JPH07311242A - インサーキットテスタのテストヘッド部 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 構造が簡単であるにもかかわらず不良検出能
力を向上できるインサーキットテスタのテストヘッド部
を提供すること。 【構成】 テストヘッド部１０のブロック１２は、プリ
ント配線板１上に実装されたコネクタ２のレセプタクル
３に嵌脱可能である。ブロック１２上には複数のコネク
タ用テストプローブ１１が配列されている。コネクタ用
テストプローブ１１のピッチは、レセプタクル３のコン
タクト５ａのピッチと同程度である。コネクタ用テスト
プローブ１１上には、ブロック１２の嵌脱時にコンタク
ト５ａの表面に対して摺接する接触面１１ａが形成され
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、プリント配線板上に実
装されたコネクタ等の電気検査を行うためのインサーキ
ットテスタのテストヘッド部に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】電子機器の軽薄短小化や高機能化を実現
する場合、パッケージやチップ部品等といった電子部品
をプリント配線板上に高密度に実装することが重要な課
題になる。このため、近年においては、リード挿入実装
型（Through-hole mount type）の電子部品よりも、高
密度実装に向く表面実装型（Surface mount type）の電
子部品を採用する比率が高まってきている。そして、電
子部品が高密度対応になることに伴って、例えばプリン
ト配線板どうしを電気的に接続するためのコネクタ等に
ついても同様に表面実装化が要求されている。

【０００３】しかし、これらの表面実装部品を用いて高
密度実装を行うと、電気的不良の発生率が必然的に高く
なる。ゆえに、プリント配線板のアッセンブリ工程で
は、インサーキットテストやファンクションテスト等の
電気検査によって不良を発見することが極めて重要にな
る。そして、これらの検査は、とりわけ外観検査が困難
な場合などに有効であると考えられている。

【０００４】上記の電気検査のうち、例えばインサーキ
ットテストでは、ショート・オープン不良、部品の実装
ミスや未実装等を検出することを目的として検査が行わ
れる。また、インサーキットテストは、一般的にショー
ト・オープンテストとコンポーネントテストとに大別さ
れる。このテストを実施するときには、通常、インサー
キットテスタと呼ばれる検査装置が使用される。インサ
ーキットテスタの種類としては、例えばテストフィクス
チャ式やフライングプローブ式などが知られている。

【０００５】インサーキットテスタは、複数本の探針
（いわゆるテストプローブ）を備えている。そして、こ
れらのテストプローブの先端部をプリント配線板側の導
体（即ち、プローブポイント）に接触させたときの抵抗
値等を測定することによって、電気的不良が検出される
ようになっている。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、表面実装型
コネクタは主として樹脂材料によって形成されている。
そして、その樹脂材料からリードを部分的に突出させる
とともに、そのリードをコネクタの底面から外側方向に
向かって折り曲げていることが多い。この場合、リード
間に凸部がある（即ち、樹脂材料表面に形成された溝の
中に各リードが配置されている）と、構造上、ショート
不良が起こりやすくなる。また、コネクタの底面付近に
設けられたリードとプリント配線板側のパッドとの間
で、オープン不良も起こりやすくなる。

【０００７】しかしながら、従来のインサーキットテス
タであると、テストプローブの先端部をプリント配線板
側のプローブポイントに確実に接触させることができな
い場合がある。例えば、コネクタのリードが狭ピッチに
なった場合などである。この場合、プローブポイントに
なり得る箇所が少なくなるため、テストプローブの位置
決め誤差が大きいと、テストプローブの接触信頼性が充
分に確保されなくなる。よって、インサーキットテスタ
の不良検出能力も低くなってしまう。また、テストプロ
ーブの接触信頼性を向上させようとすると、装置全体の
構造が複雑になり、必然的に高コストにつながってしま
う。

【０００８】さらに、コネクタの底面に隠れている部分
がプローブポイントであると、テストプローブを接触さ
せることができず、同部分における不良の検出が不可能
になる。このような場合、コネクタの周囲にテストパッ
ドを設け、その部分をプローブポイントとする方法も考
えられる。しかし、このようなテストパッドを設けるこ
とは、プリント配線板の配線自由度の低下につながるた
め、高密度実装を達成するうえでは好ましくないという
側面がある。

