JPH07311708A - メモリカード - Google Patents

メモリカード

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Publication number
JPH07311708A
JPH07311708A JP10352294A JP10352294A JPH07311708A JP H07311708 A JPH07311708 A JP H07311708A JP 10352294 A JP10352294 A JP 10352294A JP 10352294 A JP10352294 A JP 10352294A JP H07311708 A JPH07311708 A JP H07311708A
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JP
Japan
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memory
data
signal
address
signals
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Application number
JP10352294A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Niwano
浩之 庭野
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Fujifilm Holdings Corp
Fujifilm Microdevices Co Ltd
Original Assignee
Fujifilm Microdevices Co Ltd
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 大容量のデータを短時間でアクセスすること
ができる不揮発性のメモリカードを提供することを目的
とする。 【構成】 外部から供給される連続アドレス(A0〜A
9)に応じて書き込みデータ(D0〜D7)を記憶する
メモリカードであって、外部から供給されるアドレス
(A0〜A9)に応じてイネーブル信号(CE0〜CE
3)、メモリブロック選択信号(A6〜A9)およびブ
ロック内アドレス信号(A0〜A3)を生成するアドレ
スデコーダ(2)と、ブロック内アドレス信号が示すア
ドレスに書き込みデータを一時的に蓄えるバッファ(r
b0〜rb3)と、所定容量のデータを記憶することが
できる複数のメモリブロックを有する不揮発性のメモリ
(rm0〜rm3)とを含む複数のメモリデバイス(D
V0〜DV3)とを有し、書き込みデータはイネーブル
信号に応じて順番に選択される複数のメモリデバイス内
のバッファの中の1つに蓄えられ、メモリデバイスはバ
ッファに蓄えられた所定容量のデータをメモリブロック
選択信号に応じたメモリブロックに転送する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、メモリカードに関し、
特に内部に備えられた不揮発性メモリにデータを記憶す
るメモリカードに関する。
【0002】
【従来の技術】メモリカードは、パーソナルコンピュー
タ上でファイルデータ等を記憶する際に、あるいは電子
カメラ等により生成される画像データ等を記憶する際に
用いられる。従来のメモリカードは、カード内部にSR
AMを有し、外部から供給されるデータ等をSRAMに
記憶するものであった。
【0003】SRAMにデータを記憶保持させるには、
バックアップ用の電源回路が必要である。メモリカード
内に電源回路を設けることは、メモリカードの大型化お
よび高価格化に繋がり好ましくない。
【0004】そのため、近年、バックアップ用電源が不
要な不揮発性メモリを用いたメモリカードが普及してき
ている。EEPROM等の不揮発性メモリは、バックア
ップ用電源を必要としないが、メモリ素子への書き込み
速度が遅いという欠点がある。この欠点をカバーするた
めに、外部から供給されるデータを一時的に蓄えるレジ
スタバッファを不揮発性メモリと共に設けたメモリデバ
イス(例えば、東芝16Mb NAND型EEPRO
M、INTEL16Mb FLASH、ATMEL4M
b EEPROM等)が製品化されている。
【0005】このデバイスは、外部の制御部から供給さ
れるデータをまずレジスタバッファに蓄える。レジスタ
バッファは、揮発性のメモリであるので、SRAMと同
様に書き込み速度が速く、制御部からレジスタバッファ
へのデータ転送は、短時間で終了する。
【0006】レジスタバッファに所定量のデータが蓄え
られると、次は、レジスタバッファから不揮発性メモリ
へのデータ転送が行われる。不揮発性メモリへのプログ
ラム(書き込み)は、時間を要するので、レジスタバッ
ファから不揮発性メモリへのデータ転送速度は遅くな
る。
【0007】図10は、レジスタバッファを有する不揮
発性メモリのデバイスにデータを書き込む際のタイミン
グチャートを示す。制御部は、書き込みデータをデバイ
スに供給する。制御部から送られたデータは、デバイス
内の揮発性のレジスタバッファに蓄えられ(ライトサイ
クルW1)、転送時間は短時間で終了する。
【0008】レジスタバッファに所定量のデータが蓄え
られると、デバイスはライトサイクルWW1でレジスタ
バッファから不揮発性メモリにデータを転送し、書き込
