JPH07272280A

JPH07272280A - 光ディスクシステム

Info

Publication number: JPH07272280A
Application number: JP6277294A
Authority: JP
Inventors: Masaji Suwabe; 正次諏訪部
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1994-03-31
Filing date: 1994-03-31
Publication date: 1995-10-20

Abstract

(57)【要約】【目的】光ディスクの反りによる読み取り誤差を簡単か
つ低コストで低減する光ディスクシステムを提供する。【構成】再生時、エラーレートを検出し、このエラーレ
ートの値により再生時のレーザ光の出力を制御すること
によりエラーレートを低下させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクシステムに
関し、特に、光ディスクの環境の温度や湿度の変化に起
因する反りによる再生時の読み取り誤差の増加を、光デ
ィスクそのものの材質や構造に触れることなく防止する
ことができるようにした光ディスクシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】レーザディスク、コンパクトディスク
（ＣＤ）、光磁気ディスク（ＭＯディスク）等のように
円盤（ディスク）状に形成された記録媒体においては、
周囲の温度や湿度の変化に起因する半径方向の反り（ラ
ディアルスキューまたはラディアルチルト、以下反りと
いう）が起こることは大なり小なり避けられない。

【０００３】このような反りが起こると、回転する光デ
ィスクにレーザ光を照射してデータを読み取る際、コマ
収差によりレーザ光の当たる位置に誤差が発生し、それ
がデータの読み取り誤差につながることになる。このよ
うなデータの読み取り誤差は、データの記録密度が大き
い程大きくなる。

【０００４】このような反りによるデータの読み取り誤
差を防止するためには、ディスクそのものの曲げ剛性を
高めるための対策が必要であると同時に、反りにより発
生した読み取り誤差を相殺するための対策が必要であ
る。

【０００５】従来、ディスクの曲げ剛性を高める方法と
しては、曲げ剛性の大きい基板を使用すると共に、基板
を積層化する方法がとられている。

【０００６】また、反りによる再生データの誤差を相殺
する方法として、大径（例えば直径３０ｃｍ）のレーザ
ディスク等においては、ピックアップ機構においてレー
ザディスクの反りを検出し、この検出出力によってピッ
クアップを移動させるスキューサーボが実用化されてい
る。

【０００７】しかしながら、コンパクトディスクや光磁
気ディスクでは、温度や湿度の変化に起因する反りがデ
ータ再生時の読み取り誤差に及ぼす影響は問題にならな
かった。これは、コンパクトディスクは比較的小径（１
２ｃｍ）であり、また、光磁気ディスクは張り合わせ型
基板を使用したり、小径の基板を使用しているため曲げ
剛性が高く環境条件による反りが殆ど無視しうる程度で
あったためである。

【０００８】例えば、ＩＳＯ規格の５．２５”光磁気デ
ィスクは、張り合わせタイプであるため曲げ剛性が大き
く反りにくい。また、ＩＳＯ規格の３．５”光磁気ディ
スクは直径８６ｍｍと比較的小径であるから反りにく
い。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように、従来の光磁気ディスクにおいては、環境の温度
や湿度の変化による反りは問題にならなかったが、最
近、光磁気ディスクを大容量化するためにその基板の大
径化、単板化、使用レーザの短波長化の趨勢にあり、そ
のため、大径（例えば直径１３０ｍｍ以上）でかつ基板
の厚さが例えば０．８ｍｍの薄い光磁気ディスクを用い
た磁界変調記録システムの要求が高まりつつある。

【００１０】このような大径で薄い光磁気ディスクで高
密度記録媒体を実現するためには、当然環境の温度や湿
度の変化による反りに起因するコマ収差が無視できなく
なる。

【００１１】しかも、このような薄い基板に高い曲げ剛
性を持たせるような基板材料の開発は難しくかつ高価に
つく。また、ピックアップにおけるスキューサーボのよ
うな機構はシステムの大型化、高価格化を招くので、本
来小型、低価格化を目指している開発方針と逆行するこ
とになる。