【０００９】本発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
であり、その目的は、構造が簡単であるにもかかわらず
不良検出能力を向上させることできるインサーキットテ
スタのテストヘッド部を提供することにある。

【００１０】また、本発明の別の目的は、インサーキッ
トテストを簡便にかつ効率よく行うことができるインサ
ーキットテスタのテストヘッド部を提供することにあ
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項１に記載の発明では、プリント配線板上に
実装されたコネクタの電気検査を行うためのインサーキ
ットテスタのテストヘッド部において、前記コネクタに
対して嵌脱可能なブロック上に複数のコネクタ用テスト
プローブを配列するとともに、前記コネクタ用テストプ
ローブのピッチを前記コネクタのコンタクトのピッチと
同程度に設定し、かつ前記ブロックの嵌脱時に前記コン
タクトの表面に対して摺接する接触面を同コネクタ用テ
ストプローブ上に形成したプリント配線板のインサーキ
ットテスタのテストヘッド部をその要旨としている。

【００１２】請求項２に記載の発明では、請求項１に記
載の発明において、前記コネクタの前記コンタクトと前
記テストプローブとを同数にしたことをその要旨として
いる。また、請求項３に記載の発明では、請求項１また
は２に記載の発明において、インサーキットテスタ本体
に接続されるケーブルをケーブル接続用プリント配線板
に連結し、そのプリント配線板上に前記ブロックを搭載
し、かつ前記ブロックの前記コネクタ用テストプローブ
と前記ケーブルの銅線とを前記プリント配線板の配線パ
ターンを介して電気的に接続したことをその要旨として
いる。

【００１３】請求項４に記載の発明では、請求項１また
は２において、前記ブロックの嵌合時に、その先端部が
前記プリント配線板表面に存在するプローブポイントに
対してほぼ垂直に当接しうるピン状テストプローブを備
えたことをその要旨としている。

【００１４】請求項５に記載の発明では、請求項４に記
載の発明おいて、少なくとも前記コネクタ用テストプロ
ーブの摺接面と、前記ピン状テストプローブの先端部と
を片側面に露出させるようにして、前記ブロック及び前
記ピン状テストプローブを１枚の樹脂板内に埋め込んだ
ことをその要旨としている。

【００１５】請求項６に記載の発明では、請求項５に記
載の発明において、前記樹脂板におけるテストプローブ
突出面に弾性部材を配置するとともに、その弾性部材の
上面の高さを前記ピン状テストプローブの先端部の高さ
よりも高くなるように設定したことをその要旨としてい
る。

【００１６】

【作用】請求項１〜６に記載の発明によると、ブロック
を嵌脱する際、各コネクタ用テストプローブの接触面が
コネクタの各コンタクトの表面に対して摺接する。この
とき、コンタクトとコネクタ用テストプローブとが面接
触することになるため、点接触する従来のものに比較し
て接触面積が大きくなる。よって、両者の接触信頼性が
向上する。

【００１７】請求項２に記載の発明によると、１つのコ
ネクタを検査する場合、ブロックの嵌脱を一回行うだけ
で足りる。請求項３に記載の発明によると、作業者がケ
ーブル接続用プリント配線板を把持した状態でブロック
の嵌脱を行うことができる。

【００１８】請求項４，５によると、ブロックを嵌合さ
せてコネクタ用テストプローブの接触面をコンタクトに
摺接させるとき、同時にピン状テストプローブの先端部
もプローブポイントに当接する。

【００１９】請求項６によると、ピン状テストプローブ
の先端部がプローブポイントに当接する以前に弾性部材
がプリント配線板の上面に接触することとなるため、先
端部またはプローブポイントに対する衝撃が緩和され
る。