み(プログラム)を行う。不揮発性メモリへのプログラ
ムは、低速度でしか行うことができないので、ライトサ
イクルWW1はライトサイクルW1に比べて長時間を要
する。
【0009】制御部は、本来ライトサイクルW1のデー
タ書き込みを終了した時点で、次の処理を行うことがで
きるが、レジスタバッファに蓄えられたデータが不揮発
性メモリに書き込み(WW1)が行われている間は、制
御部からレジスタバッファへのデータ書き込みを行うこ
とができない。
【0010】したがって、制御部は、デバイス内のレジ
スタバッファにデータ書き込み(W1)を終えた後、さ
らにデバイス内のレジスタバッファから不揮発性メモリ
へのデータ書き込み(WW1)の終了を待ってから、デ
バイス(レジスタバッファ)へのデータ書き込み(WW
1)を再開する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】レジスタバッファを有
する不揮発性メモリのデバイスは、外部の制御部から一
度に所定のデータ量しか連続して受け付けることができ
ない。所定のデータ量とは、レジスタバッファの蓄積容
量に相当する。制御部は、レジスタバッファ容量以内の
量のデータをまとめてデバイスに転送するには問題がな
いが、それ以上のデータ量をまとめて転送する際には、
複数回に分けて時間をおいてからデータを転送する必要
がある。
【0012】制御部は、レジスタバッファ容量のデータ
をデバイスに転送した後に直ぐ次のデータを転送するこ
とができず、デバイスがレジスタバッファから不揮発性
メモリへのデータ転送を行ってしまうまで待たなければ
ならない。そのため、大容量のデータをデバイスに記憶
させるのは、長い時間待たなければならない。
【0013】本発明の目的は、大容量のデータを短時間
で書き込みまたは読み出しを行うことができるメモリカ
ードを提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明のメモリカード
は、外部から供給される連続アドレス(A0〜A9)と
書き込みデータ(D0〜D7)に応じて該書き込みデー
タを記憶するメモリカードであって、外部から供給され
るアドレス(A0〜A9)に応じてイネーブル信号(C
E0〜CE3)、メモリブロック選択信号(A6〜A
9)およびブロック内アドレス信号(A0〜A3)を生
成するアドレスデコーダ(2)と、各々が、イネーブル
信号に応じてブロック内アドレス信号が示すアドレスに
書き込みデータを一時的に蓄えるバッファ(rb0〜r
b3)と、所定容量のデータを記憶することができる複
数のメモリブロックを有する不揮発性のメモリ(rm0
〜rm3)とを含む複数のメモリデバイス(DV0〜D
V3)とを有し、書き込みデータはイネーブル信号に応
じて順番に選択される複数のメモリデバイス内のバッフ
ァの中の1つのバッファに蓄えられ、メモリデバイスは
バッファに蓄えられた所定容量のデータをメモリブロッ
ク選択信号に応じたメモリ内のメモリブロックに転送す
る。
【0015】また、本発明のメモリカードは、外部から
供給される連続アドレス(A0〜A9)に応じて記憶し
ているデータを読み出すメモリカードであって、外部か
ら供給されるアドレス(A0〜A9)に応じてイネーブ
ル信号(CE0〜CE3)、メモリブロック選択信号
(A6〜A9)およびブロック内アドレス信号(A0〜
A3)を生成するアドレスデコーダ(2)と、所定容量
のデータを記憶することができる複数のメモリブロック
を有する不揮発性のメモリ(rm0〜rm3)とを有
し、イネーブル信号に応じて順番に選択される複数のメ
モリの内の1つにおいて、メモリブロック選択信号に応
じたメモリブロックからブロック内アドレス信号に応じ
たアドレスのデータを読み出す。
【0016】
【作用】外部から供給される連続アドレス(A0〜A
9)を基にしてイネーブル信号(CE0〜CE3)、メ
モリブロック選択信号(A6〜A9)およびブロック内
アドレス信号(A0〜A3)の3つの信号を生成するこ
とにより、複雑なアドレス変換を行うことなく、複数の
メモリデバイス(DV0〜DV3)に連続したアドレス
空間を指定することができる。バッファは、高速でデー
タを入力(書き込み)または出力(読み出し)すること
ができるので、メモリカードはバッファとメモリとの間
のデータ転送が終了するまで待たなくても、外部からデ
ータの書き込みまたは読み出しを行うことができる。
【0017】
【実施例】図2は、本発明の実施例によるメモリカード
7に制御部5がデータアクセスする際の全体構成を示す
ブロック図である。制御部5は、大容量の画像データ等
をメモリカードに書き込んだり、読み出したりすること
ができる。
【0018】制御部5は、アドレスカウンタ6を有し、
画像データ等の連続データを連続した論理アドレス領域
に対して書き込みまたは読み出しを行う。アドレスカウ
ンタ6は、10ビットのアドレス信号A0〜A9のカウ
ントを行う。制御部5は、アドレスカウンタ6により設
定されるアドレス信号A0〜A9をメモリカード7に送
出することにより、画像データ等をメモリカード7に書
き込んだり、読み出したりする。アドレスカウンタ6が
カウントを開始するスタートアドレスは、制御部5によ
り指定される。
【0019】図1は、本発明の実施例によるメモリカー
ド7の構成を示すブロック図である。メモリカード7に
は、制御部からデータの書き込みまたは読み出しが行わ
れる。以下、データを書き込む際の動作を例に説明する
が、読み出しも同様にして行うことができる。
