JPH07288659A

JPH07288659A - 画像読取装置

Info

Publication number: JPH07288659A
Application number: JP6081257A
Authority: JP
Inventors: Yoshinobu Takeyama; 佳伸竹山
Original assignee: Ricoh Co Ltd
Current assignee: Ricoh Co Ltd
Priority date: 1994-04-20
Filing date: 1994-04-20
Publication date: 1995-10-31
Anticipated expiration: 2018-09-08
Also published as: JP3444509B2

Abstract

(57)【要約】【目的】ラインセンサによる副走査速度を通常の１／
ｎとしてｍ個のラインデータを平均化することで読取品
質を向上させる画像読取装置において、読取品質を低下
させることなく読取速度を向上させる。【構成】前読取の実行時にラインデータを個々に積分
する積分算出手段１４を設け、この積分結果を予め設定
された基準電圧と比較するライン比較手段１４を設け、
基準電圧より積分値が低いラインデータの副走査位置を
記憶する位置記憶手段１５を設け、本読取の実行時に読
取画像の必要な部分のみ低速で読取走査してラインデー
タを平均化する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、デジタル複写機、電子
ファイル装置、コンピュータペリフェラル用のイメージ
スキャナ、印刷分野のスキャナ装置の入力部等に利用さ
れる画像読取装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】特開平1-291570号公報等に開示された画
像読取装置では、画像読取を外部装置の指令に対応して
中断及び再開することで画像データの伝送速度を調節で
きるようになっている。

【０００３】上記公報に開示された画像読取装置では、
画像データの伝送速度を低下させるためにはラインセン
サの移動速度を低下させると共に受光素子の光蓄積時間
を延長する必要があるので、画像データの伝送速度が最
も低い場合にラインセンサの出力レベルが最大となるよ
うに光学系等が設定されている。このため、この画像読
取装置では、画像データの伝送速度が高い場合にはライ
ンセンサのダイナミックレンジを有効に活用することが
できず、その画像データの出力レベルが低いためにラン
ダムノイズによってＳ／Ｎ（Signal／Noise)が悪化して
いる。

【０００４】また、カラー画像を読み取る画像読取装置
では、例えば、ラインセンサは受光素子を主走査方向に
連設した三つの素子ラインを副走査方向にも連設した構
造となっており、これらの素子ラインがＲＧＢ(Red,Gre
en,Blue)のラインデータを個々に読み取るようになって
いる。この場合、ラインセンサの三つの素子ラインが個
々に読み取ったラインデータを各色で再生して合成する
ことでカラー画像を再現することになるが、実際にはラ
インセンサの三つの素子ラインは副走査方向の位置が相
違するためにカラー画像の同一ラインを同時に読み取る
ことができず、タイミング補正の適切さを欠くことで再
現するカラー画像に色ズレ等が発生しがちである。

【０００５】さらに、画像読取装置はラインセンサが出
力するアナログのラインデータをアナログデジタルコン
バータであるＡ／ＤＣ（Analog／Digital Convertor)で
デジタルに変換して出力するようになっているが、この
デジタルのラインデータ内の有効ビット数はＡ／ＤＣの
ビット数に比較して低くなっている。つまり、Ａ／ＤＣ
としてビット数が高い製品が使用されていてもランダム
ノイズ等のために実際に画像に対応した内容となるライ
ンデータの有効ビット数は低くなっており、特に上記公
報の画像読取装置のように画像データの読取速度を可変
するとラインデータの有効ビット数も変化することにな
る。そこで、上述のように画像データの読取速度を可変
した場合の有効ビット数を確認することが要望されてい
るが、これは従来の画像読取装置では困難である。

【０００６】そこで、本出願人が出願した特開平5-2763
81号公報に開示されている画像読取装置では、ラインセ
ンサが読取画像から順次読み取って出力するラインデー
タを平均化手段で所定数毎に平均化し、ラインセンサの
数分の一の個数のラインデータを数分の一の頻度で出力
するようになっている。このようにすることで、ライン
センサの出力レベルが常時最大となるように光学系等を
設定することを可能としてＳ／Ｎを向上させるようにな
っている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上述した画像読取装置
は、ラインセンサが出力するラインデータを所定数毎に
平均化することでＳ／Ｎを向上させるようになってい
る。

【０００８】しかし、このようにラインセンサの出力レ
ベルが常時最大となるようにラインデータをｎライン毎
に平均化するためには、副走査機構による走査速度を１
／ｎにする必要があるので読取速度が１／ｎとなって読
取時間はｎ倍となり、その作業能率が低下することにな
る。

【０００９】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
受光素子を主走査方向に連設したラインセンサを設け、
読取画像が形成された原稿を保持する原稿保持機構を設
け、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読取画像
と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相対移動
させる副走査機構を設け、前読取の実行時に前記ライン
センサが前記読取画像から順次読み取るアナログのライ
ンデータを個々に積分する積分算出手段を設け、この積
分算出手段の積分結果を予め設定された基準電圧と比較
するライン比較手段を設け、このライン比較手段が基準
電圧より積分値が低いことを検出したラインデータの副
走査位置を記憶する位置記憶手段を設け、本読取の実行
時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置では前記副走
査機構による走査速度を予め設定された１／ｎに可変す
る速度可変手段を設け、この速度可変手段が走査速度を
可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画像から順
次読み取るアナログのラインデータをデジタルに変換す
るアナログデジタルコンバータを設け、このアナログデ
ジタルコンバータがデジタルに変換したラインデータを
予め設定されたｎライン毎に平均化して新規のラインデ
ータとする平均化手段を設けた。

【００１０】請求項２記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータを一画素
毎に予め設定された基準電圧と比較する画素比較手段を
設け、この画素比較手段が基準電圧より低いことを検出
した画素データの個数を積算する画素積算手段を設け、
この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準個数
とを比較する個数比較手段を設け、この個数比較手段が
基準個数より積算個数が多大なことを検出したラインデ
ータの副走査位置を記憶する位置記憶手段を設け、本読
取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置では
前記副走査機構による走査速度を予め設定された１／ｎ
に可変する速度可変手段を設け、この速度可変手段が走
査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画
像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタル
に変換するアナログデジタルコンバータを設け、このア
ナログデジタルコンバータがデジタルに変換したライン
データを予め設定されたｎライン毎に平均化して新規の
ラインデータとする平均化手段を設けた。

【００１１】請求項３記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータが出力するデジタルのライ
ンデータを一画素毎に予め設定された基準データと比較
するデータ比較手段を設け、このデータ比較手段が基準
データより低いことを検出した画素データの個数を積算
する画素積算手段を設け、この画素計数手段の積算個数
と予め設定された基準個数とを比較する個数比較手段を
設け、この個数比較手段が基準個数より積算個数が多大
なことを検出したラインデータの副走査位置を記憶する
位置記憶手段を設け、本読取の実行時に前記位置記憶手
段が記憶した走査位置では前記副走査機構による走査速
度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手段を設
け、この速度可変手段が走査速度を可変した状態で前記
ラインセンサが前記読取画像から順次読み取って前記ア
ナログデジタルコンバータがアナログからデジタルに変
換したラインデータを予め設定されたｎライン毎に平均
化して新規のラインデータとする平均化手段を設けた。

【００１２】請求項４記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータが出力するデジタルのライ
ンデータから予め設定された所定位置の一連の画素デー
タを選出する画素群選出手段を設け、この画素群選出手
段が選出した一連の画素データの一致の有無を検出する
一致検出手段を設け、この一致検出手段が一致を検出す
ると前記画素群選出手段とは相違する位置でラインデー
タから一つの画素データを選出する一画素選出手段を設
け、この一画素選出手段が選出した画素データに対応し
て予め設定された基準データより高い画素データの個数
を積算する画素積算手段を設け、この画素計数手段の積
算個数と予め設定された基準個数とを比較する個数比較
手段を設け、この個数比較手段が基準個数より積算個数
が多大なことを検出したラインデータの副走査位置を記
憶する位置記憶手段を設け、本読取の実行時に前記位置
記憶手段が記憶した走査位置では前記副走査機構による
走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手
段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変した状態
で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み取って
前記アナログデジタルコンバータがアナログからデジタ
ルに変換したラインデータを予め設定されたｎライン毎
に平均化して新規のラインデータとする平均化手段を設
けた。

【００１３】請求項５記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータを個々に
積分する積分算出手段を設け、この積分算出手段の積分
結果を予め設定された基準電圧と比較するライン比較手
段を設け、このライン比較手段の比較結果を一個ずつ相
違する順番でｍ個ずつ繰返し積算するｍ個のライン積算
手段を設け、これらのライン積算手段が一個ずつ順番に
出力する積算個数を予め設定されたｍ個と順次比較する
個数比較手段を設け、この個数比較手段が個数の一致を
検出すると前記回数検出手段が回数積算を開始したライ
ンデータの副走査位置を記憶する位置記憶手段を設け、
本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
からｍラインの走査位置まで前記副走査機構による走査
速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手段を
設け、この速度可変手段が走査速度を可変した状態で前
記ラインセンサが前記読取画像から順次読み取るアナロ
グのｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換するアナロ
グデジタルコンバータを設け、このアナログデジタルコ
ンバータがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデータを
予め設定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラ
インデータとする平均化手段を設けた。

【００１４】請求項６記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータを一画素
毎に予め設定された基準電圧と比較する画素比較手段を
設け、この画素比較手段が基準電圧より低いことを検出
した画素データの個数を積算する画素積算手段を設け、
この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準個数
とを比較する個数比較手段を設け、この個数比較手段が
基準個数より積算個数が多大なことを検出したラインデ
ータを個々に積分する積分算出手段を設け、この積分算
出手段の積分結果を予め設定された基準電圧と比較する
ライン比較手段を設け、このライン比較手段の比較結果
を一個ずつ相違する順番でｍ個ずつ繰返し積算するｍ個
のライン積算手段を設け、これらのライン積算手段が一
個ずつ順番に出力する積算個数を予め設定されたｍ個と
順次比較する個数比較手段を設け、この個数比較手段が
個数の一致を検出すると前記回数検出手段が回数積算を
開始したラインデータの副走査位置を記憶する位置記憶
手段を設け、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶
した走査位置からｍラインの走査位置まで前記副走査機
構による走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速
度可変手段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変
した状態で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読
み取るアナログのｎ×ｍのラインデータをデジタルに変
換するアナログデジタルコンバータを設け、このアナロ
グデジタルコンバータがデジタルに変換したｎ×ｍのラ
インデータを予め設定されたｎライン毎に平均化して新
規のｍ個のラインデータとする平均化手段を設けた。

【００１５】請求項７記載の発明は、請求項５又は６記
載の発明において、個数比較手段がライン積算手段の積
算個数と比較する個数をｍ個以下に設定した。

【００１６】請求項８記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータがデジタルに変換したライ
ンデータを一個ずつ相違する順番で予め設定されたｍ個
ずつ繰返し平均化して新規のラインデータとする前平均
化手段を設け、これらの前平均化手段が一個ずつ順番に
出力するラインデータを一画素毎に予め設定された基準
データと順次比較するデータ比較手段を設け、このデー
タ比較手段が基準データより低いことを検出した画素デ
ータの個数を積算する画素積算手段を設け、この画素計
数手段の積算個数と予め設定された基準個数とを比較す
る個数比較手段を設け、この個数比較手段が基準個数よ
り積算個数が多大なことを検出すると前記前平均化手段
が平均化を開始したラインデータの副走査位置を記憶す
る位置記憶手段を設け、本読取の実行時に前記位置記憶
手段が記憶した走査位置からｍラインの走査位置まで前
記副走査機構による走査速度を予め設定された１／ｎに
可変する速度可変手段を設け、この速度可変手段が走査
速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画像
から順次読み取るアナログのｎ×ｍのラインデータをデ
ジタルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、
このアナログデジタルコンバータがデジタルに変換した
ｎ×ｍのラインデータを予め設定されたｎライン毎に平
均化して新規のｍ個のラインデータとする平均化手段を
設けた。

【００１７】請求項９記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータがデジタルに変換したライ
ンデータを予め設定されたｍライン毎に平均化して新規
のラインデータとする前平均化手段を設け、この前平均
化手段が平均化したラインデータから予め設定された所
定位置の一連の画素データを選出する画素群選出手段を
設け、この画素群選出手段が選出した一連の画素データ
の一致の有無を検出する一致検出手段を設け、この一致
検出手段が一致を検出すると前記画素群選出手段とは相
違する位置でラインデータから一つの画素データを選出
する一画素選出手段を設け、この一画素選出手段が選出
した画素データを予め設定された基準データと比較する
データ比較手段を設け、このデータ比較手段が基準デー
タより高いことを検出した画素データの個数を積算する
画素積算手段を設け、この画素計数手段の積算個数と予
め設定された基準個数とを比較する個数比較手段を設
け、この個数比較手段が基準個数より積算個数が多大な
ことを検出すると前記前平均化手段が平均化を開始した
ラインデータの副走査位置を記憶する位置記憶手段を設
け、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査
位置からｍラインの走査位置まで前記副走査機構による
走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手
段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変した状態
で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み取るア
ナログのｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換するア
ナログデジタルコンバータを設け、このアナログデジタ
ルコンバータがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデー
タを予め設定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ個
のラインデータとする平均化手段を設けた。

【００１８】請求項１０記載の発明は、請求項１，２，
３，４，５，６，７，８又は９記載の発明において、平
均化手段が平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査
速度を可変する割合１／ｎとを可変自在に設定する設定
変更手段を設けた。

【００１９】請求項１１記載の発明は、請求項１又は５
記載の発明において、ライン比較手段に複数の基準電圧
を予め設定し、これらの基準電圧に対応して平均化手段
が平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可
変する割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設
けた。

【００２０】請求項１２記載の発明は、請求項２又は６
記載の発明において、画素比較手段に複数の基準電圧を
予め設定し、これらの基準電圧に対応して平均化手段が
平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変
する割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設け
た。

【００２１】請求項１３記載の発明は、請求項３，４，
８又は９記載の発明において、データ比較手段に複数の
基準データを予め設定し、これらの基準データに対応し
て平均化手段が平均化するライン数ｎと速度可変手段が
走査速度を可変する割合１／ｎとを複数に設定する設定
変更手段を設けた。