【００２０】

【実施例】

〔実施例１〕以下、本発明を具体化した実施例を図１〜
図４に基づき詳細に説明する。

【００２１】図１には、インサーキットテストに供され
るプリント配線板（以下、マザーボードという）１が示
されている。マザーボード１上には、表面実装型コネク
タ２のレセプタクル（めすコネクタ）３が実装されてい
る。このレセプタクル３を構成しているブロック４の下
部からは、略Ｌ字状をした複数本のリード５が突出して
いる。前記リード５の本数は合計４０本であり、ピッチ
は０．８mmである。なお、リード５のうち前記ブロック
４内に収容されている部分は、図示しないコネクタ２の
プラグ（おすコネクタ）側との接続を図るためのコンタ
クト５ａとなっている。前記リード５は、マザーボード
１上に形成されたパッド６に対してはんだ７を介して接
続されている。そして、マザーボード１上には、パッケ
ージやチップ部品等（図示略）も実装されている。マザ
ーボード１は、フレキシブル基板によって作製されてい
る。従って、狭い空間に挿入する際に折り曲げることが
できるため作業が行いやすいという特徴がある。

【００２２】図２，図３には、インサーキットテスタの
テストヘッド部１０が示されている。テストヘッド部１
０は、主として複数のコネクタ用テストプローブ１１を
有するブロック１２と、ケーブル接続用プリント配線板
１３と、第１及び第２のフラットケーブル１４，１５と
によって構成されている。インサーキットテスタは、上
記のようなテストヘッド部１０と、図示しないインサー
キットテスタ本体（スキャナ部、計測部及び制御部）と
によって構成される。

【００２３】図２に示されるように、ブロック１２は凸
部１６を有している。この凸部１６は、前記レセプタク
ル３側の凹部３ａに対して嵌脱可能になっている。前記
凸部１６の両側面には、略Ｌ字状をした複数のコネクタ
用テストプローブ１１が規則的に配列されている。コネ
クタ用テストプローブ１１のピッチは、レセプタクル３
側のコンタクト５ａのピッチと同じく、０．８mmに設定
されている。また、コネクタ用テストプローブ１１の本
数も、前記コンタクト５ａの本数と同じく、４０本に設
定されている。また、図２，図３に示されるように、各
コネクタ用テストプローブ１１には、ブロック１２の嵌
脱時にコンタクト５ａの表面に対して摺接する接触面１
１ａが形成されている。このブロック１２の場合、前記
接触面１１ａと凸部１６の両側面とは、同一面内に属し
ている。従って、接触面１１ａは、ブロック１２の嵌脱
方向（ここではマザーボード１の厚さ方向）Ａ1 に対し
て平行な関係にある。

【００２４】各コネクタ用テストプローブ１１の一部
は、ブロック１２の下部から二方向に突出している。コ
ネクタ用テストプローブ１１の各々の突出端は、ケーブ
ル接続用プリント配線板１３上に形成されたパッド１７
に対してはんだ７を介して接合されている。

【００２５】ケーブル接続用プリント配線板１３の表裏
両面には、配線パターン１８，１９が形成されている。
また、ケーブル接続用プリント配線板１３の一端面に
は、ケーブル接続用のスルーホール２０が千鳥状に配列
されている。ケーブル接続用のスルーホール２０の数
は、コネクタ用テストプローブ１１の数と同じく４０個
である。ケーブル接続用のスルーホール２０のうちのい
くつかは、表面側の配線パターン１８を介してパッド１
７に連結されている。また、それ以外のケーブル接続用
のスルーホール２０は、裏面側の配線パターン１９、ス
ルーホール２１及び表面側の配線パターン１８を介して
パッド１７に連結されている。

【００２６】ケーブル接続用プリント配線板１３には、
第１のフラットケーブル１４と第２のフラットケーブル
１５とが連結されている。これらのフラットケーブル１
４，１５の先端には、インサーキットテスタ本体との接
続を図るための本体接続用コネクタ２２が設けられてい
る。そして、フラットケーブル１４，１５基端の銅線２
３は、はんだ７によって、ケーブル接続用のスルーホー
ル２０のランドに接合されている。

【００２７】従って、このテストヘッド部１０では、各
コネクタ用テストプローブ１１によって検出された電気
信号が、フラットケーブル１４，１５を介して出力され
るようになっている。そして、この電気信号は、図示し
ないインサーキットテスタ本体（スキャナ部、計測部及
び制御部）側に入力されるようになっている。

