される位置の少
なくとも一部にキャリアを注入しておくことにより、所
定のゲート電圧が印加されたときにゲート電極に対応す
る一部の領域にのみチャネルが形成されるようにするこ
ともできる。
【0066】また、請求項26の発明によれば、請求項
17〜24における2つの電極のいずれか一方を短くし
てチャネルと電極とを部分的に対向させることによりL
C素子が形成されている。
【0067】このように、MOS構造を有するLC素子
においてもチャネルあるいは電極により形成されるイン
ダクタ導体を部分的に対向させることが可能であり、部
分対向させる割合等を変えることにより発振周波数をあ
る範囲で調整することができ、正弦波発振回路の設計の
自由度が増すことにもなる。
【0068】また、請求項27の発明によれば、上述し
たチャネルが形成される位置に予めキャリアを注入して
おくことによりLC素子が形成されており、デプレショ
ン型のMOS構造を有するLC素子となっている。特
に、予め注入するキャリアの量を調整することによりチ
ャネル抵抗やソース・ドレイン間電流を変えることがで
きるため、LC素子の特性をある範囲で調整することが
でき、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにもな
る。
【0069】また、請求項28の発明によれば、上述し
た第2の電極を信号路として使用する場合において、ゲ
ート電極を複数に分割することにより対応するチャネル
が分割されたLC素子が形成されており、分割されない
第2の電極が有するインダクタンスと分布定数的に形成
されたキャパシタンスとによりLC素子の特性がほぼ決
定されることになる。したがって、このチャネルの分割
状態を変えることにより発振周波数をある範囲で調整す
ることができ、正弦波発振回路の設計の自由度が増すこ
とにもなる。
【0070】また、請求項29の発明によれば、これと
は反対にチャネルを信号路として使用する場合におい
て、第2の電極が複数に分割されたLC素子が形成され
ており、第2の電極側を分割した場合であってもこの分
割状態を変えることにより発振周波数をある範囲で調整
することができ、正弦波発振回路の設計の自由度が増す
ことになる。
【0071】また、請求項30の発明によれば、請求項
13〜29の各ゲート電圧を変えることによりチャネル
抵抗が変更可能なLC素子が形成されている。このよう
に一方のインダクタ導体の抵抗であるチャネル抵抗を可
変に制御した場合には、この可変の程度に伴ってLC素
子の周波数特性も変更されることになるため、電圧制御
型の正弦波発振回路を容易に実現することができる。
【0072】また、請求項31または32の発明によれ
ば、半導体基板上に直接あるいは第1の絶縁層を形成し
た後に、第1の電極,第2の絶縁層,第2の電極を積層
するように形成することによりLC素子が形成されてい
る。しかも、これら第1および第2の電極をほぼ対向さ
せることにより、インダクタ導体として機能するこれら
2つの電極の間には分布定数的なキャパシタが形成され
る。このLC素子は、上述した請求項6〜30において
示したLC素子が半導体基板の内部も利用しているのに
対し、半導体基板表面を利用している点で異なるが、こ
の半導体基板を利用して反転増幅器等の他の部品ととも
に一体形成できることに変わりはなく、正弦波発振回路
の大量生産や小型化に適している。
【0073】また、請求項33または34の発明によれ
ば、2つの電極間に形成する絶縁層を、電極の酸化ある
いは化学気相法による酸化物により構成したLC素子が
形成されている。このようにして絶縁層を形成する工程
や渦巻きあるいは蛇行形状の電極を形成する工程は一般
的な半導体製造技術によって実現されるものであり、他
の部品とともに正弦波発振回路の全体を一体形成する際
に好都合となる。
【0074】また、請求項35の発明によれば、請求項
31〜34における2つの電極のいずれか一方を短くし
てこれらの電極を部分的に対向させることによりLC素
子が形成されている。
【0075】このように、半導体基板の表面を利用して
形成されたLC素子においても2つの電極により形成さ
れるインダクタ導体を部分的に対向させることが可能で
あり、部分対向させる割合等を変えることにより発振周
波数をある範囲で調整することができ、正弦波発振回路
の設計の自由度が増すことにもなる。
【0076】また、請求項36の発明によれば、請求項
31〜35における2つの電極のいずれか一方が複数に
分割されたLC素子が形成されており、この分割状態を
変えることにより発振周波数をある範囲で調整すること
ができ、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにな
る。
【0077】また、請求項37の発明によれば、上述し
た反転増幅器の動作電源電圧を変えることにより発振周
波数が不連続的に切り替わる正弦波発振回路が形成され
る。すなわち、上述した各請求項に示したLC素子の各
インダクタの径を周回部分が異なる毎に変えることによ
り、単一のLC素子によって複数の共振点を有する現象
が現れる。したがって、反転増幅器の動作電源電圧を変
化させていくと、反転増幅器の動作点がある共振点から
他の共振点に遷移し、発振周波数が大きく切り替わる現
象が生じる。このように、大きく周波数が異なる2種類
の正弦波を別々の回路を組み合わせずに単一の回路によ
って発生させることができ、回路全体を半導体製造技術
を利用して製造した場合の実装面積の小型化等が可能と
なる。
【0078】また、請求項38の発明によれば、正弦波
発振回路の全体が半導体基板上に一体形成されている点
が明確になっている。すなわち、上述したように各請求
項のLC素子は半導体基板を利用して形成されるもので
あり、インバータ論理回路あるいはソース接地回路やエ
ミッタ接地回路により構成される反転増幅器やその他の
部品とともに1つの半導体基板に一体形成した正弦波発
振回路を実現することは容易である。
【0079】
【実施例】以下、本発明を適用した一実施例の正弦波発
振回路について、図面を参照しながら具体的に説明す
る。
【0080】〔第1実施例〕図1は、本発明を適用した
第1実施例の正弦波発振回路1の詳細な構成を示す図で
ある。
【0081】同図に示すように、第1実施例の正弦波発
振回路1は、反転増幅器として機能するインバータ論理
回路10と、インダクタ成分とキャパシタ成分とが分布
定数的に形成されたLC素子12,14と、負荷として
機能するキャパシタ16とを含んで構成されている。こ
れらの各構成は共通の半導体基板上に一体成形されてい
る。
【0082】インバータ論理回路10は、入力信号の論
理を反転、すなわち位相を180度ずらして出力すると
ともに、増幅器として動作する。このインバータ論理回
路10は、TTLロジック等任意のロジックを用いて実
現することができるが、入力インピーダンスが高くて回
路設計が容易なCMOSロジック、その中でも周波数が
高い正弦波を発振させる場合には高速タイプである74
HCシリーズ等のCMOSロジックが適している。
【0083】キャパシタ16は、負荷として機能するも
のである。インバータ論理回路10の内部容量で兼用で
きる場合にはこのキャパシタ16を省略することもでき
る。
【0084】LC素子12,14は、半導体基板上にイ
ンダクタ成分とキャパシタ成分とが分布定数的に形成さ
れたものであり、このインダクタ部分を介して信号の入
出力が行われる。以下、このLC素子12,14の具体
例を説明する。
【0085】図2は、半導体基板上に渦巻き形状のスパ
イラル電極を形成することによりLC素子を構成した場
合の平面図である。また、図3は図2に示したA−A線
拡大断面図である。
【0086】本実施例のLC素子12,14は、半導体
基板であるp型シリコン基板(p−Si基板)34の表
面付近に形成された渦巻き形状のn+ 領域32と、さら
にその一部に形成された渦巻き形状のp+ 領域30とを
含んでおり、これらのn+ 領域32とp+ 領域30とが
pn接合層36を形成している。また、上述したp−S
i基板34に比べて、n+ 領域32およびp+ 領域30
のそれぞれは不純物濃度が高めに設定されており、この
p−Si基板34とn+ 領域32との間に逆バイアス電
圧を印加することにより、このp−Si基板34が良好
なアイソレーション領域として機能するようになってい
る。実際は、p−Si基板34と後述するキャパシタ連
結用電極28とを同電位とすることにより、p−Si基
板34とn+ 領域32との間に確実に逆バイアス電圧を
印加すればよい。
【0087】また、本実施例のLC素子12,14は、
上述したn+ 領域32の表面側であって、このn+ 領域
32に沿った位置に渦巻き形状の第1のスパイラル電極
20が形成されている。同様に、p+ 領域30の表面側
であって、p+ 領域30に沿った位置に第2のスパイラ
ル電極22が形成されている。そして、第1のスパイラ
ル電極20の両端には2つの入出力電極24,26が接
続されている。第2のスパイラル電極22の一方端(例
えば外周側)にはキャパシタ連結用電極28が設けられ
ている。このように、第1および第2のスパイラル電極
20,22に対する入出力電極24,26あるいはキャ
パシタ連結用電極28の取り付けは、図2に示すように
薄いn+ 領域32あるいはp+ 領域30を傷つけないよ
うに能動領域の外側で行われる。
【0088】このような構造を有する本実施例のLC素
子12,14は、渦巻き形状を有している第1および第
2のスパイラル電極20,22のそれぞれがインダクタ
導体として機能することになる。また、第1および第2
のスパイラル電極20,22のそれぞれに電気的に接続
されたpn接合層36が逆バイアスの状態で使用される
と渦巻き形状のキャパシタとして機能する。したがっ
て、第1および第2のスパイラル電極20,22により
形成されるインダクタとpn接合層36によって形成さ
れるキャパシタとが分布定数的に存在するLC素子1
2,14が形成される。
【0089】図4は、本実施例のLC素子12,14の
等価回路を示す図である。同図(A)に示すように、第
1のスパイラル電極20がインダクタンスL1を有する
インダクタとして機能し、一方の入出力電極24から入
力された信号がこの第1のスパイラル電極20を介して
伝搬され他方の入出力電極26から出力される。
【0090】このような等価回路を有するLC素子1
2,14において、入出力電極に入力される電圧レベル
をキャパシタ連結用電極28の電圧レベルよりも高く設
定した場合には、n+ 領域32とp+ 領域30とからな
るpn接合層36に逆バイアス電圧がかかるため、この
pn接合層36がキャパシタンスCを有するキャパシタ
として機能する。また、このキャパシタは第1のスパイ
ラル電極20と第2のスパイラル電極22の全長にわた
って分布定数的に形成されている。
【0091】図4(B)は、上述した逆バイアスを印加
するための構成である。具体的には、入出力電極24と
キャパシタ連結用電極28との間に所定の逆バイアス電
圧を印加するためのバイアス用電源38を接続する。
【0092】また、同図(C)に示すように、このバイ
アス用電源38の代わりに、逆バイアスの電圧レベルを
任意に変更することができる可変バイアス用電源44を
接続することにより、渦巻き形状に形成されたpn接合
層36のキャパシタンスCを任意に変化させることもで
きる。
【0093】一般に、pn接合層36に印加される逆バ
イアス電圧の大小に応じてpn接合面に生じる空乏層の
幅が変化するため、これに伴いキャパシタンスCの値も
変動する。したがって、2つの入出力電極24、26を
介してpn接合層36に印加される逆バイアス電圧を変
えることにより、分布定数的に形成されるキャパシタン
スCを任意に変化させ、LC素子12,14全体として
の周波数特性を変更することができる。
【0094】また、図5は図1に示した正弦波発振回路
1内において実際にLC素子12,14に逆バイアスを
印加するための具体的構成を示す図であり、一例として
逆バイアス電圧を任意に変更可能な可変バイアス用電源
44を接続した場合が示されている。
【0095】本実施例の正弦波発振回路1ではLC素子
が2個使用されているため、図5(A)に示すように共
通の可変バイアス用電源44を用いることにより、2つ
のLC素子12,14の両方に可変の逆バイアス電圧を
印加することができる。また、この可変バイアス用電源
44は、実際に回路の一部として組み込む場合には、同
図(B)に示すように可変抵抗52と充分に大きな抵抗
54とを組み合わせて構成することができる。すなわ
ち、可変抵抗52により所定の逆バイアス電圧を作り出
し、この逆バイアス電圧を充分大きな抵抗54を介して
LC素子12,14のそれぞれのキャパシタ用連結電極
28に印加することにより、信号の交流成分に影響を与
えない逆バイアス電圧の印加が可能となる。
【0096】図6は、本実施例のLC素子12,14の
製造工程を示す図である。図2のB−B線断面の各製造
工程毎の状態が示されている。
【0097】(1)エピタキシャル層の成長:まず最初
に、p−Si基板34(ウエハ)表面の酸化膜を除去し
た後に、p−Si基板34の表面全体にn+ 型エピタキ
シャル層35を成長させる(同図(A))。
【0098】(2)アイソレーション領域の形成:次
に、図2に示したn+ 領域32およびp+ 領域30を除
く領域をアイソレーション領域とするために、p型不純
物の拡散あるいはイオン注入を行う。
【0099】具体的には、まずエピタキシャル層35の
表面を熱酸化して酸化膜40を形成する。そして、フォ
トリソグラフィによってp領域を形成すべき位置の酸化
膜40を除去した後に、p型不純物を熱拡散あるいはイ
オン注入により選択的に添加することにより、p領域が
選択的に形成される。このようにして形成されたp領域
は、p−Si基板34の一部となってアイソレーション
領域を形成する(同図(B))。
【0100】このようにしてアイソレーション領域の形
成が行われた結果、残されたエピタキシャル層35によ
って渦巻き形状のn+ 領域32が形成される。
【0101】(3)pn接合層の形成:次に、渦巻き形
状に形成されたn+ 領域32の一部にp型不純物を熱拡
散あるいはイオン注入により導入することにより、渦巻
き形状のp+ 領域30を形成する(同図(D))。
【0102】具体的には、まずn+ 領域32を含むp−
Si基板34の表面を熱酸化して酸化膜42を形成す
る。そして、フォトリソグラフィによってp+ 領域30
を形成すべき位置の酸化膜42を除去した後に、p型不
純物を熱拡散あるいはイオン注入により選択的に添加す
ることにより、p+ 領域30が選択的に形成される。
【0103】このp+ 領域30は、先に形成されたn+
領域32中に形成する必要があるため、既に導入されて
いるn型不純物の量以上のp型不純物を添加することに
より、p+ 領域30が形成される。
【0104】このようにして、n+ 領域32とp+ 領域
30とからなる渦巻き形状のpn接合層36が形成され
る。
【0105】(4)スパイラル電極の形成:次に、熱酸
化により表面に酸化膜43を形成した後にフォトリソグ
ラフィによってn+ 領域32とp+ 領域30のそれぞれ
の表面に渦巻き形状の孔あけを行い、その後この渦巻き
形状に孔あけされた部分に、例えばアルミニウムを蒸着
することにより第1および第2のスパイラル電極20,
22を形成する(同図(D))。また、その後2つの入
出力電極24,26およびキャパシタ連結用電極28の
それぞれをアルミニウムの蒸着により形成する。
【0106】本実施例のLC素子12,14を製造する
工程は、基本的には通常のバイポーラトランジスタある
いはダイオードを製造する工程と類似しており、pn接
合層36やその間のアイソレーション領域の形状等が異
なるものである。したがって、一般のバイポーラトラン
ジスタを製造する工程においてフォトマスクの形状を変
更することにより対応することができ、製造が容易にな
るとともに小型化にも適している。
【0107】なお、上述した本実施例のLC素子12,
14の製造工程においては、最初にエピタキシャル成長
によりn+ 領域を表面全体に形成した後にアイソレーシ
ョンを行う場合を例にとり説明したが、p−Si基板3
4の表面に酸化膜を形成した後にフォトリソグラフィに
より渦巻き形状のn+ 領域32に対応する窓あけを行
い、この部分に熱拡散あるいはイオン注入によりn型不
純物を導入することによりn+ 領域32を形成した後
に、同様の方法により直接的にp+ 領域30を形成して
もよい。また、pn接合層を形成する方法については、
一般的な半導体製造技術を用いることができる。
【0108】このように、本実施例のLC素子12,1
4は、第1および第2のスパイラル電極20,22のそ
れぞれがインダクタを形成するとともに、これらの電極
間に形成された渦巻き形状のpn接合層36が逆バイア
スで使用されることによりキャパシタとして機能する。
しかも、第1および第2のスパイラル電極20,22の
全長にわたってpn接合層36が形成されているため、
第1および第2のスパイラル電極20,22に形成され
るインダクタンスL1,L2とpn接合層36によって
形成されるキャパシタンスCとが分布定数的に存在して
いる。
【0109】図7は、図2および図3に示す構造を有す
る分布定数型のLC素子12,14の一般的な特性を示
す図である。
【0110】なお、同図に示した特性は、両端近傍に入
出力リードが取り付けられている帯状導電体と、一端近
傍にキャパシタ連結用リードが取り付けられている帯状
導電体とを誘電体シートを挟んで積層した後に巻き回す
ことにより形成されたLC素子(例えば、特開平2−2
6114号公報に開示された「3端子型ノイズフィル
タ」)を用いて測定したものである。このLC素子を3