【００２２】請求項１４記載の発明は、請求項４又は９
記載の発明において、複数個の一画素選出手段を設け、
これらの一画素選出手段が選出した画素データを予め設
定された基準データと各々比較するデータ比較手段を設
け、このデータ比較手段が基準データより高いことを検
出した画素データの個数を各々積算する画素積算手段を
設け、この画素計数手段の積算個数と予め設定された基
準個数とを各々比較する個数比較手段を設け、この個数
比較手段の比較結果に対応して平均化手段が平均化する
ライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変する割合１
／ｎとを可変自在に設定する設定変更手段を設けた。

【００２３】請求項１５記載の発明は、請求項２，３，
６又は８記載の発明において、個数比較手段に基準個数
を可変自在に設定する個数可変手段を設けた。

【００２４】請求項１６記載の発明は、請求項３，４，
８又は９記載の発明において、データ比較手段に基準デ
ータを可変自在に設定するデータ可変手段を設けた。

【００２５】請求項１７記載の発明は、請求項１，２，
５，６又は７記載の発明において、前読取の開始時にラ
イン比較手段に基準電圧を可変自在に設定する電圧可変
手段を設けた。

【００２６】

【作用】請求項１記載の発明は、前読取の実行時には、
ラインセンサが読取画像から順次読み取るアナログのラ
インデータを積分算出手段が個々に積分し、この積分結
果をライン比較手段が基準電圧と比較すると、この基準
電圧より積分値が低いラインデータの副走査位置を位置
記憶手段が記憶することで、緻密な読取りが必要な位置
を設定する。

【００２７】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置では副走査機構による走査速度を
速度可変手段が１／ｎに可変するので、この走査速度が
可変された状態でラインセンサが読取画像から順次読み
取ってアナログデジタルコンバータがアナログからデジ
タルに変換したラインデータを平均化手段がｎライン毎
に平均化して新規のラインデータとすることで、読取画
像の必要な部分のみ低速で読取走査してラインデータを
平均化する。

【００２８】請求項２記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取るアナログ
のラインデータを画素比較手段が一画素毎に基準電圧と
比較し、この基準電圧より低いことを検出した画素デー
タの個数を画素積算手段が積算すると、この積算個数と
基準個数とを個数比較手段が比較し、この基準個数より
積算個数が多大なラインデータの副走査位置を位置記憶
手段が記憶することで、緻密な読取りが必要な位置を設
定する。

【００２９】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置では副走査機構による走査速度を
速度可変手段が１／ｎに可変するので、この走査速度が
可変された状態でラインセンサが読取画像から順次読み
取ってアナログデジタルコンバータがアナログからデジ
タルに変換したラインデータを平均化手段がｎライン毎
に平均化して新規のラインデータとすることで、読取画
像の必要な部分のみ低速で読取走査してラインデータを
平均化する。

【００３０】請求項３記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取ってアナロ
グデジタルコンバータがアナログからデジタルに変換し
たラインデータをデータ比較手段が一画素毎に基準デー
タと比較し、この基準データより低いことを検出した画
素データの個数を画素積算手段が積算すると、この積算
個数と基準個数とを個数比較手段が比較し、この基準個
数より積算個数が多大なラインデータの副走査位置を位
置記憶手段が記憶することで、緻密な読取りが必要な位
置を設定する。

【００３１】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置では副走査機構による走査速度を
速度可変手段が１／ｎに可変するので、この走査速度が
可変された状態でラインセンサが読取画像から順次読み
取ってアナログデジタルコンバータがアナログからデジ
タルに変換したラインデータを平均化手段がｎライン毎
に平均化して新規のラインデータとすることで、読取画
像の必要な部分のみ低速で読取走査してラインデータを
平均化する。

【００３２】請求項４記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取ってアナロ
グデジタルコンバータがアナログからデジタルに変換し
たラインデータから所定位置の一連の画素データを画素
群選出手段が選出すると、この選出された一連の画素デ
ータの一致の有無を一致検出手段が検出し、この一致が
検出されると画素群選出手段とは相違する位置でライン
データから一つの画素データを一画素選出手段が選出す
るので、この選出された画素データに対応して画素積算
手段が基準データより高い画素データの個数を積算し、
この積算個数と基準個数とを個数比較手段が比較し、こ
の基準個数より積算個数が多大なラインデータの副走査
位置を位置記憶手段が記憶することで、緻密な読取りが
必要な位置を設定する。

【００３３】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置では副走査機構による走査速度を
速度可変手段が１／ｎに可変するので、この走査速度が
可変された状態でラインセンサが読取画像から順次読み
取ってアナログデジタルコンバータがアナログからデジ
タルに変換したラインデータを平均化手段がｎライン毎
に平均化して新規のラインデータとすることで、読取画
像の必要な部分のみ低速で読取走査してラインデータを
平均化する。

【００３４】請求項５記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取るアナログ
のラインデータを積分算出手段が個々に積分し、この積
分結果を基準電圧とライン比較手段で比較し、このライ
ン比較手段の比較結果をｍ個のライン積算手段が一個ず
つ相違する順番でｍ個ずつ繰返し積算し、これらのライ
ン積算手段が一個ずつ順番に出力する積算個数を個数比
較手段がｍ個と比較し、この個数の一致を検出すると回
数検出手段が回数積算を開始したラインデータの副走査
位置を位置記憶手段が記憶することで、緻密な読取りが
必要な位置を設定する。

【００３５】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置からｍラインの走査位置まで副走
査機構による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変す
るので、この走査速度が可変された状態でラインセンサ
が読取画像から順次読み取ってアナログデジタルコンバ
ータがアナログからデジタルに変換したｎ×ｍのライン
データを平均化手段がｎライン毎に平均化して新規のｍ
個のラインデータとすることで、読取画像の必要な部分
のみ低速で読取走査してラインデータを平均化する。

【００３６】請求項６記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取るアナログ
のラインデータを画素比較手段が一画素毎に基準電圧と
比較し、この基準電圧より低いことを検出した画素デー
タの個数を画素積算手段が積算し、この積算個数と基準
個数とを個数比較手段が比較し、この基準個数より積算
個数が多大なことを検出したラインデータを積分算出手
段が個々に積分し、この積分結果を基準電圧とライン比
較手段で比較し、このライン比較手段の比較結果をｍ個
のライン積算手段が一個ずつ相違する順番でｍ個ずつ繰
返し積算し、これらのライン積算手段が一個ずつ順番に
出力する積算個数を個数比較手段がｍ個と比較し、この
個数の一致を検出すると回数検出手段が回数積算を開始
したラインデータの副走査位置を位置記憶手段が記憶す
ることで、緻密な読取りが必要な位置を設定する。

【００３７】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置からｍラインの走査位置まで副走
査機構による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変す
るので、この走査速度が可変された状態でラインセンサ
が読取画像から順次読み取ってアナログデジタルコンバ
ータがアナログからデジタルに変換したｎ×ｍのライン
データを平均化手段がｎライン毎に平均化して新規のｍ
個のラインデータとすることで、読取画像の必要な部分
のみ低速で読取走査してラインデータを平均化する。

【００３８】請求項７記載の発明は、個数比較手段がラ
イン積算手段の積算個数と比較する個数をｍ個以下に設
定したことにより、読取画像の低速で読取走査してライ
ンデータを平均化する基準を低下させることができる。

【００３９】請求項８記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取ってアナロ
グデジタルコンバータがアナログからデジタルに変換し
たラインデータをｍ個の前平均化手段が一個ずつ相違す
る順番でｍ個ずつ平均化して新規のラインデータとする
と、この平均化されて一個ずつ順番に出力されるライン
データをデータ比較手段が一画素毎に基準データと順次
比較し、この基準データより低いことを検出した画素デ
ータの個数を画素積算手段が積算し、この積算個数と基
準個数とを個数比較手段が比較し、この基準個数より積
算個数が多大なことを検出すると前平均化手段が平均化
を開始したラインデータの副走査位置を位置記憶手段が
記憶することで、緻密な読取りが必要な位置を設定す
る。

【００４０】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置からｍラインの走査位置まで副走
査機構による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変す
るので、この走査速度が可変された状態でラインセンサ
が読取画像から順次読み取ってアナログデジタルコンバ
ータがアナログからデジタルに変換したｎ×ｍのライン
データを平均化手段がｎライン毎に平均化して新規のｍ
個のラインデータとすることで、読取画像の必要な部分
のみ低速で読取走査してラインデータを平均化する。

【００４１】請求項９記載の発明は、前読取の実行時に
は、ラインセンサが読取画像から順次読み取ってアナロ
グデジタルコンバータがアナログからデジタルに変換し
たラインデータを前平均化手段がｍライン毎に平均化し
て新規のラインデータとすると、この平均化されたライ
ンデータから所定位置の一連の画素データを画素群選出
手段が選出すると、この選出された一連の画素データの
一致の有無を一致検出手段が検出し、この一致が検出さ
れると画素群選出手段とは相違する位置でラインデータ
から一つの画素データを一画素選出手段が選出するの
で、この選出された画素データをデータ比較手段が基準
データと比較し、この基準データより高いことを検出し
た画素データの個数を画素積算手段が積算し、この積算
個数と基準個数とを個数比較手段が比較し、この基準個
数より積算個数が多大なことを検出すると前平均化手段
が平均化を開始したラインデータの副走査位置を位置記
憶手段が記憶することで、緻密な読取りが必要な位置を
設定する。

【００４２】そして、本読取の実行時には、位置記憶手
段が記憶した走査位置からｍラインの走査位置まで副走
査機構による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変す
るので、この走査速度が可変された状態でラインセンサ
が読取画像から順次読み取ってアナログデジタルコンバ
ータがアナログからデジタルに変換したｎ×ｍのライン
データを平均化手段がｎライン毎に平均化して新規のｍ
個のラインデータとすることで、読取画像の必要な部分
のみ低速で読取走査してラインデータを平均化する。

【００４３】請求項１０記載の発明は、平均化手段が平
均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変す
る割合１／ｎとを設定変更手段が可変自在に設定するこ
とにより、走査速度と平均化割合とを自在に可変するこ
とができる。

【００４４】請求項１１記載の発明は、ライン比較手段
に複数の基準電圧を予め設定し、これらの基準電圧に対
応して平均化手段が平均化するライン数ｎと速度可変手
段が走査速度を可変する割合１／ｎとを設定変更手段が
複数に設定することにより、走査速度と平均化割合とを
選択的に可変することができる。

【００４５】請求項１２記載の発明は、画素比較手段に
複数の基準電圧を予め設定し、これらの基準電圧に対応
して平均化手段が平均化するライン数ｎと速度可変手段
が走査速度を可変する割合１／ｎとを設定変更手段が複
数に設定することにより、走査速度と平均化割合とを選
択的に可変することができる。

【００４６】請求項１３記載の発明は、データ比較手段
に複数の基準データを予め設定し、これらの基準データ
に対応して平均化手段が平均化するライン数ｎと速度可
変手段が走査速度を可変する割合１／ｎとを設定変更手
段が複数に設定することにより、走査速度と平均化割合
とを選択的に可変することができる。

【００４７】請求項１４記載の発明は、複数個の一画素
選出手段が選出した画素データをデータ比較手段が基準
データと各々比較し、この基準データより高いことを検
出した画素データの個数を画素積算手段が各々積算し、
この積算個数と予め設定された基準個数とを個数比較手
段が各々比較し、この比較結果に対応して平均化手段が
平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変
する割合１／ｎとを設定変更手段が可変自在に設定する
ことにより、走査速度と平均化割合とを自在に可変する
ことができる。

【００４８】請求項１５記載の発明は、個数比較手段に
基準個数を個数可変手段が可変自在に設定することによ
り、ラインデータの平均化を実行する基準を自在に可変
することができる。

【００４９】請求項１６記載の発明は、データ比較手段
に基準データをデータ可変手段が可変自在に設定するこ
とにより、ラインデータの平均化を実行する基準を自在
に可変することができる。

【００５０】請求項１７記載の発明は、前読取の開始時
にライン比較手段に基準電圧を電圧可変手段が可変自在
に設定することにより、ラインデータの平均化を実行す
る基準を自在に可変することができる。

【００５１】

【実施例】請求項１記載の発明の一実施例を図１ないし
図３に基づいて以下に順次説明する。まず、この画像読
取装置１は、図１に例示するように、水平と平行に配置
された原稿保持機構であるコンタクトガラス２が本体ハ
ウジング（図示せず）の上面に図中左右となる副走査方
向に移動自在に支持されており、このコンタクトガラス
２を副走査方向に移動自在に往復移動させる搬送機構
（図示せず）の駆動モータ３にモータ駆動回路４が接続
されることで副走査機構５が形成されている。また、本
体ハウジングの内部で前記コンタクトガラス２に下方か
ら対向する位置には、駆動電源６が接続された主走査方
向に細長い直管型蛍光灯等の照明光源７と、45度に傾斜
した反射ミラー８とが対向配置されており、この反射ミ
ラー８の反射光路には結像光学系９を介して受光素子で
あるＣＣＤ(Charge Coupled Device）を主走査方向に連
設したラインセンサであるＣＣＤセンサ１０が配置され
ている。

【００５２】また、このＣＣＤセンサ１０はＣＣＤ駆動
回路１１が接続されてサンプルホールド回路１２に接続
されており、このサンプルホールド回路１２はアナログ
デジタルコンバータであるＡ／ＤＣ１３とＣＰＵ(Centr
al Processing Unit）等のライン積算判別回路１４とに
接続されている。そして、このライン積算判別回路１４
と前記モータ駆動回路４とが、ＲＡＭ(Random Access M
emory)等の位置記憶手段である位置記憶回路１５に接続
されており、この走査位置記憶回路１５が接続された速
度可変手段である積算処理制御回路１６が前記モータ駆
動回路４に接続されている。

【００５３】さらに、前記Ａ／ＤＣ１３と前記位置記憶
回路１５とが平均化手段であるＣＰＵ等の積算平均化回
路１７に接続されており、この積算平均化回路１７が暗
出力補正回路１８やシェーディング補正回路１９や線密
度変換回路２０が接続されている。そして、この線密度
変換回路２０はインターフェイス２１に接続されてお
り、このインターフェイス２１には、例えば、ホストコ
ンピュータやプリンタ及び記憶装置等の外部機器（何れ
も図示せず）が接続されている。

