JPH07247200A - 酸化チタン単結晶の製造方法 - Google Patents

酸化チタン単結晶の製造方法

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JPH07247200A
JPH07247200A JP6667894A JP6667894A JPH07247200A JP H07247200 A JPH07247200 A JP H07247200A JP 6667894 A JP6667894 A JP 6667894A JP 6667894 A JP6667894 A JP 6667894A JP H07247200 A JPH07247200 A JP H07247200A
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JP
Japan
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single crystal
magnetic field
melt
titanium oxide
crystal
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JP6667894A
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English (en)
Inventor
Yasuto Miyazawa
宮沢靖人
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National Institute for Research in Inorganic Material
Original Assignee
National Institute for Research in Inorganic Material
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 FZ法やEFG法以外の単結晶育成法によ
り、大口径で、かつ良質の酸化チタン(TiO2)単結晶を
製造できる方法を提供する。 【構成】 融液成長法により酸化チタン単結晶を製造す
るに際して、融液に磁界を印加することを特徴としてい
る。融液成長法として回転引き上げ法、フラックス法、
溶融固化法などがあげられる。回転引き上げ法の場合、
融液を形成した後、単結晶を磁界による渦巻状の流れと
は反対方向に回転させて単結晶を成長させる。磁界の印
加は、鉛直方向に磁界を印加し、磁界の強さは0.01
〜10テスラの範囲である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、酸化物単結晶のうち、
偏光子などの光学材料に用いられる酸化チタン(TiO2)
単結晶の製造方法に関し、より詳しくは、回転引き上げ
法、フラックス法、溶融固化法などにより酸化チタン単
結晶を育成する方法に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来、
光学用途或いは薄膜形成用基板として用いられる酸化物
単結晶の多くは、回転引き上げ法によって育成されてい
る。その最大の理由は、比較的大口径で、かつ良質の単
結晶が得られるためである。しかし、分解溶融性の化合
物や蒸気圧の高い材料では、回転引き上げ法の適用が困
難である場合もある。
【0003】酸化チタン(TiO2)は、分解溶融性の材料
ではないが、やはり回転引き上げ法による良質の単結晶
育成が報告されていない材料の1つである。通常の回転
引き上げ法でTiO2を育成すると、固液界面が安定に保
てないため、結晶が急激に横方向に成長し、るつぼの壁
と接触したり、或いは結晶が融液から離れてしまうな
ど、結晶直径の制御が実質上、不可能であった。
【0004】このため、酸化チタン単結晶は、従来は、
浮遊帯域溶融法(FZ法)或いはEFG(Edge-defined
Film Growth)法によって育成されている。しかし、F
Z法或いはEFG法の場合、それぞれ以下のような問題
点がある。
【0005】FZ法の場合、るつぼを用いない融液成長
法であるため、高純度の結晶が得られる利点がある反
面、融液の表面張力で融帯を保持しているため、育成可
能な結晶径に原理的限界がある。この問題は、原料棒と
結晶の移動速度を制御したり、温度勾配を制御すること
により、ある程度の改善は可能であるが、直径25mm以
上の良質な単結晶の育成は困難である。
【0006】また、EFG法の場合は、TiO2の融点は
1800℃を超えているため、EFG法で用いることが
できるダイの材料は実質的にイリジウムに限定される。
しかし、イリジウムは加工性が悪いため、ダイの加工に
コストがかかるという問題点がある。また、結晶幅を一
定に保持するためには、ダイの温度を精密に制御する必
要がある。
【0007】本発明は、上述の事情のもとで、FZ法や
EFG法以外の単結晶育成法により、大口径で、かつ良
質の酸化チタン(TiO2)単結晶を製造できる方法を提供
することを目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、前述した
従来法の問題点を解決するため、基礎研究を重ねた結
果、FZ法やEFG法以外の単結晶育成法、代表的には
回転引き上げ法等による酸化チタン単結晶育成におい
て、融液に磁場を印加して融液対流を制御することによ
って、結晶径の制御が可能となることを見い出したもの
である。
【0009】
【作用】以下に本発明を更に詳細に説明する。
【0010】融液成長における磁界印加の影響について
は、半導体で多数の研究が行われている。半導体の場
合、一般的には、融液に磁界を印加すると、融液対流が
抑制されると考えられている。これに対し、酸化物融液
に対する磁界印加の研究は少なく、特に酸化チタン(Ti
2)のような高融点酸化物に関する報告は、殆ど見られ
ない。
【0011】本発明者らは、酸化物用回転引き上げ装置
と超伝導マグネットを組み合わせた装置を開発し、酸化
物融液に対する磁界の影響に関する研究を行ってきた。
【0012】その結果、ニオブ酸リチウム(LiNbO3)
融液に鉛直方向に1〜2テスラの磁界を印加したとこ
ろ、磁界印加前は、いわゆる片流れの状態であったが、
磁界を印加すると、比較的、中心対称性の良い渦巻状の