【0020】外部の制御部からメモリカード7にデータ
を書き込む際には、アドレス信号とデータ信号がメモリ
カード7内のインタフェース1に入力される。インタフ
ェース1は、制御部から供給されるアドレス信号および
データ信号を、所定形式のアドレス信号A0〜A9とデ
ータ信号D0〜D7に変換する。
【0021】アドレス信号A0〜A9は、メモリカード
7内の10ビットで示されるアドレス空間を指定するた
めの信号である。データ信号D0〜D7は、メモリカー
ド7に書き込みを行いたい1バイト(8ビット)の画像
データ等のデータである。メモリカード7は、1つのア
ドレス空間に1バイトのデータを記憶することができる
ので、インタフェース1は、アドレス信号A0〜A9と
データ信号D0〜D7を組にして出力する。
【0022】メモリカード7は、4つのデバイスDV
0,DV1,DV2,DV3を有する。デバイスは4つ
である必要はなく、デバイス内のプログラム時間に応じ
て最適な数に設定することができる。詳細は、後のプロ
グラム時間の説明の際に述べる。
【0023】4つのデバイスDV0〜DV3は、全て同
じ構成をしている。デバイスDV0は、レジスタバッフ
ァrb0と不揮発性メモリrm0を有し、チップイネー
ブル信号CE0が供給されているときのみ、アドレス信
号A0〜A3,A6〜A9が示すレジスタバッファrb
0のアドレスにデータD0〜D7を書き込むことができ
る。チップイネーブル信号CE0が供給されていないと
きには、書き込みを行うことができない。
【0024】デバイスDV0に供給されるデータD0〜
D7は、アドレス信号A0〜A3に応じて、まずデバイ
スDV0内のレジスタバッファrb0に蓄えられる。ア
ドレスA0〜A3が順次カウントされると、レジスタバ
ッファrb0には合計16バイトのデータが蓄えられ
る。16バイトのデータがレジスタバッファrb0に蓄
えられると、デバイスDV0内でトリガ信号が発生し、
レジスタバッファrb0から不揮発性メモリrm0へ1
6バイトのデータ転送が開始する。不揮発性メモリrm
0への転送速度は低速度である。
【0025】なお、デバイスDV0自体がデータ転送の
開始を指示するトリガ信号を生成する代わりに、デバイ
スDV0の外部からデータ転送を開始するための信号を
供給するようにしてもよい。この場合は、書き込みデー
タの単位は16バイトに限らず、レジスタバッファの容
量内であればよい。
【0026】ここで、デバイスDV0がレジスタバッフ
ァrb0から不揮発性メモリrm0へデータ転送を行う
16バイトの単位を1ブロックとする。1ブロックは、
16バイトに限らずレジスタバッファの容量に依存し
て、変化させることができる。例えば、512バイトま
たは1Kバイト等でもよい。レジスタバッファrb0か
ら不揮発性メモリrm0に転送される転送先アドレス
は、アドレス信号A6〜A9により決定される。アドレ
ス信号A6〜A9は、不揮発性メモリrm0内に備えら
れた複数のブロックの内から1つのブロックを指定す
る。
【0027】図4は、図1に示すデバイスDV0内の不
揮発性メモリrm0の構成を示す概略図である。なお、
他のデバイスDV1〜DV3内の不揮発性メモリrm1
〜rm3についても同じ構成をしている。不揮発性メモ
リrm0は、n個のメモリブロックM0〜Mnに分割さ
れている。データは、レジスタバッファから(n+1)
個のメモリブロックM0〜Mn中のいずれか1つに転送
される。転送が行われるメモリブロックは、4ビットの
アドレス信号A6〜A9により決定されるが、本実施例
のように4ビットのアドレス信号A6〜A9を用いる場
合にはn≦15となり、不揮発性メモリrm0は16個
以下のメモリブロックから構成されることになる。以下
メモリブロックの数は16個とする。
【0028】例えば、アドレス信号A6〜A9が「00
00」であればメモリブロック0(M0)が指定され、
アドレス信号A6〜A9が「0001」であればメモリ
ブロック1(M1)が指定される。
【0029】図5は、図4に示すメモリブロックM0の
構成を示す概略図である。なお、不揮発性メモリ内の他
のメモリブロックM1〜Mnについても同じ構成であ
る。メモリブロックM0は、(m+1)バイトのメモリ
領域B0〜Bmを有する。データが格納されるメモリ領
域は、アドレス信号A0〜A3により決定されるが、本
実施例のように4ビットのアドレス信号A0〜A3によ
り決定される場合にはm=15となり、メモリブロック
は16バイトのメモリ領域を有することになる。
【0030】例えば、アドレス信号A0〜A3が「00
00」であれば第0バイト(B0)が指定され、アドレ
ス信号A0〜A3が「0001」であれば第1バイト
(B1)が指定される。
【0031】図1において、インタフェース1から出力
されたアドレス信号A0〜A9は、アドレスデコーダ2
に供給される。アドレスデコーダ2は、インタフェース
1から供給されるアドレス信号A0〜A3とA6〜A9
の合計8ビットについては、そのまま4つのデバイスD
V0〜DV3に出力し、アドレス信号A4,A5につい
ては4本のチップイネーブル信号CE0〜CE4に変換
する。変換されたチップイネーブル信号CE0〜CE3
は、それぞれ対応するデバイスDV0〜DV3に供給さ
れ、各デバイスDV0〜DV3の動作を許可する。
【0032】図6は、図1に示すアドレスデコーダ2が
行うアドレス信号A4,A5からチップイネーブル信号
CE0〜CE3への変換方法を示す信号波形である。ア