端子素子として使用し、一方の入出力リード(入出力電
極24に対応する)とキャパシタ連結用リード(キャパ
シタ連結用電極28に対応する)との間に交流信号を入
力するとともに他方の入出力リード(入出力電極26に
対応する)とキャパシタ連結用リードとの間に現れる信
号を観察した結果が示されている。
【0111】同図(A)は、減衰特性を示す図であり、
横軸が周波数を、縦軸が入力信号に対する出力信号の減
衰量をそれぞれ示している。20MHz近傍と150M
Hz近傍に大きな減衰のピークがあることがわかる。こ
のように、複数の減衰ピークが存在するのは、インダク
タとキャパシタとを分布定数的に形成したことに加え、
巻き回された帯状導電体の径が連続的に大きく変化する
ことによるものと考えられる(この点は、図2に示した
第1および第2のスパイラル電極20,22も同じであ
る)。特に、内側端部近傍の径と外側端部近傍の径とが
大きく異なるように、例えば巻き数を多く設定した場合
には複数の減衰ピークが現れることが確認されている。
【0112】同図(B)は位相特性を示す図であり、横
軸が周波数を、縦軸が入力信号に対する出力信号の位相
のずれをそれぞれ示している。20MHz近傍と150
MHz近傍(すなほち減衰のピーク近傍)で位相が急激
に、具体的には90度以上変化していることがわかる。
【0113】実際に図2および図3に構造を示したLC
素子12,14を形成した場合には、第1および第2の
スパイラル電極20,22をp−Si基板34上に小さ
な径で形成することになるため、2枚の帯状導電体を誘
電体シートを挟んで積層して巻き回すことにより形成し
たLC素子に比べると、特性全体が高周波側に移行する
ことが考えられが、いずれのLC素子も分布定数的にイ
ンダクタとキャパシタとが形成されている点は同じであ
り、減衰特性あるいは位相特性自体の傾向に変わりはな
い。
【0114】本実施例の正弦波発振回路1は、このよう
な位相特性を有する2個のLC素子12,14とインバ
ータ論理回路10とをリング状に接続している。したが
って、インバータ論理回路10の増幅度をある値以上に
設定した場合には、一巡して戻ってくる信号の位相のず
れが0度あるいは360度となるような周波数で発振が
行われる。すなわち、インバータ論理回路10では18
0度位相がずれるため、これを除く2つのLC素子1
2,14によって180度位相がずれるような周波数で
発振する。
【0115】換言すれば、インバータ論理回路10によ
って位相が180度ずれるため、LC素子12等によっ
て位相を180度ずらすとともに、ループを一巡したと
きの減衰分を反転増幅器であるインバータ論理回路10
の増幅率によって補うことができれば、ある周波数の発
振が継続されることになる。
【0116】ところで、図7(B)を用いて説明したよ
うに、各LC素子12,14はある周波数において位相
が90度以上変化するため、これらのLC素子12,1
4を直列に接続した場合には合計で180度位相をずら
すことができ、このときの周波数で発振が生じる。
【0117】このように、本実施例の正弦波発振回路1
は、基本的には1つのインバータ論理回路10と2つの
LC素子12,14といった少ない種類の部品を組み合
わせるだけで、簡単に正弦波を発生させることができ
る。LC素子12,14は、LC直列共振回路やLC並
列共振回路等と異なり、1つの素子内にインダクタとキ
ャパシタとが分布定数的に形成されたものであるため、
発振回路を構成する際にインダクタとキャパシタとを別
々に用意して接続する手間がなくなる。
【0118】特に、本実施例の正弦波発振回路1は、イ
ンダクタ成分を有するLC素子12,14が半導体基板
(p−Si基板34)上に形成されている点に大きな特
徴がある。しかも、当然ながら図1に示したインバータ
論理回路10やキャパシタ16も同一の半導体基板上に
形成することができるため、正弦波発振回路1の全体を
1つの半導体基板上に一体形成することができ、回路全
体の大量生産や小型化が可能になる。また、この半導体
基板上への回路の一体形成は、現在の半導体製造技術を
用い、フォトマスクの形状の変更等を行うだけで容易に
行うことができるので、大量生産や小型化に伴う大幅な
コストダウンも可能になる。
【0119】また、図2および図3に構造を示したLC
素子12,14は、pn接合層36に印加する逆バイア
ス電圧の値を変更するだけで、分布定数的に形成される
キャパシタンスCの値を変更することができる。一般
に、図7に示した各種の特性は、インバータ論理回路1
0とキャパシタ16の各素子特性が固定化されている場
合にはLC素子12,14のインダクタンスL1,L2
とキャパシタンスCに基づいて決定されるため、LC素
子12,14のキャパシタンスCを変更することができ
れば、その変更の度合いに応じて正弦波発振回路1の発
振周波数自体が変わることになる。
【0120】このように、本実施例の正弦波発振回路1
は、LC素子12,14のpn接合層36に印加する逆
バイアス電圧を変えることにより、容易に電圧制御型の
発振回路とすることができる。しかも、このような電圧
制御型の発振回路とした場合であっても、周波数変更用
の素子を追加する必要もなく、正弦波発振回路1の構成
部品を最小限に押さえることができる。
【0121】図8は、本実施例の変形例を示す図であ
る。同図(A)に示す正弦波発振回路2aは、上述した
正弦波発振回路1がLC素子12,14の各キャパシタ
連接用電極28同士を直結していたのに対し、これらの
電極28同士を周波数調整用のキャパシタ46を介して
接続した点に特徴がある。
【0122】上述した正弦波発振回路1においては、L
C素子12,14内に分布定数的に形成されたインダク
タおよびキャパシタやインバータ論理回路10の内部容
量,抵抗等により発振周波数が定まるため、LC素子1
2,14のpn接合層36に印加する逆バイアス電圧を
固定した場合を考えると、負荷であるキャパシタ16以
外は使用する素子が決まれば素子定数を変更することが
できない。このため、発振周波数の調整が難しく、この
点を改善したものが図8(A)に示した正弦波発振回路
2aである。
【0123】具体的には、分布定数的に形成されたLC
素子12,14内の各キャパシタ成分の間に周波数調整
用のキャパシタ46を接続することにより、LC素子1
2,14による周波数特性が変更され、すなわち図7に
示した位相対周波数の関係が変更され、正弦波発振回路
2a全体としての発振周波数も変化する。
【0124】このように、LC素子12,14のキャパ
シタ連結用電極28間に挿入するキャパシタ46によっ
て正弦波発振回路2aの発振周波数をある範囲で調整す
ることがき、所望の発振周波数の正弦波発振回路2aを
簡単に設計することができ、設計の自由度が増すことに
なる。換言すれば、特性が異なる数種類のLC素子1
2,14を用意しておくだけで、接続するキャパシタ4
6の容量値を変更することにより、幅広い周波数で発振
を行う正弦波発振回路2aを実現することができるよう
になる。
【0125】図8(B)は、同図(A)においてLC素
子12,14のキャパシタ連結用電極28間に挿入した
キャパシタ46をバリキャップ48に置き換えた構成を
有する正弦波発振回路2bの構成を示す図である。
【0126】上述したように、LC素子12,14の各
pn接合層36に印加する逆バイアス電圧を変更するこ
とにより正弦波発振回路1の発振周波数を可変に制御す
ることができるが、置き換えられたバリキャップ48に
印加する逆バイアス電圧を変更してこのバリキャップ4
8が有する容量値を変更することによって正弦波発振回
路2bの発振周波数を可変に制御してもよい。
【0127】また、キャパシタ46あるいはバリキャッ
プ48を追加して正弦波発振回路2a,2bを構成する
場合にも、LC素子12,14等とともに上述したキャ
パシタ46あるいはバリキャップ48を共通の半導体基
板上に一体形成することができる。
【0128】図9は、本実施例の他の変形例を示す図で
ある。同図に示す正弦波発振回路2cは、図1に示した
正弦波発振回路1に可変電圧電源50を追加した構成を
有している。この可変電圧電源50は、インバータ論理
回路10の動作電源として機能するものであり、印加す
る電圧値が任意に可変できるというものである。
【0129】このような可変電圧電源50によってイン
バータ論理回路10に印加する動作電源電圧をある範囲
で変更しても正弦波発振回路2cにおける発振周波数は
変化しない。これは本実施例の正弦波発振回路cがLC
素子12,14による共振を利用したものだからであ
る。
【0130】ところが、ある範囲を越えてインバータ論
理回路10に印加する動作電源電圧を高くしていくと、
ある電圧値を境にして発振周波数が4〜5倍程度高周波
側に不連続的に切り替わる現象が起こる。これは動作電
源電圧を変えることによりインバータ論理回路10の最
適周波数(最適動作点)が高周波側に移行するため、い
ままでは図6に示す低周波側の減衰ピークに相当する共
振点近傍で発振していたものが、高周波側の減衰ピーク
に相当する共振点近傍で発振するようになったからであ
る。実際に、帯状導電体を誘電体シートを挟んで巻き回
すことにより製造した分布定数型のLC素子を用いて正
弦波発振回路2cを組み立てて発振周波数を測定したと
ころ、動作電源電圧が低いときには約7MHzの正弦波
発振が観察されたものが、動作電源電圧を上げていった
ときに約30MHzの正弦波発振に切り替わる現象が観
察されており、上述した周波数切り替えが可能であるこ
とが確かめられている。
【0131】本実施例の正弦波発振回路2cは、このよ
うな発振特性を有しているため、一つの回路によって周
波数が異なる2つの正弦波を発生させることができる。
このため、従来であれば2つの正弦波を発生させようと
すれば、別々に正弦波発振回路を構成しておいて適宜使
用する回路を切り替えなければならず回路全体が複雑に
なっていたものが、各構成部品が共通の半導体基板上に
形成された単一の正弦波発振回路2cで足りるため回路
構成が簡素化される。
【0132】なお、可変電圧電源50からインバータ論
理回路10に印加する動作電源電圧は必ずしも連続的に
変化させる必要はない。すなわち、ある電圧値を境に発
振周波数が変わるため、この境となる電圧値よりも低い
あるいは高い第1および第2の動作電圧(固定)を印加
可能に可変電源電圧50を形成しておいて、低周波側の
正弦波を発生させたい場合はインバータ論理回路10に
第1の動作電圧を、高周波側の正弦波を発生させたい場
合はインバータ論理回路10に第2の動作電圧を印加す
る。当然ながら、第1および第2の動作電圧を別々に供
給可能な電源を2つ用意しておいて、必要に応じて使用
する電源を選択するようにしてもよい。また、図8
(A),(B)に示す正弦波発振回路2a,2bに可変
電圧電源50を追加してもよい。
【0133】このように、本実施例の正弦波発振回路2
cによれば、簡単な構成により周波数が大きく異なる2
種類の正弦波を発生させることができる。なお、この2
種類の正弦波の周波数は、図2および図3に構造を示し
たLC素子12,14の各スパイラル電極20,22の
ターン数や各周回部分の径等を変更することにより、あ
る範囲で任意に変えることができる。
【0134】図10は、上述したLC素子12,14の
変形例を示す図である。図2および図3に構造を示した
LC素子12,14は、第1および第2のスパイラル電
極20,22がほぼ全長にわたって平行に、すなわちほ
ぼ同一の長さに形成されたものであるが、図10に示し
たLC素子12a,14aは、図2および図3に示した
第2のスパイラル電極22を所定のターン数(例えば約
1ターン)短くするとともに、これに対応するpn接合
層36も所定のターン数分短くした点に特徴がある。
【0135】図10に示すように、第2のスパイラル電
極22および対応するpn接合層36を部分的に省略し
た場合であっても、短くなった第2のスパイラル電極2
2およびこれに隣接する第1のスパイラル電極20によ
り形成されるインダクタと、短くなったpn接合層36
により形成されるキャパシタとが分布定数的に形成され
るため、基本的には図2および図3に示したLC素子1
2,14と同様の特性を有することになる。
【0136】図11は、図10に示したLC素子の等価
回路を示す図である。同図(A)に示すように、第2の
スパイラル電極22のターン数が少なくなった分だけイ
ンダクタンスL3も小さくなり、これに対応して分布定
数的に形成されるキャパシタンスC1も小さくなる。
【0137】また、同図(B),(C)には短くなった
pn接合層36に固定あるいは可変の逆バイアス電圧を
印加するための構成が示されている。図4(B),
(C)と同様に、入出力電極24とキャパシタ連結用電
極28との間に固定あるいは可変の逆バイアス電圧を印
加するためのバイアス用電源38あるいは可変バイアス
用電源44を接続すればよい。
【0138】このように、各LC素子12a,14aの
第1および第2のスパイラル電極20,22を部分的に
対向させるとともにそれらの電極間に形成されたpn接
合層36を短く形成した場合には、このpn接合層36
により分布定数的に形成されるキャパシタンスC1が図
2および図3に示したLC素子の場合に比べて小さくな
るため周波数特性も変化する。具体的には、図7に示し
た減衰特性および位相特性がともに高周波側にシフトす
ることが予想される。換言すれば、この部分的に対向す
る第1および第2のスパイラル電極20,22の長さを
調整するとともに、その間に形成されるpn接合層36
を所定の長さとすることにより、所望の周波数特性が得
られることになり、本実施例の正弦波発振回路1等にお
ける発振周波数を任意に設定することができる。これに
より、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにもな
る。
【0139】図12は、上述したLC素子12,14の
他の変形例を示す図である。同図に示すLC素子12
b,14bは、第2のスパイラル電極22側を複数に分
割(例えば2分割)するとともに、第1および第2のス
パイラル電極20,22間に形成されるpn接合層36
も複数に分割した点に特徴がある。すなわち、同図に示
すLC素子12b,14bは、第2のスパイラル電極2
2が2つの分割電極片22−1,22−2から構成され
ており、これら各分割電極片22−1,22−2に接す
るp+ 領域30も分割されている。分割された各p+
域30のそれぞれとn+ 領域32とにより2組のpn接
合層36が形成されている。さらに、2つの分割電極片
22−1,22−2の各一方端(最外周側と最内周側)
にはキャパシタ連結用電極28が設けられている。
【0140】図13は、図12に示したLC素子の等価
回路を示す図である。同図(A)に示すように、第1の
スパイラル電極20の全体がインダクタンスL1を有す
るインダクタとして機能するとともに、各分割電極片2
2−1,22−2のそれぞれがインダクタンスL4,L
5を有するインダクタとして機能する。そして、第1の
スパイラル電極20と各分割電極片22−1,22−2
のそれぞれの間に形成されたpn接合層36がキャパシ
タンスC2,C3を有するキャパシタとして機能し、し
かもこれらのキャパシタが分布定数的に形成される。
【0141】また、図13(B)および(C)には、分
割されたpn接合層36に固定あるいは可変の逆バイア
ス電圧を印加するための構成が示されている。図4
(B),(C)と同様に、入出力電極24とキャパシタ
連結用電極28との間に固定あるいは可変の逆バイアス
電圧を印加するためのバイアス用電源38あるいは可変
バイアス用電源44を接続すればよい。また、このよう
な電源を実際の回路内で実現する場合には、図5(B)
に示すような可変抵抗52(バイアス電圧が固定の場合
はこれに代えて2つの抵抗からなる分圧回路)と充分大
きな抵抗54を用いればよい。
【0142】このように、LC素子12b,14bの第
2のスパイラル電極22およびこれに対応するpn接合
層36を分割した場合には、各分割電極片22−1,2
2−2の自己インダクタンスL4,L5が小さくなる。
したがって、これらの自己インダクタンスによるLC素
子全体の特性への影響は小さくなり、第1のスパイラル
電極20が有するインダクタンスL1と分布定数的に形
成されるキャパシタC2,C3とによってLC素子1
2,14の特性がほぼ決定されることになる。このた
め、図10に示したLC素子12a,14aと同様に、
第2のスパイラル電極22の分割状態や、ほぼ特性を決
定する第1のスパイラル電極20の形状等を検討するこ
とにより、所望の周波数特性を有するLC素子とするこ
とができ、設計の自由度が増すことになる。
【0143】なお、各LC素子12b,14bは分割数
に応じた数のキャパシタ連結用電極28を有するため、
図1の正弦波発振回路1等を構成する際の接続方法とし
て種々のものが考えられる。図14はその接続例を示す
図である。同図(A)は、全てのキャパシタ連結用電極
28同士を共通に接続した場合であり、同図(B)は対
応するキャパシタ連結用電極28同士のみを接続した場
合である。また、図8に示すようにキャパシタ46やバ
リキャップ48を挿入する場合も同様であり、これらキ
ャパシタ連結用電極28間の全てに挿入する場合や、選
択的に挿入する場合あるいは一部に挿入する場合等、そ
の挿入の態様については種々のものが考えられる。
【0144】〔第2実施例〕図15は、本発明を適用し
た第2実施例の正弦波発振回路3の詳細な構成を示す図
である。本実施例の正弦波発振回路3は、上述した第1
実施例の正弦波発振回路1,2が反転増幅器としてイン
バータ論理回路10を使用していたのに対し、反転増幅
器としてMOSトランジスタによるソース接地回路を使
用している点に特徴がある。
