JPH07297240A - Lcd検査プローブの位置合せ方式及び装置 - Google Patents
Lcd検査プローブの位置合せ方式及び装置Info
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- JPH07297240A JPH07297240A JP6081515A JP8151594A JPH07297240A JP H07297240 A JPH07297240 A JP H07297240A JP 6081515 A JP6081515 A JP 6081515A JP 8151594 A JP8151594 A JP 8151594A JP H07297240 A JPH07297240 A JP H07297240A
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- lcd
- mark
- lcd substrate
- marks
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】プローブ治具とLCD基板の位置合わせを高精
度で得ることができ、しかも温度ドリフトや外乱に影響
を受けにくいものとする。 【構成】LCD基板100に対してプローブ治具400
を近付けて、LCD基板の端子群とプローブ治具のプロ
ーブ群とを電気的に接続して前記LCD基板の検査を行
う場合、プローブ治具に設けられたマークと、LCD基
板のマークとを重ねるように光学的にビデオカメラ50
1、503により読み取り、両マークが所定の位置関係
となるようにパターン比較及び制御装置503、調整テ
ーブル300等により位置制御する。
度で得ることができ、しかも温度ドリフトや外乱に影響
を受けにくいものとする。 【構成】LCD基板100に対してプローブ治具400
を近付けて、LCD基板の端子群とプローブ治具のプロ
ーブ群とを電気的に接続して前記LCD基板の検査を行
う場合、プローブ治具に設けられたマークと、LCD基
板のマークとを重ねるように光学的にビデオカメラ50
1、503により読み取り、両マークが所定の位置関係
となるようにパターン比較及び制御装置503、調整テ
ーブル300等により位置制御する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、液晶表示デバイス
(LCD基板と称する)の接続パターン等にプローブを
接触させて、試験、検査等を行うのに利用される装置に
係わり、特に、接続精度を向上させたLCD検査プロー
ブの位置合せ装置に関する。
(LCD基板と称する)の接続パターン等にプローブを
接触させて、試験、検査等を行うのに利用される装置に
係わり、特に、接続精度を向上させたLCD検査プロー
ブの位置合せ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】LCD基板の点灯状態を試験、検査する
場合、LCD基板をパレット上に平面的に載置し、この
パレットを平面的にX軸方向、Y軸方向、回転(θ)方
向に位置調整し、所定位置に設置されているプローブを
近付けて、LCD基板の接続パターンに電気的接触を行
い、試験、検査を行っている。
場合、LCD基板をパレット上に平面的に載置し、この
パレットを平面的にX軸方向、Y軸方向、回転(θ)方
向に位置調整し、所定位置に設置されているプローブを
近付けて、LCD基板の接続パターンに電気的接触を行
い、試験、検査を行っている。
【0003】ここで、パレットを調整する装置は、X軸
方向用のステージ、Y軸方向用のステージ、θ方向用の
ステージを積み重ねることにより構成されている。そし
て、パレット及びその上面のLCD基板を位置調整する
場合、ビデオカメラにより監視しており、LCD基板の
位置パターンを写し出して調整作業を行っている。
方向用のステージ、Y軸方向用のステージ、θ方向用の
ステージを積み重ねることにより構成されている。そし
て、パレット及びその上面のLCD基板を位置調整する
場合、ビデオカメラにより監視しており、LCD基板の
位置パターンを写し出して調整作業を行っている。
【0004】ビデオカメラでLCD基板の位置調整を行
う場合、その基準となる基準データは、メモリに記憶さ
れており画像比較結果得られた誤差データにより調整を
行っている。この調整が終わると、プローブ治具が下降
されて、LCD基板の接続パターンに電気的に接続され
る。よって、上記の調整作業のときに比較対象とされる
基準データは、プローブ治具の位置をメモリのデータ上
で表していることになる。
う場合、その基準となる基準データは、メモリに記憶さ
れており画像比較結果得られた誤差データにより調整を
行っている。この調整が終わると、プローブ治具が下降
されて、LCD基板の接続パターンに電気的に接続され
る。よって、上記の調整作業のときに比較対象とされる