【００１２】従って、本発明は、大径で薄型の光ディス
クの反りによる再生データの誤差の増加を、ディスクそ
のものの材料等に対する厳しい規制によらず、また、ピ
ックアップのスキューサーボ等の機械的な制御機構を用
いずに、簡単で低コストなソフト的構成によって防止す
ることに解決しなければならない課題を有している。

【００１３】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明に係る光ディスクシステムは、光ディスク
と、該光ディスクに照射するレーザ光とからなり、前記
光ディスクにレーザ光を照射した時の反射光からデータ
を再生する光ディスクシステムであり、前記データを再
生する際に生じたエラーレートを検出する手段と、該エ
ラーレートに基づき前記レーザ光の強さを自動的に制御
する手段とを備え、再生中にエラーレートが上昇した
時、前記レーザ光の強さを一時的に上げて対応するよう
にしたことである。

【００１４】又、上記エラーレートを検出する手段は、
光ディスクに記録されている特定のデータを読み取るこ
とによりエラーレートを測定するようにしたこと；上記
エラーレートに基づきレーザ光の強さを自動的に制御す
る手段は、前記レーザ光の通常時の出力値を前記光ディ
スクに要求される再生可能回数に基づき設定し、前記エ
ラーレートが許容値を越えた時、レーザ光の強さをＣ／
Ｎ比が最大になるように設定すること；上記光ディスク
の媒体は、単板で形成されていること；上記光ディスク
は、前記データが光磁気記録方式で記録された光磁気デ
ィスクであること；上記単板は、プラスチック基板であ
る光ディスクシステムである。

【００１５】

【作用】上記構成による光ディスクシステムは、下記の
ような作用を奏する。（１）光ディスクシステムに、データを再生する際のエ
ラーレートを検出する手段と、このエラーレートに基づ
きレーザ光の強さを自動的に制御する手段とを備え、再
生中にエラーレートが上昇した時、レーザ光の強さを上
げるようにしたことにより、光ディスクの反りが生じて
も簡単構成で、且つソフト的な処置により、エラーレー
トを減少させることができるようになる。

【００１６】（２）エラーレートを検出する手段は、光
ディスクに記録されている特定のデータを読み取ること
によりエラーレートを測定するようにしたことにより、
エラーレートを正確に測定することができるようにな
る。

【００１７】（３）エラーレートに基づきレーザ光の強
さを自動的に制御する手段は、レーザ光の通常時の出力
値を、光ディスクに要求される再生可能回数に基づき選
定し、エラーレートが許容値を越えた時、レーザ光の強
さをＣ／Ｎ比が最大になるように選定するようにしたこ
とにより、光ディスク特有の性質に合わせたレーザ光を
照射することができるようになる。

【００１８】（４）光ディスク、及び光磁気ディスクの
媒体は、単板で形成されていること、その単板はプラス
チック基板で形成したことにより、低コストなディスク
を生産することができるようになる。

【００１９】（５）光ディスクは、データが光磁気記録
方式で記録された光磁気ディスクであることにより、高
密度な磁気媒体であっても、その媒体を低コストに生産
することができるようになる。

【００２０】

【実施例】以下、本発明に係る光磁気ディスクシステム
の実施例について説明する。本実施例における光磁気デ
ィスクは、ポリカーボネートなどの樹脂からなる単板構
造で直径１３０ｍｍの基板の表面に、希土類金属（Ｇ
ａ、Ｔｂ、Ｄｒ、Ｈｏなど）と３ｄ遷移金属（Ｆｅ、Ｃ
ｏ、Ｎｉ）とのアモルファス合金からなる薄膜を形成し
て信号記録面としたものである。

【００２１】データの記録は光磁気記録方式によって行
われる。光磁気記録の原理は、光磁気ディスクの記録面
に垂直に外部磁界を形成し、レーザ光を照射することに
よってディスクと垂直方向に磁化するものである。印加
される磁界の方向によって磁化の方向が変わることによ
って２値ディジタルデータを記録することができる。

【００２２】光磁気ディスクのデータ記録の方式は２つ
に大別される。その一つは、図１に示すように、光磁気
ディスク１の裏面側に配置された永久磁石２によって一
定のバイアス磁界を与える。