ドレスデコーダ2は、アドレス信号A4,A5を受け
て、チップイネーブル信号CE0〜CE3を出力する。
アドレス信号A5=「0」,A4=「0」のときには、
チップイネーブル信号CE0のみを「1」にして、残り
のチップイネーブル信号CE1〜CE3を全て「0」に
する。アドレス信号A5=「0」,A4=「1」のとき
にはチップイネーブル信号CE1のみを「1」とし、ア
ドレス信号A5=「1」,A4=「0」のときにはチッ
プイネーブル信号CE2のみを「1」とし、アドレス信
号A5=「1」,A4=「1」のときにはチップイネー
ブル信号CE3のみを「1」にする。つまり、アドレス
信号A4,A5に応じて4つのチップイネーブル信号C
E0〜CE3の内のいずれか1つが「1」となる。チッ
プイネーブル信号CE0〜CE3は、それぞれ対応する
デバイスDV0〜DV3内のレジスタバッファrb0〜
rb3への書き込みを許可する信号である。
【0033】図3は、図1に示すインタフェース1から
アドレスデコーダ2に供給されるアドレス信号A0〜A
9の各ビット線を説明するための図である。アドレス信
号A0〜A9は、10ビットからなる信号であり、デー
タの書き込みと共に順次1ずつ増加していく。下位4ビ
ット信号A0〜A3は、レジスタバッファを介して、不
揮発性メモリのブロック内のメモリ領域B0〜B15の
指定を行う。ビット信号A4,A5は、前述のようにチ
ップイネーブル信号CE0〜CE3を生成するための信
号である。上位4ビット信号A6〜A9は、不揮発性メ
モリ内のブロックM0〜M15の指定を行う。
【0034】図1において、アドレスデコーダ2は、ア
ドレス信号A0〜A3,A6〜A9を全てのデバイスD
V0〜DV3に供給し、チップイネーブル信号CE0〜
CE3を対応するデバイスDV0〜DV3にそれぞれ1
つずつ供給する。インタフェース1は、データ信号D0
〜D7を全てのデバイスDV0〜DV3に供給する。
【0035】アドレスデコーダ2に供給されるアドレス
信号A0〜A9が「0000000000」から開始す
る際にデータD0〜D7がデバイスDV0〜DV3に書
き込まれる動作を次に例として説明する。ここで、アド
レス信号のビットの並びは左隅のビットを最上位ビット
とする。
【0036】アドレス信号A0〜A9が「000000
0000」のときには、アドレス信号A5=「0」,A
4=「0」であるのでチップイネーブル信号はCE0の
みが「1」となり、デバイスDV0のみが書き込みを許
可される。デバイスDV0のレジスタバッファrb0
は、アドレス信号A0〜A3が「0000」であるの
で、データD0〜D7を第0バイトのバッファ領域に蓄
える。
【0037】次に、アドレス信号A0〜A9がインクリ
メントされるので、アドレス信号A0〜A3が「000
1」となり、次のデータD0〜D7がレジスタバッファ
rb0の第1バイトのバッファ領域に蓄えられる。以
下、アドレス信号が「1111」まで増加するまでレジ
スタバッファrb0へのデータ蓄積が繰り返され、第0
バイトから第15バイトまでの全てのバッファ領域にデ
ータが蓄積される。この時、アドレス信号A4〜A9は
「000000」のまま変化しない。
【0038】レジスタバッファrb0の全てのバッファ
領域にデータが蓄積されると、レジスタバッファrb0
から不揮発性メモリrm0への転送開始のトリガ信号が
デバイスDV0内で発生する。不揮発性メモリrm0
は、アドレス信号A6〜A9が「0000」であるの
で、メモリブロック0(M0)にレジスタバッファrb
0の16バイトのデータが転送される。メモリブロック
0(M0)は、16バイトのメモリ領域(B0〜B1
5)を有する。
【0039】レジスタバッファrb0から不揮発性メモ
リrm0へのデータ転送は、デバイスDV0が独自に制
御するので、制御部はデバイスDV0が行うデータ転送
の処理とは独立してアドレス信号A0〜A9のインクリ
メントを行う。
【0040】アドレス信号A0〜A9が「000000
1111」から、さらにインクリメントされると「00
00010000」となる。アドレス信号A5は
「0」、A4は「1」となるので、チップイネーブル信
号はCE1のみが「1」となり、デバイスDV1が書き
込み可能の状態となる。今までデータ蓄積が行われてい
たデバイスDV0は書き込み禁止となる。デバイスDV
1のレジスタバッファrb1は、アドレス信号A0〜A
3の増加に応じて第0バイトから第15バイトまでのバ
ッファ領域にデータD0〜D7を蓄える。16バイトの
データがレジスタバッファrb1に蓄えられると、アド
レス信号A6〜A9が「0000」であるのでレジスタ
バッファrb1から不揮発性メモリrm1のメモリブロ
ック0(M0)へのデータ転送が行われる。
【0041】データ転送の開始と同時に、アドレス信号
がインクリメントされてアドレス信号A5=「1」,A
4=「0」となるので、チップイネーブル信号CE2の
みが「1」となる。デバイスDV2のレジスタバッファ
rb2には、アドレス信号A0〜A3の増加に応じて第
0バイトから第15バイトまでのバッファ領域にデータ
D0〜D7が蓄えられる。16バイトのデータがレジス
タバッファrb2に蓄えられると、レジスタバッファr
b2から不揮発性メモリrm2のメモリブロック0(M
0)へのデータ転送が行われる。
【0042】データ転送の開始と共にアドレス信号がイ
ンクリメントされるで、アドレス信号A5=「1」,A
4=「1」となり、チップイネーブル信号CE3のみが
「1」となる。デバイスDV3のレジスタバッファrb