【００２８】なお、本実施例では、テストヘッド部１０
を構成するブロック１２として、被検査物であるコネク
タ２のレセプタクル３に対応するプラグ（おすコネク
タ）が使用されている。

【００２９】次に、上記のような構成をしたインサーキ
ットテスタを用いた検査の手順を図４に基づいて説明す
る。まず、両フラットケーブル１４，１５の本体接続用
コネクタ２２をインサーキットテスタ本体に接続する。
そして、ケーブル接続用のプリント配線板１３を把持し
ながら、ブロック１２の凸部１６をレセプタクル３の凹
部３ａに嵌合させる。すると、各コネクタ用テストプロ
ーブ１１の接触面１１ａが、プローブポイントである各
コンタクト５ａの表面に対して摺接した状態となる。こ
の状態でレセプタクル３における任意のリード５間の抵
抗値を測定する。そして、測定された抵抗値と、あらか
じめ求められている良品の抵抗値とを比較する。その結
果、レセプタクル３における電気的不良（オープン不良
またはショート不良）が検出される。

【００３０】さて、次に本実施例のインサーキットテス
タのテストヘッド部１０の作用効果について説明する。
この実施例によると、ブロック１２を嵌脱する際、各コ
ネクタ用テストプローブ１１の接触面１１ａがコネクタ
２の各コンタクト５ａの表面に対して摺接するようにな
っている。そして、このときコンタクト５ａとコネクタ
用テストプローブ１１とが面接触することになる。ゆえ
に、コンタクト５ａとコネクタ用テストプローブ１１と
が点接触する従来のものに比較して、接触面積を大きく
確保することができる。しかも、この実施例によると、
コネクタ用テストプローブ１１のピッチがコンタクト５
ａのピッチと等しくなっている。よって、ブロック１２
の凸部１６をレセプタクル３の凹部３ａに嵌合させるだ
けで、各コネクタ用テストプローブ１１を各コンタクト
５ａに対して確実に接触させることができる。

【００３１】以上の結果、コンタクト５とコネクタ用テ
ストプローブ１１との接触信頼性が向上する。従って、
インサーキットテスタの不良検出能力が確実に向上し、
良品率も高くなる。また、コネクタ用テストプローブ１
１の位置決め精度を向上させるための構造を特に設ける
必要がないことから、装置の構成も極めて簡単なものと
なる。ゆえに、高コスト化などといった問題も生じるこ
とがない。特に、この実施例ではレセプタクル３に対応
するプラグそのものをブロック１２として使用してい
る。それゆえ、テストヘッド部１０を作製する手間やコ
ストもかからない。

【００３２】また、このマザーボード１の場合、プロー
ブポイントであるコンタクト５ａがマザーボード１に対
してほぼ垂直な状態になっている。ゆえに、従来タイプ
のインサーキットテスタではコネクタ用テストプローブ
を接触させることができない。従って、レセプタクル３
の底面に隠れている部分に不良があっても、その不良を
検出することは不可能である。一方、実施例の場合に
は、上記のようにコネクタ用テストプローブ１１を確実
に接触させることができる。このことから明らかなよう
に、レセプタクル３の底面に隠れている部分の不良を検
出することができる。

【００３３】また、この実施例のテストヘッド部１０で
あると、レセプタクル３のコンタクト５ａの本数とコネ
クタ用テストプローブ１１の本数とが等しくなってい
る。従って、１つのレセプタクル３を検査する場合、ブ
ロック１２の嵌脱を一回行うだけで足りることになる。
さらに、この実施例のテストヘッド部１０であると、作
業者がケーブル接続用プリント配線板１３を把持するこ
とができる。従って、この状態でブロック１２の嵌脱を
行うことができるため、取扱いが極めて容易である。以
上のようなことから、インサーキットテストを簡便にか
つ効率よく行うことができるという利点がある。 〔実施例２〕実施例２において検査に供されるプリント
配線板２４上には、図５に示されるように、種類の異な
る４つのコネクタ２５，２６，２７，２８のレセプタク
ル２５ａ，２６ａ，２７ａ，２８ａがそれぞれ実装され
ている。なお、個々のレセプタクル２５ａ〜２８ａの構
成については実施例１のレセプタクル３と基本的に大き
な差異はないため、ここでは詳細な説明を省略する。