【００２３】一方、記録信号は変調回路３に入力され、
この変調回路３の出力はレーザ駆動回路４に供給され
る。そしてレーザ駆動回路４の出力によってレーザダイ
オード５が駆動されレーザ光６を出力する。

【００２４】レーザ光６は、コリメータレンズ７、グレ
ーティング（回折格子）８、ミラー（反射鏡）９、ビー
ムスプリッタ１０、対物レンズ１１を通って光磁気ディ
スク１の表面に照射する。

【００２５】その結果、光磁気ディスク１の記録面のレ
ーザ光が当たった部分はキューリ温度より上がり、磁石
２による外部磁界によって垂直方向に磁化される。

【００２６】もう一つの記録方式は、図２に示すよう
に、レーザ駆動回路４によってレーザダイオード５を駆
動して一定の強さのレーザ光をコリメータレンズ７、グ
レーティング（回折格子）８、ミラー（反射鏡）９、ビ
ームスプリッタ１０、対物レンズ１１からなる光学系を
介して光磁気ディスク１の表面に照射する。

【００２７】一方、記録信号は変調回路３に入力し、こ
の変調回路３の出力信号は磁界ヘッド駆動回路１２を介
して光磁気ディスク１の裏面側に配置された磁気ヘッド
１３のコイルに供給される。その結果、レーザ光が当た
った部分は磁気ヘッド１３による磁界によって垂直磁化
される。

【００２８】光磁気ディスクシステムの再生は下記のよ
うに行われる。図３に示すように、レーザダイオード５
から出力したレーザ光６をコリメータレンズ７、グレー
ティング８、ミラー９、ビームスプリッタ１０、対物レ
ンズ１１からなる第１の光学系を通して光磁気ディスク
１の表面に照射する。

【００２９】光磁気ディスクの記録面から反射したレー
ザ光は、記録データの値（”１”か”０”か）によって
偏光方向が異なる。反射光は、対物レンズ１１、ビーム
スプリッタ１０、１／２波長板１５、集光レンズ１６を
通って偏光ビームスプリッタ１７に入射する。

【００３０】対物レンズ１１は、２軸アクチュエータ１
４によって、光磁気ディスク１の表面と直角な方向と光
磁気ディスクのトラック方向との２方向に自由度を持つ
ように支持されている。２軸アクチュエータ１４は、ピ
ックアップ制御系２４からのトラッキング誤差信号およ
びフォーカシング誤差信号によって動作し、トラッキン
グ誤差およびフォーカシング誤差をゼロにするように対
物レンズ１１を動かすようになっている。

【００３１】さて、偏光ビームスプリッタ１７に入射し
たレーザ光は、その偏光方向によって偏光ビームスプリ
ッタ１７内を直進するものと直角に反射するものとに分
かれる。偏光ビームスプリッタ１７内を直進したレーザ
光はホトデテクタ１８によって受光され電気信号に変換
される。そして、ホトデテクタ１８の出力信号は差動増
幅器１９のマイナス端子に供給される。

【００３２】一方、偏光ビームスプリッタ１７で直角方
向に反射したレーザ光はホトデテクタ２０によって受光
され電気信号に変換される。ホトデテクタ２０の出力信
号は差動増幅器１９のプラス端子に供給される。

【００３３】差動増幅器１９は２つの入力の差を増幅す
る。この差信号は記録信号を表す光磁気信号である。こ
の差信号は復調回路２１へ出力され、復調されて再生信
号となる。

【００３４】また、ビームスプリッタ１０においてレー
ザ光の一部が直角に反射され、パーシャルビームスプリ
ッタ２２を介してホトデテクタ２３に入射する。ホトデ
テクタ２３は、ＡＰＣ（自動レーザ光制御）用のホトデ
テクタであって、これの出力はレーザ駆動回路４のＡＰ
Ｃ回路へ供給される。

【００３５】また、ホトデテクタ２０の出力信号はピッ
クアップ制御系へサーボ信号として送られる。

【００３６】差動増幅器１９の出力信号は、また、エラ
ーレート検出回路２５に供給される。エラーレート検出
回路２５は、再生データのエラーレートを検出する機能
を有する。エラーレート検出回路２５のエラーレートを
表す信号はレーザパワーコントロール回路２６へ出力さ
れる。