3には、アドレス信号A0〜A3の増加に応じて第0バ
イトから第15バイトまでのバッファ領域にデータD0
〜D7が蓄えられる。16バイトのデータがレジスタバ
ッファrb3に蓄えられると、レジスタバッファrb3
から不揮発性メモリrm3のメモリブロック0(M0)
へのデータ転送が行われる。
【0043】次に、アドレス信号A0〜A9が「000
0111111」から、さらにインクリメントされると
「0001000000」となる。アドレス信号がイン
クリメントされると、再びアドレス信号A5=「0」,
A4=「0」となるので、チップイネーブル信号CE0
が「1」となり、デバイスDV0のレジスタバッファr
b0に16バイトのデータが蓄えられる。16バイトの
データは、アドレス信号A6〜A9が「0001」であ
るのでレジスタバッファrb0から不揮発性メモリrm
0のメモリブロック1(M1)にデータ転送が行われ
る。
【0044】不揮発性メモリrm0のメモリブロック1
(M1)にデータが格納された後は、同様に不揮発性メ
モリrm1,rm2,rm3のそれぞれのメモリブロッ
ク1(M1)に順次データが格納される。その後は、メ
モリブロック2(M2)について不揮発性メモリrm0
〜rm3まで順番にデータが格納される。
【0045】つまり、データは、不揮発性メモリrm0
〜rm3内のそれぞれのメモリブロックM0〜Mnに、
rm0(M0)→rm1(M0)→rm2(M0)→r
m3(M0)→rm0(M1)→rm1(M1)→rm
2(M1)→rm3(M1)→rm0(M2)→rm1
(M2)→・・・の順番で格納される。
【0046】図7は、図2に示す制御部5とメモリカー
ド7の動作を示すタイミングチャートである。制御部5
は、まず16バイトのデータを例えば0から始まるアド
レス信号と共にサイクルW0でメモリカード7に供給す
る。サイクルW0の所要時間は、16バイトのデータが
デバイスDV0のレジスタバッファrb0に蓄えられる
時間であるので、制御部5がデータを送出する時間とほ
とんど変わらず短時間で終了する。
【0047】サイクルW0が終了すると、デバイスDV
0がレジスタバッファrb0から不揮発性メモリrm0
へのデータ転送(WW00)を開始すると共に、制御部
5が次の16バイトのデータをメモリカード7に供給
(W1)する。
【0048】制御部5は、16バイトのデータを待ち時
間なしで連続してW0,W1,W2,W3のサイクルで
メモリカードに供給することができる。制御部5がサイ
クルW0のデータ供給を終了するとデバイスDV0はレ
ジスタバッファrb0から不揮発性メモリrm0のメモ
リブロック0(M0)へのデータ転送(WW00)を開
始し、サイクルW1のデータ供給が終了するとデバイス
DV1はレジスタバッファrb1から不揮発性メモリr
m1のメモリブロック0(M0)へのデータ転送(WW
10)を開始し、サイクルW2のデータ供給が終了する
とデバイスDV2はレジスタバッファrb2から不揮発
性メモリrm2のメモリブロック0(M0)へのデータ
転送(WW20)を開始し、サイクルW3のデータ供給
が終了するとデバイスDV3はレジスタバッファrb3
から不揮発性メモリrm3のメモリブロック0(M0)
へのデータ転送(WW30)を開始する。
【0049】デバイスDV0のデータ転送時間(WW0
0)は、不揮発性メモリrb0のプログラム時間に相当
するので時間がかかる。本実施例におけるデバイスDV
0の転送時間(WW00)は、制御部5のデータ供給の
丁度3サイクル(W1〜W3)分であるとする。サイク
ルW3が終了した後は、デバイスDV0のデータ転送が
終了し、制御部5はサイクルW3に引き続きサイクルW
0においてデバイスDV0へのデータ供給を行う。
【0050】メモリカード7は、デバイスDV0〜DV
3にサイクルWW00→WW10→WW20→WW30
→WW01→WW11→・・・・・→WW2n→WW3
nの順番でデータ転送を行うことができる。ここで、サ
イクルWWijは、デバイスDViがレジスタバッファ
rbiから不揮発性メモリrmiのメモリブロックj
(Mj)に行うデータ転送を意味する。ただし、iとj
は正の整数である。
【0051】制御部5と各デバイスDV0〜DV3とは
それぞれ独立に処理を行うことができるので、制御部5
が行うサイクルWiのデータ供給と、デバイスDViの
データ転送(WWij)が時間的に重ならなければ、問
題は生じない。また、各デバイスDV0〜DV3もそれ
ぞれ独立に処理を行うことができるので、デバイスDV
0〜DV3のデータ転送WWijは時間的に重なってい
ても問題はない。
【0052】ここで、4つのデバイスDV0〜DV3が
全て同じであれば、制御部5のデータ供給時間が同じで
あり(W0=W1=W2=W3)、デバイスDV0〜D
V3のデータ転送時間も同じである(WW00=WW1
0=WW20=WW30=WWij)。
【0053】本実施例によるデバイスDV0〜DV3の
データ転送時間(WWij)は、次式のように制御部5
のデータ供給時間の3サイクル(W(i+1)〜W(i
+3))分の時間に相当する。
【0054】WWij=3×Wi メモリカード7への書き込み時間を最短にした上で必要
最小限のデバイスの数Nは次式により求められる。ただ
し、デバイス数Nは、小数点以下を切り上げた整数であ
る。
【0055】N=(WWij/Wi)+1 このように、デバイスのデータ転送時間WWijと制御
部のデータ供給時間Wiが予め分かっていれば、最適な
