JPH07248366A - 磁気雑音補償方法 - Google Patents
磁気雑音補償方法Info
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- JPH07248366A JPH07248366A JP4025794A JP4025794A JPH07248366A JP H07248366 A JPH07248366 A JP H07248366A JP 4025794 A JP4025794 A JP 4025794A JP 4025794 A JP4025794 A JP 4025794A JP H07248366 A JPH07248366 A JP H07248366A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 補償磁気センサの数をさほど増加させること
なく、高精度の背景磁界打消し補償が可能な磁気雑音補
償方法を提供する。 【構成】 複数個の３軸磁気センサＳ1 、…、Ｓ5 のう
ち３軸磁気センサＳ1 を背景磁界変動打消し用の１次補
償磁気センサと定め、残りの３軸磁気センサＳ2、…、
Ｓ5 を１次被補償磁気センサと定めて、１次補償磁気セ
ンサＳ1 で、１次被補償磁気センサＳ2 、…、Ｓ5 の背
景磁界変動を打消すように第１の信号処理をし、次に１
次被補償磁気センサＳ2 、…、Ｓ5 のうちの３軸磁気セ
ンサＳ2 を、第１の信号処理が施されても残る背景磁界
変動打消し用の２次補償磁気センサと定め、残りの１次
被補償磁気センサＳ3 、Ｓ4 、Ｓ5 を２次被補償磁気セ
ンサと定めて、２次補償磁気センサで２次被補償磁気セ
ンサの背景磁界変動を打消すように第２の信号処理を行
うようにした。
なく、高精度の背景磁界打消し補償が可能な磁気雑音補
償方法を提供する。 【構成】 複数個の３軸磁気センサＳ1 、…、Ｓ5 のう
ち３軸磁気センサＳ1 を背景磁界変動打消し用の１次補
償磁気センサと定め、残りの３軸磁気センサＳ2、…、
Ｓ5 を１次被補償磁気センサと定めて、１次補償磁気セ
ンサＳ1 で、１次被補償磁気センサＳ2 、…、Ｓ5 の背
景磁界変動を打消すように第１の信号処理をし、次に１
次被補償磁気センサＳ2 、…、Ｓ5 のうちの３軸磁気セ
ンサＳ2 を、第１の信号処理が施されても残る背景磁界
変動打消し用の２次補償磁気センサと定め、残りの１次
被補償磁気センサＳ3 、Ｓ4 、Ｓ5 を２次被補償磁気セ
ンサと定めて、２次補償磁気センサで２次被補償磁気セ
ンサの背景磁界変動を打消すように第２の信号処理を行
うようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、例えば送電線の近辺
に複数個の３軸磁気センサを設置してなり、これら３軸
磁気センサの出力から移動する磁性物の検知を行う磁気
検出装置の磁気雑音補償方法に関する。
に複数個の３軸磁気センサを設置してなり、これら３軸
磁気センサの出力から移動する磁性物の検知を行う磁気
検出装置の磁気雑音補償方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】上記した複数個の３軸磁気センサを設置
してなる磁気検出装置において、地磁気その他の背景磁
界の変動は雑音分として検出され、測定誤差の原因とな
るので、各３軸磁気センサは、これら雑音成分の打消し
のため補償を行う必要がある。この種の磁気検出装置に
おける従来の補償方法は、複数個の３軸磁気センサのう
ち、数個を地磁気変動打消し用の補償用磁気センサと定
め、それ以外の３軸磁気センサの出力に対しては、補償
用磁気センサのうち検出される地磁気変動のパターンが
似ているものを選択し、その補償用磁気センサの出力を
利用し、地磁気変動打消しのための信号処理を施すよう
にし、そして処理を施された方の磁気センサ、つまり被
補償磁気センサにより磁性物の検知を行っている。
してなる磁気検出装置において、地磁気その他の背景磁
界の変動は雑音分として検出され、測定誤差の原因とな
るので、各３軸磁気センサは、これら雑音成分の打消し
のため補償を行う必要がある。この種の磁気検出装置に
おける従来の補償方法は、複数個の３軸磁気センサのう
ち、数個を地磁気変動打消し用の補償用磁気センサと定