【００３４】前記４種のレセプタクル２５ａ〜２８ａに
対しては、それぞれ実施例１のテストヘッド部１０と同
様のテストヘッド部２５ｂ〜２８ｂが設けられている。
ただし、テストヘッド部２７ｂについては、例外的にケ
ーブル接続用プリント配線板が使用されていない。

【００３５】図６に示されるように、各テストヘッド部
２５ｂ〜２８ｂのケーブル先端には、コネクタのプラグ
２５ｃ〜２８ｃが取り付けられている。そして、ケーブ
ル集中用プリント配線板３０上には、それらに対応する
コネクタのレセプタクル２５ｄ〜２８ｄが設けられてい
る。このため、ケーブル集中用プリント配線板３０を介
して、各テストヘッド部２５ｂ〜２８ｂ側とインサーキ
ットテスタ本体側とが接続されるようになっている。

【００３６】このような構成であっても、上述した実施
例１と同等の作用効果を得ることができる。特にこの構
成であると、複数のケーブルを信号数に合わせて分散・
集中させることができる。ゆえに、インサーキットテス
タ本体側の端子数に制約を受けることがないという利点
がある。 〔実施例３〕次に、実施例３のインサーキットテスタの
テストヘッド部を図７に基づいて説明する。

【００３７】図７には、インサーキットテストに供され
るマザーボード１とテストヘッド部３３とが示されてい
る。マザーボード１上には、実施例１と同様の表面実装
型コネクタ２のレセプタクル（めすコネクタ）３が実装
されている。このマザーボード１上に形成されたパッド
（ただしレセプタクル用のパッドを除く）６には、表面
実装型のパッケージ３１やチップ部品３２がはんだ付け
されている。

【００３８】この実施例のテストヘッド部３３は、樹脂
板としてのプローブプレート３４を主体材料として構成
されている。プローブプレート３４の内部には、実施例
１において説明したブロック１２と、複数本（この実施
例では４０本）かつ金属製のピン状テストプローブ３５
とが埋め込まれている。ただし、コネクタ用テストプロ
ーブ１１の接触面１１ａ及びピン状テストプローブ３５
の先端部３５ａは、プローブプレート３４の片側面から
露出されている。

【００３９】この実施例のピン状テストプローブ３５の
場合、先端部３５ａの形状はニードル状になっている。
各先端部３５ａは、ブロック１２の嵌合時にプローブポ
イントであるパッド６に対してほぼ垂直に当接するよう
な位置・長さ等に設定されている。プローブプレート３
４のテストプローブ突出面Ｓ1 には、支持プレート３７
を介して弾性部材としてのゴム板３６が接着されてい
る。ゴム板３６の上面の高さは、先端部３５ａの高さよ
りも若干高くなるように設定されている。そして、この
ように構成されたテストヘッド部３３は、図示しないフ
ラットケーブルを介してインサーキットテスタ本体に接
続されている。

【００４０】さて、この実施例のインサーキットテスタ
のテストヘッド部３３によると、実施例１の作用効果に
加えて、次のような作用効果が得られる。つまり、ブロ
ック１２を嵌合させてコネクタ用テストプローブ１１の
接触面１１ａをコンタクト５ａに摺接させるとき、同時
にピン状テストプローブ３５の先端部３５ａもパッド６
に当接させることができる。従って、プローブプレート
３４を機械的に降下させるだけで、コネクタ２の検査と
それ以外の部分（パッケージ３１やチップ部品３２）の
検査とを同時に実施することができる。このため、イン
サーキットテストをいっそう簡便にかつ容易に行うこと
ができる。

【００４１】また、この実施例によると、先端部３５ａ
がパッド６に当接する以前にゴム板３６がマザーボード
１の上面に接触することになる。ゆえに、使用時におけ
る先端部３５ａまたはパッド６に対する衝撃が緩和さ
れ、パッド６の傷つきやピン状テストプローブ３５の曲
がり等が未然に回避される。