デバイス数Nを求めることができる。デバイスをN個以
上に増やしてもメモリカードへのデータ書き込み時間は
同じである。
【0056】図8は、最適なデバイス数Nよりも少ない
数のデバイスを用いて、メモリカードを構成する場合の
実施例を示す。メモリカード7は、図1の実施例と同様
に4つのデバイスDV0’〜DV3’を有するが、図1
の実施例のデバイスDV0〜DV3に比べて、データ転
送時間WWijが長い。そのため、最適デバイス数Nは
5となる。
【0057】メモリカード7において、先の実施例と同
じ符号の部分は、同一の構成、機能を有するので説明を
省略する。デバイスDV0’は、レジスタバッファrb
0’から不揮発性メモリrm0’へのデータ転送を行っ
ているときにはビジー信号BSY0を出力する。同様
に、デバイスDV1’〜DV3’はそれぞれビジー信号
BSY1〜BSY3を出力する。
【0058】ビジー制御部15は、4本のビジー信号B
SY0〜BSY3を受けて、レディ信号R/−Bを生成
する。レディ信号R/−Bは、インタフェース11を介
して、外部の制御部に出力される。制御部は、レディ信
号R/−Bが「1」のときにのみデータ供給を行うこと
ができ、レディ信号R/−Bが「0」のときにはデータ
供給を行うことができない。
【0059】ビジー制御部15は、例えばビジー信号B
SY0が発生している最中に外部からデバイスDV0’
にデータ供給をしようとしたときに、レディ信号R/−
Bを「0」にして、外部からのデータ供給を待機させる
ことができる。
【0060】図9は、図8に示すメモリカードの動作を
示すタイミングチャートである。外部の制御部は、メモ
リカードに連続したサイクルW0,W1,W2,W3で
それぞれ16バイトのデータを供給することができる。
また、サイクルW0のデータ供給が終了した時点でデバ
イスDV0’がレジスタバッファrb0’から不揮発性
メモリrm0’へのデータ転送(WW00)を開始す
る。デバイスDV0’のデータ転送(WW00)が行わ
れている間は、ビジー信号BSY0が「1」になる。
【0061】ビジー制御部15は、ビジー信号BSY3
が「0」から「1」に反転する時刻t1において、レデ
ィ信号R/−Bを「1」から「0」に反転させて、制御
部からのデータ供給を中断させる。その後、ビジー信号
BSY0が「1」から「0」に反転する時刻t2におい
て、レディ信号R/−Bを「0」から「1」に反転させ
て、制御部からのデータ供給(W0)を再開させる。
【0062】なお、ビジー信号BSY0〜BSY3を用
いずに、ビジー制御部15内部にタイマーを設けてレデ
ィ信号R/−Bを生成することもできる。その際には、
デバイスDV0〜DV3はビジー信号BSY0〜BSY
3を生成する必要はなく、ビジー制御部15はレディ信
号R/−BをサイクルWW0の開始から時間T1経過後
まで「1」とし、その後時間T2の間「0」とする周期
信号を生成する。
【0063】時間T1はサイクルW1,W2,W3の合
計所要時間(W1+W2+W3)であり、時間T2はW
W0−(W1+W2+W3)の時間である。時間T1,
T2は、ビジー制御部15内のタイマーにより計測され
る。
【0064】以上のように、メモリカード内に複数個
(例えば4個)のデバイスを設けて、外部の制御部から
供給される連続アドレスA0〜A9を基に、複数のデバ
イスの内の1つを選択するチップイネーブル信号CE0
〜CE3、不揮発性メモリ内の1つのメモリブロックを
選択するブロック選択信号A6〜A9およびメモリブロ
ック内の1つのバイトを選択するメモリ領域選択信号A
0〜A3を生成することにより、1つの不揮発性メモリ
内のレジスタバッファの容量を越えた連続データを待ち
時間なしでメモリカードに書き込むことができる。
【0065】以上の実施例では、メモリカードへの書き
込みを行う際の動作について説明したが、次は読み出し
の際の動作を説明する。外部からオール0のアドレス信
号A0〜A9が供給されると、デバイスDV0は不揮発
性メモリrm0内のメモリブロック0(M0)から一旦
レジスタバッファrb0を介してデータD0〜D7を読
み出して外部の制御部に出力する。
【0066】また、不揮発性メモリrm0からの読み出
し時間は短時間で終了するので、デバイスDV0は、レ
ジスタバッファrb0を介さず、不揮発性メモリrm0
内のメモリブロック0(M0)から直接データD0〜D
7を読み出して外部の制御部に出力してもよい。
【0067】不揮発性メモリrm0内のメモリブロック
0(M0)からデータが読み出された後は、データの書
き込み時と同様にチップイネーブル信号CE0〜CE3
の変化に応じて、不揮発性メモリrm1、rm2、rm
3の順番でそれぞれのメモリブロック0(M0)からデ
ータの読み出しが行われる。
【0068】その後は、アドレス信号A0〜A9のイン
クリメントに従い、次のメモリブロックについて、不揮
発性メモリrm1、rm2、rm3からそれぞれ順番に
データ読み出しが同様に行われる。
【0069】データ読み出し時において、図8のレディ
信号R/−Bを生成するには、デバイスDV0’が不揮
発性メモリrb0’からレジスタバッファrb0にデー
タ転送した後にレジスタバッファrb0’に蓄えられた
データが外部の制御部に出力される。ビジー信号BSY
0は、デバイスDV0’が不揮発性メモリrb0’から
レジスタバッファrb0にデータ転送しているときに
「1」となる。
【0070】以上実施例に沿って本発明を説明したが、
本発明はこれらに制限されるものではない。例えば、種