め、それ以外の３軸磁気センサの出力に対しては、補償
用磁気センサのうち検出される地磁気変動のパターンが
似ているものを選択し、その補償用磁気センサの出力を
利用し、地磁気変動打消しのための信号処理を施すよう
にし、そして処理を施された方の磁気センサ、つまり被
補償磁気センサにより磁性物の検知を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来の雑音磁
界補償方法では、背景磁界が地磁気変動による１原因の
みであれば、十分な補償が可能であるが、他に局部的な
電流による局部磁界の変動等で原因が２つある場合に
は、背景磁界変動を十分に打消し得ず、打消しを十分に
行おうとすれば、補償磁気センサの数を増やさざるを得
ない。しかし、補償磁気センサを増やすとなると、検知
用の磁気センサの数が減る。また、補償磁気センサに信
号が入ると、被補償磁気センサに、この信号が混入する
が、補償磁気センサの数が増えると、この現象が多発す
るという問題がある。
界補償方法では、背景磁界が地磁気変動による１原因の
みであれば、十分な補償が可能であるが、他に局部的な
電流による局部磁界の変動等で原因が２つある場合に
は、背景磁界変動を十分に打消し得ず、打消しを十分に
行おうとすれば、補償磁気センサの数を増やさざるを得
ない。しかし、補償磁気センサを増やすとなると、検知
用の磁気センサの数が減る。また、補償磁気センサに信
号が入ると、被補償磁気センサに、この信号が混入する
が、補償磁気センサの数が増えると、この現象が多発す
るという問題がある。
【０００４】この発明は、上記問題点に着目してなされ
たものであって、補償磁気センサの数をさほど増加させ
ることなく、それでいて精度の高い背景磁界打消しが可
能な磁気雑音補償方法を提供することを目的としてい
る。
たものであって、補償磁気センサの数をさほど増加させ
ることなく、それでいて精度の高い背景磁界打消しが可
能な磁気雑音補償方法を提供することを目的としてい
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段及び作用】この発明の磁気
雑音補償方法は、複数個の３軸磁気センサが設置されて
なり、これら３軸磁気センサの出力から移動する磁性物
の検知を行う磁気検出装置において、前記複数個の３軸
磁気センサのうち１個以上を背景磁界変動打消し用の１
次補償磁気センサと定め、残りの３軸磁気センサを１次
被補償磁気センサと定めて、１次補償磁気センサで、１
次被補償磁気センサの背景磁界変動を打消すように第１
の信号処理をし、次に前記１次被補償磁気センサのうち
の１個以上を、前記第１の信号処理が施されても残る背
景磁界変動打消し用の２次補償磁気センサと定め、残り
の１次被補償磁気センサを２次被補償磁気センサと定め
て、２次補償磁気センサで２次被補償磁気センサの背景
磁界変動を打消すように第２の信号処理を行うようにし
ている。
雑音補償方法は、複数個の３軸磁気センサが設置されて
なり、これら３軸磁気センサの出力から移動する磁性物
の検知を行う磁気検出装置において、前記複数個の３軸
磁気センサのうち１個以上を背景磁界変動打消し用の１
次補償磁気センサと定め、残りの３軸磁気センサを１次
被補償磁気センサと定めて、１次補償磁気センサで、１
次被補償磁気センサの背景磁界変動を打消すように第１
の信号処理をし、次に前記１次被補償磁気センサのうち
の１個以上を、前記第１の信号処理が施されても残る背
景磁界変動打消し用の２次補償磁気センサと定め、残り
の１次被補償磁気センサを２次被補償磁気センサと定め
て、２次補償磁気センサで２次被補償磁気センサの背景
磁界変動を打消すように第２の信号処理を行うようにし
ている。
【０００６】この発明では、例えば図１に示すように、
３軸磁気センサＳ1 、Ｓ2 、Ｓ3 、Ｓ4 、Ｓ5 が設置さ
れている場合、３軸磁気センサＳ1 が１次補償磁気セン
サと定められ、この１次補償磁気センサＳ1 によって、
１次被補償磁気センサ群Ｇ１の３軸磁気センサＳ2 、Ｓ
3 、Ｓ4 、Ｓ5 が補償のための信号処理がなされる。次
に、１次被補償磁気センサ群Ｇ１中の３軸磁気センサＳ
2 が２次補償センサと定められ、この２次補償磁気セン
サＳ2 によって、２次被補償センサ群Ｇ２の３軸磁気セ