【００４２】さらに、この構成であると、プローブプレ
ート３４を下降させる際、レセプタクル３によってブロ
ック１２が垂直方向に案内される。その結果、ピン状テ
ストプローブ３５をパッド６に当接させるときの位置決
め精度が良い、というメリットがある。

【００４３】なお、本発明は上記実施例のみに限定され
ることはなく、例えば次のように変更することが可能で
ある。 （１） マザーボード１にコネクタ２のプラグ側が実装
されている場合には、そのプラグに対応するレセプタク
ルを使用してテストヘッド部１０を構成することが好ま
しい。このようにすると、テストヘッド部１０を作製す
る手間やコストがかからないという利点がある。

【００４４】（２） コネクタ用テストプローブ１１の
本数は必ずしもコンタクト５ａの本数と等しくなくても
よい。例えば、コネクタ用テストプローブ１１の本数を
コンタクト５ａの本数の１／２，１／３等にしてもよ
い。このようにすればテストヘッド部１０を全体的に小
型化することができる。

【００４５】（３） テストヘッド部１０を構成するケ
ーブル接続用プリント配線板１３は、スルーホール２
０，２１を有する両面板に限定されることはない。例え
ば、片面板でも多層板でもよい。片面板を採用すると、
テストヘッド部１０の製造コストを下げることができ
る。また、多層板を採用すると、テストヘッド部１０を
全体的に小型化することができる。

【００４６】（４） 勿論、ケーブル接続用プリント配
線板１３を省略した構成を採ることも可能である。この
場合、テストヘッド部１０の構成がより簡単になる。 （５） ケーブル接続用プリント配線板１３上に、コネ
クタ用テストプローブ１１の本数やピッチの異なる複数
個のブロック１２を搭載してもよい。この構成である
と、複数種のレセプタクル３の検査を一種のテストヘッ
ド部１０を用いて行うことができる。

【００４７】（６） 実施例３において、ピン状テスト
プローブ３５の先端部３５ａの形状はニードル状に限定
されることはなく、例えば三角錐状、３本針状、鋸状等
であってもよい。

【００４８】（７） 実施例３において、ピン状テスト
プローブ３５を、いわゆるスプリングコンタクトプロー
ブ方式にしてもよい。この構成であると、ピン状テスト
プローブ３５が接触する際の衝撃をより確実に緩和する
ことができる。

【００４９】ここで、特許請求の範囲に記載された技術
的思想のほかに、前述した実施例及び別例によって把握
される技術的思想をその効果とともに以下に列挙する。 （１） 請求項１〜３のいずれかに記載のテストヘッド
部を用いた検査方法。この方法であると、インサーキッ
トテストを簡便にかつ効率よく行うことができる。

【００５０】（２） 請求項３において、被検査物がコ
ネクタのレセプタクル（またはプラグ）であるとき、そ
のレセプタクルに対応するプラグ（またはレセプタク
ル）をブロックとして使用すること。このようにする
と、テストヘッド部を作製する手間やコストがかからな
い。

【００５１】なお、本明細書中において使用した技術用
語を次のように定義する。 「コネクタ： 基板−基板接続用やＦＰＣ用の表面実装
型コネクタなどを意味するほか、基板−基板接続用やＦ
ＰＣ用のスルーホール挿入実装型コネクタをも意味す
る。」

【００５２】

【発明の効果】以上詳述したように、請求項１〜６に記
載のインサーキットテスタのテストヘッド部によれば、
コンタクトとコネクタ用テストプローブとが面接触する
ことによって両者間の接触信頼性が向上するため、構造
が簡単であるにもかかわらず不良検出能力を向上させる
ことできる。

【００５３】請求項２に記載の発明によれば、１つのコ
ネクタを検査する場合でもブロックの嵌脱を一回行うだ
けで足りるため、インサーキットテストを簡便にかつ効
率よく行うことができる。

【００５４】請求項３に記載の発明によると、ケーブル
接続用プリント配線板を把持した状態でのブロックの嵌
脱が可能であるため、インサーキットテストをより簡便
にかつ効率よく行うことができる。