【００５４】そこで、この画像読取装置１では、読取画
像２２が表記された原稿２３を前記コンタクトガラス２
に載置して保持させ、このコンタクトガラス２を前記副
走査機構５が副走査方向に移動させることで、前記原稿
２３の読取画像２２を前記ＣＣＤセンサ１０に対して光
学的に副走査方向に相対移動させるようになっている。
そこで、通常は前記副走査機構５による走査速度を前記
積算処理制御回路１６が予め設定された通常速度に維持
するので、この状態で前記ＣＣＤセンサ１０が前記読取
画像２２から順次読み取って前記Ａ／ＤＣ１３がデジタ
ルに変換したラインデータがインターフェイス２１に出
力されるようになっている。このようにすることで、こ
の画像読取装置１は読取画像２２を多数のラインデータ
に順次変換することになるが、実際には、上述のような
本読取を実行する以前に前読取を実行して各種補正を初
期設定するようになっている。

【００５５】そこで、この画像読取装置１は、前読取の
実行時には、前記ＣＣＤセンサ１０が前記読取画像２２
から順次読み取るアナログのラインデータを、前記ライ
ン積算判別回路１４の積分算出手段（図示せず）が個々
に積分し、この積分算出手段の積分結果を、前記ライン
積算判別回路１４のライン比較手段（図示せず）が予め
設定された基準電圧と比較するようになっており、この
ライン比較手段が基準電圧より積分値が低いことを検出
したラインデータの副走査位置を、前記位置記憶回路１
５が記憶するようになっている。

【００５６】そして、この画像読取装置１は、本読取の
実行時には、前記位置記憶回路１５が記憶した走査位置
では前記副走査機構５による走査速度を前記積算処理制
御回路１６が予め設定された１／ｎに可変するようにな
っており、この速度可変手段が走査速度を可変した状態
では、前記ＣＣＤセンサ１０が前記読取画像２２から順
次読み取って前記Ａ／ＤＣ１３がデジタルに変換したラ
インデータを、積算平均化回路１７が予め設定されたｎ
ライン毎に平均化して新規のラインデータとするように
なっている。

【００５７】なお、この画像読取装置１では、前記副走
査機構５が予め設定された範囲で高速に作動した場合で
も、その光蓄積時間で前記ＣＣＤセンサ１０が十分なデ
ータ出力を実現するように、このＣＣＤセンサ１０の感
度や前記照明光源７の照度や前記結像光学系９の特性な
どが設定されている。

【００５８】このような構成において、この画像読取装
置１では、上述のように本読取を実行する以前に前読取
を実行し、この前読取で初期設定した各種補正を本読取
で実行するようになっている。

【００５９】そこで、この画像読取装置１が前読取を実
行する場合、読取画像２２が表記された原稿２３をコン
タクトガラス２に載置して保持させ、この状態でコンタ
クトガラス２を副走査機構５が副走査方向に移動させる
ことで、原稿２３の読取画像２２をＣＣＤセンサ１０に
対して光学的に副走査方向に相対移動させる。そして、
この原稿２３の読取画像２２の反射光が伝送されたＣＣ
Ｄセンサ１０は、この光学的な画像データを光電変換し
て電気的なラインデータを順次出力するので、このアナ
ログ電圧からなるラインデータはサンプルホールド回路
１２で転送クロック成分が除去されてからライン積算判
別回路１４に伝送される。

【００６０】すると、このライン積算判別回路１４は、
アナログのラインデータをライン積算判別回路１４の積
分算出手段が個々に積分してライン比較手段が基準電圧
と比較し、この基準電圧より積分値が低いラインデータ
の副走査位置を位置記憶回路１５に格納する。このよう
にすることで、この位置記憶回路１５には全体的に電圧
が低いラインデータの副走査位置が記憶されるので、こ
れは読取画像２２において黒色の占有割合が多大な主走
査ラインの副走査位置となる。

【００６１】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置１は、読取画像２２の黒色の占有割合が
多大な副走査位置を位置記憶回路１５が記憶した状態で
本読取を実行することになる。そして、この画像読取装
置１は、本読取の実行時には、依然として原稿２３が載
置されたコンタクトガラス２を副走査機構５が副走査方
向に再度移動させて読取画像２２をＣＣＤセンサ１０に
対して光学的に副走査方向に相対移動させるので、この
ＣＣＤセンサ１０は読取画像２２の副走査方向に連続し
た主走査ラインをラインデータに順次変換する。

【００６２】この時、この画像読取装置１では、副走査
機構５による走査速度は、位置記憶回路１５が記憶して
いない副走査位置においては、積算処理制御回路１６に
より予め設定された通常速度に維持されるようになって
いるが、位置記憶回路１５が記憶した副走査位置では通
常速度の１／ｎに可変されるようになっている。

【００６３】そこで、前読取で抽出されず位置記憶回路
１５で記憶されない副走査位置としてＣＣＤセンサ１０
が通常速度で読取画像２２から読み取ったアナログのラ
インデータは、サンプルホールド回路１２で転送クロッ
ク成分が除去されてからＡ／ＤＣ１３でデジタルに変換
され、積算平均化回路１７を介して暗出力補正回路１８
に伝送される。そこで、このラインデータは、暗出力補
正回路１８で暗度誤差が補正され、シェーディング補正
回路１９でシェーディング誤差を補正され、線密度変換
回路２０で主走査方向のデータ密度が変換され、インタ
ーフェイス２１から外部機器に伝送される。

【００６４】そこで、前読取で抽出されて位置記憶回路
１５で記憶された副走査位置としてＣＣＤセンサ１０が
１／ｎの速度で読取画像２２から読み取ったアナログの
ラインデータは、サンプルホールド回路１２で転送クロ
ック成分が除去されてからＡ／ＤＣ１３でデジタルに変
換され、積算平均化回路１７でｎライン毎に平均化され
て新規のラインデータとして暗出力補正回路１８に伝送
される。そこで、この１／ｎの速度で読み取られてｎラ
イン毎に平均化されたラインデータは、暗出力補正回路
１８で暗度誤差が補正され、シェーディング補正回路１
９でシェーディング誤差を補正され、線密度変換回路２
０で主走査方向のデータ密度が変換され、インターフェ
イス２１から外部機器に伝送される。

【００６５】そこで、この外部機器は、上述のようにし
て通常速度で読み取られたラインデータや、１／ｎの速
度で読み取られてｎライン毎に平均化されたラインデー
タが順次送信されるので、例えば、これら順次受信する
ラインデータを副走査方向に連続配置することで、読取
画像２２を印刷や表示で再現することができる。

【００６６】そして、この画像読取装置１では、上述の
ように原稿２３の読取画像２２の黒色の占有割合が多大
な主走査ラインの副走査位置では、１／ｎの走査速度で
読み取られたｎ個のラインデータから一つのラインデー
タが生成されるので、ランダムノイズの発生率が１／√
ｎになってＳ／Ｎが極めて良好である。しかも、この画
像読取装置１では、原稿２３の読取画像２２の黒色の占
有割合が多大でない主走査ラインの副走査位置では、通
常速度で読取走査が実行されるのでＣＣＤセンサ１０の
ダイナミックレンジを有効に活用することができる。つ
まり、この画像読取装置１は、読取画像２２の必要な部
分のみ走査速度を低下させてラインデータを平均化する
ので、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読
取時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与すること
ができる。

【００６７】なお、この画像読取装置１では、上述のよ
うにＣＣＤセンサ１０のダイナミックレンジを有効に活
用するため、本読取や前読取の開始時にＡ／ＤＣ１３の
上限と下限との基準電圧が自動設定されるようになって
いる。そこで、この基準電圧の自動設定の手順を図２に
基づいて以下に順次説明する。

【００６８】まず、ＣＣＤセンサ１０が出力したライン
データは、感光部が無く転送部のみの出力では同図
（ａ）の左方にＤＳ（Ｅ）として例示するようになり、
感光部がシールドされた部分の出力では同図の中央にＤ
Ｓ（Ｓ）として例示するようになり、読取画像２２の部
分の出力では同図の右方に例示するようになる。そこ
で、このラインデータから転送クロック成分をサンプル
ホールド回路１２で除去すると、同図（ｂ）に例示する
ように、ＤＳ（Ｅ）の部分は平滑化される。

【００６９】そこで、このサンプルホールド回路１２が
出力するラインデータのＤＳ（Ｅ）の部分を、別個のサ
ンプルホールド回路（図示せず）でサンプルホールドす
ることで、これをＡ／ＤＣ１３に上限の基準電圧として
設定する。さらに、コンタクトガラス２の先端部などに
配置されている白色基準板（図示せず）をＣＣＤセンサ
１０が読み取ったラインデータ（図示せず）のピーク値
をピークホールド回路（図示せず）でホールドすること
で、これをＡ／ＤＣ１３に下限の基準電圧として設定す
る。

【００７０】このようにすることで、この画像読取装置
１は、Ａ／ＤＣ１３に上限と下限との基準電圧でダイナ
ミックレンジが自動設定されるので、ＣＣＤセンサ１０
のダイナミックレンジを有効に活用することができる。

【００７１】また、この画像読取装置１の積算平均化回
路１７がラインデータを平均化する演算処理を、図３に
基づいて以下に順次説明する。まず、同図（ａ）に例示
するように、ＣＣＤセンサ１０が定期的に出力するライ
ンデータL₁，L₂…が積算平均化回路１７に入力される
と、同図（ｂ）に例示するように、例えば、“ｎ＝４”
の制御信号が積算平均化回路１７に入力されるので、こ
の積算平均化回路１７は、同図（ｃ）に例示するよう
に、制御信号に対応してラインデータL₁，L₂…を四つ毎
に平均化して新規のラインデータL₁′，L₂′…を生成す
る。より詳細には、この積算平均化回路１７は、制御信
号が“Ｌ”となると入力されるL₁のラインデータを積算
平均化回路１７のメモリ（図示せず）に格納し、制御信
号が“Ｈ”となると、メモリからL₁のラインデータを読
み出して入力されるL₂のラインデータに加算してからメ
モリに再度格納する。このようなことがL₄のラインデー
タまで繰返されることで、積算平均化回路１７のメモリ
には“L₁＋L₂＋L₃＋L₄”のラインデータが蓄積されるの
で、この蓄積されたラインデータを“４”で除算するこ
とで平均化された新規のラインデータL₁′が生成され
る。

【００７２】なお、このように積算平均化回路１７が平
均化するラインデータの個数は各種に設定可能であり、
同図（ｄ),（ｅ）に例示するように、“ｎ＝８”として
ラインデータL₁，L₂…を八つ毎に平均化して新たなライ
ンデータL₁″，L₂″…を生成することなども可能であ
る。また、上述のようなラインデータの平均化の演算処
理を実行する際、一ラインが入力される毎にメモリ内容
を更新することで、このメモリに必要な容量は一ライン
分となる。

【００７３】さらに、本実施例の画像読取装置１では、
コンタクトガラス２の下方に照明光源７等を配置して原
稿２３の読取画像２２の反射光を読取走査することを例
示したが、本発明は上記形式に限定されるものでもな
く、例えば、ポジフィルムやネガフィルム等の原稿２３
などに対しては、コンタクトガラス２の上方に照明光源
７を配置して原稿２３の読取画像２２の透過光を読取走
査するようにした画像読取装置（図示せず）なども可能
である。

【００７４】つぎに、請求項２記載の発明の一実施例を
図４に基づいて以下に説明する。なお、これより以後に
例示する各種の実施例において、それより以前に説明し
た実施例と共通の部分は、同一の名称と符号とを利用し
て詳細な説明は省略する。

【００７５】まず、この画像読取装置（図示せず）は、
大部分は上述した画像読取装置１と同様な構造となって
おり、そのライン積算判別回路２４の構造のみが相違し
ているので、ここではライン積算判別回路２４のみを図
示して他部の図示は割愛する。そして、この画像読取装
置のライン積算判別回路２４では、ＣＣＤセンサ１０が
接続されたサンプルホールド回路１２がシリアル出力す
るラインデータと、定電圧回路（図示せず）の基準電圧
とが、画素比較手段であるコンパレータ２５に入力され
るようになっており、このコンパレータ２５の出力が画
素積算手段であり個数比較手段でもあるカウンタ回路２
６にイネーブル信号として入力されるようになってい
る。ここで、このカウンタ回路２６は、ＣＣＤセンサ１
０の転送クロックに同期したクロック信号と、基準個数
のプリセットデータとが入力されるようになっており、
ラインデータの副走査位置を位置記憶回路１５に出力す
るようになっている。

【００７６】そこで、この画像読取装置では、前読取の
実行時には、ＣＣＤセンサ１０がシリアルに順次出力す
るアナログのラインデータを前記コンパレータ２５が一
画素毎に基準電圧と比較するようになっており、この基
準電圧より画素データが低いと前記コンパレータ２５の
出力が前記カウンタ回路２６にイネーブル信号として入
力されるようになっている。この場合、このカウンタ回
路２６は、イネーブル信号の入力に対応してクロック信
号でカウントを実行することで、基準電圧より低い画素
データの個数を積算するようになっている。さらに、こ
のカウンタ回路２６は、一つのラインデータにおける積
算個数とプリセットデータの基準個数とを比較するよう
になっており、この基準個数より積算個数が多大なライ
ンデータの副走査位置を位置記憶回路１５に格納するよ
うになっている。

【００７７】このような構成において、この画像読取装
置が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送する読
取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインをＣＣ
Ｄセンサ１０がラインデータに順次変換して出力する
と、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプル
ホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてから
ライン積算判別回路２４に伝送される。

【００７８】すると、このライン積算判別回路２４は、
シリアルに入力されるアナログのラインデータをコンパ
レータ２５で一画素毎に基準電圧と比較し、この基準電
圧より低いことを検出した画素データの個数を前記カウ
ンタ回路２６で積算する。そして、この積算個数と基準
個数とを個数比較手段で比較し、この基準個数より積算
個数が多大なラインデータの副走査位置を位置記憶回路
１５に格納する。このようにすることで、この位置記憶
回路１５には全体的に電圧が低いラインデータの副走査
位置が記憶されるので、これは読取画像２２において黒
色の占有割合が多大な主走査ラインの副走査位置とな
る。