【００３７】レーザパワーコントロール回路２６は、Ｃ
ＰＵを内蔵しており、レーザ駆動回路４を制御し、後述
するように、レーザダイオード５の出力を上記エラーレ
ートの値に対応する値に設定する。

【００３８】以下、本発明の構成要件であるエラーレー
ト検出回路２５とレーザパワーコントロール回路２６に
ついて詳細に説明する。

【００３９】光磁気ディスク１は、直径１３０ｍｍの比
較的大径でかつ単板構造であるから、環境の温度および
湿度の変化によって反りを起こす。

【００４０】本発明者が、種々の環境下で、光磁気ディ
スクの反りによる再生データの読み取りエラーについて
行った実験結果および考察は下記の通りである。なお、
実験に使用された光磁気ディスクは、ポリカーボネイト
基板からなる直径１３０ｍｍ、厚さ１．２ｍｍのもので
ある。

【００４１】図４は、周囲湿度を４０％ＲＨに維持しな
がら温度を変化して、光磁気ディスクの中心から６０ｍ
ｍの点における反りを測定した結果に基づき、反りの変
化分（ミリラディアン）と周囲温度（℃）との関係を示
す。

【００４２】また、図５は、周囲温度を２０℃に維持し
ながら湿度を変化して、光磁気ディスクの中心から６０
ｍｍの点における反りを測定した結果に基づき、反りの
変化の最大値（ミリラディアン）と相対湿度（ＲＨ％）
との関係を示す。なお、湿度の変化による光磁気ディス
クの反りは、温度によるものと異なり時間が経過するる
とゼロに戻るものである。

【００４３】また、図６は、温度が２０℃、湿度が５０
％ＲＨの環境条件からステップ関数的に温度が３０℃、
湿度が３０％ＲＨの環境条件へ変化した場合について光
磁気ディスクの反りの変化の時間的推移を測定した結果
を示す。

【００４４】図６から分かるように、時間の経過に従っ
て、湿度の影響はなくなり、温度上昇による反りの変化
のみとなる。

【００４５】図７は、光磁気ディスクの反りとこの光磁
気ディスクに記録された信号のＣ／Ｎ比との関係につい
て、ＣＬＶ（線速度）が５．６５ｍ／ｓ、キャリア周波
数が４．９３ＭＨｚ、１５０Ｏｅ（エルステッド）の磁
界変調による書き込みという条件で測定した結果を示
す。

【００４６】このように光磁気ディスクの反りが大きく
なるとコマ収差が大きくなり、その結果、Ｃ／Ｎ比が劣
化する。データのＣ／Ｎ比が低下すればするほど、デー
タの読み取りが困難になってしまう。

【００４７】光磁気ディスクの一般的な使用環境は、温
度は０〜５０℃、湿度は５〜９５％ＲＨである。そこ
で、この環境下では、光磁気ディスクの反りが最大にな
るのは、温度０℃、湿度５％の環境条件から温度５０
℃、湿度９５％の環境条件へ変化した時である。

【００４８】しかしながら、光磁気ディスクの実際の製
造現場においては温度２０℃、湿度４５％の標準環境に
制御されているから、使用環境がこの標準環境からどの
程度変位しているかを考えれば充分である。従って、実
使用環境下で起こる最大の反りは、環境条件が温度２０
℃、湿度４５％から温度５０℃、湿度９５％に変化した
場合であるとしてよい。

【００４９】この場合の光磁気ディスクの反りを、図４
および図５から推定すると、約＋１０ミリラディアンで
ある。光磁気ディスクの初期状態での反りやピックアッ
プの傾きによる反りが約±１０ミリラディアン程度ある
から、これに温度、湿度の変化による分を加えると反り
は全部で約２０ミリラディアンに達することになる。

【００５０】この＋２０ミリラディアンの反りによるＣ
／Ｎ比の劣化は、図７から、約１．５ｄＢであることが
分かる。このようにＣ／Ｎ比が悪くなると、光磁気ディ
スクに記録されているデータを読み出す時の読み誤りが
大きくなる。