【００５５】特に請求項４，５に記載の発明によると、
コネクタの検査とそれ以外の部分の検査とを同時に実施
することができるため、インサーキットテストをいっそ
う簡便にかつ容易に行うことができる。

【００５６】請求項６に記載の発明によると、先端部ま
たはプローブポイントに対する衝撃が緩和されるため、
プリント配線板上のプローブポイントの傷つきやピン状
テストプローブの曲がり等を未然に回避することができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１において、インサーキットテストに供
されるプリント配線板を示す部分概略斜視図である。

【図２】同じく、テストヘッド部の要部を示す部分概略
斜視図である。

【図３】同じく、テストヘッド部を示す概略平面図であ
る。

【図４】同じく、テストヘッド部を構成するブロックを
レセプタクルに嵌合させた状態を示す部分概略断面図で
ある。

【図５】実施例２において、インサーキットテストに供
されるプリント配線板と、４つのテストヘッド部とを示
す概略斜視図である。

【図６】同じく、４つのテストヘッド部と、ケーブル集
中用プリント配線板とを示す概略平面図である。

【図７】インサーキットテストに供されるプリント配線
板と、実施例３のテストヘッド部とを示す部分概略断面
図である。

【符号の説明】

１，２４…プリント配線板、２，２５，２６，２７，２
８…コネクタ、３，２５ａ，２６ａ，２７ａ，２８ａ…
レセプタクル、６…プローブポイントとしてのパッド、
１０，２５ｂ，２６ｂ，２７ｂ，２８ｂ，３３…テスト
ヘッド部、１１…コネクタ用テストプローブ、１１ａ…
接触面、１２…ブロック、１３…ケーブル接続用プリン
ト配線板、１４…（第１のフラット）ケーブル、１５…
（第２のフラット）ケーブル、１８，１９…配線パター
ン、２３…銅線、３４…樹脂板としてのプローブプレー
ト、３５…ピン状テストプローブ、３５ａ…先端部、３
６…弾性部材としてのゴム板、Ｓ1 …テストプローブ突
出面。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】プリント配線板上に実装されたコネクタの
   電気検査を行うためのインサーキットテスタのテストヘ
   ッド部において、 前記コネクタに対して嵌脱可能なブロック上に複数のコ
   ネクタ用テストプローブを配列するとともに、前記コネ
   クタ用テストプローブのピッチを前記コネクタのコンタ
   クトのピッチと同程度に設定し、かつ前記ブロックの嵌
   脱時に前記コンタクトの表面に対して摺接する接触面を
   同テストプローブ上に形成したインサーキットテスタの
   テストヘッド部。
2. 【請求項２】前記コネクタの前記コンタクトと前記コネ
   クタ用テストプローブとを同数にした請求項１に記載の
   インサーキットテスタのテストヘッド部。
3. 【請求項３】インサーキットテスタ本体に接続されるケ
   ーブルをケーブル接続用プリント配線板に連結し、その
   プリント配線板上に前記ブロックを搭載し、かつ前記ブ
   ロックの前記コネクタ用テストプローブと前記ケーブル
   の銅線とを前記プリント配線板の配線パターンを介して
   電気的に接続した請求項１または２に記載のインサーキ
   ットテスタのテストヘッド部。
4. 【請求項４】前記ブロックの嵌合時に、その先端部が前
   記プリント配線板表面に存在するプローブポイントに対
   してほぼ垂直に当接しうるピン状テストプローブを備え
   た請求項１または２に記載のインサーキットテスタのテ
   ストヘッド部。
5. 【請求項５】少なくとも前記コネクタ用テストプローブ
   の摺接面と、前記ピン状テストプローブの先端部とを片
   側面に露出させるようにして、前記ブロック及び前記ピ
   ン状テストプローブを１枚の樹脂板内に埋め込んだ請求
   項４に記載のインサーキットテスタのテストヘッド部。
6. 【請求項６】前記樹脂板におけるテストプローブ突出面
   に弾性部材を配置するとともに、その弾性部材の上面の
   高さを前記ピン状テストプローブの先端部の高さよりも
   高くなるように設定した請求項５に記載のインサーキッ
   トテスタのテストヘッド部。