基準データは、プローブ治具の位置をメモリのデータ上
で表していることになる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
システムは、パレット上のLCD基板をビデオカメラで
監視して、そのパターンをメモリの基準データと比較し
て、X、Y、θ方向の調整を行い、この調整の完了の
後、プローブ治具を下降させて接続パターンにプローブ
を接続している。しかし、この方式は、メモリの基準デ
ータが正確にプローブ治具の位置に対応していること、
及びビデオカメラの撮影情報が正確であることが前提と
なる。
システムは、パレット上のLCD基板をビデオカメラで
監視して、そのパターンをメモリの基準データと比較し
て、X、Y、θ方向の調整を行い、この調整の完了の
後、プローブ治具を下降させて接続パターンにプローブ
を接続している。しかし、この方式は、メモリの基準デ
ータが正確にプローブ治具の位置に対応していること、
及びビデオカメラの撮影情報が正確であることが前提と
なる。
【0006】このために、ビデオカメラの取り付け位置
とプローブ治具の位置との相互関係は極めて高精度でな
ければならず、組み立て精度に厳格なものが要求され
る。また温度ドリフト等によりビデオカメラの撮影条件
に狂いが生じることがあり、そのときは再度初期設定処
理を行うか、基準データの調整を行う必要が生じる。
とプローブ治具の位置との相互関係は極めて高精度でな
ければならず、組み立て精度に厳格なものが要求され
る。また温度ドリフト等によりビデオカメラの撮影条件
に狂いが生じることがあり、そのときは再度初期設定処
理を行うか、基準データの調整を行う必要が生じる。
【0007】そこでこの発明は、プローブ治具とLCD
基板の位置合わせを、高精度で得ることができ、しかも
温度ドリフトや外乱に影響を受けにくくしたLCD検査
プローブの位置合せ装置を提供することを目的とする。
基板の位置合わせを、高精度で得ることができ、しかも
温度ドリフトや外乱に影響を受けにくくしたLCD検査
プローブの位置合せ装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、プローブ治
具に設けられたマークと、LCD基板のマークとを重ね
るように光学的に撮影手段(ビデオカメラ)で読み取
り、画像計測により両マークが所定の位置関係となるよ
うに前記LCD基板を搭載しているパレットを位置制御
するようにしたものである。
具に設けられたマークと、LCD基板のマークとを重ね
るように光学的に撮影手段(ビデオカメラ)で読み取
り、画像計測により両マークが所定の位置関係となるよ
うに前記LCD基板を搭載しているパレットを位置制御
するようにしたものである。
【0009】
【作用】上記の手段により、両マークが照準とされて読
み取られるために、カメラの取り付け精度は関係なく、
また、温度ドリフト等による電気的変化があっても、精
度よくプローブをLCD基板の端子に位置合わせを行う
ことができる。
み取られるために、カメラの取り付け精度は関係なく、
また、温度ドリフト等による電気的変化があっても、精
度よくプローブをLCD基板の端子に位置合わせを行う
ことができる。
【0010】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面を参照して説
明する。図1はこの発明の一実施例を示す図である。1
00はLCD基板であり、このLCD基板は、パレット
200上に精度良く位置決めされて保持されている。パ
レット200は、さらに調整テーブル装置300上に精
度良く位置決めされて載置されている。このパレット2
00は例えば透明な材質により構成されている。調整テ
ーブル装置300は、平面的に直交するX軸、Y軸方向
のテーブルと、回転方向(θ方向)のテーブルを有する
(図3参照)。この調整テーブル装置300は、パター
ン比較及び制御装置503により制御される。
明する。図1はこの発明の一実施例を示す図である。1
00はLCD基板であり、このLCD基板は、パレット
200上に精度良く位置決めされて保持されている。パ
レット200は、さらに調整テーブル装置300上に精
度良く位置決めされて載置されている。このパレット2
00は例えば透明な材質により構成されている。調整テ
ーブル装置300は、平面的に直交するX軸、Y軸方向
のテーブルと、回転方向(θ方向)のテーブルを有する
(図3参照)。この調整テーブル装置300は、パター
ン比較及び制御装置503により制御される。
【0011】プローブ治具400は、図示矢印A方向に
下降して、そのプローブをLCD基板100の端子に電
気的に接続することができる。プローブ治具400の機
械的駆動装置及び調整テーブル装置300の機械的駆動
装置については図示していないが周知の機構がある。
下降して、そのプローブをLCD基板100の端子に電