【0145】すなわち、同図に示す正弦波発振回路3
は、図1に示すインバータ論理回路10を、ソース側が
接地されたMOS−FET56とこのMOS−FET5
6のドレイン側に接続された抵抗58とに置き換えた構
成を有しており、これらMOS−FET56と抵抗58
とにより反転増幅器として機能するソース接地回路が構
成されている。
【0146】正弦波発振回路3の動作原理は、上述した
第1実施例の正弦波発振回路1と同じであり、2つのL
C素子12,14によって位相を180度反転させるよ
うな共振点近傍の周波数の正弦波を発生するものであ
る。
【0147】また、LC素子12,14については、図
2および図3に示したようなp−Si基板34に第1お
よび第2のスパイラル電極20,22とpn接合層36
を形成することにより構成することができ、回路内の接
続方法もMOS−FET56と抵抗58とからなるソー
ス接地回路を反転増幅器として使用している他は図1に
示した正弦波発振回路1と変わるところはない。なお、
LC素子12,14を図10および図12に示したLC
素子12a,14aあるいは12b,14bに置き換え
ることができることはいうまでもない。
【0148】このように、反転増幅器としてMOS−F
ET56と抵抗58とからなるソース接地回路を用いる
とともに、2個のLC素子12,14をこの反転増幅器
に直列に、かつリング状に接続するという簡単な構成に
より正弦波を発生させることができる。
【0149】特に、ソース接地回路により反転増幅器を
構成した場合には、本実施例の正弦波発振回路3の全体
を一般的な半導体製造技術により製造することができる
ため、半導体基板上に一体形成する際にさらに好都合と
なり、回路の高密度実装化やIC化,LSI化に適して
いる。
【0150】図16および図17は本実施例の変形例を
示す図である。図16(A)に示す正弦波発振回路4a
は、LC素子12,14の各キャパシタ連結用電極28
同士の接続をキャパシタ46を介して行うようにしたも
のであり、第1実施例の図8(A)に示した正弦波発振
回路2aに対応するものである。このキャパシタ46の
容量値を任意に設定することにより、発生する正弦波の
周波数を任意に調整することができる。
【0151】図16(B)に示す正弦波発振回路4b
は、LC素子12,14の各キャパシタ連結用電極28
同士の接続をバリキャップ48を介して行うようにした
ものであり、第1実施例の図8(B)に示した正弦波発
振回路4bに対応するものである。外部からこのバリキ
ャップ48に印加する逆バイアス電圧を可変に制御する
ことにより、バリキャップ48の容量値を一定範囲で任
意に変更することができ、容易に電圧制御型の正弦波発
振回路4bを構成することができる。
【0152】図17に示す正弦波発振回路4cは、MO
S−FET56と抵抗58とから構成されるソース接地
回路の動作電源電圧を可変電圧電源50によって印加す
るようにしたものであり、第1実施例の図9に示した正
弦波発振回路2cに対応するものである。
【0153】可変電圧電源50によって抵抗58を介し
てMOS−FET56のドレイン側に印加する動作電源
電圧を連続的に変化させることにより、あるいは段階的
に切り替えることにより、1つの共通する簡単な回路に
よって周波数が大きく異なる2つの正弦波を発生させる
ことができる。これは、印加する動作電源電圧を変える
ことによりソース・ドレイン間電流が変化するとともに
MOS−FET56の内部抵抗等の変化に伴って最適動
作速度も変化するため、発振周波数が不連続的に切り替
わるというものである。
【0154】図18は、本実施例の他の変形例を示す図
である。同図に示す正弦波発振回路4dは、図15に示
した正弦波発振回路3にバイアス回路を追加した点に特
徴がある。
【0155】すなわち、図15に示した正弦波発振回路
3ではLC素子12,14を介した帰還信号がMOS−
FET56のゲートに直接入力されているため、負荷と
なるキャパシタ16やソース接地回路を構成する抵抗5
8等の素子定数を適切に調整することによりMOS−F
ET56の最適な動作点を設定する必要がある。これに
対し、図18に示した正弦波発振回路4dでは、任意の
ゲート電圧を設定可能なバイアス回路が抵抗60と62
とによる分圧回路により形成されており、MOS−FE
T56の最適な動作点の調整を簡単に行うことができ
る。
【0156】なお、キャパシタ64は、MOS−FET
56のゲートに帰還される信号から直流成分を除去する
ための直流成分分離回路として機能するものであり、入
力される信号の位相を変えない程度の大きな容量値を有
するものを使用することが好ましい。
【0157】また、図15に示した正弦波発振回路3に
対応する構成についてのみ説明したが、同様に図16
(A),(B)および図17のそれぞれに示した正弦波
発振回路4a,4b,4cに、抵抗60と62からなる
バイアス回路とキャパシタ64からなる直流成分分離回
路とを追加するようにしてもよい。
【0158】〔第3実施例〕図19は、本発明を適用し
た第3実施例の正弦波発振回路5の詳細な構成を示す図
である。本実施例の正弦波発振回路5は、上述した第1
実施例の正弦波発振回路1,2が反転増幅器としてイン
バータ論理回路10を、第2実施例の正弦波発振回路
3,4a〜4dが反転増幅器としてMOSトランジスタ
によるソース接地回路を使用していたのに対し、反転増
幅器としてバイポーラトランジスタによるエミッタ接地
回路を使用している点に特徴がある。
【0159】すなわち、同図に示す正弦波発振回路5
は、図1に示すインバータ論理回路10を、バイポーラ
トランジスタ66と抵抗68とからなるエミッタ接地回
路に置き換えた構成を有しており、このエミッタ接地回
路が反転増幅器として動作する。
【0160】なお、帰還ループに挿入されたキャパシタ
72は直流成分を除去するための直流成分分離回路とし
て機能するものである。また、バイポーラトランジスタ
66のベースにはコレクタから抵抗70を介して所定の
バイアスが印加されており、これにより適切な動作点が
設定されている。
【0161】正弦波発振回路5の動作原理は、上述した
正弦波発振回路1等と同じであり、2つのLC素子1
2,14によって位相を180度反転させるような共振
点近傍の周波数の正弦波を発生する。
【0162】また、LC素子12,14については、第
1実施例および第2実施例と同様に、図2および図3に
示したようなp−Si基板34に第1および第2のスパ
イラル電極20,22とpn接合層36を形成すること
により構成することができ、回路の接続方法もバイポー
ラトランジスタ66と抵抗68とからなるエミッタ接地
回路を反転増幅器として使用している他は図1に示した
正弦波発振回路1等と変わるところはない。なお、LC
素子12,14を図10および図12に示したLC素子
12a,14aあるいは12b,14bに置き換えるこ
とができることはいうまでもない。
【0163】このように、バイポーラトランジスタ66
と抵抗68とからなる反転増幅器(エミッタ接地回路)
と2個のLC素子12,14とをリング状に接続すると
いう簡単な構成により正弦波を発生させることができ
る。
【0164】また、図2および図3に示したLC素子1
2,14は、バイポーラトランジスタと類似した断面構
造を有しているため、これらのLC素子12,14とバ
イポーラトランジスタ66とを含む正弦波発振回路5の
全体を同一の半導体製造技術を用いて形成することが可
能であり、一体成形による大量生産および小型化にさら
に好都合となる。
【0165】図20および図21は本実施例の変形例を
示す図である。図20(A)に示す正弦波発振回路6a
は、LC素子12,14の各キャパシタ連結用電極28
同士の接続をキャパシタ46を介して行うようにしたも
のであり、第1実施例の図8(A)あるいは第2実施例
の図16(A)に示した正弦波発振回路2a,4aに対
応するものである。このキャパシタ46の容量値を任意
に設定することにより、発生する正弦波の周波数をある
範囲で任意に調整することができる。
【0166】図20(B)に示す正弦波発振回路6b
は、LC素子12,14の各キャパシタ連結用電極28
同士の接続をバリキャップ48を介して行うようにした
ものであり、第1実施例の図8(B)あるいは第2実施
例の図16(B)に示した正弦波発振回路2b,4bに
対応するものである。外部からこのバリキャップ48に
印加する逆バイアス電圧を可変に制御することにより、
バリキャップ48の容量を一定範囲で任意に変更するこ
とができ、容易に電圧制御型の正弦波発振回路6bを構
成することができる。
【0167】図21に示す正弦波発振回路6cは、バイ
ポーラトランジスタ66と抵抗68とから構成される反
転増幅器の動作電源電圧を可変電圧電源50によって印
加するようにしたものであり、第1実施例の図9あるい
は第2実施例の図17に示した正弦波発振回路2c,4
cに対応するものである。
【0168】可変電圧電源50によって抵抗68を介し
てバイポーラトランジスタ66のコレクタ側に印加され
る動作電源電圧を連続的に変化させることにより、ある
いは不連続的に切り替えることにより、1つの共通する
簡単な回路によって周波数が異なる2つの正弦波を発生
させることができる。これは、印加する動作電源電圧を
変えることによりバイポーラトランジスタ66の最適動
作速度も変化するため、発振周波数が不連続的に切り替
わるというものであり、基本的にはMOS−FET56
の場合と同じである。
【0169】なお、コレクタに接続したバイアス印加用
の抵抗70を用いずに、図18に示したような抵抗6
0,62とによる分圧回路を追加して、バイポーラトラ
ンジスタ66のベースに一定のバイアス電圧を印加する
ようにしてもよい。このように、バイアス印加用の分圧
回路を別に用意することにより、コレクタに現れる電圧
レベルにかかわらず常に一定のバイアス電圧を印加する
ことができ、バイポーラトランジスタ66の安定した動
作点を確保することができるようになる。
【0170】〔その他の実施例〕次に、本発明を適用し
た他の実施例について説明する。以下に説明する各種実
施例は、上述した第1実施例〜第3実施例において使用
したLC素子12,14を他の構造によって実現したも
のである。
【0171】図22は、他の実施例におけるLC素子の
概略構造を示す平面図である。また、図23は図22に
示したA−A線拡大断面図である。
【0172】これらの図に示す本実施例のLC素子12
c(あるいはLC素子14c)は、半導体基板であるp
−Si基板134の表面付近にn領域130を形成する
ことにより、n領域130とp領域132からなるpn
接合層136が形成されている。
【0173】また、本実施例のLC素子12c,14c
は、上述したn領域130の表面側に渦巻き形状の第1
のスパイラル電極120が形成されている。同様に、p
領域132の表面側、すなわち第1のスパイラル電極1
20に対してpn接合層136を挟んだ反対側であっ
て、第1のスパイラル電極120とほぼ対向する位置に
第2のスパイラル電極122が形成されている。そし
て、第1のスパイラル電極120の両端には2つの入出
力電極24,26が設けられている。第2のスパイラル
電極122の一方端(例えば外周側)にはキャパシタ連
結用電極28が設けられている。
【0174】このような構造を有する本実施例のLC素
子12c,14cは、図2および図3に示したLC素子
12,14と同様に、渦巻き形状を有する第1および第
2のスパイラル電極120,122のそれぞれがインダ
クタ導体として機能することになる。
【0175】また、第1および第2のスパイラル電極1
20,122の間に形成されたpn接合層136が逆バ
イアスの状態で使用されるとキャパシタとして動作す
る。なお、図23に示すように、pn接合層136は大
きな対向電極(n領域130とp領域132のそれぞれ
が対向電極に相当する)を有する1つのキャパシタと考
えられる。しかし、一般にn領域130とp領域132
のそれぞれは第1および第2のスパイラル電極120,
122に比べて比抵抗が大きいため、第1および第2の
スパイラル電極120,122間に交流信号を流した場
合には、対向する第1および第2のスパイラル電極12
0,122間の渦巻き形状のキャパシタを介してのみ交
流信号が流れ、第1および第1のスパイラル電極12
0,122の異なる周回部分間に形成されるキャパシタ
にはほとんど交流信号が流れない。したがって、第1お
よび第2のスパイラル電極120,122の各周回部分
以外のpn接合層136はキャパシタとしてほとんど機
能することなく、第1および第2のスパイラル電極12
0,122の周回部分に沿った渦巻き形状部分のみが実
質的にキャパシタとして動作すると考えることができ
る。
【0176】したがって、第1および第2のスパイラル
電極120,122により形成されるインダクタとpn
接合層136により形成される渦巻き形状のキャパシタ
とが分布定数的に存在するLC素子12c,14cが構
成される。
【0177】このような構造を有するLC素子12c,
14cの等価回路は、図4に示したものをそのまま適用
することができる。また、固定あるいは可変の逆バイア
ス電圧を印加するバイアス用電源38あるいは可変バイ
アス用電源44を接続することにより、固定あるいは可
変の所定の逆バイアス電圧を印加でき、これにより所定
のキャパシタを設定できる点も同様である。
【0178】図24は、図22に示したLC素子12
c,14cの変形例を示す図であり、図10に対応する
ものである。すなわち、図24に示したLC素子12d
(14d)は、図22に示したLC素子の第2のスパイ
ラル電極122を所定のターン数(例えば約1ターン)
短くした点に特徴があり、この変更にともない、第1お
よび第2のスパイラル電極120,122間にあって分
布定数的なキャパシタとして機能する渦巻き形状のpn
接合層136も所定のターン数分短くなる。
【0179】図25は、図22に示したLC素子12
c,14cの他の変形例を示す図であり、図12に対応
するものである。すなわち、第2のスパイラル電極12
2を複数に分割(例えば2分割)するとともに、これら
各分割電極片122−1,122−2の一方端にキャパ
シタ連結用電極28を接続した点に特徴がある。等価回
路としては図13に示したものをそのまま適用すること
ができる。
【0180】このように、第2のスパイラル電極122
を複数に分割することにより、これに対応して形成され
る渦巻き形状のpn接合層136も複数に分割される。
したがって、第2のスパイラル電極122の各分割電極
片の自己インダクタンスが小さくなって、LC素子12
e,14e全体の特性が第1のスパイラル電極120の
インダクタンスL1および分割されたpn接合層136
が有する各キャパシタンスC2,C3とによりほぼ決定
されることになる。
【0181】図24あるいは図25に示したように、第
1および第2のスパイラル電極120,122を部分的
に対向させることにより、あるいは一方の第2のスパイ
ラル電極122を複数に分割することにより、図22に
示したLC素子12c,14cとは周波数特性が異なる
LC素子とすることが可能となる。したがって、第2の
スパイラル電極122の長さや分割する場所あるいは分
割数を任意に設定することにより、所望の周波数特性を
有するLC素子を得ることができ、これにより図1に示
した正弦波発振回路1等の発振周波数をある範囲で任意
に設定することができる。
【0182】なお、上述した第1および第2のスパイラ
ル電極120,122をほぼ対向させて形成したLC素
子は、p−Si基板134の全体をn領域130とp領
域132からなるpn接合層136とした場合を例にと
り説明したが、図26に示すように、n領域130(あ
るいはp領域132でもよい)を第1のスパイラル電極
120に沿った渦巻き形状としてもよい。この場合に
は、渦巻き形状に沿って形成されたn領域130とp領
域132との境界面(pn接合面)に空乏層が生じて渦
巻き形状のキャパシタが形成されることになるため、図
23に示した構造よりも確実に渦巻き形状のキャパシタ
を形成することができる。
【0183】また、実際にp−Si基板134をn領域
130とp領域132とからなるpn接合層136とす
る場合には、p−Si基板134の厚みをウエハの状態
よりも薄くする必要がある。また、一般にはn型ウエハ
の方が入手しやすいことを考慮して、図27に示すよう
な構造としてもよい。
【0184】すなわち、同図(A)に示すように、n−
Si基板144の表面にエピタキシャル成長等によりp
領域132を形成した後にn−Si基板144の裏面側
にエッチングをおこない、このエッチングを行った部分
に第1および第2のスパイラル電極120,122を形
成する。また、同図(B)に示すように、n−Si基板
144の表面側に順にp+ 領域146およびn+ 領域1
48を形成した後にn−Si基板144のエッチングを
行い、このエッチングを行った部分に第1および第2の
スパイラル電極120,122を形成する。また、同図
(C)に示すように、n−Si基板144の一部に第1
のスパイラル電極120にほぼ沿うように渦巻き形状の
+ 領域146を形成した後に、さらにその上に渦巻き
形状のn+ 領域148を形成し、その後n−Si基板1
44の裏面側であって第2のスパイラル電極122に対
応する部分のエッチングを行い、このエッチングを行っ
た部分に第1および第2のスパイラル電極120,12
2を形成する。
【0185】また、上述した各変形例のLC素子は第1
のスパイラル電極120と第2のスパイラル電極122
とを完全に対向するように図示したが、第1および第2
のスパイラル電極120,122がpn接合層136に
よって形成されるキャパシタの電極として機能すればよ