【００５１】図８は、光磁気ディスクのデータ読み出し
時の正確さを表すバイトエラーレートが、磁界変調によ
る書き込み（オーバーライト）時のレーザダイオードの
出力を変えることによってどのように変わるかを、光磁
気ディスクの反りがゼロの場合について測定した結果で
ある。

【００５２】測定条件は、レーザダイオードの出力を
７．０ｍＷにして４．９３ＭＨｚの３Ｔ信号を書き込
み、２−７信号をレーザダイオードの出力を種々の値で
オーバーライトしたもので、読み出しは、線速度が５．
６５ｍ／ｓ、レーザダイオードの出力が１．２ｍＷで行
った。

【００５３】図８において、レベルＬはシステムが許容
することのできるエラーレートの最大値を示す。また、
ＷＰＷは書き込みに使用することのできるレーザ光出力
の範囲（書き込みパワーウインドウ）を表す。

【００５４】図９は、光磁気ディスクの反りが２０ミリ
ラディアンの場合について、図８に示す測定と同一の書
き込み、読み出し条件で行った測定の結果を、反りがゼ
ロの場合の結果と共に示す。

【００５５】図９から、反りが増加したらバイトエラー
レートも増加していることが分かる。例えば、レーザダ
イオードの出力が５．５ｍＷになった場合にはバイトエ
ラーレートは許容値を越え、データを正確に読み出すこ
とができなくなる。このようなことは、レーザダイオー
ドの汚れなどにより、その出力が見掛け上小さくなった
時などに容易に起こると考えられる。

【００５６】上記のように光磁気ディスクの反りによる
Ｃ／Ｎ比の低下によってバイトエラーレートが増加する
事態を回避するため、本発明に係る光ディスクシステム
では、再生時のレーザダイオードの出力を高くすること
を考えた。その根拠は下記の通りである。

【００５７】再生時のレーザダイオードの出力とＣ／Ｎ
比との関係を調べてみると、図１０に示すように、レー
ザダイオードの出力が２ｍＷより小さい範囲では、再生
時のレーザダイオードの出力を上げるとＣ／Ｎ比は直線
的に上昇することが分かる。そして、レーザダイオード
の出力が約２ｍＷとなるとＣ／Ｎ比は最大となる。

【００５８】従って、光磁気ディスクの反りが増加した
ら再生時のレーザダイオードの出力を増加すれば、再生
データのバイトエラーレートを同じレベルに維持するこ
とができると考えられる。

【００５９】再生時のレーザダイオードの出力を１．２
ｍＷから２．０ｍＷに上げると、Ｃ／Ｎ比が約１ｄＢ上
昇することから、光磁気ディスクの反りがゼロで再生時
のレーザダイオードの出力が１．２ｍＷの場合と、反り
が２０ミリラディアンでレーザダイオードの出力が２．
０ｍＷの場合との各バイトエラーレートを測定して比較
してみると図１１のようになる。

【００６０】ただし、この場合の測定条件は、４．９３
ＭＨｚの３Ｔ信号をレーザダイオードの出力を７．０ｍ
Ｗで書き込み、２−７信号をレーザダイオードの出力を
種々に変えて磁界変調記録したもので、読み出しは、線
速度が５．６５ｍ／ｓで行った。

【００６１】図１１から分かるように両者の場合のバイ
トエラーレートはほぼ等しい。つまり、再生時のレーザ
ダイオードの出力を１．２ｍＷから２．０ｍＷにするこ
とによって、光磁気ディスクの２０ミリラディアンの反
りによって低下したＣ／Ｎ比の劣化分が相殺されること
になる。

【００６２】ここで考慮しなければならないことは、光
磁気ディスクの実際の使用状態において、再生時のレー
ザダイオードの出力をどのような値に選定したらよいか
ということである。

【００６３】つまり、バイトエラーレートの観点からだ
けみれば、再生時のレーザダイオードの出力を定常的に
２．０ｍＷに設定すれば、光磁気ディスクの反りの影響
は除去されるが、それによって光磁気ディスクのその他
の性能に影響を与えないかということである。