気的に接続することができる。プローブ治具400の機
械的駆動装置及び調整テーブル装置300の機械的駆動
装置については図示していないが周知の機構がある。
【0012】プローブ治具400のプローブがLCD基
板100の端子に電気的に接続する場合、その位置合わ
せが行われる。この位置合わせを行うための、監視位置
情報は、次のように得られる。即ち、ビデオカメラ50
1、502がプローブ治具400のマークと、LCD基
板100のマークとを撮像して、そのマーク画像の位置
誤差を監視することにより得られる。ビデオカメラ50
1、502からの撮像信号は、パターン比較及び制御装
置503に入力される。パターン比較及び制御装置50
3は、プローブ治具400のマークとこれに対応するL
CD基板100のマークとが所定の関係になるように、
調整テーブル装置300を制御する。
板100の端子に電気的に接続する場合、その位置合わ
せが行われる。この位置合わせを行うための、監視位置
情報は、次のように得られる。即ち、ビデオカメラ50
1、502がプローブ治具400のマークと、LCD基
板100のマークとを撮像して、そのマーク画像の位置
誤差を監視することにより得られる。ビデオカメラ50
1、502からの撮像信号は、パターン比較及び制御装
置503に入力される。パターン比較及び制御装置50
3は、プローブ治具400のマークとこれに対応するL
CD基板100のマークとが所定の関係になるように、
調整テーブル装置300を制御する。
【0013】プローブ治具400のマークとこれに対応
するLCD基板100のマークとは、例えばモニタ50
4に表示される。例えばマークM11がビデオカメラ5
01により撮像されたプローブ治具400のマークであ
り、マークM21が同じくビデオカメラ501により撮
像されたLCD基板100のマークである。この例では
マークM1は格子状であり、マークM21は四角形であ
る。マークM21が格子に合致した状態となったときに
位置合わせが完了する。
するLCD基板100のマークとは、例えばモニタ50
4に表示される。例えばマークM11がビデオカメラ5
01により撮像されたプローブ治具400のマークであ
り、マークM21が同じくビデオカメラ501により撮
像されたLCD基板100のマークである。この例では
マークM1は格子状であり、マークM21は四角形であ
る。マークM21が格子に合致した状態となったときに
位置合わせが完了する。
【0014】位置合わせが行われ、プローブ治具400
のプローブとLCD基板100の所定の端子とが接続さ
れると、プローブを通して各種の電気的試験が行われ
る。例えば、所定の画像を表示させてその様子を別の監
視カメラで撮像して画像処理により確認を行う等の試験
である。このときは、バックライト600がオンし、液
晶表示機能が発揮されるように設定される。
のプローブとLCD基板100の所定の端子とが接続さ
れると、プローブを通して各種の電気的試験が行われ
る。例えば、所定の画像を表示させてその様子を別の監
視カメラで撮像して画像処理により確認を行う等の試験
である。このときは、バックライト600がオンし、液
晶表示機能が発揮されるように設定される。
【0015】このシステムは、LCD基板100に設け
られているマークと、プローブ治具400に設けられて
いるマークとをビデオカメラで撮像し、照準媒体として
利用しながら位置合わせをおこなっている点に特徴があ
る。
られているマークと、プローブ治具400に設けられて
いるマークとをビデオカメラで撮像し、照準媒体として
利用しながら位置合わせをおこなっている点に特徴があ
る。
【0016】図2は、LCD基板100を取り出して原
理的に示している。LCD基板100は、2枚の透明ガ
ラス101、102間に液晶103を封じ込めたもので
あり、液晶セルを制御するために、ガラス102には透
明電極から導出した多数の端子群が導出されている。端
子群は、横2000本、縦500本程も存在する。ここ
でガラス102の4つの角部には、マークM21、M2
2、M23、M24が塗布されている。図2(C)は、
LCD基板100がパレット200に載置された状態を
示している。
理的に示している。LCD基板100は、2枚の透明ガ
ラス101、102間に液晶103を封じ込めたもので
あり、液晶セルを制御するために、ガラス102には透
明電極から導出した多数の端子群が導出されている。端
子群は、横2000本、縦500本程も存在する。ここ
でガラス102の4つの角部には、マークM21、M2
2、M23、M24が塗布されている。図2(C)は、
LCD基板100がパレット200に載置された状態を
示している。
【0017】図3(B)は、プローブ治具400とLC
D基板100とビデオカメラ501、502の配置例を
示している。ビデオカメラ501、502は、それぞれ
LCD基板100に設けられているマークとプローブ治