ンサＳ3 、Ｓ4 、Ｓ5 の補償のための信号処理がなされ
る。そして、２次被補償磁気センサＳ3 、Ｓ4 、Ｓ5 の
出力によって移動する磁性物ＭＭの検知がなされる。
３軸磁気センサＳ1 、Ｓ2 、Ｓ3 、Ｓ4 、Ｓ5 が設置さ
れている場合、３軸磁気センサＳ1 が１次補償磁気セン
サと定められ、この１次補償磁気センサＳ1 によって、
１次被補償磁気センサ群Ｇ１の３軸磁気センサＳ2 、Ｓ
3 、Ｓ4 、Ｓ5 が補償のための信号処理がなされる。次
に、１次被補償磁気センサ群Ｇ１中の３軸磁気センサＳ
2 が２次補償センサと定められ、この２次補償磁気セン
サＳ2 によって、２次被補償センサ群Ｇ２の３軸磁気セ
ンサＳ3 、Ｓ4 、Ｓ5 の補償のための信号処理がなされ
る。そして、２次被補償磁気センサＳ3 、Ｓ4 、Ｓ5 の
出力によって移動する磁性物ＭＭの検知がなされる。
【０００７】
【実施例】以下、実施例により、この発明をさらに詳細
に説明する。図２は、この発明の一実施例磁気雑音補償
方法を説明するための概略図である。図において、ｎ個
の３軸磁気センサＳ1 、Ｓ2 、…、Ｓi 、…、Ｓn を、
ｘ、ｙ、ｚの各軸方向を一致させて、ｘ軸方向にそれぞ
れ間隔ｌを置いて設置している。
に説明する。図２は、この発明の一実施例磁気雑音補償
方法を説明するための概略図である。図において、ｎ個
の３軸磁気センサＳ1 、Ｓ2 、…、Ｓi 、…、Ｓn を、
ｘ、ｙ、ｚの各軸方向を一致させて、ｘ軸方向にそれぞ
れ間隔ｌを置いて設置している。
【０００８】これら３軸磁気センサＳ1 、Ｓ2 、…、Ｓ
i 、…、Ｓn の背景磁界変動を与える原因１を地磁気Ｈ
ｅとする。そして、この地磁気Ｈｅは、すべての３軸磁
気センサに同じ影響を与えるものとする。また、３軸磁
気センサＳ1 、Ｓ2 、…、Ｓ i 、…、Ｓn の背景磁界に
変動を与える原因２は、ｙ軸と一致させて設置した電線
Ｌに流れる電流Ｉにより発生する磁界ＨI とする。ｙ軸
と１番目の３軸磁気センサＳ1 のｘ軸方向の距離をｌと
する。
i 、…、Ｓn の背景磁界変動を与える原因１を地磁気Ｈ
ｅとする。そして、この地磁気Ｈｅは、すべての３軸磁
気センサに同じ影響を与えるものとする。また、３軸磁
気センサＳ1 、Ｓ2 、…、Ｓ i 、…、Ｓn の背景磁界に
変動を与える原因２は、ｙ軸と一致させて設置した電線
Ｌに流れる電流Ｉにより発生する磁界ＨI とする。ｙ軸
と１番目の３軸磁気センサＳ1 のｘ軸方向の距離をｌと
する。
【０００９】ここでｉ番目の３軸磁気センサＳi の各軸
検知磁界をＨxi、Ｈyi、Ｈziとする。ただしi は、ｎ以
下の自然数とする。原因１除去用の３軸磁気センサ（１
次補償磁気センサ）はｎ番目のＳn とする。したがっ
て、３軸磁気センサＳ１、Ｓ２、…、Ｓn-1 が１次被補
償磁気センサとなる。原因２除去用の３軸磁気センサは
１番目のＳ1 とする。したがって、３軸磁気センサ
Ｓ2 、Ｓ3 、…、Ｓn-1 が２次被補償磁気センサとな
る。
検知磁界をＨxi、Ｈyi、Ｈziとする。ただしi は、ｎ以
下の自然数とする。原因１除去用の３軸磁気センサ（１
次補償磁気センサ）はｎ番目のＳn とする。したがっ
て、３軸磁気センサＳ１、Ｓ２、…、Ｓn-1 が１次被補
償磁気センサとなる。原因２除去用の３軸磁気センサは
１番目のＳ1 とする。したがって、３軸磁気センサ
Ｓ2 、Ｓ3 、…、Ｓn-1 が２次被補償磁気センサとな
る。
【００１０】ｉ番目の３軸磁気センサＳi の原因１の除
去は、次のように表すことができる。 （Ｈxi−Ｈxn、Ｈyi−Ｈyn、Ｈzi−Ｈzn） ただし ｉ＝１、２、…、ｎ−１ また、ｉ番目の３軸磁気センサＳi の原因２の除去は、
次のように表すことができる。
去は、次のように表すことができる。 （Ｈxi−Ｈxn、Ｈyi−Ｈyn、Ｈzi−Ｈzn） ただし ｉ＝１、２、…、ｎ−１ また、ｉ番目の３軸磁気センサＳi の原因２の除去は、
次のように表すことができる。
【００１１】〔Ｈxi−Ｈxn、Ｈyi−Ｈyn、Ｈzi−Ｈzn−
（Ｈz1−Ｈzn）／i 〕 電線Ｌに流れる電流がＩであり、電線Ｌと３軸磁気セン
サの側方距離ｒとすると、電流Ｉが、ある３軸磁気セン
サの位置に発生する磁界はｚ軸成分のみで、その大きさ
はＩ／２πｒである。したがって、１番目の３軸磁気セ