いため、これらのスパイラル電極120,122をほぼ
対向するように少しずらして配置してもよい。
【0186】図28は、LC素子の他の例を示す図であ
る。同図に示すLC素子12f,14fは、図2に示し
たLC素子12,14の第1および第2のスパイラル電
極20,22の形状を変更した点に特徴がある。具体的
には本実施例のLC素子12f,14fは、図2におい
て渦巻き形状を有する第1および第2のスパイラル電極
20,22に代えて蛇行形状を有する第1および第2の
電極150,152を有しており、これら2つの電極1
50,152に沿うように蛇行形状を有するpn接合層
154が形成されている。
【0187】図29は、蛇行形状を有する第1および第
2の電極150,152によって形成されるインダクタ
の原理を示す図である。同図に示すように、凹凸状に屈
曲した蛇行形状を有する電極150あるいは152に一
方向の電流を流した場合には、隣接する凹凸部分で向き
が反対となるような磁束が交互に発生し、あたかも1/
2ターンのコイルが直列に接続された状態になる。した
がって、第1および第2の電極150,152のそれぞ
れは所定のインダクタンスを有するインダクタとして機
能し、等価回路については図4に示したものをそのまま
適用することができる。
【0188】また、渦巻き形状の電極とした場合には電
極の両端部のいずれか一方が中心部に位置し、他方が周
辺部に位置するのに対し、蛇行形状の電極150,15
2ではその両端が周辺部に位置することになるので、入
出力電極24,26およびキャパシタ連結用電極28を
外部に引き出す際に好都合となる。
【0189】また、このような構造を有するLC素子1
2f,14fにおいて、第2の電極152側を短く形成
したり、複数に分割するようにしてもよい。
【0190】図30は、図28に示した第2の電極15
2側の長さを約半分にしたLC素子12g,14gを示
しており、図10に対応している。また、図31は、こ
の第2の電極152側を複数に分割(例えば2分割)し
たLC素子12h,14hを示しており、図12に対応
している。
【0191】また、図32〜34は、LC素子の他の例
を示す図である。図32に示すLC素子12i,14i
は、蛇行形状を有する第1および第2の電極160,1
62をp−Si基板134を挟んでほぼ対向するように
形成したものであり、図22に対応するものである。す
なわち、図22に示したLC素子12c,14cは、渦
巻き形状の第1および第2のスパイラル電極120,1
22を対向させたものであるのに対し、本実施例のLC
素子12i,14iは第1および第2の電極160,1
62の形状を蛇行形状とした点に特徴がある。したがっ
て、蛇行形状を有する第1および第2の電極160,1
62のそれぞれが所定のインダクタンスを有するインダ
クタとして機能するとともに、これらに挟まれた蛇行形
状のpn接合層136(断面構造は図23に示したもの
と同じ)が分布定数的に形成されたキャパシタとして機
能することになる。
【0192】また、図33に示したLC素子12j,1
4jは、図32において示した第2の電極162の長さ
を約半分にすることにより第1および第2の電極16
0,162を部分的に対向させたものであり、図24に
対応している。さらに、図34に示したLC素子12
k,14kは、図32において示した第2の電極162
を2分割するとともに、それらの端部にキャパシタ連結
用電極28を接続したものであり、図25に対応するも
のである。
【0193】このように、pn接合層136が形成され
たp−Si基板134を挟んで蛇行形状の第1および第
2の電極160,162を対向させた場合であっても、
インダクタとキャパシタとが分布定数的に形成されたL
C素子を形成することができ、このLC素子を用いて図
1あるいは図15等に示した正弦波発振回路を構成する
ことができる。しかも、LC素子12c,14c等が形
成されたp−Si基板134上に併せてインバータ論理
回路10等を形成することが可能であり、一体成形によ
る大量生産や小型化も容易に実現することができる。
【0194】図35はLC素子の他の例を示す図であ
る。また、図36は図35のA−A線拡大断面図、図3
7は図35のB−B線拡大断面図、図38は図35のC
−C線拡大断面図である。
【0195】これらの図に示す本実施例のLC素子12
m,14mは、p−Si基板34の表面付近の隔たった
位置に形成された拡散領域であるソース212とドレイ
ン214の間をゲートとして機能する渦巻き形状のスパ
イラル電極210に対する電圧の印加によって形成され
るチャネル222によって接続することに特徴がある。
【0196】上述したソース212およびドレイン21
4は、p−Si基板34を反転させてn+ 層の拡散領域
として形成される。例えば、As+ イオンを熱拡散ある
いはイオン打ち込みにより注入して不純物濃度を高める
ことにより形成される。
【0197】また、ゲートとして機能するスパイラル電
極210は、渦巻き形状の一方の端部がソース212の
一部に、他方の端部がドレイン214の一部にオーバー
ラップするように、p−Si基板34の表面に形成され
た絶縁層226を挟んで形成されている。スパイラル電
極210は、例えばアルミニウムや銅あるいは銀等の薄
膜を形成することによって、あるいは拡散またはイオン
注入でPを多量にドープすることにより形成する。
【0198】また、絶縁層226は、p−Si基板34
の表面において、このp−Si基板34とスパイラル電
極210とを絶縁するためのものである。p−Si基板
34の全表面(あるいは少なくともスパイラル電極21
0に対応する部分)がこの絶縁層226により覆われて
おり、さらにこの絶縁層226の表面に上述したスパイ
ラル電極210が形成される。この絶縁層226は、例
えばPを添加したSiO2 (P−ガラス)によって形成
されている。
【0199】また、上述したスパイラル電極210,ソ
ース212,ドレイン214のそれぞれには、図35〜
図38に示すように、キャパシタ連結用電極28および
入出力電極24,26が接続されている。すなわち、ス
パイラル電極210に対するキャパシタ連結用電極28
の取り付けは、図35に示すように、薄いゲート膜(絶
縁層226)を傷付けないように能動領域の外側で行わ
れる。また、ソース212への入出力電極24の取り付
け、およびドレイン214への入出力電極26の取り付
けは、図38あるいは図36に示すように、ソース21
2およびドレイン214の一部を露出させた後に、アル
ミニウムや銅あるいは金や銀等の金属膜を付けることに
より行われる。また、渦巻き形状のほぼ中心部分に位置
するドレイン214に接続された入出力電極26は、図
37に示すように、スパイラル電極210の各周回部分
と絶縁状態を保つように外周側に引き出されている。
【0200】上述したMOS構造を有する本実施例のL
C素子12m,14mは、nチャネルエンハンスメント
型の構造を有しているものとすれば、スパイラル電極2
10に正の電圧が印加されたときにはじめてn型のチャ
ネル222が形成されることになる。そして、このチャ
ネル222と上述したスパイラル電極210のそれぞれ
が渦巻き形状のインダクタ用導体として機能するととも
に、これらチャネル222およびスパイラル電極210
の間には分布定数的なキャパシタが形成される。
【0201】図39は、チャネル222が形成される状
態を示す断面図であり、スパイラル電極210の渦巻き
方向に対して垂直方向にとった断面が示されている。ス
パイラル電極210に対して、すなわちスパイラル電極
210に接続されたキャパシタ連結用電極28に正のゲ
ート電圧が印加されていない状態では、同図(A)に示
すようにp−Si基板34の表面にはチャネル222が
現れない。したがって、この状態では図35に示したソ
ース212とドレイン214とが絶縁された状態にあ
る。
【0202】ところが、スパイラル電極210に対して
正のゲート電圧を印加すると、図39(B)に示すよう
に、スパイラル電極210に対応するp−Si基板34
の表面付近にn領域からなるチャネル222が出現す
る。このチャネル222は、スパイラル電極210の全
長にわたって形成されるため、スパイラル電極210と
チャネル222のそれぞれに蓄積される電荷によりこれ
らの間には分布定数的なキャパシタが形成されることに
なる。
【0203】図40は、本実施例のLC素子12m,1
4mの断面構造であり、スパイラル電極210の渦巻き
方向に沿った断面が示されている。同図に示すように、
スパイラル電極210に平行にチャネル222が形成さ
れ、このチャネル222によってソース212とドレイ
ン214とが導通状態になる。例えば、エンハンスメン
ト型の場合は、スパイラル電極210にゲート電圧に相
当する電圧を印加した状態ではじめてこのチャネル22
2が形成されてソース212とドレイン214とが導通
状態となるが、スパイラル電極210に印加するゲート
電圧を変えることによりチャネル222の幅および深さ
が変わるため、ソース212とドレイン214との間の
チャネル222の抵抗値を変化させることができる。
【0204】図41は、本実施例のLC素子12m,1
4mの等価回路を示す図である。同図(A)に示す等価
回路は、スパイラル電極210に所定のバイアス電圧を
印加することによりチャネル222が形成され、これら
のそれぞれがインダクタンスL1およびL2を有するイ
ンダクタとして機能する場合が示されている。また、こ
れらスパイラル電極210とチャネル222とによりキ
ャパシタCを有する渦巻き形状のキャパシタが形成され
る。
【0205】なお、後述するように、チャネル222が
形成される位置にあらかじめn型のキャリアを注入して
おくデプレション型構造としてもよい。
【0206】このような等価回路を有する本実施例のL
C素子12m,14mは、信号入出力路となるチャネル
222が渦巻き形状に形成されるため、インダクタンス
L1を有するインダクタ導体として機能する。同様に、
スパイラル電極210がインダクタンスL2を有するイ
ンダクタ導体として機能する。また、これら2つのイン
ダクタ導体は、絶縁層226を挟んで配置されることに
なるため、これらスパイラル電極210とチャネル22
2によって所定のキャパシタンスCを有するキャパシタ
が分布定数的に形成される。
【0207】したがって、このLC素子12m,14m
は、図2等に示したLC素子と同様に、インダクタとキ
ャパシタとが分布定数的に形成されたものであり、図1
に示した正弦波発振回路1内のLC素子12,14等に
置き換えて使用することができる。特に、このLC素子
12m,14mはMOS構造を有しているため、製造工
程が単純であり、しかもIC化あるいはLSI化に際し
て好都合となる。
【0208】また、図41(B)は、スパイラル電極2
10に対して可変のゲート電圧Vgを印加する場合の構
成を示したものである。スパイラル電極210の一方端
に設けられたキャパシタ連結用電極28に印加するゲー
ト電圧Vg(正確には図40においてスパイラル電極2
10とサブストレート224との間に印加されるゲート
電圧)を変えることにより、チャネル222の深さが変
わるため、チャネル222の移動度が変わって、結果的
にチャネル222の抵抗値を任意に変換させることがで
きる。
【0209】これにより、LC素子12m,14mにお
ける周波数特性も変化するため、このLC素子12m,
14mを用いて図1あるいは図15等に示した正弦波発
振回路を構成した場合には、印加するゲート電圧Vgに
応じてその発振周波数が変化する電圧制御型の正弦波発
振回路を容易に実現することができる。
【0210】なお、上述したLC素子12m,14m
は、ソース212とドレイン214の間にnチャネルを
形成する場合を説明したが、この場合はキャリアとして
電子が使用されるため移動度が大きく、チャネル222
の抵抗が小さくなる。これに対し、n−Si基板上にp
チャネルを形成することにより、上述したLC素子12
m,14mを形成するようにしてもよい。この場合は、
キャリアとしてホールが使用されるため、チャネル22
2の抵抗が比較的大きくなり、上述したnチャネルの場
合と比較すると異なる特性を有することになる。
【0211】また、上述したLC素子12m,14m
は、スパイラル電極210がその渦巻き方向に長いた
め、確実にチャネル222が形成されるようにするため
に、サブストレート224側の電位をスパイラル電極2
10の電位より低く設定することが必要となる。
【0212】図42には、本実施例のLC素子12m,
14mの製造工程を示す図であり、一例としてエンハン
スメント型の場合が示されている。なお、同図は、スパ
イラル電極210の渦巻き方向に断面をとったものであ
る。
【0213】(1)酸化膜の形成:まず最初に、p−S
i基板34の表面を熱酸化することにより、二酸化シリ
コンを形成する(同図(A))。
【0214】(2)ソース・ドレインの窓開け:次に、
p−Si基板34表面の酸化膜に対してフォトエッチン
グを行うことにより、ソース212およびドレイン21
4に対応する部分の窓開けを行う(同図(B))。
【0215】(3)ソース・ドレインの形成:次に、窓
開けした部分からn型不純物を注入することによりソー
ス212およびドレイン214を形成する(同図
(C))。例えば、n型不純物としてAs+が用いら
れ、この不純物が熱拡散によって注入される。また、こ
のn型不純物をイオン打ち込みにより注入する場合に
は、上述した(2)における窓開けは不要となる。
【0216】(4)ゲート領域の除去:次に、スパイラ
ル電極210を形成したい部分の酸化膜を除去すること
により、ゲート領域の開口部を形成する(同図
(D))。本実施例のLC素子12m,14mの場合
は、スパイラル電極210を渦巻き形状に形成する必要
があるため、このゲート領域開口部の形成も渦巻き形状
になるように行われる。このようにしてスパイラル電極
210に対応する部分のみp−Si基板34が露出する
ことになる。
【0217】(5)ゲート酸化膜の形成:次に、このよ
うにして部分的に露出したp−Si基板34に対して新
しい酸化膜、すなわち絶縁層226の形成を行う(同図
(E))。
【0218】(6)ゲートおよび電極の形成:次に、例
えばアルミニウム等を蒸着することにより、ゲートとし
て機能するスパイラル電極210を形成するとともに、
ソース212に接続される入出力電極24およびドレイ
ン214に接続される入出力電極26のそれぞれを形成
する(同図(F))。
【0219】このようにしてLC素子12m,14mを
製造する工程は、基本的には通常のMOS−FETを製
造する工程と類似しており、スパイラル電極210の形
状等が異なるのみであるといえる。したがって、1つの
半導体基板上にLC素子12m,14mとともに、イン
バータ論理回路10等の他の部品を一体形成した正弦波
発振回路を形成する際に好都合となる。
【0220】また、図35に示した本実施例のLC素子
12m,14mは、渦巻き形状のスパイラル電極210
に対応して形成されるチャネル222を信号の入出力路
として用い、スパイラル電極210の一方端に設けられ
たキャパシタ連結用電極28同士を直接あるいはキャパ
シタ46,バリキャップ48を介して接続するようにし
たが、チャネル222とスパイラル電極210の機能を
入れ替えるようにしてもよい。
【0221】図43に示すLC素子12n,14nは、
スパイラル電極210の両端に入出力電極24,26を
接続することによりこのスパイラル電極210を信号の
入出力路として用いるとともに、チャネル222の一方
端に形成されたソース212(あるいはドレイン21
4)にキャパシタ連結用電極28を接続したものであ
り、図1に示した正弦波発振回路1等に適用する場合に
は、LC素子12n,14nのキャパシタ連結用電極2
8同士を直接あるいはキャパシタ46やバリキャップ4
8を介して接続する。
【0222】一般に、チャネル222の比抵抗はスパイ
ラル電極210の電極に比べて高いため、図1の正弦波
発振回路1等において複数のLC素子のチャネル222
同士を直列接続して帰還ループを形成する場合には、信
号の電圧レベルの減衰量が問題となる。すなわち、反転
増幅器であるインバータ論理回路10によって増幅した
際のループゲインが1以上でなければ発振が継続されな
いため、チャネル222による減衰分を補うだけの増幅
率をインバータ論理回路10にもたせる必要がある。こ
のため、図35に示したLC素子12m,14mを用い
て正弦波発振回路1等を構成した場合には、これらLC
素子12m,14mが形成されたp−Si基板34のキ
ャリア密度等を充分検討してチャネル222の比抵抗を
小さくしたり、このチャネル222を充分な深さで形成
するためにスパイラル電極210とサブストレート22
4との間に印加する逆バイアス電圧(ゲート電圧)を充
分大きく設定する必要がある。
【0223】これに対し、図43に示したLC素子12
n,14nにおいては、金属材料でスパイラル電極21
0を形成する場合が一般的であり、この場合は金属材料
で形成されたスパイラル電極210同士が直列接続され
て帰還ループを形成しているため、比抵抗が充分小さ
く、このような問題が生じない。
【0224】また、スパイラル電極210側を信号の入
出力路として用いる場合には、ソース212あるいはド
レイン214のいずれか一方にキャパシタ連結用電極2
8を接続するため、他方を省略することができる。
【0225】また、上述したLC素子12m等は、スパ
イラル電極210に印加する電圧レベルをサブストレー
ト224に比べて相対的に高くしたときにチャネル22
2が形成されるエンハンスメント型の素子について説明
したが、デプレション型とすることもできる。すなわ
ち、図35あるいは図43に示したチャネル222の領