具400に設けられているマークとを重ねて撮像しなけ
ればならない。したがって、プローブ治具400の角部
には、例えば透明板(例えばガラス)401、402、
403、404が設けられ、この透明板401、40
2、403、404に格子のマークが塗布されている。
これにより、ビデオカメラ501、502は、プローブ
治具400に設けられているマークとLCD基板100
に設けられているマークとを重ねて撮像することができ
る。図3(A)はビデオカメラ501が、透明板401
に設けられている格子のマークとLCD基板100に設
けられているマークM21とを重ねて撮像した状態を示
している。この状態は理想的な位置合わせ状態を示して
いるが、位置ずれが生じている場合には、格子の四角形
に対して四角形のマークM21が傾いている。
D基板100とビデオカメラ501、502の配置例を
示している。ビデオカメラ501、502は、それぞれ
LCD基板100に設けられているマークとプローブ治
具400に設けられているマークとを重ねて撮像しなけ
ればならない。したがって、プローブ治具400の角部
には、例えば透明板(例えばガラス)401、402、
403、404が設けられ、この透明板401、40
2、403、404に格子のマークが塗布されている。
これにより、ビデオカメラ501、502は、プローブ
治具400に設けられているマークとLCD基板100
に設けられているマークとを重ねて撮像することができ
る。図3(A)はビデオカメラ501が、透明板401
に設けられている格子のマークとLCD基板100に設
けられているマークM21とを重ねて撮像した状態を示
している。この状態は理想的な位置合わせ状態を示して
いるが、位置ずれが生じている場合には、格子の四角形
に対して四角形のマークM21が傾いている。
【0018】図4は、この発明の他の実施例である。上
記した実施例では、ビデオカメラ501、502がプロ
ーブ治具400の上部に設置されていた。しかし、図4
(A)の実施例では、プリズム701、702により光
軸の向きを変えて、サイドからビデオカメラを配置でき
るようにした例である。この例では、マークを読み取る
ための照明は、自己照明でありビデオカメラ501、5
02側から照明光を照射している。
記した実施例では、ビデオカメラ501、502がプロ
ーブ治具400の上部に設置されていた。しかし、図4
(A)の実施例では、プリズム701、702により光
軸の向きを変えて、サイドからビデオカメラを配置でき
るようにした例である。この例では、マークを読み取る
ための照明は、自己照明でありビデオカメラ501、5
02側から照明光を照射している。
【0019】しかしこの照明方法に限らず図4(B)に
示すように、本来備えらえているバックライト600の
光を照明として利用してもよい。この場合、当然、調整
テーブル300は、バックライト600の光がマークの
光路を通るようにフレーム枠となっている。
示すように、本来備えらえているバックライト600の
光を照明として利用してもよい。この場合、当然、調整
テーブル300は、バックライト600の光がマークの
光路を通るようにフレーム枠となっている。
【0020】図5は、さらにこの発明の他の実施例を示
している。上記した実施例では、ビデオカメラ501、
502は、プローブ治具400の上側に配置されてい
る。しかし、調整テーブルの下側に配置されてもよい。
このような配置の場合、プローブ治具400を移動させ
たり、パレット200を移動させたりして作業を行う側
にカメラがないので空間的な余裕があり作業が容易とな
る。図5(A)の実施例の場合、プリズム701、ビデ
オカメラ501、702、ビデオカメラ502を調整テ
ーブル300の下側に配置している。また、プローブ治
具400の上側には、マークに対応する位置に、プリズ
ム803、804を配置し、それぞれのプリズム80
3、804を介して光源801、802により照明を行
うようにしている。光源801、802、プリズム80
3、804を省略して、カメラ側から自己照明をおこな
ってもよい。
している。上記した実施例では、ビデオカメラ501、
502は、プローブ治具400の上側に配置されてい
る。しかし、調整テーブルの下側に配置されてもよい。
このような配置の場合、プローブ治具400を移動させ
たり、パレット200を移動させたりして作業を行う側
にカメラがないので空間的な余裕があり作業が容易とな
る。図5(A)の実施例の場合、プリズム701、ビデ
オカメラ501、702、ビデオカメラ502を調整テ
ーブル300の下側に配置している。また、プローブ治
具400の上側には、マークに対応する位置に、プリズ
ム803、804を配置し、それぞれのプリズム80
3、804を介して光源801、802により照明を行
うようにしている。光源801、802、プリズム80
3、804を省略して、カメラ側から自己照明をおこな