ンサＳ1 には、ｚ軸成分Ｉ／２πｌの磁界が入力され
る。また、ｉ番目の３軸磁気センサＳi には、ｒ＝ｉ・
ｌであることにより、入力される磁界は同じくｚ成分の
みで、大きさはＩ／２πｌの１／ｉ倍となる。したがっ
て、１番目の３軸磁気センサＳ1 の原因１は除去後の計
測値に１／ｉを乗算した値を、ｉ番目の３軸磁気センサ
Ｓiの原因１除去後の値から減算することにより、ｉ番
目の３軸磁気センサＳi より原因１と原因２が除去され
る。
（Ｈz1−Ｈzn）／i 〕 電線Ｌに流れる電流がＩであり、電線Ｌと３軸磁気セン
サの側方距離ｒとすると、電流Ｉが、ある３軸磁気セン
サの位置に発生する磁界はｚ軸成分のみで、その大きさ
はＩ／２πｒである。したがって、１番目の３軸磁気セ
ンサＳ1 には、ｚ軸成分Ｉ／２πｌの磁界が入力され
る。また、ｉ番目の３軸磁気センサＳi には、ｒ＝ｉ・
ｌであることにより、入力される磁界は同じくｚ成分の
みで、大きさはＩ／２πｌの１／ｉ倍となる。したがっ
て、１番目の３軸磁気センサＳ1 の原因１は除去後の計
測値に１／ｉを乗算した値を、ｉ番目の３軸磁気センサ
Ｓiの原因１除去後の値から減算することにより、ｉ番
目の３軸磁気センサＳi より原因１と原因２が除去され
る。
【００１２】なお、上記実施例では、原因２の磁界を発
生する電線Ｌは、ｙ軸に沿って配置される例を示したの
で、各３磁気磁気センサに与える磁界はｚ軸成分のみと
なっているが、電線と３軸磁気センサの位置関係によっ
ては、ｘ軸、ｙ軸成分の補償が必要となることは、いう
までもない。また、上記実施例では、原因２の磁界を発
生するものとして便宜上、電線Ｌに流れる電流Ｉを上げ
たが、この発明ではこれに限られるものではない。
生する電線Ｌは、ｙ軸に沿って配置される例を示したの
で、各３磁気磁気センサに与える磁界はｚ軸成分のみと
なっているが、電線と３軸磁気センサの位置関係によっ
ては、ｘ軸、ｙ軸成分の補償が必要となることは、いう
までもない。また、上記実施例では、原因２の磁界を発
生するものとして便宜上、電線Ｌに流れる電流Ｉを上げ
たが、この発明ではこれに限られるものではない。
【００１３】
【発明の効果】この発明によれば、背景磁界変動打消し
用の補償３軸磁気センサによる複数個の被補償３軸磁気
センサへの補償にとどまらず、被補償３軸磁気センサの
中から、２次補償３軸磁気センサを定め、その他の被補
償３軸磁気センサを２次被補償３軸磁気センサと定め、
２次補償３軸磁気センサで２次被補償３軸磁気センサを
補償するものであるから、背景磁界変動に原因１と原因
２がある場合でも、さほど多くの補償用３軸磁気センサ
を要することなく、高精度の磁気雑音補償を行うことが
できる。
用の補償３軸磁気センサによる複数個の被補償３軸磁気
センサへの補償にとどまらず、被補償３軸磁気センサの
中から、２次補償３軸磁気センサを定め、その他の被補
償３軸磁気センサを２次被補償３軸磁気センサと定め、
２次補償３軸磁気センサで２次被補償３軸磁気センサを
補償するものであるから、背景磁界変動に原因１と原因
２がある場合でも、さほど多くの補償用３軸磁気センサ
を要することなく、高精度の磁気雑音補償を行うことが
できる。
【図１】この発明の構成を説明するための概略図であ
る。
る。
【図２】この発明の一実施例磁気雑音補償方法を説明す
るための説明図である。
るための説明図である。
Ｓ1 １次補償３軸磁気センサ Ｓ2 ２次補償３軸磁気センサ Ｓ3 、Ｓ4 、Ｓ5 ２次被補償３軸磁気センサ
Claims (1)
- 【請求項１】複数個の３軸磁気センサが設置されてな
り、これら３軸磁気センサの出力から移動する磁性物の
検知を行う磁気検出装置において、 前記複数個の３軸磁気センサのうち１個以上を背景磁界
変動打消し用の１次補償磁気センサと定め、残りの３軸
磁気センサを１次被補償磁気センサと定めて、１次補償
磁気センサで、１次被補償磁気センサの背景磁界変動を
打消すように第１の信号処理をし、次に前記１次被補償
磁気センサのうちの１個以上を、前記第１の信号処理が
施されても残る背景磁界変動打消し用の２次補償磁気セ
ンサと定め、残りの１次被補償磁気センサを２次被補償
磁気センサと定めて、２次補償磁気センサで２次被補償
磁気センサの背景磁界変動を打消すように第２の信号処