【００６４】再生時のレーザダイオードの出力を大きく
することによって一番影響を受けるのは、光磁気ディス
クの繰り返し再生耐久性である。すなわち、図１２に示
すように、ある一定の環境条件の下で、再生時のレーザ
ダイオードの出力を上げていくと、光磁気ディスクの再
生可能回数は急激に低下する。

【００６５】図１２から、環境温度６０℃においては、
光磁気ディスクの反りの有無に関わらず最低１０⁹回の
再生可能回数を確保するためには、再生時のレーザダイ
オードの出力は１．５ｍＷ以下でなければならないこと
がわかる。

【００６６】本実施例においては、光磁気ディスクの再
生耐久性に余裕を持たせ、定常時における再生時のレー
ザダイオードの出力を１．２ｍＷとし、環境の変化に起
因する光磁気ディスクの反りによってエラーレートが許
容値より増加する事態に陥った時のみ、レーザダイオー
ドの出力をＣ／Ｎ比を最大にする値（本実施例では２．
０ｍＷ）とするようにした。

【００６７】図３における、エラーレート検出回路２５
とレーザパワー制御回路２６とは上記の理論に基づき構
成され機能するものである。エラーレート検出回路２５
は、差動増幅器１９の出力に基づき再生データのエラー
レートを検出する。これには、光磁気ディスクの最外周
に特定のデータを記録しておき、この特定のデータを読
み取ることによってエラーレートを測定する。

【００６８】なお、この特定のデータは、エラーレート
を測定することができればフォーマットに限定はない。

【００６９】また、別な方法としては、使用者の使用す
る光磁気ディスクにディスクドライブが上記特定のデー
タを記録し、かつ再生するように構成してもよい。この
場合は、光磁気ディスクの特定データを記録する領域は
使用者が見ることができないようにしておく。

【００７０】図１３は、レーザパワー制御回路２６の制
御手順を示す。すなわち、エラーレート検出回路２５で
検出されたエラーレートが５×１０^-5以下の場合は、再
生時のレーザダイオード５の出力は１．２ｍＷのままと
し（ＳＴ１、ＳＴ２）、エラーレートが５×１０^-5より
大きくなった時、レーザダイオード５の出力を２．０ｍ
Ｗに上げるように制御する（ＳＴ３）。そして再生停止
でなければこのことを繰り返し行う（ＳＴ４）。

【００７１】こうすることにより、環境の温度や湿度の
変化に起因する光磁気ディスクの反りによるエラーレー
トの増加を防止し、データが全く読み取れないという不
測の事態の発生を防ぐことができるのである。

【００７２】上記実施例においては、レーザダイオード
の出力を２段階に変化させるように構成したが、検出さ
れたエラーレートによってもっと多段階に変化するよう
にすることも容易に可能である。

【００７３】このようにして、光の強さを制御する手段
は、エラーレート検出手段によって測定されたエラーレ
ートに基づきレーザ光の強さを制御することによって、
反りが大きくなった時のエラーレートを低下させるよう
に制御すればよいことになる。

【００７４】そしてこの制御は、具体的には、光磁気デ
ィスクの場合、エラーレートと、再生時のレーザ光の強
さと、再生可能回数（再生信号のＣ／Ｎ比が３ｄＢ減少
するまでの読み取り繰り返し回数）とのトレードオフに
よって決められた下記の基準で行えばよい。

【００７５】即ち、上記示した種々の実験結果によっ
て、再生時のエラーレートは光磁気ディスクの反りが大
きくなると大きくなること、また、レーザ光の強さを上
げるとエラーレートは下がること、更に、レーザ光の強
さを大きくすると再生可能回数が下がることが証明され
た。

【００７６】従って、制御手段は、通常時、即ち、エラ
ーレートがある許容値（例えば５×１０^-5）以下である
時は、レーザ光の強さを所定の再生可能回数（例えば１
０⁹回）によって定まる値（例えば１．２ｍＷ）とす
る。