ってもよい。
【0021】図5(B)はさらに別の実施例である。こ
の実施例は、パレット200とビデオカメラ501、5
02を一体化して、周辺の簡素化を図ったものである。
パレット200は、厚みが大きくなるが、ビデオカメラ
支持するための機構が不要となる。パレット200にお
いて、LCD基板100のマークに対応する各位置に
は、厚み方向と側部方向に連続する断面L字状の穴が開
設されている。穴221、222の角部にはプリズム7
01、702が配置されマーク位置を通る光をビデオカ
メラに導くようにしている。この実施例においても照明
方法は、バックライトを利用してもよく、自己照明であ
ってもよい。
の実施例は、パレット200とビデオカメラ501、5
02を一体化して、周辺の簡素化を図ったものである。
パレット200は、厚みが大きくなるが、ビデオカメラ
支持するための機構が不要となる。パレット200にお
いて、LCD基板100のマークに対応する各位置に
は、厚み方向と側部方向に連続する断面L字状の穴が開
設されている。穴221、222の角部にはプリズム7
01、702が配置されマーク位置を通る光をビデオカ
メラに導くようにしている。この実施例においても照明
方法は、バックライトを利用してもよく、自己照明であ
ってもよい。
【0022】図6(A)は、さらにまた他の実施例であ
る。図5(B)の実施例と若干異なる。この実施例は、
先のプリズム701、702に変えてハーフミラー71
1、712が利用されている。さらにパレット200の
穴221、222は、ハーフミラー711、712を介
してバックライト600からの光も通過できるように構
成されている。これによりバックライト600の照明を
利用してマークの位置合わせ作業を行うことができる。
る。図5(B)の実施例と若干異なる。この実施例は、
先のプリズム701、702に変えてハーフミラー71
1、712が利用されている。さらにパレット200の
穴221、222は、ハーフミラー711、712を介
してバックライト600からの光も通過できるように構
成されている。これによりバックライト600の照明を
利用してマークの位置合わせ作業を行うことができる。
【0023】上記した実施例においては、ビデオカメラ
501、502は、対向する位置に配置されいるかのよ
うに示した。これは構成をわかり安くするためであり、
実際にはビデオカメラ501、502は、図6(B)に
示すすように、併設して配列されている。
501、502は、対向する位置に配置されいるかのよ
うに示した。これは構成をわかり安くするためであり、
実際にはビデオカメラ501、502は、図6(B)に
示すすように、併設して配列されている。
【0024】上記した説明では、LCD基板100の大
きさ(面積)については触れていない。したがって、図
6(B)に示すビデオカメラ501、502間の距離L
1(LCD基板のマーク間の距離に対応)については説
明していない。しかしこのシステムは、LCD基板の大
きさに応じて、各種の距離L2、L3でビデオカメラを
配置可能なパレットが用意されている。即ち、図7に示
すように、パレット200A、200Bは、それぞれ異
なる大きさのLCD基板100A、100Bを保持する
ことができる。そしてそれぞれのLCD基板100A、
100Bのマーク間隔は異なるので、それぞれに応じた
間隔でビデオカメラ551、552、及び561、56
2を取り付けることができるようになっている。なお、
試験装置において、このような大きさの異なるパレット
に交換された場合は、当然、LCD基板の端子に対応す
る大きさのプローブ治具に交換される。
きさ(面積)については触れていない。したがって、図
6(B)に示すビデオカメラ501、502間の距離L
1(LCD基板のマーク間の距離に対応)については説
明していない。しかしこのシステムは、LCD基板の大
きさに応じて、各種の距離L2、L3でビデオカメラを
配置可能なパレットが用意されている。即ち、図7に示
すように、パレット200A、200Bは、それぞれ異
なる大きさのLCD基板100A、100Bを保持する
ことができる。そしてそれぞれのLCD基板100A、
100Bのマーク間隔は異なるので、それぞれに応じた
間隔でビデオカメラ551、552、及び561、56
2を取り付けることができるようになっている。なお、
試験装置において、このような大きさの異なるパレット
に交換された場合は、当然、LCD基板の端子に対応す
る大きさのプローブ治具に交換される。
【0025】図8(A)はさらにこの発明の他の実施例
である。上記した実施例においては、ビデオカメラ50
1、502がパターンの画像情報を取り込み、この画像
情報により位置合わせ制御を行うものとした。しかし、
図8に示すように、粗調整と、精密な微調整とを区別し
て位置合わせを行ってもよい。即ち、901、902は
粗調整用のビデオカメラである。粗調整が行われるとき