域にあらかじめキャリアを注入することによりn型領域
を形成しておく。これにより、スパイラル電極210に
印加する電圧レベルを相対的に高くすることなくチャネ
ル222を形成することができ、あるいはスパイラル電
極210に印加する電圧レベルとチャネル幅等との関係
を変えることができる。また、注入するキャリアはスパ
イラル電極210に沿った一部の領域のみに注入しても
よい。
【0226】図44および図45は、図35に示したL
C素子12m,14mの変形例を示す図であり、図44
にはスパイラル電極210とチャネル222とを部分的
に対向させたLC素子12p,14pが、図45にはス
パイラル電極210側を複数に分割(例えば2分割)し
たLC素子12r,14rがそれぞれ示されている。
【0227】図44に示したLC素子12p,14p
は、機能的には図10に示したLC素子12a,14a
に対応するものであり、図11に示した等価回路を適用
することができる。同様に図45に示したLC素子12
r,14rは、図12に示したLC素子12b,14b
に対応するものであり、等価回路としては図13に示し
たものを適用することができる。
【0228】このように、スパイラル電極210とチャ
ネル222とを部分的に対向させた場合、あるいはスパ
イラル電極210側を複数に分割した場合であっても、
スパイラル電極210およびチャネル222のそれぞれ
がインダクタとして機能するとともに、これらの間には
分布定数的にキャパシタが形成される点に変わりはな
く、図1に示した正弦波発振回路1等に適用することが
できる。しかも、図35に示したLC素子12m,14
mとは周波数特性が異なるLC素子が形成されるため、
一定範囲で正弦波発振回路1等による発振周波数を調整
することができる。
【0229】ただし、図45においてスパイラル電極2
10が形成されていないチャネル222の位置にはあら
かじめキャリアを注入しておく必要がある。また、図4
5に示したLC素子をエンハンスメント型の素子として
構成した場合には、スパイラル電極210の分割部分に
おいてチャネル222も分割されてしまい、図1に示し
た正弦波発振回路1等における帰還ループを形成しない
ため、p−Si基板34の表面近傍であってこの分割部
分に対応する位置にあらかじめキャリアを注入して拡散
領域213を形成しておき、分割されたチャネル222
がこの拡散領域213を介して常に1本の導体として使
用できるようにする必要がある。
【0230】図46〜図49は、LC素子の他の例を示
す図であり、上述したMOS構造のLC素子のゲート電
極を蛇行形状に形成した場合が示されている。
【0231】具体的には、図46は図35に対応してお
り、図35に示した渦巻き形状のスパイラル電極210
を蛇行形状の電極210aに置き換えた構造を有するL
C素子12s,14sが示されている。この電極210
aに対応して形成されるチャネル222が複数のLC素
子同士において直列に接続され、図1に示した正弦波発
振回路1等における帰還ループを形成する。
【0232】同様に、図47は図43に対応するもので
あり、図46に示したLC素子12s,14sとは反対
に蛇行形状の電極210a側が信号の入出力路となるL
C素子12t,14tが示されている。
【0233】図48は、図44に対応するものであり、
蛇行形状の電極210aとチャネル222とを部分的に
対応させたLC素子12t,14tが示されている。
【0234】図49は、図45に対応するものであり、
蛇行形状の電極210a側を複数に分割するとともに、
この分割位置に対応するp−Si基板34の表面近傍に
拡散領域213を形成しておいてチャネル222を1本
のインダクタ導体として使用するLC素子12u,14
uが示されている。
【0235】このように、電極210aおよびチャネル
222を蛇行形状に形成した場合であっても、図29に
おいて示したように電極210a,チャネル222のそ
れぞれがインダクタとして機能し、しかも、これらの間
には分布定数的なキャパシタが形成される点に変わりは
なく、このような構造を有するLC素子を用いて図1に
示した正弦波発振回路1等を構成することができる。し
かも、これらのLC素子はp−Si基板34上にMOS
製造技術を用いて形成することが可能であり、図1に示
した正弦波発振回路1等の他の構成部品(例えばインバ
ータ論理回路10)とともに一体成形する場合に適して
おり、正弦波発振回路全体の大量生産や小型化を容易に
実現できる。
【0236】図50は、LC素子の他の例を示す図であ
る。また、図51は図50のA−A線拡大断面図、図5
2は図50のB−B線拡大断面図、図53は図50のC
−C線拡大断面図、図54は図50のD−D線拡大断面
図である。
【0237】これらの図に示すLC素子12v,14v
は、図35に示したLC素子12m,14mがスパイラ
ル電極210をインダクタ導体とゲート電極の機能を兼
用していたのに対し、これらの機能を分離した点に特徴
がある。
【0238】具体的には本実施例のLC素子12v,1
4vは、半導体基板であるp−Si基板34の表面付近
の隔たった位置に形成されたソース212とドレイン2
14の間を渦巻き形状の第1のスパイラル電極310に
対する電圧の印加によって形成されるチャネル222に
よって接続することにより形成されている。
【0239】上述したソース212およびドレイン21
4は、p−Si基板34を反転させたn+ 領域として形
成される。例えば、As+ イオンを熱拡散あるいはイオ
ン打ち込みにより注入して不純物濃度を高めることによ
り形成される。
【0240】第1のスパイラル電極310は、ゲートと
して機能するものであり、渦巻き形状の一方の端部(外
周側)がソース212の一部に、他方の端部(中心側)
がドレイン214の一部にオーバーラップするように、
p−Si基板34の表面側に形成された絶縁層226を
挟んで形成されている。第1のスパイラル電極310
は、例えばアルミニウム膜を成形することによって、あ
るいは拡散またはイオン注入でPを多量にドープするこ
とにより形成する。
【0241】また、上述した第1のスパイラル電極31
0とほぼ平行であって、ほぼ同心状に第2のスパイラル
電極312が形成されている。この第2のスパイラル電
極312と第1のスパイラル電極310との間に所定の
ゲート電圧を印加することにより、第1のスパイラル電
極310に対向するp−Si基板34の表面にチャネル
222が形成されるようになっている。
【0242】また、上述した第1のスパイラル電極31
0,ソース212,ドレイン214,第2のスパイラル
電極312のそれぞれには、図50〜図54に示すよう
に、キャパシタ連結用電極28,入出力電極24,2
6,制御用電極228が接続されている。すなわち、第
1のスパイラル電極310に対する制御用電極228の
取り付けは、図50に示すように、薄いゲート膜を傷付
けないように能動領域の外側で行われる。また、ソース
212への入出力電極24の取り付けおよびドレイン2
14への入出力電極26の取り付けは、図54および図
52に示すように、ソース212およびドレイン214
の一部を露出させた後に、アルミニウム等の金属膜を付
けることにより行われる。さらに、第2のスパイラル電
極312に対するキャパシタ連結用電極28の取り付け
は、制御用電極228と同様に薄いゲート膜を傷付けな
いように能動領域から隔たった位置で行われる。
【0243】上述した構造を有する本実施例のLC素子
12v,14vは、nチャネルエンハンスメント型の構
造を有しているものとすれば、第1のスパイラル電極3
10に正の電圧(第2のスパイラル電極312よりも高
い電圧)が印加された時にはじめてチャネル222が形
成されることになる。
【0244】図51(A)および(B)は、チャネル2
22が形成される状態を示す図である。第1のスパイラ
ル電極310に対して、すなわち第1のスパイラル電極
310に接続された制御用電極228に正のゲート電圧
が印加されていない状態では、同図(A)に示すように
p−Si基板34の表面にはチャネル222が現れな
い。したがって、この状態では図50に示したソース2
12とドレイン214とが絶縁された状態にある。
【0245】ところが、第1のスパイラル電極310に
対して相対的に正のゲート電圧が印加されると、図51
(B)に示すように第1のスパイラル電極310に対応
するp−Si基板34の表面付近にn領域からなるチャ
ネル222が出現する。また、p−Si基板34の内部
であってこのチャネル222の外側には、第1のスパイ
ラル電極310に印加された正のゲート電圧によって正
孔が排除された空乏層が形成される。したがって、この
空乏層を挟んでチャネル222内の電子とp−Si基板
34内の正孔とが対向して配置され、チャネル222と
その外側に空乏層を挟んで存在するp−Si基板34と
によりキャパシタが形成される。しかも、このキャパシ
タは第1のスパイラル電極310のほぼ全長にわたって
形成されるため、p−Si基板34に接続された第2の
スパイラル電極312とチャネル222との間には分布
定数的に渦巻き形状のキャパシタが形成されることにな
る。
【0246】図55は、本実施例のLC素子12v,1
4vの等価回路を示す図である。同図に示す等価回路
は、制御用電極228に所定のゲート電圧を印加するこ
とによりチャネル222を形成し、このチャネル222
を信号の入出力路に用いる場合が示されている。このよ
うな等価回路を有するLC素子12v,14vを用いて
図1に示した正弦波発振回路1等を形成する場合には、
チャネル222同士を直列に接続して帰還ループを形成
するとともに、第2のスパイラル電極312の一方端に
設けられたキャパシタ連結用電極28を直結(あるいは
キャパシタ46やバリキャップ48を介して)する。
【0247】なお、チャネル222による電圧降下を考
慮してLC素子毎に異なるゲート電圧を印加するように
してもよい。
【0248】このような構造を有する本実施例のLC素
子12v,14vは、チャネル222がインダクタンス
L1を有するインダクタ導体として機能するとともに、
第2のスパイラル電極312がインダクタンスL2を有
するインダクタ導体として機能する。また、これら2つ
のインダクタ導体間には所定のキャパシタンスCを有す
るキャパシタが分布定数的に形成される。したがって、
これらのLC素子12v,14vは、基本的には図2等
に示したLC素子と同様な周波数特性を有しており、図
1に示した正弦波発振回路1等に用いることができる。
また、図35に示したLC素子12m等と同様にMOS
構造を有していることから、MOS製造技術による工程
の簡略化が可能であり、しかも、p−Si基板34上に
他の部品とともに一体形成することが可能であり、容易
に大量生産および小型化を実現することができる。
【0249】図56および図57は、図50に示したL
C素子12v,14vの変形例を示す図である。図56
には第2のスパイラル電極312を短く形成することに
よりこの第2のスパイラル電極312とチャネル222
とを部分的に対向させたLC素子12w,14wが示さ
れている。また、図57には第2のスパイラル電極31
2を複数に分割(例えば2分割)したLC素子12x,
14xが示されている。
【0250】また、図58〜図60は、図50に示した
LC素子12v,14vの他の変形例を示す図である。
これらの図に示したLC素子は、いずれもチャネル22
2と第2のスパイラル電極312の機能を入れ換えた点
に特徴があり、第2のスパイラル電極312を信号の入
出力路(帰還ループ)として使用している。図58が図
50に、図59が図56に、図60が図57にそれぞれ
対応している。
【0251】例えば、第2のスパイラル電極312を金
属材料で形成し、この第2のスパイラル電極312を図
1に示した正弦波発振回路1等における帰還ループの一
部として使用した場合には、この帰還ループにおける電
圧レベルの減衰が少なく、図1に示したインバータ論理
回路10等の反転増幅器の増幅率を低く設定できる利点
がある。この利点については、図43に示したLC素子
12n,14nと同様である。
【0252】図61は、図50以降に示したLC素子の
部分的変形例を示す図であり、図51に対応する断面構
造が示されている。具体的には、図61(A)に示すよ
うに、n−Si基板144の一部に第1および第2のス
パイラル電極310,312に沿った渦巻き形状のp領
域からなる反転層232が形成されている。このような
断面構造を有するLC素子において、第1のスパイラル
電極310の一方端に設けられた制御用電極228に対
して所定のゲート電圧を印加すると、同図(B)に示す
ように、この第1のスパイラル電極310に対応するn
−Si基板144の表面近傍にチャネル222が形成さ
れる。しかも、n−Si基板144と反転層232との
間に逆バイアス電圧を印加しておくことにより、渦巻き
形状の反転層232が各周回部分において相互に電気的
に分離され、チャネル222と第2のスパイラル電極3
12との間に確実に分布定数的なキャパシタが形成され
るようになる。
【0253】図62〜図68は、図50以降に示したL
C素子の変形例を示す図であり、ほぼ平行に配置されて
いる第1および第2のスパイラル電極310,312を
p−Si基板34を挟んでほぼ対向配置した場合が示さ
れている。
【0254】図62は図50に対応しており、渦巻き形
状を有するチャネル222と第2のスパイラル電極31
2とがほぼ同じ長さに形成されたLC素子が示されてい
る。図63は、図62のA−A線拡大断面図であり、図
51に示した断面構造に対応するものである。本実施例
のLC素子12y,14yは、図63にその断面構造を
示すように、第1および第2のスパイラル電極310,
312がp−Si基板34を挟んでほぼ対向するように
形成されており、第1のスパイラル電極310に対応し
て形成されるチャネル222とp−Si基板34の裏面
に形成された第2のスパイラル電極312とにより渦巻
き形状のキャパシタが分布定数的に形成されている。
【0255】図64は図56に対応するものであり、p
−Si基板34を挟んでほぼ対向配置された第1および
第2のスパイラル電極310,312を部分的に対向さ
せたLC素子が示されている。また、図65は図57に
対応するものであり、第1のスパイラル電極310にほ
ぼ対向するように形成された第2のスパイラル電極31
2を複数に分割(例えば2分割)したLC素子が示され
ている。
【0256】また、図62,図64,図65に示した各
LC素子は、いずれもチャネル222側を信号の入出力
路に使用して図1に示した正弦波発振回路等の帰還ルー
プの一部を形成するようにしたものであるが、第2のス
パイラル電極312側を信号入出力路として用いてこの
帰還ループを形成するようにしてもよい。図66はチャ
ネル222と第2のスパイラル電極312をほぼ同じ長
さに形成した場合を、図67はチャネル222の長さを
相対的に短く形成して部分的に対向させた場合を、図6
8は第1のスパイラル電極310を複数に分割(例えば
2分割)することによりこれに対応して形成されるチャ
ネル222も複数に分割したものである。
【0257】図69は、第1および第2のスパイラル電
極310,312をp−Si基板34を挟んでほぼ対向
配置した上記LC素子における部分的変形例を示す図で
ある。具体的には、第1および第2のスパイラル電極3
10,312の各周回部分の合間に渦巻き形状の反転層
が形成されている。すなわち、同図に示すようにp−S
i基板34の一部にn領域234からなる渦巻き形状の
反転層を形成する。このような構造を有するLC素子に
おいて、周回部分の異なる第2のスパイラル電極312
に接続されたp−Si基板34同士に着目すると、間に
n領域234が形成されているため電気的に分離されて
おり、確実に各周回部分のアイソレーションを行うこと
ができる。
【0258】また、実際にウエハの状態にあるp−Si
基板34を利用して上述したLC素子を製造する場合に
は、p−Si基板34の比抵抗が一般の金属に比べて高
いこと等を考慮して、p−Si基板34の厚みをウエハ
の状態よりも薄くする必要がある。また、上述したよう
に一般にはn型ウエハの方が入手しやすいことを考慮し
て、図70に示すような構造としてもよい。
【0259】すなわち、同図(A)に示すように、n−
Si基板144の一方の面に渦巻き形状のエッチングを
行い、このエッチングを行った部分に第1あるいは第2
のスパイラル電極310,312を形成する。また、同
図(B)に示すように、n−Si基板144の一部に第
1および第2のスパイラル電極310,312のそれぞ
れにほぼ沿うようにp+ 領域236を形成し、その後n
−Si基板144の裏面側であって第2のスパイラル電
極312に対応する部分のエッチングを行い、最後に第
1および第2のスパイラル電極310,312を形成す
る。
【0260】このようにほぼ対向するように形成された
第1および第2のスパイラル電極310,312間の間
隔を短くすることにより、ほぼ対向するチャネル222
と第2のスパイラル電極312との間にのみ分布定数的
なキャパシタが形成されることになる。しかも、同図
(B)に示すように第1および第2のスパイラル電極3
10,312に挟まれた部分に反転層を形成した場合に
は、第2のスパイラル電極312の異なる周回部分に接
してpnp構造が形成されるため、各周回部分において
良好なアイソレーションが行われる。
【0261】また、上述した図50以降の各図面におい
て説明したLC素子はいずれも第1および第2のスパイ
ラル電極310,312が渦巻き形状に形成されたもの
であるが、これらを蛇行形状に形成してもよい。図71
〜図82は上述した第1および第2のスパイラル電極3
10,312を蛇行形状を有する第1および第2の電極