流れに変化することが明らかとなった。このような対流
の変化は、半導体融液で報告されている磁界の効果から
は全く予想できなかったことである。
【0013】そこで、次に、酸化チタン(TiO2)融液に
鉛直方向の磁界を印加したところ、ニオブ酸リチウム
(LiNbO3)融液よりも遥かに弱い磁界、すなわち、約
0.01テスラの磁界印加により渦巻状の流れに変化す
ることが明らかとなった。渦巻状の対流の速度は、磁界
強度によって制御できることも明らかとなった。磁界強
度の影響は、融液の電気伝導率と関連していると考えら
れる。この渦巻状の流れは、酸化チタン(TiO2)の結晶
成長に有効利用できる。すなわち、結晶を磁界による渦
巻状の流れとは反対方向に回転させることにより、固液
界面が融液側に凸となり、安定な固液界面形状を維持す
ることが可能となる。
【0014】印加する磁界は、0.01テスラ以下で
は、渦巻状の流れが弱く、また逆に10テスラ以上印加
しても、効果は変化しないことから、0.01〜10テ
スラが望ましい。より望ましくは、0.05〜2テスラ
の範囲である。
【0015】このような磁界印加による融液成長法を適
用できる方法としては、代表的には回転引き上げ法であ
るが、他にフラックス法、溶融固化法などにも適用でき
る。勿論、これらの単結晶育成における他の条件は特に
制限されるものではなく、既に知られている条件と同様
であってよい。例えば、原料の調整作成条件、加熱方
式、融液の形成条件、単結晶成長条件などである。
【0016】また、磁界による渦巻状の流れは、酸化チ
タン(TiO2)以外の材料の単結晶育成にも有効である。
例えば、固体レーザ材料やシンチレータ材料のように、
母結晶に異種元素を添加した結晶を育成する場合、磁界
による渦巻状の流れに起因する撹拌効果により、組成的
過冷却に伴うセル成長を防ぐことが可能である。
【0017】次に本発明の実施例を示す。
【0018】
【実施例】本例は、磁界印加回転引き上げ法による酸化
チタン(TiO2)単結晶育成の場合である。
【0019】結晶育成には、高周波誘導加熱法による回
転引き上げ装置を用いた。高周波電源は、発振周波数約
65kHz、最大出力50KWである。融液を保持するる
つぼには、直径50mm、高さ50mm、厚さ1.5mmのイ
リジウムるつぼを用いた。イリジウムるつぼの周囲に
は、酸化ジルコニウム製のバブル及び耐火るつぼを設置
し、断熱保温した。イリジウムるつぼの底には、イリジ
ウム−イリジウム/ロジウム熱電対を設置し、温度をモ
ニターした。
【0020】原料には、純度99.99%の酸化チタン
(TiO2)粉末((株)高純度化学研究所製)を用いた。約4
00gの出発粉末を、4000kg/cm2の圧力でCIP成
型し、大気中、1500℃で15時間焼成したものを結
晶育成用の原料に供した。焼成した育成用原料をイリジ
ウムるつぼに充填し、雰囲気ガスを流した後、高周波誘
導法による加熱を開始した。雰囲気ガスには、N2に0.
5体積%のO2を混合したガスを用いた。約5KWの高
周波電力により育成用原料は、完全に溶融した。この
時、イリジウムるつぼ底の熱電対の温度は、1875℃
であった。
【0021】次に、融液に超伝導マグネットにより、鉛
直方向に約0.01テスラの磁界を印加したところ、融
液を上から見て時計回りに回る中心対称性の良い渦巻状
の流れに変化した。渦巻状の流れの速度は、磁界強度約
0.1テスラまでは磁界強度共に増加し、その後は、飽
和する傾向が認められた。磁界強度を1テスラとして、
約5時間融液を保持した。この時、融液の上方から観察
した対流パターンを図2に示す。図2に示した時計回り
の渦巻状の流れは安定しており、経時的な変化は認めら
れなかった。
【0022】5時間、融液を保持した後、結晶成長は開
始した。種結晶にはc軸方向に切り出した5×5×40
mmの結晶を用いた。育成条件は、結晶回転数20rpm、
引き上げ速度3.0mm/hとした。結晶の回転方向は、磁
界による渦巻状の流れと逆方向、すなわち反時計回りと
した。結晶育成開始直後は、高周波電力を僅かに上昇さ
せ、結晶径を細める、いわゆる、ネッキングを行った。
次に高周波電力を徐々に低下させ、肩部を形成した。肩
部の開き角は、約45°とした。引き続いて、直胴部を
育成した。直胴部の直径は、ロードセルを用いた重量法
により25mmを目標に制御した。直径の制御性は極めて
良好であった。15時間、直胴部を育成した後、引き上
げ速度を20mm/hに高め、かつ、高周波電力を徐々に
増加させて結晶を切り離した。育成した結晶は、融液の
上方、約10mmの位置に保持し、約20時間で室温まで
冷却した。
【0023】得られた結晶は、若干、黒褐色に着色して
いたが、透明感があった。結晶の形状は、直径25mm、
直胴部の長さ約48mmであり、気泡やクラックなどの巨
視的な欠陥は全く認められなかった。
【0024】比較のため、磁界を印加しない通常の回転
引き上げ法による育成を試みた。育成条件は、前述した
条件と同一とした。磁界を印加しない育成では、固液界
面が非常に不安定であり、ロードセルを用いた重量法に
よる直径制御は不可能であった。図1に、この場合の融
液表面の対流パターンを示す。対流パターンは、非定常
であり、経時的に変化する傾向が認められた。
【0025】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
酸化チタン(TiO2)融液に磁界を印加し、磁界によって
誘起された渦巻状の対流を利用することにより、直径制
御性に優れた酸化チタン(TiO2)単結晶を製造すること
ができる。磁界の印加は、大口径で、かつ良質の単結晶
が得られるという回転引き上げ法本来の特徴を損なうも
のではない。
【0026】磁界印加による融液対流は、磁界強度や磁
界方向によって制御することが可能である。したがっ
て、例えば、磁界印加回転引き上げ法は、従来の回転引
き上げ法では固液界面を安定に保てないために育成でき
ないとされていた結晶や固体レーザ材料のように異種元
素を添加した結晶の育成に有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】磁界を印加しない場合の酸化チタン(TiO2)融
液の対流パターンを示す図である。
【図2】鉛直方向に1テスラの磁界を印加した場合の酸
化チタン(TiO2)融液の対流パターンを示す図である。