【００７７】そして、エラーレートが上記許容値より大
きくなった時に、レーザ光の強さをＣ／Ｎ比が最大にな
るような値（例えば２．０ｍＷ）に上げる。

【００７８】上記のことは、光磁気ディスクの環境の温
度や湿度と反りの大きさとの関係、レーザダイオードの
出力とＣ／Ｎ比との関係、レーザダイオードの出力と再
生可能回数との関係等について多数の実験を行った結
果、反りが最大（２０ｍｒａｄ（ミリラディアン））で
ある場合でも、レーザダイオードの出力をＣ／Ｎ比が最
大になるような値（２．０ｍＷ）にすれば、再生データ
のエラーレートは、光磁気ディスクの反りがほぼゼロの
場合にレーザダイオードの出力を通常値（１．２ｍＷ）
にした時とほぼ等しくなるという事実から得た結論であ
る。

【００７９】ここで、Ｃ／Ｎ比が最大になるようなレー
ザダイオードの出力（２．０ｍＷ）を常時適用すること
ができない理由は、前述した通りである。又、光磁気デ
ィスクの再生可能回数によること。これは、上記示した
実験の結果、一定環境下において、レーザダイオード出
力を大きくすると再生可能回数は直線的に急激に減少す
ることによる。

【００８０】つまり、レーザダイオードの通常時の出力
は、再生可能回数をどのような値に設定するかによって
決定される。例えば、再生可能回数の最低値を例えば１
０⁹に設定すれば、レーザダイオードの出力は１．５ｍ
Ｗ以下の余裕のある値、例えば１．２ｍＷにしなければ
ならないことになる。

【００８１】そこで、光磁気ディスクが実際に使用され
る環境と、反りによるエラーレートが許容できなくなる
ような環境の発生頻度等を勘案して、通常時のレーザ光
の強さは所定の再生可能回数が達成されるような値（例
えば１．２ｍＷ）に設定しておき、環境の変化による光
磁気ディスクの反りの発生によりエラーレートが許容値
より増大するおそれがある非常時におけるレーザダイオ
ードの出力値を、Ｃ／Ｎ比が最大となるような値に設定
することによりエラーレートを低下させるようにすれば
よいのである。

【００８２】尚、上記実施例のみならず種々のタイプの
光磁気ディスク、ならびに、光でディスクに記録、再生
を行う全てのシステムに適用可能であることは勿論であ
る。この場合、レーザダイオードの出力の制御値は光デ
ィスクシステムの種類、使用条件等によって任意に設定
すればよい。

【００８３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明による光デ
ィスクシステムは、下記に示すような効果を奏する。

【００８４】（１）光ディスクシステムに、データを再
生する際のエラーレートを検出する手段と、このエラー
レートに基づきレーザ光の強さを自動的に制御する手段
とを備え、再生中にエラーレートが上昇した時、レーザ
光の強さを上げるようにしたことにより、光によって記
録再生を行う光ディスクの環境条件の変化による反りが
再生データのエラーレートに及ぼす影響を、光ディスク
そのものの材料の曲げ剛性に触れることなく、再生時の
レーザ光の強さをソフト的に制御することによって低減
することができると云う極めて優れた効果を奏する。

【００８５】又、光ディスクそのものの反りに関する設
計値を狭い範囲に限定しなくてもよいのでシステム設計
の融通性が向上し、ディスクの反りに対する規制が緩和
されるので製造時の歩留りが向上すると云う極めて優れ
た効果を奏する。

【００８６】（２）エラーレートを検出する手段は、光
ディスクに記録されている特定のデータを読み取ること
によりエラーレートを測定するようにしたことにより、
正確なエラーレートに基づいて、再生時のレーザ光の強
さをソフト的に制御することができると云う極めて優れ
た効果を奏する。

【００８７】（３）エラーレートに基づきレーザ光の強
さを自動的に制御する手段は、レーザ光の通常時の出力
値を、光ディスクに要求される再生可能回数に基づき選
定し、エラーレートが許容値を越えた時、レーザ光の強
さをＣ／Ｎ比が最大になるように選定するようにしたこ
とにより、光ディスク特有の曲げ剛性の性質に合わせた
レーザ光を照射することができると云う極めて優れた効
果を奏する。