310a,312aに置き換えたものであり、蛇行形状
を有する第1の電極310aに対応して形成されるチャ
ネル222と第2の電極312aのそれぞれがインダク
タ導体として機能し、これらの間に分布定数的なキャパ
シタが形成される点に変わりはない。
【0262】具体的には、図71はほぼ同じ長さであっ
て平行に形成された第1および第2の電極310a,3
12aを有し、チャネル222側を信号の入出力路とし
て使用するLC素子が示されている。図72には、第2
の電極312aが短く形成されて第1および第2の電極
310a,312aが部分的に対向したLC素子が示さ
れている。図73には、第2の電極312aが複数に分
割(例えば2分割)されたLC素子が示されている。ま
た、図74〜図76のそれぞれには、それらに示したL
C素子のチャネル222と第2の電極312aの機能を
入れ換えたLC素子が示されている。さらに、図77〜
図82のそれぞれには、第2の電極312aをp−Si
基板34を挟んで第1の電極310aにほぼ対向させた
LC素子が示されており、図77は図71に、図78は
図72に、図79は図73に、図80は図74に、図8
1は図75に、図82は図76にそれぞれ対応してい
る。
【0263】上述した各LC素子は、半導体基板の内部
を部分的に利用して分布定数的なキャパシタを形成する
とともに、LC素子の全体を半導体製造技術を用いて製
造可能にした点に特徴がある。これに対し、半導体基板
を利用する点は同じであるが、その内部を利用せずにそ
の表面に複数のインダクタ導体を重ねて形成することに
よりLC素子を構成することもできる。
【0264】図83は、LC素子の他の変形例を示す概
略図である。
【0265】同図に示すLC素子12z,14zは、高
純度の半導体基板320とこの表面にほぼ重ねて形成さ
れた2本のスパイラル電極322,324とを含んで構
成されている。第1のスパイラル電極322は、例えば
図2に示す第1のスパイラル電極20に対応しており、
第2のスパイラル電極324は図2に示す第2のスパイ
ラル電極22に対応している。また、これら第1および
第2のスパイラル電極322,324間には図示しない
絶縁膜が形成されている。
【0266】したがって、第1のスパイラル電極322
の両端に図2に示す入出力電極24,26に相当する端
子を設けることにより、この第1のスパイラル電極32
2を一方のインダクタ導体として機能させることができ
る。また、第2のスパイラル電極324は、この第1の
スパイラル電極322にほぼ重ねて形成されるため、こ
れら2つのスパイラル電極322,324間には分布定
数的なキャパシタが形成され、これらのインダクタ成分
とキャパシタ成分との関係は図2等に示したLC素子1
2とまったく同じとなる。
【0267】このため、図83に示すLC素子12z,
14zの各スパイラル電極322同士を直列に接続して
帰還ループを形成するとともに、第2のスパイラル電極
324の一方端同士を直結あるいはキャパシタ46,バ
リキャップ48を介して接続することにより図1に示し
た正弦波発振回路1等と同様の正弦波発振回路を得るこ
とができる。
【0268】特に、図83に示したLC素子12z,1
4zは、半導体基板320を利用して形成されているた
め、この半導体基板320上に図1に示したその他の部
品(例えばインバータ論理回路10等)も併せて一体形
成することが可能であり、大量生産および小型化が容易
に実現できる。
【0269】図84は、図83に概略構造を示したLC
素子の製造工程の一例を示す図である。同図は、LC素
子12z,14zの断面構造を各工程順に示したもので
ある。
【0270】(1)高純度の半導体基板320を用意す
る(同図(A))。この半導体基板320は、純度が低
い場合にはその表面に酸化膜等を形成することにより絶
縁基板として使用することもできる。
【0271】(2)この半導体基板320上に金属膜を
形成、例えばアルミニウム膜324aを蒸着する(同図
(B))。なお、金や銅などの他の材料により金属膜を
形成するようにしてもよい。
【0272】(3)アルミニウム膜324a上に渦巻き
形状のフォトレジスト330aのパターンを形成する
(同図(C))。このパターンの形成は、例えば写真蝕
刻法により行うことができる。
【0273】(4)このフォトレジスト330aをマス
クにしてアルミニウム膜324aを部分的に除去するこ
とにより第2のスパイラル電極324を形成する(同図
(D))。その後、フォトレジスト324aを洗い落と
す。
【0274】(5)このようにして形成された第2のス
パイラル電極324の端部(外周側端部)をフォトレジ
スト330bによってマスクする(同図(E))。
【0275】(6)陽極酸化を行って、第2のスパイラ
ル電極324の残り部分(マスクされない部分)の表面
に絶縁性酸化皮膜326を形成する(同図(F))。
【0276】(7)再度、全表面に金属膜を形成、例え
ばアルミニウム膜322aを蒸着する(同図(G))。
【0277】(8)アルミニウム膜322a上に渦巻き
形状のフォトレジスト330cのパターンおよび第2の
スパイラル電極324の端部に形成する引き出し電極3
28に対応するフォトレジスト330dのパターンを形
成する(同図(H))。このパターンの形成は、例えば
上述したフォトレジスト330aの場合と同様に写真蝕
刻法により行うことができる。
【0278】(9)これらのフォトレジスト330c,
330dをマスクにしてアルミニウム膜332aを部分
的に除去することにより、第1のスパイラル電極322
を形成するとともに、下層である第2のスパイラル電極
324の端部に引き出し電極328を形成する。その
後、フォトレジスト330c,330dを洗い落とす。
【0279】図85は、このような工程を経て半導体基
板320上に形成されたLC素子12z,14zの平面
形状を示す図である。同図に示すように、本実施例のL
C素子12z,14zは、表面に第1のスパイラル電極
322が形成されているとともに、第2のスパイラル電
極324の端部に設けられた引き出し電極328が露出
している。この引き出し電極328が図2に示したキャ
パシタ連結用電極28に相当するものであり、第1のス
パイラル電極322の両端のそれぞれが図2に示した2
つの入出力電極24,26のそれぞれに対応している。
【0280】図86は、図83に概略構造を示したLC
素子の製造工程の他の例を示す図である。図84に示し
た製造工程によれば、2つのスパイラル電極322,3
24の間を陽極酸化により形成された絶縁性酸化皮膜3
26により絶縁を行うLC素子が製造されるが、図86
に示した製造工程によれば、この絶縁性酸化皮膜326
を化学気相法(CVD)により形成されたシリコン酸化
膜に置き換えたLC素子が製造される点が異なってい
る。以下、その製造工程を説明する。
【0281】(1)高純度の半導体基板320を用意す
る(同図(A))。そして、この半導体基板320上に
化学気相法により第1のシリコン酸化膜340を形成す
る(同図(B))。ただし、高純度の半導体基板320
を用いた場合には比抵抗が高いため、第1のシリコン酸
化膜340を省略することもできる。
【0282】(2)第1のシリコン酸化膜340上に、
次の化学気相法の工程に耐え得る金属、例えば金,タン
グステン,モリブデン,タンタル,ニオブなどの金属膜
324bを蒸着する(同図(C))。
【0283】(3)金属膜324b上に渦巻き形状のフ
ォトレジスト330aのパターンを形成する(同図
(D))。このパターンの形成は、例えば写真蝕刻法に
より行うことができる。
【0284】(4)このフォトレジスト330aをマス
クにして金属膜324bを部分的に除去することにより
第2のスパイラル電極324を形成する(同図
(E))。その後、フォトレジスト330aを洗い落と
す。
【0285】(5)第2のスパイラル電極324および
露出している第1のシリコン酸化膜340の上に、化学
気相法により第2のシリコン酸化膜342を形成する
(同図(F))。
【0286】(6)この第2のシリコン酸化膜342上
に金属膜322bを蒸着する(同図(G))。後工程に
化学気相法の工程がないことから、この金属膜322b
はアルミニウム膜とすることができるが、金や銅等の他
の金属材料で形成してもよい。
【0287】(7)金属膜322b上に渦巻き形状のフ
ォトレジスト330cのパターンを形成する(同図
(H))。このパターンの形成は、例えば上述したフォ
トレジスト330aの場合と同様に写真蝕刻法により行
うことができる。
【0288】(8)このフォトレジスト330cをマス
クにして、第1のスパイラル電極322を形成する(同
図(I))。その後、フォトレジスト330cを洗い落
とす。
【0289】このような工程を用いることによっても、
図85に平面構造を示したLC素子12z,14zを製
造することができる。このように、上述した本実施例の
LC素子12z,14zは、半導体基板320の表面に
形成されているため、この半導体基板320を用いて図
1に示した正弦波発振回路1等のその他の部品(例えば
インバータ論理回路10)を形成することができ、一体
形成による大量生産および回路全体の小型化を容易に実
現することができる。
【0290】なお、図83に概略構造を示したLC素子
12z,14zは、第1および第2のスパイラル電極3
22,324をほぼ同じ長さの渦巻き形状に形成した
が、これら2つの電極を部分的に対向させるようにして
もよく、第2のスパイラル電極324側を複数に分割す
るようにしてもよい。また、渦巻き形状のみならず、図
28等に示したような蛇行形状を有する2つの電極をほ
ぼ重ねて形成するようにしてもよい。さらに、第1およ
び第2のスパイラル電極322,324をほぼ対向させ
るだけではなく、一方の電極の各周回部分の合間に他の
電極の各周回部分の中心がくるようにして部分的に第1
および第2のスパイラル電極322,324を重ねるよ
うにしてもよい。
【0291】なお、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が
可能である。
【0292】例えば、上述した各実施例においては、分
布定数的にインダクタとキャパシタとが形成された2つ
のLC素子12,14(あるいはLC素子12a,14
a等)をリング状に接続するようにしたが、3つ以上の
LC素子を接続するようにしてもよい。
【0293】図87は、3つのLC素子を用いた正弦波
発振回路の構成を示す図である。基本的には、図8
(A)に構成を示した正弦波発振回路2aにLC素子1
3を追加した構成を示している。図87に示すように、
LC素子13のキャパシタ連結用電極28を開放してお
いてLC素子13を主にインダクタ素子として使用して
いるが、LC素子12,13,14の各キャパシタ連結
用電極28を直結あるいはそれぞれの間をキャパシタ4
6やバリキャップ48を介して接続するようにしてもよ
い。また、図8(A)に示した正弦波発振回路2aに限
らず、他の実施例の正弦波発振回路において使用するL
C素子の個数を3個以上にしてもよい。
【0294】また、上述した各実施例においては、ほぼ
同一構造を有する2個(あるいは3個以上のとLC素
子)を用いて正弦波発振回路を構成する場合を例にとり
説明したが、1つの正弦波発振回路内において異なる構
造のLC素子を組み合わせるようにしてもよい。例え
ば、図2と図10に示したような類似した構造を有する
LC素子を組み合わせる場合や、図2と図22に示した
ような異なる構造を有するLC素子を組み合わせる場合
の両方が考えられる。
【0295】また、上述した各LC素子は、インダクタ
導体として機能する電極やチャネルを渦巻き形状あるい
は蛇行形状に形成したが、この渦巻き形状には周回数が
ほぼ1周あるいは1周未満のものも含まれ、蛇行形状に
は波形や凹凸数が1あるいは2程度の非直線形状のもの
も含まれており、インダクタンスの大きさ等に応じて、
使用するLC素子の電極形状を適宜選択することができ
る。
【0296】また、上述した各実施例のLC素子は、主
にp−Si基板を利用して形成したが、同様にn型半導
体基板(n−Si基板)を利用して形成するようにして
もよい。また、半導体基板はゲルマニウム等のシリコン
以外の材料、あるいは非晶質材料であるアモルファスシ
リコン等を用いるようにしてもよい。
【0297】
【発明の効果】上述したように、請求項1の発明によれ
ば、反転増幅器と複数のLC素子とをリング状に接続す
るだけで正弦波発振が行われており、より少ない部品を
組み合わせるだけで簡単に正弦波を発生させることがで
きる。また、上述した複数のLC素子は半導体基板上に
形成されているため、反転増幅器を含む全ての部品を半
導体基板上に形成することが可能であり、半導体製造技
術を利用した大量生産や回路の小型化が可能となる。特
に、これら各部品は1つの半導体基板上に形成すること
もでき、この場合は回路全体を半導体基板上に一体形成
することになるため、大量生産や回路を小型化がさらに
容易になる。
【0298】また、請求項2の発明によれば、周波数調
整用キャパシタの容量を変えることにより、発生する正
弦波の周波数をある範囲で調整することができる。特
に、この周波数調整用キャパシタは、上述した半導体基
板上に併せて形成することもできるため、回路全体とし
て一体形成が可能であり、容易に大量生産および小型化
が可能である点に変わりはない。
【0299】また、請求項3の発明によれば、上述した
周波数調整用キャパシタをバリキャップに置き換えてお
り、このバリキャップの容量を外部から制御することに
より、発生する正弦波の周波数をある範囲で変更するこ
とが可能であり、電圧制御型の正弦波発振回路を容易に
構成することができる。しかも、このバリキャップも半
導体基板上に他の部品とともに一体形成することが可能
であり、回路全体の大量生産や小型化が容易である点も
同じである。
【0300】また、請求項4または5の発明によれば、
上述した反転増幅器をインバータ論理回路やトランジス
タを利用したソース接地回路あるいはエミッタ接地回路
により構成しており、このような構造が単純な反転増幅
器とLC素子とを組み合わせるだけで、簡単に正弦波を
発生させることができる。特に、上述したインバータ論
理回路やソース接地回路あるいはエミッタ接地回路は一
般には半導体基板上に形成されるものであり、他の部品
とともに一体形成する場合にさらに好都合となる。
【0301】また、請求項6の発明によれば、半導体基
板上であって同心状に隣接して配置された2つの電極
と、これら2つの電極に沿って形成された渦巻き形状の
pn接合層とにより上述したLC素子が形成されてお
り、特に、このLC素子は半導体製造技術を用いて半導
体基板に形成されるため、反転増幅器等のそれ以外の部
品とともに半導体基板上に一体形成する際に好都合とな
る。
【0302】また、請求項7の発明によれば、請求項6
において半導体基板上に同心状に設けられていた2つの
電極を互いに半導体基板を挟んで対向配置することによ
りLC素子が形成されており、このLC素子も半導体製
造技術を用いて半導体基板に形成されるため、反転増幅
器等のそれ以外の部品とともに一体形成する際に好都合
となる。
【0303】また、請求項8,9の発明によれば、請求
項6,7における電極を渦巻き形状から蛇行形状に置き
換えることによりLC素子が形成されており、電極の一
方端あるいは両端に配線を施す場合に、この配線を電極
の一部と交差せずに引き出せる利点があり、正弦波発振
回路全体の製造工程の簡略化が可能となる。
【0304】また、請求項10の発明によれば、2つの
電極のいずれか一方を短く形成することにより、インダ
クタ導体が部分的に対向したLC素子が形成されてお
り、部分対向させる電極の割合等を変えることにより発
振周波数をある範囲で調整することができるため、正弦
波発振回路の設計の自由度が増すことにもなる。
【0305】また、請求項11の発明によれば、2つの
電極のいずれか一方を複数に分割、あるいはこの電極の
分割とともに対応するpn接合層を複数に分割すること
により、分割されたインダクタ導体による影響が少ない
LC素子が形成されており、電極の分割状態を変えるこ
とにより発振周波数をある範囲で調整することができる
ため、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにもな
る。
【0306】また、請求項12の発明によれば、pn接
合層に印加する逆バイアス電圧を変更することにより、
分布定数的に形成されるキャパシタの容量値が変更可能
なLC素子が形成されており、このようなLC素子を用
いることによりある範囲で発振周波数を制御可能な電圧
制御型の正弦波発振回路を容易に実現することができ
る。
【0307】また、請求項13〜16の発明によれば、
ゲートが渦巻き形状あるいは蛇行形状を有するMOS構
造のLC素子が形成されており、これらの各LC素子は
マスクの形状等を変更するだけで通常のMOSトランジ
スタを製造する工程を利用して製造可能であり、反転増
幅器等のそれ以外の部品とともに半導体基板上に一体形
成する際に好都合となる。特に、反転増幅器もMOS構
造を有する場合、例えばMOSトランジスタやCMOS
等のインバータ論理回路により構成した場合には、正弦
波発振回路全体をMOS構造とすることができることか
ら、製造工程の簡略化や各部品の高密度実装化が可能と
なり、ICやLSIの一部として組み込む場合に特に好
都合となる。
【0308】また、請求項17〜24の発明によれば、
上述した請求項13〜16の各LC素子のゲート電極に
ほぼ平行に、あるいはほぼ対向するように第2の電極を
設けることによりMOS構造のLC素子が形成されてお
り、ゲート電極は独立して逆バイアス印加用に用いられ
ている。したがって、ゲート電極への電圧印加とチャネ