々の変更、改良、組み合わせ等が可能なことは当業者に
自明であろう。
【0071】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のメモリカ
ードによれば、バッファへのデータアクセス速度に応じ
て、大容量の連続データを時間的な切れ目なく連続的に
書き込みまたは読み出しを行うことができるので、短時
間でデータの書き込みまたは読み出しを行うことができ
る。
【0072】また、外部から供給される連続アドレス
(A0〜A9)を基にしてイネーブル信号(CE0〜C
E3)、メモリブロック選択信号(A6〜A9)および
ブロック内アドレス信号(A0〜A3)の3つの信号を
生成することにより、複数のメモリデバイス(DV0〜
DV3)を用いても、容易に連続したアドレス空間を指
定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例によるメモリカードの構成を示
すブロック図である。
【図2】本発明の実施例によるメモリカードに制御部が
データアクセスする際の全体構成を示すブロック図であ
る。
【図3】図1に示すインタフェースからアドレスデコー
ダに供給されるアドレス信号A0〜A9の各ビット線を
説明するための図表である。
【図4】図1に示すデバイス内の不揮発性メモリの構成
を示す概略図である。
【図5】図4に示すメモリブロックの構成を示す概略図
である。
【図6】図1に示すアドレスデコーダが行うアドレス信
号A4,A5からチップイネーブル信号CE0〜CE3
への変換方法を示す信号波形図である。
【図7】図6に示すメモリカードの動作を示すタイミン
グチャートである。
【図8】最適なデバイス数よりも少ない数のデバイスを
用いたメモリカードの構成を示すブロック図である。
【図9】図8に示すメモリカードの動作を示すタイミン
グチャートである。
【図10】従来のレジスタバッファを有する不揮発性メ
モリのデバイスにデータを書き込む際のタイミングチャ
ートを示す。
【符号の説明】
1 インタフェース 2 アドレスデコーダ 5 制御部 6 アドレスデコーダ 7 メモリカード DV デバイス rb レジスタバッファ rm 不揮発性メモリ M0〜Mn メモリブロック B0〜Bm メモリ領域(バイト単位) CE チップイネーブル信号 BSY ビジー信号 R/−B レディ信号 A0〜A9 アドレス信号 D0〜D7 データ信号

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 外部から供給される連続アドレス(A0
    〜A9)と書き込みデータ(D0〜D7)に応じて該書
    き込みデータを記憶するメモリカードであって、 外部から供給されるアドレス(A0〜A9)に応じてイ
    ネーブル信号(CE0〜CE3)、メモリブロック選択
    信号(A6〜A9)およびブロック内アドレス信号(A
    0〜A3)を生成するアドレスデコーダ(2)と、 各々が、前記イネーブル信号に応じて前記ブロック内ア
    ドレス信号が示すアドレスに書き込みデータを一時的に
    蓄えるバッファ(rb0〜rb3)と、所定容量のデー
    タを記憶することができる複数のメモリブロックを有す
    る不揮発性のメモリ(rm0〜rm3)とを含む複数の
    メモリデバイス(DV0〜DV3)とを有し、書き込み
    データは前記イネーブル信号に応じて順番に選択される
    前記複数のメモリデバイス内のバッファの中の1つのバ
    ッファに蓄えられ、前記メモリデバイスは前記バッファ
    に蓄えられた所定容量のデータを前記メモリブロック選
    択信号に応じた前記メモリ内のメモリブロックに転送す
    るメモリカード。
  2. 【請求項2】 さらに、前記メモリにデータが書き込ま
    れているときにビジー信号を生成するビジー信号生成手
    段と、 前記複数のメモリデバイスに対応して生成される複数の
    前記ビジー信号(BSY0〜BSY3)に応じて、メモ
    リカードが書き込み可能な状態であることを示すレディ
    信号(R/−B)を生成するビジー制御手段(15)と
    を有する請求項1記載のメモリカード。
  3. 【請求項3】 外部から供給される連続アドレス(A0
    〜A9)に応じて記憶しているデータを読み出すメモリ
    カードであって、 外部から供給されるアドレス(A0〜A9)に応じてイ
    ネーブル信号(CE0〜CE3)、メモリブロック選択
    信号(A6〜A9)およびブロック内アドレス信号(A
    0〜A3)を生成するアドレスデコーダ(2)と、 所定容量のデータを記憶することができる複数のメモリ
    ブロックを有する不揮発性のメモリ(rm0〜rm3)
    とを有し、前記イネーブル信号に応じて順番に選択され
    る前記複数のメモリの内の1つにおいて、前記メモリブ
    ロック選択信号に応じたメモリブロックから前記ブロッ
    ク内アドレス信号に応じたアドレスのデータを読み出す
    メモリカード。
  4. 【請求項4】 さらに、前記メモリからデータが読み出
    されているときにビジー信号を生成するビジー信号生成
    手段と、 前記複数のメモリデバイスに対応して生成される複数の
    前記ビジー信号(BSY0〜BSY3)に応じて、メモ
    リカードが読み出し可能な状態であることを示すレディ
    信号(R/−B)を生成するビジー制御手段(15)と