は、ビデオカメラ901、902により取り込まれた画
像情報により調整テーブルの制御が行われる。この調整
は、簡単な調整であり、例えば格子の中に四角のマーク
がほぼ位置すればよいものとされている。この調整が終
わると、続いてビデオカメラ501、502により取り
込まれた画像情報により調整テーブルの制御が行われ
る。この調整は高精度で位置合わせが行われる。
である。上記した実施例においては、ビデオカメラ50
1、502がパターンの画像情報を取り込み、この画像
情報により位置合わせ制御を行うものとした。しかし、
図8に示すように、粗調整と、精密な微調整とを区別し
て位置合わせを行ってもよい。即ち、901、902は
粗調整用のビデオカメラである。粗調整が行われるとき
は、ビデオカメラ901、902により取り込まれた画
像情報により調整テーブルの制御が行われる。この調整
は、簡単な調整であり、例えば格子の中に四角のマーク
がほぼ位置すればよいものとされている。この調整が終
わると、続いてビデオカメラ501、502により取り
込まれた画像情報により調整テーブルの制御が行われ
る。この調整は高精度で位置合わせが行われる。
【0026】このような調整を行うために、例えば、図
8(B)に示すように、格子マークに対して粗調整側で
は四角マークが十分小さく、微調整側では四角マークが
大きく形成されている。
8(B)に示すように、格子マークに対して粗調整側で
は四角マークが十分小さく、微調整側では四角マークが
大きく形成されている。
【0027】照準を合わせるためのマークの種類は、上
記した例に限らず、図9に示すような各種のマークを利
用することができる。斜線を付したマークが例えばLC
D基板100に設けられているマーク、白抜きのマーク
がプローブ治具400のマークである。
記した例に限らず、図9に示すような各種のマークを利
用することができる。斜線を付したマークが例えばLC
D基板100に設けられているマーク、白抜きのマーク
がプローブ治具400のマークである。
【0028】さらにまた、上記した実施例では、透明材
やガラス材にマークを塗布しておくものとして説明した
が、開設穴による穴の形状を選定してマークとしてもよ
い。また切抜きによる形状でマークとしてもよい。
やガラス材にマークを塗布しておくものとして説明した
が、開設穴による穴の形状を選定してマークとしてもよ
い。また切抜きによる形状でマークとしてもよい。
【0029】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によると、
プローブ治具とLCD基板の位置合わせを高精度で得る
ことができ、しかも温度ドリフトや外乱に影響を受けに
くいシステムを構築でいる。
プローブ治具とLCD基板の位置合わせを高精度で得る
ことができ、しかも温度ドリフトや外乱に影響を受けに
くいシステムを構築でいる。
【図1】この発明の一実施例を示す図。
【図2】LCD基板の説明図。
【図3】マークとLCD基板とプローブ治具の関係を示
す説明図。
す説明図。
【図4】この発明の他の実施例を示す図。
【図5】同じくこの発明の他の実施例を示す図。
【図6】同じくこの発明の他の実施例を示す図。
【図7】同じくこの発明の他の実施例を示す図。
【図8】同じくこの発明の他の実施例を示す図。
【図9】マークの例を示す図。
100…LCD基板、200…パレット、300…調整
テーブル、400…プローブ治具、501、502…ビ
デオカメラ、503…パターン比較及び制御装置、50
4…モニタ、600…バックライト。
テーブル、400…プローブ治具、501、502…ビ
デオカメラ、503…パターン比較及び制御装置、50
4…モニタ、600…バックライト。
Claims (10)
- 【請求項1】LCD基板に対してプローブ治具を近付け
て、LCD基板の端子群とプローブ治具のプローブ群と
を電気的に接続して前記LCD基板の検査を行うため
に、前記LCD基板とプローブ治具との位置合わせを行
う方式として、 プローブ治具に設けられたマークと、LCD基板のマー
クとを重ねるように光学的に撮影手段により読み取り、
両マークが所定の位置関係となるように前記LCD基板
を搭載している調整テーブルを位置制御するようにした
ことを特徴とするLCD検査プローブの位置合わせ方
式。 - 【請求項2】平面的な直交するX軸、Y軸方向及び回転
方向への位置調整が可能な調整テーブル装置と、 前記調整テーブル装置の上面に載置されたパレットに保
持されるLCD基板と、 前記LCD基板の角部の少なくとも2箇所の光透過部に
付された第1のマークと、 前記パレットの上側で、前記LCD基板の端子に対応し
たプローブを有し、このプローブを前記LCD基板に近
接して接触することができる上下可動自在なプローブ装
置と、 前記プローブ装置の一部の光透過部に設けられ、前記L
CD基板の第1のマークに対応した位置であって、前記