【００７９】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置が本読取を実行する場合、これは前述し
た画像読取装置１と同様に、読取画像２２の必要な部分
のみ走査速度を低下させてラインデータを平均化するの
で、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取
時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与することが
できる。しかも、この画像読取装置では、ライン積算判
別回路２４が読取画像２２の主走査ラインに包含される
黒色の画素の個数をアナログ値で積算して黒色の占有割
合を判別するので、例えば、走査速度が変化しても読取
品質を良好に維持することができる。

【００８０】つぎに、請求項３記載の発明の一実施例を
図５及び図６に基づいて以下に説明する。まず、この画
像読取装置２７は、図５に例示するように、ＣＣＤセン
サ１０がサンプルホールド回路１２を介して接続された
Ａ／ＤＣ１３にライン積算判別回路２８が接続されてお
り、このライン積算判別回路２８が位置記憶回路１５に
接続されている。

【００８１】そして、この画像読取装置のライン積算判
別回路２８は、図６に例示するように、ＣＣＤセンサ１
０が接続されたサンプルホールド回路１２がシリアル出
力するラインデータと、ＲＡＭ等（図示せず）に設定さ
れた基準データとが、画素比較手段であるビットコンパ
レータ２９に入力するようになっており、このビットコ
ンパレータ２９の出力が画素積算手段であり個数比較手
段でもあるカウンタ回路３０にイネーブル信号として入
力されるようになっている。ここで、このカウンタ回路
３０は、ＣＣＤセンサ１０の転送クロックに同期したク
ロック信号と、基準個数のプリセットデータとが入力さ
れるようになっており、ラインデータの副走査位置を位
置記憶回路１５に出力するようになっている。

【００８２】そこで、この画像読取装置２７では、前読
取の実行時には、ＣＣＤセンサ１０が順次出力してＡ／
ＤＣ１３がデジタル化したシリアルなラインデータを、
前記ビットコンパレータ２９が一画素毎に基準データと
比較するようになっており、この基準データより画素デ
ータが低いと前記ビットコンパレータ２９の出力が前記
カウンタ回路３０にイネーブル信号として入力されるよ
うになっている。この場合、このカウンタ回路３０は、
イネーブル信号の入力に対応してクロック信号でカウン
トを実行することで、基準電圧より低い画素データの個
数を積算するようになっている。さらに、このカウンタ
回路３０は、積算個数とプリセットデータの基準個数と
を比較するようになっており、この基準個数より積算個
数が多大なラインデータの副走査位置を位置記憶回路１
５に格納するようになっている。

【００８３】このような構成において、この画像読取装
置２７が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送す
る読取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインを
ＣＣＤセンサ１０がラインデータに順次変換して出力す
ると、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプ
ルホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてＡ
／ＤＣ１３でデジタル化されてからライン積算判別回路
２８に伝送される。

【００８４】すると、このライン積算判別回路２８は、
シリアルに入力されるデジタルのラインデータをビット
コンパレータ２９で一画素毎に基準データと比較し、こ
の基準データより低いことを検出した画素データの個数
を前記カウンタ回路３０で積算する。そして、この積算
個数と基準個数とを個数比較手段で比較し、この基準個
数より積算個数が多大なラインデータの副走査位置を位
置記憶回路１５に格納する。このようにすることで、こ
の位置記憶回路１５には全体的に電圧が低いラインデー
タの副走査位置が記憶されるので、これは読取画像２２
において黒色の占有割合が多大な主走査ラインの副走査
位置となる。

【００８５】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置２７が本読取を実行する場合、これは前
述した画像読取装置１等と同様に、読取画像２２の必要
な部分のみ走査速度を低下させてラインデータを平均化
するので、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体
の読取時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与する
ことができる。しかも、この画像読取装置２７では、ラ
イン積算判別回路２８が読取画像２２の主走査ラインに
包含される黒色の画素の個数をアナログ値で積算して黒
色の占有割合を判別するので、例えば、走査速度が変化
しても読取品質を良好に維持することができる。

【００８６】つぎに、請求項４記載の発明の一実施例を
図７に基づいて以下に説明する。なお、本実施例では説
明を簡略化するため、ラインデータを八ビットとして画
素群選出手段が三ビットの画素データを選出することと
するが、これらのビット数は機器の仕様などに対応して
各種に設定されるものである。

【００８７】まず、この画像読取装置（図示せず）で
は、アナログデジタルコンバータであるＡ／ＤＣ３１が
ラインデータをパラレルに出力するようになっており、
このラインデータがパラレルに入力されるライン積算判
別回路３２では、八ビットのラインデータの第一ビット
から第三ビットが画素群選出手段であり一致検出手段で
もあるノアゲート３３に入力されるようになっている。
さらに、このノアゲート３３の出力と第四ビットの反転
出力とが一画素選出手段であるアンドゲート３４に入力
されるようになっており、このアンドゲート３４の出力
が画素積算手段であるカウンタ回路３５にイネーブル信
号として入力されるようになっている。ここで、このカ
ウンタ回路３５は、ＣＣＤセンサ１０の転送クロックに
同期したクロック信号と、基準個数のプリセットデータ
とが入力されるようになっており、ラインデータの副走
査位置を位置記憶回路１５に出力するようになってい
る。

【００８８】そこで、この画像読取装置では、前読取の
実行時には、ＣＣＤセンサ１０が読取画像から順次読み
取ってＡ／ＤＣ３１がアナログからデジタルに変換した
ラインデータから、ノアゲート３３が所定位置の一連の
画素データとなる上位三ビットの画素データを選出して
一致の有無を検出する。そして、この一致が検出される
とアンドゲート３４が画素群選出手段とは相違する位置
となるラインデータの第四ビットの一つの画素データを
選出し、この選出された画素データをカウンタ回路３５
にイネーブル信号として出力する。そこで、このカウン
タ回路３５は、入力された画素データに対応してクロッ
ク信号でカウントを実行することで、基準データより低
い画素データの個数を積算するようになっている。この
時、このカウンタ回路３５は、一つのラインデータにお
ける積算個数をプリセットデータの基準個数から順次減
算するようになっており、この算出結果が“０”となる
とラインデータの副走査位置を位置記憶回路１５に格納
するようになっている。なお、この画像読取装置では、
上述のように八ビットのラインデータから四ビットの画
素データを抽出することで、“16／256 ”が基準データ
として設定されていることになる。

【００８９】このような構成において、この画像読取装
置が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送する読
取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインをＣＣ
Ｄセンサ１０がラインデータに順次変換して出力する
と、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプル
ホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてＡ／
ＤＣ３１でデジタルに変換される。

【００９０】すると、このＡ／ＤＣ３１がデジタルに変
換したラインデータから、ライン積算判別回路３２のノ
アゲート３３が上位三ビットの画素データを選出して一
致の有無を検出するので、このノアゲート３３は読取画
像２２が黒色で上位三ビットの全部が“０”の場合のみ
“１”を出力する。そして、この“１”と第四ビットの
画素データの反転信号とが入力されるアンドゲート３４
は、この反転した画素データをカウンタ回路３５にイネ
ーブル信号として出力するので、このカウンタ回路３５
は、読取画像２２が黒色で第四ビットの画素データが
“０”の場合のみ反転した“１”に対応してクロック信
号をカウントする。そして、このカウンタ回路３５はカ
ウントした積算個数が基準個数に到達するとラインデー
タの副走査位置を位置記憶回路１５に格納することで、
この位置記憶回路１５には黒色の占有割合が“16／256
”以上の主走査ラインの副走査位置が格納されること
になる。

【００９１】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置が本読取を実行する場合、これは前述し
た画像読取装置１と同様に、読取画像２２の必要な部分
のみ走査速度を低下させてラインデータを平均化するの
で、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取
時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与することが
できる。しかも、この画像読取装置では、ライン積算判
別回路３２が読取画像２２の主走査ラインを部分的に抽
出して全体の黒色の占有割合を判断するので、構造が簡
略で処理が簡易である。

【００９２】つぎに、請求項５記載の発明の一実施例を
図８ないし図１０に基づいて以下に説明する。まず、こ
の画像読取装置３６は、図８に例示するように、ＣＣＤ
センサ１０サンプルホールド回路１２を介して接続され
たライン積算判別回路１４に、判定結果記憶回路３７と
ＣＰＵ等の第二のライン積算判別回路３８とが接続され
ており、このライン積算判別回路３８が位置記憶回路１
５に接続されている。

【００９３】そして、この画像読取装置３６の前記判定
結果記憶回路３７は、図９に例示するように、ライン積
算判別回路１４の出力がイネーブル信号として並列に入
力される第一から第四のカウンタ回路３９〜４２をライ
ン積算手段として連設した構造となっており、これらの
カウンタ回路３９〜４２はＣＣＤセンサ１０の転送クロ
ックに同期したクロック信号と、図１０に例示するよう
な、カウント値の出力タイミングを規制する制御信号
“g1〜g4”と、カウント値の初期化を制御するリセット
信号“f1〜f4”とが入力されるようになっている。な
お、本実施例では説明を簡略化するため、“ｍ＝４”と
して前記判定結果記憶回路３７を四個の前記カウンタ回
路３９〜４２で形成することを例示したが、この個数と
なる数値ｍは実際には機器の仕様などにより各種に設定
されるものである。

【００９４】そこで、この画像読取装置３６は、前読取
の実行時には、前記ＣＣＤセンサ１０が前記読取画像２
２から順次読み取るアナログのラインデータを、前記ラ
イン積算判別回路１４の積分算出手段が個々に積分し、
この積分算出手段の積分結果を、前記ライン積算判別回
路１４のライン比較手段が予め設定された基準電圧と比
較するようになっている。この比較結果を前記判定結果
記憶回路３７の四個の前記カウンタ回路３９〜４２が一
個ずつ相違する順番で四個ずつ繰返し積算して出力する
ようになっており、この積算個数を前記ライン積算判別
回路３８がｍ個である四個と比較し、この個数の一致を
検出すると回数積算を開始したラインデータの副走査位
置を位置記憶回路１５に格納するようになっている。

【００９５】そして、この画像読取装置３６は、本読取
の実行時には、位置記憶回路１５が記憶した走査位置か
らｍラインである四ラインの走査位置まで副走査機構５
による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変するよう
になっており、この走査速度が可変された状態でＣＣＤ
センサ１０が読取画像から順次読み取ってＡ／ＤＣ１３
がアナログからデジタルに変換したｎ×ｍのラインデー
タを積算平均化回路１７がｎライン毎に平均化して新規
のｍ個のラインデータとするようになっている。

【００９６】このような構成において、この画像読取装
置３６が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送す
る読取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインを
ＣＣＤセンサ１０がラインデータに順次変換して出力す
ると、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプ
ルホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてか
らライン積算判別回路１４に伝送される。

【００９７】すると、このライン積算判別回路１４は、
アナログのラインデータをライン積算判別回路１４の積
分算出手段が個々に積分してライン比較手段が基準電圧
と比較し、この比較結果を判定結果記憶回路３７に出力
する。そこで、この判定結果記憶回路３７では、入力さ
れる比較結果を四個のカウンタ回路３９〜４２が一個ず
つ相違する順番で四個ずつ繰返し積算し、この積算個数
をライン積算判別回路３８に各々が繰返し出力する。こ
の時、図１０に例示するように、カウンタ回路３９〜４
２は、クロック信号に同期して順番に入力されるリセッ
ト信号f1〜f4に対応して積算個数を初期化し、この初期
化直後から積算を開始するラインデータの比較結果“L
1，L2…”の積算個数を、クロック信号に同期して順番
に入力される制御信号“g1〜g4”に対応してライン積算
判別回路３８に出力する。

【００９８】そこで、このライン積算判別回路３８は順
次入力される積算個数をｍ個である四個と比較し、この
個数の一致を検出すると回数積算を開始したラインデー
タの副走査位置を位置記憶回路１５に格納するようにな
っている。このようにすることで、この位置記憶回路１
５には全体的に電圧が低いラインデータの副走査位置が
記憶されるので、これは読取画像２２において黒色の占
有割合が多大な主走査ラインの副走査位置となる。

【００９９】そして、この画像読取装置３６は、本読取
の実行時には、位置記憶回路１５が記憶した走査位置か
らｍラインである四ラインの走査位置まで副走査機構５
による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変し、この
走査速度が可変された状態でＣＣＤセンサ１０が読取画
像から順次読み取ってＡ／ＤＣ１３がアナログからデジ
タルに変換したｎ×ｍのラインデータを積算平均化回路
１７がｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラインデー
タとする。

【０１００】このようにすることで、この画像読取装置
３６は、読取画像２２の必要な部分のみ走査速度を低下
させてラインデータを平均化するので、全体の読取品質
を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の増大を防止し
て作業能率の向上に寄与することができる。しかも、こ
の画像読取装置３６では、黒色の占有割合が多大な主走
査ラインが副走査方向にｍ個連続した場合のみ走査速度
を低下させてラインデータを平均化するので、より良好
に作業能率の向上に寄与することができる。

【０１０１】なお、本実施例の画像読取装置３６は、請
求項５記載の発明の一実施例として、請求項１記載の発
明の一実施例として前述した画像読取装置１と同様に、
ライン積算判別回路１４で積分算出手段とライン比較手
段とを形成することを例示したが、本発明は上記実施例
に限定されるものでもない。例えば、請求項６記載の発
明の一実施例として、請求項２記載の発明の一実施例と
同様に、コンパレータ２５とカウンタ回路２６とからな
るライン積算判別回路２４で積分算出手段とライン比較
手段とを形成することも可能である。このようにするこ
とで、ライン積算判別回路２４は読取画像２２の主走査
ラインに包含される黒色の画素の個数をアナログ値で積
算して黒色の占有割合を判別するので、例えば、走査速
度が変化しても読取品質を良好に維持することができ
る。