    を有する請求項3記載のメモリカード。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006252747A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Hynix Semiconductor Inc マルチプレーン型フラッシュメモリ装置並びにそのプログラム動作および読出し動作の制御方法
JP2009230414A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Toshiba Corp 複数の不揮発性メモリデバイスを有する記憶装置
US8694722B2 (en) 2001-09-28 2014-04-08 Micron Technology, Inc. Memory systems
US9026721B2 (en) 1995-07-31 2015-05-05 Micron Technology, Inc. Managing defective areas of memory
US9032134B2 (en) 2001-09-28 2015-05-12 Micron Technology, Inc. Methods of operating a memory system that include outputting a data pattern from a sector allocation table to a host if a logical sector is indicated as being erased
US9213606B2 (en) 2002-02-22 2015-12-15 Micron Technology, Inc. Image rescue
US9576154B2 (en) 2004-04-30 2017-02-21 Micron Technology, Inc. Methods of operating storage systems including using a key to determine whether a password can be changed

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9026721B2 (en) 1995-07-31 2015-05-05 Micron Technology, Inc. Managing defective areas of memory
US8694722B2 (en) 2001-09-28 2014-04-08 Micron Technology, Inc. Memory systems
US9032134B2 (en) 2001-09-28 2015-05-12 Micron Technology, Inc. Methods of operating a memory system that include outputting a data pattern from a sector allocation table to a host if a logical sector is indicated as being erased
US9489301B2 (en) 2001-09-28 2016-11-08 Micron Technology, Inc. Memory systems
US9213606B2 (en) 2002-02-22 2015-12-15 Micron Technology, Inc. Image rescue
US9576154B2 (en) 2004-04-30 2017-02-21 Micron Technology, Inc. Methods of operating storage systems including using a key to determine whether a password can be changed
US10049207B2 (en) 2004-04-30 2018-08-14 Micron Technology, Inc. Methods of operating storage systems including encrypting a key salt
JP2006252747A (ja) * 2005-03-10 2006-09-21 Hynix Semiconductor Inc マルチプレーン型フラッシュメモリ装置並びにそのプログラム動作および読出し動作の制御方法
JP2011192385A (ja) * 2005-03-10 2011-09-29 Hynix Semiconductor Inc マルチプレーン型フラッシュメモリのプログラム動作および読出し動作の制御方法
US8347042B2 (en) 2005-03-10 2013-01-01 Hynix Semiconductor Inc. Multi-plane type flash memory and methods of controlling program and read operations thereof
JP2009230414A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Toshiba Corp 複数の不揮発性メモリデバイスを有する記憶装置

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