第1のマークと組み合わせることができる第2のマーク
と、 前記第1と第2のマークを光学的に重ねて撮影する撮影
手段と、 前記撮影手段により撮像された前記第1と第2のマーク
の画像情報から所定の位置関係のずれを検出して、前記
ずれ量に応じて前記調整テーブル装置を制御し、前記ず
れ量をなくすための制御手段とを具備したことを特徴と
するLCD検査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項3】前記撮影手段は、前記プローブ装置の上側
に配置されていることを特徴とする請求項2記載のLC
D検査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項4】前記撮影手段は、前記調整テーブル装置の
下側に配置されていることを特徴とする請求項2記載の
LCD検査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項5】前記撮影手段は、前記パレットの内部に埋
設されていることを特徴とする請求項2記載のLCD検
査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項6】前記撮影手段は、前記第1と第2のマーク
を結ぶ光軸上にプリズムを配置しており、このプリズム
により導かれた光学像をビデオカメラで撮像することを
特徴とする請求項3、4、5のいずれかに記載のLCD
検査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項7】前記撮影手段は、前記第1と第2のマーク
を結ぶ光軸上にハーフミラーを配置しており、このハー
フミラーにより導かれた光学像をビデオカメラで撮像す
ることを特徴とする請求項3、4、5のいずれかに記載
のLCD検査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項8】前記撮影手段、前記第1と第2のマーク
は、位置合わせの粗調整用と微調整用との複数組みが設
けられていることを特徴とする請求項3、4、5のいず
れかに記載のLCD検査プローブの位置合わせ装置。 - 【請求項9】前記撮影手段が、前記第1と第2のマーク
を光学的に重ねて撮影する際の照明手段としては、前記
LCD基板のために用意されたバックライトが用いられ
ることを特徴とする請求項2記載のLCD検査プローブ
の位置合わせ装置。 - 【請求項10】前記パレットとしては、それぞれ異なる
大きさのLCD基板を載置可能であり、複数の撮像装置
の取り付け間隔が異なる複数のパレットが用意されてい
ることを特徴とする請求項5記載のLCD検査プローブ
の位置合わせ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08151594A JP3425213B2 (ja) | 1994-04-20 | 1994-04-20 | Lcd検査プローブの位置合わせ方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP08151594A JP3425213B2 (ja) | 1994-04-20 | 1994-04-20 | Lcd検査プローブの位置合わせ方法及び装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2002315946A Division JP3639828B2 (ja) | 2002-10-30 | 2002-10-30 | Lcd検査プローブの位置合わせ方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07297240A true JPH07297240A (ja) | 1995-11-10 |
JP3425213B2 JP3425213B2 (ja) | 2003-07-14 |
Family
ID=13748490
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP08151594A Expired - Fee Related JP3425213B2 (ja) | 1994-04-20 | 1994-04-20 | Lcd検査プローブの位置合わせ方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3425213B2 (ja) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 1994-04-20 JP JP08151594A patent/JP3425213B2/ja not_active Expired - Fee Related
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