【０１０２】また、本実施例の画像読取装置３６は、請
求項５記載の発明の一実施例として、ライン積算手段で
ある判定結果記憶回路３７の積算個数を個数比較手段で
あるライン積算判別回路３８がｍ個である四個と比較す
ることを例示したが、本発明は上記実施例に限定される
ものではない。例えば、請求項７記載の発明の一実施例
として、個数比較手段がライン積算手段の積算個数と比
較する個数をｍ個以下に設定することも可能であり、こ
のようにすることで読取画像２２の読取走査を低速化し
てラインデータを平均化する基準を低下させることがで
きる。そして、このことは請求項６記載の発明の一実施
例として上述した画像読取装置にも同様である。

【０１０３】つぎに、請求項８記載の発明の一実施例を
図１１ないし図１３に基づいて以下に説明する。まず、
この画像読取装置４３は、図１１に例示するように、Ｃ
ＣＤセンサ１０がサンプルホールド回路１２を介して接
続されたＡ／ＤＣ１３に第二の積算平均化回路４４が接
続されており、この積算平均化回路４４が接続されたラ
イン積算判別回路２８が位置記憶回路１５に接続されて
いる。

【０１０４】そして、この画像読取装置の第二の積算平
均化回路４４は、図１２に例示するように、一つのライ
ンデータを記憶するＲＡＭ等のラインデータ記憶回路４
５〜４８が個々に接続された前平均化手段である第一か
ら第四の演算回路４９〜５２を連設した構造となってお
り、これらの演算回路４９〜５２は、図１３に例示する
ような、Ａ／ＤＣ１３から並列に入力されるラインデー
タ“L1，L2…”を前記ラインデータ記憶回路４５〜４８
に格納するタイミングの制御信号“s1〜s4”と、ライン
データを平均化してライン積算判別回路２８に出力する
タイミングの制御信号t1〜t4とが入力されるようになっ
ている。なお、本実施例では説明を簡略化するため、
“ｍ＝４”として前記積算平均化回路４４を四個の前記
演算回路４９〜５２や前記ラインデータ記憶回路４５〜
４８で形成することを例示したが、この個数となる数値
ｍは実際には機器の仕様などにより各種に設定されるも
のである。

【０１０５】そこで、この画像読取装置４３では、前読
取の実行時には、ＣＣＤセンサ１０が順次出力してＡ／
ＤＣ１３がデジタル化したシリアルなラインデータを、
前記積算平均化回路４４が一個ずつ相違する順番で四個
ずつ繰返し平均化して新規のラインデータとするように
なっており、この新規のラインデータの基準電圧より低
い画素データの個数を積算して基準個数と比較するライ
ン積算判別回路２８が、基準個数より積算個数が多大な
ラインデータの副走査位置を位置記憶回路１５に格納す
るようになっている。

【０１０６】このような構成において、この画像読取装
置４３が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送す
る読取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインを
ＣＣＤセンサ１０がラインデータに順次変換して出力す
ると、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプ
ルホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてＡ
／ＤＣ１３でデジタル化されてから第二の積算平均化回
路４４に伝送される。

【０１０７】すると、この積算平均化回路４４では、入
力されるラインデータを四個の演算回路４９〜５２が一
個ずつ相違する順番で四個ずつ繰返し平均化し、この平
均化された新規のラインデータをライン積算判別回路２
８に各々が繰返し出力する。この時、図１３に例示する
ように、演算回路４９〜５２は、クロック信号に同期し
て順番に入力される制御信号“s1〜s4”に対応してＡ／
ＤＣ１３から並列に入力されるラインデータ“L1，L2
…”をラインデータ記憶回路４５〜４８に三個まで蓄積
し、この三個まで積算したラインデータと入力された第
四のラインデータとを制御信号“t1〜t4”に対応して平
均化する。

【０１０８】そこで、この平均化された新規のラインデ
ータが順次入力されるライン積算判別回路２８は、ライ
ンデータをビットコンパレータ２９で一画素毎に基準デ
ータと比較し、この基準データより低いことを検出した
画素データの個数を前記カウンタ回路３０で積算する。
そして、この積算個数と基準個数とを個数比較手段で比
較し、この基準個数より積算個数が多大なラインデータ
の副走査位置を位置記憶回路１５に格納する。このよう
にすることで、この位置記憶回路１５には全体的に電圧
が低いラインデータの副走査位置が記憶されるので、こ
れは読取画像２２において黒色の占有割合が多大な主走
査ラインの副走査位置となる。

【０１０９】そして、この画像読取装置４３は、本読取
の実行時には、位置記憶回路１５が記憶した走査位置か
らｍラインである四ラインの走査位置まで副走査機構５
による走査速度を速度可変手段が１／ｎに可変し、この
走査速度が可変された状態でＣＣＤセンサ１０が読取画
像から順次読み取ってＡ／ＤＣ１３がアナログからデジ
タルに変換したｎ×ｍのラインデータを積算平均化回路
１７がｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラインデー
タとする。

【０１１０】このようにすることで、この画像読取装置
４３は、読取画像２２の必要な部分のみ走査速度を低下
させてラインデータを平均化するので、全体の読取品質
を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の増大を防止し
て作業能率の向上に寄与することができる。しかも、こ
の画像読取装置４３では、ライン積算判別回路２８が読
取画像２２の主走査ラインに包含される黒色の画素の個
数をアナログ値で積算して黒色の占有割合を判別するの
で、例えば、走査速度が変化しても読取品質を良好に維
持することができる。さらに、この画像読取装置４３で
は、黒色の占有割合が多大な主走査ラインが副走査方向
にｍ個連続した場合のみ走査速度を低下させてラインデ
ータを平均化するので、より良好に作業能率の向上に寄
与することができる。

【０１１１】なお、本実施例の画像読取装置４３は、請
求項８記載の発明の一実施例として、請求項３記載の発
明の一実施例として前述した画像読取装置２７と同様
に、画素比較手段であるビットコンパレータ２９と画素
積算手段であり個数比較手段でもあるカウンタ回路３０
とでライン積算判別回路２８を形成することを例示した
が、本発明は上記実施例に限定されるものではない。例
えば、請求項９記載の発明の一実施例として、請求項４
記載の発明の一実施例と同様に、画素群選出手段であり
一致検出手段でもあるノアゲート３３と一画素選出手段
であるアンドゲート３４と画素積算手段であるカウンタ
回路３５とでライン積算判別回路３２を形成することも
可能である。このようにすることで、ライン積算判別回
路３２が読取画像２２の主走査ラインを部分的に抽出し
て全体の黒色の占有割合を判断するので、その構造と処
理とを簡略化することができる。

【０１１２】つぎに、請求項３，１０，１３記載の発明
の一実施例を図１４及び図１５に基づいて以下に説明す
る。まず、この画像読取装置５３は、図１４に例示する
ように、ＣＣＤセンサ１０がサンプルホールド回路１２
を介して接続されたＡ／ＤＣ１３に設定変更手段である
ライン積算判別回路５４が接続されており、このライン
積算判別回路５４が位置記憶回路１５と積算処理制御回
路５５と積算平均化回路５６とに接続されている。

【０１１３】そして、この画像読取装置のライン積算判
別回路５４は、図１５に例示するように、画素比較手段
である第一から第三のビットコンパレータ５７〜５９と
画素積算手段であり個数比較手段でもある第一から第三
のカウンタ回路６０〜６２とが連設されており、これら
のカウンタ回路６０〜６２が設定変更手段である一個の
セレクタ回路６３に接続されている。そして、前記ビッ
トコンパレータ５７〜５９は、Ａ／ＤＣ１３が出力する
ラインデータが並列に入力されると共に、各々相違する
基準データが個々に入力されるようになっており、この
ビットコンパレータ５７〜５９の出力が前記カウンタ回
路６０〜６２にイネーブル信号として入力されるように
なっている。ここで、このカウンタ回路６０〜６２は、
ＣＣＤセンサ１０の転送クロックに同期したクロック信
号と、基準個数のプリセットデータとが入力されるよう
になっており、前記セレクタ回路６３は、前記積算処理
制御回路５５が平均化するラインデータとなる三つの個
数“n1〜n3”が予め設定されている。

【０１１４】そこで、この画像読取装置５３では、前読
取の実行時には、ＣＣＤセンサ１０が順次出力してＡ／
ＤＣ１３がデジタル化したシリアルなラインデータを、
前記ビットコンパレータ５７〜５９の各々が自身に固有
の基準データと一画素毎に比較するようになっており、
この基準データより画素データが低いと前記ビットコン
パレータ５７〜５９の出力が前記カウンタ回路６０〜６
２にイネーブル信号として入力されるようになってい
る。この場合、このカウンタ回路６０〜６２は、イネー
ブル信号の入力に対応してクロック信号でカウントを実
行することで、基準電圧より低い画素データの個数を積
算するようになっている。

【０１１５】さらに、このカウンタ回路６０〜６２は、
積算個数とプリセットデータの基準個数とを比較するよ
うになっており、この基準個数より積算個数が多大なラ
インデータの副走査位置をセレクタ回路６３に出力する
ようになっている。そこで、このセレクタ回路６３は、
前記カウンタ回路６０〜６２の出力に対応して平均化の
個数“n1〜n3”の一つを前記積算処理制御回路５５と前
記積算平均化回路５６とに選択的に出力するようになっ
ており、この選択に対応したラインデータの副走査位置
を位置記憶回路１５に格納するようになっている。

【０１１６】そこで、この画像読取装置５３では、本読
取の実行時には、前記ライン積算判別回路５４の出力で
位置記憶回路１５に設定された副走査位置に到達する
と、前記ライン積算判別回路５４の出力で設定された割
合１／ｎに前記精算処理制御回路５５が副走査機構５の
走査速度を低減するようになっており、この状態で前記
ライン積算判別回路５４の出力で設定された個数“ｎ”
の主走査ラインを前記積算平均化回路５６が平均化する
ようになっている。

【０１１７】このような構成において、この画像読取装
置５３が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送す
る読取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインを
ＣＣＤセンサ１０がラインデータに順次変換して出力す
ると、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプ
ルホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてＡ
／ＤＣ１３でデジタル化されてからライン積算判別回路
５４に伝送される。

【０１１８】すると、このライン積算判別回路５４は、
シリアルに入力されるデジタルのラインデータをビット
コンパレータ５７〜５９で一画素毎に基準データと比較
し、この基準データより低いことを検出した画素データ
の個数をカウンタ回路６０〜６２で積算する。そして、
これらのカウンタ回路６０〜６２は積算個数と基準個数
とを個数比較手段で比較し、この基準個数より積算個数
が多大なラインデータの副走査位置をセレクタ回路６３
に出力するので、このセレクタ回路６３はカウンタ回路
６０〜６２の出力に対応して平均化の個数“ｎ”の一つ
を積算処理制御回路５５と前記積算平均化回路５６とに
選択的に出力するようになっており、この選択に対応し
たラインデータの副走査位置を位置記憶回路１５に格納
する。このようにすることで、この位置記憶回路１５に
は全体的に電圧が低いラインデータの副走査位置が記憶
されるので、これは読取画像２２において黒色の占有割
合が多大な主走査ラインの副走査位置となる。

【０１１９】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置５３が本読取を実行する場合、ライン積
算判別回路５４の出力で位置記憶回路１５に設定された
副走査位置に到達すると精算処理制御回路５５が副走査
機構５の走査速度を割合１／ｎに低減して積算平均化回
路５６が個数“ｎ”の主走査ラインを平均化する。この
ようにすることで、読取画像２２の必要な部分のみ走査
速度を低下させてラインデータを平均化するので、全体
の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の増
大を防止して作業能率の向上に寄与することができる。

【０１２０】さらに、この画像読取装置５３では、ライ
ン積算判別回路５４が積算処理制御回路５５による副走
査機構５の駆動速度と積算平均化回路５６による平均化
の割合とを自動的に設定するようになっているので、原
稿２３の読取画像２２に対応してラインデータの平均化
が最適な条件で実行されるようになっている。また、こ
の画像読取装置５３では、ライン積算判別回路５４が読
取画像２２の主走査ラインに包含される黒色の画素の個
数をアナログ値で積算して黒色の占有割合を判別するの
で、例えば、走査速度が変化しても読取品質を良好に維
持することができる。

【０１２１】なお、本実施例の画像読取装置５３では、
請求項３，１０，１３記載の発明の一実施例として、積
算処理制御回路５５による副走査機構５の駆動速度と積
算平均化回路５６による平均化の割合とを、予め設定さ
れた複数の基準データに対応してライン積算判別回路５
４が自動的に設定することを例示した。しかし、請求項
１０記載の発明は上記実施例に限定されるものではな
く、積算処理制御回路５５による副走査機構５の駆動速
度と積算平均化回路５６による平均化の割合とを可変自
在に設定することは、請求項１，２，３，４，５，６，
７，８又は９記載の発明の一実施例として前述した画像
読取装置１等にも適用可能である。

【０１２２】また、請求項１１記載の発明の一実施例と
して、請求項１又は５記載の発明の一実施例として前述
した画像読取装置１，３６において、ライン比較手段で
あるライン積算判別回路１４に複数の基準電圧を予め設
定し、これに対応して走査速度と平均化割合とを複数に
設定する設定変更手段を設けること（図示せず）や、請
求項１２記載の発明の一実施例として、請求項２又は６
記載の発明の一実施例として前述した画像読取装置にお
いて、画素比較手段であるライン積算判別回路２４に複
数の基準電圧を予め設定し、これに対応して走査速度と
平均化割合とを複数に設定する設定変更手段を設けるこ
と（図示せず）なども可能である。

【０１２３】つぎに、請求項１４記載の発明の一実施例
を図１６に基づいて以下に説明する。なお、本実施例で
は説明を簡略化するため、ラインデータを八ビットとし
て画素群選出手段が三ビットの画素データを選出するこ
ととするが、これらのビット数は機器の仕様などに対応
して各種に設定されるものである。