ルや第2の電極を介した信号の伝送とを切り離すことが
でき、複数のLC素子毎に異なるバイアス電圧を設定す
る場合に特に好都合となる。
【0309】また、請求項25または26の発明によれ
ば、請求項13〜24におけるゲート電極とチャネル、
あるいは2つの電極を部分的に対向させることによりL
C素子が形成されており、この部分対向させる割合等を
変えることにより発振周波数をある範囲で調整すること
ができ、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにも
なる。
【0310】また、請求項27の発明によれば、上述し
たチャネルが形成される位置に予めキャリアを注入して
おくデプレション型のLC素子が形成されており、予め
注入するキャリアの量を調整することによりチャネル抵
抗やソース・ドレイン間電流を変えることができるた
め、LC素子の特性をある範囲で調整することができ、
正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにもなる。
【0311】また、請求項28または29の発明によれ
ば、ゲート電極に対応して形成されるチャネルあるいは
第2の電極が複数に分割されたLC素子が形成されてお
り、この分割状態を変えることにより発振周波数をある
範囲で調整することができ、正弦波発振回路の設計の自
由度が増すことにもなる。
【0312】また、請求項30の発明によれば、請求項
13〜29の各ゲート電圧を変えることによりチャネル
抵抗が変更可能なLC素子が形成されており、このチャ
ネル抵抗の変更の程度に応じてLC素子の周波数特性も
変更されることになるため、電圧制御型の正弦波発振回
路を容易に実現することができる。
【0313】また、請求項31または32の発明によれ
ば、半導体基板上に直接あるいは第1の絶縁層を形成し
た後に、第1の電極,第2の絶縁層,第2の電極を積層
するように形成することによりLC素子が形成されてお
り、半導体基板を利用してこのLC素子や反転増幅器等
の他の部品とともに一体形成できることに変わりはな
く、正弦波発振回路の大量生産や小型化に適している。
【0314】また、請求項33または34の発明によれ
ば、2つの電極間に形成する絶縁層を、電極の酸化ある
いは化学気相法による酸化物により構成したLC素子が
形成されており、このようにして絶縁層を形成する工程
や渦巻きあるいは蛇行形状の電極を形成する工程は一般
的な半導体製造技術によって実現されるものであり、他
の部品とともに正弦波発振回路の全体を一体形成する際
に好都合となる。
【0315】また、請求項35の発明によれば、請求項
31〜34における2つの電極のいずれか一方を短くし
てこれらの電極を部分的に対向させることによりLC素
子が形成されており、この部分対向させる割合等を変え
ることにより発振周波数をある範囲で調整することがで
き、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにもな
る。
【0316】また、請求項36の発明によれば、請求項
31〜35における2つの電極のいずれか一方が複数に
分割されたLC素子が形成されており、この分割状態を
変えることにより発振周波数をある範囲で調整すること
ができ、正弦波発振回路の設計の自由度が増すことにな
る。
【0317】また、請求項37の発明によれば、上述し
た反転増幅器の動作電源電圧を変えることにより発振周
波数の不連続な切り替えを行っており、大きく周波数が
異なる2種類の正弦波を別々の回路を組み合わせずに単
一の回路によって発生させることができ、回路全体を半
導体製造技術を利用して製造した場合の実装面積の小型
化等が可能となる。
【0318】また、請求項38の発明によれば、正弦波
発振回路の全体を半導体基板上に一体形成できる点を明
確にしたものであり、半導体基板を利用して形成された
LC素子とともに半導体部品である反転増幅器等を一体
形成した正弦波発振回路を実現することは容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した第1実施例の正弦波発振回路
の構成を示す図である。
【図2】LC素子の一例を示す図である。
【図3】図2のA−A線拡大断面図である。
【図4】図2に示したLC素子の等価回路を示す図であ
る。
【図5】正弦波発振回路内においてLC素子にバイアス
電圧を印加するための具体的構成を示す図である。
【図6】図2に示したLC素子の製造工程を示す図であ
る。
【図7】分布定数型のLC素子の一般的特性を示す図で
ある。
【図8】第1実施例の変形例を示す図である。
【図9】第1実施例の他の変形例を示す図である。
【図10】図2に示したLC素子の変形例を示す図であ
る。
【図11】図10に示したLC素子の等価回路を示す図
である。
【図12】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図13】図12に示したLC素子の等価回路を示す図
である。
【図14】図12に示したLC素子の接続例を示す図で
ある。
【図15】本発明を適用した第2実施例の正弦波発振回
路の構成を示す図である。
【図16】第2実施例の変形例を示す図である。
【図17】第2の実施例の他の変形例を示す図である。
【図18】第2実施例の他の変形例を示す図である。
【図19】本発明を適用した第3実施例の正弦波発振回
路の構成を示す図である。
【図20】第3実施例の変形例を示す図である。
【図21】第3実施例の他の変形例を示す図である。
【図22】LC素子の変形例を示す図である。
【図23】図22のA−A線拡大断面図である。
【図24】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図25】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図26】図22に示したLC素子の断面構造の部分的
変形例を示す図である。
【図27】図22に示したLC素子の断面構造の部分的
変形例を示す図である。
【図28】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図29】蛇行形状を有するインダクタ導体の動作を説
明するための図である。
【図30】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図31】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図32】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図33】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図34】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図35】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図36】図35のA−A線拡大断面図である。
【図37】図35のB−B線拡大断面図である。
【図38】図35のC−C線拡大断面図である。
【図39】図35に示したLC素子においてチャネルが
形成される状態を説明するための図である。
【図40】図35に示したLC素子の渦巻き形状の電極
に沿った断面を示す図である。
【図41】図35に示したLC素子の等価回路を示す図
である。
【図42】図35に示したLC素子の製造工程を示す図
である。
【図43】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図44】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図45】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図46】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図47】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図48】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図49】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図50】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図51】図50のA−A線拡大断面図である。
【図52】図50のB−B線拡大断面図である。
【図53】図50のC−C線拡大断面図である。
【図54】図50のD−D線拡大断面図である。
【図55】図50に示したLC素子の等価回路を示す図
である。
【図56】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図57】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図58】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図59】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図60】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図61】図50に示したLC素子の断面構造の部分的
変形例を示す図である。
【図62】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図63】図62に示したLC素子においてチャネルが
形成される状態を説明するための図である。
【図64】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図65】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図66】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図67】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図68】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図69】図62に示したLC素子の断面構造の部分的
変形例を示す図である。
【図70】図62に示したLC素子の断面構造の部分的
変形例を示す図である。
【図71】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図72】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図73】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図74】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図75】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図76】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図77】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図78】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図79】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図80】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図81】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図82】LC素子の他の変形例を示す図である。
【図83】LC素子の他の変形例の概略を示す図であ
る。
【図84】図83に示したLC素子の製造工程の一例を
示す図である。
【図85】図83に示したLC素子の平面図である。
【図86】図83に示したLC素子の製造工程の他の例
を示す図である。
【図87】3つのLC素子を使用した正弦波発振回路の
構成を示す図である。
【符号の説明】
1 正弦波発振回路 10 インバータ論理回路 12,14 LC素子 16 キャパシタ 20 第1のスパイラル電極 22 第2のスパイラル電極 24,26 入出力電極 28 キャパシタ連結用電極 34 p−Si基板(p型シリコン基板) 36 pn接合層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 27/04 21/822 H03H 5/02 8321−5J // H01G 4/40 9174−5E H01G 4/40 A

Claims (38)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力信号を増幅するとともに位相反転を
    行う反転増幅器と、 半導体基板上にほぼ並行して形成された2本のインダク
    タ導体を有し、これら2本のインダクタ導体による2本
    のインダクタとそれらの間のキャパシタとが分布定数的
    に形成されており、前記2本のインダクタ導体のいずれ
    か一方が信号入出力路として使用されるとともに、この
    信号入出力路として使用されるいずれか一方のインダク
    タが互いに直列接続され、他方のインダクタ同士が接続
    された複数のLC素子と、 を備え、前記反転増幅器の出力を直列接続された複数の
    前記インダクタを介して入力側に帰還させることにより
    正弦波発振を行うことを特徴とする正弦波発振回路。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 前記複数のLC素子の前記他方のインダクタ同士を周波
    数調整用キャパシタを介して接続したことを特徴とする
    正弦波発振回路。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 前記複数のLC素子の前記他方のインダクタ同士をバリ
    キャップを介して接続したことを特徴とする正弦波発振
    回路。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3のいずれかにおいて、 前記反転増幅器をインバータ論理回路により構成するこ
    とを特徴とする正弦波発振回路。
  5. 【請求項5】 請求項1〜3のいずれかにおいて、 前記反転増幅器をソース接地回路あるいはエミッタ接地
    回路により構成することを特徴とする正弦波発振回路。
  6. 【請求項6】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 同一平面内でほぼ同心状で隣接して配置されており、前
    記2本のインダクタ導体として機能する渦巻き形状の2
    つの電極と、 前記半導体基板の表面近傍であって前記2つの電極に沿
    った位置に形成され、これら2つの電極のいずれか一方
    にp領域が、他方にn領域が電気的に接続されており、
    逆バイアス電圧を印加することにより前記キャパシタと
    して動作する渦巻き形状のpn接合層と、 を備えることを特徴とする正弦波発振回路。
  7. 【請求項7】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体基板を挟んでほぼ対向して配置されており、
    前記2本のインダクタ導体として機能する渦巻き形状の
    2つの電極と、 前記半導体基板内であって前記2つの電極に挟まれた位
    置に形成され、これら2つの電極のいずれか一方にp領
    域が、他方にn領域が電気的に接続されており、逆バイ
    アス電圧を印加することにより前記キャパシタとして動
    作する渦巻き形状のpn接合層と、 を備えることを特徴とする正弦波発振回路。
  8. 【請求項8】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 同一平面内でほぼ平行に隣接して配置されており、前記
    2本のインダクタ導体として機能する蛇行形状の2つの
    電極と、 前記半導体基板の表面近傍であって前記2つの電極に沿
    った位置に形成され、これら2つの電極のいずれか一方
    にp領域が、他方にn領域が電気的に接続されており、
    逆バイアス電圧を印加することにより前記キャパシタと
    して動作する蛇行形状のpn接合層と、 を備えることを特徴とする正弦波発振回路。
  9. 【請求項9】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体基板を挟んで対向して配置されており、前記
    2本のインダクタ導体として機能する蛇行形状の2つの
    電極と、 前記半導体基板内であって前記2つの電極に挟まれた位
    置に形成され、これら2つの電極のいずれか一方にp領
    域が、他方にn領域が電気的に接続されており、逆バイ
    アス電圧を印加することにより前記キャパシタとして動
    作する渦巻き形状のpn接合層と、 を備えることを特徴とする正弦波発振回路。
  10. 【請求項10】 請求項6〜9のいずれかにおいて、 前記2つの電極のいずれか一方の長さを他方に比べて短
    く形成することを特徴とする正弦波発振回路。