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 融液成長法により酸化チタン単結晶を製
    造するに際して、融液に磁界を印加することを特徴とす
    る酸化チタン単結晶の製造方法。
  2. 【請求項2】 融液成長法が回転引き上げ法、フラック
    ス法、溶融固化法のいずれかである請求項1に記載の方
    法。
  3. 【請求項3】 回転引き上げ法の場合、融液を形成した
    後、単結晶を磁界による渦巻状の流れとは反対方向に回
    転させて単結晶を成長させる請求項2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 鉛直方向に磁界を印加する請求項1又は
    2に記載の方法。
  5. 【請求項5】 0.01〜10テスラの磁界を印加する
    請求項1又は2に記載の方法。
  6. 【請求項6】 0.05〜2テスラの磁界を印加する請
    求項1又は2に記載の方法。
JP6667894A 1994-03-09 1994-03-09 酸化チタン単結晶の製造方法 Pending JPH07247200A (ja)

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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5841795A (ja) * 1981-09-02 1983-03-11 Hitachi Metals Ltd 単結晶製造方法
JPS6479099A (en) * 1987-09-21 1989-03-24 Semiconductor Energy Lab Production of superconductive material
JPH03141187A (ja) * 1989-10-27 1991-06-17 Shin Etsu Chem Co Ltd 単結晶育成方法
JPH06279174A (ja) * 1993-03-23 1994-10-04 Natl Inst For Res In Inorg Mater 酸化物単結晶の製造方法

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