【０１２４】まず、この画像読取装置（図示せず）で
は、アナログデジタルコンバータであるＡ／ＤＣ３１か
らデジタルのラインデータがパラレル入力されるライン
積算判別回路６４に、八ビットのラインデータの第一ビ
ットから第三ビットが入力される画素群選出手段であり
一致検出手段でもある第一のノアゲート６５と、八ビッ
トのラインデータの第一ビットから第四ビットが入力さ
れる画素群選出手段であり一致検出手段でもある第二の
ノアゲート６６とが設けられている。さらに、第一のノ
アゲート６５の出力と第四ビットの反転出力とが入力さ
れる一画素選出手段である第一のアンドゲート６７と、
前記第二のノアゲート６６の出力と第五ビットの反転出
力とが入力される一画素選出手段である第二のアンドゲ
ート６８とが設けられている。そして、これら第一・第
二のアンドゲート６７，６８の出力がイネーブル信号と
して入力される画素積算手段である第一・第二のカウン
タ回路６９，７０が設けられており、これら第一・第二
のカウンタ回路６９，７０の出力に対応して選択的に出
力する設定変更手段である一個のセレクタ回路７１が設
けられている。

【０１２５】なお、この画像読取装置のライン積算判別
回路６４では、上述のように八ビットのラインデータか
ら前記アンドゲート６７が八ビットのラインデータから
四ビットの画素データを抽出することで“16／256 ”が
第一の基準データとして設定され、前記アンドゲート６
７が八ビットのラインデータから五ビットの画素データ
を抽出することで“ 8／256 ”が第二の基準データとし
て設定されている。また、前記カウンタ回路６９，７０
は、ＣＣＤセンサ１０の転送クロックに同期したクロッ
ク信号と、基準個数のプリセットデータとが入力される
ようになっており、前記セレクタ回路７１を介してライ
ンデータの副走査位置を位置記憶回路１５に出力するよ
うになっている。

【０１２６】そこで、この画像読取装置では、前読取の
実行時には、ＣＣＤセンサ１０が読取画像から順次読み
取ってＡ／ＤＣ３１がアナログからデジタルに変換した
ラインデータから、前記ノアゲート６５，６６が所定位
置の一連の画素データとなる上位三ビットと四ビットと
の画素データを各々選出して一致の有無を検出するよう
になっている。そして、この一致が検出されると、前記
アンドゲート６７，６８が画素群選出手段とは相違する
位置となるラインデータの第四ビットと第五ビットとの
一つの画素データを各々選出するようになっており、こ
れらの選出された画素データを前記カウンタ回路６９，
７０にイネーブル信号として出力するようになってい
る。そこで、これらのカウンタ回路６９，７０は、入力
された画素データに対応してクロック信号でカウントを
各々実行することで、基準データより低い画素データの
個数を積算するようになっている。この時、このカウン
タ回路６９，７０は、一つのラインデータにおける積算
個数をプリセットデータの基準個数から順次減算して算
出結果が“０”となると前記セレクタ回路７１に“１”
を各々出力するようになっており、このセレクタ回路７
１は入力に対応して平均化の個数“n1〜n3”の一つを積
算処理制御回路５５と積算平均化回路５６とに選択的に
出力し、この選択に対応したラインデータの副走査位置
を位置記憶回路１５に格納するようになっている。

【０１２７】このような構成において、この画像読取装
置が前読取を実行する場合、副走査機構５が搬送する読
取画像２２の副走査方向に連続した主走査ラインをＣＣ
Ｄセンサ１０がラインデータに順次変換して出力する
と、このアナログ電圧からなるラインデータはサンプル
ホールド回路１２で転送クロック成分が除去されてＡ／
ＤＣ３１でデジタルに変換される。

【０１２８】すると、このＡ／ＤＣ３１がデジタルに変
換したラインデータから、ライン積算判別回路６４のノ
アゲート６５，６６が上位数ビットの画素データを選出
して一致の有無を検出するので、第一のノアゲート６５
は上位三ビットの全部が“０”の場合のみ“１”を出力
し、第二のノアゲート６６は上位四ビットの全部が
“０”の場合のみ“１”を出力する。そして、これら第
一・第二のノアゲート６５，６６から第一・第二のアン
ドゲート６７，６８に“１”が入力されると、第一のア
ンドゲート６７は第四ビットの画素データの反転信号を
第一のカウンタ回路６９にイネーブル信号として出力
し、第二のアンドゲート６８は第五ビットの画素データ
の反転信号を第二のカウンタ回路７０にイネーブル信号
として出力する。そこで、これら第一・第二のカウンタ
回路６９，７０は、入力された“１”に対応してクロッ
ク信号をカウントし、このカウントした積算個数が基準
個数に到達するとセレクタ回路７１に“１”を出力する
ので、このセレクタ回路７１は入力に対応してラインデ
ータの副走査位置を位置記憶回路１５に格納する。

【０１２９】なお、このライン積算判別回路６４では、
主走査ラインの黒色の占有割合が“16／256 ”以上の場
合には第一・第二のカウンタ回路６９，７０の両方がカ
ウントを実行せず、“16／256〜8／256 ”の場合には第
一のカウンタ回路69のみがカウントを実行し、“ 8／25
6 ”以下の場合には第一・第二のカウンタ回路６９，７
０の両方がカウントを実行する。

【０１３０】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置が本読取を実行する場合、ライン積算判
別回路６４の出力で位置記憶回路１５に設定された副走
査位置に到達すると精算処理制御回路５５が副走査機構
５の走査速度を割合１／ｎに低減して積算平均化回路５
６が個数“ｎ”の主走査ラインを平均化する。このよう
にすることで、読取画像２２の必要な部分のみ走査速度
を低下させてラインデータを平均化するので、全体の読
取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の増大を
防止して作業能率の向上に寄与することができる。

【０１３１】しかも、この画像読取装置では、ライン積
算判別回路６４が読取画像２２の主走査ラインを部分的
に抽出して全体の黒色の占有割合を判断するので、構造
が簡略で処理が簡易である。さらに、ライン積算判別回
路６４が積算処理制御回路５５による副走査機構５の駆
動速度と積算平均化回路５６による平均化の割合とを自
動的に設定するようになっているので、原稿２３の読取
画像２２に対応してラインデータの平均化が最適な条件
で実行されるようになっている。

【０１３２】つぎに、請求項１７記載の発明の一実施例
を図１７に基づいて以下に説明する。まず、この画像読
取装置（図示せず）は、大部分は上述した画像読取装置
１等と同様な構造となっており、そのライン積算判別回
路１４に基準電圧を可変自在に設定する電圧可変手段で
ある電圧可変回路７２を付加した構造となっている。

【０１３３】そして、この電圧可変回路７２は、ＣＣＤ
センサ１０に接続されたピークホールド回路（図示せ
ず）の出力がゲート回路（図示せず）を介するなどして
電圧差を増幅する差動増幅器７３に二つの入力として接
続されており、この差動増幅器７３の出力と予めＲＡＭ
等に設定された基準データの出力とがデジタル値をアナ
ログ値に変換するＤ／ＡＣ(Digital／Analog Converto
r）７４に接続されている。そして、このＤ／ＡＣ７４
の出力は電流を電圧に変換するＩ／ＶＣ７５に接続され
ており、このＩ／ＶＣ７５の出力がライン積算判別回路
１４に接続されている。

【０１３４】そこで、この画像読取装置では、前読取の
開始時に、ＣＣＤセンサ１０が出力するラインデータで
あるＤＳ（Ｅ）をピークホールド回路でホールドして前
記差動増幅器７３に“V1”として出力するようになって
おり、さらに、コンタクトガラス２の先端部などに配置
されている白色基準板（図示せず）をＣＣＤセンサ１０
が読み取ったラインデータのピーク値をピークホールド
回路でホールドして前記差動増幅器７３に“V2”として
出力するようになっている。そして、この差動増幅器７
３は、入力された電圧差に比例した電圧“V0”を前記Ｄ
／ＡＣ７４に出力するようになっており、このＤ／ＡＣ
７４は入力された電圧“V0”と基準データとに対応した
電流“I0”を前記Ｉ／ＶＣ７５出力するようになってい
る。そこで、このＩ／ＶＣ７５は入力された電流に対応
して電圧“Vr”をライン積算判別回路１４に出力するよ
うになっているので、このライン積算判別回路１４は入
力電圧を基準電圧として保持するようになっている。

【０１３５】そこで、このライン積算判別回路１４は、
前読取の開始時には、ＣＣＤセンサ１０がシリアルに順
次出力するアナログのラインデータをコンパレータ２５
で一画素毎に基準電圧と比較するようになっており、こ
の基準電圧より画素データが低いとコンパレータ２５の
出力がカウンタ回路２６にイネーブル信号として入力さ
れるようになっている。この場合、このカウンタ回路２
６は、イネーブル信号の入力に対応してクロック信号で
カウントを実行することで、基準電圧より低い画素デー
タの個数を積算するようになっている。さらに、このカ
ウンタ回路２６は、一つのラインデータにおける積算個
数とプリセットデータの基準個数とを比較するようにな
っており、この基準個数より積算個数が多大なラインデ
ータの副走査位置を位置記憶回路１５に格納するように
なっている。

【０１３６】このような構成において、この画像読取装
置が前読取を実行する場合、その開始時点においてＣＣ
Ｄセンサ１０がラインデータとして出力するＤＳ（Ｅ）
のピーク値と白色基準板のラインデータのピーク値とが
差動増幅器７３に“V1，V2”として順次入力されるの
で、この差動増幅器７３は、入力された電圧差に比例し
た電圧“V0”をＤ／ＡＣ７４に出力する。すると、この
Ｄ／ＡＣ７４は入力された電圧“V0”と基準データとに
対応した電流“I0”をＩ／ＶＣ７５出力するので、この
Ｉ／ＶＣ７５は入力電流に対応した基準電圧“Vr”をラ
イン積算判別回路１４に出力する。

【０１３７】そこで、この画像読取装置では、上述のよ
うに前読取の開始時点でライン積算判別回路１４に基準
電圧が初期設定された状態で前読取が継続されるので、
副走査機構５が搬送する読取画像２２の副走査方向に連
続した主走査ラインをＣＣＤセンサ１０がラインデータ
に順次変換して出力すると、このアナログ電圧からなる
ラインデータはサンプルホールド回路１２で転送クロッ
ク成分が除去されてからライン積算判別回路１４に伝送
される。

【０１３８】すると、このライン積算判別回路１４は、
シリアルに入力されるアナログのラインデータをコンパ
レータ２５で一画素毎に基準電圧と比較し、この基準電
圧より低いことを検出した画素データの個数を前記カウ
ンタ回路２６で積算する。そして、この積算個数と基準
個数とを個数比較手段で比較し、この基準個数より積算
個数が多大なラインデータの副走査位置を位置記憶回路
１５に格納する。このようにすることで、この位置記憶
回路１５には全体的に電圧が低いラインデータの副走査
位置が記憶されるので、これは読取画像２２において黒
色の占有割合が多大な主走査ラインの副走査位置とな
る。

【０１３９】そこで、上述のようにして前読取を完了し
た画像読取装置が本読取を実行する場合、これは前述し
た画像読取装置１と同様に、読取画像２２の必要な部分
のみ走査速度を低下させてラインデータを平均化するの
で、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取
時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与することが
できる。しかも、この画像読取装置では、ライン積算判
別回路１４が読取画像２２の主走査ラインに包含される
黒色の画素の個数をアナログ値で積算して黒色の占有割
合を判別するので、例えば、走査速度が変化しても読取
品質を良好に維持することができる。

【０１４０】そして、この画像読取装置では、前読取の
開始時にＣＣＤセンサ１０の出力に対応して電圧可変手
段である電圧可変回路７２がライン比較手段であるライ
ン積算判別回路１４に基準電圧を自動的に設定するの
で、例えば、照明光源７の照度やＣＣＤセンサ１０の感
度などに経時変化が発生しても、ライン積算判別回路１
４は常時適正な基準電圧で主走査ラインの黒色の占有割
合を判別することができる。

【０１４１】なお、本実施例の画像読取装置では、請求
項１，１７記載の発明の一実施例として電圧可変手段で
ある電圧可変回路７２がライン比較手段であるライン積
算判別回路１４に基準電圧を自動的に設定することを例
示したが、本発明は上記実施例に限定されるものではな
く、これは請求項２，５，６又は７記載の発明の一実施
例として前述した画像読取装置３６等にも適用可能であ
る。

【０１４２】さらに、請求項１５記載の発明の画像読取
装置として、請求項２，３，６又は８記載の発明の一実
施例として前述した画像読取装置において、個数比較手
段であるカウンタ回路２６に基準個数を可変自在に設定
する個数可変手段を設けること（図示せず）や、請求項
１６記載の発明は画像読取装置として、請求項３，４，
８又は９記載の発明の一実施例として前述した画像読取
装置２７等において、データ比較手段であるビットコン
パレータ２９に基準データを可変自在に設定するデータ
可変手段を設けること（図示せず）なども可能である。

【０１４３】なお、上述した各種の実施例では、モノク
ロの読取画像２２を読み取る画像読取装置１等において
黒色の占有割合が多大な主走査ラインを検出して平均化
することを例示したが、本発明は上記実施例に限定され
るものではなく、例えば、色分解フィルタをラインセン
サに装着してフルカラーを読み取る画像読取装置（図示
せず）において、各カラーの濃色の占有割合が多大な主
走査ラインを検出して平均化することも可能である。

【０１４４】

【発明の効果】請求項１記載の発明は、受光素子を主走
査方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成
された原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保
持機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセ
ンサとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機
構を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読
取画像から順次読み取るアナログのラインデータを個々
に積分する積分算出手段を設け、この積分算出手段の積
分結果を予め設定された基準電圧と比較するライン比較
手段を設け、このライン比較手段が基準電圧より積分値
が低いことを検出したラインデータの副走査位置を記憶
する位置記憶手段を設けたことにより、読取画像の緻密
な読取りが必要な位置を設定し、本読取の実行時に前記
位置記憶手段が記憶した走査位置では前記副走査機構に
よる走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可
変手段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変した
状態で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み取
るアナログのラインデータをデジタルに変換するアナロ
グデジタルコンバータを設け、このアナログデジタルコ
ンバータがデジタルに変換したラインデータを予め設定
されたｎライン毎に平均化して新規のラインデータとす
る平均化手段を設けたことにより、読取画像の必要な部
分のみ低速で読取走査してラインデータを平均化するこ
とができるので、全体の読取品質を良好に確保し、か
つ、全体の読取時間の増大を防止して作業能率の向上に
寄与することができる等の効果を有するものである。