  11. 【請求項11】 請求項6〜10のいずれかにおいて、 前記他方のインダクタとして機能する前記2つの電極の
    一方を複数に分割し、あるいは前記他方のインダクタと
    して機能する前記2つの電極の一方とともに対応する前
    記pn接合層を複数に分割し、各分割片を前記複数のL
    C素子相互間で接続することを特徴とする正弦波発振回
    路。
  12. 【請求項12】 請求項6〜11のいずれかにおいて、 前記pn接合層に印加する逆バイアス電圧を変更するこ
    とにより、前記LC素子内に分布定数的に形成されるキ
    ャパシタの容量値を変えることを特徴とする正弦波発振
    回路。
  13. 【請求項13】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状の電極
    と、 前記渦巻き形状の電極と前記半導体基板との間に形成さ
    れた絶縁層と、 前記半導体基板内にあって、前記渦巻き形状の電極に対
    応して形成されるチャネルの両端付近に形成されてソー
    スおよびドレインとして機能する第1および第2の拡散
    領域と、 を備え、前記渦巻き形状の電極とこれに対応して形成さ
    れるチャネルのそれぞれが前記2本のインダクタ導体と
    して機能するとともに、前記チャネルを前記信号入出力
    路として使用することを特徴とする正弦波発振回路。
  14. 【請求項14】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状の電極
    と、 前記渦巻き形状の電極と前記半導体基板との間に形成さ
    れた絶縁層と、 前記半導体基板内にあって、前記渦巻き形状の電極に対
    応して形成されるチャネルの一方端付近に形成されてソ
    ースあるいはドレインとして機能する第1の拡散領域
    と、 を備え、前記渦巻き形状の電極とこれに対応して形成さ
    れるチャネルのそれぞれが前記2本のインダクタ導体と
    して機能するとともに、前記渦巻き形状の電極を前記信
    号入出力路として使用することを特徴とする正弦波発振
    回路。
  15. 【請求項15】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の電極
    と、 前記蛇行形状の電極と前記半導体基板との間に形成され
    た絶縁層と、 前記半導体基板内にあって、前記蛇行形状の電極に対応
    して形成されるチャネルの両端付近に形成されてソース
    およびドレインとして機能する第1および第2の拡散領
    域と、 を備え、前記蛇行形状の電極とこれに対応して形成され
    るチャネルのそれぞれが前記2本のインダクタ導体とし
    て機能するととにも、前記チャネルを前記信号入出力路
    として使用することを特徴とする正弦波発振回路。
  16. 【請求項16】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の電極
    と、 前記蛇行形状の電極と前記半導体基板との間に形成され
    た絶縁層と、 前記半導体基板内にあって、前記蛇行形状の電極に対応
    して形成されるチャネルの一方端付近に形成されてソー
    スあるいはドレインとして機能する第1の拡散領域と、 を備え、前記蛇行形状の電極とこれに対応して形成され
    るチャネルのそれぞれが前記2本のインダクタ導体とし
    て機能するととにも、前記蛇行形状の電極を前記信号入
    出力路として使用することを特徴とする正弦波発振回
    路。
  17. 【請求項17】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状の第1
    の電極と、 渦巻き形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に
    形成された絶縁層と、 前記半導体基板表面であって、前記第1の電極と同心状
    で隣接して形成された渦巻き形状の第2の電極と、 前記半導体基板内にあって、渦巻き形状の前記第1の電
    極に対応して形成されるチャネルの両端付近に形成され
    てソースおよびドレインとして機能する第1および第2
    の拡散領域と、 を備え、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
    れるチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本の
    インダクタ導体として機能するととにも、前記チャネル
    を前記信号入出力路として使用することを特徴とする正
    弦波発振回路。
  18. 【請求項18】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する渦巻き形状の第1
    の電極と、 渦巻き形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に
    形成された絶縁層と、 前記半導体基板表面であって、前記第1の電極と同心状
    で隣接して形成された渦巻き形状の第2の電極と、 前記半導体基板内にあって、渦巻き形状の前記第1の電
    極に対応して形成されるチャネルの一方端付近に形成さ
    れてソースあるいはドレインとして機能する第1の拡散
    領域と、 を備え、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
    れるチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本の
    インダクタ導体として機能するととにも、前記第2の電
    極を前記信号入出力路として使用することを特徴とする
    正弦波発振回路。
  19. 【請求項19】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の第1の
    電極と、 蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に形
    成された絶縁層と、 前記半導体基板表面であって、前記第1の電極に沿って
    ほぼ平行に隣接して形成された蛇行形状の第2の電極
    と、 前記半導体基板内にあって、蛇行形状の前記第1の電極
    に対応して形成されるチャネルの両端付近に形成されて
    ソースおよびドレインとして機能する第1および第2の
    拡散領域と、 を備え、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成され
    るチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のイ
    ンダクタ導体として機能するとともに、前記チャネルを
    前記信号入出力路として使用することを特徴とする正弦
    波発振回路。
  20. 【請求項20】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 MOS構造におけるゲートを形成する蛇行形状の第1の
    電極と、 蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に形
    成された絶縁層と、 前記半導体基板表面であって、前記第1の電極に沿って
    ほぼ平行に隣接して形成された蛇行形状の第2の電極
    と、 前記半導体基板内にあって、蛇行形状の前記第1の電極
    に対応して形成されるチャネルの一方端付近に形成され
    てソースあるいはドレインとして機能する第1の拡散領
    域と、 を備え、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成され
    るチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のイ
    ンダクタ導体として機能するとともに、前記第2の電極
    を前記信号入出力路として使用することを特徴とする正
    弦波発振回路。
  21. 【請求項21】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS構造に
    おけるゲートを形成する渦巻き形状の第1の電極と、 渦巻き形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に
    形成された絶縁層と、 前記半導体基板の他方の面側に形成され、前記第1の電
    極とほぼ対向する位置に形成された渦巻き形状の第2の
    電極と、 前記半導体基板内にあって、渦巻き形状の前記第1の電
    極に対応して形成されるチャネルの両端付近に形成され
    てソースおよびドレインとして機能する第1および第2
    の拡散領域と、 を備え、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
    れるチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本の
    インダクタ導体として機能するとともに、前記チャネル
    を前記信号入出力路として使用することを特徴とする正
    弦波発振回路。
  22. 【請求項22】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS構造に
    おけるゲートを形成する渦巻き形状の第1の電極と、 渦巻き形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に
    形成された絶縁層と、 前記半導体基板の他方の面側に形成され、前記第1の電
    極とほぼ対向する位置に形成された渦巻き形状の第2の
    電極と、 前記半導体基板内にあって、渦巻き形状の前記第1の電
    極に対応して形成されるチャネルの一方端付近に形成さ
    れてソースあるいはドレインとして機能する第1の拡散
    領域と、 を備え、渦巻き形状の前記第1の電極に対応して形成さ
    れるチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本の
    インダクタ導体として機能するとともに、前記第2の電
    極を前記信号入出力路として使用することを特徴とする
    正弦波発振回路。
  23. 【請求項23】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS構造に
    おけるゲートを形成する蛇行形状の第1の電極と、 蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に形
    成された絶縁層と、 前記半導体基板の他方の面側に形成され、前記第1の電
    極とほぼ対向する位置に形成された蛇行形状の第2の電
    極と、 前記半導体基板内にあって、蛇行形状の前記第1の電極
    に対応して形成されるチャネルの両端付近に形成されて
    ソースおよびドレインとして機能する第1および第2の
    拡散領域と、 を備え、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成され
    るチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のイ
    ンダクタ導体として機能するとともに、前記チャネルを
    信号入出力路として使用することを特徴とする正弦波発
    振回路。
  24. 【請求項24】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体基板の一方の面側に形成され、MOS構造に
    おけるゲートを形成する蛇行形状の第1の電極と、 蛇行形状の前記第1の電極と前記半導体基板との間に形
    成された絶縁層と、 前記半導体基板の他方の面側に形成され、前記第1の電
    極とほぼ対向する位置に形成された蛇行形状の第2の電
    極と、 前記半導体基板内にあって、蛇行形状の前記第1の電極
    に対応して形成されるチャネルの一方端付近に形成され
    てソースあるいはドレインとして機能する第1の拡散領
    域と、 を備え、蛇行形状の前記第1の電極に対応して形成され
    るチャネルと前記第2の電極のそれぞれが前記2本のイ
    ンダクタ導体として機能するとともに、前記第2の電極
    を信号入出力路として使用することを特徴とする正弦波
    発振回路。
  25. 【請求項25】 請求項13〜16のいずれかにおい
    て、 前記半導体基板表面近傍であって前記チャネルが形成さ
    れる位置の少なくとも一部に予めキャリアを注入すると
    ともに、前記渦巻き形状あるいは前記蛇行形状の電極に
    対して前記チャネルの長さを長くあるいは短く設定する
    ことにより、渦巻き形状あるいは蛇行形状の前記電極と
    前記チャネルとを部分的に対向させることを特徴とする
    正弦波発振回路。
  26. 【請求項26】 請求項17〜24のいずれかにおい
    て、 前記第1および第2の電極のいずれか一方の長さを他方
    に比べて短く形成することにより、渦巻き形状あるいは
    蛇行形状の前記第2の電極と前記チャネルとを部分的に
    対向させることを特徴とする正弦波発振回路。
  27. 【請求項27】 請求項13〜24,26のいずれかに
    おいて、 前記半導体基板表面近傍であって前記チャネルが形成さ
    れる位置に、予めキャリアを注入することを特徴とする
    LC素子。
  28. 【請求項28】 請求項18,20,22,24,2
    6,27のいずれかにおいて、 前記第1の電極に対応して形成される前記チャネルを前
    記他方のインダクタとして使用する場合において、前記
    第1の電極を複数に分割することにより前記第1の電極
    に対応して形成される前記チャネルを複数に分割し、各
    分割チャネルの一方端近傍に形成された前記拡散領域同
    士を前記複数のLC素子相互間で接続することを特徴と
    する正弦波発振回路。
  29. 【請求項29】 請求項17,19,21,23,2
    6,27のいずれかにおいて、 前記第2の電極を前記他方のインダクタとして使用する
    場合において、前記第2の電極を複数に分割し、各分割
    電極片の一方端近傍同士を前記複数のLC素子相互間で
    接続することを特徴とする正弦波発振回路。
  30. 【請求項30】 請求項13〜29のいずれかにおい
    て、 前記ゲートを形成する電極に印加するゲート電圧を変更
    することにより、前記チャネルが有する抵抗値を可変に
    制御することを特徴とする正弦波発振回路。
  31. 【請求項31】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体表面に直接あるいは第1の絶縁層を挟んで形
    成された渦巻き形状の第1の電極と、 前記第1の電極の表面に形成された第2の絶縁層と、 前記第1の電極とほぼ対向する位置に前記第2の絶縁層
    を挟んで形成された渦巻き形状の第2の電極と、 を備え、前記第1および第2の電極のそれぞれが前記2
    本のインダクタ導体として機能することを特徴とする正
    弦波発振回路。
  32. 【請求項32】 請求項1〜5のいずれかにおいて、 前記LC素子は、 前記半導体表面に直接あるいは第1の絶縁層を挟んで形
    成された蛇行形状の第1の電極と、 前記第1の電極の表面に形成された第2の絶縁層と、 前記第1の電極とほぼ対向する位置に前記第2の絶縁層
    を挟んで形成された蛇行形状の第2の電極と、 を備え、前記第1および第2の電極のそれぞれが前記2
    本のインダクタ導体として機能することを特徴とする正
    弦波発振回路。
  33. 【請求項33】 請求項31または32において、 前記第2の絶縁層は、前記第1の電極を酸化することに
    より形成された酸化膜であることを特徴とする正弦波発
    振回路。
  34. 【請求項34】 請求項31または32において、 前記第2の絶縁層は、化学気相法により形成された半導
    体酸化膜あるいは窒化膜であることを特徴とする正弦波
    発振回路。
  35. 【請求項35】 請求項31〜34のいずれかにおい
    て、 前記第1および第2の電極のいずれか一方の長さを他方
    に比べて短く形成することを特徴とする正弦波発振回
    路。
  36. 【請求項36】 請求項31〜35のいずれかにおい
    て、 前記他方のインダクタとして機能する前記第1および第
    2の電極の一方を複数に分割し、各分割片を前記複数の
    LC素子相互間で接続することを特徴とする正弦波発振
    回路。
  37. 【請求項37】 請求項1〜36のいずれかにおいて、 前記反転増幅器の動作電源電圧を変えることにより、発
    振周波数の切り替えを行うことを特徴とする正弦波発振
    回路。
  38. 【請求項38】 請求項1〜37のいずれかにおいて、 前記LC素子と前記反転増幅器、あるいはこれらに加え
    て前記周波数調整用キャパシタあるいは前記バリキャッ
    プを共通する前記半導体基板上に一体形成することを特
    徴とする正弦波発振回路。
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