理を行うようにした磁気雑音補償方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4025794A JPH07248366A (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | 磁気雑音補償方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4025794A JPH07248366A (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | 磁気雑音補償方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07248366A true JPH07248366A (ja) | 1995-09-26 |
Family
ID=12575629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4025794A Pending JPH07248366A (ja) | 1994-03-11 | 1994-03-11 | 磁気雑音補償方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07248366A (ja) |
Cited By (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1019505A (ja) * | 1996-03-05 | 1998-01-23 | He Holdings Inc Dba Hughes Electron | 磁力計データの空間的および時間的処理を使用した磁気ダイポールの位置決定方法および装置 |
| JPH1026506A (ja) * | 1996-03-05 | 1998-01-27 | He Holdings Inc Dba Hughes Electron | 改良されたダイポールモーメント検出器およびローカライザ |
| JP2003530557A (ja) * | 2000-04-07 | 2003-10-14 | ノーザン・デジタル・インコーポレイテッド | 磁気的な位置または配向の決定における誤差の検出方法 |
| JP2007187656A (ja) * | 2005-12-30 | 2007-07-26 | Depuy Products Inc | 磁気センサアレイ |
| JP2009075099A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-04-09 | Shimadzu Corp | 磁気計測装置 |
| JP2009229443A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-10-08 | Shimadzu Corp | 目標体探査システム |
| JP2013217779A (ja) * | 2012-04-10 | 2013-10-24 | Shimadzu Corp | 磁気計測装置 |
| US8862200B2 (en) | 2005-12-30 | 2014-10-14 | DePuy Synthes Products, LLC | Method for determining a position of a magnetic source |
| WO2019167565A1 (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-06 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置、電流測定方法、及びコンピュータ読み取り可能な非一時的記録媒体 |
| JP2019152481A (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-12 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
| JP2019152607A (ja) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