【０１４５】請求項２記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータを一画素
毎に予め設定された基準電圧と比較する画素比較手段を
設け、この画素比較手段が基準電圧より低いことを検出
した画素データの個数を積算する画素積算手段を設け、
この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準個数
とを比較する個数比較手段を設け、この個数比較手段が
基準個数より積算個数が多大なことを検出したラインデ
ータの副走査位置を記憶する位置記憶手段を設けたこと
により、読取画像の緻密な読取りが必要な位置を設定
し、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査
位置では前記副走査機構による走査速度を予め設定され
た１／ｎに可変する速度可変手段を設け、この速度可変
手段が走査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前
記読取画像から順次読み取るアナログのラインデータを
デジタルに変換するアナログデジタルコンバータを設
け、このアナログデジタルコンバータがデジタルに変換
したラインデータを予め設定されたｎライン毎に平均化
して新規のラインデータとする平均化手段を設けたこと
により、読取画像の必要な部分のみ低速で読取走査して
ラインデータを平均化することができるので、全体の読
取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の増大を
防止して作業能率の向上に寄与することができる等の効
果を有するものである。

【０１４６】請求項３記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータが出力するデジタルのライ
ンデータを一画素毎に予め設定された基準データと比較
するデータ比較手段を設け、このデータ比較手段が基準
データより低いことを検出した画素データの個数を積算
する画素積算手段を設け、この画素計数手段の積算個数
と予め設定された基準個数とを比較する個数比較手段を
設け、この個数比較手段が基準個数より積算個数が多大
なことを検出したラインデータの副走査位置を記憶する
位置記憶手段を設けたことにより、読取画像の緻密な読
取りが必要な位置を設定し、本読取の実行時に前記位置
記憶手段が記憶した走査位置では前記副走査機構による
走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手
段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変した状態
で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み取って
前記アナログデジタルコンバータがアナログからデジタ
ルに変換したラインデータを予め設定されたｎライン毎
に平均化して新規のラインデータとする平均化手段を設
けたことにより、読取画像の必要な部分のみ低速で読取
走査してラインデータを平均化することができるので、
全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取時間
の増大を防止して作業能率の向上に寄与することができ
る等の効果を有するものである。

【０１４７】請求項４記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータが出力するデジタルのライ
ンデータから予め設定された所定位置の一連の画素デー
タを選出する画素群選出手段を設け、この画素群選出手
段が選出した一連の画素データの一致の有無を検出する
一致検出手段を設け、この一致検出手段が一致を検出す
ると前記画素群選出手段とは相違する位置でラインデー
タから一つの画素データを選出する一画素選出手段を設
け、この一画素選出手段が選出した画素データに対応し
て予め設定された基準データより高い画素データの個数
を積算する画素積算手段を設け、この画素計数手段の積
算個数と予め設定された基準個数とを比較する個数比較
手段を設け、この個数比較手段が基準個数より積算個数
が多大なことを検出したラインデータの副走査位置を記
憶する位置記憶手段を設けたことにより、読取画像の緻
密な読取りが必要な位置を設定し、本読取の実行時に前
記位置記憶手段が記憶した走査位置では前記副走査機構
による走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度
可変手段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変し
た状態で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み
取って前記アナログデジタルコンバータがアナログから
デジタルに変換したラインデータを予め設定されたｎラ
イン毎に平均化して新規のラインデータとする平均化手
段を設けたことにより、読取画像の必要な部分のみ低速
で読取走査してラインデータを平均化することができる
ので、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読
取時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与すること
ができ、しかも、読取画像の主走査ラインを部分的に抽
出して全体の濃色の占有割合を判断するので、構造が簡
略化や処理の簡易化にも寄与することができる等の効果
を有するものである。

【０１４８】請求項５記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータを個々に
積分する積分算出手段を設け、この積分算出手段の積分
結果を予め設定された基準電圧と比較するライン比較手
段を設け、このライン比較手段の比較結果を一個ずつ相
違する順番でｍ個ずつ繰返し積算するｍ個のライン積算
手段を設け、これらのライン積算手段が一個ずつ順番に
出力する積算個数を予め設定されたｍ個と順次比較する
個数比較手段を設け、この個数比較手段が個数の一致を
検出すると前記回数検出手段が回数積算を開始したライ
ンデータの副走査位置を記憶する位置記憶手段を設けた
ことにより、読取画像の緻密な読取りが必要な位置を設
定し、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走
査位置からｍラインの走査位置まで前記副走査機構によ
る走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変
手段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変した状
態で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み取る
アナログのｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換する
アナログデジタルコンバータを設け、このアナログデジ
タルコンバータがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデ
ータを予め設定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ
個のラインデータとする平均化手段を設けたことによ
り、読取画像に濃色の占有割合が多大な主走査ラインが
副走査方向に連続した部分のみ低速で読取走査してライ
ンデータを平均化することができるので、全体の読取品
質を良好に確保し、かつ、極めて良好に全体の読取時間
の増大を防止して作業能率の向上に寄与することができ
る等の効果を有するものである。

【０１４９】請求項６記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータを一画素
毎に予め設定された基準電圧と比較する画素比較手段を
設け、この画素比較手段が基準電圧より低いことを検出
した画素データの個数を積算する画素積算手段を設け、
この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準個数
とを比較する個数比較手段を設け、この個数比較手段が
基準個数より積算個数が多大なことを検出したラインデ
ータを個々に積分する積分算出手段を設け、この積分算
出手段の積分結果を予め設定された基準電圧と比較する
ライン比較手段を設け、このライン比較手段の比較結果
を一個ずつ相違する順番でｍ個ずつ繰返し積算するｍ個
のライン積算手段を設け、これらのライン積算手段が一
個ずつ順番に出力する積算個数を予め設定されたｍ個と
順次比較する個数比較手段を設け、この個数比較手段が
個数の一致を検出すると前記回数検出手段が回数積算を
開始したラインデータの副走査位置を記憶する位置記憶
手段を設けたことにより、読取画像の緻密な読取りが必
要な位置を設定し、本読取の実行時に前記位置記憶手段
が記憶した走査位置からｍラインの走査位置まで前記副
走査機構による走査速度を予め設定された１／ｎに可変
する速度可変手段を設け、この速度可変手段が走査速度
を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのｎ×ｍのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータがデジタルに変換したｎ×
ｍのラインデータを予め設定されたｎライン毎に平均化
して新規のｍ個のラインデータとする平均化手段を設け
たことにより、読取画像の必要な部分のみ低速で読取走
査してラインデータを平均化することができるので、全
体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の
増大を防止して作業能率の向上に寄与することができ、
しかも、主走査ラインに包含される濃色の画素の個数を
アナログ出力で積算して占有割合を判別するので、例え
ば、走査速度が変化しても読取品質を良好に維持するこ
とができる等の効果を有するものである。

【０１５０】請求項７記載の発明は、請求項５又は６記
載の発明において、個数比較手段がライン積算手段の積
算個数と比較する個数をｍ個以下に設定したことによ
り、読取走査を低速にしてラインデータを平均化する基
準を低下させることができるので、読取品質の向上に寄
与することができる等の効果を有するものである。

【０１５１】請求項８記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータがデジタルに変換したライ
ンデータを一個ずつ相違する順番で予め設定されたｍ個
ずつ繰返し平均化して新規のラインデータとする前平均
化手段を設け、これらの前平均化手段が一個ずつ順番に
出力するラインデータを一画素毎に予め設定された基準
データと順次比較するデータ比較手段を設け、このデー
タ比較手段が基準データより低いことを検出した画素デ
ータの個数を積算する画素積算手段を設け、この画素計
数手段の積算個数と予め設定された基準個数とを比較す
る個数比較手段を設け、この個数比較手段が基準個数よ
り積算個数が多大なことを検出すると前記前平均化手段
が平均化を開始したラインデータの副走査位置を記憶す
る位置記憶手段を設けたことにより、読取画像の緻密な
読取りが必要な位置を設定し、本読取の実行時に前記位
置記憶手段が記憶した走査位置からｍラインの走査位置
まで前記副走査機構による走査速度を予め設定された１
／ｎに可変する速度可変手段を設け、この速度可変手段
が走査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読
取画像から順次読み取るアナログのｎ×ｍのラインデー
タをデジタルに変換するアナログデジタルコンバータを
設け、このアナログデジタルコンバータがデジタルに変
換したｎ×ｍのラインデータを予め設定されたｎライン
毎に平均化して新規のｍ個のラインデータとする平均化
手段を設けたことにより、読取画像に濃色の占有割合が
多大な主走査ラインが副走査方向に連続した部分のみ低
速で読取走査してラインデータを平均化することができ
るので、全体の読取品質を良好に確保し、かつ、全体の
読取時間の増大を防止して作業能率の向上に寄与するこ
とができ、しかも、主走査ラインに包含される濃色の画
素の個数をアナログ出力で積算して占有割合を判別する
ので、例えば、走査速度が変化しても読取品質を良好に
維持することができる等の効果を有するものである。

【０１５２】請求項９記載の発明は、受光素子を主走査
方向に連設したラインセンサを設け、読取画像が形成さ
れた原稿を保持する原稿保持機構を設け、この原稿保持
機構で保持された前記原稿の読取画像と前記ラインセン
サとを光学的に副走査方向に相対移動させる副走査機構
を設け、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取
画像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタ
ルに変換するアナログデジタルコンバータを設け、この
アナログデジタルコンバータがデジタルに変換したライ
ンデータを予め設定されたｍライン毎に平均化して新規
のラインデータとする前平均化手段を設け、この前平均
化手段が平均化したラインデータから予め設定された所
定位置の一連の画素データを選出する画素群選出手段を
設け、この画素群選出手段が選出した一連の画素データ
の一致の有無を検出する一致検出手段を設け、この一致
検出手段が一致を検出すると前記画素群選出手段とは相
違する位置でラインデータから一つの画素データを選出
する一画素選出手段を設け、この一画素選出手段が選出
した画素データを予め設定された基準データと比較する
データ比較手段を設け、このデータ比較手段が基準デー
タより高いことを検出した画素データの個数を積算する
画素積算手段を設け、この画素計数手段の積算個数と予
め設定された基準個数とを比較する個数比較手段を設
け、この個数比較手段が基準個数より積算個数が多大な
ことを検出すると前記前平均化手段が平均化を開始した
ラインデータの副走査位置を記憶する位置記憶手段を設
けたことにより、読取画像の緻密な読取りが必要な位置
を設定し、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶し
た走査位置からｍラインの走査位置まで前記副走査機構
による走査速度を予め設定された１／ｎに可変する速度
可変手段を設け、この速度可変手段が走査速度を可変し
た状態で前記ラインセンサが前記読取画像から順次読み
取るアナログのｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換
するアナログデジタルコンバータを設け、このアナログ
デジタルコンバータがデジタルに変換したｎ×ｍのライ
ンデータを予め設定されたｎライン毎に平均化して新規
のｍ個のラインデータとする平均化手段を設けたことに
より、読取画像の必要な部分のみ低速で読取走査してラ
インデータを平均化することができるので、全体の読取
品質を良好に確保し、かつ、全体の読取時間の増大を防
止して作業能率の向上に寄与することができ、しかも、
読取画像の主走査ラインを部分的に抽出して全体の濃色
の占有割合を判断するので、構造の簡略化や処理の簡易
化に寄与することができる等の効果を有するものであ
る。

【０１５３】請求項１０記載の発明は、請求項１，２，
３，４，５，６，７，８又は９記載の発明において、平
均化手段が平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査
速度を可変する割合１／ｎとを可変自在に設定する設定
変更手段を設けたことにより、読取品質と読取速度とを
自在に調節することができる等の効果を有するものであ
る。

【０１５４】請求項１１記載の発明は、請求項１又は５
記載の発明において、ライン比較手段に複数の基準電圧
を予め設定し、これらの基準電圧に対応して平均化手段
が平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可
変する割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設
けたことにより、読取画像に対応して読取品質と読取速
度とを適正に調整することができる等の効果を有するも
のである。

【０１５５】請求項１２記載の発明は、請求項２又は６
記載の発明において、画素比較手段に複数の基準電圧を
予め設定し、これらの基準電圧に対応して平均化手段が
平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変
する割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設け
たことにより、読取画像に対応して読取品質と読取速度
とを適正に調整することができる等の効果を有するもの
である。

【０１５６】請求項１３記載の発明は、請求項３，４，
８又は９記載の発明において、データ比較手段に複数の
基準データを予め設定し、これらの基準データに対応し
て平均化手段が平均化するライン数ｎと速度可変手段が
走査速度を可変する割合１／ｎとを複数に設定する設定
変更手段を設けたことにより、読取画像に対応して読取
品質と読取速度とを適正に調整することができる等の効
果を有するものである。

【０１５７】請求項１４記載の発明は、請求項４又は９
記載の発明において、複数個の一画素選出手段を設け、
これらの一画素選出手段が選出した画素データを予め設
定された基準データと各々比較するデータ比較手段を設
け、このデータ比較手段が基準データより高いことを検
出した画素データの個数を各々積算する画素積算手段を
設け、この画素計数手段の積算個数と予め設定された基
準個数とを各々比較する個数比較手段を設け、この個数
比較手段の比較結果に対応して平均化手段が平均化する
ライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変する割合１
／ｎとを可変自在に設定する設定変更手段を設けたこと
により、読取画像に対応して読取品質と読取速度とを適
正に調整することができる等の効果を有するものであ
る。

【０１５８】請求項１５記載の発明は、請求項２，３，
６又は８記載の発明において、個数比較手段に基準個数
を可変自在に設定する個数可変手段を設けたことによ
り、例えば、ラインセンサの感度に経時変化が発生した
場合などでも、これに対応して基準個数を設定すること
で、濃色の占有割合が多大な主走査ラインを常時適正に
判別することができる等の効果を有するものである。

【０１５９】請求項１６記載の発明は、請求項３，４，
８又は９記載の発明において、データ比較手段に基準デ
ータを可変自在に設定するデータ可変手段を設けたこと
により、例えば、ラインセンサの感度に経時変化が発生
した場合などでも、これに対応して基準データを設定す
ることで、濃色の占有割合が多大な主走査ラインを常時
適正に判別することができる等の効果を有するものであ
る。