【００８８】（４）光ディスク、及び光磁気ディスクの
媒体は、単板で形成されていること、その単板はプラス
チック基板で形成した構造であっても、ソフト的に制御
したレーザ光を照射して再生できるため歩留りを向上さ
せ、低コスト化を図ることができると云う極めて優れた
効果を奏する。

【００８９】（５）光ディスクは、データが光磁気記録
方式で記録された光磁気ディスクであることにより、高
密度な磁気媒体であっても、その媒体の歩留りを向上さ
せ、低コスト化を図ることができると云う極めて優れた
効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光ディスクシステムに係る光磁気
ディスクの第１の記録方式を示す説明図である。

【図２】同光磁気ディスクの第２の記録方式を示す説明
図である。

【図３】同光ディスクシステムの全体構成を示す略示的
ブロック図である。

【図４】同実施例における環境温度と光磁気ディスクの
反りとの関係を示す説明図である。

【図５】同実施例における環境湿度と光磁気ディスクの
反りとの関係を示す説明図である。

【図６】同実施例における光磁気ディスクの反りの時間
的変化を示す説明図である。

【図７】同実施例における光磁気ディスクの反りとＣ／
Ｎ比との関係を示す説明図である。

【図８】同実施例において、光磁気ディスクの反りがゼ
ロの場合のエラーレートを示す説明図である。

【図９】同実施例において、光磁気ディスクの反りがゼ
ロおよび２０ミリラディアンのそれぞれ場合におけるエ
ラーレートを比較した説明図である。

【図１０】同実施例において、再生時のレーザダイオー
ドの出力とＣ／Ｎ比との関係を示す説明図である。

【図１１】同実施例において、光磁気ディスクの反りと
再生時のレーザダイオードの出力との組み合わせの変化
によるエラーレートの変化を示す説明図である。

【図１２】同実施例において、再生時のレーザダイオー
ドの出力と再生可能回数との関係を示す説明図である。

【図１３】同実施例におけるレーザパワー制御回路の制
御動作を示すフローチャート図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスク２磁石３変調回路４レーザ駆動回路５レーザダイオード６レーザ光７コリメータレンズ８グレーティング９ミラー１０ビームスプリッタ１１対物レンズ１２磁界ヘッド駆動回路１３磁気ヘッド１４２軸アクチュエータ１５１／２波長板１６集光レンズ１７偏光ビームスプリッタ１８、２０、２３ホトデテクタ１９差動増幅器２１復調回路２２パーシャルビームスプリッタ２４ピックアップ制御系２５エラーレート検出回路２６レーザパワーコントロール回路Ｌバイトエラーレートの許容上限ＷＰＷ書き込みパワーウインドウ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクと、該光ディスクに照射する
レーザ光とからなり、前記光ディスクにレーザ光を照射
した時の反射光からデータを再生する光ディスクシステ
ムであり、前記データを再生する際に生じたエラーレートを検出す
る手段と、該エラーレートに基づき前記レーザ光の強さ
を自動的に制御する手段とを備え、再生中にエラーレー
トが上昇した時、前記レーザ光の強さを一時的に上げて
対応するようにしたことを特徴とする光ディスクシステ
ム。
【請求項２】上記エラーレートを検出する手段は、光
ディスクに記録されている特定のデータを読み取ること
によりエラーレートを測定するようにしたことを特徴と
する請求項１に記載の光ディスクシステム。
【請求項３】上記エラーレートに基づきレーザ光の強
さを自動的に制御する手段は、前記レーザ光の通常時の
出力値を前記光ディスクに要求される再生可能回数に基
づき設定し、前記エラーレートが許容値を越えた時、レ
ーザ光の強さをＣ／Ｎ比が最大になるように設定するこ
とを特徴とする請求項１又は２に記載の光ディスクシス
テム。
【請求項４】上記光ディスクの媒体は、単板で形成さ
れていることを特徴とする請求項１、２又は３に記載の
光ディスクシステム。
【請求項５】上記光ディスクは、前記データが光磁気
記録方式で記録された光磁気ディスクであることを特徴
とする請求項１、２、３又は４に記載の光ディスクシス
テム。
【請求項６】上記単板は、プラスチック基板であるこ
とを特徴とする請求項４に記載の光ディスクシステム。