| JP2021032765A (ja) * | 2019-08-27 | 2021-03-01 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
-
1994
- 1994-03-11 JP JP4025794A patent/JPH07248366A/ja active Pending
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1026506A (ja) * | 1996-03-05 | 1998-01-27 | He Holdings Inc Dba Hughes Electron | 改良されたダイポールモーメント検出器およびローカライザ |
| JPH1019505A (ja) * | 1996-03-05 | 1998-01-23 | He Holdings Inc Dba Hughes Electron | 磁力計データの空間的および時間的処理を使用した磁気ダイポールの位置決定方法および装置 |
| JP2003530557A (ja) * | 2000-04-07 | 2003-10-14 | ノーザン・デジタル・インコーポレイテッド | 磁気的な位置または配向の決定における誤差の検出方法 |
| US8862200B2 (en) | 2005-12-30 | 2014-10-14 | DePuy Synthes Products, LLC | Method for determining a position of a magnetic source |
| JP2007187656A (ja) * | 2005-12-30 | 2007-07-26 | Depuy Products Inc | 磁気センサアレイ |
| JP2009075099A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-04-09 | Shimadzu Corp | 磁気計測装置 |
| JP2009229443A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-10-08 | Shimadzu Corp | 目標体探査システム |
| JP2013217779A (ja) * | 2012-04-10 | 2013-10-24 | Shimadzu Corp | 磁気計測装置 |
| WO2019167565A1 (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-06 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置、電流測定方法、及びコンピュータ読み取り可能な非一時的記録媒体 |
| JP2019152481A (ja) * | 2018-03-01 | 2019-09-12 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
| EP4130757A1 (en) * | 2018-03-01 | 2023-02-08 | Yokogawa Electric Corporation | Current measuring device, current measuring method, and non-transitory computer-readable storage medium |
| JP2019152607A (ja) * | 2018-03-06 | 2019-09-12 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
| JP2021032765A (ja) * | 2019-08-27 | 2021-03-01 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置 |
| WO2021039755A1 (ja) * | 2019-08-27 | 2021-03-04 | 横河電機株式会社 | 電流測定装置、電流測定方法、及びコンピュータ読み取り可能な非一時的記録媒体 |
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