【０１６０】請求項１７記載の発明は、請求項１，２，
５，６又は７記載の発明において、前読取の開始時にラ
イン比較手段に基準電圧を可変自在に設定する電圧可変
手段を設けたことにより、例えば、ラインセンサの感度
に経時変化が発生した場合などでも、これに対応して基
準電圧を設定することで、濃色の占有割合が多大な主走
査ラインを常時適正に判別することができる等の効果を
有するものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１記載の発明の一実施例画像読取装置を
例示するブロック図である。

【図２】ラインデータの出力波形を例示する特性図であ
る。

【図３】ラインデータの積算処理の制御タイミングを例
示するタイムチャートである。

【図４】請求項２記載の発明の一実施例の画像読取装置
のライン積算判別回路を例示するブロック図である。

【図５】請求項３記載の発明の一実施例の画像読取装置
を例示するブロック図である。

【図６】ライン積算判別回路を例示するブロック図であ
る。

【図７】請求項４記載の発明の一実施例の画像読取装置
のライン積算判別回路を例示するブロック図である。

【図８】請求項５記載の発明の一実施例の画像読取装置
を例示するブロック図である。

【図９】判定結果記憶回路を例示するブロック図であ
る。

【図１０】ラインデータの積算処理の制御タイミングを
例示するタイムチャートである。

【図１１】請求項８記載の発明の一実施例である画像読
取装置を例示するブロック図である。

【図１２】積算平均化回路を例示するブロック図であ
る。

【図１３】ラインデータの積算処理の制御タイミングを
例示するタイムチャートである。

【図１４】請求項３，１０，１３記載の発明の一実施例
の画像読取装置を例示するブロック図である。

【図１５】ライン積算判別回路を例示するブロック図で
ある。

【図１６】請求項１４記載の発明の一実施例の画像読取
装置のライン積算判別回路を例示するブロック図であ
る。

【図１７】請求項１７記載の発明の一実施例の画像読取
装置の電圧可変回路を例示するブロック図である。

【符号の説明】

１，２７，３６，４３，５３画像読取
装置２原稿保持
機構５副走査機
構１０ラインセ
ンサ１３，３１アナログ
デジタルコンバータ１４積分算出
手段、ライン比較手段１５位置記憶
手段１６速度可変
手段１７平均化手
段２２読取画像２３原稿２５画素比較
手段２６，３０，３５，６０〜６２，６９，７０画素積算
手段、個数比較手段２９，５７〜５９データ比
較手段３３，６５，６６画素群選
出手段３４，６７，６８一画素選
出手段３９〜４２ライン積
算手段、個数比較手段４９〜５２前平均化
手段６３，７１設定変更
手段７２電圧可変
手段

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータを個々に積分する
積分算出手段と、この積分算出手段の積分結果を予め設
定された基準電圧と比較するライン比較手段と、このラ
イン比較手段が基準電圧より積分値が低いことを検出し
たラインデータの副走査位置を記憶する位置記憶手段
と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
では前記副走査機構による走査速度を予め設定された１
／ｎに可変する速度可変手段と、この速度可変手段が走
査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画
像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタル
に変換するアナログデジタルコンバータと、このアナロ
グデジタルコンバータがデジタルに変換したラインデー
タを予め設定されたｎライン毎に平均化して新規のライ
ンデータとする平均化手段とを具備したことを特徴とす
る画像読取装置。
【請求項２】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータを一画素毎に予め
設定された基準電圧と比較する画素比較手段と、この画
素比較手段が基準電圧より低いことを検出した画素デー
タの個数を積算する画素積算手段と、この画素計数手段
の積算個数と予め設定された基準個数とを比較する個数
比較手段と、この個数比較手段が基準個数より積算個数
が多大なことを検出したラインデータの副走査位置を記
憶する位置記憶手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
では前記副走査機構による走査速度を予め設定された１
／ｎに可変する速度可変手段と、この速度可変手段が走
査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画
像から順次読み取るアナログのラインデータをデジタル
に変換するアナログデジタルコンバータと、このアナロ
グデジタルコンバータがデジタルに変換したラインデー
タを予め設定されたｎライン毎に平均化して新規のライ
ンデータとする平均化手段とを具備したことを特徴とす
る画像読取装置。
【請求項３】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータをデジタルに変換
するアナログデジタルコンバータと、このアナログデジ
タルコンバータが出力するデジタルのラインデータを一
画素毎に予め設定された基準データと比較するデータ比
較手段と、このデータ比較手段が基準データより低いこ
とを検出した画素データの個数を積算する画素積算手段
と、この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準
個数とを比較する個数比較手段と、この個数比較手段が
基準個数より積算個数が多大なことを検出したラインデ
ータの副走査位置を記憶する位置記憶手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
では前記副走査機構による走査速度を予め設定された１
／ｎに可変する速度可変手段と、この速度可変手段が走
査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画
像から順次読み取って前記アナログデジタルコンバータ
がアナログからデジタルに変換したラインデータを予め
設定されたｎライン毎に平均化して新規のラインデータ
とする平均化手段とを具備したことを特徴とする画像読
取装置。
【請求項４】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータをデジタルに変換
するアナログデジタルコンバータと、このアナログデジ
タルコンバータが出力するデジタルのラインデータから
予め設定された所定位置の一連の画素データを選出する
画素群選出手段と、この画素群選出手段が選出した一連
の画素データの一致の有無を検出する一致検出手段と、
この一致検出手段が一致を検出すると前記画素群選出手
段とは相違する位置でラインデータから一つの画素デー
タを選出する一画素選出手段と、この一画素選出手段が
選出した画素データに対応して予め設定された基準デー
タより高い画素データの個数を積算する画素積算手段
と、この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準
個数とを比較する個数比較手段と、この個数比較手段が
基準個数より積算個数が多大なことを検出したラインデ
ータの副走査位置を記憶する位置記憶手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
では前記副走査機構による走査速度を予め設定された１
／ｎに可変する速度可変手段と、この速度可変手段が走
査速度を可変した状態で前記ラインセンサが前記読取画
像から順次読み取って前記アナログデジタルコンバータ
がアナログからデジタルに変換したラインデータを予め
設定されたｎライン毎に平均化して新規のラインデータ
とする平均化手段とを具備したことを特徴とする画像読
取装置。
【請求項５】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータを個々に積分する
積分算出手段と、この積分算出手段の積分結果を予め設
定された基準電圧と比較するライン比較手段と、このラ
イン比較手段の比較結果を一個ずつ相違する順番でｍ個
ずつ繰返し積算するｍ個のライン積算手段と、これらの
ライン積算手段が一個ずつ順番に出力する積算個数を予
め設定されたｍ個と順次比較する個数比較手段と、この
個数比較手段が個数の一致を検出すると前記回数検出手
段が回数積算を開始したラインデータの副走査位置を記
憶する位置記憶手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
からｍラインの走査位置まで前記副走査機構による走査
速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手段
と、この速度可変手段が走査速度を可変した状態で前記
ラインセンサが前記読取画像から順次読み取るアナログ
のｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換するアナログ
デジタルコンバータと、このアナログデジタルコンバー
タがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデータを予め設
定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラインデ
ータとする平均化手段とを具備したことを特徴とする画
像読取装置。
【請求項６】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータを一画素毎に予め
設定された基準電圧と比較する画素比較手段と、この画
素比較手段が基準電圧より低いことを検出した画素デー
タの個数を積算する画素積算手段と、この画素計数手段
の積算個数と予め設定された基準個数とを比較する個数
比較手段と、この個数比較手段が基準個数より積算個数
が多大なことを検出したラインデータを個々に積分する
積分算出手段と、この積分算出手段の積分結果を予め設
定された基準電圧と比較するライン比較手段と、このラ
イン比較手段の比較結果を一個ずつ相違する順番でｍ個
ずつ繰返し積算するｍ個のライン積算手段と、これらの
ライン積算手段が一個ずつ順番に出力する積算個数を予
め設定されたｍ個と順次比較する個数比較手段と、この
個数比較手段が個数の一致を検出すると前記回数検出手
段が回数積算を開始したラインデータの副走査位置を記
憶する位置記憶手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
からｍラインの走査位置まで前記副走査機構による走査
速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手段
と、この速度可変手段が走査速度を可変した状態で前記
ラインセンサが前記読取画像から順次読み取るアナログ
のｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換するアナログ
デジタルコンバータと、このアナログデジタルコンバー
タがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデータを予め設
定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラインデ
ータとする平均化手段とを具備したことを特徴とする画
像読取装置。
【請求項７】個数比較手段がライン積算手段の積算個
数と比較する個数をｍ個以下に設定したことを特徴とす
る請求項５又は６記載の画像読取装置。
【請求項８】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータをデジタルに変換
するアナログデジタルコンバータと、このアナログデジ
タルコンバータがデジタルに変換したラインデータを一
個ずつ相違する順番でｍ個ずつ繰返し平均化して新規の
ラインデータとするｍ個の前平均化手段と、これらの前
平均化手段が一個ずつ順番に出力するラインデータを一
画素毎に予め設定された基準データと順次比較するデー
タ比較手段と、このデータ比較手段が基準データより低
いことを検出した画素データの個数を積算する画素積算
手段と、この画素計数手段の積算個数と予め設定された
基準個数とを比較する個数比較手段と、この個数比較手
段が基準個数より積算個数が多大なことを検出すると前
記前平均化手段が平均化を開始したラインデータの副走
査位置を記憶する位置記憶手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
からｍラインの走査位置まで前記副走査機構による走査
速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手段
と、この速度可変手段が走査速度を可変した状態で前記
ラインセンサが前記読取画像から順次読み取るアナログ
のｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換するアナログ
デジタルコンバータと、このアナログデジタルコンバー
タがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデータを予め設
定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラインデ
ータとする平均化手段とを具備したことを特徴とする画
像読取装置。
【請求項９】受光素子を主走査方向に連設したライン
センサと、読取画像が形成された原稿を保持する原稿保
持機構と、この原稿保持機構で保持された前記原稿の読
取画像と前記ラインセンサとを光学的に副走査方向に相
対移動させる副走査機構と、前読取の実行時に前記ラインセンサが前記読取画像から
順次読み取るアナログのラインデータをデジタルに変換
するアナログデジタルコンバータと、このアナログデジ
タルコンバータがデジタルに変換したラインデータを予
め設定されたｍライン毎に平均化して新規のラインデー
タとする前平均化手段と、この前平均化手段が平均化し
たラインデータから予め設定された所定位置の一連の画
素データを選出する画素群選出手段と、この画素群選出
手段が選出した一連の画素データの一致の有無を検出す
る一致検出手段と、この一致検出手段が一致を検出する
と前記画素群選出手段とは相違する位置でラインデータ
から一つの画素データを選出する一画素選出手段と、こ
の一画素選出手段が選出した画素データを予め設定され
た基準データと比較するデータ比較手段と、このデータ
比較手段が基準データより高いことを検出した画素デー
タの個数を積算する画素積算手段と、この画素計数手段
の積算個数と予め設定された基準個数とを比較する個数
比較手段と、この個数比較手段が基準個数より積算個数
が多大なことを検出すると前記前平均化手段が平均化を
開始したラインデータの副走査位置を記憶する位置記憶
手段と、本読取の実行時に前記位置記憶手段が記憶した走査位置
からｍラインの走査位置まで前記副走査機構による走査
速度を予め設定された１／ｎに可変する速度可変手段
と、この速度可変手段が走査速度を可変した状態で前記
ラインセンサが前記読取画像から順次読み取るアナログ
のｎ×ｍのラインデータをデジタルに変換するアナログ
デジタルコンバータと、このアナログデジタルコンバー
タがデジタルに変換したｎ×ｍのラインデータを予め設
定されたｎライン毎に平均化して新規のｍ個のラインデ
ータとする平均化手段とを具備したことを特徴とする画
像読取装置。
【請求項１０】平均化手段が平均化するライン数ｎと
速度可変手段が走査速度を可変する割合１／ｎとを可変
自在に設定する設定変更手段を設けたことを特徴とする
請求項１，２，３，４，５，６，７，８又は９記載の画
像読取装置。
【請求項１１】ライン比較手段に複数の基準電圧を予
め設定し、これらの基準電圧に対応して平均化手段が平
均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変す
る割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設けた
ことを特徴とする請求項１又は５記載の画像読取装置。
【請求項１２】画素比較手段に複数の基準電圧を予め
設定し、これらの基準電圧に対応して平均化手段が平均
化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変する
割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設けたこ
とを特徴とする請求項２又は６記載の画像読取装置。
【請求項１３】データ比較手段に複数の基準データを
予め設定し、これらの基準データに対応して平均化手段
が平均化するライン数ｎと速度可変手段が走査速度を可
変する割合１／ｎとを複数に設定する設定変更手段を設
けたことを特徴とする請求項３，４，８又は９記載の画
像読取装置。
【請求項１４】複数個の一画素選出手段を設け、これ
らの一画素選出手段が選出した画素データを予め設定さ
れた基準データと各々比較するデータ比較手段を設け、
このデータ比較手段が基準データより高いことを検出し
た画素データの個数を各々積算する画素積算手段を設
け、この画素計数手段の積算個数と予め設定された基準
個数とを各々比較する個数比較手段を設け、この個数比
較手段の比較結果に対応して平均化手段が平均化するラ
イン数ｎと速度可変手段が走査速度を可変する割合１／
ｎとを可変自在に設定する設定変更手段を設けたことを
特徴とする請求項４又は９記載の画像読取装置。
【請求項１５】個数比較手段に基準個数を可変自在に
設定する個数可変手段を設けたことを特徴とする請求項
２，３，６又は８記載の画像読取装置。
【請求項１６】データ比較手段に基準データを可変自
在に設定するデータ可変手段を設けたことを特徴とする
請求項３，４，８又は９記載の画像読取装置。
【請求項１７】前読取の開始時にライン比較手段に基
準電圧を可変自在に設定する電圧可変手段を設けたこと
を特徴とする請求項１，２，５，６又は７記載の画像読
取装置。